JP2897770B1 - イオン源 - Google Patents

イオン源

Info

Publication number
JP2897770B1
JP2897770B1 JP10144947A JP14494798A JP2897770B1 JP 2897770 B1 JP2897770 B1 JP 2897770B1 JP 10144947 A JP10144947 A JP 10144947A JP 14494798 A JP14494798 A JP 14494798A JP 2897770 B1 JP2897770 B1 JP 2897770B1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
magnetic field
plasma
coil
current
ion source
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP10144947A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH11339675A (ja
Inventor
裕 井内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissin Electric Co Ltd
Original Assignee
Nissin Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nissin Electric Co Ltd filed Critical Nissin Electric Co Ltd
Priority to JP10144947A priority Critical patent/JP2897770B1/ja
Priority to US09/318,829 priority patent/US6184624B1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2897770B1 publication Critical patent/JP2897770B1/ja
Publication of JPH11339675A publication Critical patent/JPH11339675A/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J27/00Ion beam tubes
    • H01J27/02Ion sources; Ion guns
    • H01J27/16Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation
    • H01J27/18Ion sources; Ion guns using high-frequency excitation, e.g. microwave excitation with an applied axial magnetic field

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Combustion & Propulsion (AREA)
  • Electron Sources, Ion Sources (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)

Abstract

【要約】 【目的】 イオンビ−ム電流Ibのダイナミックレンジ
の広いマイクロ波イオン源、ECRイオン源を与える
事。 【構成】 プラズマ室の始端近傍(ウインドウ側)に第
1コイル、終端(プラズマ電極)近傍に第2コイルを設
け、第1コイルは共鳴磁場Br以上の磁場B1を与える
定電流I1を流し、マグネトロン電力Wを変えず、第2
コイル電流I2を共鳴磁場Br以下の磁場B2を与える
範囲で変化させイオンビ−ム電流Ibを調整する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は広範囲にイオンビ−
ム電流Ibを変えることのできるマイクロ波イオン源ま
たはECRイオン源に関する。イオンビ−ム電流に対し
て広いダイナミックレンジを要求するイオン注入装置用
にも使えるマイクロ波イオン源或いはECRイオン源に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来のマイクロ波イオン源、ECRイオ
ン源は、マイクロ波をプラズマ励起源にもちいる。フリ
ーマン型、バーナス型のようにフィラメントを使わな
い。フィラメントがないために長寿命である、安定であ
るなど、長所を持っていた。マイクロ波イオン源という
のはマグネトロン、導波管、プラズマ室、引出電極系な
どよりなり、原料ガスをマイクロ波によってプラズマに
して、イオンビ−ムとして引き出すものである。
【0003】ECRイオン源は2.45GHzのマイク
ロ波を使うがコイルで縦磁場をかけ、875ガウスの共
鳴磁場を発生させ共鳴吸収によってプラズマ生成効率を
上げたものである。
【0004】フィラメントを用いるフリーマン型、バー
ナス型にも長所はある。イオンビ−ムの変化範囲(ダイ
ナミックレンジ)が広いということである。フィラメン
ト電流を変化させる、或いはアーク電圧を変えることに
よってイオンビ−ム電流を3桁〜4桁の範囲で調節でき
る。その点でマイクロ波を励起エネルギーとするマイク
ロ波イオン源、ECRイオン源よりフリーマン型、バー
ナス型の方がすぐれる。
【0005】マイクロ波イオン源、ECRイオン源は引
き出しビーム電流のダイナミックレンジが狭い。つまり
イオンビ−ムの電流の大きさの変化可能な範囲が狭い。
イオンビ−ム電流のダイナミックレンジが狭いため、マ
イクロ波イオン源はいまだに中電流のイオン注入装置に
は利用されていない。中電流イオン注入装置は広いイオ
ンビ−ム電流ダイナミックレンジを要求するからであ
る。
【0006】マイクロ波イオン源、ECRイオン源は、
ビーム引き出し電流を変えるため、マイクロ波パワーを
制御していた。つまりマグネトロンのマイクロ波出力を
変化させていたのである。ところがマグネトロンの出力
変化範囲は狭い。投入電力を変える事によってマグネト
ロン出力が変化するが、電力を余りに下げるとマグネト
ロンの動作が不安定になる。停止することもある。だか
ら投入電力を余り広範囲に変えられない。マグネトロン
出力を変える事によってイオンビ−ム電流の大きさはせ
いぜい1桁程度しか変化しない。つまり1〜10倍程度
のダイナミックレンジしかない。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】イオン源も様々の用途
に使われる。目的によってはそれほど広い電流変化範囲
を必要としないものもある。しかし半導体などの不純物
ドーピングの場合は、ドーピング濃度を3桁(1〜10
00倍)のオーダーで変動させなければならない。その
ような用途には残念ながら従来のマイクロ波イオン源、
ECRイオン源は十分に対応しきれていない。マグネト
ロンのパワーはせいぜい1〜10倍しか変えられない。
マグネトロンの動作に頼っていては、広いイオンビ−ム
変化を得ることはできない。
【0008】ECRイオン源の場合は、縦磁場を与える
コイル電流を調整してプラズマ密度を変えイオンビ−ム
電流Ibを変化させるという可能性もある。プラズマ室
の周りのコイルの電流を変えると磁場が変わり共鳴領域
の大きさが変化する。プラズマ密度がこれに伴って変わ
るからイオンビ−ム電流も変動するであろう。
【0009】しかし実際には共鳴磁場を与えるコイル電
流の調整によってイオンビ−ム制御するということはな
い。共鳴磁場を与えるコイル電流は固定したまま運転す
るようになっている。どうしてか?縦磁場(共鳴磁場)
を変えるとマイクロ波のマッチング条件が変化し、プラ
ズマの反射が増える。共鳴磁場を変えるとイオンビ−ム
が非線形の増減変化をする。共鳴磁場を変えるとイオン
源の動作が不安定になる。共鳴磁場が消失することによ
ってプラズマが消えることもある。このようなわけで縦
磁場の変化によってイオンビ−ムを調整するということ
は行われない。
【0010】中電流イオン注入装置はドーズ量を広範囲
に変える必要があるためにこれまでマイクロ波イオン源
などは使えなかった。しかし長寿命、高安定のマイクロ
波イオン源、ECRイオン源も中電流用のイオン注入装
置のイオン源として何とか利用したいものである。その
ためにはイオンビ−ム調整可能範囲を3桁程度にひろげ
なければならない。本発明はそのような目的を達成する
ためになされている。
【0011】イオンビ−ム電流可変範囲の広い(3桁)
マイクロ波イオン源、ECRイオン源を提供することが
本発明の第1の目的である。一つの制御パラメータによ
って広範囲にわたってイオンビ−ム電流制御できるよう
にしたマイクロ波イオン源、ECRイオン源を提供する
ことが本発明の第2の目的である。制御パラメータに対
してイオンビ−ム電流が単調に変化するようにしたマイ
クロ波イオン源、ECRイオン源を提供する事が本発明
の第3の目的である。引き出し電流(イオンビ−ム電
流)を変化させてもマイクロ波のプラズマへのマッチン
グ条件がずれにくいようにしたマイクロ波イオン源、E
CRイオン源を提供する事が本発明の第4の目的であ
る。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明のマイクロ波イオ
ン源は、プラズマ生成室の始端つまりウインドウ側に第
1コイルを、終端つまりイオンビ−ム出口側(プラズマ
電極)に第2コイルを有し、二つのコイル磁場中心が十
分に離隔し中間に磁場の極小があり、第1コイルの磁場
B1は共鳴磁場を含む高い値に固定し、第2コイル磁場
B2は共鳴磁場Br以下で自由に変化させる。つまりB
1>Br>B2であって、B1は固定、B2を変数とす
る。
【0013】磁束密度Bは直接の制御可能な変数でな
い。Bを決めるのは電流Iである。制御性を電流によっ
て説明する。B1を決めるのは第1コイル電流I1であ
る。B2を決めるのは第2コイル電流I2である。だか
ら第1コイル電流I1は共鳴磁場を与える電流Irより
大きく一定であり、第2コイル電流I2は共鳴磁場を与
える電流Irより小さくて制御変数となる。I1>Ir
>I2と書ける。第1コイル電流I1を共鳴磁場に対応
するIr以上にするからプラズマ生成室のウインドウ近
傍(始端)ではマイクロ波共鳴吸収が旺盛で濃密なプラ
ズマ生成がなされる。第2コイル電流I2は共鳴磁場に
対応するIrより小さいからプラズマ電極(出口近傍)
付近ではマイクロ波共鳴吸収が起こらない。第2コイル
電流I2を増やすとこの近傍でのプラズマ密度が高くな
りイオンビ−ム電流Ibも増える。第2コイル電流I2
を減らすとその近傍でのプラズマ密度が低くなりイオン
ビ−ム電流Ibも減る。第2コイル電流I1と、イオン
ビ−ム電流Ibは単調な増減関係にある。
【0014】第2コイル電流I2を変化させることによ
って、イオンビ−ム電流Ibは1〜1000倍の広い範
囲で変化する。これによってイオンビ−ム電流Ibの広
いダイナミックレンジが実現された。第2コイル電流I
2によって、例えばイオンビ−ム電流Ibは数μA〜数
mAの範囲で変化する。イオン注入装置に使えば不純物
のドーズ量を3桁の範囲で変えることができる。マグネ
トロンの電力は一定であるから動作は安定する。第1コ
イル電流I1もほぼ一定に保持するからウインドウ近傍
でのプラズマ生成率は安定する。
【0015】
【発明の実施の形態】図1によって本発明の実施例を説
明する。マイクロ波イオン源1はマイクロ波を導入する
ためのアルミナ導波管2、プラズマを生成する空間であ
るプラズマ室3を直列に並べた装置である。マグネトロ
ン(図示せず)に続くアルミナ導波管2はこの例では直
径が約3cmである。プラズマ室3の直径も狭いもので
ある。空洞の導波管にするとマイクロ波が狭い入口から
プラズマ室に入らない。そこで中実体のアルミナを導波
管2としている。誘電率が10もあるからマイクロ波の
直径が約1/3に縮み大量のマイクロ波パワーを通すこ
とができる。マイクロ波ウインドウ4は誘電体窓であ
る。縦長のプラズマ室3の始端にはウインドウ4があ
り、終端にはプラズマ電極5がある。プラズマ電極5の
外側には減速電極6、接地電極7がそれぞれ設けられ
る。プラズマ電極5やプラズマ室3は正の高電圧にバイ
アスされる。減速電極6は電子逆流を防ぐため負電圧が
掛かっている。接地電極7は接地される。
【0016】プラズマ室1のウインドウ4の辺りの周囲
には第1コイル8が設置される。コイルはプラズマ室を
取り囲むように導線を巻いたものである。磁界はプラズ
マ室の軸方向(長手方向)にできる。マイクロ波ウイン
ドウの近傍に局在する。この磁束密度をB1とする。第
1コイル電流をI1とする。反対側のプラズマ電極5の
廻りには第2コイル9が設置される。これもプラズマ室
を取り囲むように導線を巻いたものである。第2コイル
の磁場はプラズマ電極5の近傍に局在する。第2コイル
の電流をI2としこれが発生する磁束密度をB2とす
る。
【0017】アルミナ導波管2のマグネトロン側にはリ
ング10があって導波管を囲んでいる。さらに導波管保
持具11がある。これは内部が真空で外部が大気圧であ
る。アルミナ導波管2との間にはOリング19があって
気密を保つ。導波管保持具11に続いて円筒形のプラズ
マ室保持筒12がある。これは導波管保持具11に対し
てプラズマ室13を保持する。円盤状の外壁13に導波
管保持具11が溶接される。内円筒14が外壁13と隔
壁16をつないでいる。内円筒14の内側は真空であ
り、外側は大気圧である。プラズマ室3の壁15は内縁
筒14と同心状になっている。隔壁16には絶縁碍子1
8が続いている。絶縁碍子18、隔壁16、内縁筒1
4、外壁13、導波管保持具11、Oリング19などに
よってイオン源内部の真空を維持している。
【0018】第1コイル8はプラズマ室3の周囲に巻線
があるからプラズマ室に縦磁場B1を生ずる。ウインド
ウ4の近傍、プラズマ室の始端に磁場を生じ電子をサイ
クロトロン運動させマイクロ波を共鳴吸収させる。電子
質量をm、電荷をq、磁束密度をBとし、電子サイクロ
トロン角周波数をΩとすると、Ω=qB/mである。マ
イクロ波の周波数をfとして共鳴条件は2πf=Ωであ
る。f=2.45GHzの場合は、共鳴磁束密度はBr
=875ガウスである。第1コイルによる磁束密度B1
はそのピークがBrを越える値とする。Bは磁束密度で
あるが言いにくいので簡単に磁場ということもある。し
かしここでは磁束密度の意味で使っている。
【0019】第1コイル磁場を簡単に第一磁場B1と呼
ぶことにする。第1磁場B1は分布を持つ。コイル8は
空心でなく外側にコの字断面の強磁性体ヨーク24が設
けられる。ヨーク24は側面と背面を囲み前面(内方を
向く面)だけが開口している。ヨーク24はその背後側
面に磁場を漏らさない。背後を廻る磁力線は全てヨーク
を通るからである。内面を向くヨーク24の端面から磁
力線が出て反対側のヨークの端面に入る。コイル磁場は
ヨークの開口の範囲に局在され共鳴磁場を形成する。電
子がマイクロ波を強く吸収する。共鳴領域で電子運動が
激しくなる。プラズマ生成が旺盛に起こる。第1磁場B
1はそのような空間分布を実現する。B1はほぼ固定し
ておく。そのため第1コイル電流I1は固定しておく。
【0020】終端部つまりプラズマ電極5の近傍にも第
2コイル9がある。コイル9は強磁性体のヨーク26に
よって背面と側面が囲まれている。プラズマ室の前後に
おいてコイル8、9があって、プラズマ室の磁場構造は
前後対称のように見える。ところがそうでない。第2コ
イルの作る磁場B2は共鳴磁場Br以下であり且つ可変
である。B2は連続可変の制御変数とする。そのために
第2コイル電流I2を自由に変えられるようにしてい
る。第2磁場B2は電子のマイクロ波共鳴吸収を引き起
こさない。
【0021】図2はプラズマ室中心軸線上の磁束密度B
(0,0,z)を示す。左側のより高いピークがマイク
ロ波ウインドウ4近傍でのピークである。これはおもに
第1コイル8による磁場B1である。後ろの低いピーク
はプラズマ電極5の近傍の磁場の盛り上がりである。こ
れはおもに第2コイルによる磁場B2である。
【0022】注意すべき点は3つある。 (1)ウインドウ4近傍(プラズマ室始端)はピークが
共鳴磁場Br以上である。観点に表記すると、B1ma
x>Brである。B1maxというのはB1の最大値で
ある。このためにB1=Brとなる共鳴領域がウインド
ウの近傍に発生する。 (2)プラズマ電極5近傍(プラズマ室終端)では、ピ
ークが共鳴磁場Br未満である。B2max<Brであ
る。プラズマ電極の近傍では共鳴は起こらない。ここで
の磁場はほとんどが第2コイル磁場B2による。 (3)プラズマ電極近傍の磁場は変化する。第2コイル
電流I2を変えることによって第2磁場B2が変動す
る。第2コイルの作る磁場はウインドウ付近にも少しは
及ぶから、ウインドウの位置でBが少しは変わってい
る。が極極わずかである。
【0023】このように3つの特筆すべき制御上の条件
がある。第1、第2コイルは2重の意味で非対称であ
る。I1は固定値、I2は自由変数という非対称性。I
1は大きくB1>Brであるが、I2は小さくB2<B
rであるという非対称。このようなふたつの非対称があ
る。I2が何故に自由変数なのか?その訳をこれから述
べる。本発明の眼目である。
【0024】これは小型のマイクロ波イオン源である
が、中実体のアルミナ導波管2によってマイクロ波を圧
縮して導入するから実効的にはかなりのマイクロ波パワ
ーをプラズマ室3に投入できる。ウインドウの近傍では
強い第1コイル磁場B1によって電子サイクロトロン運
動がおこりマイクロ波を強く共鳴吸収しプラズマ密度を
上げる。プラズマ電極の近傍では第2コイル電流I2に
よる第2磁場B2がある。B2が小さい間(j)はプラ
ズマ電極近傍でのプラズマ密度が低くイオンビ−ム電流
Ibは小さい。B2をhへ上げるとプラズマ電極の近く
でプラズマ密度が上がる。イオンビ−ム電極Ibは増え
る。
【0025】第2磁場B2をさらにgへと上げるとプラ
ズマ電極近くのプラズマ密度がさらに増える。イオンビ
−ム電流Ibがさらに増えていく。第2磁場B2をもっ
とあげてfとすると、プラズマ電極でのプラズマがさら
に増える。プラズマ電極から引き出されるイオンビ−ム
電流Ibがもっと大きくなる。
【0026】但しB2は常に共鳴磁場Br未満とする。
もしもB2がBr以上になるとB2=Brとなる領域が
生じここで共鳴がおこる。すると非連続にIbが増加す
る。ここで連続性が失われる。B2を下げるときもBr
を横切る瞬間に非連続にIbが低下する。このような非
連続性は好ましくない。それでB2<Brという条件を
遵守する。
【0027】このようにプラズマ電極近傍の第2磁場B
2を変えることによって引き出されるイオンビ−ム電流
Ibが変化する。それも都合の良い変化をする。B2を
j→h→g→fとすることによってイオンビ−ム電流I
bは単調増加する。反対にいっても、B2はIbの一価
の単調増加関数である。つまりB2によってIbを正確
に調節できる。
【0028】好都合だというのはそれだけではない。B
2の増減に応じて、Ibは1〜1000倍程度も変化す
るのである。Ibのダイナミックレンジが3桁にも広が
る。マグネトロン電力は一定に保持し、第1コイル電流
I2も一定にしても、B2によって3桁にも及ぶイオン
ビ−ム電流変化が可能である。数μA〜数mAの広範囲
のダイナミックレンジが得られる。
【0029】[特開平6−168685号]本発明の
目的には無関係であるが、二つのコイルを用いるマイク
ロ波イオン源という点で共通するので特開平6−168
685号「電子サイクロトロン共振多価イオン源」につ
いて説明する。目的が大きく相違するので、従来技術で
述べる事ができない。それで本発明が明らかになったこ
の時点で公知技術を紹介する。多価イオンを生成するの
が目的である。多価イオンは一価イオンよりずっと作り
にくい。高温高密度にプラズマを励起して初めて多価イ
オンになる。そのためには共鳴を激しくし閉じ込めを厳
格にしなければならない。
【0030】図3は多価イオン源の構成をしめす。真空
チャンバ30がプラズマ室である。マイクロ波32は左
方から伝搬する。前に第1コイル33がある。第1コイ
ル33は鉄心34によって囲まれる。第1コイルはチャ
ンバ30の前方に磁場B1を形成する。ついで中間鉄心
35がチャンバ30を取り囲む。中間鉄心35の周りに
は中間コイル36が巻廻される。さらに後方には第2コ
イル37が設けられる。第2コイル37は鉄心38によ
って囲まれる。第2コイル37と第1コイル33、中間
コイル36は同方向に電流を流す。3つのコイルによっ
て縦磁場が発生する。磁力線39、40、42が軸方向
に生ずる。875ガウスの共振が起こる。これは共振
(共鳴)領域43、44を形成する。ここでB=875
ガウスになり電子は激しく運動しプラズマを発生する。
【0031】図4は軸方向の磁場の分布である。第1コ
イル33、第2コイル37とも同一の電流を流す。だか
ら磁場B1もB2もほぼ同じ大きさである。できるだけ
広く共鳴させて多価イオンを作りたい。それでmaxB
1、maxB2ともに875ガウスより大きい。図4の
○の点が共鳴点である。ミラー磁場が中間部に形成され
る。これだけでは制御性が良くない。それで中間コイル
36と中間鉄心35をもうけ磁場を重畳できるようにし
ている。中間コイルによる磁場を重ねることによって図
4の破線にて示すように中間部での磁場が増える。共鳴
点もずれてくる。共鳴領域が増加しプラズマ温度が上が
り、衝突の確率が増え1価イオンがさらに電離し2価イ
オンになる。2価イオンはさらに電離して3価のイオン
となる。この発明は多価イオンを生成するのが目的であ
る。そのために中間コイル36、中間鉄心35を新たに
設けて中間部での磁場を引上げている。中間鉄心のため
第1、第2コイル磁束密度間に密接な結合が生ずる。第
1コイル電流は一定、第2コイル電流も一定である。制
御変数は中間コイル電流である。これを変えて共鳴領域
を広げプラズマ温度を上げて多価イオンを作っている。
多価イオン生成が目的である。本発明のようにイオンビ
−ム電流Ibの制御が目的でない。
【0032】[実開平5−57798号]実開平5−
57798号「磁場の発生装置]は本発明の目的には無
関係である。二つのコイルを用いるマイクロ波プラズマ
発生装置という点で共通する。これについて説明する。
目的が大きく相違するので、従来技術で述べるといかに
も唐突である。それで本発明が明らかになったこの時点
で公知技術を紹介する。高温高密度プラズマを生成する
のが目的である。イオンビ−ム電流の制御ではない。
【0033】図5は従来技術だというものである。チャ
ンバ50に導波管51からマイクロ波が導入される。チ
ャンバ50は異形のチャンバで左右にポケット室52、
53がありその周りに空心コイル54、55が巻いてあ
る。このコイルでは不十分だというので、図6の構成を
提案している。コイル56、58を追加している。これ
によってチャンバ50の中心付近にも磁場を与えること
ができる。これによって最小磁場配位を実現すると述べ
ている。それによってECR加熱条件の磁場範囲を広げ
るといっている。すなわち空心コイル54、55によっ
て形成されるミラー磁場配位に、コイル56、58によ
って形成される局所的な磁場を重ねる事により共鳴磁場
領域を広げている。高温・高密度プラズマ生成が目的で
あり、空心コイルにより全体の磁場配位が決まってしま
うので、局所的な磁場の調整ではプラズマ密度の広範囲
な調整は望めない。いずれにしてもイオンビーム電流制
御をするのではない。これは確かである。
【0034】、ともに二つのコイルを持つという点
では本発明と共通する。しかし目的は全く違う。それで
、はここで紹介した。本発明に対する先行技術とし
ての価値はない。イオンビ−ム電流の調整という点では
マグネトロン電力の調整というのが従来技術である。
【0035】
【発明の効果】マイクロ波イオン源、ECRイオン源に
おいてイオンビ−ム電流Ibのダイナミックレンジが3
桁程度にまで広がる。これは類例のない事である。この
ように広い範囲でイオンビ−ム電流を変化させる事がで
きるから、半導体の不純物ドーピング用のイオン注入装
置イオン源として利用できる。従来、中電流イオン注入
装置はドーズ量を広範囲に可変とするためフリーマン型
イオン源または、バーナス型イオン源が使われていた。
これは例外がない。本発明によってECRイオン源、マ
イクロ波イオン源を中電流イオン注入装置のイオン源と
して用いる事が初めて可能になった。マイクロ波を使う
イオン源は長寿命で安定だという長所があったが、その
ような長所を保ちつつ中電流イオン源とすることができ
る。
【0036】マグネトロンパワーは変化させず一定の最
適条件で発振させることができる。マグネトロンがより
安定動作する。マグネトロンはなるべく条件を変えない
方が良い。マグネトロンパワーを変えると再現性も悪
い。マグネトロンパワーを変えなくて良いというのはイ
オン源の安定運転のため極めて有用である。
【0037】第2コイルの電流I2だけが制御変数であ
る。これだけを変化させることによってイオンビ−ム電
流Ibを制御できる。しかも、I2とIbは単調な比例
関係にあり制御が容易である。
【0038】ウインドウ近傍の磁場は殆ど変化させない
から、プラズマ生成はその条件が変わらず安定になる。
マイクロ波のマッチング条件も余り変わらない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例にかかるマイクロ波イオン源の
断面図。
【図2】本発明の実施例において第2コイル電流I2を
変化させた時のプラズマ室の軸線上の磁場分布を示すグ
ラフ。
【図3】特開平6−168685号の電子サイクロトロ
ン共振多価イオン源の概略断面図。
【図4】特開平6−168685号の装置において中心
軸線上の磁場分布図。
【図5】実開平5−57798号に公知技術として紹介
されているECRプラズマ発生装置の断面図。
【図6】実開平5−57798号において新規に提案さ
れているECRプラズマ発生装置の断面図。
【符号の説明】
1 マイクロ波イオン源 2 アルミナ導波管 3 プラズマ室 4 マイクロ波ウインドウ 5 プラズマ電極 6 減速電極 7 接地電極 8 第1コイル 9 第2コイル 10 リング 11 導波管保持具 12 プラズマ室保持筒 13 外壁 14 内円筒 15 プラズマ室壁 16 隔壁 17 磁気シールド 18 絶縁碍子 19 Oリング 20 開口 21 開口 22 開口 23 イオンビ−ム 24 ヨーク 26 ヨーク
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H01J 27/00 - 27/26 H01J 37/08 H05H 1/46

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マイクロ波を発生するマグネトロンと、
    マイクロ波を導く導波管と、真空に引くことができプラ
    ズマを生成する空間を与えるプラズマ室と、真空を維持
    しつつプラズマ室にマイクロ波を導入するためのマイク
    ロ波ウインドウと、プラズマ室からイオンビ−ムを引き
    出すため出口に設けられるプラズマ電極と、プラズマ電
    極に続くイオン引き出し電極系と、マイクロ波ウインド
    ウの近傍においてプラズマ室の周りに設けられマイクロ
    波ウインドウの近傍に共鳴磁場Br以上の固定磁場を発
    生する第1コイルと、プラズマ電極の近傍に設けられプ
    ラズマ電極の近傍に共鳴磁場Br未満の可変磁場を生ず
    る第2コイルとを含み、マグネトロン出力を一定に保ち
    第2コイル電流I2を変化させることによって、イオン
    ビ−ム電流Ibを変化させるようにしイオン注入装置の
    イオン源として使用される事を特徴とするイオン源。
JP10144947A 1998-05-27 1998-05-27 イオン源 Expired - Fee Related JP2897770B1 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10144947A JP2897770B1 (ja) 1998-05-27 1998-05-27 イオン源
US09/318,829 US6184624B1 (en) 1998-05-27 1999-05-26 Ion source

