JP2924800B2 - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JP2924800B2 JP2924800B2 JP8188266A JP18826696A JP2924800B2 JP 2924800 B2 JP2924800 B2 JP 2924800B2 JP 8188266 A JP8188266 A JP 8188266A JP 18826696 A JP18826696 A JP 18826696A JP 2924800 B2 JP2924800 B2 JP 2924800B2
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- channel mos
- mos transistor
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 4
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
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- Semiconductor Memories (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体集積回路に関
し、特に複数回路の出力信号が同一方向に同時に遷移す
る出力同時動作時におけるノイズを低減する回路に関す
る。
し、特に複数回路の出力信号が同一方向に同時に遷移す
る出力同時動作時におけるノイズを低減する回路に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近時、半導体集積回路の高集積化により
入出力信号の数は飛躍的に増加している。これに伴って
出力信号が同時に同一方向に変化する、いわゆる出力同
時動作数も増加しているが、この出力同時動作によって
発生するノイズによる誤動作に対しては、従来以下に記
載するような対策が採られてきた。
入出力信号の数は飛躍的に増加している。これに伴って
出力信号が同時に同一方向に変化する、いわゆる出力同
時動作数も増加しているが、この出力同時動作によって
発生するノイズによる誤動作に対しては、従来以下に記
載するような対策が採られてきた。
【0003】まず、第1の従来技術としては、電源端子
又はGND端子を更に追加する(端子数を増やす)もの
である。出力同時動作による誤動作は、出力同時動作時
に電源電位から出力端子へ、或いは出力端子からGND
電位へ流れる過渡電流による電圧降下や電位変動によ
り、同じ集積回路内にある入力回路の誤動作や、次段に
接続されている、別の集積回路の入力回路の誤動作を引
き起こすものである。
又はGND端子を更に追加する(端子数を増やす)もの
である。出力同時動作による誤動作は、出力同時動作時
に電源電位から出力端子へ、或いは出力端子からGND
電位へ流れる過渡電流による電圧降下や電位変動によ
り、同じ集積回路内にある入力回路の誤動作や、次段に
接続されている、別の集積回路の入力回路の誤動作を引
き起こすものである。
【0004】例えばGND端子が有するインダクタンス
及び直列抵抗の総和をそれぞれL及びRとし、GND端
子に、過渡状態においてある時刻に、流れている直流電
流の総和をiとすると、電位変動ΔVは、次式(1)で
表される。
及び直列抵抗の総和をそれぞれL及びRとし、GND端
子に、過渡状態においてある時刻に、流れている直流電
流の総和をiとすると、電位変動ΔVは、次式(1)で
表される。
【0005】
【数1】
【0006】従って、GND端子を追加することによ
り、上記のインダクタンスLや抵抗Rを小さくして、こ
の電位変動ΔVを減少させる、というものである。
り、上記のインダクタンスLや抵抗Rを小さくして、こ
の電位変動ΔVを減少させる、というものである。
【0007】第2の従来技術として、例えば特開昭60
−130920号公報には、その概略を図6に示すよう
に、出力同時動作する出力回路に入力される入力信号の
タイミングを、予めずらすことにより、等価的に出力同
時動作と見做す出力信号の本数を減少させるようにした
方法が提案されている。すなわち、同公報には、同時動
作する論理ゲートの出力端に容量体(容量値はC1<C
2<C3)を接続することにより、次段の回路の入力タ
イミングを異ならしめ、次段の回路への同時出力を回避
し電源線路に流れる過渡電流を制御した構成が記載され
ている。
−130920号公報には、その概略を図6に示すよう
に、出力同時動作する出力回路に入力される入力信号の
タイミングを、予めずらすことにより、等価的に出力同
時動作と見做す出力信号の本数を減少させるようにした
方法が提案されている。すなわち、同公報には、同時動
作する論理ゲートの出力端に容量体(容量値はC1<C
2<C3)を接続することにより、次段の回路の入力タ
イミングを異ならしめ、次段の回路への同時出力を回避
し電源線路に流れる過渡電流を制御した構成が記載され
ている。
【0008】また、第3の従来技術としては、例えば特
開平1−119051号公報には、その概略を図5に示
すように、同時動作する出力回路における回路定数や使
用端子を、予め変更し、出力同時動作のタイミングだけ
でなく、相互コンダクタンスgmも変化させて、出力同
時動作によって発生するノイズを抑制する方法が提案さ
れている。この場合、MOSトランジスタのgmがソー
ス・ドレイン領域のコンタクトの開け方に大きく依存す
るという性質を利用して、図5(B)、(C)に示すよ
うなコンタクト開孔法を使い分け、コンタクト工程以降
を上地工程としたゲートアレイ方式に適用した構成が記
載されている。
開平1−119051号公報には、その概略を図5に示
すように、同時動作する出力回路における回路定数や使
用端子を、予め変更し、出力同時動作のタイミングだけ
でなく、相互コンダクタンスgmも変化させて、出力同
時動作によって発生するノイズを抑制する方法が提案さ
れている。この場合、MOSトランジスタのgmがソー
ス・ドレイン領域のコンタクトの開け方に大きく依存す
るという性質を利用して、図5(B)、(C)に示すよ
うなコンタクト開孔法を使い分け、コンタクト工程以降
を上地工程としたゲートアレイ方式に適用した構成が記
載されている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の技術は
下記記載の問題点を有している。
下記記載の問題点を有している。
【0010】まず、上記第1の従来技術では、電源端子
及びGND端子が追加されるので、信号端子として使用
できる端子数が少なくなる(逆に、信号端子を減少させ
ないと端子数が増大する)、という問題点がある。すな
わち低レベルから高レベルへの出力同時動作には電源端
子を、また高レベルから低レベルへの同時動作にはGN
D端子を、それぞれ追加しなくてはならないので、出力
同時動作対策として多数の電源端子及びGND端子を追
加することになり、信号端子数の減少が著しくなってし
まう、という問題があった。
及びGND端子が追加されるので、信号端子として使用
できる端子数が少なくなる(逆に、信号端子を減少させ
ないと端子数が増大する)、という問題点がある。すな
わち低レベルから高レベルへの出力同時動作には電源端
子を、また高レベルから低レベルへの同時動作にはGN
D端子を、それぞれ追加しなくてはならないので、出力
同時動作対策として多数の電源端子及びGND端子を追
加することになり、信号端子数の減少が著しくなってし
まう、という問題があった。
【0011】また、上記第2の従来技術では、予め入力
信号のタイミングを変化させるため、変化させる時間の
調整が困難となり、且つこの変化させたタイミングによ
り、次段に接続された集積回路の設計が、より一層難し
くなる、という問題がある。
信号のタイミングを変化させるため、変化させる時間の
調整が困難となり、且つこの変化させたタイミングによ
り、次段に接続された集積回路の設計が、より一層難し
くなる、という問題がある。
【0012】さらに、上記第3の従来技術では、回路の
性能を低下させてノイズの発生を抑制しているので、回
路自身が持つ最高の性能を適用(あるいは実現)できな
い、という可能性があった。
性能を低下させてノイズの発生を抑制しているので、回
路自身が持つ最高の性能を適用(あるいは実現)できな
い、という可能性があった。
【0013】したがって、本発明は、上記問題点に鑑み
てなされたものであって、その目的は、回路特性を低下
させることなく、且つ電源端子やGND端子の追加によ
る信号端子の減少を伴うことなく、出力同時動作による
誤動作を防止するようにした半導体集積回路を提供する
ことにある。
てなされたものであって、その目的は、回路特性を低下
させることなく、且つ電源端子やGND端子の追加によ
る信号端子の減少を伴うことなく、出力同時動作による
誤動作を防止するようにした半導体集積回路を提供する
ことにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体集積回路は、プッシュプル構成
の出力回路を複数備え前記複数の出力回路から複数の出
力端子に複数の出力信号が出力される半導体集積回路に
おいて、前記複数の出力信号が低レベルから高レベルへ
同時に遷移することを検出する第1の検出手段と、前記
第1の検出手段からの検出出力を受けて、前記出力回路
のプッシュプル構成のトランジスタのうち電源側のトラ
ンジスタについて、出力インピーダンスがより大となる
ように切替制御する手段と、前記複数の出力信号が高レ
ベルから低レベルへ同時に遷移することを検出する第2
の検出手段と、前記第2の検出手段からの検出出力を受
けて、前記出力回路のプッシュプル構成のトランジスタ
のうち接地側のトランジスタについて、出力インピーダ
ンスがより大となるように切替制御する手段と、を備え
たことを特徴とするものである。
め、本発明に係る半導体集積回路は、プッシュプル構成
の出力回路を複数備え前記複数の出力回路から複数の出
力端子に複数の出力信号が出力される半導体集積回路に
おいて、前記複数の出力信号が低レベルから高レベルへ
同時に遷移することを検出する第1の検出手段と、前記
第1の検出手段からの検出出力を受けて、前記出力回路
のプッシュプル構成のトランジスタのうち電源側のトラ
ンジスタについて、出力インピーダンスがより大となる
ように切替制御する手段と、前記複数の出力信号が高レ
ベルから低レベルへ同時に遷移することを検出する第2
の検出手段と、前記第2の検出手段からの検出出力を受
けて、前記出力回路のプッシュプル構成のトランジスタ
のうち接地側のトランジスタについて、出力インピーダ
ンスがより大となるように切替制御する手段と、を備え
たことを特徴とするものである。
【0015】また、本発明においては、前記出力回路の
出力インピーダンスを、同時動作数に応じて複数通りに
切替制御する、ように構成してもよい。
出力インピーダンスを、同時動作数に応じて複数通りに
切替制御する、ように構成してもよい。
【0016】本発明においては、前記第1、第2の検出
手段が、それぞれ、複数の出力信号がともに、低レベル
又は高レベルの一方の論理レベルにあることを検出する
第1の回路手段と、前記複数の出力信号がともに前記一
方の論理レベルと別の論理レベルにあることを検出する
第2の回路手段と、前記第1の回路手段からの検出信号
をクロック信号で保持出力する第3の回路手段と、前記
第3の回路手段で前記第1の回路手段からの検出信号を
保持後、前記複数の出力信号が、前記別の論理レベルへ
同時に遷移することを示す前記第2の回路手段からの検
出信号と、前記第3の回路手段で保持された検出信号
と、から出力同時動作検出信号を出力する第4の回路手
段と、を備える。
手段が、それぞれ、複数の出力信号がともに、低レベル
又は高レベルの一方の論理レベルにあることを検出する
第1の回路手段と、前記複数の出力信号がともに前記一
方の論理レベルと別の論理レベルにあることを検出する
第2の回路手段と、前記第1の回路手段からの検出信号
をクロック信号で保持出力する第3の回路手段と、前記
第3の回路手段で前記第1の回路手段からの検出信号を
保持後、前記複数の出力信号が、前記別の論理レベルへ
同時に遷移することを示す前記第2の回路手段からの検
出信号と、前記第3の回路手段で保持された検出信号
と、から出力同時動作検出信号を出力する第4の回路手
段と、を備える。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して以下に説明する。図1は、本発明の第1の実
施の形態の構成を示す図である。図中、回路1、5、
6、7、8は出力同時動作する回路群である。また回路
1は、回路1の立ち上り時の出力インピーダンス制御回
路2と、回路1の立ち下がり時の出力インピーダンス制
御回路3と、を備え、電源端子と出力インピーダンス制
御回路2との間には、ゲートに信号IN0を入力とする
PチャネルMOSトランジスタMP0が接続され、出力
インピーダンス制御回路3と接地端子との間には、ゲー
トに信号IN0を入力とするNチャンルMOSトランジ
スタMN0が接続され、出力インピーダンス制御回路2
と3の接続点が出力端子OUT0に接続されている。図
中4は、回路1、5、6、7、8の出力同時動作を検出
する出力同時動作検出回路であり、その出力はそれぞれ
の回路の出力インピーダンス制御回路2、3に接続され
ている。なお、回路5、6、7、8の構成も回路1と同
様であるため、図1には回路1のみの構成が示されてい
る。
を参照して以下に説明する。図1は、本発明の第1の実
施の形態の構成を示す図である。図中、回路1、5、
6、7、8は出力同時動作する回路群である。また回路
1は、回路1の立ち上り時の出力インピーダンス制御回
路2と、回路1の立ち下がり時の出力インピーダンス制
御回路3と、を備え、電源端子と出力インピーダンス制
御回路2との間には、ゲートに信号IN0を入力とする
PチャネルMOSトランジスタMP0が接続され、出力
インピーダンス制御回路3と接地端子との間には、ゲー
トに信号IN0を入力とするNチャンルMOSトランジ
スタMN0が接続され、出力インピーダンス制御回路2
と3の接続点が出力端子OUT0に接続されている。図
中4は、回路1、5、6、7、8の出力同時動作を検出
する出力同時動作検出回路であり、その出力はそれぞれ
の回路の出力インピーダンス制御回路2、3に接続され
ている。なお、回路5、6、7、8の構成も回路1と同
様であるため、図1には回路1のみの構成が示されてい
る。
【0018】図2は、出力インピーダンス制御回路2、
3及び出力同時動作検出回路4を、同期回路におけるク
ロック信号を用いた具体的な回路構成を示したものであ
る。なお、図2におけるIN0からINnは、出力同時
動作する出力回路群の入力信号を示している。
3及び出力同時動作検出回路4を、同期回路におけるク
ロック信号を用いた具体的な回路構成を示したものであ
る。なお、図2におけるIN0からINnは、出力同時
動作する出力回路群の入力信号を示している。
【0019】図2を参照して、本発明の実施例の動作を
説明する。
説明する。
【0020】まず、出力回路群への入力信号IN0から
INnから高レベルから低レベルへの出力同時動作を行
う場合について説明する。
INnから高レベルから低レベルへの出力同時動作を行
う場合について説明する。
【0021】図3は、この場合のタイミングチャートで
ある。出力同時動作が発生する直前、すなわちクロック
信号17の1周期前の状態では、IN0からINnは全
て高レベルであるので節点(ノード)35及び36は高
レベルであり節点Bも高レベルである(図3の時刻
a)。
ある。出力同時動作が発生する直前、すなわちクロック
信号17の1周期前の状態では、IN0からINnは全
て高レベルであるので節点(ノード)35及び36は高
レベルであり節点Bも高レベルである(図3の時刻
a)。
【0022】このためNチャネルMOSトランジスタ2
4はオンしているので、立ち下がり時の出力インピーダ
ンスをNチャネルMOSトランジスタのオン抵抗で表す
と以下のようになる。すなわち、NチャネルMOSトラ
ンジスタ22のオン抵抗をRon22、NチャネルMO
Sトランジスタ24のオン抵抗をRon24、Nチャネ
ルMOSトランジスタ26のオン抵抗をRon26とす
ると、立ち下がり時のオン抵抗Rfallは、Ron2
4とRon26の並列接続にRon22を直列接続した
ものとなり次式(2)で表される。
4はオンしているので、立ち下がり時の出力インピーダ
ンスをNチャネルMOSトランジスタのオン抵抗で表す
と以下のようになる。すなわち、NチャネルMOSトラ
ンジスタ22のオン抵抗をRon22、NチャネルMO
Sトランジスタ24のオン抵抗をRon24、Nチャネ
ルMOSトランジスタ26のオン抵抗をRon26とす
ると、立ち下がり時のオン抵抗Rfallは、Ron2
4とRon26の並列接続にRon22を直列接続した
ものとなり次式(2)で表される。
【0023】
【数2】
【0024】図3において、Rfallとして示した箇
所が上記の状態にあたる。
所が上記の状態にあたる。
【0025】ここで、IN0からINnがクロック信号
17に同期して高レベルから低レベルへ遷移したとす
る。
17に同期して高レベルから低レベルへ遷移したとす
る。
【0026】まず、クロック信号17のエッジにより、
直前の状態での節点36のデータ、すなわち高レベルを
フリップフロップ33に取り込み、節点38に出力する
が、この場合節点38は低レベルになる(図3の時刻b
及び節点36から38へ矢印で示した部分)。
直前の状態での節点36のデータ、すなわち高レベルを
フリップフロップ33に取り込み、節点38に出力する
が、この場合節点38は低レベルになる(図3の時刻b
及び節点36から38へ矢印で示した部分)。
【0027】その後、IN0からINnのデータがOR
ゲート31、ANDゲート32に到達すると、節点35
は低レベルとなるため、節点Bのレベルも低レベルとな
り(図3の時刻c)、NチャネルMOSトランジスタ2
4はオフし、立ち下がり時のオン抵抗Rfall′は、
次式(3)と表される。
ゲート31、ANDゲート32に到達すると、節点35
は低レベルとなるため、節点Bのレベルも低レベルとな
り(図3の時刻c)、NチャネルMOSトランジスタ2
4はオフし、立ち下がり時のオン抵抗Rfall′は、
次式(3)と表される。
【0028】 Rfall′=Ron22+Ron26 …(3)
【0029】図3において、Rfall′として示した
箇所が上記の状態にあたる。従って、立ち下がり時のオ
ン抵抗、すなわち出力インピーダンスが1周期前よりも
大きくなり(Rfall′>Rfall)、過渡的に発
生するノイズが抑制される。
箇所が上記の状態にあたる。従って、立ち下がり時のオ
ン抵抗、すなわち出力インピーダンスが1周期前よりも
大きくなり(Rfall′>Rfall)、過渡的に発
生するノイズが抑制される。
【0030】一方、出力同時動作が発生しない状態、す
なわちIN0からINnが全て低レベルでなければ、O
Rゲート31の出力節点35は常に高レベルなので(図
6の時刻d以降)、節点Bは常に高レベルとなり、Nチ
ャネルMOSトランジスタ24がオンするため、立ち下
がり時の出力インピーダンスは出力同時動作が発生する
1周期前すなわちRfallと同じ値に維持される。
なわちIN0からINnが全て低レベルでなければ、O
Rゲート31の出力節点35は常に高レベルなので(図
6の時刻d以降)、節点Bは常に高レベルとなり、Nチ
ャネルMOSトランジスタ24がオンするため、立ち下
がり時の出力インピーダンスは出力同時動作が発生する
1周期前すなわちRfallと同じ値に維持される。
【0031】次に、IN0からINnが低レベルから高
レベルへの出力同時動作を行う場合について説明する。
なお、この場合のタイミングチャートは基本的には図3
に示したものと同等であるため省略する。
レベルへの出力同時動作を行う場合について説明する。
なお、この場合のタイミングチャートは基本的には図3
に示したものと同等であるため省略する。
【0032】出力同時動作が発生する直前、すなわちク
ロック信号17の1周期前の状態では、IN0からIN
nは全て低レベルであるので、節点15及び16は低レ
ベルであり、従って節点Aも低レベルである。これによ
ってPチャネルMOSトランジスタ23はオンしている
ので、立ち上がり時の出力インピーダンスをPチャネル
MOSトランジスタのオン抵抗で表すと以下のようにな
る。すなわち、PチャネルMOSトランジスタ21のオ
ン抵抗をRon21、PチャネルMOSトランジスタ2
3のオン抵抗をRon23、PチャネルMOSトランジ
スタ25のオン抵抗をRon25とすると、立ち上がり
時のオン抵抗Rriseは、次式(4)で表される。
ロック信号17の1周期前の状態では、IN0からIN
nは全て低レベルであるので、節点15及び16は低レ
ベルであり、従って節点Aも低レベルである。これによ
ってPチャネルMOSトランジスタ23はオンしている
ので、立ち上がり時の出力インピーダンスをPチャネル
MOSトランジスタのオン抵抗で表すと以下のようにな
る。すなわち、PチャネルMOSトランジスタ21のオ
ン抵抗をRon21、PチャネルMOSトランジスタ2
3のオン抵抗をRon23、PチャネルMOSトランジ
スタ25のオン抵抗をRon25とすると、立ち上がり
時のオン抵抗Rriseは、次式(4)で表される。
【0033】
【数3】
【0034】ここで、IN0からINnがクロック信号
17に同期して低レベルから高レベルへ遷移したとす
る。まず、クロック信号17のエッジにより、直前の状
態での節点16のデータ、すなわち低レベルをフリップ
フロップ13に取り込み、節点18に出力するが、この
場合節点18は低レベルになる。その後、IN0からI
Nnのデータが11、12のゲートに到達すると、節点
15は高レベルとなるため、節点Aのレベルも高レベル
となりPチャネルMOSトランジスタ23はオフし、立
ち上がり時のオン抵抗Rrise′は、次式(5)と表
される。
17に同期して低レベルから高レベルへ遷移したとす
る。まず、クロック信号17のエッジにより、直前の状
態での節点16のデータ、すなわち低レベルをフリップ
フロップ13に取り込み、節点18に出力するが、この
場合節点18は低レベルになる。その後、IN0からI
Nnのデータが11、12のゲートに到達すると、節点
15は高レベルとなるため、節点Aのレベルも高レベル
となりPチャネルMOSトランジスタ23はオフし、立
ち上がり時のオン抵抗Rrise′は、次式(5)と表
される。
【0035】 Rrise′=Ron21+Ron25 …(5)
【0036】従って、立ち上がり時のオン抵抗、すなわ
ち出力インピーダンスが1周期前よりも大きくなり(R
rise′>Rrise)、過渡的に発生するノイズが
抑制される。
ち出力インピーダンスが1周期前よりも大きくなり(R
rise′>Rrise)、過渡的に発生するノイズが
抑制される。
【0037】一方、出力同時動作が発生しない状態、す
なわちIN0からINnが全て高レベルでなければ、節
点15は常に高レベルなので、節点Aは常に低レベルと
なり、PチャネルMOSトランジスタ23がオンするた
め、立ち上がり時の出力インピーダンスは出力同時動作
が発生する1周期前すなわちRriseと同じ値に維持
される。
なわちIN0からINnが全て高レベルでなければ、節
点15は常に高レベルなので、節点Aは常に低レベルと
なり、PチャネルMOSトランジスタ23がオンするた
め、立ち上がり時の出力インピーダンスは出力同時動作
が発生する1周期前すなわちRriseと同じ値に維持
される。
【0038】図4に、本発明の第2の実施例を示す。本
実施例では、出力同時動作検出回路41、42及び出力
インピーダンス制御回路を2種類用意し、出力同時動作
数に応じて、出力インピーダンスを2通りに変化させる
ようにしたものである。PchトランジスタMP4に並
列にPchトランジスタMP1、MP2が接続され、N
chトランジスタMN4に並列にNchトランジスタM
N1、MN2が接続されている。この実施例では2通り
の場合を示しているが、出力同時動作検出回路の数と出
力インピーダンス制御回路の数を増やすことで、出力同
時動作数に応じて出力インピーダンスを変化させること
も可能である。
実施例では、出力同時動作検出回路41、42及び出力
インピーダンス制御回路を2種類用意し、出力同時動作
数に応じて、出力インピーダンスを2通りに変化させる
ようにしたものである。PchトランジスタMP4に並
列にPchトランジスタMP1、MP2が接続され、N
chトランジスタMN4に並列にNchトランジスタM
N1、MN2が接続されている。この実施例では2通り
の場合を示しているが、出力同時動作検出回路の数と出
力インピーダンス制御回路の数を増やすことで、出力同
時動作数に応じて出力インピーダンスを変化させること
も可能である。
【0039】
【発明の効果】以上説明したように、従来技術において
は、出力同時動作に起因したノイズによる誤動作への対
策を、電源端子やGND端子の追加によって実現してい
たのに対し、本発明によれば、電源端子やGND端子の
追加をすることなく、ノイズの低減を実現することがで
きる。また、従来ノイズの発生を抑制するために、予め
回路の性能を低下させる対策も併せて適用されていた
が、本発明によれば、実際に出力同時動作が発生する状
態を検出し、その状態の時にだけ、ノイズ低減のための
出力インピーダンスの値を大きくするので、出力同時動
作が発生しない場合には、通常の回路と何ら変わりない
特性を実現することができる、という利点を有してい
る。
は、出力同時動作に起因したノイズによる誤動作への対
策を、電源端子やGND端子の追加によって実現してい
たのに対し、本発明によれば、電源端子やGND端子の
追加をすることなく、ノイズの低減を実現することがで
きる。また、従来ノイズの発生を抑制するために、予め
回路の性能を低下させる対策も併せて適用されていた
が、本発明によれば、実際に出力同時動作が発生する状
態を検出し、その状態の時にだけ、ノイズ低減のための
出力インピーダンスの値を大きくするので、出力同時動
作が発生しない場合には、通常の回路と何ら変わりない
特性を実現することができる、という利点を有してい
る。
【0040】さらに、本発明によれば、出力同時動作数
に応じて出力インピーダンスの値を数種類に変えること
も可能であり、種々の動作状態への拡張性も有するもの
である。
に応じて出力インピーダンスの値を数種類に変えること
も可能であり、種々の動作状態への拡張性も有するもの
である。
【図1】本発明の実施の形態の構成を示す図である。
【図2】本発明の第1の実施例の回路構成を示す図であ
る。
る。
【図3】本発明の第1の実施例の動作を説明するための
タイミングチャートである。
タイミングチャートである。
【図4】本発明の第2の実施例の回路構成を示す図であ
る。
る。
【図5】従来技術の構成を示す図である。
【図6】別の従来技術の構成を示す図である。
1、5、6、7、8 出力回路 2、3 出力インピーダンス制御回路 4 出力同時動作検出回路 11 ANDゲート 12 ORゲート 13 フリップフロップ 14 ANDゲート 15、16 ノード 21、23、25 PチャネルMOSトランジスタ 22、24、26 NチャネルMOSトランジスタ 41、42 出力同時動作検出回路
Claims (4)
- 【請求項1】プッシュプル構成の出力回路を複数備え前
記複数の出力回路から複数の出力端子に複数の出力信号
が出力される半導体集積回路において、前記複数の出力信号が低レベルから高レベルへ同時に遷
移することを検出する第1の検出手段と 、前記第1の検出手段からの検出出力を受けて、前記出力
回路のプッシュプル構成のトランジスタのうち電源側の
トランジスタについて、出力インピーダンスがより大と
なるように切替制御する手段と 、前記複数の出力信号が高レベルから低レベルへ同時に遷
移することを検出する第2の検出手段と 、前記第2の検出手段からの検出出力を受けて、前記出力
回路のプッシュプル構成のトランジスタのうち接地側の
トランジスタについて、出力インピーダンスがより大と
なるように切替制御する手段と 、 を備えたことを特徴とする半導体集積回路。 - 【請求項2】前記出力回路の出力インピーダンスを、同
時動作数に応じて複数通りに切替制御する、ように構成
されてなる、ことを特徴とする請求項1記載の半導体集
積回路。 - 【請求項3】前記第1、第2の検出手段が、それぞれ、
複数の出力信号がともに、低レベル又は高レベルの一方
の論理レベルにあることを検出する第1の回路手段と、前記複数の出力信号がともに前記一方の論理レベルと別
の論理レベルにあることを検出する第2の回路手段と、 前記第1の回路手段からの検出信号をクロック信号で保
持出力する第3の回路手段と 、前記第3の回路手段で前記第1の回路手段からの検出信
号を保持後、前記複数の出力信号が、前記別の論理レベ
ルへ同時に遷移することを示す前記第2の回路手段から
の検出信号と、前記第3の回路手段で保持された検出信
号と、から出力 同時動作検出信号を出力する第4の回路
手段と 、を備えた ことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回
路。 - 【請求項4】前記出力回路が、ソースが接地されゲート
に入力信号を入力とするNチャネルMOSトランジスタ
と、ソースが電源に接続されゲートに前記入力信号を入
力とするPチャネルMOSトランジスタを備え、前記NチャネルMOSトランジスタのドレインと、前記
PチャネルMOSトランジスタのドレインの間に、複数
個並列形態に接続されたNチャネルMOSトランジスタ
群と、PチャネルMOSトランジスタ群と、が直列接続
され 、 前記NチャネルMOSトランジスタ群と前記Pチャネル
MOSトランジスタ群との接続点が出力端子に接続さ
れ、 前記NチャネルMOSトランジスタ群のうち少なくとも
一つのNチャネルMOSトランジスタはゲートが電源に
接続され、残りは、前記第2の検出手段の出力に接続さ
れ 、前記PチャネルMOSトランジスタ群のうち少なくとも
一つのPチャネルMOSトランジスタはゲートが接地電
位とされ、残りは、前記第1の検出手段の出力に接続さ
れてなる、ことを特徴とする請求項1記載の半導体集積
回路 。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8188266A JP2924800B2 (ja) | 1996-06-28 | 1996-06-28 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8188266A JP2924800B2 (ja) | 1996-06-28 | 1996-06-28 | 半導体集積回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1022809A JPH1022809A (ja) | 1998-01-23 |
JP2924800B2 true JP2924800B2 (ja) | 1999-07-26 |
Family
ID=16220671
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8188266A Expired - Lifetime JP2924800B2 (ja) | 1996-06-28 | 1996-06-28 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2924800B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4652729B2 (ja) * | 2004-06-28 | 2011-03-16 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体装置 |
-
1996
- 1996-06-28 JP JP8188266A patent/JP2924800B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH1022809A (ja) | 1998-01-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990406 |