JP2970616B2 - 半導体装置の製造方法 - Google Patents

半導体装置の製造方法

Info

Publication number
JP2970616B2
JP2970616B2 JP23602197A JP23602197A JP2970616B2 JP 2970616 B2 JP2970616 B2 JP 2970616B2 JP 23602197 A JP23602197 A JP 23602197A JP 23602197 A JP23602197 A JP 23602197A JP 2970616 B2 JP2970616 B2 JP 2970616B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lead frame
flip chip
pin
semiconductor device
collet
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP23602197A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH1187588A (ja
Inventor
文明 浦邉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP23602197A priority Critical patent/JP2970616B2/ja
Publication of JPH1187588A publication Critical patent/JPH1187588A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2970616B2 publication Critical patent/JP2970616B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7525Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/753Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/75301Bonding head
    • H01L2224/75302Shape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/7525Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/753Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/75301Bonding head
    • H01L2224/75302Shape
    • H01L2224/75303Shape of the pressing surface
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75743Suction holding means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/75Apparatus for connecting with bump connectors or layer connectors
    • H01L2224/757Means for aligning
    • H01L2224/75743Suction holding means
    • H01L2224/75745Suction holding means in the upper part of the bonding apparatus, e.g. in the bonding head

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体装置の製造
方法に関し、特にフリップチップをリードフレームにマ
ウントする際の位置決め方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種のフリップチップのマウン
ト方法として、図3(a)に示すようにUSホーンに付
随した角錐コレット2に吸着したフリップチップ3をリ
ードフレーム1のマウント位置に対して光学的手段8を
用いて位置決めし、その後、図3(b)に示すようにヒ
ータープレート9上でフリップチップ3をリードフレー
ム1に圧着する(図3(c))方法がある。
【0003】また、特開昭62−42491号公報に示
されるように、テンプレート法を用いることにより、高
価な光学的位置決め装置を使用せずに、フリップチップ
の位置決めを行う方法もある。
【0004】図4は、特開昭62−42491号公報に
示されるフリップチップのマウント方法を示す断面図で
ある。このものでは、基板ガイドプレート10上に実装
基板11を固定し、次にテーパを形成したチップ位置決
め孔12及び高さ位置決め突起13を有する位置決めプ
レート14と、ラフガイド孔15を有するラフガイド用
プレート16とを基板ガイドプレート10上に設けられ
た位置決めピン17を通して三層に重ねて位置決めす
る。
【0005】その後、フリップチップ3をラフガイド孔
15を通してチップ位置決め孔12のテーパに係合させ
ると共に、フリップチップ3のバンプ6を実装基板11
に圧着させていた。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図3及
び図4に示される技術では、位置決め精度不足により、
フリップチップがリードフレーム又は実装基板に対して
位置ずれし、一部のバンプが圧着されないという可能性
があった。
【0007】その理由は、フリップチップとリードフレ
ーム又は実装基板との位置決めを、光学的手段又は位置
決めピンを用いた機械的手段のどちらか一方のみを用い
て行い、その際に生じた微小な位置ずれを矯正する手段
を有しないためである。
【0008】本発明の目的は、フリップチップとリード
フレームの位置ずれを低減し、リードフレームとバンプ
の接触不具合を防止する半導体装置の製造方法を提供す
ることにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体装置の製造方法は、ピン突上げ
工程と、圧着工程とを有する半導体装置の製造方法であ
って、ピン突上げ工程は、フリップチップを吸着したコ
レットと突上げ用ピンとを位置決めした後、前記フリッ
プチップの下方に定着されたリードフレームの位置決め
孔に前記ピンを突上げて、前記リードフレームの微小な
位置ずれを矯正する処理を行うものであり、圧着工程
は、前記ピンによる突上げ過程にて前記コレットにより
前記フリップチップをリードフレームに圧着する処理を
行うものである。
【0010】また前記コレットは、内形が角型の凹部内
に前記フリップチップを受け入れて真空吸着するもので
ある。
【0011】また前記リードフレームの位置決め孔と前
記ピンの先端とをテーパ状に形成し、その両者の嵌合に
よって微小な位置ずれを矯正するものである。
【0012】また前記リードフレームに前記位置決め孔
を複数設け、各位置決め孔にピンを突き上げて微小な位
置ずれを矯正するものである。
【0013】本発明によれば、角錐コレットに吸着され
たフリップチップとリードフレームの間に位置ずれが生
じた場合、突き上げ用ピンを突き上げることにより、リ
ードフレームが横方向に動き、該角錐コレットに対する
位置ずれが矯正される。
【0014】角錐コレットの場合、吸着されたチップの
コレットに対する相対的位置は一定であるため、結果的
にフリップチップとリードフレームの位置ずれも低減さ
れ、リードフレームとバンプの接触不具合を防止するこ
とができる。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図に
より説明する。
【0016】(実施形態1)図1は、本発明の実施形態
1を工程順に示す断面図である。
【0017】図1(a)に示すように、角錐コレット2
は、下端面にフリップチップ3を受入れる角錐状の凹部
2aを有しており、角錐状の凹部2aをフリップチップ
3で閉塞しフリップチップ3の背面側を真空引きし、フ
リップチップ3を真空吸着するようになっている。ま
た、フリップチップ3は、角錐コレット2の角錐状凹部
2aの内形にて位置規制されて、角錐コレット2に真空
吸着されるようになっている。
【0018】また、ヒータープレート9は角錐コレット
2の下方に設置され、ヒータープレート9上には、リー
ドフレーム1がセットされ、リードフレーム1は、リー
ド押さえ5によりヒータープレート9上に定着されるよ
うになっている。
【0019】またリードフレーム1には、突上げ用ピン
4を受け入れるハ字状であってかつのテーパ状の位置決
め孔1aが開口されている。突上げ用ピン4は、直径が
0.1〜1mm程度のものであって、角錐コレット2に
対して機械的に位置決めされて昇降可能に設置されてい
る。ピン4は、ヒータープレート9の貫通孔9aを通し
てリードフレーム1のテーパ状位置決め孔1a内に嵌合
するようになっており、突上げ用ピン4の先端4aは、
リードフレーム1のテーパ状位置決め孔1aに密に嵌合
するようにテーパ状に形成されている。
【0020】次に、角錐コレット2に真空吸着されたフ
リップチップ3とリードフレーム1との位置決めについ
て説明する。
【0021】まず図1(a)に示すように、リードフレ
ーム1をヒータープレート9上にセットし、リードフレ
ーム1上に、角錐コレット2に吸着されたフリップチッ
プ3を光学的手段を用いて位置決めする。
【0022】次に図1(b)に示すように、角錐コレッ
ト2に対して機械的に位置決めされた突上げ用ピン4
を、ヒータープレート9の貫通孔9aに通して、リード
フレーム1のテーパ状位置決め孔1a内に突き上げ、突
上げ用ピン4の先端4aをリードフレーム1のテーパ状
位置決め孔1a内に密に嵌合する。その際、リードフレ
ーム1の横方向に加わる外部からの張力は0とし、かつ
リード押さえ5を用い、リードフレーム1が上方向に動
かないようにする。
【0023】ここで、もし角錐コレット2に吸着された
フリップチップ3とリードフレーム1の間にリードフレ
ーム1の板厚以下(約0.1mm以下)の微小な位置ず
れが生じた場合、突上げ用ピン4を突き上げることによ
り、リードフレーム1を横方向に変位させ、角錐コレッ
ト2に対するリードフレーム1の微小な位置ずれを矯正
する。
【0024】角錐コレット2の場合、コレット2の凹部
2aの内形は角型であり、角型の内形をもつ凹部2aに
角型のチップ3が嵌合するため、吸着されたチップ3の
コレット2に対する相対的位置は常に一定となり、結果
的にフリップチップ3とリードフレーム1の位置ずれも
低減され、リードフレーム1とフリップチップ3のバン
プ6との接触不具合を防止することができる(図1
(c))。
【0025】(実施形態2)図2は、本発明の実施形態
2を示す断面図である。
【0026】図2に示す実施形態2においては、リード
フレーム1のチップマウント部周辺にテーパ状の断面形
状を有するテーパ状位置決め孔1aを複数(図2は、2
個の例)開口し、角錐コレット2に対し機械的に位置決
めされた突上げ用ピン4をリードフレーム1の下面側よ
り各々のテーパ状位置決め孔1aに向けて突き上げると
ともに、フリップチップ3をリードフレーム1に圧着す
る。
【0027】本発明の実施形態2によれば、実施形態1
の効果に加えて、突上げ用ピン4を突き上げる際にリー
ドフレーム1に加わる応力を分散することにより、リー
ドフレーム1の変形を防止することができるという利点
を有している。
【0028】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、フ
リップチップに対するリードフレームの位置を矯正し、
位置ずれを低減することができ、リードフレームとバン
プの接触不具合の発生を防止することができる。
【0029】その理由は、コレットに対し機械的に位置
決めされたテーパ状の先端形状を有する突上げ用ピンを
リードフレームのテーパ状位置決め孔に突き上げるとと
もに、フリップチップをリードフレームに圧着するため
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1を工程順に示す断面図であ
る。
【図2】本発明の実施形態2を示す断面図である。
【図3】従来の位置決め方法を示す断面図である。
【図4】従来の位置決め方法を示す断面図である。
【符号の説明】
1 リードフレーム 1a リードフレームの位置決め孔 2 角錐コレット 3 フリップチップ 4 突上げ用ピン 5 リード押さえ 6 バンプ

Claims (4)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ピン突上げ工程と、圧着工程とを有する
    半導体装置の製造方法であって、 ピン突上げ工程は、フリップチップを吸着したコレット
    と突上げ用ピンとを位置決めした後、前記フリップチッ
    プの下方に定着されたリードフレームの位置決め孔に前
    記ピンを突上げて、前記リードフレームの微小な位置ず
    れを矯正する処理を行うものであり、 圧着工程は、前記ピンによる突上げ過程にて前記コレッ
    トにより前記フリップチップをリードフレームに圧着す
    る処理を行うものであることを特徴とする半導体装置の
    製造方法。
  2. 【請求項2】 前記コレットは、内形が角型の凹部内に
    前記フリップチップを受け入れて真空吸着するものであ
    ることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置の製造
    方法。
  3. 【請求項3】 前記リードフレームの位置決め孔と前記
    ピンの先端とをテーパ状に形成し、その両者の嵌合によ
    って微小な位置ずれを矯正するものであることを特徴と
    する請求項1に記載の半導体装置の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記リードフレームに前記位置決め孔を
    複数設け、各位置決め孔にピンを突き上げて微小な位置
    ずれを矯正するものであることを特徴とする請求項1又
    は3に記載の半導体装置の製造方法。
JP23602197A 1997-09-01 1997-09-01 半導体装置の製造方法 Expired - Fee Related JP2970616B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23602197A JP2970616B2 (ja) 1997-09-01 1997-09-01 半導体装置の製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23602197A JP2970616B2 (ja) 1997-09-01 1997-09-01 半導体装置の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1187588A JPH1187588A (ja) 1999-03-30
JP2970616B2 true JP2970616B2 (ja) 1999-11-02

Family

ID=16994599

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23602197A Expired - Fee Related JP2970616B2 (ja) 1997-09-01 1997-09-01 半導体装置の製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2970616B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7767052B2 (en) * 2006-12-18 2010-08-03 The Goodyear Tire & Rubber Company Method of assembling an electronic device into a tire
US7914058B2 (en) * 2006-12-18 2011-03-29 The Goodyear Tire & Rubber Company Picking apparatus for an electronic device
DE102009025794B4 (de) * 2009-05-13 2021-05-12 Continental Reifen Deutschland Gmbh Vorrichtung zur Montage von Reifenmodulen auf einen Fahrzeugreifen
CN104508772B (zh) 2012-08-07 2017-09-01 株式会社村田制作所 层叠陶瓷电容器以及层叠陶瓷电容器的制造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH1187588A (ja) 1999-03-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9627347B2 (en) Method of manufacturing semiconductor device and semiconductor device manufacturing apparatus
US8136238B2 (en) Methods for manufacturing semiconductor devices
JP2970616B2 (ja) 半導体装置の製造方法
US5456003A (en) Method for packaging a semiconductor device having projected electrodes
JPH0997816A (ja) 半導体装置の実装方法および実装構造
JPH11340277A (ja) 半導体チップ搭載基板、半導体装置及び前記半導体チップ搭載基板への半導体チップ搭載方法
US7157308B2 (en) Circuit substrates, semiconductor devices, semiconductor manufacturing apparatus methods for manufacturing circuit substrates, and methods for manufacturing semiconductor devices
JP3314663B2 (ja) チップのボンディング装置
JP3075398B2 (ja) 超音波ボンディング用コレットおよびボンディング方法
JP3384762B2 (ja) 半導体装置の製造方法
JP2842852B2 (ja) Tab用インナーリードのボンディング方法
JP3058409B2 (ja) 半導体チップの実装方法および実装構造
JPH03228339A (ja) ボンディングツール
JP2780407B2 (ja) Tabインナーリードのバンプ形成用ポンチ
JP2000022031A (ja) 導電性ボールの実装方法
JP2949872B2 (ja) 電子部品接合装置
JP3131246B2 (ja) バンプを有するベアチップの実装方法
JP2001015557A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JP3117825B2 (ja) バンプ配列用基板
JPS5844593Y2 (ja) ビ−ム・リ−ド型半導体装置
JPH04324948A (ja) ボンディング方法
JPH09136282A (ja) 電子部品吸着ノズル
JPS6396932A (ja) フイルムキヤリアのボンデイングステ−ジ
JPH03214747A (ja) Tabインナーリードのバンプ形成装置
JPH02180039A (ja) フィルムキャリアデバイスの接続方法

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070827

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080827

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080827

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090827

Year of fee payment: 10

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees