CN116203856A - 一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质 - Google Patents

一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN116203856A
CN116203856A CN202310487555.2A CN202310487555A CN116203856A CN 116203856 A CN116203856 A CN 116203856A CN 202310487555 A CN202310487555 A CN 202310487555A CN 116203856 A CN116203856 A CN 116203856A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
tested piece
configuring
equipment
parameters
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202310487555.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116203856B (zh
Inventor
王璞
王高颉
方勇
陈青勇
杨周明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Chengdu Tiancheng Dianke Technology Co ltd
Original Assignee
Chengdu Tiancheng Dianke Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Chengdu Tiancheng Dianke Technology Co ltd filed Critical Chengdu Tiancheng Dianke Technology Co ltd
Priority to CN202310487555.2A priority Critical patent/CN116203856B/zh
Publication of CN116203856A publication Critical patent/CN116203856A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116203856B publication Critical patent/CN116203856B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05BCONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
    • G05B19/00Programme-control systems
    • G05B19/02Programme-control systems electric
    • G05B19/04Programme control other than numerical control, i.e. in sequence controllers or logic controllers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P90/00Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
    • Y02P90/02Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本申请涉及一种基于参数配置的通用测试方法,所述方法包括:配置测试系统的测试设备,若已配置所述测试设备,则选择所述测试设备,若否,则新增测试设备,并通过参数配置所述测试设备的控制指令和控制流程;配置所述测试设备的测试项,若已存在所述测试项,则选择所述测试项,若否,则新增测试项,并配置所述测试项的测试流程;配置被测件,若已存在所述被测件,则配置所述被测件的测试参数,若否,则通过参数配置所述被测件的控制指令和控制流程。通过本申请可以实现多数常规测试设备和仪器,以及被测件的适配,不需要开发新系统。

Description

一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质
技术领域
本申请属于微波射频测试领域,具体涉及一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质。
背景技术
相控测试系统中,相同测试项可以拥有多种不同测试平台,其中差异包含不同测试平台设备,如转台,扫描架等,以及不同测试设备,如频谱仪加信号源和矢量网络分析仪都可测量增益,现有测试系统根据不同测试条件都针对性开发了测试系统,对于新的测试条件,需要系统开发软件重新开发系统,降低了在相控阵生产测试工作的效率。
现有相控测试系统中,不同测试项需要使用不同的测试系统,特别是软件因为不同测试项需要更换不同系统软件,对测试人员要求高,测试人员需要熟练记忆各个项所对应的软件,同时对于不同的被测件也需要不同测试软件进行测试,这种方式造成测试人员工作难度增加,效率下降,并且由于不同被测件在各个测试项中的差异不大,容易造成软件版本的混乱、软件使用错误、反复测试。
发明内容
为此,本申请提供一种通过参数配置实现不同测试项间切换的通用测试系统,针对以上问题,通用测试系统,通过参数配置,实现对不同测试平台,不同被测件的适应,能够通过参数配置,实现多数常规测试设备和仪器,以及被测件的适配,不需要开发新系统。
为实现以上目的,本申请采用如下技术方案:
第一方面,本申请提供一种基于参数配置的通用测试方法,所述方法包括:
配置测试系统的测试设备,若已配置所述测试设备,则选择所述测试设备,若否,则新增测试设备,并通过参数配置所述测试设备的控制指令和控制流程;配置所述测试设备的测试项,若已存在所述测试项,则选择所述测试项,若否,则新增测试项,并配置所述测试项的测试流程;配置被测件,若已存在所述被测件,则配置所述被测件的测试参数,若否,则通过参数配置所述被测件的控制指令和控制流程。
进一步地,所述测试系统包括系统软件、测试平台和测试仪器;
所述方法还包括:所述系统软件安装部署于所述测试平台,根据所述测试平台配置所述系统软件,所述系统软件用于设备控制、被测件控制、数据采集、数据汇总、数据记录和数据分析。
进一步地,所述配置测试系统的测试设备,包括:
配置所述测试设备的类型名称,其中所述类型名称用于区分不同设备类型;配置所述测试设备的连接方式,包括LAN、GPIB、串口其中之一;配置所述测试设备的功能和控制指令,其中所述功能对应一种或多种所述控制指令。
进一步地,所述配置所述测试设备的测试项,包括:
配置所述测试项名称,并检测是否存在测试项模板,若存在,则选择并加载所述测试项模板,并修改配置参数;若否,则新建测试项,并配置所述测试项参数;配置所述测试项的设备,包括频谱仪、矢量信号分析仪、信号源和矢量网络分析仪中的一中或多种,并配置所述测试项输入参数。
进一步地,所述配置被测件,包括:
配置被测件类型名称,并检测是否存在被测件模板,若存在则选择所述被测件;若否,则配置被测件的功能;根据所述被测件的功能,配置所述被测件的控制指令、流程和连接方式。
进一步地,所述方法还包括:
选择并根据所述测试项的测试流程,加载测试流程配置参数,并根据所述测试流程加载测试设备和被测件的连接界面;获取用户输入的所述连接界面的连接参数,完成所述测试设备和被测件的连接,并根据所述测试流程检查所述测试设备是否满足预设条件;若是,则加载测试项所对应的参数配置界面,并根据获取用户在所述参数配置界面上输入的测试参数,初始化所述测试设备,并根据所述测试项的测试流程,对所述被测件进行测试;若否,则提示所述测试设备异常,并检查和确认所述测试设备满足预设条件。
进一步地,所述根据测试项配置流程信息,进行测试,包括:
在测试前,判断所述被测件的被测件的状态,若异常,则显示异常报警信息,并核实所述被测件的状态;若核实确定所述被测件的状态是正常状态,或者判断所述被测件的状态是正常状态,则根据所述测试项的测试流程,向所述测试设备和被测件发送控制指令,以使所述测试设备对所述被测件进行测试,并在测试过程中监控所述测试设备和被测件的状态,若所述测试设备或被测件异常则停止测试并发出告警信息;在所述被测件测试完成后保存测试数据,并且根据测试流程处理和分析所述测试数据。
第二方面,本申请提供一种基于参数配置的通用测试装置,所述装置包括:
第一配置单元,用于配置测试平台的测试设备,若已配置所述测试设备,则选择所述测试设备,若否,则新增测试设备,并通过参数配置所述测试设备的控制指令和控制流程;
第二配置单元,用于配置所述测试设备的测试项,若已存在所述测试项,则选择所述测试项,若否,则新增测试项,并配置所述测试项的测试流程;
第三配置单元,用于配置被测件,若已存在所述被测件,则配置所述被测件的测试参数,若否,则通过参数配置所述被测件的控制指令和控制流程。
第三方面,本申请提供一种基于参数配置的通用测试装置,包括:
处理器;用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为:执行第一方面或者第一方面任意一种实施方式中所述的方法。
第四方面,本申请提供一种存储介质,所述存储介质中存储有指令,当所述存储介质中的指令由装置的处理器执行时,使得装置能够执行第一方面或者第一方面任意一种实施方式中所述的方法。
本申请采用以上技术方案,至少具备以下有益效果:
通过本申请方案,配置测试系统的测试设备,若已配置所述测试设备,则选择所述测试设备,若否,则新增测试设备,并通过参数配置所述测试设备的控制指令和控制流程;配置所述测试设备的测试项,若已存在所述测试项,则选择所述测试项,若否,则新增测试项,并配置所述测试项的测试流程;配置被测件,若已存在所述被测件,则配置所述被测件的测试参数,若否,则通过参数配置所述被测件的控制指令和控制流程。通过参数配置,实现对不同测试平台、不同测试设备、不同测试项和被测件的适应,能够快速部署,完成测试。对于测试条件和要求的变化,不需要通过修改或者开发新软件模块即可完成对新条件和新要求的适应。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本申请。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图。
图2是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图。
图3是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图。
图4是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图。
图5是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图。
图6是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图。
图7是本公开实施例提供的通用测试系统运行流程图。
图8是本公开实施例提供的测试设备配置流程图。
图9是本公开实施例提供的测试项配置流程图。
图10是本公开实施例提供的被测件配置流程图。
图11是本公开实施例提供的系统测试流程图。
图12是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试装置框图100。
图13为本发明实施例电子设备一个应用实施例的结构示意图。
图14示出了本公开的电子设备的一个实施例的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将对本申请的技术方案进行详细的描述。显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式,都属于本申请所保护的范围。
现有相控测试系统中,不同测试项需使用不同的测试系统。针对不同平台,开发不同的测试系统;针对不同被测件,开发不同测试系统;针对不同测试项的不同流程,开发不同测试系统(或在同一系统中通过选项卡方式选择不同模块)。特别是软件因不同测试项而更换不同系统软件,对测试人员要求高,测试人员需熟练记忆各个项所对应的软件,同时对于不同的被测件也需不同测试软件进行测试,如此造成测试人员工作难度增加,效率下降,并且由于不同被测件在各个测试项中的差异不大,容易造成软件版本的混乱,软件使用错误,并且出现测试反复。
由于相控测试系统中相同测试项可以拥有多种不同测试平台,其中差异包含不同测试平台设备,如转台,扫描架等,以及不同测试设备,如频谱仪加信号源和矢量网络分析仪都可测量增益,现有测试系统根据不同测试条件针对性开发了测试系统,对于新的测试条件,需要重新开发系统,降低了在相控阵生产测试工作的效率。
本发明提供一种通过参数配置实现不同测试项间切换的通用测试系统,简称参数配置通用测试系统,针对以上问题,通用测试系统通过参数配置,实现对不同测试平台,不同被测件的适应,能够通过参数配置,实现多数常规测试设备和仪器,以及被测件的适配,不需开发新系统。
本发明应用场景包括各类计算机软件,硬件和电子产品的测试,其中典型测试项包括近场校准、近场口面场扫描、等效全向辐射功率(equivalent isotropicallyradiated power,EIRP)测试、方向图测试、G/T测试、近场通道诊断。
请参阅图1,图1是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图,该方法包括如下步骤:
