JP2988807B2 - 半導体スタック - Google Patents
半導体スタックInfo
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- JP2988807B2 JP2988807B2 JP5161666A JP16166693A JP2988807B2 JP 2988807 B2 JP2988807 B2 JP 2988807B2 JP 5161666 A JP5161666 A JP 5161666A JP 16166693 A JP16166693 A JP 16166693A JP 2988807 B2 JP2988807 B2 JP 2988807B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、複数の平形素子と冷却
片などが交互に重ねられた半導体スタックに関する。
片などが交互に重ねられた半導体スタックに関する。
【０００２】
【従来の技術】図８は、従来の半導体スタックの一例を
示す平面図、図９（ａ）は図８のＸ−Ｘ断面図である。
図８及び図９において、テフロン材で製作された帯板状
の絶縁台12の上面には、浅い溝１ａが長手方向に形成さ
れている。
示す平面図、図９（ａ）は図８のＸ−Ｘ断面図である。
図８及び図９において、テフロン材で製作された帯板状
の絶縁台12の上面には、浅い溝１ａが長手方向に形成さ
れている。
【０００３】絶縁台12の上面の左端には、図８の図示し
ない前面図では、逆Ｌ字形の取付板５Ｃが載置され、一
対のボルト13で絶縁台12に固定されている。同じく、絶
縁台12の上面の右端には、後述する図９（ｂ）に示すよ
うに、外形が取付板５Ｃと同形の取付板５Ｄが載置され
ている。この取付板５Ｄには、右端にＵ字状の一対の溝
５ｂが形成され、取付板５Ｄは、溝５ｂに上方から遊嵌
された一対のボルト13で絶縁台12に固定されている。
ない前面図では、逆Ｌ字形の取付板５Ｃが載置され、一
対のボルト13で絶縁台12に固定されている。同じく、絶
縁台12の上面の右端には、後述する図９（ｂ）に示すよ
うに、外形が取付板５Ｃと同形の取付板５Ｄが載置され
ている。この取付板５Ｄには、右端にＵ字状の一対の溝
５ｂが形成され、取付板５Ｄは、溝５ｂに上方から遊嵌
された一対のボルト13で絶縁台12に固定されている。
【０００４】左右の取付板５Ｃ，５Ｄには、一対の両ね
じボルト10が貫挿され、左右の取付板５Ｃ，５Ｄの間に
後述するように重ねられた平形素子（以下、素子とい
う）１や冷却片２を左右のナット11によって所定の圧力
で締め付けている。
じボルト10が貫挿され、左右の取付板５Ｃ，５Ｄの間に
後述するように重ねられた平形素子（以下、素子とい
う）１や冷却片２を左右のナット11によって所定の圧力
で締め付けている。
【０００５】すなわち、左側の取付板５Ｃの右側には、
円錐座９の底部が重ねられ、この円錐座９の右端には、
絶縁碍子４に続いて、下端面が図９（ａ）に示すよう
に、絶縁台12の溝１ａに載置された冷却片２が重ねられ
ている。この冷却片２の右側には、素子１が重ねられ、
更に、冷却片２，絶縁スペーサ３，冷却片２，素子１，
冷却片２及び絶縁碍子４などが同一軸心上に続いて重ね
られている。
円錐座９の底部が重ねられ、この円錐座９の右端には、
絶縁碍子４に続いて、下端面が図９（ａ）に示すよう
に、絶縁台12の溝１ａに載置された冷却片２が重ねられ
ている。この冷却片２の右側には、素子１が重ねられ、
更に、冷却片２，絶縁スペーサ３，冷却片２，素子１，
冷却片２及び絶縁碍子４などが同一軸心上に続いて重ね
られている。
【０００６】右端の絶縁碍子４の右側には、円錐座９の
頂部が当接し、この円錐座９の右側の底部には、帯板状
の加圧板８が重ねられている。この加圧板８を貫通した
一対の両ねじボルト10には、加圧板８とこの加圧板８の
右側の取付板５Ｂの左側面との間に、破線で示す円筒状
のばねガイド７がそれぞれ遊嵌され、このばねガイド７
には、背中合わせに重ねられた複数枚の皿ばね６が遊嵌
されている。
頂部が当接し、この円錐座９の右側の底部には、帯板状
の加圧板８が重ねられている。この加圧板８を貫通した
一対の両ねじボルト10には、加圧板８とこの加圧板８の
右側の取付板５Ｂの左側面との間に、破線で示す円筒状
のばねガイド７がそれぞれ遊嵌され、このばねガイド７
には、背中合わせに重ねられた複数枚の皿ばね６が遊嵌
されている。
【０００７】このように構成された半導体スタックにお
いては、各素子１とこの素子１の両側に重ねられた冷却
片２との接触面全体を、所定の圧力で均一に接触させ
て、各素子１から各冷却片２へ伝達される熱による放熱
効果を上げるとともに、各素子１への通電に伴う各素子
１や隣接連結部品の熱膨脹による各素子１にかかる応力
の増加を軽減するために、ナット11で締め付けるときに
は、図９（ｂ）に示すようなギャップゲージ15を用いて
皿ばね６の撓みを測定している。
いては、各素子１とこの素子１の両側に重ねられた冷却
片２との接触面全体を、所定の圧力で均一に接触させ
て、各素子１から各冷却片２へ伝達される熱による放熱
効果を上げるとともに、各素子１への通電に伴う各素子
１や隣接連結部品の熱膨脹による各素子１にかかる応力
の増加を軽減するために、ナット11で締め付けるときに
は、図９（ｂ）に示すようなギャップゲージ15を用いて
皿ばね６の撓みを測定している。
【０００８】すなわち、この半導体スタックの組立時に
は、図９（ｂ）において、右端の取付板５Ｄと加圧板８
との間に、両側面に目盛りが形成されたくさび状のギャ
ップゲージ15を上から挿入し、両側面を取付板５Ｄと加
圧板８に当接させ、取付板５Ｄと加圧板８との間隔が所
定の値になるまでナット11を締め付けて皿ばね６を撓ま
せている。また、素子１を交換するときには、右側のボ
ルト13とナット11を緩め、取付板５Ｄを右側にずらして
行う。
は、図９（ｂ）において、右端の取付板５Ｄと加圧板８
との間に、両側面に目盛りが形成されたくさび状のギャ
ップゲージ15を上から挿入し、両側面を取付板５Ｄと加
圧板８に当接させ、取付板５Ｄと加圧板８との間隔が所
定の値になるまでナット11を締め付けて皿ばね６を撓ま
せている。また、素子１を交換するときには、右側のボ
ルト13とナット11を緩め、取付板５Ｄを右側にずらして
行う。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところが、このように
構成された半導体スタックにおいては、ギャップゲージ
15を取付板５Ｄと加圧板８との間に挿入するときに、ギ
ャップゲージ15が図９（ｂ）において左右に僅かに傾く
と、ギャップゲージ15の挿入深さが異なるので、取付板
５Ｄと加圧板８との間隔の測定に誤差が出るおそれがあ
る。
構成された半導体スタックにおいては、ギャップゲージ
15を取付板５Ｄと加圧板８との間に挿入するときに、ギ
ャップゲージ15が図９（ｂ）において左右に僅かに傾く
と、ギャップゲージ15の挿入深さが異なるので、取付板
５Ｄと加圧板８との間隔の測定に誤差が出るおそれがあ
る。
【００１０】また、ギャップゲージ15に形成された目盛
りと取付板５Ｄの上端との接触位置が、作業員の目の位
置で異なってくるので、特に、半導体電力変換装置が設
置された現地で行う素子１の交換作業においては、測定
に細心の注意を要するだけでなく、半導体スタックの取
付位置によっては、測定に誤差が出るおそれがある。
りと取付板５Ｄの上端との接触位置が、作業員の目の位
置で異なってくるので、特に、半導体電力変換装置が設
置された現地で行う素子１の交換作業においては、測定
に細心の注意を要するだけでなく、半導体スタックの取
付位置によっては、測定に誤差が出るおそれがある。
【００１１】そこで、本発明の目的は、装置内の取付位
置・方向や作業員の熟練度及び注意力の如何にかかわら
ず、素子の交換を容易且つ正確に行うことのできる半導
体スタックを得ることである。
置・方向や作業員の熟練度及び注意力の如何にかかわら
ず、素子の交換を容易且つ正確に行うことのできる半導
体スタックを得ることである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、一対の取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の
平形素子と冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫
通した一対の締付棒により、片側の取付板とこの取付板
の内側の加圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素
子と冷却片が締め付けられた半導体スタックにおいて、
片側の取付板に遊嵌し先端が加圧板に螺合する第１のね
じ体と、他側の取付板に螺合し、先端に袋ナットが螺合
された第２のねじ体を設けたことを特徴とする。
は、一対の取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の
平形素子と冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫
通した一対の締付棒により、片側の取付板とこの取付板
の内側の加圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素
子と冷却片が締め付けられた半導体スタックにおいて、
片側の取付板に遊嵌し先端が加圧板に螺合する第１のね
じ体と、他側の取付板に螺合し、先端に袋ナットが螺合
された第２のねじ体を設けたことを特徴とする。
【００１３】また、請求項２に記載の発明は、一対の取
付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形素子と冷
却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通した一対の
締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内側の加圧
板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と冷却片が
締め付けられた半導体スタックにおいて、一対の締付棒
の加圧板の内側に螺合されたナットと、他側の取付板に
螺合し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設けたこ
とを特徴とする。
付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形素子と冷
却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通した一対の
締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内側の加圧
板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と冷却片が
締め付けられた半導体スタックにおいて、一対の締付棒
の加圧板の内側に螺合されたナットと、他側の取付板に
螺合し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設けたこ
とを特徴とする。
【００１４】さらに、請求項３に記載の発明は、一対の
取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形素子と
冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通した一対
の締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内側の加
圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と冷却片
が締め付けられた半導体スタックにおいて、一対の締付
棒の加圧板の内側に螺合されたナットと、加圧板に螺合
し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設けたことを
特徴とする。
取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形素子と
冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通した一対
の締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内側の加
圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と冷却片
が締め付けられた半導体スタックにおいて、一対の締付
棒の加圧板の内側に螺合されたナットと、加圧板に螺合
し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設けたことを
特徴とする。
【００１５】
【作用】請求項１に記載の発明においては、第１のねじ
体を加圧板に更に螺合させ片側の取付板と加圧板の間隔
を拘束することで、ばね具の復帰力は拘束され、第２の
ねじ体を緩め平形素子を交換した後に、第２のねじ体の
先端の袋ナットを絶縁体に当接させ、第１のねじ体を緩
めると、平形素子と冷却片は拘束が解かれたばね具によ
って、所期の圧力で押圧される。
体を加圧板に更に螺合させ片側の取付板と加圧板の間隔
を拘束することで、ばね具の復帰力は拘束され、第２の
ねじ体を緩め平形素子を交換した後に、第２のねじ体の
先端の袋ナットを絶縁体に当接させ、第１のねじ体を緩
めると、平形素子と冷却片は拘束が解かれたばね具によ
って、所期の圧力で押圧される。
【００１６】また、請求項２及び請求項３に記載の発明
においては、一対の締付棒に螺合されたナットを加圧板
に当接させることで、ばね具の復帰力は拘束され、ねじ
体を緩め平形素子を交換した後に、ねじ体の先端の袋ナ
ットを絶縁体に当接させ、ナットを緩めると、平形素子
と冷却片は拘束が解かれたばね具によって、所期の圧力
で押圧される。
においては、一対の締付棒に螺合されたナットを加圧板
に当接させることで、ばね具の復帰力は拘束され、ねじ
体を緩め平形素子を交換した後に、ねじ体の先端の袋ナ
ットを絶縁体に当接させ、ナットを緩めると、平形素子
と冷却片は拘束が解かれたばね具によって、所期の圧力
で押圧される。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の半導体スタックの一実施例を
図面を参照して説明する。図１は、請求項１に記載の発
明の半導体スタックを示す平面図で、従来の技術で示し
た図８に対応する図である。なお、図８と同一部分に
は、同一符号を付している。
図面を参照して説明する。図１は、請求項１に記載の発
明の半導体スタックを示す平面図で、従来の技術で示し
た図８に対応する図である。なお、図８と同一部分に
は、同一符号を付している。
【００１８】図１において、従来の技術で示した図８と
異なるところは、左右の取付板５Ａ，５Ｂには、これら
の取付板５Ａ，５Ｂの間に重ねられた素子１などの軸心
線上の位置にボルト16，17が外側から挿入され、取付板
５Ｂには、図８で示した溝５ｄは形成されていない。
異なるところは、左右の取付板５Ａ，５Ｂには、これら
の取付板５Ａ，５Ｂの間に重ねられた素子１などの軸心
線上の位置にボルト16，17が外側から挿入され、取付板
５Ｂには、図８で示した溝５ｄは形成されていない。
【００１９】すなわち、左の取付板５Ａには、この部分
拡大詳細図を示す図２に示すように、めねじ穴５ａが形
成され、このめねじ穴５ａには、ボルト16が左側から螺
合されている。このボルト16の右端には、袋ナット18が
螺合され、この袋ナット18の右側は、円錐台状に形成さ
れ、先端は半球状となっている。袋ナット18の左側の外
周は、六角形となっている。袋ナット18の右端の半球状
の突部は、この袋ナット18の右側に重ねられた絶縁碍子
４の左側面に形成された図示しない円錐台状の凹部の左
端に当接している。
拡大詳細図を示す図２に示すように、めねじ穴５ａが形
成され、このめねじ穴５ａには、ボルト16が左側から螺
合されている。このボルト16の右端には、袋ナット18が
螺合され、この袋ナット18の右側は、円錐台状に形成さ
れ、先端は半球状となっている。袋ナット18の左側の外
周は、六角形となっている。袋ナット18の右端の半球状
の突部は、この袋ナット18の右側に重ねられた絶縁碍子
４の左側面に形成された図示しない円錐台状の凹部の左
端に当接している。
【００２０】一方、右側の取付板５Ｂに形成された貫通
穴５ｂには、ボルト17が右側から遊嵌され、このボルト
17の先端は、加圧板８の中心に貫設されためねじ穴の中
間部まで螺合し、ボルト17の座面と取付板５Ｂの貫通穴
５ｂの右側面との間には、僅かな間隙Ｇ１が保たれてい
る。
穴５ｂには、ボルト17が右側から遊嵌され、このボルト
17の先端は、加圧板８の中心に貫設されためねじ穴の中
間部まで螺合し、ボルト17の座面と取付板５Ｂの貫通穴
５ｂの右側面との間には、僅かな間隙Ｇ１が保たれてい
る。
【００２１】このように構成された半導体スタックにお
いて、素子１を交換するときには、右側のボルト17を廻
しこのボルト17の座面を取付板５Ｂの右側面に密着させ
て、後述する素子１の取換作業による皿ばね６の圧縮
長、すなわち、素子１などの締付力の変化を防ぐ。
いて、素子１を交換するときには、右側のボルト17を廻
しこのボルト17の座面を取付板５Ｂの右側面に密着させ
て、後述する素子１の取換作業による皿ばね６の圧縮
長、すなわち、素子１などの締付力の変化を防ぐ。
【００２２】次に、左側のボルト16を緩めて、このボル
ト16の右端に螺合された袋ナット18の先端と絶縁碍子４
との図４で示す間隔Ｇ２が約15mm程度になるまで離し
て、図５に示す状態とする。
ト16の右端に螺合された袋ナット18の先端と絶縁碍子４
との図４で示す間隔Ｇ２が約15mm程度になるまで離し
て、図５に示す状態とする。
【００２３】このとき、皿ばね６による締付力は、ボル
ト17の加圧板８での螺合によって、ほとんどなくなって
いるので、袋ナット18はボルト16とともに回転して絶縁
碍子４から容易に離れる。次に、図５に示すように、袋
ナット18の先端からボルト17までの長さＬ２を、交換す
る素子の厚さの誤差に応じて調整する。
ト17の加圧板８での螺合によって、ほとんどなくなって
いるので、袋ナット18はボルト16とともに回転して絶縁
碍子４から容易に離れる。次に、図５に示すように、袋
ナット18の先端からボルト17までの長さＬ２を、交換す
る素子の厚さの誤差に応じて調整する。
【００２４】この状態で、不良となった素子１とこの素
子１の左側に重ねられた冷却片２との間にマイナスドラ
イバなどを挿入して、左方に移動させた後、不良となっ
た素子１を取り出す。新しい素子を挿入した後は、ボル
ト17を廻して袋ナット18を絶縁碍子に押圧した後、右側
のボルト16を緩めて、図１の状態に戻す。
子１の左側に重ねられた冷却片２との間にマイナスドラ
イバなどを挿入して、左方に移動させた後、不良となっ
た素子１を取り出す。新しい素子を挿入した後は、ボル
ト17を廻して袋ナット18を絶縁碍子に押圧した後、右側
のボルト16を緩めて、図１の状態に戻す。
【００２５】この結果、加圧板８は皿ばね６の復帰力で
右側から押圧され、この加圧板８の左側に重ねられた素
子１や冷却片２などの接触面には、素子交換前と同一の
圧力が印加される。
右側から押圧され、この加圧板８の左側に重ねられた素
子１や冷却片２などの接触面には、素子交換前と同一の
圧力が印加される。
【００２６】また、交換する新しい素子の厚さが許容値
の範囲内でばらついて、厚い素子や薄い素子となった場
合にも、図５で示すように袋ナット18の右端と絶縁碍子
４の左端の間隙を、前述したように十分（約15mm) 離す
ことによって、この素子の厚みのばらつきによって、加
圧板８の右側面から絶縁碍子４の左側面までの図４に示
す幅Ｌａが増減しても容易に対応することができるだけ
でなく、従来の半導体スタックのように、ギャップゲー
ジは不要となり、作業者や取付場所による誤差の発生を
解消することができる。
の範囲内でばらついて、厚い素子や薄い素子となった場
合にも、図５で示すように袋ナット18の右端と絶縁碍子
４の左端の間隙を、前述したように十分（約15mm) 離す
ことによって、この素子の厚みのばらつきによって、加
圧板８の右側面から絶縁碍子４の左側面までの図４に示
す幅Ｌａが増減しても容易に対応することができるだけ
でなく、従来の半導体スタックのように、ギャップゲー
ジは不要となり、作業者や取付場所による誤差の発生を
解消することができる。
【００２７】次に、図６は、請求項２に記載の発明の半
導体スタックを示す平面図で、図１に対応する図であ
る。
導体スタックを示す平面図で、図１に対応する図であ
る。
【００２８】図６においては、右端の取付板５Ｅは、従
来の技術で示した取付板５Ｄに対して溝５ｄを省いたも
のであり、図１で示したボルト17はなく、代りに、各両
ねじボルト10には、加圧板８の左側にナット22が加圧板
８の左側面に対して間隙Ｇ３の位置に螺合されている。
来の技術で示した取付板５Ｄに対して溝５ｄを省いたも
のであり、図１で示したボルト17はなく、代りに、各両
ねじボルト10には、加圧板８の左側にナット22が加圧板
８の左側面に対して間隙Ｇ３の位置に螺合されている。
【００２９】この場合には素子１を交換するときには、
ナット22を廻してこのナット22の座面を加圧板８の左側
面に軽く当接させて、図１で示した半導体スタックと同
様に、皿ばね６の復帰作用を拘束する。以下の作業は、
図１〜図５で説明した請求項１に記載の発明と同様の手
順で行う。
ナット22を廻してこのナット22の座面を加圧板８の左側
面に軽く当接させて、図１で示した半導体スタックと同
様に、皿ばね６の復帰作用を拘束する。以下の作業は、
図１〜図５で説明した請求項１に記載の発明と同様の手
順で行う。
【００３０】さらに、図７は、請求項３に記載の発明の
半導体スタックを示す半面図で、図１及び図６に対応す
る図である。図７においては、左右端の取付板５Ｃ，５
Ｄは、図８で示した従来の半導体スタックと同一品が使
われている。また、加圧板８の左側面の円錐座９も省略
されている。
半導体スタックを示す半面図で、図１及び図６に対応す
る図である。図７においては、左右端の取付板５Ｃ，５
Ｄは、図８で示した従来の半導体スタックと同一品が使
われている。また、加圧板８の左側面の円錐座９も省略
されている。
【００３１】代りに、加圧板８の中央部には、めねじ穴
が形成され、このめねじ穴には、図１〜図６で示したボ
ルト17が右側から螺合され、このボルト17の先端には、
同じく図１〜図６で示した袋ナット18が螺合され、この
袋ナット18の左端は、この半導体スタックの右端に重ね
られた絶縁碍子４の右側面中心部に押圧されている。ま
た、各両ねじボルト10には、加圧板８の左側に、加圧板
８の左側面と間隙Ｇ３の位置に図６と同様にナット22が
螺合されている。
が形成され、このめねじ穴には、図１〜図６で示したボ
ルト17が右側から螺合され、このボルト17の先端には、
同じく図１〜図６で示した袋ナット18が螺合され、この
袋ナット18の左端は、この半導体スタックの右端に重ね
られた絶縁碍子４の右側面中心部に押圧されている。ま
た、各両ねじボルト10には、加圧板８の左側に、加圧板
８の左側面と間隙Ｇ３の位置に図６と同様にナット22が
螺合されている。
【００３２】この場合にも、素子１を交換するときに
は、図６と同様にナット22を廻して、このナット22の座
面を加圧板８の左側面に軽く当接させる。以下の作業
は、図１〜図６で前述した方法と同様である。
は、図６と同様にナット22を廻して、このナット22の座
面を加圧板８の左側面に軽く当接させる。以下の作業
は、図１〜図６で前述した方法と同様である。
【００３３】
【発明の効果】請求項１に記載の発明によれば、一対の
取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形素子と
冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通した一対
の締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内側の加
圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と冷却片
が締め付けられた半導体スタックにおいて、片側の取付
板に遊嵌し先端が加圧板に螺合する第１のねじ体と、他
側の取付板に螺合し、先端に袋ナットが螺合された第２
のねじ体を設けることで、第１のねじ体を加圧板に更に
螺合させて、ばね具の復帰力を拘束し、第２のねじ体を
緩め平形素子を交換した後に、第２のねじ体の先端の袋
ナットを絶縁体に当接させ、第１のねじ体を緩めること
で、平形素子と冷却片を拘束が解かれたばね具によっ
て、所期の圧力で押圧するようにしたので、取付位置や
作業員の熟練度及び注意力の如何にかかわらず、素子の
交換を容易且つ正確に行うことのできる半導体スタック
を得ることができる。
取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形素子と
冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通した一対
の締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内側の加
圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と冷却片
が締め付けられた半導体スタックにおいて、片側の取付
板に遊嵌し先端が加圧板に螺合する第１のねじ体と、他
側の取付板に螺合し、先端に袋ナットが螺合された第２
のねじ体を設けることで、第１のねじ体を加圧板に更に
螺合させて、ばね具の復帰力を拘束し、第２のねじ体を
緩め平形素子を交換した後に、第２のねじ体の先端の袋
ナットを絶縁体に当接させ、第１のねじ体を緩めること
で、平形素子と冷却片を拘束が解かれたばね具によっ
て、所期の圧力で押圧するようにしたので、取付位置や
作業員の熟練度及び注意力の如何にかかわらず、素子の
交換を容易且つ正確に行うことのできる半導体スタック
を得ることができる。
【００３４】また、請求項２に記載の発明によれば、一
対の取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形素
子と冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通した
一対の締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内側
の加圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と冷
却片が締め付けられた半導体スタックにおいて、一対の
締付棒の加圧板の内側に螺合されたナットと、他側の取
付板に螺合し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設
けることで、一対の締付棒に螺合されたナットを加圧板
に当接させて、ばね具の復帰力を拘束し、ねじ体を緩め
平形素子を交換した後に、ねじ体の先端の袋ナットを絶
縁体に当接させ、ナットを緩めることで、平形素子と冷
却片を拘束が解かれたばね具によって、所期の圧力で押
圧するようにしたので、装置内の取付位置・方向や作業
員の熟練度及び注意力の如何にかかわらず、素子の交換
を容易且つ正確に行うことのできる半導体スタックを得
ることができる。
対の取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形素
子と冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通した
一対の締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内側
の加圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と冷
却片が締め付けられた半導体スタックにおいて、一対の
締付棒の加圧板の内側に螺合されたナットと、他側の取
付板に螺合し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設
けることで、一対の締付棒に螺合されたナットを加圧板
に当接させて、ばね具の復帰力を拘束し、ねじ体を緩め
平形素子を交換した後に、ねじ体の先端の袋ナットを絶
縁体に当接させ、ナットを緩めることで、平形素子と冷
却片を拘束が解かれたばね具によって、所期の圧力で押
圧するようにしたので、装置内の取付位置・方向や作業
員の熟練度及び注意力の如何にかかわらず、素子の交換
を容易且つ正確に行うことのできる半導体スタックを得
ることができる。
【００３５】さらに、請求項３に記載の発明によれば、
一対の取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形
素子と冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通し
た一対の締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内
側の加圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と
冷却片が締め付けられた半導体スタックにおいて、一対
の締付棒の加圧板の内側に螺合されたナットと、加圧板
に螺合し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設ける
ことで、一対の締付棒に螺合されたナットを加圧板に当
接させて、ばね具の復帰力を拘束し、ねじ体を緩め平形
素子を交換した後に、ねじ体の先端の袋ナットを絶縁体
に当接させ、ナットを緩めることで、平形素子と冷却片
を拘束が解かれたばね具によって、所期の圧力で押圧す
るようにしたので、取付位置や作業員の熟練度及び注意
力の如何にかかわらず、素子の交換を容易且つ正確に行
うことのできる半導体スタックを得ることができる。
一対の取付板の間に加圧板と絶縁体を介して複数の平形
素子と冷却片が同軸に重ねられ、一対の取付板を貫通し
た一対の締付棒により、片側の取付板とこの取付板の内
側の加圧板の間に挿着されたばね具を介して平形素子と
冷却片が締め付けられた半導体スタックにおいて、一対
の締付棒の加圧板の内側に螺合されたナットと、加圧板
に螺合し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設ける
ことで、一対の締付棒に螺合されたナットを加圧板に当
接させて、ばね具の復帰力を拘束し、ねじ体を緩め平形
素子を交換した後に、ねじ体の先端の袋ナットを絶縁体
に当接させ、ナットを緩めることで、平形素子と冷却片
を拘束が解かれたばね具によって、所期の圧力で押圧す
るようにしたので、取付位置や作業員の熟練度及び注意
力の如何にかかわらず、素子の交換を容易且つ正確に行
うことのできる半導体スタックを得ることができる。
【図１】請求項１に記載の半導体スタックの一実施例を
示す平面図。
示す平面図。
【図２】図１の部分拡大詳細図。
【図３】請求項１に記載の発明の半導体スタックの作用
を示す平面図。
を示す平面図。
【図４】請求項１に記載の発明の半導体スタックの図３
と異なる作用を示す平面図。
と異なる作用を示す平面図。
【図５】図４の部分拡大詳細図。
【図６】請求項２に記載の発明の半導体スタックの一実
施例を示す平面図。
施例を示す平面図。
【図７】請求項３に記載の発明の半導体スタックの一実
施例を示す平面図。
施例を示す平面図。
【図８】従来の半導体スタックの一例を示す平面図。
【図９】（ａ）は、図８のＸ−Ｘ断面詳細図、（ｂ）
は、従来の半導体スタックの作用を示す部分前面図。
は、従来の半導体スタックの作用を示す部分前面図。
１…平形素子（素子）、２…冷却片、３…絶縁スペー
サ、４…絶縁碍子、５Ａ，５Ｂ，５Ｃ，５Ｅ…取付板、
６…皿ばね、７…ばねガイド、８…加圧板、９…円錐
座、10…両ねじボルト、11…ナット、12…絶縁台、15…
ギャップゲージ、16，17…ボルト、18…袋ナット。
サ、４…絶縁碍子、５Ａ，５Ｂ，５Ｃ，５Ｅ…取付板、
６…皿ばね、７…ばねガイド、８…加圧板、９…円錐
座、10…両ねじボルト、11…ナット、12…絶縁台、15…
ギャップゲージ、16，17…ボルト、18…袋ナット。
