JP2954745B2 - 空隙率測定装置および測定方法 - Google Patents
空隙率測定装置および測定方法Info
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- JP2954745B2 JP2954745B2 JP15793591A JP15793591A JP2954745B2 JP 2954745 B2 JP2954745 B2 JP 2954745B2 JP 15793591 A JP15793591 A JP 15793591A JP 15793591 A JP15793591 A JP 15793591A JP 2954745 B2 JP2954745 B2 JP 2954745B2
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、記録用紙の空隙率測定
装置および測定方法に関する。紙は連続的な多孔構造の
ため、液体を吸収し、気体を透過するという性質を有す
る。このような特性を最も利用した紙としては、濾紙，
吸取紙，記録用紙などが挙げられ、どのような紙でも大
なり小なりこの特性を利用している。例えば、現代の印
刷方式は大部分がこの多孔構造を利用した方式である。
特に、記録用紙は多孔構造を利用するため、この多孔構
造を定量的に求めることが、記録用紙の品質管理上必要
である。
装置および測定方法に関する。紙は連続的な多孔構造の
ため、液体を吸収し、気体を透過するという性質を有す
る。このような特性を最も利用した紙としては、濾紙，
吸取紙，記録用紙などが挙げられ、どのような紙でも大
なり小なりこの特性を利用している。例えば、現代の印
刷方式は大部分がこの多孔構造を利用した方式である。
特に、記録用紙は多孔構造を利用するため、この多孔構
造を定量的に求めることが、記録用紙の品質管理上必要
である。
【０００２】
【従来の技術および発明が解決しようとする課題】記録
用紙は多孔構造を有している。レーザプリンタによる印
字の写真を例に挙げると、図３に示すように、球形のト
ナー（着色樹脂粉）が紙の孔の部分にのるように印字が
形成されている。また、紙はミクロ的に見ると毛細管構
造を取っており、用紙中で気孔が均一に分布していると
して平均的な毛細管径を測定し、管理を行ってきた。と
ころが、この測定方法は空気を送るなど圧力を加え測定
するため、毛細管径が圧力によって異なるなどの問題点
が生じる。また、図３からわかるように、用紙上で気孔
は決して均一に分布していない。そのため、このような
平均的な毛細管径も実際の値と違ってくることが予想で
きる。したがって、従来の測定方法は気孔が均一に分布
していると仮定し、測定する場合に接触法を用いること
から、正確に空隙率を測定することができなかった。
用紙は多孔構造を有している。レーザプリンタによる印
字の写真を例に挙げると、図３に示すように、球形のト
ナー（着色樹脂粉）が紙の孔の部分にのるように印字が
形成されている。また、紙はミクロ的に見ると毛細管構
造を取っており、用紙中で気孔が均一に分布していると
して平均的な毛細管径を測定し、管理を行ってきた。と
ころが、この測定方法は空気を送るなど圧力を加え測定
するため、毛細管径が圧力によって異なるなどの問題点
が生じる。また、図３からわかるように、用紙上で気孔
は決して均一に分布していない。そのため、このような
平均的な毛細管径も実際の値と違ってくることが予想で
きる。したがって、従来の測定方法は気孔が均一に分布
していると仮定し、測定する場合に接触法を用いること
から、正確に空隙率を測定することができなかった。
【０００３】その結果、記録用紙の品質管理を精度よく
行うことができないという問題点があった。本発明は、
このような従来の問題点に鑑みてなされたものであっ
て、記録用紙の品質管理を向上させることができる空隙
率固定装置および測定方法を提供することを目的とす
る。
行うことができないという問題点があった。本発明は、
このような従来の問題点に鑑みてなされたものであっ
て、記録用紙の品質管理を向上させることができる空隙
率固定装置および測定方法を提供することを目的とす
る。
【０００４】
【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理説明
図である。図１において、１３はテーブル１上に配置し
た記録用紙２に対してＸ線４を発生する発生源３とＸ線
４の強度を検出する検出センサ５を有する透過率測定装
置、７は前記記録用紙２の厚さを検出する厚さ検出手
段、１０は求めた透過率と厚さにより嵩密度を演算し嵩
密度と別途求めた真密度により空隙率を演算する演算手
段である。
図である。図１において、１３はテーブル１上に配置し
た記録用紙２に対してＸ線４を発生する発生源３とＸ線
４の強度を検出する検出センサ５を有する透過率測定装
置、７は前記記録用紙２の厚さを検出する厚さ検出手
段、１０は求めた透過率と厚さにより嵩密度を演算し嵩
密度と別途求めた真密度により空隙率を演算する演算手
段である。
【０００５】
【作用】テーブル上に配置した記録用紙に対してＸ線を
照射する。このとき、Ｘ線は直進し、その透過率は、ラ
ンバートベールの法則に従う。透過率はＸ線の強度を検
出する検出センサにより読み取ることができ、また、記
録用紙の厚さは厚さ検出手段により検出される。
照射する。このとき、Ｘ線は直進し、その透過率は、ラ
ンバートベールの法則に従う。透過率はＸ線の強度を検
出する検出センサにより読み取ることができ、また、記
録用紙の厚さは厚さ検出手段により検出される。
【０００６】求めた透過率と厚さにより、所定の関係式
から嵩密度を演算して求めることができる。求めた嵩密
度と、別途求めた真密度により、所定の関係式から空隙
率を演算して求めることができる。このように、気孔が
均一に分布していると仮定することなく、また、接触方
式を用いることなく、非接触方式を用いるので、空隙率
を正確に求めることができる。
から嵩密度を演算して求めることができる。求めた嵩密
度と、別途求めた真密度により、所定の関係式から空隙
率を演算して求めることができる。このように、気孔が
均一に分布していると仮定することなく、また、接触方
式を用いることなく、非接触方式を用いるので、空隙率
を正確に求めることができる。
【０００７】その結果、記録用紙の品質管理を精度良く
行うことができる。
行うことができる。
【０００８】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２は本発明の一実施例を示す図である。図２に
おいて、１はテーブルであり、テーブル１上には静電力
で記録用紙２が付着してセットされる。３はＸ線発生源
（発生源）であり、Ｘ線発生源３はＸ線４を記録用紙２
に対して照射する。
する。図２は本発明の一実施例を示す図である。図２に
おいて、１はテーブルであり、テーブル１上には静電力
で記録用紙２が付着してセットされる。３はＸ線発生源
（発生源）であり、Ｘ線発生源３はＸ線４を記録用紙２
に対して照射する。
【０００９】５はＸ線検出センサ（検出センサ）であ
り、Ｘ線検出センサ５はＸ線強度を検出する。Ｘ線検出
センサ５の出力は検出計６に入力し、透過率が検出され
る。本実施例においては、Ｘ線４を用いる例について説
明したが、これに限定されるものではなく、Ｘ線４の代
りにβ線を用いても良い。 ７は厚さ検出手段としてのレーザ変位計であり、レーザ
変位計７は非接触で記録用紙２の厚さを検出する。な
お、レーザ変位計７の代りに接触方式のデジタルマイク
ロメータを用いて、記録用紙２の厚さを測定するように
しても良い。
り、Ｘ線検出センサ５はＸ線強度を検出する。Ｘ線検出
センサ５の出力は検出計６に入力し、透過率が検出され
る。本実施例においては、Ｘ線４を用いる例について説
明したが、これに限定されるものではなく、Ｘ線４の代
りにβ線を用いても良い。 ７は厚さ検出手段としてのレーザ変位計であり、レーザ
変位計７は非接触で記録用紙２の厚さを検出する。な
お、レーザ変位計７の代りに接触方式のデジタルマイク
ロメータを用いて、記録用紙２の厚さを測定するように
しても良い。
【００１０】レーザ変位計７の出力は検出計８に入力
し、Ａ／Ｄ変換器９でデジタル値に変換された後に、Ｍ
ＰＵ（演算手段）１０に入力する。また、Ｘ線検出セン
サ５の出力も検出計６およびＡ／Ｄ変換器９を経てＭＰ
Ｕ１０に入力する。 １１はメモリであり、メモリ１１には、吸光係数や別途
求めた真密度などの定数と、嵩密度、空隙率を求める関
係式が予め格納されている。
し、Ａ／Ｄ変換器９でデジタル値に変換された後に、Ｍ
ＰＵ（演算手段）１０に入力する。また、Ｘ線検出セン
サ５の出力も検出計６およびＡ／Ｄ変換器９を経てＭＰ
Ｕ１０に入力する。 １１はメモリであり、メモリ１１には、吸光係数や別途
求めた真密度などの定数と、嵩密度、空隙率を求める関
係式が予め格納されている。
【００１１】ＭＰＵ１０は透過率と厚さにより、嵩密度
を演算し、嵩密度と別途求めた真密度により空隙率を演
算する。求めた空隙率は、表示装置１２に表示される。
なお、１３は透過率測定装置を示す。次に、空隙率を測
定する測定方法を説明する。Ｘ線検出センサ５が設置し
てあるテーブル１に静電力により記録用紙２をセットす
る。次に、Ｘ線４を被測定物である記録用紙２に照射す
る。このとき、Ｘ線４は直進し、その透過率はランバー
トベールの法則に従う。 ｌｎ（Ｉｔ／Ｉｏ）＝−ＫρＬ （１） ここで、ｌｎ（Ｉｔ／Ｉｏ）は透過率であり、これはテ
ーブル１に設置したＸ線強度を検出するＸ線検出センサ
により読み取ることができる。なお、ＩｔはＸ線入射前
強度、ＩｏはＸ線入射後強度である。また、Ｋは吸光係
数であり、物質によって定まる係数である。ρは記録用
紙２の密度で未知数である。Ｌは記録用紙２の厚さであ
り、レーザ変位計７により求めることができる。つま
り、記録用紙２の密度あるいは厚さはＸ線４の透過率に
対して比例関係にある。（１）式により厚さＬが求める
と嵩密度ρがわかり、逆に、嵩密度ρがわかると厚さＬ
を求めることができる。また、空隙率ε，真密度ρp と
嵩密度ρには（２）式の関係がある。 ε＝１−（ρ／ρp ） （２） ここで、ρp はオートピクノメータで求めることがで
き、記録用紙２によってきまる物性値である。そこで
（１）により嵩密度ρがわかるので、（２）式より非接
触で空隙率εを求めることができる。
を演算し、嵩密度と別途求めた真密度により空隙率を演
算する。求めた空隙率は、表示装置１２に表示される。
なお、１３は透過率測定装置を示す。次に、空隙率を測
定する測定方法を説明する。Ｘ線検出センサ５が設置し
てあるテーブル１に静電力により記録用紙２をセットす
る。次に、Ｘ線４を被測定物である記録用紙２に照射す
る。このとき、Ｘ線４は直進し、その透過率はランバー
トベールの法則に従う。 ｌｎ（Ｉｔ／Ｉｏ）＝−ＫρＬ （１） ここで、ｌｎ（Ｉｔ／Ｉｏ）は透過率であり、これはテ
ーブル１に設置したＸ線強度を検出するＸ線検出センサ
により読み取ることができる。なお、ＩｔはＸ線入射前
強度、ＩｏはＸ線入射後強度である。また、Ｋは吸光係
数であり、物質によって定まる係数である。ρは記録用
紙２の密度で未知数である。Ｌは記録用紙２の厚さであ
り、レーザ変位計７により求めることができる。つま
り、記録用紙２の密度あるいは厚さはＸ線４の透過率に
対して比例関係にある。（１）式により厚さＬが求める
と嵩密度ρがわかり、逆に、嵩密度ρがわかると厚さＬ
を求めることができる。また、空隙率ε，真密度ρp と
嵩密度ρには（２）式の関係がある。 ε＝１−（ρ／ρp ） （２） ここで、ρp はオートピクノメータで求めることがで
き、記録用紙２によってきまる物性値である。そこで
（１）により嵩密度ρがわかるので、（２）式より非接
触で空隙率εを求めることができる。
【００１２】このように、記録用紙２に気孔が均一に分
布していると仮定することなく、また、非接触方式を用
いるので、記録用紙２の空隙率およびその分布を正確に
求めることができる。その結果、記録用紙２の品質管理
を精度よく行うことができる。
布していると仮定することなく、また、非接触方式を用
いるので、記録用紙２の空隙率およびその分布を正確に
求めることができる。その結果、記録用紙２の品質管理
を精度よく行うことができる。
【００１３】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、記録用紙の透過率と厚さを非接触で求め、これによ
り、嵩密度を求め、嵩密度と別途求めた真密度により、
空隙率を正確に求めることができる。その結果、記録用
紙の品質管理を精度良く行うことができる。
ば、記録用紙の透過率と厚さを非接触で求め、これによ
り、嵩密度を求め、嵩密度と別途求めた真密度により、
空隙率を正確に求めることができる。その結果、記録用
紙の品質管理を精度良く行うことができる。
【図１】本発明の原理説明図
【図２】本発明の一実施例を示す図
【図３】記録用紙の毛細管構造を示す図
１：テーブル ２：記録用紙 ３：Ｘ線発生源（発生源） ４：Ｘ線 ５：Ｘ線検出センサ（検出センサ） ６，８：検出計 ７：レーザ変位計（厚さ検出手段） ９：Ａ／Ｄ変換器 １０：ＭＰＵ（演算手段） １１：メモリ １２：表示装置 １３：透過率測定装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 9/00 - 9/36
Claims (3)
- 【請求項１】テーブル（１）上に配置した記録用紙
（２）に対してＸ線（４）を発生する発生源（３）とＸ
線（４）の強度を検出する検出センサ（５）を有する透
過率測定装置（１３）と、前記記録用紙（２）の厚さを
検出する厚さ検出手段（７）と、求めた透過率と厚さに
より嵩密度を演算し嵩密度と別途求めた真密度により空
隙率を演算する演算手段（１０）を備えたことを特徴と
する空隙率測定装置。 - 【請求項２】請求項１記載の空隙率測定装置において、
前記Ｘ線（４）の代りにβ線を用いたことを特徴とする
空隙率測定装置。 - 【請求項３】前記透過率測定装置（１３）を用いて記録
用紙（２）の透過率を測定するとともに、記録用紙
（２）の厚さを検出し、求めた透過率と厚さにより嵩密
度を演算し、別途真密度を求めて、嵩密度と真密度によ
り空隙率を演算することを特徴とする空隙率測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15793591A JP2954745B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 空隙率測定装置および測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15793591A JP2954745B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 空隙率測定装置および測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH055690A JPH055690A (ja) | 1993-01-14 |
| JP2954745B2 true JP2954745B2 (ja) | 1999-09-27 |
Family
ID=15660699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15793591A Expired - Fee Related JP2954745B2 (ja) | 1991-06-28 | 1991-06-28 | 空隙率測定装置および測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2954745B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ES2247933B1 (es) * | 2004-07-15 | 2007-05-16 | Asociacion De Investigacion De Las Industrias Ceramicas A.I.C.E. | Metodo y aparato no destructivo para la medida de la densidad en baldosas ceramicas. |
| JP4582319B2 (ja) * | 2005-03-10 | 2010-11-17 | セイコーエプソン株式会社 | 印刷方法決定装置、印刷装置、および印刷方法の決定方法 |
| JP4577503B2 (ja) * | 2005-03-14 | 2010-11-10 | セイコーエプソン株式会社 | 印刷方法決定装置、印刷装置、および印刷方法の決定方法 |
-
1991
- 1991-06-28 JP JP15793591A patent/JP2954745B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH055690A (ja) | 1993-01-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990622 |
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