步骤S11、配置测试系统的测试设备,若已配置测试设备,则选择测试设备,若否,则新增测试设备,并通过参数配置测试设备的控制指令和控制流程;
步骤S12、配置测试设备的测试项,若已存在测试项,则选择测试项,若否,则新增测试项,并配置测试项的测试流程;
步骤S13、配置被测件,若已存在被测件,则配置被测件的测试参数,若否,则通过参数配置被测件的控制指令和控制流程。
本公开实施例中,系统软件安装部署到测试平台上,根据当前测试平台配置系统软件,系统软件用于设备控制,被测件控制,从测试仪器中采集数据、汇总数据、记录数据、分析数据,并将测试结果显示出来。测试平台包括测试仪器安装,被测件安装,还包含PC,扫描架,转台,电源或者机械臂等。配置系统中的测试设备,包括测试仪器;测试仪器包含射频信号测量,激励信号产生,如:信号源、频谱仪、功率计、矢量网络分析仪和示波器等。当需要测试的设备已在系统中配置,选择测试设备;若需要测试的设备未在系统中配置,则新增测试设备,并通过参数配置测试设备控制指令和控制流程;配置完成后选择测试设备。配置测试项以及被测件参数与配置测试设备类似,如果系统中没有测试项,则通过参数配置新增测试项,测试项配置中需要配置测试流程。若系统中存在需要的测试项或完成新增测试项,则选择测试项并开始配置被测件。若系统中没有被测件,则通过参数配置被测件的控制指令和控制流程。当系统中存在被测件或完成被测件的配置,则配置测试参数,补充配置部分和被测件非强相关且必要的参数,如:测试仪器地址,被测件连接地址,测试人员名称,测试时间以及批量化数据输入和输出地址或途径(数据库中选择数据)。随即可以开始测试流程。
本公开实施例中,在不同设备,不同平台以及不同的被测件情况下,通过系统软件界面,进行参数配置完成有源相控阵测试测量工作,其中可测量指标可以通过参数配置扩展。
一实施例中,测试项指需要进行的一种能够测试被测件一项或者多项指标的自动化测试过程。其中同一测试项区别为,如P-I测试:可以通过矢量网络分析仪测试,可通过频谱仪信号源测试,也可通过功率计信号源测试。如果信号源或者矢量网络分析仪功率不足的情况下需要增加功放,功放可分为可被程序控制和不可被程序控制两种类型,如果使用的是可程控的功放,需要流程中添加该功放的控制流程。被测件是指需要被测试获得指标的产品或者模块。
本公开实施例中,通过参数配置完成适配多种测试平台,多种类型被测件和不同测试仪器等,以及多变的测试情况。本发明能够快速部署,完成测试,具备高兼容性的特点。对于测试条件和要求的变化,不需要通过修改或者新开发软件模块来完成对新条件和新要求的适应。通过系统软件中的配置界面,输入相应的参数或选项就可完成测试系统的修改或者测试项、测试设备和被测件的添加,普通测试人员即可完成操作,不要专业人员介入。
本公开实施例中,系统软件为整个系统的核心,系统通过系统软件,完成测试系统的构建。系统测试功能由系统软件实施完成。相同测试可能有多种测试系统搭建方案,针对不同方案形成不同的测试系统。
本公开实施例中,相控阵测试系统包含系统软件、测试仪器、测试平台以及附件。其中,系统软件用于设备控制、被测件控制、数据采集(从测试仪器中)、数据汇总、数据记录、数据分析和测试结果显示。测试平台包含测试仪器安装,被测件安装,还包含PC,扫描架,转台,电源或者机械臂等。测试仪器包含射频信号测量,激励信号产生,如:信号源、频谱仪、功率计、矢量网络分析仪和示波器等。
请参阅图2,图2是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图,该方法包括如下步骤:
步骤S21、配置测试设备的类型名称,其中类型名称用于区分不同设备类型;
步骤S22、配置测试设备的连接方式,包括LAN、GPIB、串口其中之一;
步骤S23、配置测试设备的功能和控制指令,其中功能对应一种或多种控制指令。
本公开实施例中,首先配置测试设备类型名称,该配置项具有唯一性,用于区分不同设备类型。紧接着配置测试设备的连接方式,该配置为多选项,可选择多种连接方式,其中包括局域网(Local Area Network,LAN)、通用接口总线(General-Purpose InterfaceBus,GPIB)、串口以及其他。然后配置测试设备功能,配置测试设备在整个测试系统所需的所有功能。其中,测试设备在系统中的每一个功能都对应一种或者多种控制指令。测试设备配置,所需的配置内容如表1所示。
表1 测试设备配置内容
序号 内容 描述
1 设备类型名称配置 该类设备名称配置,具备唯一性,在系统中不可重复
2 设备连接方式配置 可选项:LAN、GPIB、串口以及其他
3 控制功能配置 选择该设备在测试中所需的功能
4 测试指令配置 配置测试设备控制功能所对应的控制指令
5 时间 配置测试设备的添加时间以及修改时间
请参阅图3,图3是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图,该方法包括如下步骤:
步骤S31、配置测试项名称,并检测是否存在测试项模板,若存在,则选择并加载测试项模板,并修改配置参数;
步骤S32、若否,则新建测试项,并配置测试项参数;
步骤S33、配置测试项的设备,包括频谱仪、矢量信号分析仪、信号源和矢量网络分析仪中的一中或多种,并配置测试项输入参数。
本公开实施例中,首先测试项目名称配置,通过该配置软件识别不同的测试项,具备唯一性。紧接着判断是否存在可用的测试项模板,若存在则选择并加载测试项模板,同时修改配置参数;若不存在可用测试项模板,则新建测试项并配置测试项参数。测试项模板选择,减少新增测试项配置工作量,只需要在模板中修改部分参数即可完成修改。然后配置该测试项可用设备,可用设备包括频谱仪、矢量信号分析仪、信号源和矢量网络分析仪。配置测试项输入参数并配置测试项运行流程,系统软件将测试项参数存储,供后续测试使用。测试项配置,所需的配置内容如表2所示。
表2 测试项配置内容
序号 内容 描述
1 测试项名称 该测试项名称,具备唯一性
2 测试模板选择 选择测试项配置模板
3 测试可用设备配置 配置该测试项完成测试所需的设备,可能使用到的设备
4 输入参数配置 测试项所需输入参数配置
5 测试流程配置 该测试项,测试配置配置,该测试项运行逻辑
6 时间 测试项添加时间以及修改时间
本公开实施例中,测试项配置,不同测试项拥有不同的测试流程,而不同测试项可能使用同一设备完成测试,同时一个测试项也可能有多种不同测试仪器、平台和测试方法来完成测试。通过参数配置,可以在不同的测试条件下完成测试。
请参阅图4,图4是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图,该方法包括如下步骤:
步骤S41、配置被测件类型名称,并检测是否存在被测件模板,若存在则选择被测件;
步骤S42、若否,则配置被测件的功能;
步骤S43、根据被测件的功能,配置被测件的控制指令、流程和连接方式。
本公开实施例中,首先被测件类型名称配置,用于对同类的被测件参数配置,具有唯一性。紧接着判断是否存在可用的被测件模板,若果存在则选择被测件模板;若不存在则配置被测件功能,其中被测件模板用于新增被测件时,减少被测件的参数配置工作,只需在模板中修改部分参数。被测件功能配置,配置在测试过程中系统需要对被测件进行控制的功能,和测试项的测试流程配置相关。然后根据被测件功能,配置被测件控制指令和控制流程。由于部分被测件功能的实现,需要多条指令,配置被测件控制流程中,可根据实际情况配置被测件实现功能的控制流程。最后配置被测件的连接方式。被测件配置,所需的配置内容如表3所示。
表3 被测件配置内容
序号 内容 描述
1 被测件类型名称 被测件控制名称,具备唯一性
2 被测件模板选择 选择被测件配置模板
3 被测件控制功能配置 配置被测件,在测试过程中的需要被控制的功能
4 被测件控制指令配置 配置实现被测件控制功能所需的配置指令,指令中包含需要传入的参数信息
5 连接方式配置 连接方式:LAN,串口
6 时间 测试项添加时间以及修改时间
本公开实施例中,被测件控制配置,配置控制被测件所需的指令和流程。不同被测件拥有不同的控制指令,功能以及控制流,通过参数配置使系统能完成对不同的被测件的测试功能。
请参阅图5,图5是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图,该方法包括如下步骤:
步骤S51、选择并根据测试项的测试流程,加载测试流程配置参数,并根据测试流程加载测试设备和被测件的连接界面;
步骤S52、获取用户输入的连接界面的连接参数,完成测试设备和被测件的连接,并根据测试流程检查测试设备是否满足预设条件;
步骤S53、若是,则加载测试项所对应的参数配置界面,并根据获取用户在参数配置界面上输入的测试参数,初始化测试设备,并根据测试项的测试流程,对被测件进行测试;
步骤S54、若否,则提示测试设备异常,并检查和确认测试设备满足预设条件。
本公开实施例中,完成测试项参数配置后,用户即可根据自身需求选择所需要进测试项。用户选择所需测试的测试项,根据选择的测试项(测试流程),加载测试流程配置参数。根据测试流程加载测试设备和被测件连接界面,用户输入测试设备连接参数和被测件,如连接地址等。然后检查测试所需设备,根据流程访问检查测试设备是否满足要求。若测试设备非正常,则提示用户测试设备异常,用户检查并确认设备满足正常的条件。若测试设备正常,则加载测试项目所对应的参数配置配置界面。根据用户输入测试参数,初始化各个测试设备和仪器。待用户点击开始测试后,系统根据测试项目配置流程信息,开始进行测试。开始测试前,判断被测件状态,如通信等,如果通信异常则通知用户,检查被测件。测试中根据流程,先测试设备和被测件发送控制指令,同时监控设备和被测件在测试过程中的状态,如发现异常,则立即停止测试,并发出警告。测试完成后,保存测试数据,并且根据测试流程配置,处理和分析数据。
请参阅图6,图6是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试方法的流程图,该方法包括如下步骤:
步骤S61、在测试前,判断被测件的被测件的状态,若异常,则显示异常报警信息,并核实被测件的状态;
步骤S62、若核实确定被测件的状态是正常状态,或者判断被测件的状态是正常状态,则根据测试项的测试流程,向测试设备和被测件发送控制指令,以使测试设备对被测件进行测试,并在测试过程中监控测试设备和被测件的状态,若测试设备或被测件异常则停止测试并发出告警信息;
步骤S63、在被测件测试完成后保存测试数据,并且根据测试流程处理和分析测试数据。
本公开实施例中,开始测试前,判断被测件状态,如通信等,如果通信异常则通知用户,检查被测件。测试中根据流程,先测试设备和被测件发送控制指令,同时监控设备和被测件在测试过程中的状态,如发现异常,则立即停止测试,并发出警告。测试完成后,保存测试数据,并且根据测试流程配置,处理和分析数据。
图7是本公开实施例提供的通用测试系统运行流程图,如图7所示,系统软件安装部署到测试平台上,根据当前测试平台配置系统软件,系统软件用于设备控制,被测件控制,从测试仪器中采集数据、汇总数据、记录数据、分析数据,并将测试结果显示出来。测试平台包括测试仪器安装,被测件安装,还包含PC,扫描架,转台,电源或者机械臂等。配置系统中的测试设备,包括测试仪器;测试仪器包含射频信号测量,激励信号产生,如:信号源、频谱仪、功率计、矢量网络分析仪和示波器等。当需要测试的设备已在系统中配置,选择测试设备;若需要测试的设备未在系统中配置,则新增测试设备,并通过参数配置测试设备控制指令和控制流程;配置完成后选择测试设备。配置测试项以及被测件参数与配置测试设备类似,如果系统中没有测试项,则通过参数配置新增测试项,测试项配置中需要配置测试流程。若系统中存在需要的测试项或完成新增测试项,则选择测试项并开始配置被测件。若系统中没有被测件,则通过参数配置被测件的控制指令和控制流程。当系统中存在被测件或完成被测件的配置,则配置测试参数,并开始测试流程。
图8是本公开实施例提供的测试设备配置流程图,如图8所示,首先配置测试设备类型名称,该配置项具有唯一性,用于区分不同设备类型。紧接着配置测试设备的连接方式,该配置为多选项,可选择多种连接方式,其中包括LAN、GPIB、串口以及其他。然后配置测试设备功能,配置测试设备在整个测试系统所需的所有功能。其中,测试设备在系统中的每一个功能都对应一种或者多种控制指令。
图9是本公开实施例提供的测试项配置流程图,如图9所示,首先测试项目名称配置,通过该配置软件识别不同的测试项,具备唯一性。紧接着判断是否存在可用的测试项模板,若存在则选择并加载测试项模板,同时修改配置参数;若不存在可用测试项模板,则新建测试项并配置测试项参数。测试项模板选择,减少新增测试项配置工作量,只需要在模板中修改部分参数即可完成修改。然后配置该测试项可用设备,可用设备包括频谱仪、矢量信号分析仪、信号源和矢量网络分析仪。配置测试项输入参数并配置测试项运行流程,系统软件将测试项参数存储,供后续测试使用。
图10是本公开实施例提供的被测件配置流程图,如图10所示,首先被测件类型名称配置,用于对同类的被测件参数配置,具有唯一性。紧接着判断是否存在可用的被测件模板,若果存在则选择被测件模板;若不存在则配置被测件功能,其中被测件模板用于新增被测件时,减少被测件的参数配置工作,只需在模板中修改部分参数。被测件功能配置,配置在测试过程中系统需要对被测件进行控制的功能,和测试项的测试流程配置相关。然后根据被测件功能,配置被测件控制指令和控制流程。由于部分被测件功能的实现,需要多条指令,配置被测件控制流程中,可根据实际情况配置被测件实现功能的控制流程。最后配置被测件的连接方式。
图11是本公开实施例提供的系统测试流程图,如图11所示,用户选择所需测试的测试项,根据选择的测试项(测试流程),加载测试流程配置参数。根据测试流程加载测试设备和被测件连接界面,用户输入测试设备连接参数和被测件,如连接地址等。然后检查测试所需设备,根据流程访问检查测试设备是否满足要求。若测试设备非正常,则提示用户测试设备异常,用户检查并确认设备满足正常的条件。若测试设备正常,则加载测试项目所对应的参数配置配置界面。根据用户输入测试参数,初始化各个测试设备和仪器。待用户点击开始测试后,系统根据测试项目配置流程信息,开始进行测试。开始测试前,判断被测件状态,如通信等,如果通信异常则通知用户,检查被测件。测试中根据流程,先测试设备和被测件发送控制指令,同时监控设备和被测件在测试过程中的状态,如发现异常,则立即停止测试,并发出警告。测试完成后,保存测试数据,并且根据测试流程配置,处理和分析数据。
图12是根据一示例性实施例示出的一种基于参数配置的通用测试装置框图100。参照图12,该装置包括第一配置单元101,第二配置单元102和第三配置单元103。
第一配置单元101,用于配置测试平台的测试设备,若已配置测试设备,则选择测试设备,若否,则新增测试设备,并通过参数配置测试设备的控制指令和控制流程;
第二配置单元102,用于配置测试设备的测试项,若已存在测试项,则选择测试项,若否,则新增测试项,并配置测试项的测试流程;
第三配置单元103,用于配置被测件,若已存在被测件,则配置被测件的测试参数,若否,则通过参数配置被测件的控制指令和控制流程。
通过本公开,配置测试系统的测试设备,若已配置测试设备,则选择测试设备,若否,则新增测试设备,并通过参数配置测试设备的控制指令和控制流程;配置测试设备的测试项,若已存在测试项,则选择测试项,若否,则新增测试项,并配置测试项的测试流程;配置被测件,若已存在被测件,则配置被测件的测试参数,若否,则通过参数配置被测件的控制指令和控制流程。通过参数配置完成适配多种测试平台,多种类型被测件和不同测试设备仪器,以及多变的测试情况。能够快速部署,完成测试,具备高兼容性的特点。对于测试条件和要求的变化,不需要通过修改或者开发新软件模块来完成对新条件和新要求的适应。通过系统软件中的配置界面,输入相应的参数或选项即可完成测试系统的修改或者测试项、测试设备和被测件的添加,普通测试人员即可完成操作。
图13为本发明实施例电子设备一个应用实施例的结构示意图。下面参考图13,其示出了适于用来实现本申请实施例的终端设备或服务器的电子设备的结构示意图。如图13所示,该电子设备包括存储器,用于存储计算机程序以及一个或多个处理器,用于执行存储器中存储的计算机程序。在一例中,存储器可以是只读存储器(ROM)和/或随机访问存储器(RAM)。
在一例中,一个或多个处理器可以是一个或多个中央处理单元(CPU),和/或一个或多个图像处理器(GPU)等,处理器可以根据存储在ROM中的可执行指令或者从存储部分加载到RAM中的可执行指令而执行各种适当的动作和处理。在一例中,电子设备还可以包括通信部,通信部可包括但不限于网卡,网卡可包括但不限于IB(Infiniband)网卡,处理器可与ROM和/或RAM中通信以执行可执行指令,通过总线与通信部相连、并经通信部与其他目标设备通信,从而完成本申请实施例提供的任一方法对应的操作。
此外,在RAM中,还可存储有装置操作所需的各种程序和数据。CPU、ROM以及RAM通过总线彼此相连。在有RAM的情况下,ROM为可选模块。RAM存储可执行指令,或在运行时向ROM中写入可执行指令,可执行指令使处理器执行本发明上述任一方法对应的操作。输入/输出(I/O)接口也连接至总线。通信部可以集成设置,也可以设置为具有多个子模块(例如多个IB网卡),并在总线链接上。
以下部件连接至I/O接口:包括键盘、鼠标等的输入部分;包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分;包括硬盘等的存储部分;以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分。通信部分经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器也根据需要连接至I/O接口。可拆卸介质,诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等,根据需要安装在驱动器上,以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分。
需要说明的,如图13所示的架构仅为一种可选实现方式,在具体实践过程中,可根据实际需要对上述图13的部件数量和类型进行选择、删减、增加或替换;在不同功能部件设置上,也可采用分离设置或集成设置等实现方式,例如GPU和CPU可分离设置或者可将GPU集成在CPU上,通信部可分离设置,也可集成设置在CPU或GPU上,等等。这些可替换的实施方式均落入本发明公开的保护范围。
图14示出了本公开的电子设备的一个实施例的结构示意图。下面参考图14,其示出了适于用来实现本申请实施例的终端设备或服务器的电子设备的结构示意图。如图14所示,该电子设备该电子设备包括处理器和存储器。电子设备也可以包括输入输出装置。存储器、输入输出装置均通过总线与处理器连接。其中,存储器,用于存储处理器执行的指令;处理器,用于调用存储器存储的指令,并执行上述实施例涉及的基于参数配置的通用测试方法。
本公开实施例还提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,计算机可执行指令在计算机上运行时,执行上述实施例涉及的基于参数配置的通用测试方法。
本公开实施例还提供一种包含指令的计算机程序产品,当包含指令的计算机程序产品在计算机上运行时,使得计算机执行上述实施例涉及的基于参数配置的通用测试方法。
在一个或多个可选实施方式中,本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质,用于存储计算机可读指令,该指令被执行时使得计算机执行上述任一可能的实现方式中的基于参数配置的通用测试方法。在另一个可选例子中,该计算机程序产品具体体现为软件产品,例如软件开发包(Software Development Kit,SDK)等等。
尽管在附图中以特定的顺序描述操作,但是不应将其理解为要求按照所示的特定顺序或是串行顺序来执行这些操作,或是要求执行全部所示的操作以得到期望的结果。在特定环境中,多任务和并行处理可能是有利的。
本公开的方法和装置能够利用标准编程技术来完成,利用基于规则的逻辑或者其他逻辑来实现各种方法步骤。还应当注意的是,此处以及权利要求书中使用的词语“装置”和“模块”意在包括使用一行或者多行软件代码的实现和/或硬件实现和/或用于接收输入的设备。
此处描述的任何步骤、操作或程序可以使用单独的或与其他设备组合的一个或多个硬件或软件模块来执行或实现。在一个实施方式中,软件模块使用包括包含计算机程序代码的计算机可读介质的计算机程序产品实现,其能够由计算机处理器执行用于执行任何或全部的所描述的步骤、操作或程序。
