JP2975376B2 - 信号測定装置及び方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の技術分野］ 本発明は電子テスト機器に関し、とくに高周波（RF）
及びマイクロ波システムとその関連部品のテスト中、信
号を測定するための電子機器に関する。より詳細には本
発明は内部又は外部信号源のいずれかによって印加され
る掃引関数刺激に応じてテストされるRF及びマイクロ波
システムとその関連部品の種々の特性を測定するための
電子テスト機器を構成するために、ユーザーがテストシ
ーケンスを確定することを助けるための方法と装置とに
関する。

［発明の技術的背景及びその問題点］ 伝統的にベクトル・ネットワーク・アナライザのよう
な多くの信号測定システムは研究及び開発技術者向けの
製品であると認識されてきた。しかし、メーカーはRF及
びマイクロ波システムとその関連部品のテストに関する
低コストでしかも製品テストの要請にみあうだけの性能
を備えた合理的な解決策を発見する必要性に直面してい
る。システム又は部品メーカーの製品テストの基準に合
致するようにとくに設計された安価なベクトル・ネット
ワーク・アナライザはほとんどなく、あっても極くわず
かである。

更にテスト機器がより複雑になるにつれてテスト機器
を簡便に制御することに対する需要は高まってきてい
る。多くのベクトル・ネットワーク・アナライザの場
合、RF源と受信機とディスプレイが存在する。これらの
製品はシステム又は部品の測定を異なる周波数、電力、
及び速度で行うように構成することができる。これらの
ベクトル・ネットワーク・アナライザは異なる入力を有
する異なるチャネルを測定でき、又、結果を多様な様式
でディスプレイすることができる。

これまで反復的測定を簡単化するため多くの異なる企
てが試みされてきた。（ASP、すなわちオート・シーケ
ンス・プログラミング＝自動シーケンス・プログラミン
グ、ヒューレット・パッカード・カンパニーのパーツ＃
5920−2915のHP4194A、ASPプログラミング・ガイド及び
アンリツ・コーポレーション及びアドバンテスト・コー
ポレーションのベーシックに開示されている。）これら
の実施例はプログラミング言語を含み、測定のセットア
ップ中にユーザーが自分の機器を制御することはできな
い。

実施形態がより複雑になり、テストへの要求基準がよ
り徹底したものになるにつれて、ユーザーのインタフェ
ースを簡易にし、同時にテスト時間を最短にすることの
両立がますます重要である。テスト機器が複雑になると
ユーザーのトレーニングも多く必要になり、テスト・プ
ロセス中のステップ数が増すごとに人間により誤りの可
能性も増大する。生産量が十分高い場合は多くのテスト
機器は完全に自動化されてテストの簡易化と迅速化が図
られる。しかし、自動化すればテスト時間は短縮される
が、コンピュータを最初に購入し、顧客用ソフトウェア
を開発するコストにみあうだけの生産高がない多くの中
小量のテスト用途が存在する。従って生産テスト用の組
込み（built−in）自動化の必要性がある。

［発明の目的］ 本発明は、ユーザーによる所望のテストシーケンスの
確立を容易にするためのユーザー・インタフェースを提
供することを目的とする。

［発明の概要］ 本発明の一実施例はRF及びマイクロ波システムとその
関連部品の性能を特性化するための信号測定システムの
セットアップ中に、ユーザーによるテストシーケンスの
確定を容易化するための方法と装置を提供する。本発明
はテストシーケンスの会話型プログラミングを提供す
る。ルーチンはプログラムシーケンスを構成するステッ
プのエントリー中に実時間で実行される。

本発明に基づくテスト順序付け（test sequencing）
によってユーザーはコンピュータなしで、テストを自動
化でき、又、付加的なコンピュータ・プログラミングの
熟練を必要としない。操作は携帯用計算機をプログラム
するのと同様である。信号測定システムは、測定を行う
のに通常利用されるキーストロークを簡単に学習し、こ
れは後に単一のキーを押すことによって実行できる。各
テストシーケンスは望ましくは約200もの命令を備える
ことができる。信号測定システムのテスト機構は全てあ
る種の基本意志決定能力（すなわち、IF LIMIT TEST TE
ST FAILS,DO SEQUENCE TUNE（リミットテストが不合格
ならばシーケンスの調整を行え））、によって自動化、
増補することができる。

本発明の一実施例によって信号測定システムのユーザ
ーには、テストされるデバイスのための測定選択を含む
所望のテストシーケンスを選択するソフトキー・メニュ
ーが与えられる。この信号測定システムによってユーザ
ーは、セットアップ・プロセスを通じてユーザーを歩道
させるユーザー・インタフェースを介して、一組のディ
スプレイされたソフトキー選択を行うように指示され
る。信号測定システムに含まれている信号処理ユニット
（若しくはアナライザ）は、ユーザーが所望のテストシ
ーケンスを確定する際の案内と援助とをするためにファ
ームウェアにユーザー・インタフェースを組み入れてい
るのが望ましい。アナライザは、アナライザに備えられ
た陰極線管（CRT）上でユーザーを案内するため、ソフ
トキー・メニューをディスプレイするのが望ましい。こ
のことによって、テストされるデバイスの特性を測定す
るための信号測定システムが的確に容易に構成される。

本発明に基づく信号測定システムの一実施例によっ
て、RF及びマイクロ波システム周波数範囲のための、コ
ンパクトな、集積型の、低コストのベクトル・ネットワ
ーク・アナライザが提供される。これらのベクトル・ネ
ットワーク・アナライザは一般的な外観、操作の容易性
（正面パネル及びHP−IB）、及び生産性上の利点を共有
している。

［発明の実施例］ 第１図は本発明の一実施例に基づくRF又はマイクロ波
システム及び関連部品の信号測定システムの形をした信
号測定システムの一例を示し、総体的に番号10で示され
ている。その基本的な構成要素はベクトル・ネットワー
ク・アナライザ12と信号源14（これは外部信号源として
示してあるが、内部信号源14′を組入れることもでき
る）と受信機16である。信号源14と受信機16とを含む信
号測定システム10の全ての構成要素は高レベルの測定精
度を達成するために多くの特徴を備えている。第１図は
更にテスト中のデバイス（DUT）、例えば信号測定シス
テム10に接続されたミキサーをも図示している。

ベクトル・ネットワーク・アナライザ12は本質的に3G
Hzのベクトル・ネットワーク・アナライザ、例えばカリ
フォルニア州、サンタ・ローザのヒューレット・パッカ
ード社のネットワーク測定部門で購入できるHP8753型ベ
クトル・ネットワーク・アナライザであることが好適で
ある。これはDUTをシミュレートするために使用される3
00KHz乃至3GHz又は3MHz乃至6GHzのテスト信号を供給す
る。

テスト・セットアップ中の信号源14と受信器16の電気
的特性は感度がよく、安定しており、反復性がなければ
ならない。更にそれらの帯域幅はDUTの帯域幅よりも広
い必要がある。

信号源14は、300KHzから3GHzに、又は3MHzから6GHzに
掃引できる高安定度の、1Hz周波数分解能の合成信号を
生成する信号源であるのが望ましい。次に信号源14から
の信号はDUTに供給される。

受信機16は、ベクトル・ネットワーク・アナライザ12
内で処理するために変調信号を復調する。次にDUTの伝
送及び反射特性が、RF変調周波数の関数又はRF電力又は
距離の関数のいずれかとして、好適にはベクトル・ネッ
トワーク・アナライザ12に含まれる陰極線管（CRT）18
上にディスプレイされる。

受信機16はダイナミック・レンジが100dB以上である
高安定の高分解能精密受信機である。この受信機は広範
囲のダイナミック・レンジに及ぶ測定を可能にし、それ
により信号測定システム10は300KHz乃至3GHzの測定範囲
においては0dBm乃至−100dBmの感度で、又、3GHz乃至6G
Hzの測定範囲では0dBm乃至−95dBmの感度で動作するこ
とができる。受信機16は40dBの範囲にわたって＋／−0.
05dB及び＋／−0.3度の動的精度を備えている。信号源1
4と受信機16との3GHz乃至6GHzの帯域幅によって通常の
テストには十分な余裕が得られる。

信号測定システム10によって各種のテストを行うこと
ができる。本発明はそれらのテスト自体を指向するもの
ではないが、実行できる各種の測定を概括的に理解する
ことによって、本発明に基づきユーザーがテストシーケ
ンスを確定し得るための動作を理解する一助になるであ
ろう。

DUTは、前記信号測定システム10を使用して特性化す
ることができる。RF及びマイクロ波デバイスの例は増幅
器、フィルタ及びケーブルである。RF測定には帯域幅、
挿入損失／利得、位相、群遅延及び複素インピーダンス
が含まれる。

電気的な測定は増幅器、フィルタ及びケーブルのよう
なRF部品又は完成品の送信機又は受信機上で行うことが
できる。代表的な測定には損失／利得対変調周波数又は
電力レベル、変調帯域幅、変調移相又は位相遅延、ひず
み（例えば直線位相からの群遅延又は偏移）、複素イン
ピーダンス（大きさ及び位相）、高調波ひずみ及び電気
長（不連続位置を含む）がある。

本発明に基づき、信号測定システム10にはユーザーが
テストシーケンスを確定して操作を容易にできる能力が
組入れてある。信号測定システム10内のメモリに在るフ
ァームウェアは、コンピュータ・プログラム言語に不慣
れなユーザーが各種テスト用に信号測定システムを構成
できるようにする、テスト測定準備のディスプレイを生
成する。更に測定を書式化し、基準化し且つ作図するた
めのメニューもある。

本発明に基づき、信号測定システム10に含まれる信号
処理ユニット（すなわちベクトル・ネットワーク・アナ
ライザ12）はファームウェア中に一組の符号化されたソ
フトキー・メニューを組入れており、このメニューによ
ってユーザーはDUTでの所望のテストのためのテストシ
ーケンスを確定することができる。テストシーケンスの
確定を可能にするコードが機器の本体ファームウェアの
一部として埋め込まれている。従って本発明はユーザー
が所望のテスト・プロトコルに関連する測定プロセスを
準備しかつ実行し易くなるようなユーザー・インタフェ
ースを提供するものである。

より詳細に考察すると、ベクトル・ネットワーク・ア
ナライザ12の読出し専用記憶装置（ROM）内には信号測
定システム10の操作と利用が容易になるように組合せて
利用できるファームウェアテスト順序付けコードがプロ
グラムされる。これらのテスト順序付けコードによって
ユーザーは容易かつ迅速に信号測定システム10のテスト
測定を準備することができる。この機構を今度「テスト
順序付け」と称する。

テスト順序付けは、ユーザーがDUTで迅速かつ容易に
所望のテストを行い、測定を行うことを援助する機器の
ユーザーのためのインタフェース機構である。テスト順
序付けは特定のテスト測定を行うためユーザーが信号測
定システム10を構成し、かつ基本的な機器パラメタをセ
ットすることを案内する一連のソフトキー・メニューと
して実現される。

アナライザ12は電源がオンにされたとき、ソフトキー
・メニューをディスプレイする。ユーザーはソフトキー
を押すことによってテスト順序付け手順の案内を受け
る。一連のテスト順序付けにおける各ステップ用のファ
ームウェアによって一群のソフトキー・ラベル（ソフト
キー・メニュー）がベクトル・ネットワーク・アナライ
ザ12のディスプレイ上に表示される。ユーザーによって
所望のテストシーケンスの各ステップが入力されると、
そのステップはCRT18にディスプレイされる。さらにデ
ィスプレイされたステップはテスト順序付けに基づいて
測定されたデータに重ねて表示されることが好適であ
る。

テスト順序付け手順にはテスト機器の環境において種
々の用途を企画できる。ユーザーがこの自動化を利用す
る例にはいくつかあり、ユーザーがプログラムを開発す
る方法がいくつかある。

第１に研究及び開発の環境下では、一般に一人の人が
利用するベンチ上にベクトル・ネットワーク・アナライ
ザがある。彼又は彼女は常に実施する数組の簡単な測定
と、場合によっては必要となる、より複雑ないくつかの
測定を扱うことができる。後者のためにユーザーは一般
にBASICプログラム言語（テスト機器内に常駐又はコン
ピュータに常駐）を利用し、これを開発し、手直し（デ
バッグ）し利用できるようにするには一週間又は２週間
も費やしてしまうであろう。それらの簡単な用途のため
に、コンピュータをアクセスし、プログラムを準備し且
つプログラム言語を学習し、特殊なテスト機器の簡略記
憶記号を学習することはコスト上無理であろう。本発明
に基づくテスト順序付けはこれらの条件下で劇的に生産
性を向上する。何故ならば必要な知識はテスト機器の利
用方法だけだからである。

製造の環境下では時として複雑なテスト又は大量のデ
ータ・ロギングが必要となる。これらの目的には一般に
外部コンピュータが使用される。更に高速を要する場合
もある。このような場合には、テスト機器内で高速度で
実行可能であって別個に開発できるBASICプログラム言
語が有効である。しかし多くの製造上の用途では高速度
の又は複雑なテストは必要ではない。ほとんどの場合、
必要であるのは最小限の習熱度の人員によって高度に反
復できる（月曜日にせよ金曜日にせよ）テストである。
このことは外部コンピュータ又はBASICプログラム言語
テスト機器によって解決できるが、その場合はそれらの
プログラムを開発する専門家が必要であり、これも大き
な間接費となる。本発明に基づくテスト順序付けによっ
て技術者又は技師は一度測定を実施するだけでテスト・
プロトコルを作成することができる。その後、製造工は
“DO SEQUENCE（順序付けを行え）”ボタンを押すだけ
でよい。これは小量の部品を主張し、これらの部品用に
特別のテストを開発するにはコストがかかり過ぎる生産
分野にも有効である。

テスト順序付けソフトキーが押されると、アナライザ
12はアナライザのROM内に記憶されたテスト順序付けル
ーチンを呼出すことによってテスト順序付けモードに入
る。テスト順序付けによってユーザーはコンピュータな
しでテストを自動化でき、付加的なプログラミングの習
熱は必要ではない。操作は携帯用計算機のプログラミン
グと同様である。アナライザ12は測定を実施するために
一般に利用されるキーストロークを学習するだけであ
り、これは後に単一のキーを押すことによって実行でき
る。それぞれのテスト順序には約200もの命令が含まれ
る。アナライザ12のテスト機構の全てはいくつかの基本
意志決定能力、すなわち、（IF LIMIT FAILS,DO SEQUEN
CE TUNE）によって自動化、増補することができる。第
２図は本発明の一実施例に基づくテスト順序付け方法の
流れ図である。

テスト順序付けの作成は読出し専用記憶装置にプログ
ラムされ、一群のソフトキー及びディスプレイ・スクリ
ーン上に表示されたテキストを使用する。主要な動作モ
ードは、通常動作、“MODIFY SEQUENCE（シーケンスを
修正）”及び“DO SEQUENCE"の各モードである。

通常動作中、テスト順序付けは利用されないが、後に
実行されるようにメモリ内に存在することができる。

テスト順序付けの修正／作成（MODIFY/creation）に
は３つの段階が含まれる。すなわち、 1.“MODIFY SEQUENCE"をオンにする。

2.所望の測定を実施する。

3.“DONE MODIFY（修正済み）”に入る。

そこでテスト順序付けは記憶され、測定の全部をシー
ケンス名を押すだけで実行できる。

修正モードではキーストロークは全て記録され、ディ
スプレイに表示される。（第２図及び第３図参照）選択
されたソフトキー機能に表示された名前はシーケンスリ
ストで利用される。これらのキーは、テストシーケンス
にわたって、順方向又は逆方向に移動する“RPG"又は
“ARROW"キーが用いられない限り、入力された順に加え
られる。ユーザーは単に機能を入力することによってテ
ストシーケンスのどこにでもこの機能を挿入できる。ス
テップは“BACKSPACE"キーを押すことによって削除する
ことができる。このモード中、通常の測定ディスプレイ
及びソフトキーが表示され、入力された全ての機能はテ
スト順序付けがオンされない場合と同様に行動する。
（“ARROW"キー“PRG"キー及び“BACKSPACE"キーを除
く。）このモードを出るには、ユーザーはソフトキー
“DONE MODIFY"を押す。

実行モードに入るには、ユーザーは“DO SEQUENCE"ソ
フトキーを押し、次に所望のテスト順序を選択する。入
力された一連のキーストロークは、テストシーケンスが
完了するまでユーザーの介入なしで実行される。

テスト順序付けには更に、テストシーケンスを複製
し、これらを削除し、プリンタ上に印刷し（文書化のた
め）、タイトル付けを行い、かつこれらを外部ディスク
に記憶又はロードする能力も含まれている。テストシー
ケンスは更に、外部制御装置に送られ、又は外部制御装
置からテスト機器へと送られることもできる。テストシ
ーケンスはリミットテスト又はループカウンタの状態に
応じて別のシーケンス、又はシーケンスへの分岐（ブラ
ンチ）を実行することもできる。テスト順序付けファー
ムウェアの「擬似コード」の簡単な説明を下に、及びそ
の流れ図を第２図に開示する。

機能：コマンド・プロセスへシーケンスリスト項目を送
ること。

（送りは“DO SEQUENCE"キーが押された時、あるい
は、ユーザーがシーケンスを修正し、シーケンスを通し
て前、あるいは後へステップしている間に発生すること
ができる。） テスト順序付け MODIFY INSERT− 任意の機能がカーソルの後に挿入される。

DELETE− BACKSPがカーソルのある行を削除する。

STEP − ARROWキー、あるいはRPGを使用する。ARRO
W upはカーソルのある機能を行い、リストを上に移動す
る。ARROW downはリストを下に移動するのみである。

END − シーケンス・メニューのDONE MODIFYを押
す。

RUN START − シーケンス・メニューのDO SEQUENCEを押
す。

KEYS − LOCAL以外の正面パネルキーのすべてはシ
ーケンスが終るまでロックされる。

STOP − シーケンスの実行を止めるためにLOCALを
押す。

PAUSE − 一時停止したシーケンスを再開するために
シーケンス・メニューのCONTINUE SEQUENCEを押す。

（シーケンス６のみが、測定器の電源がオフされたと
き、記憶される。） 第2A図に示すように、“MODIFY SEQUENCE"ソフトキー
が押されると、番号100で示されるように、ユーザが、
所望の測定に関連した一連のステップを選択できるよう
になることによって、テスト順序付けモードが開始され
る。アナライザ12は番号102で示されるようにテストシ
ーケンス・リスト内にコマンドを挿入し、又はそこから
コマンドを削除する。ユーザーがテストシーケンスを完
了すると、ユーザーは“DONE MODIFY"ソフトキーを押
し、アナライザ12は第2A図に番号104で示されているよ
うにテストシーケンスを記憶する。

ユーザーが直接DUT（テスト中のデバイス）を測定し
ようとする場合は、第2B図の番号106に示されているよ
うに、ユーザーは“DO SEQUENCE"ソフトキーを押す。次
にアナライザ12は第2B図の番号108で示されるように測
定を行う。

簡単なテストシーケンスの例を以下に示す。

SEQUENCE AMPTEST（増幅器テストのシーケンス） Start of Sequence（シーケンスの開始） RECALL3（３を呼び戻す） HARMONIC OFF（高調波をオフ） DATA→MEMORY（データをメモリへ） DATA/MEM（データ／メモリ） SECOND LIMIT TEST ON（第２リミットテストをオン） IF LIMIT TEST PASS THEN DO SEQUENCE 2 （リミットテストが合格ならばシーケンス２を実施） IF LIMIT TEST FAIL THEN DO SEQUENCE 3 （リミットテストが不合格ならばシーケンス３を実施） このテストシーケンスは準備を再現し、第２高調波を
dBcの単位で測定し、テストリミットをパスした場合は
データの作図を行う。ベクトル・ネットワーク・アナラ
イザ12の１つの実施形態を“HP8753B"という用語で呼称
する。時間領域オプションは逆フーリエ変換によってDU
Tの時間領域ステップ及びインパルス応答を計算する。
更にこれによって、ユーザーはデータの上に時間ゲート
を置くことができ、これを後にアナライザ12が直接、周
波数領域データに適用する。前記変換は更に連続波（C
W）時間領域データをベース・バンド解析用に周波数領
域のデータに変換することができる。

テスト順序付けによって単一のキー・ストロークで利
用できる全ての機能を自動的に実行可能である。テスト
シーケンスは正面パネルから入力し、外部ディスクから
読出し、又は、外部制御器からHB−IBを介して“ダウン
ロード”することができる。

テスト順序付けによってユーザーはリミットテスト、
高調波測定及びマーカ機器のような一連の機構とif/the
n決定能力と組合せて、単一のキーストロークによって
実行できるテストにすることができる。テストシーケン
スの作成は正面パネルを用いて手動的に測定することと
実質的に同様である。ユーザーが一旦順序付けモードに
入ると、ユーザーがなすべきことは所望の測定を行なう
ことだけである。アナライザは、必要なキーストローク
を記録し、それらのキーストロークを単一のキーストロ
ークによって呼出し且つ反復できる場合に記憶する。テ
ストシーケンスは内部レジスタ又は外部ディスクに記憶
することができる。テスト順序付けによって更にユーザ
ーは、より長期にわたる入念なテストを実施する際に、
複数のシーケンスを継続して、効率を高め、テスト時間
を節減することができる。更にテスト順序付けによって
ユーザーはHP−IB出力記号列を、信号発生器、電源また
はリレー・アクチュエータのような自動制御の外部装置
に伝送することができる。

第３図は本発明に基づいてユーザーに掲示されるスク
リーンを示している。第３図はベクトル・ネットワーク
・アナライザによって発生されるテスト順序付けのCRT
ディスプレイを実際に示している。

テスト順序付けの主要な利点は使用し易いこと及び測
定と順序の構成が会話型で行なわれることにある。“MO
DIFY SEQUENCE"キーが押されると、テスト機器は全ての
将来のキーストロークを記録し始める。この記録は実際
の測定と共にディスプレイ・スクリーン上に表示され
る。テスト機器は測定を行なうための通常動作をするの
で、ユーザーはテスト順序が期待どうりに進行している
か否かのフィードバックを即座に得られる。ユーザーは
テスト・プロトコルをメモリしたり、打けんする必要が
なく、又、テストシーケンスに入った後で大幅に手直し
する必要なない。ユーザーは命令を打けんしていないの
で参照文書を見たり、機能略名をメモしたりする必要が
ない。ユーザーは通常のテスト機器の機能を実行してい
るだけである。最後に、ユーザーはテスト機器の利用で
きる全ての組込み機能を利用しているので、動作しなか
ったり、構文上の問題があったりする何ものかが入り込
む余地はない。

さて本発明に基づくテスト順序付け手順を別の公知の
テスト機器自動化手順と比較してみる。テスト機器を自
動化する方法はいくつかある。その１つは機器の前に人
を座らせボタンを押させる方法である。（手動的自動
化）もう１つは、人にボタンの押し方を指示するテスト
手順である。更に極端な方法は外部コンピュータに有効
にボタンを押させる方法であする。本発明に基づくテス
ト順序付けは後に述べた２つのアプローチの中間に位置
するものである。これは経験ある人がボタンを押し、そ
の後でより経験の少ない人が、コンピュータが作業を行
っているかのようにテスト機器を操作できるという構成
によって達成される。これを達成するには“キーシーケ
ンス・プログラミング”の形成が必要である。キーシー
ケンス・プログラミングでは、ユーザーは一旦一連のキ
ーストロークを実行し、その後は単一のボタンを押すだ
けで前記一連のキーストロークを反復することができ
る。

