JP2929320B2 - 物品検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の目的】

【０００２】

【産業上の利用分野】本発明は、物品搬送部によって搬
送されている被検査物品に異物が混入ないし付着してい
るか否かを検査するための物品検査装置に関し、特に、
(i) 被検査物品を近赤外線中を通過せしめて得られた透
過光信号の低レベル状態を計数して被検査物品に混入な
いし付着した異物を計数し、計数結果が所定値を超えた
とき異物検出信号を発生することにより、不良の被検査
物品の除去あるいは被検査物品の不良率の算出などに利
用可能としてなる物品検査装置に関するものであり、ま
た(ii)(a) 被検査物品を近赤外線中を通過せしめて得ら
れた透過光信号の低レベル状態を計数して被検査物品に
混入ないし付着した異物を計数し、計数結果が所定値を
超えたとき異物検出信号を発生し、かつ(b) 被検査物品
の表面および裏面の少なくとも一方より得られた画像信
号からそれぞれ取出された三原色信号に基づき輝度信号
および相対色度信号の少なくとも一方を作成し、計数回
路に与えて輝度信号および相対色度信号の少なくとも一
方の高レベル状態を計数して被検査物品に混入ないしは
付着した異物を計数し、計数結果が所定値を超えたとき
異物検出信号を発生することにより、不良の被検査物品
の除去あるいは被検査物品の不良率の算出などに利用可
能としてなる物品検査装置に関するものであり、更には
(iii) (a) 被検査物品を近赤外線中を通過せしめて得ら
れた透過光信号の低レベル状態を計数して被検査物品に
混入ないし付着した異物を計数し、計数結果が所定値を
超えたとき異物検出信号を発生し、かつ(b) 被検査物品
の表面および裏面の少なくとも一方より得られた画像信
号からそれぞれ取出された三原色信号に基づき相対色度
信号を作成し、かつ三原色信号のうち最大のものに対応
する相対色度信号を除外した他の相対色度信号を所定の
割合で互いに加算して相対色度和信号を作成し、相対色
度和信号の高レベル状態を計数回路で計数して被検査物
品に混入ないし付着した異物の個数を計数し、計数結果
が所定値を超えたとき異物検出信号を発生することによ
り、不良の被検査物品の除去あるいは被検査物品の不良
率の算出などに利用可能としてなる物品検査装置に関す
るものである。

【０００３】

【従来の技術】従来、この種の物品検査装置としては、
物品搬送部によって搬送されている被検査物品（たとえ
ば海苔）の一面（すなわち表面）を物品撮像部によって
撮像して得た画像信号を処理することにより、被検査物
品の縁辺部などに生じた欠損を検出してその良否を判定
し、不良の被検査物品を物品搬送部に付設された不良物
品除去部で除去してなるものが提案されていた（特開昭
63-193042 参照）。

【０００４】

【解決すべき問題点】しかしながら、従来の物品検査装
置では、被検査物品の縁辺部などに生じた欠損のみを検
出してその良否を判定していたので、(i) 被検査物品の
内部に混入しもしくはその表面もしくは裏面に付着した
異物（被検査物品が海苔の場合、たとえば小エビ，網ク
ズあるいは藁クズなど）を検出することができない欠点
があり、ひいては(ii)異物の混入ないしは付着した不良
の被検査物品を除去できない欠点があり、また(iii) 異
物の混入ないしは付着に関する被検査物品の不良率を算
出できない欠点もあった。

【０００５】結果的に、従来の物品検査装置では、(iv)
被検査物品の品質を十分には改善できない欠点があり、
それ故(v) 仮にこれらの異物を確実に検出しようとすれ
ば、検査要員が肉眼によって直接に検出する以外に有効
な手立てがなかった。

【０００６】そこで、本発明は、これらの欠点を除去す
べく、(i) 被検査物品を近赤外線中を通過せしめて得ら
れた透過光信号の低レベル状態を計数して被検査物品に
混入ないし付着した異物を計数し、計数結果が所定値を
超えたとき異物検出信号を発生することにより、不良の
被検査物品の除去あるいは被検査物品の不良率の算出な
どに利用可能としてなる物品検査装置に関するものであ
り、また(ii)(a) 被検査物品を近赤外線中を通過せしめ
て得られた透過光信号の低レベル状態を計数して被検査
物品に混入ないし付着した異物を計数し、計数結果が所
定値を超えたとき異物検出信号を発生し、かつ(b) 被検
査物品の表面および裏面の少なくとも一方より得られた
画像信号からそれぞれ取出された三原色信号に基づき輝
度信号および相対色度信号の少なくとも一方を作成し、
計数回路に与えて輝度信号および相対色度信号の少なく
とも一方の高レベル状態を計数して被検査物品に混入な
いしは付着した異物を計数し、計数結果が所定値を超え
たとき異物検出信号を発生することにより、不良の被検
査物品の除去あるいは被検査物品の不良率の算出などに
利用可能としてなる物品検査装置に関するものであり、
更には(iii) (a) 被検査物品を近赤外線中を通過せしめ
て得られた透過光信号の低レベル状態を計数して被検査
物品に混入ないし付着した異物を計数し、計数結果が所
定値を超えたとき異物検出信号を発生し、かつ(b) 被検
査物品の表面および裏面の少なくとも一方より得られた
画像信号からそれぞれ取出された三原色信号に基づき相
対色度信号を作成し、かつ三原色信号のうち最大のもの
に対応する相対色度信号を除外した他の相対色度信号を
所定の割合で互いに加算して相対色度和信号を作成し、
相対色度和信号の高レベル状態を計数回路で計数して被
検査物品に混入ないし付着した異物の個数を計数し、計
数結果が所定値を超えたとき異物検出信号を発生するこ
とにより、不良の被検査物品の除去あるいは被検査物品
の不良率の算出などに利用可能としてなる物品検査装置
を提供せんとするものである。

【０００７】

【発明の構成】

【０００８】

【問題点の解決手段】

【０００９】本発明により提供される問題点の第１の解
決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検査
物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
することにより被検査物品に異物が付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第１の三原色信号
取出回路(41)と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(41)
から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号Ｙを
作成するための第１の輝度信号作成回路(42)と、 (c) 第１の輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか否
かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ高
レベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を出力するための第
１の比較回路(43)と、 (d) 第１の比較回路(43)の出力端に対して入力端が接続
されており、輝度比較信号Ｙ⁺ に含まれた高レベル状態
を計数することによって被検査物品の表面に付着した異
物を計数するための第１の計数回路(48)と、 (e) 第１の計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
されており、第１の計数回路(48)の計数結果が所定値を
超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
を示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第１の
異物検出信号発生回路(49)と、 (f) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第２の三原色信号
取出回路(141) と、 (g) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端に対して
入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(1
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号
Ｙを作成するための第２の輝度信号作成回路(142) と、 (h) 第２の輝度信号作成回路(142) の出力端に対して入
力端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか
否かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ
高レベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を出力するための
第２の比較回路(143) と、 (i) 第２の比較回路(143) の出力端に対して入力端が接
続されており、輝度比較信号Ｙ⁺ に含まれた高レベル状
態を計数することによって被検査物品の裏面に付着した
異物を計数するための第２の計数回路(148) と、 (j) 第２の計数回路(148) の出力端に対して入力端が接
続されており、第２の計数回路(148) の計数結果が所定
値を超えたとき被検査物品の裏面に異物が付着している
ことを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するための第
２の異物検出信号発生回路(149) と、 (k) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (l) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (m) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１０】本発明により提供される問題点の第２の解
決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検査
物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第１の三原色信号
取出回路(41)と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(41)
から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号加算
回路(44)と、 (c) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端と第１の三
原色信号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続
されており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号Ｘに
よって除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの相対
色度Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色度信
号Ｘ^* として出力するための第１の割算回路(45)と、 (d) 第１の割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否か
を判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときにの
み高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力する
ための第１の比較回路(46)と、 (e) 第１の比較回路(46)の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度比較信号Ｘ⁺ に含まれた高レベル
状態を計数することによって被検査物品の表面に付着し
た異物を計数するための第１の計数回路(48)と、 (f) 第１の計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
されており、第１の計数回路(48)の計数結果が所定値を
超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
を示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第１の
異物検出信号発生回路(49)と、 (g) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第２の三原色信号
取出回路(141) と、 (h) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端に対して
入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(1
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
加算回路(144) と、 (i) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端と第２の
三原色信号加算回路(144) の出力端とに対して入力端が
接続されており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号
Ｘによって除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの
相対色度Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色
度信号Ｘ^* として出力するための第２の割算回路(145)
と、 (j) 第２の割算回路(145) の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否
かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときに
のみ高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力す
るための第２の比較回路(146) と、 (k) 第２の比較回路(146) の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度比較信号Ｘ⁺ に含まれた高レベ
ル状態を計数することによって被検査物品の裏面に付着
した異物を計数するための第２の計数回路(148) と、 (l) 第２の計数回路(148) の出力端に対して入力端が接
続されており、第２の計数回路(148) の計数結果が所定
値を超えたとき被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するため
の第２の異物検出信号発生回路(149) と、 (m) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (n) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (o) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１１】本発明により提供される問題点の第３の解
決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検査
物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第１の三原色信号
取出回路(41)と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(41)
から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号Ｙを
作成するための第１の輝度信号作成回路(42)と、 (c) 第１の輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか否
かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ高
レベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を出力するための第
１の比較回路(43)と、 (d) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(41)
から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号加算
回路(44)と、 (e) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端と第１の三
原色信号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続
されており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号Ｘに
よって除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの相対
色度Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色度信
号Ｘ^* として出力するための第１の割算回路(45)と、 (f) 第１の割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否か
を判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときにの
み高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力する
ための第２の比較回路(46)と、 (g) 第１の比較回路(43)の出力端と第２の比較回路(46)
の出力端とに対して入力端が接続されており、輝度比較
信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とを組合わせて組合信
号Ｚとして出力してなる第１の信号組合回路(47)と、 (h) 第１の信号組合回路(47)の出力端に対して入力端が
接続されており、組合信号Ｚに含まれた高レベル状態を
計数することによって被検査物品の表面に付着した異物
を計数するための第１の計数回路(48)と、 (i) 第１の計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
されており、第１の計数回路(48)の計数結果が所定値を
超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
を示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第１の
異物検出信号発生回路(49)と、 (j) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第２の三原色信号
取出回路(141) と、 (k) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端に対して
入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(1
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号
Ｙを作成するための第２の輝度信号作成回路(142) と、 (l) 第２の輝度信号作成回路(142) の出力端に対して入
力端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか
否かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ
高レベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を出力するための
第３の比較回路(143) と、 (m) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端に対して
入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(1
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
加算回路(144) と、 (n) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端と第２の
三原色信号加算回路(144) の出力端とに対して入力端が
接続されており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号
Ｘによって除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの
相対色度Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色
度信号Ｘ^* として出力するための第２の割算回路(145)
と、 (o) 第２の割算回路(145) の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否
かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときに
のみ高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力す
るための第４の比較回路(146) と、 (p) 第３の比較回路(143) の出力端と第４の比較回路(1
46) の出力端とに対して入力端が接続されており、輝度
比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とを組合わせて組
合信号Ｚとして出力してなる第２の信号組合回路(147)
と、 (q) 第２の信号組合回路(147) の出力端に対して入力端
が接続されており、組合信号Ｚに含まれた高レベル状態
を計数することによって被検査物品に混入ないしは付着
した異物を計数するための第２の計数回路(148) と、 (r) 第２の計数回路(148) の出力端に対して入力端が接
続されており、第２の計数回路(148) の計数結果が所定
値を超えたとき被検査物品の裏面に異物が付着している
ことを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するための第
２の異物検出信号発生回路(149) と、 (s) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (t) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (u) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１２】本発明により提供される問題点の第４の解
決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検査
物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第１の
三原色信号取出回路(341) と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端に対して
入力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(3
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
して三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号
加算回路(342) と、 (c) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端および第
１の三原色信号加算回路(342) の出力端に対して入力端
が接続されており、第１の三原色信号取出回路(341) か
ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた２つを
第１の三原色信号加算回路(342) から与えられた三原色
和信号Ｘで除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R,
Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを算出して出力するための
第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁) と、 (d) 第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁) の出力端に対
して入力端が接続されており、第１の除算回路(344A₁,3
44B₁,344C₁) から与えられた三原色相対色度信号Ｘ_R ,
Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを所定の割合で互いに加算
して相対色度和信号Ｘ^**を出力するための第１の相対色
度和信号算出回路(343;344A₂,344B₂,344C₂;345A,345B,3
45C;346)と、 (e) 第１の相対色度和信号算出回路(343;344A₂,344B₂,3
44C₂;345A,345B,345C;346)の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたか
否かを判定して相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたと
きにのみ高レベル状態となる相対色度和比較信号Ｚを出
力するための第１の比較回路(347) と、 (f) 第１の比較回路(347) の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベ
ル状態を計数することによって被検査物品の表面に付着
した異物の個数を計数するための第１の計数回路(348)
と、 (g) 第１の計数回路(348) の出力端に対して入力端が接
続されており、第１の計数回路(348) の計数結果が所定
値を超えたとき被検査物品の表面に異物が付着している
ことを示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第
１の異物検出信号発生回路(349) と、 (h) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第２の
三原色信号取出回路(441) と、 (i) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端に対して
入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(4
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
加算回路(442) と、 (j) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端および第
２の三原色信号加算回路(442) の出力端に対して入力端
が接続されており、第２の三原色信号取出回路(441) か
ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた２つを
第２の三原色信号加算回路(442) から与えられた三原色
和信号Ｘで除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R,
Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを算出して出力するための
第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁) と、 (k) 第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁) の出力端に対
して入力端が接続されており、第２の除算回路(444A₁,4
44B₁,444C₁) から与えられた三原色相対色度信号Ｘ_R ,
Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを所定の割合で互いに加算
して相対色度和信号Ｘ^**を出力するための第２の相対色
度和信号算出回路(443;444A₂,444B₂,444C₂;445A,445B,4
45C;446)と、 (l) 第２の相対色度和信号算出回路(443;444A₂,444B₂,4
44C₂;445A,445B,445C;446)の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたか
否かを判定して相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたと
きにのみ高レベル状態となる相対色度和比較信号Ｚを出
力するための第２の比較回路(447) と、 (m) 第２の比較回路(447) の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベ
ル状態を計数することによって被検査物品の裏面に付着
した異物の個数を計数するための第２の計数回路(448)
と、 (n) 第２の計数回路(448) の出力端に対して入力端が接
続されており、第２の計数回路(448) の計数結果が所定
値を超えたとき被検査物品の裏面に異物が付着している
ことを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するための第
２の異物検出信号発生回路(449) と (o) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (p) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (q) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１３】本発明により提供される問題点の第５の解
決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検査
物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第１の
三原色信号取出回路(341) と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端に対して
入力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(3
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
して三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号
加算回路(342) と、 (c) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端および第
１の三原色信号加算回路(342) の出力端に対して入力端
が接続されており、第１の三原色信号取出回路(341) か
ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた１つを
第１の三原色信号加算回路(342) から与えられた三原色
和信号Ｘで除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R,
Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた１つを算出して相対色度信号Ｘ
^* として出力するための第１の除算回路(344A₁,344B₁,3
44C₁;344A₂,344B₂,344C₂;346) と、 (d) 第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;344A₂,344B₂,3
44C₂;346)の出力端に対して入力端が接続されており、
第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;344A₂,344B₂,344
C₂;346) から与えられた相対色度信号Ｘ^* が設定値を超
えたか否かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超え
たときにのみ高レベル状態となる相対色度比較信号を出
力するための第１の比較回路(347) と、 (e) 第１の比較回路(347) の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度比較信号に含まれた高レベル状
態を計数することによって被検査物品に混入ないし付着
した異物の個数を計数するための第１の計数回路(348)
と、 (f) 第１の計数回路(348) の出力端に対して入力端が接
続されており、第１の計数回路(348) の計数結果が所定
値を超えたとき被検査物品の表面に異物が付着している
ことを示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第
１の異物検出信号発生回路(349) と、 (g) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第２の
三原色信号取出回路(441) と、 (h) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端に対して
入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(4
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
加算回路(442) と、 (i) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端および第
２の三原色信号加算回路(442) の出力端に対して入力端
が接続されており、第２の三原色信号取出回路(441) か
ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた１つを
第２の三原色信号加算回路(442) から与えられた三原色
和信号Ｘで除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R,
Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた１つを算出して相対色度信号Ｘ
^* として出力するための第２の除算回路(444A₁,444B₁,4
44C₁;444A₂,444B₂,444C₂;446) と、 (j) 第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444B₂,4
44C₂;446)の出力端に対して入力端が接続されており、
第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444B₂,444
C₂;446) から与えられた相対色度信号Ｘ^* が設定値を超
えたか否かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超え
たときにのみ高レベル状態となる相対色度比較信号を出
力するための第２の比較回路(447) と、 (k) 第２の比較回路(447) の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度比較信号に含まれた高レベル状
態を計数することによって被検査物品の裏面に付着した
異物の個数を計数するための第２の計数回路(448) と、 (l) 第２の計数回路(448) の出力端に対して入力端が接
続されており、第２の計数回路(448) の計数結果が所定
値を超えたとき被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するため
の第２の異物検出信号発生回路(449) と (m) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (n) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (o) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１４】本発明により提供される問題点の第６の解
決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検査
物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第１の
三原色信号取出回路(341) と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端に対して
入力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(3
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
して三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号
加算回路(342) と、 (c) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端および第
１の三原色信号加算回路(342) の出力端に対して入力端
が接続されており、第１の三原色信号取出回路(341) か
ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを第１の三原色信号
加算回路(342) から与えられた三原色和信号Ｘで除する
ことによって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出
して出力するための第１の除算回路(344A₁,344B₁,344
C₁) と、 (d) 第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁) の出力端に対
して入力端が接続されており、第１の除算回路(344A₁,3
44B₁,344C₁) から与えられた三原色相対色度信号Ｘ_R ,
Ｘ_G ,Ｘ_B に対し所定の係数α,β, γを乗じて係数付三
原色相対色度信号αＸ_R ,βＸ_G ,γＸ_Bを算出して出力
するための第１の乗算回路(344A₂,344B₂,344C₂) と、 (e) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端に対して
入力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(3
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに比較
することにより最大のものに対応して０となる選択信号
ｇ_R ,ｇ_G ,ｇ_B を算出して出力するための第１の選択信
号発生回路(343) と、 (f) 第１の乗算回路(344A₂,344B₂,344C₂) の出力端およ
び第１の選択信号発生回路(343) の出力端に対して入力
端が接続されており、第１の選択信号発生回路(343) か
ら与えられた選択信号ｇ_R ,ｇ_G,ｇ_B と第１の乗算回路
(344A₂,344B₂,344C₂) から与えられた係数付三原色相対
色度信号αＸ_R ,βＸ_G ,γＸ_B との積を互いに加算して
相対色度和信号Ｘ^**を出力するための第１の相対色度和
信号算出回路(345A,345B,345C;346)と、 (g) 第１の相対色度和信号算出回路(345A,345B,345C;34
6)の出力端に対して入力端が接続されており、相対色度
和信号Ｘ^**が設定値を超えたか否かを判定して相対色度
和信号Ｘ^**が設定値を超えたときにのみ高レベル状態と
なる相対色度和比較信号Ｚを出力するための第１の比較
回路(347) と、 (h) 第１の比較回路(347) の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベ
ル状態を計数することによって被検査物品に混入ないし
付着した異物の個数を計数するための第１の計数回路(3
48) と、 (i) 第１の計数回路(348) の出力端に対して入力端が接
続されており、第１の計数回路(348) の計数結果が所定
値を超えたとき被検査物品の表面に異物が付着している
ことを示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第
１の異物検出信号発生回路(349) と、 (j) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第２の
三原色信号取出回路(441) と、 (k) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端に対して
入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(4
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
加算回路(442) と、 (l) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端および第
２の三原色信号加算回路(442) の出力端に対して入力端
が接続されており、第２の三原色信号取出回路(441) か
ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを第２の三原色信号
加算回路(442) から与えられた三原色和信号Ｘで除する
ことによって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出
して出力するための第２の除算回路(444A₁,444B₁,444
C₁) と、 (m) 第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁) の出力端に対
して入力端が接続されており、第２の除算回路(444A₁,4
44B₁,444C₁) から与えられた三原色相対色度信号Ｘ_R ,
Ｘ_G ,Ｘ_B に対し所定の係数α,β, γを乗じて係数付三
原色相対色度信号αＸ_R ,βＸ_G ,γＸ_Bを算出して出力
するための第２の乗算回路(444A₂,444B₂,444C₂) と、 (n) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端に対して
入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(4
41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに比較
することにより最大のものに対応して０となる選択信号
ｇ_R ,ｇ_G ,ｇ_B を算出して出力するための第２の選択信
号発生回路(443) と、 (o) 第２の乗算回路(444A₂,444B₂,444C₂) の出力端およ
び第２の選択信号発生回路(443) の出力端に対して入力
端が接続されており、第２の選択信号発生回路(443) か
ら与えられた選択信号ｇ_R ,ｇ_G,ｇ_B と第２の乗算回路
(444A₂,444B₂,444C₂) から与えられた係数付三原色相対
色度信号αＸ_R ,βＸ_R ,γＸ_B との積を互いに加算して
相対色度和信号Ｘ^**を出力するための第２の相対色度和
信号算出回路(445A,445B,445C;446)と、 (p) 第２の相対色度和信号算出回路(445A,445B,445C;44
6)の出力端に対して入力端が接続されており、相対色度
和信号Ｘ^**が設定値を超えたか否かを判定して相対色度
和信号Ｘ^**が設定値を超えたときにのみ高レベル状態と
なる相対色度和比較信号Ｚを出力するための第２の比較
回路(447) と、 (q) 第２の比較回路(447) の出力端に対して入力端が接
続されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベ
ル状態を計数することによって被検査物品に混入ないし
付着した異物の個数を計数するための第２の計数回路(4
48) と、 (r) 第２の計数回路(448) の出力端に対して入力端が接
続されており、第２の計数回路(448) の計数結果が所定
値を超えたとき被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するため
の第２の異物検出信号発生回路(449) と (s) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (t) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (u) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１５】本発明により提供される問題点の第７の解
決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検査
物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
することにより被検査物品に異物が付着しているか否か
を検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
号Ｐ₁, Ｐ₂ から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すため
の三原色信号取出回路(41;141)と、 (b) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端に対して入力
端が接続されており、三原色信号取出回路(41;141)から
与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号Ｙを作成
するための輝度信号作成回路(42;142)と、 (c) 輝度信号作成回路(42;142)の出力端に対して入力端
が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか否か
を判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ高レ
ベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺を出力するための比較
回路(43;143)と、 (d) 比較回路(43;143)の出力端に対して入力端が接続さ
れており、輝度比較信号Ｙ⁺ に含まれた高レベル状態を
計数することによって被検査物品の表面に付着した異物
を計数するための計数回路(48;148)と、 (e) 計数回路(48;148)の出力端に対して入力端が接続さ
れており、計数回路(48;148)の計数結果が所定値を超え
たとき被検査物品の表面に異物が付着していることを示
す第１の異物検出信号Ｖ₁, Ｖ₂を発生するための第１の
異物検出信号発生回路(49;149)と、 (f) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (g) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (h) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１６】本発明により提供される問題点の第８の解
決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検査
物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための
三原色信号取出回路(41;141)と、 (b) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端に対して入力
端が接続されており、三原色信号取出回路(41;141)から
与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して三原
色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(44;14
4)と、 (c) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端と三原色信号
加算回路(44;144)の出力端とに対して入力端が接続され
ており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号Ｘによっ
て除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの相対色度
Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色度信号Ｘ
^* として出力するための割算回路(45;145)と、 (d) 割算回路(45;145)の出力端に対して入力端が接続さ
れており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否かを
判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときにのみ
高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力するた
めの比較回路(46;146)と、 (e) 比較回路(46;146)の出力端に対して入力端が接続さ
れており、相対色度比較信号Ｘ⁺ に含まれた高レベル状
態を計数することによって被検査物品の表面に付着した
異物を計数するための計数回路(48;148)と、 (f) 計数回路(48;148)の出力端に対して入力端が接続さ
れており、計数回路(48;148)の計数結果が所定値を超え
たとき被検査物品の表面に異物が付着していることを示
す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第１の
異物検出信号発生回路(49;149)と、 (g) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (h) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (i) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１７】本発明により提供される問題点の第９の解
決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検査
物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための
三原色信号取出回路(41;141)と、 (b) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端に対して入力
端が接続されており、三原色信号取出回路(41;141)から
与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号Ｙを作成
するための輝度信号作成回路(42;142)と、 (c) 輝度信号作成回路(42;142)の出力端に対して入力端
が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか否か
を判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ高レ
ベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺を出力するための第１
の比較回路(43;143)と、 (d) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端に対して入力
端が接続されており、三原色信号取出回路(41;141)から
与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して三原
色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(44;14
4)と、 (e) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端と三原色信号
加算回路(44;144)の出力端とに対して入力端が接続され
ており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号Ｘによっ
て除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの相対色度
Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色度信号Ｘ
^* として出力するための割算回路(45;145)と、 (f) 割算回路(45;145)の出力端に対して入力端が接続さ
れており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否かを
判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときにのみ
高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力するた
めの第２の比較回路(46;146)と、 (g) 第１の比較回路(43;143)の出力端と第２の比較回路
(46;146)の出力端とに対して入力端が接続されており、
輝度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とを組合わせ
て組合信号Ｚとして出力してなる信号組合回路(47;147)
と、 (h) 信号組合回路(47;147)の出力端に対して入力端が接
続されており、組合信号Ｚに含まれた高レベル状態を計
数することによって被検査物品の表面に付着した異物を
計数するための計数回路(48;148)と、 (i) 計数回路(48;148)の出力端に対して入力端が接続さ
れており、計数回路(48;148)の計数結果が所定値を超え
たとき被検査物品の表面に異物が付着していることを示
す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第１の
異物検出信号発生回路(49;149)と、 (j) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (k) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (l) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１８】本発明により提供される問題点の第１０の
解決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検
査物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処
理することにより被検査物品に異物が混入ないし付着し
ているか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力
するための三原色信号取出回路(341;441) と、 (b) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端に対して入
力端が接続されており、三原色信号取出回路(341;441)
から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
三原色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(3
42;442) と、 (c) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端および三原
色信号加算回路(342;442) の出力端に対して入力端が接
続されており、三原色信号取出回路(341;441) から与え
られた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた２つを三原色
信号加算回路(342;442) から与えられた三原色和信号Ｘ
で除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ
_B から選ばれた２つを算出して出力するための除算回路
(344A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁) と、 (d) 除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁)
の出力端に対して入力端が接続されており、除算回路(3
44A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁) から与えられた
三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを
所定の割合で互いに加算して相対色度和信号Ｘ^**を出力
するための相対色度和信号算出回路(343;344A₂,344B₂,3
44C₂,;345A,345B,345C;346;443;444A₂,444B₂,444C₂;445
A,445B,445C;446)と、 (e) 相対色度和信号算出回路(343;344A₂,344B₂,344C₂,;
345A,345B,345C;346;443;444A₂,444B₂,444C₂;445A,445
B,445C;446)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたか否かを判定
して相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたときにのみ高
レベル状態となる相対色度和比較信号Ｚを出力するため
の比較回路(347;447) と、 (f) 比較回路(347;447) の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベル
状態を計数することによって被検査物品の表面に付着し
た異物の個数を計数するための計数回路(348;448) と、 (g) 計数回路(348;448) の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路(348;448) の計数結果が所定値を
超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
を示す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第
１の異物検出信号発生回路(349;449) と、 (h) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (i) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (j) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００１９】本発明により提供される問題点の第１１の
解決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検
査物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処
理することにより被検査物品に異物が混入ないし付着し
ているか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力
するための三原色信号取出回路(341;441) と、 (b) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端に対して入
力端が接続されており、三原色信号取出回路(341;441)
から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
三原色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(3
42;442) と、 (c) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端および三原
色信号加算回路(342;442) の出力端に対して入力端が接
続されており、三原色信号取出回路(341;441) から与え
られた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた１つを三原色
信号加算回路(342;442) から与えられた三原色和信号Ｘ
で除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ
_B から選ばれた１つを算出して相対色度信号Ｘ^* として
出力するための除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;344A₂,344
B₂,344C₂;444A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444B₂,444C₂) と、 (d) 除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;344A₂,344B₂,344C₂;4
44A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444B₂,444C₂) の出力端に対し
て入力端が接続されており、除算回路(344A₁,344B₁,344
C₁;344A₂,344B₂,344C₂;444A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444
B₂,444C₂) から与えられた相対色度信号Ｘ^* が設定値を
超えたか否かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超
えたときにのみ高レベル状態となる相対色度比較信号を
出力するための比較回路(347;447) と、 (e) 比較回路(347;447) の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度比較信号に含まれた高レベル状態
を計数することによって被検査物品に混入ないし付着し
た異物の個数を計数するための計数回路(348;448) と、 (f) 計数回路(348;448) の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路(348;448) の計数結果が所定値を
超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
を示す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第
１の異物検出信号発生回路(349;449) と、 (g) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (h) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (i) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００２０】本発明により提供される問題点の第１２の
解決手段は、「物品搬送部によって搬送されている被検
査物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処
理することにより被検査物品に異物が混入ないし付着し
ているか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力
するための三原色信号取出回路(341;441) と、 (b) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端に対して入
力端が接続されており、三原色信号取出回路(341;441)
から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
三原色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(3
42;442) と、 (c) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端および三原
色信号加算回路(342;442) の出力端に対して入力端が接
続されており、三原色信号取出回路(341;441) から与え
られた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色信号加算回路(34
2;442) から与えられた三原色和信号Ｘで除することに
よって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出して出
力するための除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444
B₁,444C₁) と、 (d) 除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁)
の出力端に対して入力端が接続されており、除算回路(3
44A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁) から与えられた
三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B に対し所定の係数
α, β, γを乗じて係数付三原色相対色度信号αＸ_R ,
βＸ_G ,γＸ_B を算出して出力するための乗算回路(344A
₂,344B₂,344C₂;444A₂,444B₂,444C₂) と、 (e) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端に対して入
力端が接続されており、三原色信号取出回路(341;441)
から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに比較する
ことにより最大のものに対応して０となる選択信号
ｇ_R , ｇ_G ,ｇ_B を算出して出力するための選択信号発
生回路(343;443) と、 (f) 乗算回路(344A₂,344B₂,344C₂;444A₂,444B₂,444C₂)
の出力端および選択信号発生回路(343;443) の出力端に
対して入力端が接続されており、選択信号発生回路(34
3;443) から与えられた選択信号ｇ_R ,ｇ_G ,ｇ_B と乗算
回路(344A₂,344B₂,344C₂;444A₂,444B₂,444C₂) から与え
られた係数付三原色相対色度信号αＸ_R ,βＸ_G ,γＸ_B
との積を互いに加算して相対色度和信号Ｘ^**を出力する
ための相対色度和信号算出回路(345A,345B,345C;346;44
5A,445B,445C;446)と、 (g) 相対色度和信号算出回路(345A,345B,345C;346;445
A,445B,445C;446) の出力端に対して入力端が接続され
ており、相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたか否かを
判定して相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたときにの
み高レベル状態となる相対色度和比較信号Ｚを出力する
ための比較回路(347;447) と、 (h) 比較回路(347;447) の出力端に対して入力端が接続
されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベル
状態を計数することによって被検査物品に混入ないし付
着した異物の個数を計数するための計数回路(348;448)
と、 (i) 計数回路(348;448) の出力端に対して入力端が接続
されており、計数回路(348;448) の計数結果が所定値を
超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
を示す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第
１の異物検出信号発生回路(349;449) と、 (j) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (k) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
(32)と、 (l) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
とを特徴とする物品検査装置」である。

【００２１】

【作用】本発明にかかる物品検査装置は、上述の［問題
点の解決手段］の欄に、第１の解決手段として挙げたご
とく、被検査物品に対し近赤外線を照射して得られた透
過光信号Ｐ₃ を処理することにより被検査物品に異物が
混入ないし付着しているか否か検査しているので、 (i) 被検査物品に混入ないしは付着した異物を肉眼に
よることなく検出可能とする作用をなし、また (ii) 被検査物品に混入ないしは付着した異物をその肉
厚に左右されることなく検出可能とする作用をなし、ひ
いては (iii) 検査要員を削減可能とする作用に加え (iv) 被検査物品の検査精度を向上せしめる作用をな
す。

【００２２】本発明にかかる物品検査装置は、上述の
［問題点の解決手段］の欄に、第２ないし第13の解決手
段として挙げたごとく、被検査物品の表面もしくは裏面
から得られた画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ を処理することにより被
検査物品に異物が付着しているか否かを検査するに加
え、被検査物品に対し近赤外線を照射して得られた透過
光信号Ｐ₃ を処理することにより被検査物品に異物が混
入ないし付着しているか否か検査しているので、上記
(i) 〜(iv)の作用に加え、 (v) 被検査物品の表面もしくは裏面の光学的特性に接
近ないし劣った光学的特性をもち画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ のみ
では検出困難な異物までも検査可能とする作用をなし、
ひいては (vi) 被検査物品の検査精度を一層向上せしめる作用を
なす。

【００２３】本発明にかかる物品検査装置は、上述の
［問題点の解決手段］の欄に、第５ないし第７の解決手
段ならびに第11ないし第13の解決手段として挙げたごと
く、被検査物品の光学的特性と異物の光学的特性との相
異に基づき、被検査物品の表面もしくは裏面から得られ
た画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ の処理を適宜に実行しているので、
上記(i) 〜(vi)の作用に加え、 (vii) 被検査物品に付着した異物を被検査物品との間
の色彩の差異を利用して検出可能とする作用をなし、ひ
いては (viii) 被検査物品の異物検査の時間的効率を向上せし
める作用をなし、換言すれば (ix) 被検査物品の性状に応じて適格な異物検査を達成
せしめる作用をなす。

【００２４】

【実施例】次に、本発明にかかる物品検査装置につい
て、その好ましい実施例を挙げ、添付図面を参照しつ
つ、具体的に説明する。

【００２５】しかしながら、以下に説明する実施例は、
本発明の理解を容易化ないし促進化するために記載され
るものであって、本発明を限定するために記載されるも
のではない。

【００２６】換言すれば、以下に説明する実施例におい
て開示される各要素は、本発明の精神ならびに技術的範
囲に属する限り、全ての設計変更ならびに均等物置換を
含むものである。

【００２７】（添付図面の説明）

【００２８】図１Ａは、本発明にかかる物品検査装置の
第１の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００２９】図１Ｂは、本発明にかかる物品検査装置の
第１の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００３０】図１Ｃは、本発明にかかる物品検査装置の
第１の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００３１】図２は、図１Ａないし図１Ｃに示した第１
の実施例の一部を拡大して示すための部分破断斜視図で
ある。

【００３２】図３は、図１Ａないし図１Ｃに示した第１
の実施例の一部を拡大して示すための部分ブロック回路
図である。

【００３３】図４は、図１Ａないし図１Ｃに示した第１
の実施例の動作を示すためのフローチャート図である。

【００３４】図５Ａは、本発明にかかる物品検査装置の
第２の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００３５】図５Ｂは、本発明にかかる物品検査装置の
第２の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００３６】図５Ｃは、本発明にかかる物品検査装置の
第２の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００３７】図６は、図５Ａないし図５Ｃに示した第２
の実施例の動作を示すためのフローチャート図である。

【００３８】図７Ａは、本発明にかかる物品検査装置の
第３の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００３９】図７Ｂは、本発明にかかる物品検査装置の
第３の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００４０】図７Ｃは、本発明にかかる物品検査装置の
第３の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００４１】図８は、図７Ａないし図７Ｃに示した第３
の実施例の動作を示すためのフローチャート図である。

【００４２】図９Ａは、本発明にかかる物品検査装置の
第４の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００４３】図９Ｂは、本発明にかかる物品検査装置の
第４の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００４４】図９Ｃは、本発明にかかる物品検査装置の
第４の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００４５】図10は、図９Ａないし図９Ｃに示した第４
の実施例の動作を示すためのフローチャート図である。

【００４６】図11Ａは、本発明にかかる物品検査装置の
第５の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００４７】図11Ｂは、本発明にかかる物品検査装置の
第５の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００４８】図11Ｃは、本発明にかかる物品検査装置の
第５の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００４９】図12は、図11Ａないし図11Ｃに示した第５
の実施例の動作を示すためのフローチャート図である。

【００５０】図13Ａは、本発明にかかる物品検査装置の
第６の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００５１】図13Ｂは、本発明にかかる物品検査装置の
第６の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００５２】図13Ｃは、本発明にかかる物品検査装置の
第６の実施例の一部を示すためのブロック回路図であ
る。

【００５３】図14は、図13Ａないし図13Ｃに示した第６
の実施例の動作を示すためのフローチャート図である。

【００５４】図15Ａは、図１Ａないし図１Ｃに示した第
１の実施例，図５Ａないし図５Ｃに示した第２の実施
例，図７Ａないし図７Ｃに示した第３の実施例，図９Ａ
ないし図９Ｃに示した第４の実施例，図11Ａないし図11
Ｃに示した第５の実施例および図13Ａないし図13Ｃに示
した第６の実施例の動作を説明するための説明図であっ
て、特に、被検査物品Ｍの表面もしくは裏面に異物Ｎが
付着している場合の画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ の発生機序を示し
ている。

【００５５】図15Ｂは、図１Ａないし図１Ｃに示した第
１の実施例，図５Ａないし図５Ｃに示した第２の実施
例，図７Ａないし図７Ｃに示した第３の実施例，図９Ａ
ないし図９Ｃに示した第４の実施例，図11Ａないし図11
Ｃに示した第５の実施例および図13Ａないし図13Ｃに示
した第６の実施例の動作を説明するための説明図であっ
て、特に、被検査物品Ｍの表面もしくは裏面に異物Ｎが
付着している場合の画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ の発生機序を示し
ている。

【００５６】図16Ａは、図１Ａないし図１Ｃに示した第
１の実施例，図５Ａないし図５Ｃに示した第２の実施
例，図７Ａないし図７Ｃに示した第３の実施例，図９Ａ
ないし図９Ｃに示した第４の実施例，図11Ａないし図11
Ｃに示した第５の実施例および図13Ａないし図13Ｃに示
した第６の実施例の動作を説明するための説明図であっ
て、特に、被検査物品Ｍの表面もしくは裏面に異物Ｎが
付着している場合の透過光信号Ｐ₃ の発生機序を示して
いる。

【００５７】図16Ｂは、図１Ａないし図１Ｃに示した第
１の実施例，図５Ａないし図５Ｃに示した第２の実施
例，図７Ａないし図７Ｃに示した第３の実施例，図９Ａ
ないし図９Ｃに示した第４の実施例，図11Ａないし図11
Ｃに示した第５の実施例および図13Ａないし図13Ｃに示
した第６の実施例の動作を説明するための説明図であっ
て、特に、被検査物品Ｍの表面もしくは裏面に異物Ｎが
付着している場合の透過光信号Ｐ₃ の発生機序を示して
いる。

【００５８】（第１の実施例の構成）

【００５９】まず、図１Ａないし図３を参照しつつ、本
発明にかかる物品検査装置の第１の実施例について、そ
の構成を詳細に説明する。

【００６０】全体構成

【００６１】10は、本発明にかかる物品検査装置であっ
て、被検査物品Ｍを矢印Ａ方向に向けて１つずつ搬送す
るための物品搬送部20と、物品搬送部20の近傍に配設さ
れており物品搬送部20によって搬送されている被検査物
品Ｍの表面および裏面をそれぞれ撮像して撮像結果を画
像信号Ｐ₁,Ｐ₂ として出力しかつ物品搬送部20によって
搬送されている被検査物品Ｍを透過した近赤外線を受光
して受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するための物
品撮像部30とを備えている。被検査物品Ｍとしては、近
赤外線が透過できる物品であればよく、たとえば乾燥海
苔がある。

【００６２】被検査物品Ｍが乾燥海苔である場合には、
小エビ，網クズ，藁クズあるいは海苔クズなどの異物Ｎ
が、その内部に混入し、もしくはその表面あるいは裏面
に付着していることが多く、その品質を大きく左右す
る。乾燥海苔の内部に対する異物Ｎの混入は、海中より
採取されたのち洗浄処理などの必要な処理の施された生
海苔 (すなわち未乾燥海苔) を、矩形状に成形しかつ乾
燥せしめるために、海苔ミスの表面に対して配置するに
際し、洗浄処理などで除去できず生海苔中に残留した小
エビ，網クズ，藁クズなどが表面に露出することなく内
部に取り込まれることによって、主として発生する。乾
燥海苔の表面もしくは裏面に対する異物Ｎの付着は、
(i) 海中より採取されたのち洗浄処理などの必要な処理
の施された生海苔 (すなわち未乾燥海苔) を、矩形状に
成形しかつ乾燥せしめるために、海苔ミスの表面に対し
て配置するに際し、洗浄処理などで除去できず生海苔中
に残留した小エビ，網クズ，藁クズなどが表面に露出す
ることによって、発生し、また(ii)海苔ミスに対して配
置された生海苔が乾燥したのち海苔ミスから剥離される
に際し、前回の乾燥海苔の剥離に際して乾燥海苔から分
離して海苔ミスの表面に残留した乾燥海苔の小片が、そ
の海苔ミスの表面から剥離して乾燥海苔の裏面に付着す
ることによって、発生する。

【００６３】本発明にかかる物品検査装置10は、また、
物品撮像部30に対して接続されており、物品撮像部30か
ら出力された画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ および透過光信号Ｐ₃ を
適宜に処理することによって被検査物品Ｍの内部に異物
Ｎが混入しあるいはその表面もしくは裏面に異物Ｎが付
着しているか否かを検出するための異物検出部40を備え
ている。ここで、異物検出部40において透過光信号Ｐ₃
を処理している根拠は、(i) 被検査物品Ｍの肉厚の変化
を監視するのみでは検出不能ないし検出困難な異物を検
出するにあり、また、(ii)画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ の処理によ
っては検出が困難な異物 (たとえば被検査物品Ｍの表面
もしくは裏面の明度に比べ明度の低い異物) の検出を容
易化ないし確実化するにある。

【００６４】異物検出部40の検出結果は、たとえば、物
品搬送部20のうち物品撮像部30の下流側に配設された不
良物品除去部50に与えて不良の被検査物品（すなわち異
物Ｎが比較的に多く混入ないし付着した被検査物品；以
下同様）Ｍ⁺ を個別に除去するために利用してもよく、
また不良率算出部60に与えて一群の被検査物品が含む不
良の被検査物品Ｍ⁺ の割合（すなわち被検査物品の不良
率）を算出して表示あるいは記録するために利用しても
よい。ここでは、説明の都合上、異物検出部40の検出結
果は、不良物品除去部50および不良率算出部60に与えら
れているものとするが、本発明をこれに限定する意図は
ない。

【００６５】物品搬送部20

【００６６】物品搬送部20は、ヘッドプーリ21A とテー
ルプーリ21B との周囲に対して配設されており被検査物
品Ｍを矢印Ａ方向に向けて１つずつ搬送するためのコン
ベアベルト21と、ヘッドプーリ22A とテールプーリ22B
との周囲に対して配設されておりコンベアベルト21から
受け取った被検査物品Ｍを矢印Ａ方向に向けて１つずつ
搬送するためのコンベアベルト22と、ヘッドプーリ23A
とテールプーリ23B との周囲に対して配設されておりコ
ンベアベルト22から受け取った被検査物品Ｍを矢印Ａ方
向に向けて１つずつ搬送するためのコンベアベルト23
と、ヘッドプーリ24A とテールプーリ24B との周囲に対
して配設されておりコンベアベルト23から受け取った被
検査物品Ｍを矢印Ａ方向に向けて１つずつ搬送するため
のコンベアベルト24と、コンベアベルト24の下流側に不
良物品除去部50を介して配置されかつヘッドプーリ25A
とテールプーリ25B との周囲に対して配設されており不
良物品除去部50によって除去されなかった被検査物品Ｍ
を後続の処理装置（たとえば包装装置；図示せず）に向
けて１つずつ搬送するためのコンベアベルト25とを備え
ている。

【００６７】コンベアベルト21,22 の受渡部は、被検査
物品Ｍの通過を光学的手段によって検知容易とするため
に、互いに若干離間されている。換言すれば、ヘッドプ
ーリ21A とテールプーリ22B との距離が、被検査物品Ｍ
の通過を光学的手段によって容易に検知できるよう、十
分に確保されている。

【００６８】コンベアベルト22,23 の受渡部は、被検査
物品Ｍの内部に混入しもしくはその表面あるいは裏面に
付着した異物Ｎの検知を被検査物品Ｍに対して近赤外線
を透過せしめて達成するために、互いに若干離間されて
いる。換言すれば、ヘッドプーリ22A とテールプーリ23
B との距離が、被検査物品Ｍに対して近赤外線を容易に
照射できるよう、十分に確保されている。

【００６９】コンベアベルト23,24 の受渡部は、被検査
物品Ｍの裏面の撮像を確保ないし容易とするために、互
いに離間されている。換言すれば、ヘッドプーリ23A と
テールプーリ24B との距離が、被検査物品Ｍの裏面を容
易に撮像できるよう、十分に確保されている。

【００７０】物品撮像部30

【００７１】物品撮像部30は、コンベアベルト21,22 の
受渡部の近傍に配置されておりコンベアベルト21によっ
て搬送されてきた被検査物品Ｍを押ローラ31A でヘッド
プーリ21A に向けて押えつつ光学的に検知して物品検知
信号ｆ₁,ｆ₂,ｆ₃ を出力するためのＣＣＤラインセンサ
カメラなどのセンサ31と、コンベアベルト22,23 の受渡
部の近傍に配置されておりコンベアベルト22,23 の受渡
部に対してコンベアベルト22,23 の一側 (たとえば下
側) から赤外線照射器 (赤外線発光ダイオード)32A で
近赤外線を照射しておきコンベアベルト22によって搬送
されてきた被検査物品Ｍに近赤外線を遮断するよう通過
せしめ近赤外線の透過光量を検知して透過光信号Ｐ₃ と
して出力するためのＣＣＤラインセンサカメラなどのセ
ンサ32と、コンベアベルト23の上方に配置されかつセン
サ31に接続されており物品検知信号ｆ₁ に応じてコンベ
アベルト23によって搬送されている被検査物品Ｍの表面
を撮像するためのビデオカメラあるいはＣＣＤラインセ
ンサカメラなどの撮像手段33と、コンベアベルト23,24
の受渡部の下方に配置されかつセンサ31に接続されてお
り物品検知信号ｆ₂ に応じてコンベアベルト23によって
コンベアベルト24に受け渡されている被検査物品Ｍの裏
面を撮像するためのビデオカメラあるいはＣＣＤライン
センサカメラなどの撮像手段34とを備えている。物品検
知信号ｆ₁,ｆ₂,ｆ₃ は、それぞれ、センサ31による被検
査物品Ｍの検知時刻から適宜に遅延されて発生されてい
る。

【００７２】物品撮像部30は、また、蛍光灯，ハロゲン
ランプあるいは発光ダイオードなどによって形成されて
おり撮像手段33の近傍に配置されコンベアベルト23によ
って搬送されている被検査物品Ｍの表面を上方より照射
する光（照射光という）Ｌを発生するための光源33A
と、撮像手段33を包囲するよう配設されており被検査物
品Ｍの表面あるいはそこに付着した異物Ｎによる異常反
射 (ここでは正反射) を抑制するよう光源33A による照
射光Ｌを散乱せしめ散乱光ｌとしてコンベアベルト23に
よって搬送されている被検査物品Ｍに与えるための散乱
部材33B と、光源33A および散乱部材33B を包囲してお
り外光を遮断しかつ照射光Ｌが周囲環境に漏出すること
を抑制するための遮光部材33C と、蛍光灯，ハロゲンラ
ンプあるいは発光ダイオードなどによって形成されてお
り撮像手段34の近傍に配置されコンベアベルト23からコ
ンベアベルト24へ搬送されている被検査物品Ｍの裏面を
下方より照射する光（照射光という）Ｌを発生するため
の光源34A と、撮像手段34を包囲するよう配設されてお
り被検査物品Ｍの裏面あるいはそこに付着した異物Ｎに
よる異常反射 (ここでは正反射) を抑制するよう光源34
A による照射光Ｌを散乱せしめ散乱光ｌとしてコンベア
ベルト23からコンベアベルト24へ搬送されている被検査
物品Ｍに与えるための散乱部材34B と、光源34A および
散乱部材34B を包囲しており外光を遮断しかつ照射光Ｌ
が周囲環境に漏出することを抑制するための遮光部材34
C とを備えている。ここで、撮像手段33,34 が物品搬送
部20による被検査物品Ｍの搬送速度に相応する速度で動
作するシャッタを包有しておれば、被検査物品Ｍの表面
もしくは裏面に付着した異物Ｎが微小となっても良好に
検知可能とできるので、好ましい。このとき、光源33A,
34A として蛍光灯が採用される場合は、インバータ（図
示せず）を介して電極間に高周波の電圧を印加しておけ
ば、撮像手段33,34 のシャッタ開放時期が異なっても照
射光Ｌの光量を一定に維持できるので、好ましい。ま
た、散乱部材33B,34B は、半透明の化学合成樹脂 (たと
えば半透明アクリル樹脂) などの半透明材料によって形
成されている。遮光部材33C,34C は、本発明にとって必
須要素ではないので、所望により除去してもよい。

【００７３】異物検出部40

【００７４】異物検出部40は、まず、撮像手段33の出力
端に対して接続されており撮像手段33によって撮像され
て出力された被検査物品Ｍの表面の画像信号Ｐ₁ を処理
し三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよ
び青紫色信号Ｂ）を取り出すための三原色信号取出回路
41と、三原色信号取出回路41に対して接続されており三
原色信号取出回路41から与えられた三原色信号Ｑ（すな
わち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）から
輝度信号Ｙを作成するための輝度信号作成回路42と、輝
度信号作成回路42の出力端に対して反転入力端が接続さ
れかつ非反転入力端が設定回路（図示せず）に対して接
続されており輝度信号Ｙが設定回路の設定値Ｙ₀ を超え
たか否かを判定することによって輝度信号Ｙがその設定
値Ｙ₀ を超えたときにのみ高レベル状態となる輝度比較
信号Ｙ⁺ を出力するための比較回路43とを備えている。
比較回路43が輝度信号Ｙを設定値Ｙ₀ と比較している根
拠は、輝度信号Ｙに含まれたノイズを除去し、被検査物
品Ｍの表面の凹凸を異物Ｎと誤認することを回避するに
ある。

【００７５】異物検出部40は、また、三原色信号取出回
路41の出力端に対して接続されており三原色信号Ｑ（す
なわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を
互いに加算して三原色和信号Ｘ（＝Ｒ＋Ｇ＋Ｂ）を作り
出すための三原色信号加算回路44と、三原色信号加算回
路44の出力端および三原色信号取出回路41の出力端に対
して接続されており三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号
Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）の三原色和信号Ｘ
に対する相対色度（すなわち赤色相対色度Ｘ_R ＝Ｒ／
Ｘ, 緑色相対色度Ｘ_G ＝Ｇ／Ｘおよび青紫色相対色度Ｘ
_B ＝Ｂ／Ｘ) を算出し最大のものを相対色度信号Ｘ^* と
して出力するための割算回路45と、割算回路45の出力端
に対して反転入力端が接続されかつ非反転入力端が設定
回路（図示せず）に対して接続されており相対色度信号
Ｘ^* （すなわち赤色相対色度Ｘ_R,緑色相対色度Ｘ_G およ
び青紫色相対色度Ｘ_B のうち最大のもの）が設定回路の
設定値Ｘ₀ を超えたか否かを判定することによって相対
色度信号Ｘ^* がその設定値Ｘ₀ を超えたときにのみ高レ
ベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力するための
比較回路46とを備えている。比較回路46が相対色度信号
Ｘ^* を設定値Ｘ₀ と比較している根拠は、相対色度信号
Ｘ^* に含まれたノイズを除去し、被検査物品Ｍの表面の
色度の偏倚を異物Ｎと誤認することを回避するにある。

【００７６】異物検出部40は、更に、比較回路43,46 に
対して入力端が接続されており、比較回路43から与えら
れた輝度比較信号Ｙ⁺ と比較回路46から与えられた相対
色度比較信号Ｘ⁺ とを適宜に組み合わせたのち組合信号
Ｚとして出力するための信号組合回路47を備えている。
信号組合回路47は、２つの入力端がそれぞれ比較回路4
3,46 の出力端に接続されており輝度比較信号Ｙ⁺ と相
対色度比較信号Ｘ⁺ との論理積信号Ｙ⁺ Ｘ⁺ を作成する
ためのアンド回路47A と、２つの入力端がそれぞれ比較
回路43,46 の出力端に接続されており輝度比較信号Ｙ⁺
と相対色度比較信号Ｘ⁺ との論理和信号Ｙ⁺ ＋Ｘ⁺ を作
成するためのオア回路47B と、第１ないし第４の切替接
点がそれぞれアンド回路47A の出力端とオア回路47B の
出力端と比較回路43の出力端と比較回路46の出力端とに
接続されかつ共通接点が出力端とされており論理積信号
Ｙ⁺ Ｘ⁺ と論理和信号Ｙ⁺ ＋Ｘ⁺ と輝度比較信号Ｙ⁺と
相対色度比較信号Ｘ⁺ とのいずれかを組合信号Ｚとして
出力するための切替スイッチ47C とを備えている。

【００７７】異物検出部40は、更にまた、信号組合回路
47の出力端および物品撮像部30のセンサ31に対して接続
されており信号組合回路47から与えられた組合信号Ｚに
含まれたパルス（すなわち高レベル状態）を計数して被
検査物品Ｍの表面に付着した異物Ｎを計数し計数結果を
計数信号Ｗとして出力したのち後続の被検査物品Ｍを検
知するに伴ないセンサ31によって発生される物品検知信
号ｆ₁ に応じて計数内容がクリアされてなる計数回路48
と、計数回路48の出力端に接続されており計数回路48か
ら出力された計数信号Ｗの内容（すなわち計数結果）が
所定値Ｗ₀ を超えたか否かを判定し所定値Ｗ₀ を超えた
とき異物検出信号Ｖ₁ を発生するための異物検出信号発
生回路49とを備えている。異物検出信号発生回路49によ
って発生された異物検出信号Ｖ₁ は、オア回路40A を介
し異物検出部40の検出結果として出力されており、ここ
では、不良の被検査物品Ｍ⁺ を個別に除去するための不
良物品除去部50に与えられ、かつ被検査物品の不良率を
演算して求め表示あるいは記録するための不良率算出部
60に与えられている。

【００７８】異物検出部40は、加えて、撮像手段34の出
力端に対して接続されており撮像手段34によって撮像さ
れて出力された被検査物品Ｍの裏面の画像信号Ｐ₂ を処
理し三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇお
よび青紫色信号Ｂ）を取り出すための三原色信号取出回
路141 と、三原色信号取出回路141 に対して接続されて
おり三原色信号取出回路141 から与えられた三原色信号
Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）から輝度信号Ｙを作成するための輝度信号作成回路
142 と、輝度信号作成回路142 の出力端に対し反転入力
端が接続されかつ非反転入力端が設定回路（図示せず）
に対し接続されており輝度信号Ｙが設定回路の設定値Ｙ
₀ を超えたか否かを判定することによって輝度信号Ｙが
その設定値Ｙ₀ を超えたときにのみ高レベル状態となる
輝度比較信号Ｙ⁺ を出力するための比較回路143 とを備
えている。比較回路143 が輝度信号Ｙを設定値Ｙ₀ と比
較している根拠は、輝度信号Ｙに含まれたノイズを除去
し、被検査物品Ｍの表面の凹凸を異物Ｎと誤認すること
を回避するにある。

【００７９】異物検出部40は、加えてまた、三原色信号
取出回路141 の出力端に対して接続されており三原色信
号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信
号Ｂ）を互いに加算して三原色和信号Ｘ（＝Ｒ＋Ｇ＋
Ｂ）を作り出すための三原色信号加算回路144 と、三原
色信号加算回路144 の出力端および三原色信号取出回路
141 の出力端に対して接続されており三原色信号Ｑ（す
なわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）の
三原色和信号Ｘに対する相対色度（すなわち赤色相対色
度Ｘ_R ＝Ｒ／Ｘ, 緑色相対色度Ｘ_G ＝Ｇ／Ｘおよび青紫
色相対色度Ｘ_B ＝Ｂ／Ｘ) を算出し最大のものを相対色
度信号Ｘ^* として出力するための割算回路145 と、割算
回路145 の出力端に対して反転入力端が接続されかつ非
反転入力端が設定回路（図示せず）に対して接続されて
おり相対色度信号Ｘ^* （すなわち赤色相対色度Ｘ_R,緑色
相対色度Ｘ_G および青紫色相対色度Ｘ_B のうち最大のも
の）が設定回路の設定値Ｘ₀ を超えたか否かを判定する
ことによって相対色度信号Ｘ^* がその設定値Ｘ₀ を超え
たときにのみ高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺
を出力するための比較回路146 とを備えている。比較回
路146 が相対色度信号Ｘ^* を設定値Ｘ₀ と比較している
根拠は、相対色度信号Ｘ^* に含まれたノイズを除去し、
被検査物品Ｍの表面の色度の偏倚を異物Ｎと誤認するこ
とを回避するにある。

【００８０】異物検出部40は、併せて、比較回路143,14
6 に対して入力端が接続されており比較回路143 から与
えられた輝度比較信号Ｙ⁺ と比較回路146 から与えられ
た相対色度比較信号Ｘ⁺ とを適宜に組み合わせたのち組
合信号Ｚとして出力するための信号組合回路147 を備え
ている。信号組合回路147 は、２つの入力端がそれぞれ
比較回路143,146 の出力端に接続されており輝度比較信
号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ との論理積信号Ｙ⁺ Ｘ⁺
を作成するためのアンド回路147Aと、２つの入力端がそ
れぞれ比較回路143,146 の出力端に接続されており輝度
比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ との論理和信号Ｙ
⁺ ＋Ｘ⁺ を作成するためのオア回路147Bと、第１ないし
第４の切替接点がそれぞれアンド回路147Aの出力端とオ
ア回路147Bの出力端と比較回路143 の出力端と比較回路
146 の出力端とに接続されかつ共通接点が出力端とされ
ており論理積信号Ｙ⁺ Ｘ⁺ と論理和信号Ｙ⁺ ＋Ｘ⁺ と輝
度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とのいずれかを
組合信号Ｚとして出力するための切替スイッチ147Cとを
備えている。

【００８１】異物検出部40は、併せてまた、信号組合回
路147 の出力端および物品撮像部30のセンサ31に対して
接続されており信号組合回路147 から与えられた組合信
号Ｚに含まれたパルス（すなわち高レベル状態）を計数
して被検査物品Ｍの表面に付着した異物Ｎを計数し計数
結果を計数信号Ｗとして出力したのち後続の被検査物品
Ｍを検知するに伴ないセンサ31によって発生される物品
検知信号ｆ₂ に応じて計数内容がクリアされてなる計数
回路148 と、計数回路148 の出力端に接続されており計
数回路148 から出力された計数信号Ｗの内容（すなわち
計数結果）が所定値Ｗ₀ を超えたか否かを判定し所定値
Ｗ₀ を超えたとき異物検出信号Ｖ₂ を発生するための異
物検出信号発生回路149 とを備えている。異物検出信号
発生回路149 によって発生された異物検出信号Ｖ₂ は、
オア回路40A を介し異物検出部40の検出結果として出力
されており、ここでは、不良の被検査物品Ｍ⁺ を個別に
除去するための不良物品除去部50に与えられ、かつ被検
査物品の不良率を演算して求め表示あるいは記録するた
めの不良率算出部60に与えられている。

【００８２】異物検出部40は、センサ32から与えられた
透過光信号Ｐ₃ を設定回路（図示せず）の設定値Ｔ₀ と
比較し、設定値Ｔ₀ に満たないとき被検査物品Ｍの内部
に異物Ｎが混入しあるいはその表面もしくは裏面に異物
Ｎが付着している旨の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の比較回路241 を備えている。比較回路241 によって発
生された異物検出信号Ｖ₃ は、オア回路40A を介し異物
検出部40の検出結果として出力されており、ここでは、
不良の被検査物品Ｍ⁺ を個別に除去するための不良物品
除去部50に与えられ、かつ被検査物品の不良率を演算し
て求め表示あるいは記録するための不良率算出部60に与
えられている。

【００８３】不良物品除去部50

【００８４】不良物品除去部50は、物品搬送部20のコン
ベアベルト24とコンベアベルト25との間に配設された切
替フィン51と、オア回路40A を介して異物検出部40の異
物検出信号発生回路49,149および比較回路241 に対して
接続されており異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ のうちの少な
くとも１つに応じて切替フィン51を駆動するための駆動
部材（たとえばソレノイドコイル）52と、切替フィン51
によって除去された不良の被検査物品Ｍ⁺ を収容するた
めの収納箱53と、切替フィン51の下流側に配設されてお
り不良の被検査物品Ｍ⁺ として除去されなかった被検査
物品Ｍを切替フィン51からコンベアベルト25に向けて移
送せしめるための移送プーリ54とを備えている。

【００８５】不良率算出部60

【００８６】不良率算出部60は、異物検出信号発生回路
49とセンサ31とに接続されており異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,
Ｖ₃ の発生回数および物品検知信号ｆ₃ の発生回数をそ
れぞれ計数したのち異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ の発生回
数の計数結果を物品検知信号ｆ₃ の発生回数の計数結果
によって除して被検査物品の不良率を算出するための算
出回路61と、算出回路61に接続されておりその算出結果
（すなわち被検査物品の不良率）を表示するための表示
装置62と、算出回路61に接続されておりその算出結果
（すなわち被検査物品の不良率）を記録するための記録
装置63とを備えている。

【００８７】ちなみに、不良率算出部60は、所望によ
り、表示装置62および記録装置63のいずれか一方を除去
してもよい。また、不良率算出部60の算出した不良率
は、被検査物品の等級付などに利用される。

【００８８】（第１の実施例の作用）

【００８９】更に、図１Ａないし図４および図15Ａない
し図16Ｂを参照しつつ、本発明にかかる物品検査装置の
第１の実施例について、その作用を詳細に説明する。

【００９０】被検査物品Ｍの撮像

【００９１】物品撮像部30のセンサ31は、被検査物品Ｍ
が物品搬送部20のコンベアベルト21によって矢印Ａ方向
に向けて搬送されたのちローラ31A によって押えられつ
つコンベアベルト22に向けて移動しようとするに際し、
被検査物品Ｍを検知して物品検知信号ｆ（すなわちｆ₁,
ｆ₂,ｆ₃)を発生する（ステップ１）。

【００９２】物品撮像部30の撮像手段33は、物品検知信
号ｆ₁ が与えられると、被検査物品Ｍの表面の撮像を開
始し、その撮像結果を画像信号Ｐ₁ として送出し始める
（ステップ２）。

【００９３】撮像手段33の近傍では、光源33A によって
発生された照射光Ｌが散乱部材33B によって散乱された
のち散乱光ｌとしてコンベアベルト23上の被検査物品Ｍ
に上方より照射されているので、コンベアベルト23上の
被検査物品Ｍの表面および被検査物品Ｍの表面に付着し
た異物Ｎで反射されるとき、異物Ｎにおける正常反射
（ここでは正反射）Ｒ_fの光量に比べ被検査物品Ｍの表
面における異常反射（ここでは正反射）Ｒ_f ^*の光量を十
分に減少せしめることができる。このため、画像信号Ｐ
₁ は、異物Ｎのみに対応して顕著に高レベル状態Ｈとな
る。

【００９４】物品撮像部30の撮像手段34は、物品検知信
号ｆ₂ が与えられると、被検査物品Ｍの裏面の撮像を開
始し、その撮像結果を画像信号Ｐ₂ として送出し始める
（ステップ２）。

【００９５】撮像手段34の近傍では、光源34A によって
発生された照射光Ｌが散乱部材34B によって散乱された
のち散乱光ｌとしてコンベアベルト23からコンベアベル
ト24へ移動されている被検査物品Ｍに下方より照射され
ているので、コンベアベルト23からコンベアベルト24へ
移動されている上の被検査物品Ｍの裏面および被検査物
品Ｍの裏面に付着した異物Ｎで反射されるとき、異物Ｎ
における正常反射（ここでは正反射）Ｒ_f の光量に比べ
被検査物品Ｍの裏面における異常反射（ここでは正反
射）Ｒ_f ^*の光量を十分に減少せしめることができる。こ
のため、画像信号Ｐ₂ は、異物Ｎのみに対応して顕著に
高レベル状態Ｈとなる。

【００９６】三原色信号Ｑの取出

【００９７】被検査物品Ｍの画像信号Ｐ₁ は、異物検出
部40の三原色信号取出回路41に与えられる。三原色信号
取出回路41では、画像信号Ｐ₁ から三原色信号Ｑ（すな
わち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を取
り出し、輝度信号作成回路42，三原色信号加算回路44お
よび割算回路45に向けて出力する（ステップ２）。

【００９８】被検査物品Ｍの画像信号Ｐ₂ は、異物検出
部40の三原色信号取出回路141 に与えられる。三原色信
号取出回路141 では、画像信号Ｐ₂ から三原色信号Ｑ
（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）を取り出し、輝度信号作成回路142 ，三原色信号加
算回路144 および割算回路145 に向けて出力する（ステ
ップ２）。

【００９９】輝度信号Ｙ・輝度比較信号Ｙ⁺

【０１００】輝度信号作成回路42では、三原色信号Ｑ
（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）が、係数α，β，γ（ただしα＋β＋γ＝１；０≦
α，β，γ≦１）を用いて、Ｙ＝αＲ＋βＧ＋γＢのご
とく互いに加算され、輝度信号Ｙとされる（ステップ
３）。ここで、係数α，β，γは、たとえば、α＝γ＝
0.25およびβ＝0.5 とすればよい。

【０１０１】輝度信号Ｙは、適宜に遅延せしめられたの
ち、比較回路43に向けて出力される（ステップ４）。

【０１０２】比較回路43は、輝度信号Ｙを設定回路（図
示せず）によって設定された設定値Ｙ₀ と比較し、その
設定値Ｙ₀ より輝度信号Ｙが大きいときにのみ高レベル
状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を発生して出力する（ステ
ップ５）。

【０１０３】輝度信号作成回路142 では、三原色信号Ｑ
（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）が、係数α，β，γ（ただしα＋β＋γ＝１；０≦
α，β，γ≦１）を用いて、Ｙ＝αＲ＋βＧ＋γＢのご
とく互いに加算され、輝度信号Ｙとされる（ステップ
３）。ここで、係数α，β，γは、たとえば、α＝γ＝
0.25およびβ＝0.5 とすればよい。

【０１０４】輝度信号Ｙは、適宜に遅延せしめられたの
ち、比較回路143 に向けて出力される（ステップ４）。

【０１０５】比較回路143 は、輝度信号Ｙを設定回路
（図示せず）によって設定された設定値Ｙ₀ と比較し、
その設定値Ｙ₀ より輝度信号Ｙが大きいときにのみ高レ
ベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を発生して出力する
（ステップ５）。

【０１０６】相対色度信号Ｘ^* ・相対色度比較信号Ｘ⁺

【０１０７】三原色信号加算回路44では、三原色信号Ｑ
（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）が互いに加算されたのち、三原色和信号Ｘとして出
力される（ステップ６）。

【０１０８】三原色信号加算回路44によって出力された
三原色和信号Ｘは、割算回路45に与えられる。割算回路
45では、三原色和信号Ｘによって三原色信号Ｑ（すなわ
ち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を除す
ることにより、その相対色度（すなわち赤色相対色度Ｘ
_R,緑色相対色度Ｘ_G および青紫色相対色度Ｘ_B)が発生さ
れる（ステップ７）。

【０１０９】割算回路45によって算出された相対色度
（すなわち赤色相対色度Ｘ_R,緑色相対色度Ｘ_G および青
紫色相対色度Ｘ_B)は、最大のもののみが、相対色度信号
Ｘ^* として比較回路46に与えられる。

【０１１０】比較回路46は、相対色度信号Ｘ^* を設定回
路（図示せず）によって設定された設定値Ｘ₀ と比較
し、その比較結果を、設定値Ｘ₀ より相対色度信号Ｘ^*
が大きいときにのみ高レベル状態となる相対色度比較信
号Ｘ⁺ として出力する（ステップ８）。

【０１１１】三原色信号加算回路144 では、三原色信号
Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）が互いに加算されたのち、三原色和信号Ｘとして出
力される（ステップ６）。

【０１１２】三原色信号加算回路144 によって出力され
た三原色和信号Ｘは、割算回路145 に与えられる。割算
回路145 では、三原色和信号Ｘによって三原色信号Ｑ
（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）を除することにより、その相対色度（すなわち赤色
相対色度Ｘ_R,緑色相対色度Ｘ_G および青紫色相対色度Ｘ
_B)が発生される（ステップ７）。

【０１１３】割算回路145 によって算出された相対色度
（すなわち赤色相対色度Ｘ_R,緑色相対色度Ｘ_G および青
紫色相対色度Ｘ_B)は、最大のもののみが、相対色度信号
Ｘ^* として比較回路146 に与えられる。

【０１１４】比較回路146 は、相対色度信号Ｘ^* を設定
回路（図示せず）によって設定された設定値Ｘ₀ と比較
し、その比較結果を、設定値Ｘ₀ より相対色度信号Ｘ^*
が大きいときにのみ高レベル状態となる相対色度比較信
号Ｘ⁺ として出力する（ステップ８）。

【０１１５】組合信号Ｚ

【０１１６】比較回路43によって発生された輝度比較信
号Ｙ⁺ と比較回路46によって発生された相対色度比較信
号Ｘ⁺ とは、信号組合回路47に与えられ、適宜に組合せ
たのち、組合信号Ｚとして出力される（ステップ９）。
組合信号Ｚは、切替スイッチ47C の共通接点が第１ない
し第４の切替接点のうち接触された切替接点に応じて、
論理積信号Ｙ⁺ Ｘ⁺ と論理和信号Ｙ⁺ ＋Ｘ⁺ と輝度比較
信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とのうちから選択され
た何れかの信号とされている。

【０１１７】比較回路143 によって発生された輝度比較
信号Ｙ⁺ と比較回路146 によって発生された相対色度比
較信号Ｘ⁺ とは、信号組合回路147 に与えられ、適宜に
組合せたのち、組合信号Ｚとして出力される（ステップ
９）。組合信号Ｚは、切替スイッチ147Cの共通接点が第
１ないし第４の切替接点のうち接触された切替接点に応
じて、論理積信号Ｙ⁺ Ｘ⁺ と論理和信号Ｙ⁺ ＋Ｘ⁺ と輝
度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とのうちから選
択された何れかの信号とされている。

【０１１８】異物Ｎの計数

【０１１９】センサ31の検知結果すなわち物品検知信号
ｆ（ここではｆ₁)は、計数回路48に与えられ、先行する
被検査物品Ｍに対応した計数回路48の計数内容をリセッ
トする（ステップ10）。

【０１２０】計数回路48は、リセットされたのち、信号
組合回路47から与えられた組合信号Ｚに含まれたパルス
（すなわち高レベル状態）を計数して被検査物品Ｍの表
面に付着した異物Ｎを計数する（ステップ10）。

【０１２１】計数回路48は、センサ31から与えられた後
続の物品検知信号ｆ（ここではｆ₁)が与えられるまで、
その計数動作を続行する（ステップ11）。すなわち、計
数回路48は、センサ31から後続の物品検知信号ｆ（ここ
ではｆ₁)が与えられたとき、その計数動作を終了する
（ステップ10,11)。

【０１２２】センサ31の検知結果すなわち物品検知信号
ｆ（ここではｆ₂)は、計数回路148 に与えられ、先行す
る被検査物品Ｍに対応した計数回路148 の計数内容をリ
セットする（ステップ10）。

【０１２３】計数回路148 は、リセットされたのち、信
号組合回路147 から与えられた組合信号Ｚに含まれたパ
ルス（すなわち高レベル状態）を計数して被検査物品Ｍ
の表面に付着した異物Ｎを計数する（ステップ10）。

【０１２４】計数回路148 は、センサ31から与えられた
後続の物品検知信号ｆ（ここではｆ₂)が与えられるま
で、その計数動作を続行する（ステップ11）。すなわ
ち、計数回路148 は、センサ31から後続の物品検知信号
ｆ（ここではｆ₂)が与えられたとき、その計数動作を終
了する（ステップ10,11)。

【０１２５】異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ の発生

【０１２６】異物検出信号発生回路49は、計数回路48か
ら与えられた計数結果Ｗが設定値Ｗ₀ よりも大きいか否
かを、判定する（ステップ12）。すなわち、異物検出信
号発生回路49は、(i) 計数結果Ｗが設定値Ｗ₀ よりも大
きい場合、異物検出信号Ｖ₁ を発生し、また(ii)計数結
果Ｗが設定値Ｗ₀ よりも小さい場合、異物検出信号Ｖ₁
を発生しない（ステップ12）。

【０１２７】また、異物検出信号発生回路149 は、計数
回路148 から与えられた計数結果Ｗが設定値Ｗ₀ よりも
大きいか否かを、判定する（ステップ12）。すなわち、
異物検出信号発生回路149 は、(i) 計数結果Ｗが設定値
Ｗ₀ よりも大きい場合、異物検出信号Ｖ₂ を発生し、ま
た(ii)計数結果Ｗが設定値Ｗ₀よりも小さい場合、異物
検出信号Ｖ₂ を発生しない（ステップ12）。

【０１２８】加えて、比較回路241 は、センサ32から与
えられた透過光信号Ｐ₃ が設定値Ｔ ₀ よりも小さいか否
かを、判定する (ステップ12) 。すなわち、比較回路24
1 は、(i) 透過光信号Ｐ₃ が設定値Ｔ₀ よりも小さい場
合、異物検出信号Ｖ₃ を発生し、また(ii)透過光信号Ｐ
₃ が設定値Ｔ₀ よりも大きい場合、異物検出信号Ｖ₃ を
発生しない (ステップ12)

【０１２９】異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ は、オア回路40
A を介し異物検出部40の検出結果として不良物品除去部
50および不良率算出部60へ与えられている (ステップ1
4) 。

【０１３０】不良の被検査物品Ｍ⁺ の除去

【０１３１】異物検出部40から異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ
₃ の少なくとも１つが与えられたとき、不良物品除去部
50では、異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ に応じて駆動部材52
が切替フィン51を切替えて被検査物品Ｍ（すなわち不良
の被検査物品Ｍ⁺)を収納箱53へ収納する（ステップ1
3）。

【０１３２】異物検出部40から異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ
₃ のいずれもが与えられなかったとき、不良物品除去部
50では、駆動部材52が切替フィン51を切替えることがな
く、被検査物品Ｍが移送プーリ54によって切替フィン51
からコンベアベルト24に向けて移送せしめられる。

【０１３３】不良率の算出

【０１３４】異物検出部40から異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ
₃ が与えられるか否かにかかわらず、不良率算出部60で
は、算出回路61が、異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ の発生回
数とセンサ31から与えられた物品検知信号ｆ₃ の発生回
数とをそれぞれ計数したのち、異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ
₃ の計数結果を物品検知信号ｆ₃ の計数結果によって除
することにより、被検査物品の不良率を算出する（ステ
ップ14）。

【０１３５】算出回路61によって算出された被検査物品
の不良率は、表示装置62によって表示され、また記録装
置63によって記録されることにより、その被検査物品の
品質の判断などに供される（ステップ15）。

【０１３６】（第２の実施例の構成・作用）

【０１３７】加えて、図５Ａないし図６および図15Ａな
いし図16Ｂを参照しつつ、本発明にかかる物品検査装置
の第２の実施例について、その構成および作用を詳細に
説明する。

【０１３８】第２の実施例は、異物検出部40において、
三原色信号加算回路44;144ないし信号組合回路47;147が
除去され、かつ比較回路43;143の出力端が計数回路48;1
48の入力端に対して直接に接続されたことを除き、第１
の実施例と同一の構成を有している。

【０１３９】したがって、第２の実施例は、比較回路4
3;143の発生した輝度比較信号Ｙ⁺ に含まれているパル
ス（すなわち高レベル状態）のみを、それぞれ計数回路
48;148によって計数し、その計数結果に応じて不良の被
検査物品Ｍ⁺ を除去し、かつ被検査物品の不良率を算出
してなることを除き、第１の実施例と同一の作用をなし
ている。

【０１４０】それ故、ここでは、説明を簡潔とするため
に、第１の実施例に包有された部材ないしはステップに
対応する部材ないしはステップに対し、第１の実施例と
同一の参照番号を付すことにより、その他の構成および
作用の説明を省略する。

【０１４１】（第３の実施例の構成・作用）

【０１４２】加えてまた、図７Ａないし図８および図15
Ａないし図16Ｂを参照しつつ、本発明にかかる物品検査
装置の第３の実施例について、その構成および作用を詳
細に説明する。

【０１４３】第３の実施例は、異物検出部40において、
輝度信号作成回路42;142，比較回路43;143および信号組
合回路47;147が除去され、かつ比較回路46;146の出力端
が計数回路48;148に対して直接に接続されたことを除
き、第１の実施例と同一の構成を有している。

【０１４４】したがって、第３の実施例は、比較回路4
6;146の出力する相対色度比較信号Ｘ⁺ のパルス（すな
わち高レベル状態）のみを、それぞれ計数回路48;148に
よって計数し、その計数結果に応じて不良の被検査物品
Ｍ⁺ を除去し、かつ被検査物品の不良率を算出してなる
ことを除き、第１の実施例と同一の作用をなしている。

【０１４５】それ故、ここでは、説明を簡潔とするため
に、第１の実施例に包有された部材ないしはステップに
対応する部材ないしはステップに対し、第１の実施例と
同一の参照番号を付すことにより、その他の構成および
作用の説明を省略する。

【０１４６】（第４の実施例の構成）

【０１４７】まず、図９Ａないし図９Ｂおよび図２を参
照しつつ、本発明にかかる物品検査装置の第４の実施例
について、その構成を詳細に説明する。

【０１４８】第４の実施例は、異物検出部40が以下のご
とく形成されたことを除き、第１の実施例と同一の構成
を有している。

【０１４９】すなわち、異物検出部40は、撮像手段33の
出力端に対して接続されており撮像手段33によって撮像
されて出力された被検査物品Ｍの画像信号Ｐ₁ を適宜に
処理し遅延回路35A によって遅延された物品検知信号ｆ
₁(これを遅延物品検知信号ｆ_1Mという）に応じて三原色
信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色
信号Ｂ）を取り出すための三原色信号取出回路341 を備
えている。三原色信号取出回路341 は、遅延物品検知信
号ｆ_1Mに応じて画像信号Ｐ₁ からそれぞれ赤色信号Ｒ，
緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを取り出すための赤色信
号取出回路341A₁,緑色信号取出回路341B₁ および青紫色
信号取出回路341C₁ と、赤色信号取出回路341A₁,緑色信
号取出回路341B₁ および青紫色信号取出回路341C₁ の出
力端に対してそれぞれ接続されており赤色信号Ｒ，緑色
信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを適宜にクランプするための
クランプ回路341A₂,341B₂,341C₂ と、クランプ回路341A
₂,341B₂,341C₂ の出力端にそれぞれ接続されており適宜
にクランプされた赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色
信号Ｂを適宜に増幅するための増幅回路341A₃,341B₃,34
1C₃ とを包有している。

【０１５０】異物検出部40は、また、三原色信号取出回
路341 の出力端に対して接続されており三原色信号Ｑ
（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）を互いに加算して三原色和信号Ｘ（＝Ｒ＋Ｇ＋Ｂ）
を作成するための三原色信号加算回路342 と、三原色信
号取出回路341 の出力端に対して接続されており三原色
信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色
信号Ｂ）を互いに比較した結果に応じてゲート信号ｇ_R,
ｇ_G,ｇ_B を出力するための比較回路343 とを備えてい
る。ゲート信号ｇ_R,ｇ_G,ｇ_B は、通常１であるが、対応
する三原色信号Ｑが最大となったときに、０とされる。

【０１５１】異物検出部40は、更に、三原色信号取出回
路341 の出力端および三原色信号加算回路342 の出力端
に対して接続されており三原色信号Ｑ（すなわち赤色信
号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）の三原色和信号
Ｘに対する色度信号（すなわち相対色度信号）Ｘ_Q （す
なわち赤色相対色度信号Ｘ_R ＝Ｒ／Ｘ, 緑色相対色度信
号Ｘ_G ＝Ｇ／Ｘおよび青紫色相対色度信号Ｘ_B ＝Ｂ／
Ｘ）を算出するための除算回路344A₁,344B₁,344C₁ と、
除算回路344A₁,344B₁,344C₁ の出力端に対して接続され
ており相対色度信号Ｘ_Q （すなわち赤色相対色度信号Ｘ
_R,緑色相対色度信号Ｘ_G および青紫色相対色度信号Ｘ
_B ）に対しそれぞれ所望の係数α，β，γを乗算して係
数付相対色度信号（すなわち係数付赤色相対色度信号α
Ｘ_R,係数付緑色相対色度信号βＸ_G および係数付青紫色
相対色度信号γＸ_B ）を算出するための乗算回路344A₂,
344B₂,344C₂ と、乗算回路344A₂,344B₂,344C₂ の出力端
および比較回路343 の出力端に対して接続されておりゲ
ート信号ｇ_R,ｇ_G,ｇ_B に応じて乗算回路344A₂,344B₂,34
4C₂ の乗算結果 (すなわち係数付相対色度信号αＸ_R,β
Ｘ_G,γＸ_B ) を通過せしめるためのゲート回路345A,345
B,345Cと、ゲート回路345A,345B,345Cの出力端に対して
接続されておりゲート回路345A,345B,345Cを通過した係
数付相対色度信号を互いに加算して相対色度和信号Ｘ^**
をＸ^**＝｛ｇ_R αＸ_R ＋ｇ_G βＸ_G ＋ｇ_B γＸ_B ｝／Ｘ
のごとく算出するための加算回路346 と、加算回路346
の出力端に対して反転入力端が接続されかつ非反転入力
端が設定回路（図示せず）に対して接続されており相対
色度和信号Ｘ^**が設定回路の設定値Ｘ₀ を超えたか否か
を判定することによって相対色度和信号Ｘ^**がその設定
値Ｘ₀ を超えたときにのみ高レベル状態となる相対色度
和比較信号Ｚを出力するための比較回路347 とを備えて
いる。ここで、比較回路347 が相対色度和信号Ｘ^**を設
定値Ｘ₀ と比較している根拠は、相対色度和信号Ｘ^**に
含まれたノイズを除去し、被検査物品Ｍの表面の色度の
偏倚を異物Ｎと誤認することを回避するにある。

【０１５２】異物検出部40は、加えて、比較回路347 の
出力端に対して入力端が接続されており比較回路347 か
ら与えられた相対色度和比較信号Ｚに含まれたパルス
（すなわち高レベル状態）を計数して被検査物品Ｍに含
まれている異物Ｎの個数を計数し計数結果を計数信号Ｗ
として出力したのち後続の被検査物品Ｍを検知するに伴
ないセンサ31によって発生された物品検知信号ｆ₃ に応
じて計数内容がクリアされる計数回路348 と、計数回路
348 の出力端に対して接続されており計数回路348 から
出力された計数信号Ｗの内容（すなわち計数結果）が所
定値Ｗ₀ を超えたか否かを判定し所定値Ｗ₀ を超えたと
きに異物検出信号Ｖ₁ を発生するための異物検出信号発
生回路349 とを備えている。異物検出信号発生回路349
によって発生された異物検出信号Ｖ₁ は、オア回路40B
を介し異物検出部40の検出結果として出力されており、
ここでは、不良の被検査物品Ｍ⁺ を個別に除去するため
の不良物品除去部50に与えられ、かつ被検査物品の不良
率を算出して表示しあるいは記録するための不良率算出
部60に与えられている。

【０１５３】以上に対し、異物検出部40は、撮像手段34
の出力端に対して接続されており撮像手段34によって撮
像されて出力された被検査物品Ｍの画像信号Ｐ₂ を適宜
に処理し遅延回路35B によって遅延された物品検知信号
ｆ₂(これを遅延物品検知信号ｆ_2Mという）に応じて三原
色信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫
色信号Ｂ）を取り出すための三原色信号取出回路441 を
備えている。三原色信号取出回路441 は、遅延物品検知
信号ｆ_2Mに応じて画像信号Ｐ₂ からそれぞれ赤色信号
Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを取り出すための赤
色信号取出回路441A₁,緑色信号取出回路441B₁ および青
紫色信号取出回路441C₁ と、赤色信号取出回路441A₁,緑
色信号取出回路441B₁ および青紫色信号取出回路441C₁
の出力端に対してそれぞれ接続されており赤色信号Ｒ，
緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを適宜にクランプするた
めのクランプ回路441A₂,441B₂,441C₂ と、クランプ回路
441A₂,441B₂,441C₂ の出力端にそれぞれ接続されており
適宜にクランプされた赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青
紫色信号Ｂを適宜に増幅するための増幅回路441A₃,441B
₃,441C₃ とを包有している。

【０１５４】異物検出部40は、また、三原色信号取出回
路441 の出力端に対して接続されており三原色信号Ｑ
（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）を互いに加算して三原色和信号Ｘ（＝Ｒ＋Ｇ＋Ｂ）
を作成するための三原色信号加算回路442 と、三原色信
号取出回路441 の出力端に対して接続されており三原色
信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色
信号Ｂ）を互いに比較した結果に応じてゲート信号ｇ_R,
ｇ_G,ｇ_B を出力するための比較回路443 とを備えてい
る。ゲート信号ｇ_R,ｇ_G,ｇ_B は、通常１であるが、対応
する三原色信号Ｑが最大となったときに、０とされる。

【０１５５】異物検出部40は、更に、三原色信号取出回
路441 の出力端および三原色信号加算回路442 の出力端
に対して接続されており三原色信号Ｑ（すなわち赤色信
号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）の三原色和信号
Ｘに対する色度信号（すなわち相対色度信号）Ｘ_Q （す
なわち赤色相対色度信号Ｘ_R ＝Ｒ／Ｘ, 緑色相対色度信
号Ｘ_G ＝Ｇ／Ｘおよび青紫色相対色度信号Ｘ_B ＝Ｂ／
Ｘ）を算出するための除算回路444A₁,444B₁,444C₁ と、
除算回路444A₁,444B₁,444C₁ の出力端に対して接続され
ており相対色度信号Ｘ_Q （すなわち赤色相対色度信号Ｘ
_R,緑色相対色度信号Ｘ_G および青紫色相対色度信号Ｘ
_B ）に対しそれぞれ所望の係数α，β，γを乗算して係
数付相対色度信号（すなわち係数付赤色相対色度信号α
Ｘ_R,係数付緑色相対色度信号βＸ_G および係数付青紫色
相対色度信号γＸ_B ）を算出するための乗算回路444A₂,
444B₂,444C₂ と、乗算回路444A₂,444B₂,444C₂ の出力端
および比較回路443 の出力端に対して接続されておりゲ
ート信号ｇ_R,ｇ_G,ｇ_B に応じて乗算回路444A₂,444B₂,44
4C₂ の乗算結果 (すなわち係数付相対色度信号αＸ_R,β
Ｘ_G,γＸ_B ) を通過せしめるためのゲート回路445A,445
B,445Cと、ゲート回路445A,445B,445Cの出力端に対して
接続されておりゲート回路445A,445B,445Cを通過した係
数付相対色度信号を互いに加算して相対色度和信号Ｘ^**
をＸ^**＝｛ｇ_R αＸ_R ＋ｇ_G βＸ_G ＋ｇ_B γＸ_B ｝／Ｘ
のごとく算出するための加算回路446 と、加算回路446
の出力端に対して反転入力端が接続されかつ非反転入力
端が設定回路（図示せず）に対して接続されており相対
色度和信号Ｘ^**が設定回路の設定値Ｘ₀ を超えたか否か
を判定することによって相対色度和信号Ｘ^**がその設定
値Ｘ₀ を超えたときにのみ高レベル状態となる相対色度
和比較信号Ｚを出力するための比較回路347 とを備えて
いる。ここで、比較回路447 が相対色度和信号Ｘ^**を設
定値Ｘ₀ と比較している根拠は、相対色度和信号Ｘ^**に
含まれたノイズを除去し、被検査物品Ｍの表面の色度の
偏倚を異物Ｎと誤認することを回避するにある。

【０１５６】異物検出部40は、加えて、比較回路447 の
出力端に対して入力端が接続されており比較回路447 か
ら与えられた相対色度和比較信号Ｚに含まれたパルス
（すなわち高レベル状態）を計数して被検査物品Ｍに含
まれている異物Ｎの個数を計数し計数結果を計数信号Ｗ
として出力したのち後続の被検査物品Ｍを検知するに伴
ないセンサ31によって発生された物品検知信号ｆ₃ に応
じて計数内容がクリアされる計数回路448 と、計数回路
448 の出力端に対して接続されており計数回路448 から
出力された計数信号Ｗの内容（すなわち計数結果）が所
定値Ｗ₀ を超えたか否かを判定し所定値Ｗ₀ を超えたと
きに異物検出信号Ｖ₂ を発生するための異物検出信号発
生回路449 とを備えている。異物検出信号発生回路449
によって発生された異物検出信号Ｖ₂ は、オア回路40B
を介し異物検出部40の検出結果として出力されており、
ここでは、不良の被検査物品Ｍ⁺ を個別に除去するため
の不良物品除去部50に与えられ、かつ被検査物品の不良
率を算出して表示しあるいは記録するための不良率算出
部60に与えられている。

【０１５７】異物検出部40は、センサ32から与えられた
透過光信号Ｐ₃ を設定回路（図示せず）の設定値Ｔ₀ と
比較し、設定値Ｔ₀ に満たないとき被検査物品Ｍの内部
に異物Ｎが混入しあるいはその表面もしくは裏面に異物
Ｎが付着している旨の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
の比較回路541 を備えている。比較回路541 によって発
生された異物検出信号Ｖ₃ は、オア回路40B を介し異物
検出部40の検出結果として出力されており、ここでは、
不良の被検査物品Ｍ⁺ を個別に除去するための不良物品
除去部50に与えられ、かつ被検査物品の不良率を演算し
て求め表示あるいは記録するための不良率算出部60に与
えられている。

【０１５８】（第４の実施例の作用）

【０１５９】更に、図９Ａないし図10，図２および図15
Ａないし図16Ｂを参照しつつ、本発明にかかる物品検査
装置の第４の実施例について、その作用を詳細に説明す
る。

【０１６０】被検査物品Ｍの撮像

【０１６１】物品撮像部30のセンサ31は、被検査物品Ｍ
が物品搬送部20のコンベアベルト21によって矢印Ａ方向
に向けて搬送されたのちローラ31A によって押えられつ
つコンベアベルト22に向けて移動しようとするに際し、
被検査物品Ｍを検知して物品検知信号ｆ (すなわちｆ₁,
ｆ₂,ｆ₃ ) を発生する（ステップ１）。

【０１６２】物品撮像部30の撮像手段33は、物品検知信
号ｆ₁ が与えられると、被検査物品Ｍの表面の撮像を開
始し、その撮像結果を画像信号Ｐ₁ として送出し始める
（ステップ２）。

【０１６３】撮像手段33の近傍では、光源33A によって
発生された照射光Ｌが散乱部材33B によって散乱された
のち散乱光ｌとしてコンベアベルト23上の被検査物品Ｍ
に上方より照射されているので、コンベアベルト23上の
被検査物品Ｍの表面および被検査物品Ｍの表面に付着し
た異物Ｎで反射されるとき、異物Ｎにおける正常反射
（ここでは正反射）Ｒ_fの光量に比べ、被検査物品Ｍの
表面における異常反射（ここでは正反射）Ｒ_f ^*の光量を
十分に減少せしめることができる。このため、画像信号
Ｐ₁ は、異物Ｎのみに対応して顕著に高レベル状態Ｈと
なる。

【０１６４】また、センサ31の出力した物品検知信号ｆ
₁ は、遅延回路35A により、被検査物品Ｍが物品撮像部
30の撮像手段33の近傍を通過するに必要とする時間に対
応して適宜に遅延せしめられて、遅延物品検知信号ｆ_1M
とされる（ステップ３）。

【０１６５】物品撮像部30の撮像手段34は、物品検知信
号ｆ₂ が与えられると、被検査物品Ｍの裏面の撮像を開
始し、その撮像結果を画像信号Ｐ₂ として送出し始める
（ステップ２）。

【０１６６】撮像手段34の近傍では、光源34A によって
発生された照射光Ｌが散乱部材34B によって散乱された
のち散乱光ｌとしてコンベアベルト23からコンベアベル
ト24へ移動されている被検査物品Ｍに下方より照射され
ているので、コンベアベルト23からコンベアベルト24へ
移動されている被検査物品Ｍの裏面および被検査物品Ｍ
の裏面に付着した異物Ｎで反射されるとき、異物Ｎにお
ける正常反射（ここでは正反射）Ｒ_f の光量に比べ、被
検査物品Ｍの裏面における異常反射（ここでは正反射）
Ｒ_f ^*の光量を十分に減少せしめることができる。このた
め、画像信号Ｐ₂ は、異物Ｎのみに対応して顕著に高レ
ベル状態Ｈとなる。

【０１６７】また、センサ31の出力した物品検知信号ｆ
₂ は、遅延回路35B により、被検査物品Ｍが物品撮像部
30の撮像手段34の近傍を通過するに必要とする時間に対
応して適宜に遅延せしめられて、遅延物品検知信号ｆ_2M
とされる（ステップ３）。

【０１６８】三原色信号Ｑの取出

【０１６９】被検査物品Ｍの画像信号Ｐ₁ は、異物検出
部40の三原色信号取出回路341 に含まれた赤色信号取出
回路341A₁,緑色信号取出回路341B₁ および青紫色信号取
出回路341C₁ に与えられる。

【０１７０】赤色信号取出回路341A₁,緑色信号取出回路
341B₁ および青紫色信号取出回路341C₁ は、画像信号Ｐ
₁ から三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇ
および青紫色信号Ｂ）を取り出し、遅延物品検知信号ｆ
_1Mが与えられたとき、クランプ回路341A₂,341B₂,341C₂
に向けて出力する（ステップ４）。

【０１７１】クランプ回路341A₂,341B₂,341C₂は、それ
ぞれ赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを適宜
にクランプしたのち、増幅回路341A₃,341B₃,341C₃ に向
けて出力する（ステップ５）。

【０１７２】増幅回路341A₃,341B₃,341C₃ は、クランプ
回路341A₂,341B₂,341C₂ で適宜にクランプされた赤色信
号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを、それぞれ適宜
に増幅したのち、加算回路342 ，比較回路343 および除
算回路344A₁,344B₁,344C₁ に向けて出力する（ステップ
６）。

【０１７３】以上に対し、被検査物品Ｍの画像信号Ｐ₂
は、異物検出部40の三原色信号取出回路441 に含まれた
赤色信号取出回路441A₁,緑色信号取出回路441B₁ および
青紫色信号取出回路441C₁ に与えられる。

【０１７４】赤色信号取出回路441A₁,緑色信号取出回路
441B₁ および青紫色信号取出回路441C₁ は、画像信号Ｐ
₂ から三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇ
および青紫色信号Ｂ）を取り出し、遅延物品検知信号ｆ
_2Mが与えられたとき、クランプ回路441A₂,441B₂,441C₂
に向けて出力する（ステップ４）。

【０１７５】クランプ回路441A₂,441B₂,441C₂は、それ
ぞれ赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを適宜
にクランプしたのち、増幅回路441A₃,441B₃,441C₃ に向
けて出力する（ステップ５）。

【０１７６】増幅回路441A₃,441B₃,441C₃ は、クランプ
回路441A₂,441B₂,441C₂ で適宜にクランプされた赤色信
号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂを、それぞれ適宜
に増幅したのち、加算回路442 ，比較回路443 および除
算回路444A₁,444B₁,444C₁ に向けて出力する（ステップ
６）。

【０１７７】三原色和信号Ｘの算出

【０１７８】加算回路342 は、三原色信号取出回路341
の出力端（すなわち増幅回路341A₃,341B₃,341C₃ の出力
端）から与えられた三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号
Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を互いに加算する
ことにより、三原色和信号Ｘ＝Ｒ＋Ｇ＋Ｂを算出する
（ステップ７）。

【０１７９】これに対し、加算回路442 は、三原色信号
取出回路441 の出力端（すなわち増幅回路441A₃,441B₃,
441C₃ の出力端）から与えられた三原色信号Ｑ（すなわ
ち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を互い
に加算することにより、三原色和信号Ｘ(＝Ｒ＋Ｇ＋Ｂ)
を算出する（ステップ７）。

【０１８０】相対色度信号Ｘ_R,Ｘ_G,Ｘ_B の算出

【０１８１】除算回路344A₁,344B₁,344C₁ では、三原色
信号取出回路341 の出力端（すなわち増幅回路341A₃,34
1B₃,341C₃ の出力端）から与えられた三原色信号Ｑ（す
なわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を
加算回路342 から与えられた三原色和信号Ｘ (＝Ｒ＋Ｇ
＋Ｂ) によって除することにより、相対色度信号Ｘ_Q
（すなわち赤色相対色度信号Ｘ_R ＝Ｒ／Ｘ，緑色相対色
度信号Ｘ_G ＝Ｇ／Ｘおよび青紫色相対色度信号Ｘ_B ＝Ｂ
／Ｘ）が算出される（ステップ８）。

【０１８２】相対色度信号Ｘ_Q （すなわち赤色相対色度
信号Ｘ_R ，緑色相対色度信号Ｘ_G および青紫色相対色度
信号Ｘ_B ）は、乗算回路344A₂,344B₂,344C₂ において適
宜の係数α，β，γが乗じられることにより、係数付相
対色度信号αＸ_R ，βＸ_G ，γＸ_B とされる（ステップ
９）。係数α，β，γは、被検査物品Ｍと異物Ｎとの色
彩の差異に応じて適宜に決定される。

【０１８３】これに対し、除算回路444A₁,444B₁,444C₁
では、三原色信号取出回路441 の出力端（すなわち増幅
回路441A₃,441B₃,441C₃ の出力端）から与えられた三原
色信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫
色信号Ｂ）を加算回路442 から与えられた三原色和信号
Ｘ (＝Ｒ＋Ｇ＋Ｂ)によって除することにより、相対色
度信号Ｘ_Q （すなわち赤色相対色度信号Ｘ_R ＝Ｒ／Ｘ，
緑色相対色度信号Ｘ_G ＝Ｇ／Ｘおよび青紫色相対色度信
号Ｘ_B ＝Ｂ／Ｘ）が算出される（ステップ８）。

【０１８４】相対色度信号Ｘ_Q （すなわち赤色相対色度
信号Ｘ_R ，緑色相対色度信号Ｘ_G および青紫色相対色度
信号Ｘ_B ）は、乗算回路444A₂,444B₂,444C₂ において適
宜の係数α，β，γが乗じられることにより、係数付相
対色度信号αＸ_R ，βＸ_G ，γＸ_B とされる（ステップ
９）。係数α，β，γは、被検査物品Ｍと異物Ｎとの色
彩の差異に応じて適宜に決定される。

【０１８５】三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの相対比較

【０１８６】比較回路343 では、三原色信号取出回路34
1 の出力端（すなわち増幅回路341A₃,341B₃,341C₃ の出
力端）から与えられた三原色信号Ｑ（すなわち赤色信号
Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を互いに比較し、
その比較結果に応じてゲート信号ｇ_R,ｇ_G,ｇ_B を出力す
る（ステップ10，11）。ゲート信号ｇ_R,ｇ_G,ｇ_B は、対
応する三原色信号Ｑが最大のときに０となることを除
き、通常１とされている。

【０１８７】これに対し、比較回路443 では、三原色信
号取出回路441 の出力端（すなわち増幅回路441A₃,441B
₃,441C₃ の出力端）から与えられた三原色信号Ｑ（すな
わち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号Ｂ）を互
いに比較し、その比較結果に応じてゲート信号ｇ_R,ｇ_G,
ｇ_B を出力する（ステップ10，11）。ゲート信号ｇ_R,ｇ
_G,ｇ_B は、対応する三原色信号Ｑが最大のときに０とな
ることを除き、通常１とされている。

【０１８８】相対色度和信号Ｘ^**の算出

【０１８９】乗算回路344A₂,344B₂,344C₂ から出力され
た係数付相対色度信号αＸ_R,βＸ_G,γＸ_B は、ゲート回
路345A,345B,345Cにおいて、ゲート信号ｇ_R,ｇ_G,ｇ_B に
よって適宜に選択され（すなわちゲート信号ｇ_R,ｇ_G,ｇ
_B が乗じられ）たのち、加算回路346 に与えられる（ス
テップ12）。

【０１９０】加算回路346 では、ゲート回路345A,345B,
345Cを通過した係数付相対色度信号αＸ_R,βＸ_G,γＸ_B
が互いに加算され、相対色度和信号Ｘ^** (＝ｇ_R αＸ_R
＋ｇ_G βＸ_G ＋ｇ_B γＸ_B ) として出力される（ステッ
プ13）。

【０１９１】相対色度和信号Ｘ^**は、比較回路347 の反
転入力端に与えられ、設定回路（図示せず）から非反転
入力端に与えられた設定値Ｘ₀ と比較されている（ステ
ップ14）。比較回路347 における比較結果は、相対色度
和比較信号Ｚとして出力される。

【０１９２】これに対し、乗算回路444A₂,444B₂,444C₂
から出力された係数付相対色度信号αＸ_R,βＸ_G,γＸ_B
は、ゲート回路445A,445B,445Cにおいて、ゲート信号ｇ
_R,ｇ_G,ｇ_B によって適宜に選択され（すなわちゲート信
号ｇ_R,ｇ_G,ｇ_B が乗じられ）たのち、加算回路446 に与
えられる（ステップ12）。

【０１９３】加算回路446 では、ゲート回路445A,445B,
445Cを通過した係数付相対色度信号αＸ_R,βＸ_G,γＸ_B
が互いに加算され、相対色度和信号Ｘ^** (＝ｇ_R αＸ_R
＋ｇ_G βＸ_G ＋ｇ_B γＸ_B ) として出力される（ステッ
プ13）。

【０１９４】相対色度和信号Ｘ^**は、比較回路447 の反
転入力端に与えられ、設定回路（図示せず）から非反転
入力端に与えられた設定値Ｘ₀ と比較されている（ステ
ップ14）。比較回路447 における比較結果は、相対色度
和比較信号Ｚとして出力される。

【０１９５】異物Ｎの計数

【０１９６】計数回路348 は、比較回路347 から与えら
れた相対色度和比較信号Ｚに含まれたパルス（すなわち
高レベル状態）を計数して被検査物品Ｍの表面に付着し
た異物Ｎの個数を計数する（ステップ15）。

【０１９７】計数回路348 は、センサ31から後続の物品
検知信号ｆ₃ が与えられるまで、その計数動作を続行す
る（ステップ16）。すなわち、計数回路348 は、センサ
31から後続の物品検知信号ｆ₃ が与えられたとき、その
計数動作を終了し、計数結果Ｗを出力し、かつその計数
内容をリセットする。

【０１９８】これに対し、計数回路448 は、比較回路44
7 から与えられた相対色度和比較信号Ｚに含まれたパル
ス（すなわち高レベル状態）を計数して被検査物品Ｍの
裏面に付着した異物Ｎの個数を計数する（ステップ1
5）。すなわち、計数回路448 は、センサ31から後続の
物品検知信号ｆ₃ が与えられるまで、その計数動作を続
行する（ステップ16）。

【０１９９】計数回路448 は、センサ31から後続の物品
検知信号ｆ₃ が与えられたとき、その計数動作を終了し
たのち、計数結果Ｗを出力し、かつその計数内容をリセ
ットする。

【０２００】異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ の発生

【０２０１】異物検出信号発生回路349 は、計数回路34
8 から与えられた計数結果Ｗが設定値Ｗ₀ よりも大きい
か否かを、判定する（ステップ17）。すなわち、異物検
出信号発生回路349 は、(i) 計数結果Ｗが設定値Ｗ₀ よ
りも大きい場合、異物検出信号Ｖ₁ を発生し、また(ii)
計数結果Ｗが設定値Ｗ₀ よりも小さい場合、異物検出信
号Ｖ₁ を発生しない（ステップ17）。

【０２０２】また、異物検出信号発生回路449 は、計数
回路448 から与えられた計数結果Ｗが設定値Ｗ₀ よりも
大きいか否かを、判定する（ステップ17）。すなわち、
異物検出信号発生回路449 は、(i) 計数結果Ｗが設定値
Ｗ₀ よりも大きい場合、異物検出信号Ｖ₂ を発生し、ま
た(ii)計数結果Ｗが設定値Ｗ₀よりも小さい場合、異物
検出信号Ｖ₂ を発生しない（ステップ17）。

【０２０３】加えて、比較回路541 は、センサ32から与
えられた透過光信号Ｐ₃ が設定値Ｔ₀ よりも小さいか否
かを、判定する (ステップ17) 。すなわち、比較回路54
1 は、(i) 透過光信号Ｐ₃ が設定値Ｔ₀ よりも小さい場
合、異物検出信号Ｖ₃ を発生し、また(ii)透過光信号Ｐ
₃が設定値Ｔ₀ よりも大きい場合、異物検出信号Ｖ₃ を
発生しない (ステップ17)

【０２０４】異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ は、オア回路40
B を介し異物検出部40の検出結果として不良物品除去部
50および不良率算出部60へ与えられている (ステップ1
8) 。

【０２０５】不良の被検査物品Ｍ⁺ の除去

【０２０６】異物検出部40から異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ
₃ の少なくとも１つが与えられたとき、不良物品除去部
50では、異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ に応じて駆動部材52
が切替フィン51を切替えて被検査物品Ｍ（すなわち不良
の被検査物品Ｍ⁺)を収納箱53へ収納する（ステップ1
8）。

【０２０７】異物検出部40から異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ
₃ のいずれもが与えられなかったとき、不良物品除去部
50では、駆動部材52が切替フィン51を切替えることがな
く、被検査物品Ｍが移送プーリ54によって切替フィン51
からコンベアベルト24に向けて移送せしめられる（ステ
ップ19）。

【０２０８】不良率の算出

【０２０９】異物検出部40から異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ
₃ が与えられるか否かにかかわらず、不良率算出部60で
は、算出回路61が、異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ の発生回
数とセンサ31から与えられた物品検知信号ｆ₃ の発生回
数とをそれぞれ計数したのち、異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ
₃ の計数結果を物品検知信号ｆ₃ の計数結果によって除
することにより、被検査物品の不良率を算出する（ステ
ップ20）。

【０２１０】算出回路61によって算出された被検査物品
の不良率は、表示装置62によって表示され、また記録装
置63によって記録されることにより、その被検査物品の
品質の判断などに供される（ステップ21）。

【０２１１】（第５の実施例の構成・作用）

【０２１２】加えて、図11Ａないし図12B および図15Ａ
ないし図16Ｂを参照しつつ、本発明にかかる物品検査装
置の第５の実施例について、その構成および作用を詳細
に説明する。ここでは、便宜上、被検査物品Ｍの色彩が
赤色を強く帯びかつ異物（被検査物品Ｍが乾燥海苔のと
き、小エビ，網クズあるいは藁クズなど）Ｎが被検査物
品Ｍに比べて緑色あるいは青紫色を帯びており、赤色相
対色度信号Ｘ_R を利用することなく、異物Ｎの検出を実
行できる場合について説明する。

【０２１３】第５の実施例は、比較回路343;443,除算回
路344A₁;444A₁,乗算回路344A₂;444A₂ およびゲート回路
345A,345B,345C;445A,445B,445C が除去されたことを除
き、第４の実施例と同一の構成を有している。

【０２１４】したがって、第５の実施例は、緑色相対色
度信号Ｘ_G および青紫色相対色度信号Ｘ_B を被検査物品
Ｍと異物Ｎとの間の色彩の差異に応じて適宜の割合で互
いに加算して相対色度和信号Ｘ^**を作成することを除
き、第４の実施例と同一の作用をなしている。

【０２１５】それ故、ここでは、説明を簡潔とするため
に、第４の実施例に包有された部材ないしはステップに
対応する部材ないしはステップに対し、第４の実施例と
同一の参照番号を付すことにより、その他の構成および
作用の詳細な説明を省略する。

【０２１６】なお、上述においては、赤色相対色度信号
Ｘ_R が利用されない場合について説明したが、本発明
は、これに限定されるものではなく、被検査物品Ｍと異
物Ｎとの色彩の差異に応じて緑色相対色度信号Ｘ_G ある
いは青紫色相対色度信号Ｘ_B が利用されない場合も包摂
している。

【０２１７】（第６の実施例の構成・作用）

【０２１８】併せて、図13Ａないし図16Ｂを参照しつ
つ、本発明にかかる物品検査装置の第６の実施例につい
て、その構成および作用を詳細に説明する。ここでは、
便宜上、被検査物品Ｍの色彩が赤色および青紫色を強く
帯びかつ異物Ｎが被検査物品Ｍに比べて緑色を帯びてお
り、赤色相対色度信号Ｘ_R および青紫色相対色度信号Ｘ
_B を利用することなく、異物Ｎの検出を実行できる場合
について説明する。

【０２１９】第６の実施例は、比較回路343;443,除算回
路344A₁,344C₁;444A₁,444C₁,乗算回路344A₂,344C₂;444A
₂,444C₂ およびゲート回路345A,345B,345C;445A,445B,4
45C に加え加算回路346;446 が除去されたことを除き、
第４の実施例と同一の構成を有している。

【０２２０】したがって、第６の実施例は、緑色相対色
度信号Ｘ_G を被検査物品Ｍと異物Ｎとの間の色彩の差異
に応じて適宜の割合で増幅して相対色度信号Ｘ^* を作成
することを除き、第４の実施例と同一の作用をなしてい
る。

【０２２１】それ故、ここでは、説明を簡潔とするため
に、第４の実施例に包有された部材ないしはステップに
対応する部材ないしはステップに対し、第４の実施例と
同一の参照番号を付すことにより、その他の構成および
作用の詳細な説明を省略する。

【０２２２】なお、上述においては、赤色相対色度信号
Ｘ_R および青紫色相対色度信号Ｘ_B が利用されない場合
について説明したが、本発明は、これに限定されるもの
ではなく、赤色相対色度信号Ｘ_R および緑色相対色度信
号Ｘ_G あるいは緑色相対色度信号Ｘ_G および青紫色相対
色度信号Ｘ_B が利用されない場合も包摂している。

【０２２３】 (変形例)

【０２２４】上述では、センサ32が透過光信号Ｐ₃ をア
ナログ信号として出力する場合について説明したが、本
発明は、これに限定されるものではなく、透過光信号Ｐ
₃ をデジタル信号 (すなわちオンオフ信号) として出力
する場合も包摂している。このときは、比較回路241 を
省略してもよい。

【０２２５】また、不良率算出部60において異物検出部
40から与えられた異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ を区別する
ことなく計数しているが、本発明は、これに限定される
ものではなく、異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ を個別に計数
してもよく、また、異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂,Ｖ₃ の一部を
選択して計数してもよい。このときは、異物検出信号Ｖ
₁,Ｖ₂,Ｖ₃ についてそれぞれ算出回路を配置すればよ
い。

【０２２６】（実施例の要約）

【０２２７】本発明にかかる物品検査装置10は、物品搬
送部20によって搬送されている被検査物品Ｍに異物Ｎが
混入ないし付着しているか否かを検査しており、特に、
被検査物品Ｍに対し近赤外線を照射したときに得られる
透過光信号Ｐ₃ の低レベル状態を計数して被検査物品Ｍ
に混入ないし付着した異物Ｎを計数し、計数結果が所定
値を超えたとき異物検出信号Ｖ₃ を発生することによ
り、不良の被検査物品Ｍ⁺ の除去あるいは被検査物品の
不良率の算出などに利用可能としているので、(i) 被検
査物品Ｍに混入ないし付着した異物Ｎを肉眼によること
なく検出可能とでき、また(ii)被検査物品に混入ないし
は付着した異物をその肉厚に左右されることなく検出可
能とでき、ひいては (iii)検査要員を削減可能とでき、
加えて(iv)被検査物品の検査精度を向上できる。

【０２２８】本発明にかかる物品検査装置10は、また、
物品搬送部20によって搬送されている被検査物品Ｍに異
物Ｎが混入ないし付着しているか否かを検査しており、
特に、(a) 被検査物品Ｍに対し近赤外線を照射したとき
に得られる透過光信号Ｐ₃ の低レベル状態を計数して被
検査物品Ｍに混入ないし付着した異物Ｎを計数し、計数
結果が所定値を超えたときに異物検出信号Ｖ₃ を発生
し、かつ(b) 被検査物品Ｍの表面および裏面をそれぞれ
撮像して得た画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ から取り出された三原色
信号Ｑ（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色
信号Ｂ）に基づき輝度信号Ｙおよび相対色度信号Ｘ^* の
少なくとも一方を作成し、計数回路48;148に与えて輝度
信号Ｙおよび相対色度信号Ｘ^* の少なくとも一方の高レ
ベル状態を計数して被検査物品Ｍの表面もしくは裏面に
付着した異物Ｎを計数し、計数結果Ｗが所定値Ｗ₀ を超
えたときに異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生して不良の被検
査物品Ｍ⁺ の除去あるいは被検査物品の不良率の算出な
どに利用可能としているので、上記(i) 〜(iv)に加え、
(v) 被検査物品の表面もしくは裏面の光学的特性に接近
ないし劣った光学的特性をもち画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ のみで
は検出困難な異物までも検査可能とでき、ひいては(vi)
被検査物品の検査精度を一層向上できる。

【０２２９】本発明にかかる物品検査装置10は、更に、
物品搬送部20によって搬送されている被検査物品Ｍに異
物が混入ないし付着しているか否かを検査しており、特
に、(a) 被検査物品Ｍに対し近赤外線を照射したときに
得られる透過光信号Ｐ₃ の低レベル状態を計数して被検
査物品Ｍに混入ないし付着した異物Ｎを計数し、計数結
果が所定値を超えたとき異物検出信号Ｖ₃ を発生し、か
つ(b) 被検査物品Ｍの表面および裏面をそれぞれ撮像し
て得た画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ から取り出された三原色信号Ｑ
（すなわち赤色信号Ｒ，緑色信号Ｇおよび青紫色信号
Ｂ）に基づき赤色相対色度信号Ｘ_R ，緑色相対色度信号
Ｘ_G および青紫色相対色度信号Ｘ_B のうちの１つもしく
は２つを作成して被検査物品Ｍと異物Ｎとの色彩の差異
に応じて適宜に加算し、計数回路348;448 に与えてその
高レベル状態を計数して被検査物品Ｍの表面もしくは裏
面に付着した異物Ｎの個数を計数し、計数結果Ｗが所定
値Ｗ₀ を超えたとき異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するこ
とにより、不良の被検査物品Ｍ⁺ の除去あるいは被検査
物品の不良率の算出などに利用可能としているので、上
記(i) 〜(vi)に加え、(vii) 被検査物品Ｍに付着した異
物Ｎを被検査物品Ｍとの間の色彩の差異を利用して検出
可能とでき、ひいては(viii)被検査物品Ｍの異物検査の
効率を向上せしめることができ、併せて(ix)被検査物品
Ｍの性状に応じて適格な異物検査を達成できる。

【０２３０】

【発明の効果】上述より明らかなように、本発明にかか
る物品検査装置は、上述の［問題点の解決手段］の欄
に、第１の解決手段として挙げたごとく、被検査物品に
対し近赤外線を照射したときに得られる透過光信号Ｐ₃
を処理することにより被検査物品に異物が混入ないし付
着しているか否か検査しているので、 (i) 被検査物品に混入ないしは付着した異物を肉眼に
よることなく検出可能とできる効果を有し、また (ii) 被検査物品に混入ないしは付着した異物をその肉
厚に左右されることなく検出可能とできる効果を有し、
ひいては (iii) 検査要員を削減可能とできる効果に加え (iv) 被検査物品の検査精度を向上せしめることができ
る効果を有する。

【０２３１】本発明にかかる物品検査装置は、また、上
述の〔問題点の解決手段〕の欄に、第１ないし第１２の
解決手段として挙げたごとく、被検査物品の表面もしく
は裏面から得られた画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ を処理することに
より被検査物品に異物が付着しているか否かを検査する
に加え、被検査物品に対し近赤外線を照射したときに得
られる透過光信号Ｐ₃ を処理することにより被検査物品
に異物が混入ないし付着しているか否か検査しているの
で、上記(i) 〜（iv) の効果に加え、 (v) 被検査物品の表面もしくは裏面の光学的特性に接近
ないし劣った光学的特性をもち画像信号のみでは検出困
難な異物までも検査可能とできる効果を有し、ひいては （vi) 被検査物品の検査精度を一層向上せしめることが
できる効果を有する。

【０２３２】本発明にかかる物品検査装置は、更に、上
述の〔問題点の解決手段〕の欄に、第４ないし第６の解
決手段ならびに第１０ないし第１２の解決手段として挙
げたごとく、被検査物品の光学的特性と異物の光学的特
性との相異に基づき、被検査物品の表面もしくは裏面か
ら得られた画像信号Ｐ₁,Ｐ₂ を処理を適宜に実行してい
るので、上記(i) 〜（vi) の効果に加え、 (vii) 被検査物品に付着した異物を被検査物品との間の
色彩の差異を利用して検出可能とできる効果を有し、ひ
いては （viii) 被検査物品の異物検査の時間的効率を向上せし
めることができる効果を有し、併せて (ix) 被検査物品の性状に応じて適格な異物検査を達成
できる効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１Ａ】本発明にかかる物品検査装置の第１の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図１Ｂ】本発明にかかる物品検査装置の第１の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図１Ｃ】本発明にかかる物品検査装置の第１の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図２】 図１Ａないし図１Ｃに示した第１の実施例の
一部を拡大して示すための部分破断斜視図である。

【図３】 図１Ａないし図１Ｃに示した第１の実施例の
一部を拡大して示すための部分ブロック回路図である。

【図４】 図１Ａないし図１Ｃに示した第１の実施例の
動作を示すためのフローチャート図である。

【図５Ａ】本発明にかかる物品検査装置の第２の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図５Ｂ】本発明にかかる物品検査装置の第２の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図５Ｃ】本発明にかかる物品検査装置の第２の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図６】 図５Ａないし図５Ｃに示した第２の実施例の
動作を示すためのフローチャート図である。

【図７Ａ】本発明にかかる物品検査装置の第３の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図７Ｂ】本発明にかかる物品検査装置の第３の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図７Ｃ】本発明にかかる物品検査装置の第３の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図８】 図７Ａないし図７Ｃに示した第３の実施例の
動作を示すためのフローチャート図である。

【図９Ａ】本発明にかかる物品検査装置の第４の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図９Ｂ】本発明にかかる物品検査装置の第４の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図９Ｃ】本発明にかかる物品検査装置の第４の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図10】 図９Ａないし図９Ｃに示した第４の実施例の
動作を示すためのフローチャート図である。

【図11Ａ】本発明にかかる物品検査装置の第５の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図11Ｂ】本発明にかかる物品検査装置の第５の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図11Ｃ】本発明にかかる物品検査装置の第５の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図12】 図11Ａないし図11Ｃに示した第５の図実施例
の動作を示すためのフローチャート図である。

【図13Ａ】本発明にかかる物品検査装置の第６の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図13Ｂ】本発明にかかる物品検査装置の第６の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図13Ｃ】本発明にかかる物品検査装置の第６の実施例
の一部を示すためのブロック回路図である。

【図14】 図13Ａないし図13Ｃに示した第６の実施例の
動作を示すためのフローチャート図である。

【図15Ａ】図１Ａないし図１Ｃに示した第１の実施例，
図５Ａないし図５Ｃに示した第２の実施例，図７Ａない
し図７Ｃに示した第３の実施例，図９Ａないし図９Ｃに
示した第４の実施例，図11Ａないし図11Ｃに示した第５
の実施例および図13Ａないし図13Ｃに示した第６の実施
例の動作を説明するための説明図である。

【図15Ｂ】図１Ａないし図１Ｃに示した第１の実施例，
図５Ａないし図５Ｃに示した第２の実施例，図７Ａない
し図７Ｃに示した第３の実施例，図９Ａないし図９Ｃに
示した第４の実施例，図11Ａないし図11Ｃに示した第５
の実施例および図13Ａないし図13Ｃに示した第６の実施
例の動作を説明するための説明図である。

【図16Ａ】図１Ａないし図１Ｃに示した第１の実施例，
図５Ａないし図５Ｃに示した第２の実施例，図７Ａない
し図７Ｃに示した第３の実施例，図９Ａないし図９Ｃに
示した第４の実施例，図11Ａないし図11Ｃに示した第５
の実施例および図13Ａないし図13Ｃに示した第６の実施
例の動作を説明するための説明図である。

