JP2971216B2 - グランドパッキンの接触状態測定装置 - Google Patents

グランドパッキンの接触状態測定装置

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JP2971216B2
JP2971216B2 JP3301091A JP30109191A JP2971216B2 JP 2971216 B2 JP2971216 B2 JP 2971216B2 JP 3301091 A JP3301091 A JP 3301091A JP 30109191 A JP30109191 A JP 30109191A JP 2971216 B2 JP2971216 B2 JP 2971216B2
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勲 山本
浩央 植田
卓也 宮口
猛 宮島
好美 柴
利男 滝下
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Kansai Electric Power Co Inc
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Hitachi Construction Machinery Co Ltd
Kansai Denryoku KK
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、グランドパッキン接
触状態測定装置に関し、詳しくは、超音波の多重反射エ
コーのレベルを測定してグランドパッキンの接触面での
反射率を計測し、この反射率からグランドパッキンの締
付状態を測定するような超音波測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】グランドパッキンの接触面での超音波の
多重反射エコーのレベルを測定してグランドパッキンの
締付状態を測定する、このような技術を出願人は、特願
平2−320686号の特許出願に開示している。それ
は、グランドパッキンを使用したバルブやシリンダと同
一のモデルを製作してこのモデルにより歪みゲージで接
触圧力を測定し、それぞれの接触圧力に対するグランド
パッキンの接触面での超音波の反射率について所定の回
数多重反射した後の多重反射エコーのレベルを測定する
ことで得られるものである。そして、次にこのときこの
モデルにより得られるグランドパッキンの接触面での多
重反射エコーのレベルと接触圧力との関係の測定データ
用いて、このモデルに対応する実際に使用されているバ
ルブやシリンダのグランドパッキンに対して現在の多重
反射エコーのレベルを測定することにより実際に使用さ
れているバルブやシリンダにおけるグランドパッキンの
接触圧力を求めるものである。
【0003】その測定にあたっては、初期条件として与
える測定時間軸の長さを、目的とする多重反射エコーま
での伝搬時間より若干、余裕のある時間に設定する。そ
して、ゲートを目的とする多重反射エコーの位置にかけ
て目的とする多重反射エコーの最大エコー高さ(ピーク
値)とビーム路程(そこまでの時間値)とを受信電圧値
と路程カウンタの時間カウント値により得て、それをマ
イクロプロセッサ(MPU)等で取込んでデータ処理す
ることで接触圧力等の測定データを算出している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この測定に際して設定
されるべきゲートの位置は、ディスプレイ上に多数表示
された多重反射エコーから選択されることになる。図4
は、測定に際してゲート21を設定する場合の多重反射
エコーB1〜B9 の表示状態を示すものである。なお、
図中、22は、目的とする反射回数に対応した多重反射
エコー(B9 )であり、23は送信波Tの波形の一部を
示す。このようにグランドパッキンの締付状態を測定す
る場合には、ある回数反射した後の多重反射エコーを扱
うために、図示するように、ディスプレイの画面20に
は数多く多重反射エコーB1 〜B9が出現して非常に見
難い。そこで、目的とする多重反射回数後の多重反射エ
コーB9 を読み違える危険性が高く、測定条件と実際に
ゲートにより抽出されるエコーとが相違して測定の信頼
性が低下する欠点がある。この発明の目的は、このよう
な問題点を解決するものであって、目的とする多重反射
回数後のエコーを正確に捉えることができ、グランドパ
ッキンの接触応力測定の信頼性を向上させることができ
るグランドパッキンの接触状態測定装置を提供すること
にある。
【0005】このような目的を達成するためのこの発明
のグランドパッキンの接触状態測定装置の特徴は、被検
体の音速,肉厚,測定対象となる所定の多重反射回数と
に基づき、所定回数反射後の多重反射エコーの発生まで
の伝搬時間を算出し、この伝搬時間に従って所定回数反
射後の多重反射エコーを表示装置の画面上の波形表示領
域のほぼ中央部に表示するものである。
【0006】
【作用】このように表示装置の波形表示領域のほぼ中央
部に目的とする多重反射波だけを表示するようにするこ
とで、ゲート設定対象となる多重反射エコーを間違える
ことがない。また、エコー受信信号を直接A/D変換し
てデータ処理することにより対象となる多重反射エコー
が簡単に抽出できるので、マニュアル処理でのゲート設
定作業が不要になり、より信頼性の高い状態で多重反射
波エコーについての測定が可能になる。
【0007】
【実施例】図1は、この発明のグランドパッキンの接触
状態測定装置のブロック図であり、図2は、そのN回目
の多重反射波の表示状態の説明図、図3は、その反射率
等の測定状態の全体的な処理のフローチャートである。
図1において、10は、グランドパッキン接触状態測定
装置であって、1は、その探傷器部である。この探傷器
部1は、パルサー・レシーバ等から構成され、マイクロ
プロセッサ(MPU)5からの制御信号に応じて送信端
子11からプローブ16にパルス信号を送り、プローブ
16からエコー受信信号を受信端子12で受けてそれを
そのレシーバで増幅し、アナログ信号としてA/D変換
回路2に出力する。なお、後述するようにレシーバのゲ
イン(増幅率)は、MPU5からの制御信号により増減
調整可能である。
【0008】A/D変換回路2は、MPU5からの制御
信号に応じて探傷器部1から得られるグランドパッキン
17とバルブやシリンダ等の円筒の被検体18の内周面
との接触面19からの多重反射エコーBi (被検体18
の底面エコーに相当)に対するエコー受信信号(RF信
号、あるいはこれを検波したビデオ信号)を、例えば、
20MHz程度の高い周波数でサンプリングし、そのデジ
タル値を波形データメモリ3に順次送出する。
【0009】波形データメモリ3は、表示画面に表示さ
れる測定データ数のn倍(nは2以上の整数)以上の所
定の測定データ数、例えば、4000点程度を記憶する
記憶容量を有していて、A/D変換回路2によりサンプ
リングされたデジタル値のデータを順次そのアドレスを
更新(インクリメント)しながら記憶していく。そし
て、A/D変換回路2によりサンプリングされたデータ
数が所定の最終アドレスまで記憶されるとMPU5にサ
ンプリング終了信号を送出する。これにより波形データ
メモリ3には画像として表示される測定データ数の2倍
以上(例えば、測定データ数を200点とすると前記の
4000点は、20倍)の所定のサンプリング数の測定
データがデジタル値で各アドレス対応に順次記憶される
ことになる。このとき各アドレスの測定データは、A/
D変換回路2のサンプリング周期を単位とした時間の関
数として記憶されている。
【0010】MPU5は、波形データメモリ3からサン
プリング終了信号を受けるとA/D変換回路2のサンプ
リング処理を停止してバス13を介して波形データメモ
リ3から測定データを採取してAスコープ画像の表示デ
ータを生成する。生成した表示データは、RAM6の画
像メモリ領域(後述する画像メモリ部61)に記憶さ
れ、それが表示装置(CRT)8に転送されて表示装置
8により、生成した表示データに応じたAスコープ画像
が表示される。
【0011】4は、ゲインダイヤル,カーソルダイヤ
ル,表示位置指定つまみ,シートキー等とを有する操作
パネルであって、バス13に接続されている。MPU5
は、この回路からバス13を介してダイヤルにより設定
される設定値及び各種のキー入力信号を受ける。ゲイン
ダイヤルにより探傷器部1に対するゲイン設定値(調整
値)が入力されると、MPU5は、探傷器部1のレシー
バ(その高周波増幅器)のゲインを制御し、ゲインダイ
ヤルにより入力されたゲイン設定値に対応するゲインに
なるようにレシーバのゲインを設定する。
【0012】6は、RAMであって、バス13に接続さ
れ、A/D変換されたエコー受信信号についてのデジタ
ルの表示データと外部からロードされた各種のアプリケ
ーション処理プログラムと入力キーにより指定された探
傷モードを示すフラグ等の各種の情報や種々のデータが
格納される。RAM6には、画像表示データをビット展
開して記憶する画像メモリ部61と波形データメモリ3
からデータを採取する条件を決める採取条件パラメータ
等記憶領域62、そして測定データ等記憶領域63とが
設けられている。