キーシーケンス・プログラミングには２つの公知のタ
イプのものがある。１つは同一の最終結果、すなわちプ
ログラムを入力する簡単な方法を指向するプログラマブ
ル計算機のようなコンピュータ準拠型である。もう１は
ASP及びBACICプログラミングと同様のものであり、全機
構の（full featured）のBASIC類似プログラミング言語
をテスト機器に搭載することを企てる。本発明に基づく
テスト順序は中間的な第３の種類のキーシーケンス・プ
ログラミングを提案している。

このテスト順序付けはBASICプログラミング言語の全
機構と柔軟性をテスト機器に導入しようと企てるもので
はなく、一連のキーストロークを極めて簡単に入力でき
るようにするものである。テスト順序付けと、別の種類
のキーシーケンス・プログラミングとの以下の比較によ
って本発明を理解する一助となるであろう。

これらのアプローチ間の相異点を説明するために、い
くつかの例を開示する。計算機と信号測定システム10を
比較すると、編集及び手直しサイクルは例示のごとく機
能する。ASP又はBACISプログラミングとテスト順序付け
との比較に関しては、測定は後に述べる。

計算機の場合： プログラム・モードに切換える。（ディスプレイは行
番号の表示に切換わる。） “45.2"、“ENTER（入力）”（一連のコード又は実数
字がディスプレイに出現する。） “RECALL02"（呼び戻しを示すコードが出現する。） “x"（乗算を示すコードが出現する。） “STORE57"（許容されていないので何らか別のことを
意味するコードが出現する。） “R/S"（プログラムに停止を告げる。） 実行モードに切換える。（ディスプレイは通常の表示
を行なう。） さて、プログラムを実行するため、ユーザーはプログ
ラムの開始場所をアクセスし、“R/S"キーを押す。プロ
グラムが実行され、結果が現われ、期待されたものでは
ないが回答がディスプレイされる。従って、ユーザーは
プログラムに入り、各プログラム・ステップを示すため
に“SST"を反復的に押し、キーを押していない時は暫定
的な回答がディスプレイに現われる。それによってユー
ザーは“STORE57"が不可能であり、構文の誤りであるこ
とに気付く。

信号測定システム10の場合： 信号測定システム10は汎用計算機ではないので同様の
側で示すのは困難である。しかし一般的な測定は次のよ
うなものであろう。

“MODIFY SEQUENCE"を押す。（テスト順序付けの１ペ
ージの記述説明がディスプレイされる。） 修正されるべきシーケンスを押す。（シーケンスの見
出しと重なって通常のディスプレイが現われる。） “MEASURE A/R"を押す。（“A/R"はテストシーケンス
・リスト内のディスプレイ・スクリーンに表示され、１
チャネルの入力の他のチャネルの入力に対する比率であ
るA/Rがトレースにて測定される。） “DATA INTO MEMORY"を押す。（「Data into Memory
（データをメモリーに）」が現われ、データ・トレース
がメモリに記憶される。） “DATA/MEMORY"を押す。（「DATA/MEMORY（データ／
メモリ）」が現われ、トレースはデータ／メモリにな
る。） “DONE MODIFY"を押す。（入力されたばかりテストシ
ーケンス・リストは消えるが、ディスプレイは依然とし
て、データ／メモリと共にA/R測定A/Rである。） さて、“DO SEQUENCE"を押してプログラムを実行す
る。プログラムは実行され、終了する。信号測定システ
ム10には利用できる機能しか入力できないので構文の問
題はなく、従って不正な行が入力されることはあり得な
い。更にディスプレイ・スクリーン上に現われるコマン
ドは押されたソフトキー（又はハードキー）上のコマン
ドと全く同一である。学習すべきプログラム言語はな
い。最後に、構文の誤りの余地がないといっても行は入
力されたとうりに実行されるので、ユーザーが押そうと
していないボタンを不用意に押した場合は、ユーザー
は、通常のディスプレイによって、ユーザーが所望の測
定をしていない旨を認識することができる。

BASICプログラムの場合： “EDIT（編集）”プログラム・キーを打つ。（通常測
定ディスプレイが空白になり行番号が現われる。） “A/R"を打けんする。（又はある種のテスト機器の場
合は“A/R"キーを押す。）（A/R用コマンド、例えば“m
easur（測定）”が現われる。） “X1＝D1"を打けんする。（これがディスプレイに現
われるものである。これはデータを何らかの変数Ｘに入
れることを意味する。） “disp＝x1＊y1/5.3"を打けんする。（これがディス
プレイに現われる。これはｘとｙの可変アレイにおける
データに関し数学的演算を行なう。） “END"を打けんする。（この文字はディスプレイ・ス
クリーン上に現われる。） “DONE EDIT（編集済み）”ボタンを押す。（通常の
測定用ディスプレイが現われる。） さて、プログラムを実行するため、ユーザーはRUNプ
ログラム・キーを見つけてそれを押す。結果は依然とし
て“SYNTAX ERROR ON LINE 30（行30上の構文の誤
り）”である。次にユーザーは上記の一連のコマンドを
反復する。ユーザーは“EDIT"を入力し、30行目を探
し、その行を再タイプして訂正する。次にユーザーは編
集モードを出て再度プログラムを実行する。

このプログラムとテスト順序付けとの相異は、計算機
の例に関して述べた相異と同類である。ユーザーはテス
トシーケンスに入るために通常の測定用ディスプレイを
（ひいては測定を）離れる必要がなく、ユーザーには構
文の問題が生じる余地がない。” 信号測定システム10は、２つのチャネル上での大き
さ、位相又は群遅延を含めてデバイス上で直接的に簡単
な測定を行なう。ユーザーは更にマーカー探索及び最大
値と最小値の読出しを行なうことができる。テスト順序
付けによってこれらの機構のいずれをも順につなげるこ
とができる。

信号測定システム10はユーザーが実際の測定を行なう
間に、一連のキーストロークとしてプログラムを作成で
きるアプローチを組入れている。そのため、テスト段階
の順序付けの知識又は習練のない人でもテスト順序を作
成しかつ実行することができる。そこで、テスト順序は
測定を反復するために利用でき、又は訓練されていない
ユーザーによって誤りをおかすことを気にせずに利用で
きる。

これまでの記述は主として説明目的でなされたもので
ある。各様の実施例を開示してきたが、当業者には、本
発明の精神と範囲から逸脱することなく、前述していな
い他の多くの変更と修正が可能であることが明らかであ
ろう。

［発明の効果］ 以上説明したように、本発明を用いることにより、ユ
ーザーはテストシーケンスの確立を容易に、正確に、効
率良く行うことができる。

【図面の簡単な説明】 第１図は本発明の一実施例に従った、ユーザーによるテ
ストシーケンスの確定を組入れた信号測定システムのブ
ロック図、第2A図及び第2B図は本発明の一実施例による
テストシーケンス方法の流れ図、第３図は該信号測定シ
ステムのセットアップ中、ユーザーによるテストシーケ
ンスの確定の間に、画面に生ずる表示を示す図である。 10:信号測定システム 12:ベクトル・ネットワーク・アナライザ 14,14′：信号源、16:受信機

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭63−44182（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−45299（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−56866（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−173176（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−235770（ＪＰ，Ａ) 実開 昭62−193516（ＪＰ，Ｕ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01R 15/00 G01R 27/00 G01R 31/00 G01R 31/28

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】ソフトキー・メニューによって、被測定デ
   バイスに関する測定の選択を含む一連のテストステップ
   を選択させ、これらのテストステップを単一の測定プロ
   セスとして実行するための１つのテストシーケンスとし
   て結合し、記憶する段階と、 選択された前記テストシーケンスによってデータを測定
   する段階と、 前記測定されたデータを表示する段階と、 前記テストシーケンスのステップが入力されたとき、前
   記表示されたデータに重なるように、前記テストシーケ
   ンスのステップを表示する段階と、 を備えて成り、測定のための信号測定装置のキー入力設
   定によってテストシーケンスが作成されることを特徴と
   する、テストシーケンス作成方法。
2. 【請求項２】前記ソフトキー・メニューが、前記テスト
   シーケンスのキー入力を促すための一組のテキスト的な
   選択を備えていることを特徴とする、請求項（１）に記
   載のテストシーケンス作成方法。