出于示例和描述的目的,已经给出了本公开实施的前述说明。前述说明并非是穷举性的也并非要将本公开限制到所公开的确切形式,根据上述教导还可能存在各种变形和修改,或者是可能从本公开的实践中得到各种变形和修改。选择和描述这些实施例是为了说明本公开的原理及其实际应用,以使得本领域的技术人员能够以适合于构思的特定用途来以各种实施方式和各种修改而利用本公开。
可以理解的是,本公开中“多个”是指两个或两个以上,其它量词与之类似。“和/或”,描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。
进一步可以理解的是,术语“第一”、“第二”等用于描述各种信息,但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开,并不表示特定的顺序或者重要程度。实际上,“第一”、“第二”等表述完全可以互换使用。例如,在不脱离本公开范围的情况下,第一信息也可以被称为第二信息,类似地,第二信息也可以被称为第一信息。
进一步可以理解的是,除非有特殊说明,“连接”包括两者之间不存在其他构件的直接连接,也包括两者之间存在其他元件的间接连接。
进一步可以理解的是,本公开实施例中尽管在附图中以特定的顺序描述操作,但是不应将其理解为要求按照所示的特定顺序或是串行顺序来执行这些操作,或是要求执行全部所示的操作以得到期望的结果。在特定环境中,多任务和并行处理可能是有利的。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。
应当理解的是,本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利范围来限制。
可以理解的是,上述各实施例中相同或相似部分可以相互参考,在一些实施例中未详细说明的内容可以参见其他实施例中相同或相似的内容。
需要说明的是,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外,在本申请的描述中,除非另有说明,“多个”、“多”的含义是指至少两个。
应该理解,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者可能同时存在居中元件;当一个元件被称为“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件,此外,这里使用的“连接”可以包括无线连接;使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的任一单元和全部组合。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为:表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分,并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现,其中可以不按所示出或讨论的顺序,包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序,来执行功能,这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
应当理解,本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成,所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中,该程序在执行时,包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器,磁盘或光盘等。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例,可以理解的是,上述实施例是示例性的,不能理解为对本申请的限制,本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种基于参数配置的通用测试方法,其特征在于,所述方法包括:
配置测试系统的测试设备,若已配置所述测试设备,则选择所述测试设备,若否,则新增测试设备,并通过参数配置所述测试设备的控制指令和控制流程;
配置所述测试设备的测试项,若已存在所述测试项,则选择所述测试项,若否,则新增测试项,并配置所述测试项的测试流程;
配置被测件,若已存在所述被测件,则配置所述被测件的测试参数,若否,则通过参数配置所述被测件的控制指令和控制流程。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试系统包括系统软件、测试平台和测试仪器;
所述方法还包括:所述系统软件安装部署于所述测试平台,根据所述测试平台配置所述系统软件,所述系统软件用于设备控制、被测件控制、数据采集、数据汇总、数据记录和数据分析。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述配置测试系统的测试设备,包括:
配置所述测试设备的类型名称,其中所述类型名称用于区分不同设备类型;
配置所述测试设备的连接方式,包括LAN、GPIB、串口其中之一;
配置所述测试设备的功能和控制指令,其中所述功能对应一种或多种所述控制指令。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述配置所述测试设备的测试项,包括:
配置所述测试项名称,并检测是否存在测试项模板,若存在,则选择并加载所述测试项模板,并修改配置参数;
若否,则新建测试项,并配置所述测试项参数;
配置所述测试项的设备,包括频谱仪、矢量信号分析仪、信号源和矢量网络分析仪中的一中或多种,并配置所述测试项输入参数。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述配置被测件,包括:
配置被测件类型名称,并检测是否存在被测件模板,若存在则选择所述被测件;
若否,则配置被测件的功能;
根据所述被测件的功能,配置所述被测件的控制指令、流程和连接方式。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
选择并根据所述测试项的测试流程,加载测试流程配置参数,并根据所述测试流程加载测试设备和被测件的连接界面;
获取用户输入的所述连接界面的连接参数,完成所述测试设备和被测件的连接,并根据所述测试流程检查所述测试设备是否满足预设条件;
若是,则加载测试项所对应的参数配置界面,并根据获取用户在所述参数配置界面上输入的测试参数,初始化所述测试设备,并根据所述测试项的测试流程,对所述被测件进行测试;
若否,则提示所述测试设备异常,并检查和确认所述测试设备满足预设条件。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述测试项的测试流程,对所述被测件进行测试,包括:
在测试前,判断所述被测件的被测件的状态,若异常,则显示异常报警信息,并核实所述被测件的状态;
若核实确定所述被测件的状态是正常状态,或者判断所述被测件的状态是正常状态,则根据所述测试项的测试流程,向所述测试设备和被测件发送控制指令,以使所述测试设备对所述被测件进行测试,并在测试过程中监控所述测试设备和被测件的状态,若所述测试设备或被测件异常则停止测试并发出告警信息;
在所述被测件测试完成后保存测试数据,并且根据测试流程处理和分析所述测试数据。
8.一种基于参数配置的通用测试装置,其特征在于,所述装置包括:
第一配置单元,用于配置测试平台的测试设备,若已配置所述测试设备,则选择所述测试设备,若否,则新增测试设备,并通过参数配置所述测试设备的控制指令和控制流程;
第二配置单元,用于配置所述测试设备的测试项,若已存在所述测试项,则选择所述测试项,若否,则新增测试项,并配置所述测试项的测试流程;
第三配置单元,用于配置被测件,若已存在所述被测件,则配置所述被测件的测试参数,若否,则通过参数配置所述被测件的控制指令和控制流程。
9.一种基于参数配置的通用测试装置,其特征在于,包括:
处理器;
用于存储处理器可执行指令的存储器;
其中,所述处理器被配置为:执行权利要求1至7中任意一项所述的方法。
10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质中存储有指令,当所述存储介质中的指令由装置的处理器执行时,使得装置能够执行权利要求1至7中任意一项所述的方法。
CN202310487555.2A 2023-05-04 2023-05-04 一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质 Active CN116203856B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310487555.2A CN116203856B (zh) 2023-05-04 2023-05-04 一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310487555.2A CN116203856B (zh) 2023-05-04 2023-05-04 一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116203856A true CN116203856A (zh) 2023-06-02
CN116203856B CN116203856B (zh) 2023-10-31

Family

ID=86514990

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310487555.2A Active CN116203856B (zh) 2023-05-04 2023-05-04 一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116203856B (zh)

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100131238A1 (en) * 2008-11-21 2010-05-27 The Boeing Company Systems and methods for control system verification and health assessment
CN102621478A (zh) * 2012-03-29 2012-08-01 广州市广晟微电子有限公司 一种射频前端芯片的动态测试装置及系统
CN105093016A (zh) * 2015-07-28 2015-11-25 努比亚技术有限公司 移动终端自动化测试方法及装置
CN105929803A (zh) * 2016-05-26 2016-09-07 航天东方红卫星有限公司 一种卫星地面测控设备自动化监控系统
US20170102690A1 (en) * 2015-10-08 2017-04-13 King Fahd University Of Petroleum And Minerals Methods and apparatus to design collaborative automation systems based on data distribution service middleware
CN110068738A (zh) * 2019-05-29 2019-07-30 成都天成电科科技有限公司 一种相控阵天线测试系统及天线测试方法
CN110398638A (zh) * 2019-07-26 2019-11-01 成都天锐星通科技有限公司 一种相控阵天线测试方法及相控阵天线测试系统
CN110873826A (zh) * 2018-08-31 2020-03-10 罗克韦尔柯林斯公司 天线阵列测试电路、相控天线阵列及测试其的方法
CN210376604U (zh) * 2019-08-09 2020-04-21 四川虹美智能科技有限公司 一种变频产品电控板测试装置及系统
CN111078482A (zh) * 2019-12-20 2020-04-28 西安航空电子科技有限公司 通讯导航设备测试系统、方法、设备和可读存储介质
CN111722117A (zh) * 2020-06-08 2020-09-29 上海交通大学 适用于车用燃料电池的自动测试方法及系统
CN111865448A (zh) * 2019-04-29 2020-10-30 深圳市通用测试系统有限公司 相控阵天线测试系统及测试方法
CN112578305A (zh) * 2020-12-23 2021-03-30 上海科梁信息工程股份有限公司 一种飞机电源特性测试方法、系统、电子设备及存储介质
CN112629576A (zh) * 2020-11-30 2021-04-09 潍坊歌尔微电子有限公司 一种温度压力传感器测试方法、设备、装置和存储介质
CN114063026A (zh) * 2021-09-29 2022-02-18 浙江大学 一种相控阵雷达系统的静态检测装置及方法

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100131238A1 (en) * 2008-11-21 2010-05-27 The Boeing Company Systems and methods for control system verification and health assessment
CN102621478A (zh) * 2012-03-29 2012-08-01 广州市广晟微电子有限公司 一种射频前端芯片的动态测试装置及系统
CN105093016A (zh) * 2015-07-28 2015-11-25 努比亚技术有限公司 移动终端自动化测试方法及装置
US20170102690A1 (en) * 2015-10-08 2017-04-13 King Fahd University Of Petroleum And Minerals Methods and apparatus to design collaborative automation systems based on data distribution service middleware
CN105929803A (zh) * 2016-05-26 2016-09-07 航天东方红卫星有限公司 一种卫星地面测控设备自动化监控系统
CN110873826A (zh) * 2018-08-31 2020-03-10 罗克韦尔柯林斯公司 天线阵列测试电路、相控天线阵列及测试其的方法
CN111865448A (zh) * 2019-04-29 2020-10-30 深圳市通用测试系统有限公司 相控阵天线测试系统及测试方法
CN110068738A (zh) * 2019-05-29 2019-07-30 成都天成电科科技有限公司 一种相控阵天线测试系统及天线测试方法
CN110398638A (zh) * 2019-07-26 2019-11-01 成都天锐星通科技有限公司 一种相控阵天线测试方法及相控阵天线测试系统
CN210376604U (zh) * 2019-08-09 2020-04-21 四川虹美智能科技有限公司 一种变频产品电控板测试装置及系统
CN111078482A (zh) * 2019-12-20 2020-04-28 西安航空电子科技有限公司 通讯导航设备测试系统、方法、设备和可读存储介质
CN111722117A (zh) * 2020-06-08 2020-09-29 上海交通大学 适用于车用燃料电池的自动测试方法及系统
CN112629576A (zh) * 2020-11-30 2021-04-09 潍坊歌尔微电子有限公司 一种温度压力传感器测试方法、设备、装置和存储介质
CN112578305A (zh) * 2020-12-23 2021-03-30 上海科梁信息工程股份有限公司 一种飞机电源特性测试方法、系统、电子设备及存储介质
CN114063026A (zh) * 2021-09-29 2022-02-18 浙江大学 一种相控阵雷达系统的静态检测装置及方法

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
BITTAR M: ".Robust Inversion Systems and Methods for Azimuthally Sensitive Resistivity Logging Tools", 《ROBUST》 *
孙高俊;: "一种相控阵雷达时序控制装置设计", 雷达科学与技术, no. 06 *
李爽;朱艳萍;: "相控阵天线自动测试系统设计", 电子测试, no. 13 *
杨斌: "基于CPLD的超声相控阵高精度相控发射系统的实现", 《中国测试技术》 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN116203856B (zh) 2023-10-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8131529B2 (en) Method and system for simulating test instruments and instrument functions
JP5833502B2 (ja) テストプログラム
US20070022351A1 (en) Method and apparatus that provide for configuration of hardware resources specified in a test template
US20070168749A1 (en) Method and system for tracing program execution in field programmable gate arrays
JP2014235127A (ja) 試験システム、制御プログラム、コンフィギュレーションデータの書込方法
US7050921B2 (en) Electronic test program with run selection
US20080126001A1 (en) Equipment testing system and method having scaleable test line limits
CN116203856B (zh) 一种基于参数配置的通用测试方法、装置及存储介质
US7065466B2 (en) Attenuator test system
JP4759351B2 (ja) 評価装置、及び評価システム
US20180356445A1 (en) Test and measurement instrument that uses measurement preconditions for making measurements
US7290189B2 (en) Compilation of calibration information for plural testflows
KR102365858B1 (ko) 철도차량 엠프 출력 방송장치의 자동화 검사 시스템
CN113156208A (zh) 一种自动检测设备
JP2004163194A (ja) Icテスタ及び試験モジュール
CN115792768B (zh) 一种集成电路测试的监测方法、装置及电子设备
US11536764B2 (en) Test system and method for signal processing
US20230266390A1 (en) Test Abstraction Data Model
US11635457B2 (en) Apparatus and method for performing time domain reflectormetry
US11169203B1 (en) Determining a configuration of a test system
US20220404414A1 (en) Method and testing apparatus related to wafer testing
WO2013183210A1 (ja) テストプログラム
JP2002016118A (ja) 半導体パラメトリック試験装置
CN116185735A (zh) 一种接口测试方法及装置
CN118012733A (zh) 代码测试方法、装置及电子设备

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant