JP2921288B2 - 不純物ドーピング法 - Google Patents

不純物ドーピング法

Info

Publication number
JP2921288B2
JP2921288B2 JP23791692A JP23791692A JP2921288B2 JP 2921288 B2 JP2921288 B2 JP 2921288B2 JP 23791692 A JP23791692 A JP 23791692A JP 23791692 A JP23791692 A JP 23791692A JP 2921288 B2 JP2921288 B2 JP 2921288B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cadmium
cell
indium
impurity doping
doping method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP23791692A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0684969A (ja
Inventor
修次 曽祢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP23791692A priority Critical patent/JP2921288B2/ja
Publication of JPH0684969A publication Critical patent/JPH0684969A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2921288B2 publication Critical patent/JP2921288B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、分子線エピタキシャル
(MBE)法における不純物ドーピング法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、MBE法によるテルル化カドミウ
ムへのn型不純物ドーピングにおいては、インジウム単
体を導入した通常のクヌードセンセルが用いられてい
た。この方法は、例えばアール・エヌ・ビクネルらによ
り、アプライド・フィジックス・レターズ(R.N.B
icknell et al.:Applied Ph
ysics Letters)49巻、1095頁、1
985年に、アール・エヌ・ビクネル−タシウムらによ
り、ジャーナル・オブ・クリスタル・グロース(R.
N.Bicknell−Tassius et al:
Journal ofCrystal Growth)
101巻、33頁、1990年に、エフ・バサニらによ
り、アプライド・フィジックス・レターズ(F.Bas
sani et al:Applied Physic
s Letters)58巻、2651頁、1991年
等に報告されている。この中で、バサニらは、通常のM
BE法において、テルル化カドミウムセル、インジウム
セルに加え、カドミウムセルを用い、カドミウムを過剰
に供給すれば、インジウムの電気的活性度がほぼ100
%になることを報告している。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来の技術では、MB
E法によるテルル化カドミウムへのn型不純物ドーピン
グにおいては、ドーパントであるインジウムの電気的活
性度を高めるために、カドミウム過剰な条件としてい
る。しかしながら、この場合、テルル化カドミウムセ
ル、インジウムセルに加え、新たに別のカドミウムセル
を設けなければならない。
【0004】本発明は、従来よりも簡便にこのカドミウ
ム過剰な条件を実現し、ドーピング効率に優れた不純物
ドーピング法を提供することを目的としている。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明による不純物ドーピング法においては、MB
E法によるテルル化カドミウムへのn型不純物ドーピン
グ法であって、n型ドーパント源としてインジウム化カ
ドミウムを導入したクヌードセンセルを用いるものであ
る。
【0006】
【作用】本発明においては、n型ドーパント源として従
来用いられていたインジウム単体に換え、インジウム化
カドミウムを導入したクヌードセンセルを用いることを
特徴としている。この材料をセルに導入し加熱した場
合、インジウムとカドミウムが同時に蒸発することか
ら、インジウム単体のみを用いた場合よりも、カドミウ
ム過剰な条件が実現される。したがって、カドミウムセ
ルを新たに設けるという従来技術よりも簡便にカドミウ
ム過剰な条件を実現し、ドーピング効率の良好なn型不
純物ドーピング法を提供できる。
【0007】
【実施例】以下に、本発明のテルル化カドミウムのn型
ドーピング制御における実施例を図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例を説明するためのMBE装
置の模式図である。
【0008】MBEチャンバー1内は真空ポンプ2によ
り、10-10 Torrを超える超高真空に保たれてい
る。そしてこのMBEチャンバー1には2つのクヌード
センセルが取付けてある。その一つはテルル化カドミウ
ムを入れたテルル化カドミウムセル3であり、他はイン
ジウム化カドミウムを入れたインジウム化カドミウムセ
ル4である。セル温度は抵抗加熱により、独立に制御さ
れる。結晶成長の開始、終了は、セルと基板との間に位
置するシャッター7の開閉により行われる。
【0009】ドーピングによりキャリア濃度を制御する
ために、基板5の温度を250℃、テルル化カドミウム
セル3の温度を530℃それぞれ一定とし、インジウム
化カドミウムセル4の温度を変化させた。高キャリア濃
度を得るためにはインジウム化カドミウムセル4の温度
を上昇させ、低キャリア濃度を得るためにはインジウム
化カドミウムセル4の温度を減少させる。
【0010】上記方法により、テルル化カドミウム成長
層のn型キャリア濃度を1016〜1018cm-3まで、再
現性良く制御することができた。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、MBE法
によるテルル化カドミウムへのn型不純物ドーピングに
おいて、n型ドーパント源としてインジウム化カドミウ
ムを導入したクヌードセンセルを用いることにより、従
来技術よりも簡便にカドミウム過剰な条件を実現でき、
ドーピング効率が高い不純物ドーピング法が得られる効
果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を説明するためのMBE装置
の模式図。
【符号の説明】
1 MBEチャンバー 2 真空ポンプ 3 テルル化カドミウムセル 4 インジウム化カドミウムセル 5 基板 6 基板ホルダー 7 シャッター
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01L 21/363 H01L 21/203

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 MBE法によるテルル化カドミウムへの
    n型不純物ドーピング法であって、n型ドーパント源と
    してインジウム化カドミウムを導入したクヌードセンセ
    ルを用いることを特徴とする不純物ドーピング法。
JP23791692A 1992-09-07 1992-09-07 不純物ドーピング法 Expired - Lifetime JP2921288B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23791692A JP2921288B2 (ja) 1992-09-07 1992-09-07 不純物ドーピング法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP23791692A JP2921288B2 (ja) 1992-09-07 1992-09-07 不純物ドーピング法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0684969A JPH0684969A (ja) 1994-03-25
JP2921288B2 true JP2921288B2 (ja) 1999-07-19

Family

ID=17022348

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP23791692A Expired - Lifetime JP2921288B2 (ja) 1992-09-07 1992-09-07 不純物ドーピング法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2921288B2 (ja)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Appl.Phys.Lett.,Vol.58,No.23(1991)p.2651−2653

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0684969A (ja) 1994-03-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5252499A (en) Wide band-gap semiconductors having low bipolar resistivity and method of formation
US4472206A (en) Method of activating implanted impurities in broad area compound semiconductors by short time contact annealing
JP2908815B2 (ja) 少なくとも1.4電子ボルトの禁止帯幅を有する広禁止帯幅半導体の結晶のドーピング方法
US4904618A (en) Process for doping crystals of wide band gap semiconductors
JP2921288B2 (ja) 不純物ドーピング法
Faurie et al. Molecular beam epitaxial growth and characterization of Cd1− x Zn x Te, Hg1− x Cd x Te, Hg1− x Mn x Te, and Hg1− x Zn x Te on GaAs (100)
US4089714A (en) Doping mercury cadmium telluride with aluminum or silicon
US4028145A (en) Stoichiometric annealing of mercury cadmium telluride
GB1515571A (en) Methods of growing thin epitaxial films on a crystal substrate
JPS59175170A (ja) タンデム型太陽電池
US3208887A (en) Fast switching diodes
JPH05206027A (ja) 不純物ドーピング法
JPH0729923A (ja) テルル化水銀カドミウム分子線エピタキシャル成長における組成及びドーピング濃度制御方法
JP2795016B2 (ja) 不純物ドーピング法及び不純物ドーピングによるキャリア濃度制御方法
JPS62271438A (ja) 結晶成長方法
JP2940075B2 (ja) CdTe薄膜の形成装置及び形成方法
US4089713A (en) Diffusion of donors into (Hg Cd) Te through use of Ga-Al alloy
JP2737155B2 (ja) ▲III▼−▲V▼化合物半導体へのn型ドーピング方法
JP3149457B2 (ja) シリコンゲルマニウム膜,シリコンゲルマニウム膜の製造方法及びシリコンゲルマニウム膜を用いて製造した半導体装置
JPS574155A (en) Semiconductor device
JPH05109629A (ja) 多結晶シリコン薄膜とその製造方法及びこの薄膜を用いた薄膜トランジスタ
Ishiwara et al. Electrical Activation of Boron Ions Implanted in Deposited-Amorphous Si During Solid Phase Epitaxy
Nishizawa et al. Stoichiometry Control of Compound Semiconductors
JPH0815142B2 (ja) 分子線エピタキシヤル成長方法
JPS5635409A (en) Method of doping impurity into compound semiconductor

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 19990330