JP2929719B2 - Measurement device for parts position - Google Patents

Measurement device for parts position

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JP2929719B2
JP2929719B2 JP2413487A JP41348790A JP2929719B2 JP 2929719 B2 JP2929719 B2 JP 2929719B2 JP 2413487 A JP2413487 A JP 2413487A JP 41348790 A JP41348790 A JP 41348790A JP 2929719 B2 JP2929719 B2 JP 2929719B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、複数のピンを有する
ICのような電子部品を、例えばプリント基板上の適正
位置に実装するのに適用される技術に関連し、殊にこの
発明は、例えばチップマウンタで保持された電子部品の
保持位置や姿勢を計測するのに好適な部品位置等計測装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique applied to mounting an electronic component such as an IC having a plurality of pins at an appropriate position on a printed circuit board, for example. For example, the present invention relates to a component position and other measuring device suitable for measuring the holding position and posture of an electronic component held by a chip mounter.

【0002】[0002]

【従来の技術】例えばQFPのようなIC(以下、単に
「IC」という)をチップマウンタによりプリント基板
上に実装する場合に、ICの各ピンがプリント基板の対
応するパターン上に正しく位置するようICを実装する
必要がある。そこでチップマウンタがICを摘み上げた
とき、その保持位置や姿勢が適正であるか否かを判別
し、その判別結果に応じてICの保持姿勢や実装位置を
補正して、ICのプリント基板上への実装を行ってい
る。
2. Description of the Related Art When an IC such as a QFP (hereinafter simply referred to as "IC") is mounted on a printed circuit board by a chip mounter, each pin of the IC is correctly positioned on a corresponding pattern on the printed circuit board. It is necessary to mount an IC. Therefore, when the chip mounter picks up the IC, it determines whether or not the holding position and posture are appropriate, and corrects the holding posture and mounting position of the IC according to the result of the determination, and corrects the IC on the printed circuit board. Has been implemented.

【0003】この種の位置・姿勢の判別には、従来より
画像処理装置が用いられ、チップマウンタで保持した状
態のICを所定の観測位置でカメラで撮像し、その入力
画像を画像処理装置に取り込んで2値化処理した後、そ
の2値画像から重心や回転角の演算を実行して位置ずれ
状態を計測し、その計測結果を用いて前記の補正処理を
行っている。
Conventionally, an image processing apparatus has been used for this type of position / posture determination. An IC held by a chip mounter is imaged by a camera at a predetermined observation position, and the input image is sent to the image processing apparatus. After capturing and binarizing the image, the center of gravity and the rotation angle are calculated from the binary image to measure the position shift state, and the above correction processing is performed using the measurement result.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記の方
法の場合、重心や回転角の演算をソフト処理で行えば、
部品位置や姿勢の計測に時間がかかり、またハード処理
で行えば、ハード構成が複雑となってコスト高となる。
またICは、ピンの寸法管理は適正に行われているが、
パッケージ部の外形は寸法精度が悪いため、前記の重心
や回転角の計測精度が低下するという問題もある。
However, in the case of the above method, if the calculation of the center of gravity and the rotation angle is performed by software processing,
It takes time to measure the position and orientation of the component, and if hardware processing is performed, the hardware configuration becomes complicated and the cost increases.
In the IC, the dimensions of the pins are properly controlled.
Since the outer shape of the package portion has poor dimensional accuracy, there is a problem that the measurement accuracy of the center of gravity and the rotation angle is reduced.

【0005】この発明は、上記問題に着目してなされた
もので、簡単な回路構成をもって部品位置や姿勢を高速
に計測でき、しかもパッケージの外形寸法の精度に影響
されずに高精度に部品位置や姿勢を計測できる部品位置
等計測装置を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and can measure the position and orientation of a component at a high speed with a simple circuit configuration, and at a high precision without being affected by the accuracy of the external dimensions of the package. It is an object of the present invention to provide a measuring device for measuring the position and the like of a part capable of measuring the position and orientation of the part.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】この発明は、複数のピン
を有する部品を撮像してその入力画像より部品位置や姿
勢を計測する部品位置等計測装置であって、前記入力画
像を2値化処理して2値画像を生成する手段と、前記2
値画像を一定方向に走査して任意のピンの先端位置を検
出した後、その先端位置からそのピンの先端部の重心位
置を計測し、その重心位置を基準として順次隣りのピン
の先端部の重心位置を計測してゆく手段とを具備させて
いる。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention relates to a component position measuring device for capturing a component having a plurality of pins and measuring a component position and orientation from an input image of the component. Means for processing to generate a binary image;
After scanning the value image in a fixed direction and detecting the tip position of an arbitrary pin, the center of gravity of the tip of the pin is measured from the tip position, and the tip of the adjacent pin is sequentially determined based on the center of gravity position. Means for measuring the position of the center of gravity.

【0007】[0007]

【作用】2値画像を走査して検出された任意のピンの先
端位置から各ピンの先端部の重心位置を順次計測してゆ
くので、各ピンの先端部の重心位置から部品の2値画像
の重心や回転角を容易に計測できる。またパッケージ部
の外形の寸法精度の影響や量子化誤差の影響を受けない
ので、重心や回転角の計測精度が向上する。しかも各ピ
ンの先端部の重心間の距離からピン間のピッチの良否を
判別できる。
Since the position of the center of gravity of each pin is sequentially measured from the position of the end of an arbitrary pin detected by scanning the binary image, the binary image of the component is obtained from the position of the center of gravity of each pin. The center of gravity and the rotation angle of can be easily measured. In addition, the measurement accuracy of the center of gravity and the rotation angle is improved because the measurement is not affected by the dimensional accuracy of the outer shape of the package portion or the quantization error. Moreover, the quality of the pitch between the pins can be determined based on the distance between the centers of gravity of the tips of the pins.

【0008】[0008]

【実施例】図1は、この発明の一実施例にかかる部品位
置等計測装置1の実施状況を示している。図中、2はI
Cであって、矩形状をなすパッケージ部3の外周に沿っ
て複数のピン4が突設している。IC2はトレー5上に
位置し、チップマウンタの吸着部6がトレー5からIC
2を吸い上げてプリント基板7の位置へ搬送し、プリン
ト基板7上の所定位置に実装する。
FIG. 1 shows an embodiment of an apparatus for measuring the position of parts 1 according to an embodiment of the present invention. In the figure, 2 is I
C, a plurality of pins 4 protrude along the outer periphery of the rectangular package portion 3. The IC 2 is located on the tray 5 and the suction portion 6 of the chip mounter
2 is sucked up, transported to the position of the printed circuit board 7, and mounted at a predetermined position on the printed circuit board 7.

【0009】IC2の搬送途中に観測位置が設定され、
その観測位置に部品位置等計測装置1を設置して吸着部
6によるIC2の保持位置や姿勢が適正か否かを検査す
る。もし保持姿勢が傾いていれば、その回転角の傾きだ
け吸着部6を矢印aで示す方向へ回動して保持姿勢を補
正し、またもし保持位置が基準位置から位置ずれしてい
れば、その位置ずれ量だけプリント基板7への実装位置
が補正される。
An observation position is set during the transportation of the IC2,
The measuring device 1 such as a component position is installed at the observation position, and it is inspected whether the holding position and the posture of the IC 2 by the suction unit 6 are appropriate. If the holding posture is inclined, the suction unit 6 is rotated in the direction shown by the arrow a by the inclination of the rotation angle to correct the holding posture, and if the holding position is displaced from the reference position, The mounting position on the printed circuit board 7 is corrected by the positional shift amount.

【0010】部品位置等計測装置1は、カメラ9と画像
処理装置10とで構成され、カメラ9は観測位置の下方
に配置してIC2を下面より撮像する。なお図示してい
ないが、観測位置の上方または下方に照明装置を配備し
て、透過照明または反射照明を施すことは勿論である。
The measuring device 1 for measuring the component position and the like is constituted by a camera 9 and an image processing device 10. The camera 9 is arranged below the observation position and images the IC 2 from below. Although not shown, it is a matter of course that an illumination device is provided above or below the observation position to perform transmission illumination or reflection illumination.

【0011】図2に前記画像処理装置10の回路構成が
例示してある。画像入力部11はカメラ9からアナログ
量の画像信号を入力して2値化処理し、その2値画像を
画像メモリ12へ出力する。画像メモリ12は入力した
2値画像の画像データを1画素単位で格納する。文字メ
モリ16はビデオモニタ14に表示する文字についての
フォントデータを格納する。画像出力部13は画像メモ
リ12および文字メモリ16から出力された画像データ
をアナログ量の信号に変換し1画面分の画像信号をビデ
オモニタ14へ送出する。ビデオモニタ14は画像出力
部13からの画像信号により入力画像や演算結果などを
表示する。
FIG. 2 exemplifies a circuit configuration of the image processing apparatus 10. The image input unit 11 receives an analog image signal from the camera 9, binarizes the image signal, and outputs the binary image to the image memory 12. The image memory 12 stores the input image data of the binary image in units of one pixel. The character memory 16 stores font data for characters to be displayed on the video monitor 14. The image output unit 13 converts the image data output from the image memory 12 and the character memory 16 into a signal of an analog amount, and sends an image signal for one screen to the video monitor 14. The video monitor 14 displays an input image, a calculation result, and the like based on an image signal from the image output unit 13.

【0012】画像メモリ12および文字メモリ16はア
ドレス/データバス17に接続され、またこのアドレス
/データバス17にはCPU18,ROM19,RAM
20,I/Oポート21が接続されてマイクロコンピュ
ータが構成されている。このマイクロコンピュータで
は、CPU18がROM19に格納されたプログラムを
解読実行し、RAM20に対するデータの読み書きを行
いつつ、IC2の保持位置や保持姿勢を計測するなど、
各種の画像処理を実行する。タイミング制御部15は、
CPU18と連動して、画像入力部11,画像メモリ1
2,画像出力部13,文字メモリ16におけるデータの
入出力を制御するためのタイミング信号を出力する。
The image memory 12 and the character memory 16 are connected to an address / data bus 17, and the address / data bus 17 has a CPU 18, a ROM 19, and a RAM.
20 and the I / O port 21 are connected to form a microcomputer. In this microcomputer, the CPU 18 decodes and executes a program stored in a ROM 19, reads and writes data from and to a RAM 20, and measures a holding position and a holding posture of the IC 2, for example.
Execute various image processing. The timing control unit 15
The image input unit 11 and the image memory 1 are linked with the CPU 18.
2. It outputs a timing signal for controlling the input and output of data in the image output unit 13 and the character memory 16.

【0013】図3は、画像メモリ12に格納されたIC
の2値画像22を示すもので、図中、斜線部分が例えば
黒画素、それ以外が白画素である。IC2の保持位置お
よび保持姿勢を計測するには、まず2値画像22を図
中、矢印bで示す方向へ走査することにより任意のピン
4aの先端位置P0(X0,Y0)の黒画素を検出した
後、 その先端位置P0からそのピン4aの先端部の重
心位置を以下に詳述する方法で計測し、その重心位置を
基準として順次隣りのピンの先端部の重心位置を計測し
てゆく。
FIG. 3 shows an IC stored in the image memory 12.
In the figure, a hatched portion is, for example, a black pixel, and other portions are white pixels. In order to measure the holding position and holding posture of the IC 2, first, the binary image 22 is scanned in a direction indicated by an arrow b in the figure to detect a black pixel at a tip position P 0 (X 0, Y 0) of an arbitrary pin 4 a. After that, the center of gravity of the tip of the pin 4a is measured from the tip position P0 by the method described in detail below, and the center of gravity of the tip of the adjacent pin is sequentially measured based on the center of gravity.

【0014】図4ないし図7は、各ピンの先端部の重心
位置を計測する方法を示し、図8および図9はこの計測
方法に基づく前記CPU18によるICの保持位置およ
び保持姿勢の計測手順を示している。以下、図3ないし
図7に示す具体例に基づき図8および図9の計測手順を
詳細に説明する。
FIGS. 4 to 7 show a method of measuring the position of the center of gravity of the tip of each pin. FIGS. 8 and 9 show the procedure for measuring the IC holding position and holding posture by the CPU 18 based on this measuring method. Is shown. Hereinafter, the measurement procedure of FIGS. 8 and 9 will be described in detail based on the specific examples shown in FIGS.

【0015】図8のステップA(図中、「STA」で示
す)では、図9の手順(ステップ1〜15)を順次実行
することにより、各ピンの先端部の重心位置を計測す
る。図9のステップ1において、CPU18はフラグF
を0にセットした後、つぎのステップ2で画像メモリ1
2に格納された2値画像22につき図3の矢印bで示す
方向へ走査してゆき、ステップ3で最初の黒画素を任意
のピン4aの先端位置P0として検出する。この先端位
置P0の座標を(X0,Y0)とし、RAM20へ記憶
する(ステップ4)。
In step A of FIG. 8 (indicated by "STA" in the figure), the position of the center of gravity of the tip of each pin is measured by sequentially executing the procedure of FIG. 9 (steps 1 to 15). In step 1 of FIG.
Is set to 0, and in the next step 2, the image memory 1
The binary image 22 stored in 2 is scanned in the direction indicated by the arrow b in FIG. 3, and in step 3, the first black pixel is detected as the tip position P0 of any pin 4a. The coordinates of the tip position P0 are set to (X0, Y0) and stored in the RAM 20 (step 4).

【0016】つぎのステップ5では、CPU18は図4
に示す如く前記先端位置P0を通るウィンドウW1を設
定し、そのウィンドウW1内に含まれる前記ピン4aの
先端部の重心位置G1を計測し、その座標(XG1,Y
G1)をRAM20に記憶させる(ステップ6)。
In the next step 5, the CPU 18
A window W1 passing through the front end position P0 is set as shown in FIG. 7, a center of gravity G1 of the front end of the pin 4a included in the window W1 is measured, and its coordinates (XG1, Y
G1) is stored in the RAM 20 (step 6).

【0017】つぎのステップ7では、図5で示す如く、
前記重心位置G1よりX軸の正方向へピンのピッチdだ
け移動した位置Q(XG1+d1,YG1)を求め、そ
の位置Qの画素が黒画素か否か、すなわちその画素がピ
ン構成画素か否かを判断する(ステップ8)。この例の
場合、その判定は「YES」であるから、ステップ9へ
進み、その位置QからY軸方向へ所定の距離d2だけ移
動した位置R(XG1+d1,YG1+d2)を求め、
その位置Rを通りかつピン4bの先端部を内部に含むウ
ィンドウW2を設定する。
In the next step 7, as shown in FIG.
A position Q (XG1 + d1, YG1) shifted by the pin pitch d in the positive direction of the X axis from the center of gravity position G1 is determined, and whether or not the pixel at the position Q is a black pixel, that is, whether or not the pixel is a pin constituent pixel Is determined (step 8). In the case of this example, since the determination is “YES”, the process proceeds to step 9 to obtain a position R (XG1 + d1, YG1 + d2) moved from the position Q by a predetermined distance d2 in the Y-axis direction.
A window W2 passing through the position R and including the tip of the pin 4b therein is set.

【0018】つぎのステップ10ではCPU18は、図
6に示す如く、前記ウィンドウW2内を矢印cで示す方
向へ走査してゆき、ステップ11で最初の黒画素をピン
4bの先端位置P1として検出する。この先端位置P1
の座標を(X1,Y1)とし、RAM20へ記憶する
(ステップ12)。
In the next step 10, as shown in FIG. 6, the CPU 18 scans the window W2 in the direction indicated by the arrow c, and in step 11, detects the first black pixel as the tip position P1 of the pin 4b. . This tip position P1
Are stored as (X1, Y1) in the RAM 20 (step 12).

【0019】しかる後、CPU18は図7に示す如く前
記先端位置P1を通るウィンドウW1を設定し、そのウ
ィンドウW1内に含まれる前記ピン4bの先端部の重心
位置G2を計測し、その座標(XG2,YG2)をRA
M20に記憶させる(ステップ5,6)。ついでこの重
心位置G2よりX軸方向へピンのピッチdだけ移動し、
前記と同様の手順を実行して、隣りのピンの先端部の重
心位置を順次計測してゆく。
Thereafter, the CPU 18 sets a window W1 passing through the front end position P1 as shown in FIG. 7, measures the center of gravity G2 of the front end of the pin 4b included in the window W1, and calculates the coordinates (XG2 , YG2) to RA
It is stored in M20 (steps 5 and 6). Then, it moves from the center of gravity position G2 in the X-axis direction by the pitch d of the pin,
By performing the same procedure as described above, the position of the center of gravity of the tip of the adjacent pin is sequentially measured.

【0020】この重心位置の追跡過程において、端ピン
の重心位置よりX軸の正方向へピンのピッチdだけ移動
させたとき、その移動位置の画素が白画素と判定される
ことになり、ステップ8からステップ13へ進み、CP
U18はフラグFが0か否かを判定する。この場合、そ
の判定は「YES」であるから、ステップ14へ進み、
CPU18はフラグFを1にセットして、最初の重心位
置G1よりX軸の負方向へピンのピッチdだけ移動した
位置を求め、上記と同様の手順を繰り返し実行して、上
記と反対方向に順次隣りのピンの先端位置の重心位置を
計測してゆく。
In the process of tracking the position of the center of gravity, when the end pin is moved by the pitch d of the pin in the positive direction of the X axis from the position of the center of gravity of the end pin, the pixel at the moved position is determined to be a white pixel. 8 to step 13
U18 determines whether the flag F is 0 or not. In this case, since the determination is "YES", the process proceeds to step S14.
The CPU 18 sets the flag F to 1, obtains a position shifted by the pin pitch d in the negative direction of the X-axis from the initial center-of-gravity position G1, and repeatedly executes the same procedure as described above in the opposite direction. The position of the center of gravity of the tip position of the adjacent pin is sequentially measured.

【0021】かくして反対方向への重心位置の追跡過程
において、端ピンの重心位置よりX軸の負方向へピンの
ピッチdだけ移動させたとき、その移動位置の画素が白
画素と判定されることになり、ステップ8からステップ
13へ進み、CPU18はフラグFが0か否かを判定す
る。この場合、その判定は「NO」となり、CPU18
は1辺についての各ピンの先端部の重心位置の計測処理
を完了させる。他の3辺についても同様にして各ピンの
先端部の重心位置を計測するもので、ここではその説明
を省略する。
Thus, in the process of tracking the position of the center of gravity in the opposite direction, when the center pin is moved from the center of gravity of the end pin by the pitch d of the pin in the negative direction of the X-axis, the pixel at the moved position is determined to be a white pixel. And the process proceeds from step 8 to step 13, where the CPU 18 determines whether or not the flag F is 0. In this case, the determination is “NO” and the CPU 18
Completes the process of measuring the position of the center of gravity of the tip of each pin for one side. The center of gravity of the tip of each pin is measured in the same manner for the other three sides, and the description is omitted here.

【0022】図8に戻って、ステップAで4辺について
の各ピンの先端部の重心位置が計測されると、ステップ
Bの判定が「YES」となり、CPU18は全てのピン
の先端部の重心位置の座標を用いてICの2値画像22
の重心位置の演算(ステップC)および回転角の演算
(ステップD)を実行する。
Returning to FIG. 8, when the positions of the centers of gravity of the tips of the four sides are measured in step A, the determination in step B becomes "YES", and the CPU 18 determines the centers of gravity of all the pins. IC binary image 22 using position coordinates
Of the center of gravity (step C) and the calculation of the rotation angle (step D).

【0023】この場合に重心位置および回転角の算出は
いかなる方法を用いてもよいが、ここでは、全てのピン
の先端部の重心位置の座標の平均値を2値画像22の重
心位置として求める。また上辺のピンの先端部の重心位
置の座標を平均して得た位置(XM1,YM1)と、下
辺のピンの先端部の重心位置の座標を平均して得た位置
(XM2,YM2)とを通る直線の方程式を求めて、そ
の傾きを2値画像22の回転角として求める。さらに隣
合うピンの先端部の重心位置間の距離を求めれば、各ピ
ンのピッチの良否を判別できる。
In this case, any method may be used to calculate the position of the center of gravity and the rotation angle. In this case, the average value of the coordinates of the positions of the centers of gravity of the tips of all the pins is obtained as the position of the center of gravity of the binary image 22. . A position (XM1, YM1) obtained by averaging the coordinates of the center of gravity of the tip of the upper pin, and a position (XM2, YM2) obtained by averaging the coordinates of the center of gravity of the tip of the lower pin. Is obtained, and its inclination is obtained as the rotation angle of the binary image 22. Furthermore, by determining the distance between the positions of the centers of gravity of the tips of adjacent pins, it is possible to determine the quality of the pitch of each pin.

【0024】[0024]

【発明の効果】この発明は上記の如く、複数のピンを有
する部品を撮像してその入力画像より部品位置や姿勢を
計測するのに、前記入力画像の2値画像を走査して任意
のピンの先端位置を検出した後、その先端位置からその
ピンの先端部の重心位置を計測し、その重心位置を基準
として順次隣りのピンの先端部の重心位置を計測してゆ
くようにしたから、各ピンの先端部の重心位置から部品
の位置や姿勢を容易に計測できる。また部品のパッケー
ジ部の外形の寸法精度の影響や量子化誤差の影響を受け
ないから、部品位置並びに姿勢の計測精度も向上する。
しかも各ピンの先端部の重心間の距離からピン間のピッ
チの良否を判別できるなど、発明目的を達成した顕著な
効果を奏する。
As described above, according to the present invention, when a component having a plurality of pins is imaged and the component position and orientation are measured from the input image, a binary image of the input image is scanned and an arbitrary pin is scanned. After detecting the tip position, the center of gravity of the tip of the pin is measured from the tip position, and the center of gravity of the tip of the adjacent pin is sequentially measured based on the center of gravity position. The position and orientation of the component can be easily measured from the position of the center of gravity of the tip of each pin. In addition, since there is no influence of the dimensional accuracy of the outer shape of the package part of the component or the influence of the quantization error, the measurement accuracy of the position and orientation of the component is also improved.
Moreover, the remarkable effect of attaining the object of the invention is achieved, for example, the quality of the pitch between the pins can be determined from the distance between the centers of gravity of the tips of the pins.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施例にかかる部品位置等計測装
置の実施状況を示す説明図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing an implementation state of a component position etc. measuring device according to an embodiment of the present invention.

【図2】画像処理装置の回路構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 2 is a block diagram illustrating a circuit configuration of the image processing apparatus.

【図3】部品の2値画像を示す説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram showing a binary image of a component.

【図4】ピンの先端部の重心位置の計測方法を示す説明
図である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a method of measuring the position of the center of gravity of the tip of the pin.

【図5】ピンの先端部の重心位置の計測方法を示す説明
図である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing a method of measuring the position of the center of gravity of the tip of the pin.

【図6】ピンの先端部の重心位置の計測方法を示す説明
図である。
FIG. 6 is an explanatory diagram showing a method of measuring the position of the center of gravity of the tip of the pin.

【図7】ピンの先端部の重心位置の計測方法を示す説明
図である。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a method of measuring the position of the center of gravity of the tip of the pin.

【図8】ICの保持位置および保持姿勢の計測手順を示
すフローチャートである。
FIG. 8 is a flowchart showing a procedure for measuring a holding position and a holding posture of an IC.

【図9】ピンの先端部の重心位置の計測手順を示すフロ
ーチャートである。
FIG. 9 is a flowchart showing a procedure for measuring the position of the center of gravity of the tip of the pin.

【符号の説明】 1 部品位置等計測装置 2 IC 9 カメラ 10 画像処理装置 11 画像入力部 18 CPU[Description of Signs] 1 Component position etc. measuring device 2 IC 9 Camera 10 Image processing device 11 Image input unit 18 CPU

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01B 11/00 - 11/30 H05K 13/04 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (58) Field surveyed (Int.Cl. 6 , DB name) G01B 11/00-11/30 H05K 13/04

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数のピンを有する部品を撮像してその
入力画像より部品位置や姿勢を計測する部品位置等計測
装置であって、前記入力画像を2値化処理して2値画像
を生成する手段と、前記2値画像を走査して任意のピン
の先端位置を検出した後、その先端位置からそのピンの
先端部の重心位置を計測し、その重心位置を基準として
順次隣りのピンの先端部の重心位置を計測してゆく手段
とを備えて成る部品位置等計測装置。
An apparatus for measuring a component position and orientation from an input image of a component having a plurality of pins by capturing an image of the component, wherein the input image is binarized to generate a binary image Means for scanning the binary image and detecting the tip position of an arbitrary pin, measuring the center of gravity of the tip of the pin from the tip position, and sequentially determining the center of gravity of the adjacent pin based on the center of gravity position. A part position measuring device comprising means for measuring the position of the center of gravity of the tip.
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