【図16Ｂ】図１Ａないし図１Ｃに示した第１の実施例，
図５Ａないし図５Ｃに示した第２の実施例，図７Ａない
し図７Ｃに示した第３の実施例，図９Ａないし図９Ｃに
示した第４の実施例，図11Ａないし図11Ｃに示した第５
の実施例および図13Ａないし図13Ｃに示した第６の実施
例の動作を説明するための説明図である。

【符号の説明】10・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 物品検査装置20・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 物品搬送部 21, 〜,24 ・・・・・・・・・・コンベアベルト 21A,〜,24A・・・・・・・・ヘッドプーリ 21B,〜,24B・・・・・・・・テールプーリ30・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 物品撮像部 31・・・・・・・・・・・・・・・・・・センサ 31A ・・・・・・・・・・・・・・押ローラ 32・・・・・・・・・・・・・・・・・・センサ 32A ・・・・・・・・・・・・・・赤外線照射器 33,34 ・・・・・・・・・・・・・・撮像手段 33A,34A・・・・・・・・・・・光源 33B,34B・・・・・・・・・・・散乱部材 33C,34C・・・・・・・・・・・遮光部材 35A,35B ・・・・・・・・・・・・遅延回路40・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 異物検出部 40A,40B ・・・・・・・・・・オア回路 41;141・・・・・・・・・・・・・・三原色信号取出回路 42;142・・・・・・・・・・・・・・輝度信号作成回路 43;143・・・・・・・・・・・・・・比較回路 44;144・・・・・・・・・・・・・・三原色信号加算回路 45;145・・・・・・・・・・・・・・割算回路 46;146・・・・・・・・・・・・・・比較回路 47;147・・・・・・・・・・・・・・信号組合回路 48;148・・・・・・・・・・・・・・計数回路 49;149・・・・・・・・・・・・・・異物検出信号発生回路 241 ・・・・・・・・・・・・・・・・比較回路 341;441・・・・・・・・・・・・・三原色信号取出回路 341A₁;441A₁・・・・・・・赤色信号取出回路 341B₁;441B₁・・・・・・・緑色信号取出回路 341C₁;441C₁・・・・・・・青紫色信号取出回路 341A₂;341A₂ ・・・・・・クランプ回路 341B₂;441B₂ ・・・・・・クランプ回路 341C₂;441C₂ ・・・・・・クランプ回路 341A₃;441A₃ ・・・・・・増幅回路 341B₃;441B₃ ・・・・・・増幅回路 341C₃;441C₃ ・・・・・・増幅回路 342;442・・・・・・・・・・・・・加算回路 343;443・・・・・・・・・・・・・比較回路 344A₁;444A₁ ・・・・・・・・除算回路 344B₁;444B₁ ・・・・・・・・除算回路 344C₁;444C₁ ・・・・・・・・除算回路 344A₂;444A₂ ・・・・・・・・乗算回路 344B₂;444B₂ ・・・・・・・・乗算回路 344C₂;444C₂ ・・・・・・・・乗算回路 345A,345B,345C ・・・・・ゲート回路 445A,445B,445C ・・・・・ゲート回路 346;446・・・・・・・・・・・・・加算回路 347;447・・・・・・・・・・・・・比較回路 348;448・・・・・・・・・・・・・計数回路 349;449・・・・・・・・・・・・・異物検出信号発生回路50・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 不良物品除去部 51・・・・・・・・・・・・・・・・・・切替フィン 52・・・・・・・・・・・・・・・・・・駆動部材 53・・・・・・・・・・・・・・・・・・収納箱 54・・・・・・・・・・・・・・・・・・移送プーリ60・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ 不良率算出部 61・・・・・・・・・・・・・・・・・・算出回路 62・・・・・・・・・・・・・・・・・・表示装置 63・・・・・・・・・・・・・・・・・・記録装置

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平２−40542（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−175879（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−88654（ＪＰ，Ａ) 特開 平３−176647（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−280641（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−101448（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−127378（ＪＰ，Ａ) 特開 昭51−94990（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−157044（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−186722（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−263424（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁶，ＤＢ名) G01N 21/84 - 21/90 G01B 11/30

Claims (18)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】物品搬送部によって搬送されている被検査
   物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
   することにより被検査物品に異物が付着しているか否か
   を検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第１の三原色信号
   取出回路(41)と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
   力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(41)
   から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号Ｙを
   作成するための第１の輝度信号作成回路(42)と、 (c) 第１の輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
   端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか否
   かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ高
   レベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を出力するための第
   １の比較回路(43)と、 (d) 第１の比較回路(43)の出力端に対して入力端が接続
   されており、輝度比較信号Ｙ⁺ に含まれた高レベル状態
   を計数することによって被検査物品の表面に付着した異
   物を計数するための第１の計数回路(48)と、 (e) 第１の計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
   されており、第１の計数回路(48)の計数結果が所定値を
   超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
   を示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第１の
   異物検出信号発生回路(49)と、 (f) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第２の三原色信号
   取出回路(141) と、 (g) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(1
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号
   Ｙを作成するための第２の輝度信号作成回路(142) と、 (h) 第２の輝度信号作成回路(142) の出力端に対して入
   力端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか
   否かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ
   高レベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を出力するための
   第２の比較回路(143) と、 (i) 第２の比較回路(143) の出力端に対して入力端が接
   続されており、輝度比較信号Ｙ⁺ に含まれた高レベル状
   態を計数することによって被検査物品の裏面に付着した
   異物を計数するための第２の計数回路(148) と、 (j) 第２の計数回路(148) の出力端に対して入力端が接
   続されており、第２の計数回路(148) の計数結果が所定
   値を超えたとき被検査物品の裏面に異物が付着している
   ことを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するための第
   ２の異物検出信号発生回路(149) と、 (k) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
   されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
   ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (l) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
   されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
   受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
   (32)と、 (m) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
   り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
   て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
   ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
   の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
   とを特徴とする物品検査装置。
2. 【請求項２】輝度信号Ｙが、総和が１であって０以上か
   つ１以下の値をもつ３つの係数α，β，γと三原色信号
   Ｒ，Ｇ，Ｂとを用いてαＲ＋βＧ＋γＢと表わされてな
   ることを特徴とする請求項１に記載された物品検査装
   置。
3. 【請求項３】物品搬送部によって搬送されている被検査
   物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
   することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第１の三原色信号
   取出回路(41)と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
   力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(41)
   から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
   三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号加算
   回路(44)と、 (c) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端と第１の三
   原色信号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続
   されており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号Ｘに
   よって除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの相対
   色度Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色度信
   号Ｘ^* として出力するための第１の割算回路(45)と、 (d) 第１の割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
   されており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否か
   を判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときにの
   み高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力する
   ための第１の比較回路(46)と、 (e) 第１の比較回路(46)の出力端に対して入力端が接続
   されており、相対色度比較信号Ｘ⁺ に含まれた高レベル
   状態を計数することによって被検査物品の表面に付着し
   た異物を計数するための第１の計数回路(48)と、 (f) 第１の計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
   されており、第１の計数回路(48)の計数結果が所定値を
   超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
   を示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第１の
   異物検出信号発生回路(49)と、 (g) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第２の三原色信号
   取出回路(141) と、 (h) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(1
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
   して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
   加算回路(144) と、 (i) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端と第２の
   三原色信号加算回路(144) の出力端とに対して入力端が
   接続されており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号
   Ｘによって除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの
   相対色度Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色
   度信号Ｘ^* として出力するための第２の割算回路(145)
   と、 (j) 第２の割算回路(145) の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否
   かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときに
   のみ高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力す
   るための第２の比較回路(146) と、 (k) 第２の比較回路(146) の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度比較信号Ｘ⁺ に含まれた高レベ
   ル状態を計数することによって被検査物品の裏面に付着
   した異物を計数するための第２の計数回路(148) と、 (l) 第２の計数回路(148) の出力端に対して入力端が接
   続されており、第２の計数回路(148) の計数結果が所定
   値を超えたとき被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するため
   の第２の異物検出信号発生回路(149) と、 (m) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
   されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
   ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (n) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
   されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
   受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
   (32)と、 (o) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
   り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
   て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
   ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
   の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
   とを特徴とする物品検査装置。
4. 【請求項４】物品搬送部によって搬送されている被検査
   物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
   することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第１の三原色信号
   取出回路(41)と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
   力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(41)
   から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号Ｙを
   作成するための第１の輝度信号作成回路(42)と、 (c) 第１の輝度信号作成回路(42)の出力端に対して入力
   端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか否
   かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ高
   レベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を出力するための第
   １の比較回路(43)と、 (d) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端に対して入
   力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(41)
   から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
   三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号加算
   回路(44)と、 (e) 第１の三原色信号取出回路(41)の出力端と第１の三
   原色信号加算回路(44)の出力端とに対して入力端が接続
   されており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号Ｘに
   よって除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの相対
   色度Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色度信
   号Ｘ^* として出力するための第１の割算回路(45)と、 (f) 第１の割算回路(45)の出力端に対して入力端が接続
   されており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否か
   を判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときにの
   み高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力する
   ための第２の比較回路(46)と、 (g) 第１の比較回路(43)の出力端と第２の比較回路(46)
   の出力端とに対して入力端が接続されており、輝度比較
   信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とを組合わせて組合信
   号Ｚとして出力してなる第１の信号組合回路(47)と、 (h) 第１の信号組合回路(47)の出力端に対して入力端が
   接続されており、組合信号Ｚに含まれた高レベル状態を
   計数することによって被検査物品の表面に付着した異物
   を計数するための第１の計数回路(48)と、 (i) 第１の計数回路(48)の出力端に対して入力端が接続
   されており、第１の計数回路(48)の計数結果が所定値を
   超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
   を示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第１の
   異物検出信号発生回路(49)と、 (j) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための第２の三原色信号
   取出回路(141) と、 (k) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(1
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号
   Ｙを作成するための第２の輝度信号作成回路(142) と、 (l) 第２の輝度信号作成回路(142) の出力端に対して入
   力端が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか
   否かを判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ
   高レベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺ を出力するための
   第３の比較回路(143) と、 (m) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(1
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
   して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
   加算回路(144) と、 (n) 第２の三原色信号取出回路(141) の出力端と第２の
   三原色信号加算回路(144) の出力端とに対して入力端が
   接続されており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号
   Ｘによって除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの
   相対色度Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色
   度信号Ｘ^* として出力するための第２の割算回路(145)
   と、 (o) 第２の割算回路(145) の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否
   かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときに
   のみ高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力す
   るための第４の比較回路(146) と、 (p) 第３の比較回路(143) の出力端と第４の比較回路(1
   46) の出力端とに対して入力端が接続されており、輝度
   比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とを組合わせて組
   合信号Ｚとして出力してなる第２の信号組合回路(147)
   と、 (q) 第２の信号組合回路(147) の出力端に対して入力端
   が接続されており、組合信号Ｚに含まれた高レベル状態
   を計数することによって被検査物品に混入ないしは付着
   した異物を計数するための第２の計数回路(148) と、 (r) 第２の計数回路(148) の出力端に対して入力端が接
   続されており、第２の計数回路(148) の計数結果が所定
   値を超えたとき被検査物品の裏面に異物が付着している
   ことを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するための第
   ２の異物検出信号発生回路(149) と、 (s) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
   されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
   ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (t) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
   されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
   受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
   (32)と、 (u) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
   り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
   て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
   ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
   の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
   とを特徴とする物品検査装置。
5. 【請求項５】輝度信号Ｙが、総和が１であって０以上か
   つ１以下の値をもつ３つの係数α，β，γと三原色信号
   Ｒ，Ｇ，Ｂとを用いてαＲ＋βＧ＋γＢと表わされてな
   ることを特徴とする請求項４に記載された物品検査装
   置。
6. 【請求項６】第１の信号組合回路(47)が、 (a) 輝度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ との論理
   積信号Ｙ⁺Ｘ⁺ を作成するための第１のアンド回路(47A)
   と、 (b) 輝度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ との論理
   和信号Ｙ⁺＋Ｘ⁺ を出力するための第１のオア回路(47B)
   と、 (c) 第１のアンド回路(47A) の出力端と第１のオア回路
   (47B) の出力端と第１の比較回路(43)の出力端と第２の
   比較回路(46)の出力端とに対してそれぞれ第１ないし第
   ４の切替接点が接続されかつ出力端としての共通接点が
   第１の計数回路(48)の入力端に接続されており、論理積
   信号Ｙ⁺ Ｘ⁺ と論理和信号Ｙ⁺ ＋Ｘ⁺ と輝度比較信号Ｙ
   ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とのうちのいずれか１つを選
   択して組合信号Ｚとして出力するための第１の切替スイ
   ッチ(47C) とで形成されており、 第２の信号組合回路(147) が、 (d) 輝度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ との論理
   積信号Ｙ⁺Ｘ⁺ を作成するための第２のアンド回路(147
   A)と、 (e) 輝度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ との論理
   和信号Ｙ⁺＋Ｘ⁺ を出力するための第２のオア回路(147
   B)と、 (f) 第２のアンド回路(147A)の出力端と第２のオア回路
   (147B)の出力端と第３の比較回路(143) の出力端と第４
   の比較回路(146) の出力端とに対してそれぞれ第５ない
   し第８の切替接点が接続されかつ出力端としての共通接
   点が第２の計数回路(148) の入力端に接続されており、
   論理積信号Ｙ⁺ Ｘ⁺ と論理和信号Ｙ⁺ ＋Ｘ⁺ と輝度比較
   信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とのうちのいずれか１
   つを選択して組合信号Ｚとして出力するための第２の切
   替スイッチ(147C)とで形成されてなることを特徴とする
   請求項４もしくは請求項５に記載された物品検査装置。
7. 【請求項７】物品搬送部によって搬送されている被検査
   物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
   することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第１の
   三原色信号取出回路(341) と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(3
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
   して三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号
   加算回路(342) と、 (c) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端および第
   １の三原色信号加算回路(342) の出力端に対して入力端
   が接続されており、第１の三原色信号取出回路(341) か
   ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた２つを
   第１の三原色信号加算回路(342) から与えられた三原色
   和信号Ｘで除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R,
   Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを算出して出力するための
   第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁) と、 (d) 第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁) の出力端に対
   して入力端が接続されており、第１の除算回路(344A₁,3
   44B₁,344C₁) から与えられた三原色相対色度信号Ｘ_R ,
   Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを所定の割合で互いに加算
   して相対色度和信号Ｘ^**を出力するための第１の相対色
   度和信号算出回路(343;344A₂,344B₂,344C₂;345A,345B,3
   45C;346)と、 (e) 第１の相対色度和信号算出回路(343;344A₂,344B₂,3
   44C₂;345A,345B,345C;346)の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたか
   否かを判定して相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたと
   きにのみ高レベル状態となる相対色度和比較信号Ｚを出
   力するための第１の比較回路(347) と、 (f) 第１の比較回路(347) の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベ
   ル状態を計数することによって被検査物品の表面に付着
   した異物の個数を計数するための第１の計数回路(348)
   と、 (g) 第１の計数回路(348) の出力端に対して入力端が接
   続されており、第１の計数回路(348) の計数結果が所定
   値を超えたとき被検査物品の表面に異物が付着している
   ことを示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第
   １の異物検出信号発生回路(349) と、 (h) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第２の
   三原色信号取出回路(441) と、 (i) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(4
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
   して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
   加算回路(442) と、 (j) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端および第
   ２の三原色信号加算回路(442) の出力端に対して入力端
   が接続されており、第２の三原色信号取出回路(441) か
   ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた２つを
   第２の三原色信号加算回路(442) から与えられた三原色
   和信号Ｘで除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R,
   Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを算出して出力するための
   第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁) と、 (k) 第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁) の出力端に対
   して入力端が接続されており、第２の除算回路(444A₁,4
   44B₁,444C₁) から与えられた三原色相対色度信号Ｘ_R ,
   Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを所定の割合で互いに加算
   して相対色度和信号Ｘ^**を出力するための第２の相対色
   度和信号算出回路(443;444A₂,444B₂,444C₂;445A,445B,4
   45C;446)と、 (l) 第２の相対色度和信号算出回路(443;444A₂,444B₂,4
   44C₂;445A,445B,445C;446)の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたか
   否かを判定して相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたと
   きにのみ高レベル状態となる相対色度和比較信号Ｚを出
   力するための第２の比較回路(447) と、 (m) 第２の比較回路(447) の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベ
   ル状態を計数することによって被検査物品の裏面に付着
   した異物の個数を計数するための第２の計数回路(448)
   と、 (n) 第２の計数回路(448) の出力端に対して入力端が接
   続されており、第２の計数回路(448) の計数結果が所定
   値を超えたとき被検査物品の裏面に異物が付着している
   ことを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するための第
   ２の異物検出信号発生回路(449) と (o) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
   されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
   ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (p) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
   されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
   受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
   (32)と、 (q) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
   り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
   て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
   ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
   の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
   とを特徴とする物品検査装置。
8. 【請求項８】物品搬送部によって搬送されている被検査
   物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
   することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第１の
   三原色信号取出回路(341) と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(3
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
   して三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号
   加算回路(342) と、 (c) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端および第
   １の三原色信号加算回路(342) の出力端に対して入力端
   が接続されており、第１の三原色信号取出回路(341) か
   ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた１つを
   第１の三原色信号加算回路(342) から与えられた三原色
   和信号Ｘで除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R,
   Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた１つを算出して相対色度信号Ｘ
   ^* として出力するための第１の除算回路(344A₁,344B₁,3
   44C₁;344A₂,344B₂,344C₂;346) と、 (d) 第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;344A₂,344B₂,3
   44C₂;346)の出力端に対して入力端が接続されており、
   第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;344A₂,344B₂,344
   C₂;346) から与えられた相対色度信号Ｘ^* が設定値を超
   えたか否かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超え
   たときにのみ高レベル状態となる相対色度比較信号を出
   力するための第１の比較回路(347) と、 (e) 第１の比較回路(347) の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度比較信号に含まれた高レベル状
   態を計数することによって被検査物品に混入ないし付着
   した異物の個数を計数するための第１の計数回路(348)
   と、 (f) 第１の計数回路(348) の出力端に対して入力端が接
   続されており、第１の計数回路(348) の計数結果が所定
   値を超えたとき被検査物品の表面に異物が付着している
   ことを示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第
   １の異物検出信号発生回路(349) と、 (g) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第２の
   三原色信号取出回路(441) と、 (h) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(4
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
   して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
   加算回路(442) と、 (i) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端および第
   ２の三原色信号加算回路(442) の出力端に対して入力端
   が接続されており、第２の三原色信号取出回路(441) か
   ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた１つを
   第２の三原色信号加算回路(442) から与えられた三原色
   和信号Ｘで除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R,
   Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた１つを算出して相対色度信号Ｘ
   ^* として出力するための第２の除算回路(444A₁,444B₁,4
   44C₁;444A₂,444B₂,444C₂;446) と、 (j) 第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444B₂,4
   44C₂;446)の出力端に対して入力端が接続されており、
   第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444B₂,444
   C₂;446) から与えられた相対色度信号Ｘ^* が設定値を超
   えたか否かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超え
   たときにのみ高レベル状態となる相対色度比較信号を出
   力するための第２の比較回路(447) と、 (k) 第２の比較回路(447) の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度比較信号に含まれた高レベル状
   態を計数することによって被検査物品の裏面に付着した
   異物の個数を計数するための第２の計数回路(448) と、 (l) 第２の計数回路(448) の出力端に対して入力端が接
   続されており、第２の計数回路(448) の計数結果が所定
   値を超えたとき被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するため
   の第２の異物検出信号発生回路(449) と (m) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
   されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
   ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (n) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
   されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
   受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
   (32)と、 (o) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
   り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
   て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
   ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
   の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
   とを特徴とする物品検査装置。
9. 【請求項９】物品搬送部によって搬送されている被検査
   物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処理
   することにより被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いるか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面より得られた画像信号Ｐ₁ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第１の
   三原色信号取出回路(341) と、 (b) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(3
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
   して三原色和信号Ｘを作成するための第１の三原色信号
   加算回路(342) と、 (c) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端および第
   １の三原色信号加算回路(342) の出力端に対して入力端
   が接続されており、第１の三原色信号取出回路(341) か
   ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを第１の三原色信号
   加算回路(342) から与えられた三原色和信号Ｘで除する
   ことによって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出
   して出力するための第１の除算回路(344A₁,344B₁,344
   C₁) と、 (d) 第１の除算回路(344A₁,344B₁,344C₁) の出力端に対
   して入力端が接続されており、第１の除算回路(344A₁,3
   44B₁,344C₁) から与えられた三原色相対色度信号Ｘ_R ,
   Ｘ_G , Ｘ_B に対し所定の係数α,β, γを乗じて係数付
   三原色相対色度信号αＸ_R ,βＸ_G ,γＸ_Bを算出して出
   力するための第１の乗算回路(344A₂,344B₂,344C₂) と、 (e) 第１の三原色信号取出回路(341) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第１の三原色信号取出回路(3
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに比較
   することにより最大のものに対応して０となる選択信号
   ｇ_R ,ｇ_G ,ｇ_B を算出して出力するための第１の選択信
   号発生回路(343) と、 (f) 第１の乗算回路(344A₂,344B₂,344C₂) の出力端およ
   び第１の選択信号発生回路(343) の出力端に対して入力
   端が接続されており、第１の選択信号発生回路(343) か
   ら与えられた選択信号ｇ_R ,ｇ_G,ｇ_B と第１の乗算回路
   (344A₂,344B₂,344C₂) から与えられた係数付三原色相対
   色度信号αＸ_R ,βＸ_G ,γＸ_B との積を互いに加算して
   相対色度和信号Ｘ^**を出力するための第１の相対色度和
   信号算出回路(345A,345B,345C;346)と、 (g) 第１の相対色度和信号算出回路(345A,345B,345C;34
   6)の出力端に対して入力端が接続されており、相対色度
   和信号Ｘ^**が設定値を超えたか否かを判定して相対色度
   和信号Ｘ^**が設定値を超えたときにのみ高レベル状態と
   なる相対色度和比較信号Ｚを出力するための第１の比較
   回路(347) と、 (h) 第１の比較回路(347) の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベ
   ル状態を計数することによって被検査物品に混入ないし
   付着した異物の個数を計数するための第１の計数回路(3
   48) と、 (i) 第１の計数回路(348) の出力端に対して入力端が接
   続されており、第１の計数回路(348) の計数結果が所定
   値を超えたとき被検査物品の表面に異物が付着している
   ことを示す第１の異物検出信号Ｖ₁ を発生するための第
   １の異物検出信号発生回路(349) と、 (j) 被検査物品の裏面より得られた画像信号Ｐ₂ から三
   原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力するための第２の
   三原色信号取出回路(441) と、 (k) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(4
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算
   して三原色和信号Ｘを作成するための第２の三原色信号
   加算回路(442) と、 (l) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端および第
   ２の三原色信号加算回路(442) の出力端に対して入力端
   が接続されており、第２の三原色信号取出回路(441) か
   ら与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを第２の三原色信号
   加算回路(442) から与えられた三原色和信号Ｘで除する
   ことによって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出
   して出力するための第２の除算回路(444A₁,444B₁,444
   C₁) と、 (m) 第２の除算回路(444A₁,444B₁,444C₁) の出力端に対
   して入力端が接続されており、第２の除算回路(444A₁,4
   44B₁,444C₁) から与えられた三原色相対色度信号Ｘ_R ,
   Ｘ_G ,Ｘ_B に対し所定の係数α,β, γを乗じて係数付三
   原色相対色度信号αＸ_R ,βＸ_G ,γＸ_Bを算出して出力
   するための第２の乗算回路(444A₂,444B₂,444C₂) と、 (n) 第２の三原色信号取出回路(441) の出力端に対して
   入力端が接続されており、第２の三原色信号取出回路(4
   41) から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに比較
   することにより最大のものに対応して０となる選択信号
   ｇ_R ,ｇ_G ,ｇ_B を算出して出力するための第２の選択信
   号発生回路(443) と、 (o) 第２の乗算回路(444A₂,444B₂,444C₂) の出力端およ
   び第２の選択信号発生回路(443) の出力端に対して入力
   端が接続されており、第２の選択信号発生回路(443) か
   ら与えられた選択信号ｇ_R ,ｇ_G,ｇ_B と第２の乗算回路
   (444A₂,444B₂,444C₂) から与えられた係数付三原色相対
   色度信号αＸ_R ,βＸ_R ,γＸ_B との積を互いに加算して
   相対色度和信号Ｘ^**を出力するための第２の相対色度和
   信号算出回路(445A,445B,445C;446)と、 (p) 第２の相対色度和信号算出回路(445A,445B,445C;44
   6)の出力端に対して入力端が接続されており、相対色度
   和信号Ｘ^**が設定値を超えたか否かを判定して相対色度
   和信号Ｘ^**が設定値を超えたときにのみ高レベル状態と
   なる相対色度和比較信号Ｚを出力するための第２の比較
   回路(447) と、 (q) 第２の比較回路(447) の出力端に対して入力端が接
   続されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベ
   ル状態を計数することによって被検査物品に混入ないし
   付着した異物の個数を計数するための第２の計数回路(4
   48) と、 (r) 第２の計数回路(448) の出力端に対して入力端が接
   続されており、第２の計数回路(448) の計数結果が所定
   値を超えたとき被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₂ を発生するため
   の第２の異物検出信号発生回路(449) と (s) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
   されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
   ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (t) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
   されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
   受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
   (32)と、 (u) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
   り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
   て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
   ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
   いることを示す第３の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
   の第３の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
   とを特徴とする物品検査装置。
10. 【請求項１０】物品搬送部によって搬送されている被検
    査物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処
    理することにより被検査物品に異物が付着しているか否
    かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
    号Ｐ₁, Ｐ₂ から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すため
    の三原色信号取出回路(41;141)と、 (b) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端に対して入力
    端が接続されており、三原色信号取出回路(41;141)から
    与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号Ｙを作成
    するための輝度信号作成回路(42;142)と、 (c) 輝度信号作成回路(42;142)の出力端に対して入力端
    が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか否か
    を判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ高レ
    ベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺を出力するための比較
    回路(43;143)と、 (d) 比較回路(43;143)の出力端に対して入力端が接続さ
    れており、輝度比較信号Ｙ⁺ に含まれた高レベル状態を
    計数することによって被検査物品の表面に付着した異物
    を計数するための計数回路(48;148)と、 (e) 計数回路(48;148)の出力端に対して入力端が接続さ
    れており、計数回路(48;148)の計数結果が所定値を超え
    たとき被検査物品の表面に異物が付着していることを示
    す第１の異物検出信号Ｖ₁, Ｖ₂を発生するための第１の
    異物検出信号発生回路(49;149)と、 (f) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
    されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
    ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (g) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
    されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
    受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
    (32)と、 (h) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
    り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
    て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
    ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
    いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
    の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
    とを特徴とする物品検査装置。
11. 【請求項１１】輝度信号Ｙが、総和が１であって０以上
    かつ１以下の値をもつ３つの係数α，β，γと三原色信
    号Ｒ，Ｇ，Ｂとを用いてαＲ＋βＧ＋γＢと表わされて
    なることを特徴とする請求項10に記載された物品検査装
    置。
12. 【請求項１２】物品搬送部によって搬送されている被検
    査物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処
    理することにより被検査物品に異物が混入ないし付着し
    ているか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
    号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための
    三原色信号取出回路(41;141)と、 (b) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端に対して入力
    端が接続されており、三原色信号取出回路(41;141)から
    与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して三原
    色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(44;14
    4)と、 (c) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端と三原色信号
    加算回路(44;144)の出力端とに対して入力端が接続され
    ており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号Ｘによっ
    て除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの相対色度
    Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色度信号Ｘ
    ^* として出力するための割算回路(45;145)と、 (d) 割算回路(45;145)の出力端に対して入力端が接続さ
    れており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否かを
    判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときにのみ
    高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力するた
    めの比較回路(46;146)と、 (e) 比較回路(46;146)の出力端に対して入力端が接続さ
    れており、相対色度比較信号Ｘ⁺ に含まれた高レベル状
    態を計数することによって被検査物品の表面に付着した
    異物を計数するための計数回路(48;148)と、 (f) 計数回路(48;148)の出力端に対して入力端が接続さ
    れており、計数回路(48;148)の計数結果が所定値を超え
    たとき被検査物品の表面に異物が付着していることを示
    す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第１の
    異物検出信号発生回路(49;149)と、 (g) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
    されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
    ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (h) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
    されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
    受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
    (32)と、 (i) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
    り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
    て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
    ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
    いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
    の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
    とを特徴とする物品検査装置。
13. 【請求項１３】物品搬送部によって搬送されている被検
    査物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処
    理することにより被検査物品に異物が混入ないし付着し
    ているか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
    号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出すための
    三原色信号取出回路(41;141)と、 (b) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端に対して入力
    端が接続されており、三原色信号取出回路(41;141)から
    与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから輝度信号Ｙを作成
    するための輝度信号作成回路(42;142)と、 (c) 輝度信号作成回路(42;142)の出力端に対して入力端
    が接続されており、輝度信号Ｙが設定値を超えたか否か
    を判定して輝度信号Ｙが設定値を超えたときにのみ高レ
    ベル状態となる輝度比較信号Ｙ⁺を出力するための第１
    の比較回路(43;143)と、 (d) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端に対して入力
    端が接続されており、三原色信号取出回路(41;141)から
    与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して三原
    色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(44;14
    4)と、 (e) 三原色信号取出回路(41;141)の出力端と三原色信号
    加算回路(44;144)の出力端とに対して入力端が接続され
    ており、三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色和信号Ｘによっ
    て除することによって三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂの相対色度
    Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出し、最大のものを相対色度信号Ｘ
    ^* として出力するための割算回路(45;145)と、 (f) 割算回路(45;145)の出力端に対して入力端が接続さ
    れており、相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたか否かを
    判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超えたときにのみ
    高レベル状態となる相対色度比較信号Ｘ⁺ を出力するた
    めの第２の比較回路(46;146)と、 (g) 第１の比較回路(43;143)の出力端と第２の比較回路
    (46;146)の出力端とに対して入力端が接続されており、
    輝度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とを組合わせ
    て組合信号Ｚとして出力してなる信号組合回路(47;147)
    と、 (h) 信号組合回路(47;147)の出力端に対して入力端が接
    続されており、組合信号Ｚに含まれた高レベル状態を計
    数することによって被検査物品の表面に付着した異物を
    計数するための計数回路(48;148)と、 (i) 計数回路(48;148)の出力端に対して入力端が接続さ
    れており、計数回路(48;148)の計数結果が所定値を超え
    たとき被検査物品の表面に異物が付着していることを示
    す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第１の
    異物検出信号発生回路(49;149)と、 (j) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
    されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
    ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (k) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
    されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
    受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
    (32)と、 (l) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
    り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
    て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
    ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
    いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
    の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
    とを特徴とする物品検査装置。
14. 【請求項１４】輝度信号Ｙが、総和が１であって０以上
    かつ１以下の値をもつ３つの係数α，β，γと三原色信
    号Ｒ，Ｇ，Ｂとを用いてαＲ＋βＧ＋γＢと表わされて
    なることを特徴とする請求項13に記載された物品検査装
    置。
15. 【請求項１５】信号組合回路(47;147)が、 (a) 輝度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ との論理
    積信号Ｙ⁺Ｘ⁺ を作成するためのアンド回路(47A;147A)
    と、 (b) 輝度比較信号Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ との論理
    和信号Ｙ⁺＋Ｘ⁺ を出力するためのオア回路(47B;147B)
    と、 (c) アンド回路(47A;147A)の出力端とオア回路(47B;147
    B)の出力端と第１の比較回路(43;143)の出力端と第２の
    比較回路(46;146)の出力端とに対してそれぞれ第１ない
    し第４の切替接点が接続されかつ出力端としての共通接
    点が計数回路(48;148)の入力端に接続されており、論理
    積信号Ｙ⁺ Ｘ⁺ と論理和信号Ｙ⁺ ＋Ｘ⁺ と輝度比較信号
    Ｙ⁺ と相対色度比較信号Ｘ⁺ とのうちのいずれか１つを
    選択して組合信号Ｚとして出力するための切替スイッチ
    (47C;147C)とで形成されてなることを特徴とする請求項
    13もしくは請求項14に記載された物品検査装置。
16. 【請求項１６】物品搬送部によって搬送されている被検
    査物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処
    理することにより被検査物品に異物が混入ないし付着し
    ているか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
    号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力
    するための三原色信号取出回路(341;441) と、 (b) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端に対して入
    力端が接続されており、三原色信号取出回路(341;441)
    から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
    三原色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(3
    42;442) と、 (c) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端および三原
    色信号加算回路(342;442) の出力端に対して入力端が接
    続されており、三原色信号取出回路(341;441) から与え
    られた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた２つを三原色
    信号加算回路(342;442) から与えられた三原色和信号Ｘ
    で除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ
    _B から選ばれた２つを算出して出力するための除算回路
    (344A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁) と、 (d) 除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁)
    の出力端に対して入力端が接続されており、除算回路(3
    44A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁) から与えられた
    三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B から選ばれた２つを
    所定の割合で互いに加算して相対色度和信号Ｘ^**を出力
    するための相対色度和信号算出回路(343;344A₂,344B₂,3
    44C₂,;345A,345B,345C;346;443;444A₂,444B₂,444C₂;445
    A,445B,445C;446)と、 (e) 相対色度和信号算出回路(343;344A₂,344B₂,344C₂,;
    345A,345B,345C;346;443;444A₂,444B₂,444C₂;445A,445
    B,445C;446)の出力端に対して入力端が接続されてお
    り、相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたか否かを判定
    して相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたときにのみ高
    レベル状態となる相対色度和比較信号Ｚを出力するため
    の比較回路(347;447) と、 (f) 比較回路(347;447) の出力端に対して入力端が接続
    されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベル
    状態を計数することによって被検査物品の表面に付着し
    た異物の個数を計数するための計数回路(348;448) と、 (g) 計数回路(348;448) の出力端に対して入力端が接続
    されており、計数回路(348;448) の計数結果が所定値を
    超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
    を示す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第
    １の異物検出信号発生回路(349;449) と、 (h) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
    されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
    ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (i) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
    されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
    受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
    (32)と、 (j) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
    り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
    て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
    ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
    いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
    の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
    とを特徴とする物品検査装置。
17. 【請求項１７】物品搬送部によって搬送されている被検
    査物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処
    理することにより被検査物品に異物が混入ないし付着し
    ているか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
    号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力
    するための三原色信号取出回路(341;441) と、 (b) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端に対して入
    力端が接続されており、三原色信号取出回路(341;441)
    から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
    三原色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(3
    42;442) と、 (c) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端および三原
    色信号加算回路(342;442) の出力端に対して入力端が接
    続されており、三原色信号取出回路(341;441) から与え
    られた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂから選ばれた１つを三原色
    信号加算回路(342;442) から与えられた三原色和信号Ｘ
    で除することによって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ
    _B から選ばれた１つを算出して相対色度信号Ｘ^* として
    出力するための除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;344A₂,344
    B₂,344C₂;444A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444B₂,444C₂) と、 (d) 除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;344A₂,344B₂,344C₂;4
    44A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444B₂,444C₂) の出力端に対し
    て入力端が接続されており、除算回路(344A₁,344B₁,344
    C₁;344A₂,344B₂,344C₂;444A₁,444B₁,444C₁;444A₂,444
    B₂,444C₂) から与えられた相対色度信号Ｘ^* が設定値を
    超えたか否かを判定して相対色度信号Ｘ^* が設定値を超
    えたときにのみ高レベル状態となる相対色度比較信号を
    出力するための比較回路(347;447) と、 (e) 比較回路(347;447) の出力端に対して入力端が接続
    されており、相対色度比較信号に含まれた高レベル状態
    を計数することによって被検査物品に混入ないし付着し
    た異物の個数を計数するための計数回路(348;448) と、 (f) 計数回路(348;448) の出力端に対して入力端が接続
    されており、計数回路(348;448) の計数結果が所定値を
    超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
    を示す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第
    １の異物検出信号発生回路(349;449) と、 (g) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
    されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
    ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (h) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
    されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
    受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
    (32)と、 (i) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
    り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
    て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
    ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
    いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
    の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
    とを特徴とする物品検査装置。
18. 【請求項１８】物品搬送部によって搬送されている被検
    査物品を物品撮像部によって撮像して得た画像信号を処
    理することにより被検査物品に異物が混入ないし付着し
    ているか否かを検査してなる物品検査装置において、 (a) 被検査物品の表面もしくは裏面より得られた画像信
    号Ｐ₁,Ｐ₂から三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを取り出して出力
    するための三原色信号取出回路(341;441) と、 (b) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端に対して入
    力端が接続されており、三原色信号取出回路(341;441)
    から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに加算して
    三原色和信号Ｘを作成するための三原色信号加算回路(3
    42;442) と、 (c) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端および三原
    色信号加算回路(342;442) の出力端に対して入力端が接
    続されており、三原色信号取出回路(341;441) から与え
    られた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを三原色信号加算回路(34
    2;442) から与えられた三原色和信号Ｘで除することに
    よって三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B を算出して出
    力するための除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444
    B₁,444C₁) と、 (d) 除算回路(344A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁)
    の出力端に対して入力端が接続されており、除算回路(3
    44A₁,344B₁,344C₁;444A₁,444B₁,444C₁) から与えられた
    三原色相対色度信号Ｘ_R ,Ｘ_G ,Ｘ_B に対し所定の係数
    α, β, γを乗じて係数付三原色相対色度信号αＸ_R ,
    βＸ_G ,γＸ_B を算出して出力するための乗算回路(344A
    ₂,344B₂,344C₂;444A₂,444B₂,444C₂) と、 (e) 三原色信号取出回路(341;441) の出力端に対して入
    力端が接続されており、三原色信号取出回路(341;441)
    から与えられた三原色信号Ｒ，Ｇ，Ｂを互いに比較する
    ことにより最大のものに対応して０となる選択信号
    ｇ_R , ｇ_G ,ｇ_B を算出して出力するための選択信号発
    生回路(343;443) と、 (f) 乗算回路(344A₂,344B₂,344C₂;444A₂,444B₂,444C₂)
    の出力端および選択信号発生回路(343;443) の出力端に
    対して入力端が接続されており、選択信号発生回路(34
    3;443) から与えられた選択信号ｇ_R ,ｇ_G ,ｇ_B と乗算
    回路(344A₂,344B₂,344C₂;444A₂,444B₂,444C₂) から与え
    られた係数付三原色相対色度信号αＸ_R ,βＸ_G ,γＸ_B
    との積を互いに加算して相対色度和信号Ｘ^**を出力する
    ための相対色度和信号算出回路(345A,345B,345C;346;44
    5A,445B,445C;446)と、 (g) 相対色度和信号算出回路(345A,345B,345C;346;445
    A,445B,445C;446) の出力端に対して入力端が接続され
    ており、相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたか否かを
    判定して相対色度和信号Ｘ^**が設定値を超えたときにの
    み高レベル状態となる相対色度和比較信号Ｚを出力する
    ための比較回路(347;447) と、 (h) 比較回路(347;447) の出力端に対して入力端が接続
    されており、相対色度和比較信号Ｚに含まれた高レベル
    状態を計数することによって被検査物品に混入ないし付
    着した異物の個数を計数するための計数回路(348;448)
    と、 (i) 計数回路(348;448) の出力端に対して入力端が接続
    されており、計数回路(348;448) の計数結果が所定値を
    超えたとき被検査物品の表面に異物が付着していること
    を示す第１の異物検出信号Ｖ₁,Ｖ₂ を発生するための第
    １の異物検出信号発生回路(349;449) と、 (j) 被検査物品の表面側もしくは裏面側に離間して配置
    されており、被検査物品に対し表面側もしくは裏面側か
    ら近赤外線を照射するための赤外線照射器(32A) と、 (k) 被検査物品の裏面側もしくは表面側に離間して配置
    されており、被検査物品を透過した近赤外線を受光して
    受光結果を透過光信号Ｐ₃ として出力するためのセンサ
    (32)と、 (l) センサ(32)の出力端に対して入力端が接続されてお
    り、透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないか否かを判定し
    て透過光信号Ｐ₃ が設定値に満たないときにのみ高レベ
    ル状態となって被検査物品に異物が混入ないし付着して
    いることを示す第２の異物検出信号Ｖ₃ を発生するため
    の第２の異物検出信号発生回路(241) とを備えてなるこ
    とを特徴とする物品検査装置。