JP2987523B2 - 無アルカリガラス基板 - Google Patents
無アルカリガラス基板Info
- Publication number
- JP2987523B2 JP2987523B2 JP8530898A JP53089896A JP2987523B2 JP 2987523 B2 JP2987523 B2 JP 2987523B2 JP 8530898 A JP8530898 A JP 8530898A JP 53089896 A JP53089896 A JP 53089896A JP 2987523 B2 JP2987523 B2 JP 2987523B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- glass
- glass substrate
- resistance
- alkali
- hydrofluoric acid
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 239000011521 glass Substances 0.000 title claims description 76
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims description 44
- KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N Fluorane Chemical compound F KRHYYFGTRYWZRS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 44
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 20
- 229910000272 alkali metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 229910018072 Al 2 O 3 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910004298 SiO 2 Inorganic materials 0.000 claims description 4
- DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 5-(5-carboxythiophen-2-yl)thiophene-2-carboxylic acid Chemical compound S1C(C(=O)O)=CC=C1C1=CC=C(C(O)=O)S1 DDFHBQSCUXNBSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 3
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 18
- 238000004031 devitrification Methods 0.000 description 16
- 239000010408 film Substances 0.000 description 13
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 9
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 8
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 239000002253 acid Substances 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910010413 TiO 2 Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 5
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 238000001259 photo etching Methods 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 4
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 3
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005354 aluminosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 229910052788 barium Inorganic materials 0.000 description 2
- DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N barium atom Chemical compound [Ba] DSAJWYNOEDNPEQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 229910052906 cristobalite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 2
- 238000007088 Archimedes method Methods 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910006404 SnO 2 Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000007513 acids Chemical class 0.000 description 1
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 1
- 239000013065 commercial product Substances 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005191 phase separation Methods 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 239000002994 raw material Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000007670 refining Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 229910052845 zircon Inorganic materials 0.000 description 1
- GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N zirconium(iv) silicate Chemical compound [Zr+4].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] GFQYVLUOOAAOGM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Glass Compositions (AREA)
Description
ィスプレイ,フィルター,センサー等の基板として用い
られる無アルカリガラス基板に関するものである。
スプレイ,フィルター,センサー等の基板として,ガラ
ス基板が広く使用されている。
膜,半導体膜,金属膜等が成膜され,しかもフォトリソ
グラフィーエッチング(フォトエッチング)によって種
々の回路やパターンが形成される。これらの成膜,フォ
トエッチング工程において,ガラス基板には,種々の熱
処理や薬品処理が施される。
リックス液晶ディスプレイの場合,ガラス基板上に絶縁
膜や透明導電膜が成膜され,さらにアモルファスシリコ
ンや多結晶シリコンのTFTが,フォトエッチングによっ
て多数形成される。このような工程において,ガラス基
板は,数百度の熱処理を受けると共に,硫酸,塩酸,ア
ルカリ溶液,フッ酸,バッファードフッ酸等の種々の薬
品による処理を受ける。
広く用いられる。このバッファードフッ酸は,ガラスを
侵食してその表面を白濁させやすい。また,侵食の際
に,ガラス成分と反応して反応生成物ができ,これが工
程中のフィルターをつまらせたり,基板上に付着するこ
とがある。また,塩酸は,ITO膜やクロム膜のエッチング
に用いられる。この塩酸もガラスを侵食してその表面を
変色させたり,白濁やクラックを生じさせ易い。この種
のガラス基板には,耐バッファードフッ酸性と耐塩酸性
を付与することが大変重要となる。
イに使用されるガラス基板には,以下のような特性が要
求される。
と,熱処理中にアルカリイオンが成膜された半導体物質
中に拡散し,膜特性の劣化を招くため,実質的にアルカ
リ金属酸化物を含有しないこと。
酸,アルカリ等の薬品によって劣化しないような耐薬品
性を有すること。
て,熱収縮しないこと。そのため高い歪点を有するこ
と。例えば多結晶シリコンTFT−LCDの場合,その工程温
度が約600℃以上であるため,このような用途のガラス
基板には,歪点が650℃以上であることが要求される。
には,以下のような特性も要求される。
生しないよう,溶融性に優れていること。
ないように,耐失透性に優れていること。
レイ等の電子機器は,パーソナルな分野への利用が進め
られており,機器の軽量化が要求されている。これに伴
ってガラス基板にも軽量化が要求されており,薄板化が
進められている。しかしながら,この種の電子機器は,
大型化も進められており,ガラス基板の強度を考慮する
と,薄板化については自ずと限界がある。そこで,ガラ
ス基板の軽量化を図る目的で,ガラスの密度を引くする
ことが望まれている。
レイ基板に用いられている無アルカリガラスとしては,
石英ガラス,バリウム硼珪酸ガラス及びアルミノ珪酸塩
ガラスが存在するが,いずれも一長一短がある。
密度である。しかし,石英ガラスは,材料コストが高い
という難点がある。
コーニング社製#7059が存在するが,このガラスは耐酸
性に劣るため,フォトエッチング工程においてガラス基
板の表面に変質や白濁,荒れが生じやすく,しかも基板
からの溶出成分によって薬液を汚染しやすい。さらに,
このガラスは,歪点が低いため,熱収縮や熱変形を起こ
しやすく,耐熱性に劣っている。またその密度も,2.76g
/cm3と高い。
が,現在市場にあるガラス基板の多くが,溶融性が悪
く,大量生産に不向きである。またこれらのガラス基板
は,密度が2.7g/cm3以上と高かったり,耐バッファード
フッ酸性に劣るものが多い。よって,全ての要求特性を
満足するものは未だ存在しないというのが実情である。
(1)〜(5)の全てを満足し,しかも密度が2.6g/cm3
以下の無アルカリガラス基板を提供することである。
O250.0〜57.9%,Al2O310.0〜25.0%,B2O33.0〜12.0%,M
gO0〜2.0%,CaO0〜10.0%,BaO0.1〜5.0%,SrO3.5〜15.0
%,ZnO0〜5.0%,MgO+CaO+SrO+BaO+ZnO5.0〜17.0%,
ZrO20〜5.0%,TiO20〜5.0%の組成を有し、実質的にア
ルカリ金属酸化物を含有せず,2.6g/cm3を越えない密度
と、20℃に保持された重量百分率で38.7%のフッ化アン
モニウムと1.6%のフッ酸とを含むバッファードフッ酸
溶液に30分間浸漬しても表面変化がない化学耐久性とを
備えていることを特徴とする。
250.0〜57.9%,Al2O310.0〜25.0%,B2O33.0〜12.0%,Mg
O0〜2.0%,CaO0〜10.0%,BaO0.1〜5.0%,SrO0.1〜15.0
%,ZnO0〜5.0%,ZrO20〜5.0%,TiO20〜5.0%の組成を有
し,実質的にアルカリ金属酸化物を含有しない。
記のように限定した理由について説明する。
である。SiO2の含有量は,50.0〜57.9%である。50.0%
より少ないと,耐薬品性,特に耐酸性が低下する。それ
と共に歪点が低くなるため耐熱性が悪くなり,しかも密
度が高くなる。また,57.9%より多いと,失透傾向が増
大し,ガラス中にクリストバライトの失透異物が析出す
る虞れがある。
に,密度を低下させるために不可欠な成分である。Al2O
3の含有量は,10.0〜25.0%である。10.0%より少ない
と,失透傾向が増大し,ガラス中にクリストバライトの
失透異物が析出する虞れがあると共に,歪点が低下す
る。また,25.0%より多いと,耐バッファードフッ酸性
が低下し,ガラス基板の表面に白濁が生じやすくなる。
それと共に,ガラスの高温粘度が高くなり,溶融性が悪
化する。
するための成分である。B2O3の含有量は,3.0〜12.0%,
好ましくは6.5〜12.0%,より好ましくは8.5〜12.0%で
ある。3.0%より少ないと,融剤としての働きが不十分
となると共に,耐バッファードフッ酸性が低下する。ま
た12.0%より多いと,ガラスの歪点が低下し,耐熱性が
悪くなると共に耐酸性も悪くなる。
融性を改善する作用を有している。また,MgOは,二価の
アルカリ土類酸化物の中で,最も密度を下げる効果が大
きい成分である。しかし,多量に含有すると,失透傾向
が増大するため好ましくない。従って,MgOの含有量は,0
〜2.0%,好ましくは,0〜1.0%である。
ガラスの溶融性を改善する作用を有する成分である。Ca
Oの含有量は,0〜10.0%,好ましくは1.8〜7.5%,さら
に好ましくは2.1〜7.5%である。10.0%より多いと,ガ
ラスの耐バッファードフッ酸性が著しく悪化するため好
ましくない。すなわちガラスをバッファードフッ酸で処
理する際に,ガラス中のCaO成分と,バッファードフッ
酸による反応生成物が,ガラス表面に多量に析出してガ
ラス基板を白濁させやすくなる。それと共に,反応生成
物によってガラス基板上に形成される素子や薬液が汚染
されやすくなる。
分である。BaOの含有量は,0.1〜5.0%,好ましくは,0.1
〜4.5%である。0.1%より少ないと,上記効果が得られ
ず,5.0%より多いと,ガラスの密度が上昇するため好ま
しくない。
共に,失透性を改善させる成分である。しかも,SrOは,B
aOに比べて,溶融性を悪化させにくいという特徴を有し
ている。SrOの含有量は,0.1〜15.0%,好ましくは,3.5
〜15.0%,より好ましくは5.0〜15.0%である。0.1%よ
り少ないと,上記効果が得られ難い。一方,15.0%より
多いと,ガラスの密度が高くなるため好ましくない。
溶融性を改善する成分である。ZnOの含有量は,0〜5.0%
である。5.0%より多いと,逆にガラスが失透しやすく
なると共に,歪点が低下するため優れた耐熱性が得られ
ない。
ないと,高温での粘性が高くなり,溶融性が悪くなると
共に,ガラスが失透しやすくなる。一方,20.0%より多
いと,ガラスの密度が高くなるため好ましくない。
共に,高温粘性を下げて溶融性を向上させる成分であ
る。ZrO2の含有量は,0〜5.0%,好ましくは0.1〜4%で
ある。5.0%より多いと,失透温度が上昇し,ジルコン
の失透異物が析出しやすくなる。
る。それとともに,TiO2は,高温粘性を低下し,溶融性
を向上させ,さらに紫外線による着色を防止する成分で
ある。すなわち液晶ディスプレイ等を製造する場合,ガ
ラス基板上の有機物を除去するために紫外線を照射する
ことがあるが,ガラス基板が紫外線によって着色する
と,透過率が低下するため好ましくない。そのためこの
種のガラス基板には,紫外線によって着色しないことが
要求される。しかしながら,TiO2が5.0%より多いと,逆
にガラスが着色しやすくなるため好ましくない。また,
本発明においては,上記成分以外にも,特性を損なわな
い範囲で,他の成分を添加させることが可能である。例
えば,清澄剤としてAs2O3,Sb2O3,F2,Cl2,SO3,SnO2とい
った成分やAl,Siといった金属粉末を添加させることが
可能である。
と,ガラス基板上に形成される各種の膜や半導体素子の
特性を劣化させるため好ましくない。また、一般に融剤
として使用されるPbOは,ガラスの耐薬品性を著しく低
下させる。それとともに,PbOは溶融時に融液の表面から
揮発し,環境を汚染する虞れもあるため好ましくない。
スを分相させると共に,耐薬品性を著しく低下させるた
め好ましくない。また,CuOを含有すると,ガラスが着色
するため,ディスプレイ用ガラス基板としては使用でき
なくなる。
詳細に説明する。
12)と比較例のガラス(試料No.13〜18)を示すもので
ある。
組成となるようにガラス原料を調合し,白金坩堝に入
れ,1580℃で,24時間溶融した後,カーボン板上に流し出
し,板状に成形した。
試料は,いずれも密度が2.60g/cm3以下,歪点が665℃以
上であった。また,No.1〜12の各試料は,耐塩酸性,耐
バッファードフッ酸性,耐失透性に優れていた。さら
に,No.1〜12の各試料は,102.5ポイズに相当する温度が1
569℃以下であり,いずれも良好な特性を有していた。
く,耐失透性に劣っていた。また,No.14の試料も耐失透
性に劣っていた。またNo.15の試料は,歪点が低く,耐
失透性に劣っていた。No.16の試料は,耐塩酸性,耐バ
ッファードフッ酸性及び耐失透性に劣っていた。
ッ酸性にやや劣っていた。さらに,No.18の試料は,密度
が高く,歪点が低く,しかも耐塩酸性に劣っていた。
て測定し,歪点は,ASTM C336−71の方法に基づいて測
定した。
された10重量%塩酸水溶液に24時間浸漬した後,ガラス
基板の表面状態を観察することによって評価し,また耐
バッファードフッ酸性は,光学研磨した各試料を,20℃
に保持された38.7重量%フッ化アンモニウム,1.6重量%
フッ酸からなるバッファードフッ酸溶液に30分間浸漬し
た後,ガラス基板の表面状態を観察することによって評
価したものであり,ガラス基板の表面が白濁したり,ク
ラックが入ったものを×,わずかに白濁が見られたもの
を△,全く変化のなかったものを○とした。
ガラス粉末を作製し,これを白金ボート内に入れ,1100
℃で100時間熱処理した後の失透観察によって求めたも
のであり,失透が少しでも認められたものを×,全く認
められなかったものを○とした。
当する温度を示すものであり,この温度が低いほど,溶
融成形性に優れていることになる。
リ金属酸化物を含有せず,耐熱性,耐薬品性,溶融成形
性に優れ,しかも密度が2.6g/cm3以下と低い無アルカリ
ガラス基板が得られる。
は,液晶ディスプレイ,ELディスプレイ等のディスプレ
イ,フィルター,センサー等の基板として用いられる無
アルカリガラス基板に用いることができ,特に軽量化が
要求されるTFT型アクティブマトリックス液晶ディスプ
レイに使用されるガラス基板として好適である。
Claims (1)
- 【請求項1】重量百分率で、SiO250.0〜57.9%,Al2O31
0.0〜25.0%,B2O33.0〜12.0%,MgO0〜2.0%,CaO0〜10.0
%,BaO0.1〜5.0%,SrO3.5〜15.0%,ZnO0〜5.0%,MgO+C
aO+SrO+BaO+ZnO5.0〜17.0%,ZrO20〜5.0%,TiO20〜
5.0%の組成を有し、実質的にアルカリ金属酸化物を含
有せず,2.6g/cm3を越えない密度と、20℃に保持された
重量百分率で38.7%のフッ化アンモニウムと1.6%のフ
ッ酸とを含むバッファードフッ酸溶液に30分間浸漬して
も表面変化がない化学耐久性とを備えていることを特徴
とする無アルカリガラス基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8530898A JP2987523B2 (ja) | 1995-09-28 | 1996-09-25 | 無アルカリガラス基板 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP27675995 | 1995-09-28 | ||
JP7-276759 | 1995-09-28 | ||
PCT/JP1996/002750 WO1997011919A1 (fr) | 1995-09-28 | 1996-09-25 | Substrat de verre exempt d'alcalis |
JP8530898A JP2987523B2 (ja) | 1995-09-28 | 1996-09-25 | 無アルカリガラス基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2987523B2 true JP2987523B2 (ja) | 1999-12-06 |
Family
ID=26552100
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8530898A Expired - Lifetime JP2987523B2 (ja) | 1995-09-28 | 1996-09-25 | 無アルカリガラス基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2987523B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012153634A1 (ja) | 2011-05-10 | 2012-11-15 | 日本電気硝子株式会社 | 薄膜太陽電池用ガラス板 |
WO2013099855A1 (ja) * | 2011-12-29 | 2013-07-04 | 日本電気硝子株式会社 | 無アルカリガラス |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04325436A (ja) * | 1991-04-26 | 1992-11-13 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 無アルカリガラス |
-
1996
- 1996-09-25 JP JP8530898A patent/JP2987523B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04325436A (ja) * | 1991-04-26 | 1992-11-13 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | 無アルカリガラス |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012153634A1 (ja) | 2011-05-10 | 2012-11-15 | 日本電気硝子株式会社 | 薄膜太陽電池用ガラス板 |