Claims (3)
- 【請求項１】 一対の取付板の間に加圧板と絶縁体を介
して複数の平形素子と冷却片が同軸に重ねられ、前記一
対の取付板を貫通した一対の締付棒により、片側の前記
取付板とこの取付板の内側の前記加圧板の間に挿着され
たばね具を介して前記平形素子と冷却片が締め付けられ
た半導体スタックにおいて、片側の前記取付板に遊嵌し
先端が前記加圧板に螺合する第１のねじ体と、他側の前
記取付板に螺合し、先端に袋ナットが螺合された第２の
ねじ体を設けたことを特徴とする半導体スタック。 - 【請求項２】 一対の取付板の間に加圧板と絶縁体を介
して複数の平形素子と冷却片が同軸に重ねられ、前記一
対の取付板を貫通した一対の締付棒により、片側の前記
取付板とこの取付板の内側の前記加圧板の間に挿着され
たばね具を介して前記平形素子と冷却片が締め付けられ
た半導体スタックにおいて、前記一対の締付棒の前記加
圧板の内側に螺合されたナットと、他側の前記取付板に
螺合し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設けたこ
とを特徴とする半導体スタック。 - 【請求項３】 一対の取付板の間に加圧板と絶縁体を介
して複数の平形素子と冷却片が同軸に重ねられ、前記一
対の取付板を貫通した一対の締付棒により、片側の前記
取付板とこの取付板の内側の前記加圧板の間に挿着され
たばね具を介して前記平形素子と冷却片が締め付けられ
た半導体スタックにおいて、前記一対の締付棒の前記加
圧板の内側に螺合されたナットと、前記加圧板に螺合
し、先端に袋ナットが螺合されたねじ体を設けたことを
特徴とする半導体スタック。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5161666A JP2988807B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 半導体スタック |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5161666A JP2988807B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 半導体スタック |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0758284A JPH0758284A (ja) | 1995-03-03 |
| JP2988807B2 true JP2988807B2 (ja) | 1999-12-13 |
Family
ID=15739531
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5161666A Expired - Lifetime JP2988807B2 (ja) | 1993-06-30 | 1993-06-30 | 半導体スタック |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2988807B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP6111206B2 (ja) * | 2014-01-06 | 2017-04-05 | 東芝三菱電機産業システム株式会社 | 電力変換装置 |
| AU2015393305B2 (en) * | 2015-04-27 | 2018-11-15 | Toshiba Energy Systems & Solutions Corporation | Pressure-contact type semiconductor element stack |
| CN106505467A (zh) * | 2016-12-07 | 2017-03-15 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司百色局 | 500千伏输电线路直线塔v型串倒数第一片绝缘子专用更换工具及使用方法 |
| CN111128923B (zh) * | 2019-11-26 | 2021-04-30 | 武汉船用电力推进装置研究所（中国船舶重工集团公司第七一二研究所） | 一种二极管模块 |
-
1993
- 1993-06-30 JP JP5161666A patent/JP2988807B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0758284A (ja) | 1995-03-03 |
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