JP2927537B2 - 超電導試験評価方式 - Google Patents
超電導試験評価方式Info
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- JP2927537B2 JP2927537B2 JP31793590A JP31793590A JP2927537B2 JP 2927537 B2 JP2927537 B2 JP 2927537B2 JP 31793590 A JP31793590 A JP 31793590A JP 31793590 A JP31793590 A JP 31793590A JP 2927537 B2 JP2927537 B2 JP 2927537B2
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- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、超電導試料における臨界特性を自動的に計
測する超電導試験評価方法に関する。
測する超電導試験評価方法に関する。
［従来の技術］ 従来、超電導試料の臨界特性試験は、温度、電流、磁
界を手動で変えながら超電導状態のくずれる状態を電圧
計、電流計等を用いて観察し、表にまとめて、グラフを
描き臨界特性を得るようにしていた。
界を手動で変えながら超電導状態のくずれる状態を電圧
計、電流計等を用いて観察し、表にまとめて、グラフを
描き臨界特性を得るようにしていた。
［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、上述した従来の超電導試験評価方式
は、試験者自ら電圧計、電流計を読み取りながら表に書
き込んでいたので、作業上試験者にかかる負担が大き
く、試験に時間を要するという問題点があった。
は、試験者自ら電圧計、電流計を読み取りながら表に書
き込んでいたので、作業上試験者にかかる負担が大き
く、試験に時間を要するという問題点があった。
そこで、本発明は上記問題点を解決するためになされ
たもので、試験者の負担を軽減して高速に試験を行うこ
とができる超電導試験評価方式を得ることを目的として
いる。
たもので、試験者の負担を軽減して高速に試験を行うこ
とができる超電導試験評価方式を得ることを目的として
いる。
［課題を解決するための手段］ 上記目的を達成するため、本発明に係る超電導試験評
価方式は、超電導試験を行う試料の置かれている場所の
磁界の強度を変化させる磁界変化手段と、前記場所の温
度を変化させる温度変化手段と、前記試料に電流を流
し、その電流値を変化させる電流変化手段と、前記試料
に発生する抵抗を検出する抵抗検出手段と、該抵抗検出
手段の出力に基づいて、前記磁界変化手段、温度変化手
段、電流変化手段を制御する制御手段とを有し、磁界、
温度を徐々に変化させながら試料に流す電流を変化させ
て試料に抵抗が発生した時、その点を記録して行くこと
により超電導試料の臨界特性を自動的に計測することを
特徴としている。
価方式は、超電導試験を行う試料の置かれている場所の
磁界の強度を変化させる磁界変化手段と、前記場所の温
度を変化させる温度変化手段と、前記試料に電流を流
し、その電流値を変化させる電流変化手段と、前記試料
に発生する抵抗を検出する抵抗検出手段と、該抵抗検出
手段の出力に基づいて、前記磁界変化手段、温度変化手
段、電流変化手段を制御する制御手段とを有し、磁界、
温度を徐々に変化させながら試料に流す電流を変化させ
て試料に抵抗が発生した時、その点を記録して行くこと
により超電導試料の臨界特性を自動的に計測することを
特徴としている。
［作 用］ 制御手段は磁界変化手段、温度変化手段、電流変化手
段を制御し、超電導試料に付与する磁界、温度、電流を
徐々に変化させる。
段を制御し、超電導試料に付与する磁界、温度、電流を
徐々に変化させる。
そして、抵抗検出手段が超電導試料の抵抗を検出した
時、その検出時の温度、磁界の強度、電流値を記録す
る。
時、その検出時の温度、磁界の強度、電流値を記録す
る。
［実施例］ 以下、この発明の一実施例を図面に基づいて説明す
る。
る。
第１図はこの発明の一実施例を示す構成図で、図にお
いて、3Aは基台１上の超電導試料1Aに印加する電流値を
変化させる電流変化手段、5Aは冷却器２内の温度を変化
させる温度変化手段、6Aは超電導試料を置く場所の磁界
を強度を変化させる磁界変化手段、4Aは超電導試料に発
生する抵抗を検出する抵抗検出手段、7Aは上記電流変化
手段3A、温度変化手段5A、磁界変化手段6Aを制御する制
御手段である。
いて、3Aは基台１上の超電導試料1Aに印加する電流値を
変化させる電流変化手段、5Aは冷却器２内の温度を変化
させる温度変化手段、6Aは超電導試料を置く場所の磁界
を強度を変化させる磁界変化手段、4Aは超電導試料に発
生する抵抗を検出する抵抗検出手段、7Aは上記電流変化
手段3A、温度変化手段5A、磁界変化手段6Aを制御する制
御手段である。
次に動作について説明する。
制御手段7Aは電流変化手段3A、温度変化手段5A、磁界
変化手段6Aを制御し、超電導試料に流す電流、超電導試
料の載置された場所の温度、磁界を変化させる。
変化手段6Aを制御し、超電導試料に流す電流、超電導試
料の載置された場所の温度、磁界を変化させる。
そして、抵抗検出手段4Aによって超電導試料の抵抗が
検出されると、制御手段7Aはその時の磁界の強度、温
度、電流の各値を記録し、再び電流、温度を初期状態に
戻した上で徐々に上げて行く。
検出されると、制御手段7Aはその時の磁界の強度、温
度、電流の各値を記録し、再び電流、温度を初期状態に
戻した上で徐々に上げて行く。
この時の電流、磁界、温度の変化の様子を第２図に示
す。
す。
第２図に示すように電流、磁界、温度は変化状態が互
いに異なっている。
いに異なっている。
すなわち、電流がある周期で直線的に変化していると
すると、温度は電流の周期に比べて十分に短い周期で直
線的に変化し、更に磁界の強度は上記温度の周期に比べ
て十分長い周期で直線的に変化している。
すると、温度は電流の周期に比べて十分に短い周期で直
線的に変化し、更に磁界の強度は上記温度の周期に比べ
て十分長い周期で直線的に変化している。
このような電流、磁界、温度の変化特性を持って超電
導試料の試験を行うと、自動的に電流、磁界、温度の臨
界特性Jc,Hc,Tcが得られることになる。また、電流、磁
界、温度に対して上述した変化特性を持たせることで、
超電導試料の試験を連続的に行えるので、超電導試料に
ジュール熱が発生して破壊させる虞れがなく、高速かつ
正確な測定が行える。
導試料の試験を行うと、自動的に電流、磁界、温度の臨
界特性Jc,Hc,Tcが得られることになる。また、電流、磁
界、温度に対して上述した変化特性を持たせることで、
超電導試料の試験を連続的に行えるので、超電導試料に
ジュール熱が発生して破壊させる虞れがなく、高速かつ
正確な測定が行える。
第３図は抵抗検出手段4Aが抵抗を検出した時に、その
時の電流、磁界、温度の記録を行う具体的な回路ブロッ
ク図を示している。
時の電流、磁界、温度の記録を行う具体的な回路ブロッ
ク図を示している。
この図に示すように超電導試料に抵抗が発生すると、
これをコンパレータが検出し、ピークホールド回路10が
その時の電流変化手段3Aの電流値をホールドして記録
し、電流変化手段3Aにリセット信号を発生するようにな
っている。なお、電流値の他にそのときの温度値、磁界
値もホールドして測定する。また、別に温度センサ等を
用いて検出してもよい。
これをコンパレータが検出し、ピークホールド回路10が
その時の電流変化手段3Aの電流値をホールドして記録
し、電流変化手段3Aにリセット信号を発生するようにな
っている。なお、電流値の他にそのときの温度値、磁界
値もホールドして測定する。また、別に温度センサ等を
用いて検出してもよい。
なお、この実施例においては温度、磁界、電流の値を
０から徐々に上げて行くことで臨界特性が得られるよう
に構成されているが、温度、磁界の各値を十分に大きく
しておいて徐々に下げることによって調べても同様に計
測できる。
０から徐々に上げて行くことで臨界特性が得られるよう
に構成されているが、温度、磁界の各値を十分に大きく
しておいて徐々に下げることによって調べても同様に計
測できる。
また、この実施例では磁界、温度、電流の順序で変化
の周期が小さくなっているが、この各パラメータの周期
は任意に設定しても良い。
の周期が小さくなっているが、この各パラメータの周期
は任意に設定しても良い。
ところで、上述した実施例では、磁界、温度、電流を
それぞれ制御して第４図に示すような超電導試料の臨界
温度Tc、臨界電流密度Jc、臨界磁場Hcについての３次元
評価を得る場合について説明したが、磁界をパラメータ
として温度と電流、電流をパラメータとして温度と磁
界、温度をパラメータとして磁界と電流による２次元評
価を行う装置としても適用できることは言うまでもな
い。また、磁界値のみでなく、その経過情報値のデータ
の測定もできる。
それぞれ制御して第４図に示すような超電導試料の臨界
温度Tc、臨界電流密度Jc、臨界磁場Hcについての３次元
評価を得る場合について説明したが、磁界をパラメータ
として温度と電流、電流をパラメータとして温度と磁
界、温度をパラメータとして磁界と電流による２次元評
価を行う装置としても適用できることは言うまでもな
い。また、磁界値のみでなく、その経過情報値のデータ
の測定もできる。
［発明の効果］ 以上説明したように本発明による超電導試験を行う超
電導試験評価方式は、超電導試験を行う試料の置かれて
いる場所の磁界の強度を変化させる磁界変化手段と、前
記場所の温度を変化させる温度変化手段と、前記試料に
電流を流し、その電流値を変化させる電流変化手段と、
前記試料に発生す豪抵抗を検出する抵抗検出手段と、該
抵抗検出手段の出力に基づいて、前記磁界変化手段、温
度変化手段、電流変化手段を制御する制御手段とを有
し、磁界、温度を徐々に変化させながら試料に流す電流
を変化させて試料に抵抗が発生した時、その点を記録し
て行くことにより超電導の臨界特性を自動的に計測する
ようにしたので、試験者にかかる負担を軽減でき、ジュ
ール熱によって超電導試料を破壊させることなく高速か
つ高精度に超電導試料の評価を行うことができる。
電導試験評価方式は、超電導試験を行う試料の置かれて
いる場所の磁界の強度を変化させる磁界変化手段と、前
記場所の温度を変化させる温度変化手段と、前記試料に
電流を流し、その電流値を変化させる電流変化手段と、
前記試料に発生す豪抵抗を検出する抵抗検出手段と、該
抵抗検出手段の出力に基づいて、前記磁界変化手段、温
度変化手段、電流変化手段を制御する制御手段とを有
し、磁界、温度を徐々に変化させながら試料に流す電流
を変化させて試料に抵抗が発生した時、その点を記録し
て行くことにより超電導の臨界特性を自動的に計測する
ようにしたので、試験者にかかる負担を軽減でき、ジュ
ール熱によって超電導試料を破壊させることなく高速か
つ高精度に超電導試料の評価を行うことができる。
第１図はこの発明の一実施例を示す超電導試験装置のブ
ロック構成図、第２図は電流、磁界、温度の変化の様子
を示す図、第３図は臨界値を記録する具体的な回路ブロ
ック図、第４図は超電導試料の臨界特性図である。 １……基台、２……冷却器、３……定電流源、3A……電
流変化手段、４……電圧計、4A……抵抗検出手段、５…
…温度調節計、5A……温度変化手段、６……磁界調節
計、6A……磁界変化手段、7A……制御手段。
ロック構成図、第２図は電流、磁界、温度の変化の様子
を示す図、第３図は臨界値を記録する具体的な回路ブロ
ック図、第４図は超電導試料の臨界特性図である。 １……基台、２……冷却器、３……定電流源、3A……電
流変化手段、４……電圧計、4A……抵抗検出手段、５…
…温度調節計、5A……温度変化手段、６……磁界調節
計、6A……磁界変化手段、7A……制御手段。
Claims (1)
- 【請求項１】超電導試験を行う試料の置かれている場所
の磁界の強度を変化させる磁界変化手段と、前記場所の
温度を変化させる温度変化手段と、前記試料に電流を流
し、その電流値を変化させる電流変化手段と、前記試料
に発生する抵抗を検出する抵抗検出手段と、該抵抗検出
手段の出力に基づいて、前記磁界変化手段、温度変化手
段、電流変化手段を制御する制御手段とを有し、磁界、
温度を徐々に変化させながら試料に流す電流を変化させ
て試料に抵抗が発生した時、その点を記録して行くこと
により超電導試料の臨界特性を自動的に計測することを
特徴とする超電導試験評価方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31793590A JP2927537B2 (ja) | 1990-11-26 | 1990-11-26 | 超電導試験評価方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP31793590A JP2927537B2 (ja) | 1990-11-26 | 1990-11-26 | 超電導試験評価方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04190171A JPH04190171A (ja) | 1992-07-08 |
| JP2927537B2 true JP2927537B2 (ja) | 1999-07-28 |
Family
ID=18093666
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP31793590A Expired - Fee Related JP2927537B2 (ja) | 1990-11-26 | 1990-11-26 | 超電導試験評価方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2927537B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100359325C (zh) * | 2003-08-06 | 2008-01-02 | 中国科学院电工研究所 | 一种测量超导带材各部分临界电流均匀性的方法 |
| CN1967281B (zh) * | 2006-11-08 | 2011-05-18 | 中国科学院电工研究所 | 一种测量实用长度ybco高温超导带材临界电流均匀性的方法和装置 |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4808474B2 (ja) * | 2005-11-18 | 2011-11-02 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | 高温超電導電流リード基礎特性試験装置 |
| JP5160283B2 (ja) * | 2008-03-31 | 2013-03-13 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | 評価用試料の通電特性試験装置 |
| JP5367468B2 (ja) * | 2009-06-11 | 2013-12-11 | 公益財団法人鉄道総合技術研究所 | 超電導コイル作製時の臨界電流の推定方法 |
-
1990
- 1990-11-26 JP JP31793590A patent/JP2927537B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN100359325C (zh) * | 2003-08-06 | 2008-01-02 | 中国科学院电工研究所 | 一种测量超导带材各部分临界电流均匀性的方法 |
| CN1967281B (zh) * | 2006-11-08 | 2011-05-18 | 中国科学院电工研究所 | 一种测量实用长度ybco高温超导带材临界电流均匀性的方法和装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04190171A (ja) | 1992-07-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 10 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090514 |
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| FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
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