US9133052B2 (en) | 2011-05-10 | 2015-09-15 | Nippon Electric Glass Co., Ltd. | Glass plate for thin film solar cell |
WO2013099855A1 (ja) * | 2011-12-29 | 2013-07-04 | 日本電気硝子株式会社 | 無アルカリガラス |
JP2013151407A (ja) * | 2011-12-29 | 2013-08-08 | Nippon Electric Glass Co Ltd | 無アルカリガラス |
US9586854B2 (en) | 2011-12-29 | 2017-03-07 | Nippon Electric Glass Co., Ltd. | Alkali-free glass |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2990379B2 (ja) | 無アルカリガラス基板 | |
US5811361A (en) | Alkali-free glass substrate | |
JP3666610B2 (ja) | 無アルカリガラス基板 | |
JP3858293B2 (ja) | 無アルカリガラス基板 | |
JP3666608B2 (ja) | 無アルカリガラス基板 | |
JP3083586B2 (ja) | 無アルカリガラス | |
CA2113505C (en) | High liquidus viscosity glasses for flat panel displays | |
US6169047B1 (en) | Alkali-free glass and flat panel display | |
US6096670A (en) | Alkali metal-free aluminoborosilicate glass and its use | |
KR100378525B1 (ko) | 플랫판넬디스플레이용알루미노실리케이트글라스판넬및이의제조방법 | |
US5801109A (en) | Alkali-free glass and flat panel display | |
JP4739468B2 (ja) | 無アルカリガラスおよびその清澄方法 | |
US4994415A (en) | SiO2 -Al2 O3 -BaO glass substrates with improved chemical resistance for use in display panels and others having thin films | |
JP3800657B2 (ja) | 無アルカリガラスおよびフラットディスプレイパネル | |
US5326730A (en) | Barium aluminosilicate glasses | |
TW555715B (en) | Alkali-free glass and glass plate for a display | |
JP4305817B2 (ja) | 無アルカリガラス基板 | |
KR960000032B1 (ko) | 무알칼리 유리 | |
JPH04325434A (ja) | 無アルカリガラス | |
JPH05193980A (ja) | 高アルミナ、アルカリ土類ホウケイ酸塩ガラスを含むフラットパネル表示装置 | |
JP2001151534A (ja) | 液晶ディスプレイ用ガラス基板 | |
JP2000302475A (ja) | アルカリ非含有アルミノ硼珪酸ガラスとその用途 | |
JPH10139467A (ja) | 無アルカリガラス及びフラットディスプレイパネル | |
JPH10130034A (ja) | 無アルカリガラス及びその製造方法 | |
JP2002029776A (ja) | 耐クラック性に優れた無アルカリガラス |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091008 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101008 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101008 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111008 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111008 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121008 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121008 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121008 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121008 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131008 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131008 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131008 Year of fee payment: 14 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |