JP2911871B2 - 帯状体−超電導体における臨界電流密度の縦方向及び横方向均一性の無接触試験測定方法及び測定装置 - Google Patents
帯状体−超電導体における臨界電流密度の縦方向及び横方向均一性の無接触試験測定方法及び測定装置Info
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、跳躍的変化−温度
（Sprungtemperatur）Tc以下に冷却される帯状体超電導
体における、臨界電流密度Icの縦方向及び横方向均一性
をホールセンサを用いて、無接触試験測定する方法及び
該方法を実施するための測定装置に関する。ここで、前
記帯状体−超電導体は、一定の勾配グラジエントを伴う
局所的に限定された外部磁場を貫通して張力をかけて通
過走行せしめられ、前記外部磁場の磁場軸線は、測定中
変化されないように設計される。
（Sprungtemperatur）Tc以下に冷却される帯状体超電導
体における、臨界電流密度Icの縦方向及び横方向均一性
をホールセンサを用いて、無接触試験測定する方法及び
該方法を実施するための測定装置に関する。ここで、前
記帯状体−超電導体は、一定の勾配グラジエントを伴う
局所的に限定された外部磁場を貫通して張力をかけて通
過走行せしめられ、前記外部磁場の磁場軸線は、測定中
変化されないように設計される。
【０００２】
【従来の技術】当該の測定は、誘導的に且つ無接触でク
ライオスタットにて行われ、該クライオスタットでは、
帯状体−超電導体がそれの跳躍的変化温度以下に冷却さ
れる。
ライオスタットにて行われ、該クライオスタットでは、
帯状体−超電導体がそれの跳躍的変化温度以下に冷却さ
れる。
【０００３】従来技術は、例えば、帯状体−超電導体内
への電流給電及び電圧コンタクトを以ての抵抗性測定方
式であり、ここで、絶縁の施された帯状体−超電導体の
場合において、線路導体端部においてのみ、又は、取り
付けられたコンタクトを以て、又は、絶縁の施されてい
ない帯状体−超電導体の場合において、摺動コンタクト
を介して、当該の測定がなされる。この当該の測定は、
接触形測定方式である。
への電流給電及び電圧コンタクトを以ての抵抗性測定方
式であり、ここで、絶縁の施された帯状体−超電導体の
場合において、線路導体端部においてのみ、又は、取り
付けられたコンタクトを以て、又は、絶縁の施されてい
ない帯状体−超電導体の場合において、摺動コンタクト
を介して、当該の測定がなされる。この当該の測定は、
接触形測定方式である。
【０００４】抵抗性電流密度測定方式は、誘導性測定方
式に比して、被試験測定体を接触接続しなければならな
いという欠点を有する。このととは、一方では、コスト
高であり、他方では信頼性が少ない。それというのは、
殊に、Bi-2223−帯状体が、屡々タップにおいて、非再
現可能な接触抵抗を惹起する有機層を伴うからである。
そのことは、技術的方法プロセスにとって、不適当であ
る。
式に比して、被試験測定体を接触接続しなければならな
いという欠点を有する。このととは、一方では、コスト
高であり、他方では信頼性が少ない。それというのは、
殊に、Bi-2223−帯状体が、屡々タップにおいて、非再
現可能な接触抵抗を惹起する有機層を伴うからである。
そのことは、技術的方法プロセスにとって、不適当であ
る。
【０００５】さらに、無接触測定方式を挙げる、即ち、
ホールセンサ磁気測定方式として挙げられるものは、Y-
123-Sputterfilmen （参照 “Magnetic flux mappin
g,…“W. Xing et al. 著述,所載文献Ｊ．Appl. Phy. 7
6(7), 1994, 第4244-4255,頁，及び“Contactless Mea
surement of voltage-current characteristics …“M.
Polak et al. 著述 、所載文献Physics C 174 (1991)
, 第14-22頁）及び Bi-2223-Einkernleiterbandstucke
n (参照“Homogeneity study of Bi-2223 / Agmonofila
mentary tapes…" Makku Lahtinen et al.著述,所載文
献 Physica C 244 (1995), 第115-122頁“Scanning Hal
lprobe microsccpy …”“A. Tanihata et al.著述、所
載文献Supercond. Sci Technol .9 (1996), 第1055-105
9頁，及び“A study on self-field distribution …"
K. Kawano及びA.Oota 著述,所載文献 Physica C 275 (1
997), 第 1-11頁)である。最後に挙げた方式ではホール
センサにより磁化された被試験測定対象物の固有フィー
ルドが試験測定される。前記の無接触測定方式は、外部
磁場における磁化及び外部磁場の減衰後の定常的短縮サ
ンプル（cm−領域）の残留フィールドの測定方式であ
る。残留電磁フィールド分布の測定のため、ホールセン
サは、被試験測定対象物に就いてスキャニングされる
（X-Y移動テーブル）。コンピュータ分析により、電流
密度分布が、位置に依存するホール信号から得られる。
張力下での通過走行試験測定方式がジーメンス研究、開
発レポート、第５巻（1976）No.2、第98〜102頁に記載
されており、ここでは超電導体外のシールド電流による
磁場強度がホールセンサによりセンシング、測定され
る。
ホールセンサ磁気測定方式として挙げられるものは、Y-
123-Sputterfilmen （参照 “Magnetic flux mappin
g,…“W. Xing et al. 著述,所載文献Ｊ．Appl. Phy. 7
6(7), 1994, 第4244-4255,頁，及び“Contactless Mea
surement of voltage-current characteristics …“M.
Polak et al. 著述 、所載文献Physics C 174 (1991)
, 第14-22頁）及び Bi-2223-Einkernleiterbandstucke
n (参照“Homogeneity study of Bi-2223 / Agmonofila
mentary tapes…" Makku Lahtinen et al.著述,所載文
献 Physica C 244 (1995), 第115-122頁“Scanning Hal
lprobe microsccpy …”“A. Tanihata et al.著述、所
載文献Supercond. Sci Technol .9 (1996), 第1055-105
9頁，及び“A study on self-field distribution …"
K. Kawano及びA.Oota 著述,所載文献 Physica C 275 (1
997), 第 1-11頁)である。最後に挙げた方式ではホール
センサにより磁化された被試験測定対象物の固有フィー
ルドが試験測定される。前記の無接触測定方式は、外部
磁場における磁化及び外部磁場の減衰後の定常的短縮サ
ンプル（cm−領域）の残留フィールドの測定方式であ
る。残留電磁フィールド分布の測定のため、ホールセン
サは、被試験測定対象物に就いてスキャニングされる
（X-Y移動テーブル）。コンピュータ分析により、電流
密度分布が、位置に依存するホール信号から得られる。
張力下での通過走行試験測定方式がジーメンス研究、開
発レポート、第５巻（1976）No.2、第98〜102頁に記載
されており、ここでは超電導体外のシールド電流による
磁場強度がホールセンサによりセンシング、測定され
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題とすると
ころは、大きな長さの帯状体−超電導体を、該帯状体−
超電導体の大きな長さにおける臨界電流密度及びそれの
帯状体長さに亘っての均一性に関して、連続的に測定で
きるようにする産業上利用可能な試験測定方法及び測定
装置を提供することにある。
ころは、大きな長さの帯状体−超電導体を、該帯状体−
超電導体の大きな長さにおける臨界電流密度及びそれの
帯状体長さに亘っての均一性に関して、連続的に測定で
きるようにする産業上利用可能な試験測定方法及び測定
装置を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】前記課題は、請求項１の
方法及び請求項５の装置の構成要件により解決される。
無接触測定を行うホールセンサは、外部磁場内を通過走
行する超電導体の直ぐ上方におけるホールセンサアレ
イ、及び外部磁場における補償ホールセンサであり、該
補償ホールセンサは、次のような程度超電導体から離れ
ている、即ち、シールド電流により生ぜしめられた磁場
が最早検出されず、ないし何らの影響を及ぼさないよう
な程度超電導体から離れている。長手方向での均一性の
測定のためには、ホールセンサ、例えばアレイのうちの
或1つのホールセンサで十分である。横方向均一性が、
アレイにおけるすべてのホールセンサで検出される。ア
レイのうちのすべてのホールセンサが、外部磁場におけ
る一方のホールセンサにより、調整整合され、その結果
その都度の差信号が、局所的均一性に対する尺度を成
す。抵抗性の校正を介して、既知の超電導体横断面のも
とで位置に依存する臨界電流密度Icを表し得る。
方法及び請求項５の装置の構成要件により解決される。
無接触測定を行うホールセンサは、外部磁場内を通過走
行する超電導体の直ぐ上方におけるホールセンサアレ
イ、及び外部磁場における補償ホールセンサであり、該
補償ホールセンサは、次のような程度超電導体から離れ
ている、即ち、シールド電流により生ぜしめられた磁場
が最早検出されず、ないし何らの影響を及ぼさないよう
な程度超電導体から離れている。長手方向での均一性の
測定のためには、ホールセンサ、例えばアレイのうちの
或1つのホールセンサで十分である。横方向均一性が、
アレイにおけるすべてのホールセンサで検出される。ア
レイのうちのすべてのホールセンサが、外部磁場におけ
る一方のホールセンサにより、調整整合され、その結果
その都度の差信号が、局所的均一性に対する尺度を成
す。抵抗性の校正を介して、既知の超電導体横断面のも
とで位置に依存する臨界電流密度Icを表し得る。
【０００８】引用請求項２及び３において、測定方法プ
ロセスを簡単に処理し得る方法プロセスが規定されてお
り、引用請求項６〜８では測定を高い信頼性で実施し得
る装置構成が規定されている。
ロセスを簡単に処理し得る方法プロセスが規定されてお
り、引用請求項６〜８では測定を高い信頼性で実施し得
る装置構成が規定されている。
【０００９】本発明の利点とするところは、電流密度均
一性の検出（TACHO=Test of TapeCurrent Homogenei
ty)のための迅速且つ簡単に操作可能な方法を創出する
ことである。本発明の方法によっては、電流容量の落ち
込みにより表される帯状体における欠陥個所をmm尺度ス
ケールで位置測定することが可能になる。作動用のコン
ピュータ制御及びデータ収集の場合作製された仕上がり
