JP2928139B2 - 試験プログラム走行装置 - Google Patents
試験プログラム走行装置Info
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- JP2928139B2 JP2928139B2 JP7220396A JP22039695A JP2928139B2 JP 2928139 B2 JP2928139 B2 JP 2928139B2 JP 7220396 A JP7220396 A JP 7220396A JP 22039695 A JP22039695 A JP 22039695A JP 2928139 B2 JP2928139 B2 JP 2928139B2
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は試験プログラム走行
装置に関し、特に試験プログラムの走行状況を把握し、
試験対象の装置に対する試験回数が均一になる試験プロ
グラム走行装置に関する。
装置に関し、特に試験プログラムの走行状況を把握し、
試験対象の装置に対する試験回数が均一になる試験プロ
グラム走行装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来のコンピュータシステムに複数接続
されているハードウエア装置に対する試験プログラムの
実行は、たとえば特開昭６１−１５３７４２号公報の試
験プログラムの起動制御方式に示されるように、コンピ
ュータシステムにおいて周辺装置の装置名とその装置の
装置情報および装置種別の対応を示すテーブルと試験プ
ログラムと装置種別の対応を示すテーブルとを主記憶装
置にあらかじめ格納しておき、操作者が試験プログラム
の起動を中央処理装置に通知することで、中央処理装置
が上記二つのテーブルより現在運用から切り離されてい
る周辺装置を探し出して、その周辺装置に対応する試験
プログラムを検索し起動している。
されているハードウエア装置に対する試験プログラムの
実行は、たとえば特開昭６１−１５３７４２号公報の試
験プログラムの起動制御方式に示されるように、コンピ
ュータシステムにおいて周辺装置の装置名とその装置の
装置情報および装置種別の対応を示すテーブルと試験プ
ログラムと装置種別の対応を示すテーブルとを主記憶装
置にあらかじめ格納しておき、操作者が試験プログラム
の起動を中央処理装置に通知することで、中央処理装置
が上記二つのテーブルより現在運用から切り離されてい
る周辺装置を探し出して、その周辺装置に対応する試験
プログラムを検索し起動している。
【０００３】この従来の試験プログラムの起動方式は、
主記憶装置に格納され各周辺装置とその装置情報および
装置種別を示すシステム資源管理テーブルと、各装置種
別と試験プログラム名の対応を示す試験プログラムテー
ブルと、操作員からの試験プログラムの実行指示によ
り、システム資源管理テーブルの装置情報を順次、読み
出して、当該周辺装置が運用体制から切り離されている
かどうか調べ、切り離されている場合に、対応する装置
種別をもとにして試験プログラムテーブルを検索して当
該装置種別に対応する試験プログラムを取り出し、この
試験プログラム名の試験プログラムを実行させる手段を
備えており、システム資源管理テーブルと試験プログラ
ムテーブルとの二つのテーブルを主記憶装置にあらかじ
め用意しておくことにより、中央処理装置に試験プログ
ラムの実行指示を与えるだけで、運用から切り離されて
いる周辺装置に対して所定のプログラムを選択、起動す
ることができる。
主記憶装置に格納され各周辺装置とその装置情報および
装置種別を示すシステム資源管理テーブルと、各装置種
別と試験プログラム名の対応を示す試験プログラムテー
ブルと、操作員からの試験プログラムの実行指示によ
り、システム資源管理テーブルの装置情報を順次、読み
出して、当該周辺装置が運用体制から切り離されている
かどうか調べ、切り離されている場合に、対応する装置
種別をもとにして試験プログラムテーブルを検索して当
該装置種別に対応する試験プログラムを取り出し、この
試験プログラム名の試験プログラムを実行させる手段を
備えており、システム資源管理テーブルと試験プログラ
ムテーブルとの二つのテーブルを主記憶装置にあらかじ
め用意しておくことにより、中央処理装置に試験プログ
ラムの実行指示を与えるだけで、運用から切り離されて
いる周辺装置に対して所定のプログラムを選択、起動す
ることができる。
【０００４】一方、従来の一般的なコンピュータシステ
ムに複数接続されているハードウエア装置に対する試験
プログラムの走行装置は、図７のブロック図に示すよう
に、コンピュータシステム全体を制御する中央処理装置
１００と、試験プログラムの実行を入力したり試験プロ
グラムの実行結果を示すメッセージを表示するシステム
操作卓４００とで構成される。
ムに複数接続されているハードウエア装置に対する試験
プログラムの走行装置は、図７のブロック図に示すよう
に、コンピュータシステム全体を制御する中央処理装置
１００と、試験プログラムの実行を入力したり試験プロ
グラムの実行結果を示すメッセージを表示するシステム
操作卓４００とで構成される。
【０００５】中央処理装置１００には、システムに接続
されている全ての装置を知るための装置構成管理テーブ
ル２１０をあらかじめ記録している記憶部２００が格納
されている。中央処理装置１００にはさらに、システム
操作卓４００から試験プログラムの実行指示を受け取
り、装置構成管理テーブル２１０を参照して使用可能状
態″Ｓ″となっている装置に対してのみ試験プログラム
を実行させ、その実行結果を受け取り実行結果をシステ
ム操作卓４００へ表示する試験装置管理部Ｃと試験装置
管理部Ｃより試験プログラムの実行指示を受け取り、装
置に対して試験プログラムを実行する試験プログラム実
行部Ｄとを有する。
されている全ての装置を知るための装置構成管理テーブ
ル２１０をあらかじめ記録している記憶部２００が格納
されている。中央処理装置１００にはさらに、システム
操作卓４００から試験プログラムの実行指示を受け取
り、装置構成管理テーブル２１０を参照して使用可能状
態″Ｓ″となっている装置に対してのみ試験プログラム
を実行させ、その実行結果を受け取り実行結果をシステ
ム操作卓４００へ表示する試験装置管理部Ｃと試験装置
管理部Ｃより試験プログラムの実行指示を受け取り、装
置に対して試験プログラムを実行する試験プログラム実
行部Ｄとを有する。
【０００６】記憶部２００の装置構成管理テーブル２１
０の形式は図８に示す通り、装置名２２０と使用可／不
可情報２３０とで構成され、使用可／不可情報２３０と
して、Ｓは使用可能状態を、Ｕは使用不可能状態を表
す。
０の形式は図８に示す通り、装置名２２０と使用可／不
可情報２３０とで構成され、使用可／不可情報２３０と
して、Ｓは使用可能状態を、Ｕは使用不可能状態を表
す。
【０００７】図９は図７の試験走行管理部の動作を説明
するための流れ図、図１０は試験プログラム実行部の動
作を説明するための流れ図である。
するための流れ図、図１０は試験プログラム実行部の動
作を説明するための流れ図である。
【０００８】次に、従来の試験プログラム走行装置につ
いて図７〜図１０を参照して説明する。
いて図７〜図１０を参照して説明する。
【０００９】図７において、システム操作卓４００より
試験プログラムの実行を指示する。試験装置管理部Ｃ
は、図９の流れ図に示すように、システム操作卓４００
より試験プログラムの実行を指示されると（ステップＣ
１）、記憶部２００内の装置構成管理テーブル２１０の
先頭から順に使用可／不可情報２３０が使用可能状態″
Ｓ″となっている装置の装置名２２０を１つだけ入力し
（ステップＣ２）、装置名２２０を入力することができ
たかを判定し（ステップＣ３）、装置名２２０が入力で
きた場合は、入力した装置名２２０を試験プログラム実
行部Ｄに渡す（ステップＣ４）。
試験プログラムの実行を指示する。試験装置管理部Ｃ
は、図９の流れ図に示すように、システム操作卓４００
より試験プログラムの実行を指示されると（ステップＣ
１）、記憶部２００内の装置構成管理テーブル２１０の
先頭から順に使用可／不可情報２３０が使用可能状態″
Ｓ″となっている装置の装置名２２０を１つだけ入力し
（ステップＣ２）、装置名２２０を入力することができ
たかを判定し（ステップＣ３）、装置名２２０が入力で
きた場合は、入力した装置名２２０を試験プログラム実
行部Ｄに渡す（ステップＣ４）。
【００１０】このとき、試験プログラム実行部Ｄは、図
１０の流れ図のように、試験装置管理部Ｃより渡された
装置名２２０に対する試験プログラムを実行し（ステッ
プＤ１）、試験プログラムが正常終了したかを判定し
（ステップＤ２）、正常終了した場合には、その旨を試
験装置管理部Ｃに渡し（ステップＤ３）、異常終了した
場合には、その旨を試験装置管理部Ｃに渡す（ステップ
Ｄ４）。
１０の流れ図のように、試験装置管理部Ｃより渡された
装置名２２０に対する試験プログラムを実行し（ステッ
プＤ１）、試験プログラムが正常終了したかを判定し
（ステップＤ２）、正常終了した場合には、その旨を試
験装置管理部Ｃに渡し（ステップＤ３）、異常終了した
場合には、その旨を試験装置管理部Ｃに渡す（ステップ
Ｄ４）。
【００１１】試験プログラムの終了結果は、図９の流れ
図、ステップＣ５にて試験装置管理部Ｃが受け取り、試
験プログラムの結果が正常終了したかを判定し（ステッ
プＣ６）、異常終了の場合は、その旨をシステム操作卓
４００に表示して試験プログラムを中断する（ステップ
Ｃ８）。正常終了の場合は、装置構成管理テーブル２１
０から使用可／不可情報２３０が使用可能状態″Ｓ″と
なっている次の装置名２２０を入力し（ステップＣ
７）、ステップＣ３の処理に戻る。ステップＣ３では装
置名２２０を入力できたかの判定するが装置名２２０が
入力できなかった場合は試験すべき全ての装置の装置名
２２０は入力し終えたので、試験プログラムが終了した
旨をシステム操作卓４００に表示して（ステップＣ
９）、処理を終了する。
図、ステップＣ５にて試験装置管理部Ｃが受け取り、試
験プログラムの結果が正常終了したかを判定し（ステッ
プＣ６）、異常終了の場合は、その旨をシステム操作卓
４００に表示して試験プログラムを中断する（ステップ
Ｃ８）。正常終了の場合は、装置構成管理テーブル２１
０から使用可／不可情報２３０が使用可能状態″Ｓ″と
なっている次の装置名２２０を入力し（ステップＣ
７）、ステップＣ３の処理に戻る。ステップＣ３では装
置名２２０を入力できたかの判定するが装置名２２０が
入力できなかった場合は試験すべき全ての装置の装置名
２２０は入力し終えたので、試験プログラムが終了した
旨をシステム操作卓４００に表示して（ステップＣ
９）、処理を終了する。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】従来の特開昭６１−１
５３７４２号公報の試験プログラムの起動方式ではシス
テムから切り離された状態である装置が試験の対象装置
となっており、コンピュータシステム運用中の装置に対
して試験プログラムを起動できないという問題がある。
５３７４２号公報の試験プログラムの起動方式ではシス
テムから切り離された状態である装置が試験の対象装置
となっており、コンピュータシステム運用中の装置に対
して試験プログラムを起動できないという問題がある。
【００１３】従来の一般的な試験プログラム走行装置で
は、試験プログラムが実行されている途中でシステムの
障害や電源の障害によるシステム緊急停止や、一日の処
理が終了してシステムを停止した場合に、前回試験プロ
グラムが装置構成管理テーブルに記録されている何台目
の装置まで実行されていたかが分らないため、再度試験
プログラムを実行しようとするとき、常に装置構成管理
テーブルの先頭に記録されている装置から順に試験プロ
グラムを実行し直すこととなる。
は、試験プログラムが実行されている途中でシステムの
障害や電源の障害によるシステム緊急停止や、一日の処
理が終了してシステムを停止した場合に、前回試験プロ
グラムが装置構成管理テーブルに記録されている何台目
の装置まで実行されていたかが分らないため、再度試験
プログラムを実行しようとするとき、常に装置構成管理
テーブルの先頭に記録されている装置から順に試験プロ
グラムを実行し直すこととなる。
【００１４】そのため、前回試験プログラムが実行され
なかった装置に対して試験プログラムを実行するために
は、前回の試験で実行済みの装置に対して再度試験プロ
グラムを実行し、その後に実行されることとなる。した
がって、装置構成管理テーブルの最後尾に記録されてい
る装置は比較的試験プログラムの実行回数が少なくな
り、全ての装置に対して均一的に試験を実行することが
困難であるという問題がある。
なかった装置に対して試験プログラムを実行するために
は、前回の試験で実行済みの装置に対して再度試験プロ
グラムを実行し、その後に実行されることとなる。した
がって、装置構成管理テーブルの最後尾に記録されてい
る装置は比較的試験プログラムの実行回数が少なくな
り、全ての装置に対して均一的に試験を実行することが
困難であるという問題がある。
【００１５】本発明の目的は、システムにある使用可能
な装置の試験プログラムの走行状況を管理し、実行経過
を引き継いで試験プログラムを実行することにより、全
ての装置を均一的に試験できる試験プログラム走行装置
を提供することにある。
な装置の試験プログラムの走行状況を管理し、実行経過
を引き継いで試験プログラムを実行することにより、全
ての装置を均一的に試験できる試験プログラム走行装置
を提供することにある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】第１の発明の試験プログ
ラム走行装置は、システムに接続される複数の装置のそ
れぞれの物理的接続状態に基ずく前記各装置の使用可能
か否かを示す使用状態情報を格納する装置構成管理テー
ブルを予め記憶する第１の記憶手段と、前記各装置の試
験プログラムによる試験がそれぞれの前記装置に対し実
行中なのか実行完了なのか未実行なのかを示す試験走行
情報を格納する試験走行管理テーブルを記憶する第２の
記憶手段と、前記試験プログラムの実行指示を入力し前
記試験プログラムの実行結果を示すメッセージを出力す
る入出力手段と、試験プログラム実行対象の装置識別子
の供給に応答して前記装置識別子に対応する装置に対応
する試験プログラムを実行してその結果を出力する試験
プログラム実行手段と、前記入出力手段からの試験プロ
グラムの実行指示の供給に応答して前記試験走行管理テ
ーブルを参照して順に前記試験走行情報が実行中の装置
次いで未実行の装置を前記試験走行情報を実行中に更新
して試験対象装置として前記試験プログラム実行手段に
この試験対象装置の識別子を供給し前記試験走行管理テ
ーブルが未作成のときには前記装置構成管理テーブルを
参照して前記使用状態情報が使用可能状態となっている
全ての装置に対してその試験走行情報を未実行に設定し
た試験走行管理テーブルを作成してこれを参照して順に
前記試験走行情報を実行中に更新して試験対象装置とし
て前記試験プログラム実行手段にこの試験対象装置の識
別子を供給し前記試験プログラム実行手段からの試験結
果の供給に応答して対応する装置の試験走行情報を実行
完了に変更しその試験結果を前記入出力手段に供給する
試験装置管理手段とを含んで構成されている。
ラム走行装置は、システムに接続される複数の装置のそ
れぞれの物理的接続状態に基ずく前記各装置の使用可能
か否かを示す使用状態情報を格納する装置構成管理テー
ブルを予め記憶する第１の記憶手段と、前記各装置の試
験プログラムによる試験がそれぞれの前記装置に対し実
行中なのか実行完了なのか未実行なのかを示す試験走行
情報を格納する試験走行管理テーブルを記憶する第２の
記憶手段と、前記試験プログラムの実行指示を入力し前
記試験プログラムの実行結果を示すメッセージを出力す
る入出力手段と、試験プログラム実行対象の装置識別子
の供給に応答して前記装置識別子に対応する装置に対応
する試験プログラムを実行してその結果を出力する試験
プログラム実行手段と、前記入出力手段からの試験プロ
グラムの実行指示の供給に応答して前記試験走行管理テ
ーブルを参照して順に前記試験走行情報が実行中の装置
次いで未実行の装置を前記試験走行情報を実行中に更新
して試験対象装置として前記試験プログラム実行手段に
この試験対象装置の識別子を供給し前記試験走行管理テ
ーブルが未作成のときには前記装置構成管理テーブルを
参照して前記使用状態情報が使用可能状態となっている
全ての装置に対してその試験走行情報を未実行に設定し
た試験走行管理テーブルを作成してこれを参照して順に
前記試験走行情報を実行中に更新して試験対象装置とし
て前記試験プログラム実行手段にこの試験対象装置の識
別子を供給し前記試験プログラム実行手段からの試験結
果の供給に応答して対応する装置の試験走行情報を実行
完了に変更しその試験結果を前記入出力手段に供給する
試験装置管理手段とを含んで構成されている。
【００１７】第２の発明の試験プログラム走行装置は、
第１の発明の試験プログラム走行装置において、試験走
行管理テーブルを記憶する第２の記憶手段は不揮発性記
憶手段であることを特徴としている。
第１の発明の試験プログラム走行装置において、試験走
行管理テーブルを記憶する第２の記憶手段は不揮発性記
憶手段であることを特徴としている。
【００１８】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
て図面を参照して説明する。
【００１９】図１は本発明の試験プログラム走行装置の
一実施の形態を示すブロック図である。
一実施の形態を示すブロック図である。
【００２０】本実施の形態の試験プログラム走行装置
は、図１に示すように、コンピュータシステム全体を制
御する中央処理装置１０と、試験走行管理テーブル３１
を記録する磁気デイスク装置３０と、試験プログラムの
実行を入力したり試験プログラムの実行結果を示すメッ
セージを表示するシステム操作卓４０とを含んで構成さ
れる。
は、図１に示すように、コンピュータシステム全体を制
御する中央処理装置１０と、試験走行管理テーブル３１
を記録する磁気デイスク装置３０と、試験プログラムの
実行を入力したり試験プログラムの実行結果を示すメッ
セージを表示するシステム操作卓４０とを含んで構成さ
れる。
【００２１】中央処理装置１０には、システムに接続さ
れている全ての装置を知るための装置構成管理テーブル
２１をあらがじめ記憶している記憶部２０が格納されて
いる。
れている全ての装置を知るための装置構成管理テーブル
２１をあらがじめ記憶している記憶部２０が格納されて
いる。
【００２２】図２は、図１の記憶部２０に記録され装置
の物理的接続状態を管理する装置構成管理テーブル２１
の形式を示すフオーマット図である。記憶部２０の装置
構成管理テーブル２１の形式は、装置名２２と使用可／
不可情報２３とで構成され、使用可／不可情報２３とし
ては、Ｓは使用可能状態を、Ｕは使用不可能状態を表
す。
の物理的接続状態を管理する装置構成管理テーブル２１
の形式を示すフオーマット図である。記憶部２０の装置
構成管理テーブル２１の形式は、装置名２２と使用可／
不可情報２３とで構成され、使用可／不可情報２３とし
ては、Ｓは使用可能状態を、Ｕは使用不可能状態を表
す。
【００２３】ここで、使用可能状態とは物理的にシステ
ムに接続されている状態をいう。ある業務について使用
されていない装置、すなわち、その業務についてシステ
ムの運用から切り離されている装置でも、物理的にシス
テムに接続されている装置は使用可能状態とする。
ムに接続されている状態をいう。ある業務について使用
されていない装置、すなわち、その業務についてシステ
ムの運用から切り離されている装置でも、物理的にシス
テムに接続されている装置は使用可能状態とする。
【００２４】図３は、図１の磁気デイスク装置３０に記
録され、試験プログラムの走行状態を管理する試験走行
管理テーブル３１の形式を示すフオーマット図である。
磁気デイスク装置３０の試験走行管理テーブル３１の形
式は、装置名３２と試験プログラム走行情報３３とで構
成され、試験プログラム走行情報３３として、Ｒは試験
プログラム実行中状態を、Ｅは試験プログラム実行完了
状態を、Ｎは試験プログラム未実行状態を表す。
録され、試験プログラムの走行状態を管理する試験走行
管理テーブル３１の形式を示すフオーマット図である。
磁気デイスク装置３０の試験走行管理テーブル３１の形
式は、装置名３２と試験プログラム走行情報３３とで構
成され、試験プログラム走行情報３３として、Ｒは試験
プログラム実行中状態を、Ｅは試験プログラム実行完了
状態を、Ｎは試験プログラム未実行状態を表す。
【００２５】試験走行管理テーブルを格納する記憶手段
としては、電源の障害等でも記憶内容が消滅しない不揮
発性記憶手段が望ましい。
としては、電源の障害等でも記憶内容が消滅しない不揮
発性記憶手段が望ましい。
【００２６】図１の中央処理装置１０には、システム操
作卓４０から試験プログラムの実行指示を受け取り、装
置構成管理テーブル２１を参照して試験走行管理テーブ
ル３１の作成および更新を行ない、ある装置に対する試
験プログラムを実行させ、その実行結果を受け取り、実
行結果をシステム操作卓４０へ表示する試験装置管理部
Ａと試験装置管理部Ａより試験プログラムの実行指示を
受け取り、装置に対して試験プログラムを実行する試験
プログラム実行部Ｂを有している。
作卓４０から試験プログラムの実行指示を受け取り、装
置構成管理テーブル２１を参照して試験走行管理テーブ
ル３１の作成および更新を行ない、ある装置に対する試
験プログラムを実行させ、その実行結果を受け取り、実
行結果をシステム操作卓４０へ表示する試験装置管理部
Ａと試験装置管理部Ａより試験プログラムの実行指示を
受け取り、装置に対して試験プログラムを実行する試験
プログラム実行部Ｂを有している。
【００２７】図４は試験走行管理部の動作の一部を説明
するための流れ図、図５は試験走行管理部の図４以外の
動作を説明するための流れ図、図６は試験プログラム実
行部の動作を説明するための流れ図である。
するための流れ図、図５は試験走行管理部の図４以外の
動作を説明するための流れ図、図６は試験プログラム実
行部の動作を説明するための流れ図である。
【００２８】次に、本実施の形態の動作について図１〜
図６を参照して説明する。
図６を参照して説明する。
【００２９】まず、図１において、システム操作卓４０
より試験プログラムの実行を試験装置管理部Ａに指示す
る。次に図４において、試験装置管理部Ａは、システム
操作卓４０より試験プログラムの実行を指示されると
（ステップＡ１）、磁気デイスク装置３０に試験走行管
理テーブル３１が存在するかを確認し（ステップＡ
２）、存在しない場合は（ステップＡ２のＮＯ枝）、記
憶部２０内の装置構成管理テーブル２１から使用可／不
可情報２３が使用可能状態″Ｓ″となっている装置の装
置名２２のみを参照して磁気デイスク装置３０内に試験
走行管理テーブル３１を作成し（ステップＡ９）、試験
走行管理テーブル３１の試験プログラム走行情報３３を
全て試験プログラム未実行状態″Ｎ″に設定する（ステ
ップＡ１０）。磁気デイスク装置３０内の試験走行管理
テーブル３１が存在する場合には（ステップＡ２のＹＥ
Ｓ枝）、試験走行管理テーブル３１の試験プログラム走
行情報３３が全て試験プログラム実行完了状態″Ｅ″の
状態かを確認し（ステップＡ３）、試験プログラム走行
情報３３が全て実行完了状態″Ｅ″である場合には（ス
テップＡ３のＹＥＳ枝）、前述のステップＡ１０の通
り、試験プログラム走行情報３３を全て未実行状態″
Ｎ″に設定する。
より試験プログラムの実行を試験装置管理部Ａに指示す
る。次に図４において、試験装置管理部Ａは、システム
操作卓４０より試験プログラムの実行を指示されると
（ステップＡ１）、磁気デイスク装置３０に試験走行管
理テーブル３１が存在するかを確認し（ステップＡ
２）、存在しない場合は（ステップＡ２のＮＯ枝）、記
憶部２０内の装置構成管理テーブル２１から使用可／不
可情報２３が使用可能状態″Ｓ″となっている装置の装
置名２２のみを参照して磁気デイスク装置３０内に試験
走行管理テーブル３１を作成し（ステップＡ９）、試験
走行管理テーブル３１の試験プログラム走行情報３３を
全て試験プログラム未実行状態″Ｎ″に設定する（ステ
ップＡ１０）。磁気デイスク装置３０内の試験走行管理
テーブル３１が存在する場合には（ステップＡ２のＹＥ
Ｓ枝）、試験走行管理テーブル３１の試験プログラム走
行情報３３が全て試験プログラム実行完了状態″Ｅ″の
状態かを確認し（ステップＡ３）、試験プログラム走行
情報３３が全て実行完了状態″Ｅ″である場合には（ス
テップＡ３のＹＥＳ枝）、前述のステップＡ１０の通
り、試験プログラム走行情報３３を全て未実行状態″
Ｎ″に設定する。
【００３０】次に試験プログラム走行情報３３に試験プ
ログラム実行中状態″Ｒ″が存在するかを確認し（ステ
ップＡ４）、″Ｒ″が設定された試験プログラム走行情
報３３が存在する場合は（ステップＡ４のＹＥＳ枝）、
試験プログラム走行情報３３の実行中状態″Ｒ″に対応
する装置名３２を試験プログラム実行部Ｂに渡す（ステ
ップＡ５）。″Ｒ″が設定された試験プログラム走行情
報３３が存在しない場合は（ステップＡ４のＮＯ枝）、
試験プログラム走行情報３３に未実行状態″Ｎ″が存在
するかを確認し（ステップＡ１１）、″Ｎ″が設定され
た試験プログラム走行情報３３が存在する場合は、試験
プログラム走行情報３３の先頭の未実行状態″Ｎ″を実
行中状態″Ｒ″に設定し（ステップＡ１２）、試験プロ
グラム走行情報３３の実行中状態″Ｒ″に対応する装置
名３２を試験プログラム実行部Ｂに渡す（ステップＡ
５）。
ログラム実行中状態″Ｒ″が存在するかを確認し（ステ
ップＡ４）、″Ｒ″が設定された試験プログラム走行情
報３３が存在する場合は（ステップＡ４のＹＥＳ枝）、
試験プログラム走行情報３３の実行中状態″Ｒ″に対応
する装置名３２を試験プログラム実行部Ｂに渡す（ステ
ップＡ５）。″Ｒ″が設定された試験プログラム走行情
報３３が存在しない場合は（ステップＡ４のＮＯ枝）、
試験プログラム走行情報３３に未実行状態″Ｎ″が存在
するかを確認し（ステップＡ１１）、″Ｎ″が設定され
た試験プログラム走行情報３３が存在する場合は、試験
プログラム走行情報３３の先頭の未実行状態″Ｎ″を実
行中状態″Ｒ″に設定し（ステップＡ１２）、試験プロ
グラム走行情報３３の実行中状態″Ｒ″に対応する装置
名３２を試験プログラム実行部Ｂに渡す（ステップＡ
５）。
【００３１】このとき、試験プログラム実行部Ｂは、図
６の流れ図のように、試験装置管理部Ａより渡された装
置名３２に対する試験プログラムを実行し（ステップＢ
１）、試験プログラムが正常終了したかを判定し（ステ
ップＢ２）、正常終了した場合には、その旨を試験装置
管理部Ａに渡し（ステップＢ３）、異常終了した場合に
は、その旨を試験装置管理部Ａに渡す（ステップＢ
４）。
６の流れ図のように、試験装置管理部Ａより渡された装
置名３２に対する試験プログラムを実行し（ステップＢ
１）、試験プログラムが正常終了したかを判定し（ステ
ップＢ２）、正常終了した場合には、その旨を試験装置
管理部Ａに渡し（ステップＢ３）、異常終了した場合に
は、その旨を試験装置管理部Ａに渡す（ステップＢ
４）。
【００３２】試験プログラムの終了結果は、図４の流れ
図、ステップＡ６にて試験装置管理部Ａが受けとる（ス
テップＡ６）。次に、試験プログラムの結果が正常終了
したかを判定し（ステップＡ７）、異常終了の場合は、
その旨をシステム操作卓４０に表示し、試験プログラム
を中断する（ステップＡ１３）。正常終了の場合は、試
験プログラム走行情報３３の実行中状態″Ｒ″を実行完
了状態″Ｅ″に設定し（ステップＡ８）、ステップＡ４
の処理に戻る。
図、ステップＡ６にて試験装置管理部Ａが受けとる（ス
テップＡ６）。次に、試験プログラムの結果が正常終了
したかを判定し（ステップＡ７）、異常終了の場合は、
その旨をシステム操作卓４０に表示し、試験プログラム
を中断する（ステップＡ１３）。正常終了の場合は、試
験プログラム走行情報３３の実行中状態″Ｒ″を実行完
了状態″Ｅ″に設定し（ステップＡ８）、ステップＡ４
の処理に戻る。
【００３３】図４の流れ図、ステップＡ１１で未実行状
態″Ｎ″が存在しない場合には（ステップＡ１１のＮＯ
枝）、図５の流れ図に示すように、試験プログラム走行
情報３３が全て実行完了状態″Ｅ″であるかを判定し
（ステップＡ１４）、全て実行完了状態″Ｅ″の場合は
試験プログラムが終了した旨をシステム操作卓４０に表
示し（ステップＡ１５）、１つでも実行完了状態″Ｅ″
でない装置がある場合は、磁気デイスク装置３０内の試
験走行管理テーブル３１にエラーが発生した旨をシステ
ム操作卓４０に表示し、磁気デイスク装置３０内の試験
走行管理テーブル３１を削除する（ステップＡ１６）。
態″Ｎ″が存在しない場合には（ステップＡ１１のＮＯ
枝）、図５の流れ図に示すように、試験プログラム走行
情報３３が全て実行完了状態″Ｅ″であるかを判定し
（ステップＡ１４）、全て実行完了状態″Ｅ″の場合は
試験プログラムが終了した旨をシステム操作卓４０に表
示し（ステップＡ１５）、１つでも実行完了状態″Ｅ″
でない装置がある場合は、磁気デイスク装置３０内の試
験走行管理テーブル３１にエラーが発生した旨をシステ
ム操作卓４０に表示し、磁気デイスク装置３０内の試験
走行管理テーブル３１を削除する（ステップＡ１６）。
【００３４】以上説明したように、コンピュータシステ
ムの運用中において、試験プログラムを実行する際、磁
気デイスク装置に試験走行管理テーブルを作成／更新
し、試験走行管理テーブルにて試験プログラムの実行中
状態、未実行状態、実行完了状態を管理することによ
り、コンピュータシステムが停止した場合でも試験プロ
グラムを最初の装置から実行するのではなく、実行経過
を引き継いで試験プログラムを実行していない装置から
常に実行を再開することができ、全ての装置に対して均
一的に試験プログラムを実行することができるという効
果を有する。
ムの運用中において、試験プログラムを実行する際、磁
気デイスク装置に試験走行管理テーブルを作成／更新
し、試験走行管理テーブルにて試験プログラムの実行中
状態、未実行状態、実行完了状態を管理することによ
り、コンピュータシステムが停止した場合でも試験プロ
グラムを最初の装置から実行するのではなく、実行経過
を引き継いで試験プログラムを実行していない装置から
常に実行を再開することができ、全ての装置に対して均
一的に試験プログラムを実行することができるという効
果を有する。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の試験プロ
グラム走行装置は、コンピュータシステムの運用中にお
いて試験プログラムを実行する際、磁気デイスク装置に
試験走行管理テーブルを作成し、試験走行管理テーブル
にて試験プログラムの実行中状態、未実行状態、実行完
了状態を管理することにより、コンピュータシステムが
停止した場合でも試験プログラムを最初の装置から実行
するのではなく、実行経過を引き継いで試験プログラム
を実行していない装置から常に実行を再開することがで
きることから、全ての装置に対して均一的に試験プログ
ラムを実行することができるという効果を有する。
グラム走行装置は、コンピュータシステムの運用中にお
いて試験プログラムを実行する際、磁気デイスク装置に
試験走行管理テーブルを作成し、試験走行管理テーブル
にて試験プログラムの実行中状態、未実行状態、実行完
了状態を管理することにより、コンピュータシステムが
停止した場合でも試験プログラムを最初の装置から実行
するのではなく、実行経過を引き継いで試験プログラム
を実行していない装置から常に実行を再開することがで
きることから、全ての装置に対して均一的に試験プログ
ラムを実行することができるという効果を有する。
【図１】本発明の試験プログラム走行装置の一実施の形
態を示すブロック図である。
態を示すブロック図である。
【図２】図１の装置の装置構成管理テーブルの内容を示
すフオーマット図である。
すフオーマット図である。
【図３】図１の試験走行管理テーブルの内容を示すフオ
ーマット図である。
ーマット図である。
【図４】図１の試験走行管理部の動作の一部を説明する
ための流れ図である。
ための流れ図である。
【図５】図１の試験走行管理部の図４以外の動作を説明
するための流れ図である。
するための流れ図である。
【図６】図１の試験プログラム実行部の動作を説明する
ための流れ図である。
ための流れ図である。
【図７】従来の試験プログラム走行装置の一例のブロッ
ク図である。
ク図である。
【図８】図７の装置構成管理テーブルの内容を示すフオ
ーマット図である。
ーマット図である。
【図９】図７の試験走行管理部の動作を説明するための
流れ図である。
流れ図である。
【図１０】図７の試験プログラム実行部の動作を説明す
るための流れ図である。
るための流れ図である。
１０、１００ 中央処理装置 ２０、２００ 記憶部 ２１、２１０ 装置構成管理テーブル ２２、３２、２２０ 装置名 ２３、２３０ 使用可／不可情報 ３０ 磁気デイスク装置 ３１ 試験走行管理テーブル ３３ 試験プログラム走行情報 ４０、４００ システム操作卓 Ａ、Ｃ 試験装置管理部 Ｂ、Ｄ 試験プログラム実行部
Claims (2)
- 【請求項１】システムに接続される複数の装置のそれぞ
れの物理的接続状態に基ずく前記各装置の使用可能か否
かを示す使用状態情報を格納する装置構成管理テーブル
を予め記憶する第１の記憶手段と、前記各装置の試験プ
ログラムによる試験がそれぞれの前記装置に対し実行中
なのか実行完了なのか未実行なのかを示す試験走行情報
を格納する試験走行管理テーブルを記憶する第２の記憶
手段と、前記試験プログラムの実行指示を入力し前記試
験プログラムの実行結果を示すメッセージを出力する入
出力手段と、試験プログラム実行対象の装置識別子の供
給に応答して前記装置識別子に対応する装置に対応する
試験プログラムを実行してその結果を出力する試験プロ
グラム実行手段と、前記入出力手段からの試験プログラ
ムの実行指示の供給に応答して前記試験走行管理テーブ
ルを参照して順に前記試験走行情報が実行中の装置次い
で未実行の装置を前記試験走行情報を実行中に更新して
試験対象装置として前記試験プログラム実行手段にこの
試験対象装置の識別子を供給し前記試験走行管理テーブ
ルが未作成のときには前記装置構成管理テーブルを参照
して前記使用状態情報が使用可能状態となっている全て
の装置に対してその試験走行情報を未実行に設定した試
験走行管理テーブルを作成してこれを参照して順に前記
試験走行情報を実行中に更新して試験対象装置として前
記試験プログラム実行手段にこの試験対象装置の識別子
を供給し前記試験プログラム実行手段からの試験結果の
供給に応答して対応する装置の試験走行情報を実行完了
に変更しその試験結果を前記入出力手段に供給する試験
装置管理手段とを含むことを特徴とする試験プログラム
走行装置。 - 【請求項２】 試験走行管理テーブルを記憶する第２の
記憶手段は不揮発性記憶手段であることを特徴とする請
求項１記載の試験プログラム走行装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7220396A JP2928139B2 (ja) | 1995-08-29 | 1995-08-29 | 試験プログラム走行装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7220396A JP2928139B2 (ja) | 1995-08-29 | 1995-08-29 | 試験プログラム走行装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0962529A JPH0962529A (ja) | 1997-03-07 |
| JP2928139B2 true JP2928139B2 (ja) | 1999-08-03 |
Family
ID=16750467
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7220396A Expired - Fee Related JP2928139B2 (ja) | 1995-08-29 | 1995-08-29 | 試験プログラム走行装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2928139B2 (ja) |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0480832A (ja) * | 1990-07-23 | 1992-03-13 | Nec Corp | 診断プログラム実行方式 |
| JP3068345B2 (ja) * | 1992-08-27 | 2000-07-24 | 日本電気株式会社 | ハードウェアの試験診断が可能な情報処理装置 |
-
1995
- 1995-08-29 JP JP7220396A patent/JP2928139B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0962529A (ja) | 1997-03-07 |
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