【0013】7は、ROMであり、これにはMPU5が
実行するAスコープ画像演算処理プログラム71のほ
か、多重反射波処理プログラム72、正規化ゲイン設定
プログラム73、反射率算出プログラム74、公差判定
プログラム75、そして各種の基本プログラムが記憶さ
れている。表示装置8は、Aスコープ画像等のほか、各
種の測定値を表示し、内部にビデオメモリインタフェー
スとビデオメモリ、ビデオメモリの情報を読出してビデ
オ信号を発生するビデオメモリコントローラ等を有して
いて、ビデオメモリインタフェースを介してバス13に
接続されている。
【0014】ここで、Aスコープ画像演算処理プログラ
ム71は、通常は波形データメモリ3から測定データ採
取終了を受けたMPU5により起動され、データ採取条
件記憶領域62に記憶されている条件に従って波形デー
タメモリ3のアドレスをアクセスして表示データを生成
し、それを画像メモリ部61に記憶する処理をする。こ
れにより所定の測定データが表示装置8の画面上に表示
される。
【0015】また、採取条件パラメータ等記憶領域62
に記憶されている情報は、測定初期条件として操作パネ
ル4から入力されるバルブやシリンダ等の被検体18の
内部での音速、被検体18の肉厚、使用する多重反射波
の反射回数、その他測定に必要な測定条件を決めるパラ
メータなどである。そして、さらにここでは、波形デー
タメモリ3の測定データを読出す先頭アドレス及び最終
アドレス、そしてこれらの間のアドレスに記憶されてい
る波形データメモリ3の測定データをどのような順序で
採取するのか条件、例えば、数アドレスおきに採取する
のか、採取したデータからいくつの平均値を採って表示
データとするのか、複数の測定データのうちの最高値を
もって表示データとするのか、というなパラメータ情報
が記憶されている。
【0016】多重反射波処理プログラム72は、多重反
射エコー測定の機能キーが入力された時点で起動されて
MPU5により実行され、操作パネル4から入力された
多重反射波の反射回数と音速、肉厚とを採取条件パラメ
ータ等記憶領域62を参照して得て、まず、目的の多重
反射エコーまでの伝搬時間tを算出する。この目的の多
重反射エコーまでの伝搬時間tは、入力された反射回数
をNとし、音速V、肉厚Tとすると、t=2NT/Vに
より算出される。多重反射波処理プログラム72は、目
的の多重反射エコーについて、波形データメモリ3にお
ける読出し開始点のアドレスを求めるために、その読出
し開始時点tsをts=T(2N−1)/Vにより算出
する。そして、これに対応する時間位置のアドレスを始
点アドレスAs として求める。さらに、その表示データ
の終点の時点teをte=T(2N+1)/Vにより算
出して、これに対応する時間位置のアドレスを終点アド
レスAe として求める。そして、ここで求められた始
点,終点のアドレスAs ,Ae の値を採取条件パラメー
タ等記憶領域62に記憶する。なお、この始点,終点の
アドレスAs ,Ae の算出により結果としてAスコープ
画像演算処理プログラム71により表示される多重反射
エコーの測定データ表示の時間軸較正が行われることに
なる。この後、多重反射波処理プログラム72は、採取
条件パラメータ等記憶領域62に記憶されているパラメ
ータに従ってグランドパッキン17によりパッキングさ
れたバルブやシリンダ等の被検体18に対して超音波測
定を処理開始し、波形データメモリ3に測定データを記
憶させる。その後、Aスコープ画像演算処理プログラム
71が次に起動される。
【0017】Aスコープ画像演算処理プログラム71
は、MPU5により実行され、波形データメモリ3に記
憶された測定データについて表示装置8の表示画面にお
けるAスコープ像の路程を表示する側(時間軸)の全表
示画素数を基準にして採取条件パラメータ等記憶領域6
2に記憶されたパラメータに従って、まず測定データの
採取数を決定する。例えば、路程に対応する表示である
表示装置8の横方向の測定データ表示画素数のうち路程
表示として割当てられている画素が200画素であると
すれば、波形データメモリ3から表示データとして採取
される測定データは200個である。なお、2画素を1
測定データに割当てればその半分の100個でよい。そ
こで、ここでは、波形データメモリ3から採取するデー
タ数を200個として以下説明する。
【0018】Aスコープ画像演算処理プログラム71
は、どのような測定データ200個を波形データメモリ
3から採取するかを示すパラメータを演算して生成す
る。すなわち、Aスコープ画像演算処理プログラム71
が採取する200個のデータは、先の始点,終点のアド
レスAs ,Ae があるときにはこれにより、これらが記
憶されていないときには操作パネル4から入力された表
示開始位置と表示終了位置のデータと採取条件とに基づ
きAスコープ画像演算処理プログラム71の処理により
決定される。それは、まず、先の始点,終点のアドレス
As ,Ae があるときにはこれにより、そうでないとき
には表示開始位置と表示終了位置とのそれぞれに対応す
る波形データメモリ3のアドレスに基づいて、それらの
間にある測定データ数を算出して、それが200以上の
ときには、その数Mに対してm=M/200により決定
される数値mに応じて、例えば、m=3のとき、あるい
は、2.5 ≦m<3.5 のときには、3個おきにデータを採
取するパラメータを生成する。このようなパラメータを
先の始点,終点のアドレスAs ,Ae があるときにはこ
れらに対応して採取条件パラメータ等記憶領域62に記
憶する。また、そうでないときには、先の割出した表示
開始位置及び表示終了位置のアドレスとともに採取条件
パラメータ等記憶領域62に記憶する。また、採取条件
として平均値が指定されているときには、3個ごとの測
定データをグループとして扱い、それらの平均値を算出
するようなパラメータが設定される。また、最大値を採
取するときにはグループのうちの最大値が選択されるパ
ラメータが設定される。一方、表示開始位置と表示終了
位置を含めその間にある測定データの総数が200個以
下のときには200個になるように補間したデータを生
成するパラメータを生成して採取条件パラメータ等記憶
領域62に記憶する。
【0019】その結果、多重反射エコー測定の機能キー
が入力されているときには、Aスコープ画像演算処理プ
ログラム71は、先の始点,終点のアドレスAs ,Ae
に従って測定画像として指定された多重反射エコーの画
像が表示画像の表示開始位置から表示終了位置までのデ
ータを画面一杯(波形表示領域があるときにはその領域
一杯)に、そのエコー位置が中央になるような200点
の表示データを生成する。そのための200個のデータ
をパラメータに従って表示画面の路程側の画素数に対応
して波形データメモリ3から採取して画像メモリ部61
に転送する処理をする。このとき表示される画像は、図
2の(a)に示すような画像となり、Bn で示すような
エコーが接触面19の多重反射エコーとして得られる。
なお、8aは、表示装置8の画面であり、横方向のX軸
が時間軸であり、縦方向のY軸がエコーレベル(%)で
ある。
【0020】このような表示を行うことにより目的の多
重反射エコーBn のみしか画面上に表示されないために
ゲート等を設定する際の対象を誤ることはない。なお、
この実施例では、後述する処理から理解できるように、
エコー受信信号をそのままA/D変換してデータ処理を
行っているので、ゲートを設定しなくても多重反射エコ
ーBn のエコーレベルや路程の測定値を容易に得ること
ができる。
【0021】正規化ゲイン設定プログラム73は、多重
反射エコーBn に対してゲート設定作業をすることなく
反射率を得るために、多重反射エコーBn の値を正規化
する測定ゲインを自動的に設定する処理プログラムであ
る。このプログラムは、200個のデータが波形データ
メモリ3から採取されて画像メモリ部61に転送され、
先の多重反射エコーBn が表示された後にAスコープ画
像演算処理プログラム71により起動される。これが起
動され、MPU5により実行されると、多重反射エコー
Bn のレベルが所定の基準値になるように被検体18に
対する測定が繰り返され、図2(a)の点線で表示され
るように自動的に探傷器部1のレシーバのゲインが設定
がされる。
【0022】これは、最初の測定で測定値として得られ
た多重反射エコーBnがあらかじめ定められた一定値
(例えば、レベル100%)になるように探傷器部1の
レシーバのゲインを自動調整するものであって、測定デ
ータ等記憶領域63に記録されている基準レベル値(こ
こではそれが表示装置8の画面上において100%のレ
ベルに対応)に従ってゲインを調整(MPU5の制御に
より順次レシーバに対する制御値を増減させてゲイン調
整)して多重反射エコーBn のエコーレベルを100%
のレベルにするゲインにし、これを測定時のレシーバの
ゲインとして設定する。なお、これは、オペレータの操
作によるゲイン設定により調整されてもよい。
【0023】その結果として図2の(a)に示すよう
に、多重反射エコーBnのレベルが正規化ゲイン設定プ
ログラム73の実行あるいはオペレータのゲインコント
ロール操作に応じて増減して、100%になるような値
に探傷器部1のレシーバのゲインが設定される。この
後、このプログラムは反射率算出プログラム74を起動
する。なお、正規化ゲイン設定プログラム73は、レシ
ーバのゲインを一度設定すると、次に多重反射エコー測
定の機能キーが入力されるまではこのプログラムは起動
されない。したがって、ここで設定されたゲインは測定
が終了するまで変更されない。
【0024】反射率算出プログラム74は、測定の第1
回目は正規化ゲイン設定プログラム73により起動さ
れ、測定の第2回目以降は先の多重反射エコーBn が表
示された後にAスコープ画像演算処理プログラム71に
より起動される。このプログラムがMPU5により実行
されると、MPU5は、測定により得られた多重反射エ
コーBn のエコーレベルと伝搬時間(路程)とを波形デ
ータメモリ3のデータを参照して算出し、それらを測定
データ等記憶領域63に記憶し、さらに、正規化した値
に対してあらかじめ設けられている算出基準値との比が
採られて反射率が算出される。なお、この反射率は、正
規化されて測定された多重反射エコーB1からBn (図
4B1 〜B9 参照)までの隣接するのエコーの差を採
り、さらにそれらの平均値を取ってそれを反射率として
測定データ等記憶領域63に記憶してもよい。この後、
公差判定プログラム75がこのプログラムにより起動さ
れる。
【0025】公差判定プログラム75は、MPU5によ
り実行され、MPU5は、これにより先の反射率算出プ
ログラム74の処理で測定データ等記憶領域63に記憶
された今回の測定で得られた多重反射エコーBn のピー
ク値および路程のいずれかが基準として記憶されている
ピーク値および路程に対して一定値以上の差があるか否
かを判定し、一定以上の差があるときにエラーとして、
このエラーを測定データ等記憶領域63に記憶されてい
るそのデータに対応してフラグとして記録し、警報器を
駆動する処理をする。
【0026】次に、全体的な動作について図3に従って
説明すると、まず、ステップ101において、装置を探
傷モードに設定するための初期設定を行うイニシャル処
理をする。ステップ102において、被検体18での音
速V,肉厚T,そして多重反射回数N、公差の基準値、
測定間隔、測定時間、測定回数等を操作パネル4から入
力する。
【0027】次のステップ103において、キー入力待
ちループに入り、ここで、多重反射エコー測定の機能キ
ーが操作パネル4から入力されると、ステップ104で
多重反射エコー測定のモードに設定されて、多重反射波
処理プログラム72がMPU5により実行されて測定デ
ータ表示の時間軸の較正が行われる。これにより表示装
置8に表示される多重反射エコーの時間軸が図2の
(b)に示すようにT2N/Vを中心としてT(2N−
1)/VからT(2N−1)/Vまでとなる。その結
果、図示するようにN回目の多重反射エコーBn みが表
示される。次のステップ105,ステップ106では、
正規化ゲイン設定プログラム73が起動され、測定が繰
り返されてオートゲイン調整がなされ、探傷器部1のレ
シーバのゲインが設定されて多重反射エコーBn のレベ
ルが100%になるような測定条件(ゲイン)に正規化
される。
【0028】次のステップ107で反射率算出プログラ
ム74が起動されて、そのときの多重反射エコーBn の
エコー高さとビーム路程と反射率とがメモリ6の測定デ
ータ等記憶領域63に記憶される。そして、ステップ1
08では公差判定プログラム75が起動されて多重反射
エコーBn のエコーレベルと路程とがともに公差の範囲
内にあるか否かの判定が行われ、その範囲内であれば、
ステップ109で測定終了か否かの判定が入力された測
定回数Mと比較することでなされ、測定が終了していな
ければ、ステップ110で測定回数Mを更新して次の測
定処理に移り、ステップ107へと戻り、測定回数M回
分の測定が終了した後にステップ111でその結果の出
力を行う。一方、ステップ108の判定で公差範囲内に
なければ、ステップ112で警報器が駆動されてステッ
プ109へと移行する。なお、この場合に公差範囲内に
ない測定値については測定データ等記憶領域63に記憶
されたフラグに応じてステップ111においてマークが
付けられてデータが出力される。
【0029】以上説明してきたが、実施例では、表示装
置の画面の中央に多重反射波のエコーBnを表示してい
るが、これは、1つ表示するだけであるので、ほぼ中央
に表示されればよく、表示する位置は、波形表示領域と
して画面上に割り当てがある場合には、そのほぼ中央で
あればよい。実施例では、エコー受信信号をA/D変換
して波形データメモリに記憶したデータに従って各測定
値を得ているが、これは、エコー受信信号の各ピーク値
と路程とをピーク検出回路とカウンタとにより検出して
もよく、この後にそれぞれのデータをA/D変換してM
PUで処理し、メモリに記憶しておき、これらのデータ
に基づいて多重反射エコーのピーク値や路程等の測定値
を得るようにしてもよい。
【0030】実施例では、波形データメモリは、A/D
変換回路とMPUとの間に挿入しているが、MPUの処
理速度が高速であれば、A/D変換回路のデータをMP
Uで一旦受けて、波形データメモリに転送して測定デー
タを採取するようにすることもできる。また、実施例で
は、路程に対応する側の1画素を1測定データ分の時間
に対応させて表示させているが、n画素を1測定データ
に対応させて表示してもよいことはもちろんである。
【0031】
【発明の効果】以上の説明から理解できるように、この
発明にあっては、表示装置の波形表示領域のほぼ中央部
に目的とする多重反射エコーだけを表示するようにして
いるので、ゲート設定対象となる多重反射波を間違える
ことがない。また、エコー受信信号を直接A/D変換し
てデータ処理することにより対象となる多重反射エコー
が簡単に抽出できるので、マニュアル処理でのゲート設
定作業が不要になり、より信頼性の高い状態で多重反射
波エコーについての測定が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 図1は、この発明のグランドパッキンの接触
状態測定装置のブロック図である。
【図2】 図2は、そのN回目の多重反射波の表示状態
の説明図である。
【図3】 図3は、その反射率等の測定状態の全体的な
処理のフローチャートである。
【図4】 図4は、先行技術における測定に際してゲー
トを設定する場合の多重反射エコーの表示状態を示す説
明図である。
【符号の説明】
1…超音波探傷器部、2…A/D変換回路、3…波形デ
ータメモリ、4…操作パネル、5…マイクロプロセッサ
(MPU)、6…RAM、10…グランドパッキン接触
状態測定装置、61…画像メモリ部、62…採取条件パ
ラメータ等記憶領域、63…測定データ等記憶領域、7
1…Aスコープ画像演算処理プログラム、72…多重反
射波の表示処理プログラム、73…正規化ゲイン設定プ
ログラム、74…反射率算出プログラム、75…公差判
定プログラム。
フロントページの続き (72)発明者 原 信一 大阪府大阪市北区中之島三丁目3番22号 関西電力株式会社内 (72)発明者 山本 勲 大阪府大阪市大正区北村二丁目1番13号 ウツエバルブ株式会社内 (72)発明者 植田 浩央 大阪府大阪市大正区北村二丁目1番13号 ウツエバルブ株式会社内 (72)発明者 宮口 卓也 大阪府大阪市大正区北村二丁目1番13号 ウツエバルブ株式会社内 (72)発明者 宮島 猛 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機 株式会社土浦工場内 (72)発明者 柴 好美 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機 株式会社土浦工場内 (72)発明者 滝下 利男 茨城県土浦市神立町650番地 日立建機 株式会社土浦工場内 (56)参考文献 特開 平1−142426(JP,A) 特開 平3−158598(JP,A) 特開 昭59−56132(JP,A) 特開 平3−209139(JP,A) 特開 昭64−38620(JP,A) 特開 昭62−9241(JP,A) 特開 昭62−266362(JP,A) 特開 昭63−149579(JP,A) 実開 平1−133570(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01L 5/00 G01D 7/00 G01N 29/18

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 グランドパッキンを有する被検体に対し
    て前記グランドパッキンとの接触面からの超音波の多重
    反射波のうち所定回数反射後の多重反射エコーのピーク
    値と路程とを得てグランドパッキンの接触状態を測定す
    る超音波測定装置において、前記被検体の音速,肉厚,
    前記所定回数とに基づき、前記所定回数反射後の多重反
    射エコーの発生までの伝搬時間を算出し、この伝搬時間
    に従って前記所定回数反射後の多重反射エコーを表示装
    置の画面上の波形表示領域のほぼ中央部に表示すること
    を特徴とするグランドパッキンの接触状態測定装置。
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