長さ（ｋm領域）に亘って、帯状体−超電導体に対する
完全な品質管理が実現可能である。
一性の検出（TACHO=Test of TapeCurrent Homogenei
ty)のための迅速且つ簡単に操作可能な方法を創出する
ことである。本発明の方法によっては、電流容量の落ち
込みにより表される帯状体における欠陥個所をmm尺度ス
ケールで位置測定することが可能になる。作動用のコン
ピュータ制御及びデータ収集の場合作製された仕上がり
長さ（ｋm領域）に亘って、帯状体−超電導体に対する
完全な品質管理が実現可能である。
【００１０】本発明の方法及び該方法の実施装置を以下
図を用いて説明する。
図を用いて説明する。
【００１１】
【実施例】本実施例では、方法プロセスが77Kにて0.1T
までの磁場内で実施される。冷却剤としては液体窒素
（LN2）が用いられる。但し、相応のクライオスタット
的コストで他の温度及び磁場領域にも拡大可能である。
までの磁場内で実施される。冷却剤としては液体窒素
（LN2）が用いられる。但し、相応のクライオスタット
的コストで他の温度及び磁場領域にも拡大可能である。
【００１２】帯状体−超電導体２は77Kにて数mm／secの
速度で、スプリット−コイル構造体における磁石１ここ
では銅コイルのギャップを通って張力をかけて貫通走行
せしめられる。ここで、帯状体により時間的に変化して
いる状態量として受けとめられ、受容された磁場（dB／
dt＝（dB／dx）・（dx／dt）、但しdx／dt＝v＝帯状体
引張走行速度）により、帯状体−超電導体２中にシール
ド電流が誘起され、該シールド電流は、臨界的な状態の
モデルに基づき臨界電流密度を以て流れる。前記シール
ド電流により生ぜしめられる磁場は、前記の事例では作
用面50μm×50μmのミニアチュアホールセンサ５により
測定される。斯様なセンサは、現在市販されている。セ
ンサ５は、コイル巻線の下方のギャップ間隙内に、帯状
体上方0.4mmのところに位置する。そこでは、コイルフ
ィールドは、殆ど位置に依存しないグラジエントdB／dx
を有する。このことは、固定電界E≒dB／dt＝dB／dx・
vのもとで実施さるべき磁化測定に対する前提であり、
前記磁化測定により臨界電流を求めるものである。通常
＜１mTの、シールド電流の試験サンプルフィールドの測
定のため、２〜３オーダだけ一層強い外部コイルフィー
ルドを補償しなければならない。このことは、可及的に
同構成の第２のホールセンサ５で行われ、該ホールセン
サ５により両ホールセンサ５，６間の差信号がアイド
ル、ダミ−測定（被試験測定物なしで）にて零に調整整
合される。前記補償ホールセンサ６は、シールド電流の
フィールド領域外に位置する。測定されるのは、被試験
測定物の存在する場合、零とは異なる両センサ５，６間
の差信号である。
速度で、スプリット−コイル構造体における磁石１ここ
では銅コイルのギャップを通って張力をかけて貫通走行
せしめられる。ここで、帯状体により時間的に変化して
いる状態量として受けとめられ、受容された磁場（dB／
dt＝（dB／dx）・（dx／dt）、但しdx／dt＝v＝帯状体
引張走行速度）により、帯状体−超電導体２中にシール
ド電流が誘起され、該シールド電流は、臨界的な状態の
モデルに基づき臨界電流密度を以て流れる。前記シール
ド電流により生ぜしめられる磁場は、前記の事例では作
用面50μm×50μmのミニアチュアホールセンサ５により
測定される。斯様なセンサは、現在市販されている。セ
ンサ５は、コイル巻線の下方のギャップ間隙内に、帯状
体上方0.4mmのところに位置する。そこでは、コイルフ
ィールドは、殆ど位置に依存しないグラジエントdB／dx
を有する。このことは、固定電界E≒dB／dt＝dB／dx・
vのもとで実施さるべき磁化測定に対する前提であり、
前記磁化測定により臨界電流を求めるものである。通常
＜１mTの、シールド電流の試験サンプルフィールドの測
定のため、２〜３オーダだけ一層強い外部コイルフィー
ルドを補償しなければならない。このことは、可及的に
同構成の第２のホールセンサ５で行われ、該ホールセン
サ５により両ホールセンサ５，６間の差信号がアイド
ル、ダミ−測定（被試験測定物なしで）にて零に調整整
合される。前記補償ホールセンサ６は、シールド電流の
フィールド領域外に位置する。測定されるのは、被試験
測定物の存在する場合、零とは異なる両センサ５，６間
の差信号である。
【００１３】帯状体の精確な位置定めが銅−ベリリウム
−ばね及びサファイヤ押圧レールにより行われる。帯状
体−ホールセンサ間隔は、クリティカルであり、通過走
行の際ほぼ0,05mmに一定保持されねばならない。＞0.1m
mの間隔のバリエーションは明らかにホール信号にて検
出可能である。所要の間隔トレランスが維持されること
を図４に記録、ドキュメント化して示す。ここで、通過
走行速度の方向切換の場合、精確な鏡対称的なホール信
号が検出される。
−ばね及びサファイヤ押圧レールにより行われる。帯状
体−ホールセンサ間隔は、クリティカルであり、通過走
行の際ほぼ0,05mmに一定保持されねばならない。＞0.1m
mの間隔のバリエーションは明らかにホール信号にて検
出可能である。所要の間隔トレランスが維持されること
を図４に記録、ドキュメント化して示す。ここで、通過
走行速度の方向切換の場合、精確な鏡対称的なホール信
号が検出される。
【００１４】変位量検出器は、通過走行方向で帯状体位
置、ポジションを測定する。
置、ポジションを測定する。
【００１５】臨界的な電流密度は、帯状体平面内での２
次元の電流分布Ic（X,Y)、即ち帯状体厚さに関して一定
の電流密度の過程のもとで、反転方式で計算され得る。
超電導性の多芯導体のような複雑な電流分布の場合、ホ
ールセンサ信号は、非均一性をmmスケール尺度で検出し
得る、電流密度に対する定性的尺度を成す。定量的デー
タは、常に、抵抗性校正により行われ得、該抵抗性校正
では、被検査超電導体における局所的電流−電圧測定を
行い得る（図３）。
次元の電流分布Ic（X,Y)、即ち帯状体厚さに関して一定
の電流密度の過程のもとで、反転方式で計算され得る。
超電導性の多芯導体のような複雑な電流分布の場合、ホ
ールセンサ信号は、非均一性をmmスケール尺度で検出し
得る、電流密度に対する定性的尺度を成す。定量的デー
タは、常に、抵抗性校正により行われ得、該抵抗性校正
では、被検査超電導体における局所的電流−電圧測定を
行い得る（図３）。
【００１６】図２は、測定方式TACHOの測定を受けた大
きな長さのBi−2223超電導性の帯状体の記録データを示
す。ここで、フィールドの落ち込み、ディップはほぼ10
cm周期長の規則性で現れ、そして多かれ、少なかれ際立
っている。それにより、先ず臨界電流密度Ic(X)の長手
方向の特性経過についての定性的データ表示が可能であ
り、該データ表示を抵抗性校正を介して定量的に表示し
得る。今や、臨界電流密度Icへの設定値を下回ったか否
かを判定できる。
きな長さのBi−2223超電導性の帯状体の記録データを示
す。ここで、フィールドの落ち込み、ディップはほぼ10
cm周期長の規則性で現れ、そして多かれ、少なかれ際立
っている。それにより、先ず臨界電流密度Ic(X)の長手
方向の特性経過についての定性的データ表示が可能であ
り、該データ表示を抵抗性校正を介して定量的に表示し
得る。今や、臨界電流密度Icへの設定値を下回ったか否
かを判定できる。
【００１７】図３は、Bi−2223−超電導性の測定による
半m長の被試験測定物の帯状体の一部の様子を示す。左
の座標はmTでホール信号を表し（誘導性信号）、右の座
標は、1μv／cm E−フィールド−基準尺度のもとでAに
てにて帯状体の相応の電流容量を表す。ここで、無接触
形の誘導性の測定方式が、接触形抵抗性の測定方式に対
比され、Ic（X）−特性の照応、対比により、誘導性方
式の能率が証明されており、このことは測定カーブ特性
経過に示されている。
半m長の被試験測定物の帯状体の一部の様子を示す。左
の座標はmTでホール信号を表し（誘導性信号）、右の座
標は、1μv／cm E−フィールド−基準尺度のもとでAに
てにて帯状体の相応の電流容量を表す。ここで、無接触
形の誘導性の測定方式が、接触形抵抗性の測定方式に対
比され、Ic（X）−特性の照応、対比により、誘導性方
式の能率が証明されており、このことは測定カーブ特性
経過に示されている。
【００１８】当該方式の信頼性を照明するための任意の
Bi-223−帯状体部分がほぼ0.5mに関して、往復走行、往
路、戻り復路にて長手方向均一性の検出のための測定プ
ロセスの処理を施された。mTでの磁場Bの特性経過の測
定結果を図４に示す。戻り復路走行測定の鏡対称的特性
経過が精確に表されている。
Bi-223−帯状体部分がほぼ0.5mに関して、往復走行、往
路、戻り復路にて長手方向均一性の検出のための測定プ
ロセスの処理を施された。mTでの磁場Bの特性経過の測
定結果を図４に示す。戻り復路走行測定の鏡対称的特性
経過が精確に表されている。
【００１９】導体長手軸線に対して横断方向に位置する
ホールセンサアレイによる長手方向及び横断方向均一性
の同時の検出は、結局、TACHO−方式で達成すべき目標
である。導体横断面及び導体長さに関しての電流密度の
表示により、帯状体−超電導体の品質に就いての精確な
データ表示を行い得る。図５中には、ホール電圧の特性
位置を３次元で示し、その下に、ほぼ20cmのBi−2223−
帯状体長に関して高さライン表示としてのそれの投影が
示されている。その中に表示されている“ホール電圧−
山形特性経過”は、長手方向及び横断方向で帯状体導体
部分の電流密度の特性経過により定まる。
ホールセンサアレイによる長手方向及び横断方向均一性
の同時の検出は、結局、TACHO−方式で達成すべき目標
である。導体横断面及び導体長さに関しての電流密度の
表示により、帯状体−超電導体の品質に就いての精確な
データ表示を行い得る。図５中には、ホール電圧の特性
位置を３次元で示し、その下に、ほぼ20cmのBi−2223−
帯状体長に関して高さライン表示としてのそれの投影が
示されている。その中に表示されている“ホール電圧−
山形特性経過”は、長手方向及び横断方向で帯状体導体
部分の電流密度の特性経過により定まる。
【００２０】猶、本発明の前記の測定装置の機能性、有
効な性能、機能能力は、部分的に大きな試験物長さにつ
いて多くの一連の測定で実験的に確かめられている。
効な性能、機能能力は、部分的に大きな試験物長さにつ
いて多くの一連の測定で実験的に確かめられている。
【００２１】
【発明の効果】本発明によれば、電流密度均一性の検出
（TACHO=Test of Tape Current Homogeneity)のた
めの迅速且つ簡単に操作可能な方法を創出することがで
き、電流容量の落ち込みにより表される帯状体における
欠陥個所をmm尺度スケールで位置測定することが可能に
なり、作動用のコンピュータ制御及びデータ収集の場合
作製された仕上がり長さ（ｋm領域）に亘って、帯状体
−超電導体に対する完全な品質管理が実現可能であると
いう効果が奏される。
（TACHO=Test of Tape Current Homogeneity)のた
めの迅速且つ簡単に操作可能な方法を創出することがで
き、電流容量の落ち込みにより表される帯状体における
欠陥個所をmm尺度スケールで位置測定することが可能に
なり、作動用のコンピュータ制御及びデータ収集の場合
作製された仕上がり長さ（ｋm領域）に亘って、帯状体
−超電導体に対する完全な品質管理が実現可能であると
いう効果が奏される。
【図１】測定装置の基本的配置構成図。
【図２】測定方法により記録されたBi−2223−帯状体−
超電導体における局所的に周期的な欠陥構造の特性図。
超電導体における局所的に周期的な欠陥構造の特性図。
【図３】抵抗性電流校正を以ての、誘導性及び抵抗性測
定方式で検出された帯状体欠陥の様子を示す特性図。
定方式で検出された帯状体欠陥の様子を示す特性図。
【図４】帯状体走行方向反転の場合の鏡対称的ホール信
号の特性図。
号の特性図。
【図５】ホールセンサアレイを用いてのBi−2223−帯状
体におけるホール信号の縦方向、長手方向及び横断方向
均一性の記録の様子を示す特性図。
体におけるホール信号の縦方向、長手方向及び横断方向
均一性の記録の様子を示す特性図。
１ 磁石、コイル巻線 ２ 帯状体−超電導体、帯状体 ３ 方向変換ローラ ４ 方向変換ローラ ５ ホールセンサ、アレイ ６ ホールセンサ、補償ホールセンサ ７ 巻取装置 ８ 磁石軸線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ハンス ライナー ドイツ連邦共和国 リンケンハイム−ホ ーホシュテッテン ゲオルク−アダム− ラング−シュトラーセ ２ (72)発明者 カイ グルーベ ドイツ連邦共和国 カールスルーエ シ ュテッサーシュトラーセ 12 (72)発明者 ミラン ポラク スロヴァキア国 ブラティスラヴァ プ パヴォヴァ 37 (56)参考文献 特公 平６−27796（ＪＰ，Ｂ２) 特公 平８−20418（ＪＰ，Ｂ２) 特公 平８−23550（ＪＰ，Ｂ２) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01N 27/72 - 27/90 G01R 33/00 - 33/26
Claims (8)
- 【請求項１】 跳躍的変化−温度Tc以下に冷却される帯
状体超電導体（２）における、臨界電流密度Icの縦方向
及び横方向均一性をホールセンサ（５，６）を用いて、
無接触試験測定する方法であって、前記帯状体−超電導
体（２）を一定の勾配グラジエントを伴う局所的に限定
された外部磁場（X,Y,Z）を貫通して張力をかけて通過
走行せしめ、前記外部磁場の磁場軸線（８）は、測定中
変化されないようにした当該の試験測定方法において、 外部磁場の貫通する帯状体−超電導体（２）の領域内に
て誘起されたシールド電流に由来する磁場が第１のホー
ルセンサ（５）でセンシングされ、該ホールセンサは、
前記帯状体−超電導体（２）に１０分の数mmの近さに接
近して位置せしめられ、 前記第１ホールセンサ（５）に可及的に同じ構成の第２
ホールセンサ（６）である補償センサにより、誘起され
たシールド電流のフィールド領域外の外部磁場が測定さ
れ、ここで、前記の外部磁場の測定は、前以て、アイド
ル、ダミ−測定（被試験物のない場合）にて外部磁場の
みを両ホールセンサ（５，６）によりセンシング、測定
し、両ホールセンサ−信号の差を零に調整整合した後、
実施され、 第１及び第２ホールセンサ信号間の差が、帯状体−超電
導体（２）の長手軸線に関して局所的に変化する臨界電
流密度Ic（Ｘ）及びそれの特性経過、状態（縦方向、長
手方向均一性）に対する定性的尺度量として使用され、直 線的ホールセンサーアレイ（５）により横方向均一性
が測定され、ここで、当該の横方向均一性の測定は、前
記アレイ（５）のすべてのホールセンサに対して前以
て、同様に補償センサ（６）の信号での零補償のなされ
た後実施されるようにし、前記ホールセンサーアレイ
（５）は、帯状体−超電導体（２）の長手軸線に対して
横断方向に位置し、導体広幅面に亘って延在し、 局所的な臨界電流密度Ic（X,Y）をホールセンサ−信号
から抵抗的校正（電流−電圧−測定）を介して定量的に
表示することを特徴とする帯状体−超電導体における臨
界電流密度の縦方向及び横方向均一性の無接触試験測定
方法。 - 【請求項２】 外部磁場の磁場軸線（８）をこれが帯状
体−超電導体（２）の広幅面に対して垂直方向に位置
し、それの長手軸線と交差するように配向することを特
徴とする請求項１記載の方法。 - 【請求項３】 補償センサ（６）により、１つの所定の
個所にて、外部磁場を帯状体−超電導体の磁場に影響さ
れずに測定することを特徴とする請求項２記載の方法。 - 【請求項４】−超電導に必要な温度の調整セッティング
及び維持のための、冷却剤で充填可能なクライオスタッ
トを有し、 −前記クライオスタット内に収容された磁石（１）を有
し、該磁石の２つの極間に試験測定されるべき帯状体−
超電導体（２）が、位置定め−及び、位置発信器−装置
を有するガイド部にて張力をかけて通過走行せしめられ
るように構成されており −前記クライオスタット内に２つの方向変換ローラ
（３，４）を有し、該２つの方向変換ローラは、次のよ
うに設計、収容されており、即ち、帯状体−超電導体
（２）が中間極領域にて前記ガイド部にて損傷されずに
引渡され、ないし、そこから取出、転送されるように設
計、収容されており、 −帯状体−超電導体（２）にてシールド電流により生ぜ
しめられた磁場の検出のため、磁石（１）の中間極領域
内の第１ホールセンサ（５）を有し、また、 磁石（１）により生ぜしめられた磁場内に補償ホールセ
ンサである第２ホールセンサ（６）を有し、該補償ホー
ルセンサは、シールド電流により生ぜしめられた磁場外
に位置しており、 −更なるホールセンサから成る直線的アレイ（５）を有
し、該 更なるホールセンサから成る直線的アレイ
（５）は、磁極間を引張通過走行されるべき帯状体−超
電導体（２）の広幅面に対して並行な方向に、且つ、長
手軸線に対して横断方向に取り付けられており、ここ
で、前記の第１ホールセンサ（５）は前記アレイ（５）
の構成部分であり、 −クライオスタット外に設けられた巻回装置（７）を有
し、該巻回装置は、そのトルクの点で次のように可制御
であり、即ち、被試験測定帯状体−超電導体（２）が中
間極領域にて往路、順方向又は戻り復路、逆方向で予め
設定された一定の速度を有するように可制御であり、 クライオスタットを閉鎖するカバー上に２つのガイド部
を有し、該ガイド部は、帯状体−超電導体（２）をクラ
イオスタット内に導入、ないしそこから導出するように
構成されていることを特徴とする請求項１から３までの
うちいずれか１項記載の方法を実施するための装置。 - 【請求項５】 外部磁場生成のための磁石（１）は、永
久磁石であることを特徴とする請求項４記載の装置。 - 【請求項６】 前記磁石（１）は、常電導性又は超電導
性電磁石であり、該電磁石により、その強さが選択可能
な時間的に一定の磁場が調整セッティングされ得るよう
に構成されていることを特徴とする請求項４記載の装
置。 - 【請求項７】 前記磁石（１）は、所謂スプリット−コ
イルソレノイドであることを特徴とする請求項６記載の
装置。 - 【請求項８】 すべてのホールセンサ（５，６）がミニ
アチュアーホールセンサであり、該ミニアチュア−ホー
ルセンサは、それぞれ局所分解能への要求如何によりせ
いぜい１００μm ｘ １００μmの有効面を有することを
特徴とする請求項６及び７記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19717283.0 | 1997-04-24 | ||
| DE19717283A DE19717283C1 (de) | 1997-04-24 | 1997-04-24 | Verfahren zur kontaktfreien, longitudinalen und transversalen Homogenitätsuntersuchung der kritischen Stromdiche j¶c¶ in Band-Supraleitern und eine Meßapparatur zur Durchführung des Verfahrens |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10300723A JPH10300723A (ja) | 1998-11-13 |
| JP2911871B2 true JP2911871B2 (ja) | 1999-06-23 |
Family
ID=7827592
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10115298A Expired - Fee Related JP2911871B2 (ja) | 1997-04-24 | 1998-04-24 | 帯状体−超電導体における臨界電流密度の縦方向及び横方向均一性の無接触試験測定方法及び測定装置 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6034527A (ja) |
| EP (1) | EP0874246B1 (ja) |
| JP (1) | JP2911871B2 (ja) |
| DE (2) | DE19717283C1 (ja) |
Families Citing this family (26)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1105744B1 (en) * | 1998-07-16 | 2002-09-18 | Nordic Superconductor Technologies A/S | A method for the determination of the critical current for a conductor including superconducting material, and an apparatus for performing the method |
| WO2001004646A1 (en) * | 1999-07-13 | 2001-01-18 | Los Alamos National Laboratory | Apparatus for measurement of critical current in superconductive tapes |
| DE10203738B4 (de) * | 2002-01-31 | 2004-01-15 | AxynTeC Dünnschichttechnik GmbH | Messvorrichtung und Verfahren zur Messung der Flussdichteverteilung in einer bandförmigen, supraleitenden Probe |
| JP2007078500A (ja) * | 2005-09-14 | 2007-03-29 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 超電導膜の臨界電流密度測定方法及び装置 |
| US7854057B2 (en) * | 2005-12-28 | 2010-12-21 | Superpower Inc. | Method of facilitating superconducting tape manufacturing |
| US20080088304A1 (en) * | 2006-07-25 | 2008-04-17 | Coulter J Y | Method and apparatus for measuring magnetic anisotropy of a conductive wire or tape |
| CN101446612B (zh) * | 2008-11-25 | 2011-09-14 | 中国电力科学研究院 | 一种高温超导带材临界电流特性的测量方法 |
| CN101571575B (zh) * | 2009-06-11 | 2012-07-25 | 四川工程职业技术学院 | 高温超导块材捕获磁场测试装置及其测试方法 |
| CN101609109B (zh) * | 2009-07-21 | 2011-12-14 | 中国科学院电工研究所 | 测量超导磁体临界电流的装置 |
| KR101099659B1 (ko) * | 2009-10-29 | 2011-12-29 | 한국전기연구원 | 초전도 선재의 임계전류 비접촉 측정방법 |
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| JP5401298B2 (ja) * | 2009-12-24 | 2014-01-29 | 株式会社フジクラ | 酸化物超電導導体の検査方法及び検査装置 |
| CN101788594B (zh) * | 2010-01-08 | 2011-11-09 | 清华大学 | 非接触式超导带材临界电流测量装置 |
| CN101833027B (zh) * | 2010-04-29 | 2011-11-09 | 清华大学 | 一种非接触式超导带材载流能力测量装置 |
| JP5741295B2 (ja) * | 2011-08-01 | 2015-07-01 | 住友電気工業株式会社 | 超電導線の臨界電流測定装置および臨界電流測定方法 |
| JP5680505B2 (ja) * | 2011-08-22 | 2015-03-04 | 住友電気工業株式会社 | 超電導ケーブルの臨界電流測定方法 |
| KR101410831B1 (ko) * | 2012-10-17 | 2014-06-23 | 한국전기연구원 | 초전도 선재의 임계전류에 대한 자기장 의존성 비접촉 연속 측정장치 |
| CN103901254B (zh) * | 2014-04-19 | 2016-08-24 | 中国船舶重工集团公司第七一二研究所 | 一种高温超导线材临界电流测试装置 |
| JP6406612B2 (ja) * | 2014-07-24 | 2018-10-17 | 住友電気工業株式会社 | 超電導線材の臨界電流測定装置 |
| CN104820141B (zh) * | 2015-03-10 | 2017-08-29 | 北京原力辰超导技术有限公司 | 一种超导带材电流传输能力测量探头、测量装置及方法 |
| WO2016199872A1 (ja) * | 2015-06-12 | 2016-12-15 | 横河電機株式会社 | 腐食管理システムおよび腐食管理方法 |
| CN105866238B (zh) * | 2016-05-20 | 2023-06-09 | 云南电网有限责任公司电力科学研究院 | 一种高温超导带材检测系统 |
| CN107167750B (zh) * | 2017-05-25 | 2023-08-04 | 西南交通大学 | 一种混合应力下的超导线材临界电流测试装置及测试方法 |
| CN108490066A (zh) * | 2018-03-06 | 2018-09-04 | 西南交通大学 | 超导电缆局部缺陷的连续无损检测装置 |
| CN108957056B (zh) * | 2018-09-13 | 2024-03-19 | 广东电网有限责任公司 | 一种超导带材拉伸应力下临界电流测量的辅助装置 |
| CN111044572B (zh) * | 2019-11-27 | 2022-12-09 | 武汉船用电力推进装置研究所（中国船舶重工集团公司第七一二研究所） | 一种高温超导线圈无损探伤装置及探伤方法 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2431505C2 (de) * | 1974-07-01 | 1975-11-27 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen, kontaktlosen Prüfung eines langgestreckten, wenigstens teilweise aus Supraleitermaterial bestehenden Leiters |
| DE2606504C3 (de) * | 1976-02-18 | 1978-08-17 | Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen | Verfahren und Vorrichtung zur kontinuierlichen, kontaktlosen Prüfung eines langgestreckten, wenigstens teilweise aus Supraleitermaterial bestehenden Leiters |
| US5306697A (en) * | 1989-02-10 | 1994-04-26 | University Of Houston - University Park | Oriented grained Y-Ba-Cu-O superconductors having high critical currents and method for producing same |
| DE4218633A1 (de) * | 1992-06-05 | 1993-12-09 | Siemens Ag | Einrichtung zur Bestimmung der kritischen Stromdichte in hochtemperatursupraleitenden Filmen |
| JP2974108B2 (ja) * | 1993-10-13 | 1999-11-08 | 財団法人国際超電導産業技術研究センター | 高温超伝導バルク体とコイル磁石の複合体 |
| DE19612613C2 (de) * | 1996-03-29 | 1999-12-16 | Karlsruhe Forschzent | Verfahren zur Bestimmung des kritischen Stromes I¶c¶ von Supraleitern und Meßeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
-
1997
- 1997-04-24 DE DE19717283A patent/DE19717283C1/de not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-03-11 DE DE59811029T patent/DE59811029D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-03-11 EP EP98104357A patent/EP0874246B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1998-04-24 US US09/065,491 patent/US6034527A/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-04-24 JP JP10115298A patent/JP2911871B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE19717283C1 (de) | 1998-04-23 |
| EP0874246B1 (de) | 2004-03-24 |
| EP0874246A2 (de) | 1998-10-28 |
| DE59811029D1 (de) | 2004-04-29 |
| US6034527A (en) | 2000-03-07 |
| EP0874246A3 (de) | 1999-12-15 |
| JPH10300723A (ja) | 1998-11-13 |
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