JP2912072B2 - Ｉｃマガジンケースからの移し替え装置によるｉｃリードの曲がり修正及び外観検査並びにｉｃの電気的試験方法 - Google Patents
Ｉｃマガジンケースからの移し替え装置によるｉｃリードの曲がり修正及び外観検査並びにｉｃの電気的試験方法Info
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- JP2912072B2 JP2912072B2 JP3118192A JP3118192A JP2912072B2 JP 2912072 B2 JP2912072 B2 JP 2912072B2 JP 3118192 A JP3118192 A JP 3118192A JP 3118192 A JP3118192 A JP 3118192A JP 2912072 B2 JP2912072 B2 JP 2912072B2
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- Japan
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- magazine case
- rail
- stopper
- magazine
- hole
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- Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣマガジンケースか
らの移し替え装置の利用方法に関する。
らの移し替え装置の利用方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来包装資材として物流を目的としただ
の入れ物として使用しているＩＣマガジンケースから外
観チェックや修正を行なうために、ＩＣを取り出し再び
ＩＣマガジンケースに収納するのは、一つ一つのＩＣを
取り扱うマニュアル作業で行なっていた。
の入れ物として使用しているＩＣマガジンケースから外
観チェックや修正を行なうために、ＩＣを取り出し再び
ＩＣマガジンケースに収納するのは、一つ一つのＩＣを
取り扱うマニュアル作業で行なっていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】ＩＣマガジンからＩＣ
を取り出して電気的特性試験、リード修正、外観チェッ
ク等を行ない再びＩＣマガジンケースに収納するのを、
一つ一つのＩＣを取り扱うマニュアル作業で行なうの
は、工数がかかりスループットの低下につながるという
問題点を生ずる。
を取り出して電気的特性試験、リード修正、外観チェッ
ク等を行ない再びＩＣマガジンケースに収納するのを、
一つ一つのＩＣを取り扱うマニュアル作業で行なうの
は、工数がかかりスループットの低下につながるという
問題点を生ずる。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明の特徴は、ＩＣを
上下より保持しかつ両側面より該ＩＣのリードを露出さ
せるスリットを有する複数本のレール機構と、前記複数
本のレール機構の一端を共通に保持するＩＣ入出ブロッ
クと、前記複数本のレール機構の他端を共通に保持する
レールガイドとを具備し、前記ＩＣ入出ブロックには複
数個の貫通孔が設けられ、それぞれの該貫通孔の一端側
に前記レール機構が取り付けられ他端側はＩＣマガジン
ケースが挿入可能となっており、かつ、該貫通孔内には
ストッパーと該ストッパーに接続するバネ手段を有し、
ＩＣマガジンケースが該貫通孔に挿入されることによっ
て該ストッパーが開となって該ＩＣマガジンケース内か
ら該レール機構へのＩＣの移動あるいは該レール機構か
ら該ＩＣマガジンケース内へのＩＣの移動を可能とし、
該ＩＣマガジンケースを該貫通孔から引抜くことにより
該ストッパーを閉とするＩＣマガジンケースからの移し
替え装置を用意し、多数のＩＣを一列に収納したＩＣマ
ガジンケースを前記貫通孔に挿入することにより前記ス
トッパーを開にし、全体を傾斜させることによりＩＣの
自重により、前記ＩＣマガジンケース内から前記レール
機構へＩＣが移動しそこで前記スリットから露出するＩ
Ｃリードの曲りの修正、ＩＣリードの外観チェック、或
いはＩＣリードを用いてＩＣの電気的試験を行い、しか
る後、空のＩＣマガジンケースを前記貫通孔に挿入する
ことにより前記ストッパーを開にし、全体を傾斜させる
ことによりＩＣの自重により、前記レール機構から前記
ＩＣマガジンケース内へＩＣを移動し収納するＩＣマガ
ジンケースからの移し替え装置によるＩＣリードの曲が
り修正及び外観検査並びにＩＣの電気的試験方法にあ
る。
上下より保持しかつ両側面より該ＩＣのリードを露出さ
せるスリットを有する複数本のレール機構と、前記複数
本のレール機構の一端を共通に保持するＩＣ入出ブロッ
クと、前記複数本のレール機構の他端を共通に保持する
レールガイドとを具備し、前記ＩＣ入出ブロックには複
数個の貫通孔が設けられ、それぞれの該貫通孔の一端側
に前記レール機構が取り付けられ他端側はＩＣマガジン
ケースが挿入可能となっており、かつ、該貫通孔内には
ストッパーと該ストッパーに接続するバネ手段を有し、
ＩＣマガジンケースが該貫通孔に挿入されることによっ
て該ストッパーが開となって該ＩＣマガジンケース内か
ら該レール機構へのＩＣの移動あるいは該レール機構か
ら該ＩＣマガジンケース内へのＩＣの移動を可能とし、
該ＩＣマガジンケースを該貫通孔から引抜くことにより
該ストッパーを閉とするＩＣマガジンケースからの移し
替え装置を用意し、多数のＩＣを一列に収納したＩＣマ
ガジンケースを前記貫通孔に挿入することにより前記ス
トッパーを開にし、全体を傾斜させることによりＩＣの
自重により、前記ＩＣマガジンケース内から前記レール
機構へＩＣが移動しそこで前記スリットから露出するＩ
Ｃリードの曲りの修正、ＩＣリードの外観チェック、或
いはＩＣリードを用いてＩＣの電気的試験を行い、しか
る後、空のＩＣマガジンケースを前記貫通孔に挿入する
ことにより前記ストッパーを開にし、全体を傾斜させる
ことによりＩＣの自重により、前記レール機構から前記
ＩＣマガジンケース内へＩＣを移動し収納するＩＣマガ
ジンケースからの移し替え装置によるＩＣリードの曲が
り修正及び外観検査並びにＩＣの電気的試験方法にあ
る。
【０００５】
【実施例】図１に本発明の一実施例を示す。（ａ）は平
面図、（ｂ）は（ａ）のＢ−Ｂ部の断面図、（ｃ）は
（ａ）の側面図、（ｄ）はＩＣマガジンケースの正面図
（右側の図））および側面図（左側の図）、（ｅ）は
（ａ）のＡ−Ａ部にＩＣが挿入載置された時の断面図で
ある。
面図、（ｂ）は（ａ）のＢ−Ｂ部の断面図、（ｃ）は
（ａ）の側面図、（ｄ）はＩＣマガジンケースの正面図
（右側の図））および側面図（左側の図）、（ｅ）は
（ａ）のＡ−Ａ部にＩＣが挿入載置された時の断面図で
ある。
【０００６】レール機構１１は、ＩＣ１の上面を保持す
るパッケージガイドレール４と、下面を保持するＩＣ腹
押えレール２と、ＩＣのリード１３を露出させる外部リ
ード用スリット３を有している。ＩＣ入出ブロック１２
によってこのレール機構１１の複数本の一端を共通に保
持し、レールガイド１０によってレール機構の他端を共
通に保持する。ＩＣ入出ブロック１２には複数個の貫通
孔８が設けられ、それぞれの貫通孔８の一端側にレール
機構１１が取り付けられ他端側はＩＣマガジンケース９
が挿入可能となっている。貫通孔８内には、ストッパー
５とこのストッパー５に接続する、板バネ７およびそれ
を押すコイルバネ６からなるバネ手段を有している。Ｉ
Ｃマガジンケース９が貫通孔８に挿入（図の左側から）
されることによって、ＩＣマガジンケースにより押され
てストッパー５が上昇して開となり、全体を傾斜（図で
は右下り）させることによりＩＣの自重により、ＩＣマ
ガジンケース内からレール機構へＩＣが移動しそこでス
リット３から露出するリード１３の曲りを修正したり、
その外観をチェックしたり、このリードを用いて電気的
試験を行なう。その後、空のＩＣマガジンケースを挿入
して、ストッパー５を開とし、全体を傾斜（図では左下
り）させることによりＩＣの自重により、レール機構か
らＩＣマガジンケース内へＩＣを移動し収納する。そし
てＩＣマガジンケースを貫通孔から引抜くことによりス
トッパー５は閉となり貫通孔におけるＩＣの移動は禁止
される。
るパッケージガイドレール４と、下面を保持するＩＣ腹
押えレール２と、ＩＣのリード１３を露出させる外部リ
ード用スリット３を有している。ＩＣ入出ブロック１２
によってこのレール機構１１の複数本の一端を共通に保
持し、レールガイド１０によってレール機構の他端を共
通に保持する。ＩＣ入出ブロック１２には複数個の貫通
孔８が設けられ、それぞれの貫通孔８の一端側にレール
機構１１が取り付けられ他端側はＩＣマガジンケース９
が挿入可能となっている。貫通孔８内には、ストッパー
５とこのストッパー５に接続する、板バネ７およびそれ
を押すコイルバネ６からなるバネ手段を有している。Ｉ
Ｃマガジンケース９が貫通孔８に挿入（図の左側から）
されることによって、ＩＣマガジンケースにより押され
てストッパー５が上昇して開となり、全体を傾斜（図で
は右下り）させることによりＩＣの自重により、ＩＣマ
ガジンケース内からレール機構へＩＣが移動しそこでス
リット３から露出するリード１３の曲りを修正したり、
その外観をチェックしたり、このリードを用いて電気的
試験を行なう。その後、空のＩＣマガジンケースを挿入
して、ストッパー５を開とし、全体を傾斜（図では左下
り）させることによりＩＣの自重により、レール機構か
らＩＣマガジンケース内へＩＣを移動し収納する。そし
てＩＣマガジンケースを貫通孔から引抜くことによりス
トッパー５は閉となり貫通孔におけるＩＣの移動は禁止
される。
【０００７】
【発明の効果】以上の説明から明らかの様に、本発明で
はＩＣの一つ一つをマニュアルで取り扱うことなく、Ｉ
Ｃマガジンケースとレール機構とのＩＣの移動を可能に
し、このレール機構において、リードの曲りを修正した
り、その外観をチェックしたり、このリードを用いて電
気的試験を行なうことが可能となるから、工数が低減し
スループットが向上する。
はＩＣの一つ一つをマニュアルで取り扱うことなく、Ｉ
Ｃマガジンケースとレール機構とのＩＣの移動を可能に
し、このレール機構において、リードの曲りを修正した
り、その外観をチェックしたり、このリードを用いて電
気的試験を行なうことが可能となるから、工数が低減し
スループットが向上する。
【図１】本発明の一実施例を示す図。
１ ＩＣ ２ ＩＣ腹押えレール ３ 外部リード用スリット ４ パッケージガイドレール ５ ストッパー ６ コイルバネ ７ 板バネ ８ 貫通孔 ９ ＩＣマガジンケース １０ レールガイド １１ レール機構 １２ ＩＣ入出ブロック １３ ＩＣのリード
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) H01L 21/66 H01L 21/50 H01L 23/50
Claims (1)
- 【請求項１】 ＩＣを上下より保持しかつ両側面より該
ＩＣのリードを露出させるスリットを有する複数本のレ
ール機構と、前記複数本のレール機構の一端を共通に保
持するＩＣ入出ブロックと、前記複数本のレール機構の
他端を共通に保持するレールガイドとを具備し、前記Ｉ
Ｃ入出ブロックには複数個の貫通孔が設けられ、それぞ
れの該貫通孔の一端側に前記レール機構が取り付けられ
他端側はＩＣマガジンケースが挿入可能となっており、
かつ、該貫通孔内にはストッパーと該ストッパーに接続
するバネ手段を有し、ＩＣマガジンケースが該貫通孔に
挿入されることによって該ストッパーが開となって該Ｉ
Ｃマガジンケース内から該レール機構へのＩＣの移動あ
るいは該レール機構から該ＩＣマガジンケース内へのＩ
Ｃの移動を可能とし、該ＩＣマガジンケースを該貫通孔
から引抜くことにより該ストッパーを閉とするＩＣマガ
ジンケースからの移し替え装置を用意し、多数のＩＣを
一列に収納したＩＣマガジンケースを前記貫通孔に挿入
することにより前記ストッパーを開にし、全体を傾斜さ
せることによりＩＣの自重により、前記ＩＣマガジンケ
ース内から前記レール機構へＩＣが移動しそこで前記ス
リットから露出するＩＣリードの曲りの修正、ＩＣリー
ドの外観チェック、或いはＩＣリードを用いてＩＣの電
気的試験を行い、しかる後、空のＩＣマガジンケースを
前記貫通孔に挿入することにより前記ストッパーを開に
し、全体を傾斜させることによりＩＣの自重により、前
記レール機構から前記ＩＣマガジンケース内へＩＣを移
動し収納することを特徴とするＩＣマガジンケースから
の移し替え装置によるＩＣリードの曲がり修正及び外観
検査並びにＩＣの電気的試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3118192A JP2912072B2 (ja) | 1992-02-19 | 1992-02-19 | Ｉｃマガジンケースからの移し替え装置によるｉｃリードの曲がり修正及び外観検査並びにｉｃの電気的試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3118192A JP2912072B2 (ja) | 1992-02-19 | 1992-02-19 | Ｉｃマガジンケースからの移し替え装置によるｉｃリードの曲がり修正及び外観検査並びにｉｃの電気的試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05235128A JPH05235128A (ja) | 1993-09-10 |
| JP2912072B2 true JP2912072B2 (ja) | 1999-06-28 |
Family
ID=12324278
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3118192A Expired - Lifetime JP2912072B2 (ja) | 1992-02-19 | 1992-02-19 | Ｉｃマガジンケースからの移し替え装置によるｉｃリードの曲がり修正及び外観検査並びにｉｃの電気的試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2912072B2 (ja) |
-
1992
- 1992-02-19 JP JP3118192A patent/JP2912072B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05235128A (ja) | 1993-09-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19990309 |