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10144947A JP2897770B1 (ja) 1998-05-27 1998-05-27 イオン源

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2897770B1 true JP2897770B1 (ja) 1999-05-31
JPH11339675A JPH11339675A (ja) 1999-12-10

Family

ID=15373896

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10144947A Expired - Fee Related JP2897770B1 (ja) 1998-05-27 1998-05-27 イオン源

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6184624B1 (ja)
JP (1) JP2897770B1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110718434A (zh) * 2018-07-11 2020-01-21 北京中科信电子装备有限公司 一种多线圈电流控制的均匀性调节方法

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW503432B (en) * 2000-08-07 2002-09-21 Axcelis Tech Inc Magnet for generating a magnetic field in an ion source
US6545419B2 (en) * 2001-03-07 2003-04-08 Advanced Technology Materials, Inc. Double chamber ion implantation system
JP3670263B2 (ja) * 2002-10-31 2005-07-13 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド 導波管、並びに該導波管を備えるマイクロ波イオン源
JP4134226B2 (ja) * 2004-03-10 2008-08-20 東京エレクトロン株式会社 分配器および方法、プラズマ処理装置および方法、並びに、lcdの製造方法
US7446326B2 (en) * 2005-08-31 2008-11-04 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Technique for improving ion implanter productivity
US7999479B2 (en) * 2009-04-16 2011-08-16 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Conjugated ICP and ECR plasma sources for wide ribbon ion beam generation and control
CN102117727B (zh) * 2011-01-25 2013-07-10 北京大学 一种电子回旋共振离子源
JP5656769B2 (ja) * 2011-08-08 2015-01-21 住友重機械工業株式会社 マイクロ波イオン源、及びイオン生成方法
US9484176B2 (en) * 2012-09-10 2016-11-01 Thomas Schenkel Advanced penning ion source
US9275819B2 (en) * 2013-03-15 2016-03-01 Nissin Ion Equipment Co., Ltd. Magnetic field sources for an ion source
US9865422B2 (en) 2013-03-15 2018-01-09 Nissin Ion Equipment Co., Ltd. Plasma generator with at least one non-metallic component
DE102019111908B4 (de) * 2019-05-08 2021-08-12 Dreebit Gmbh ECR-Ionenquelle und Verfahren zum Betreiben einer ECR-Ionenquelle

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0661852B2 (ja) 1991-08-29 1994-08-17 九州積水工業株式会社 繊維強化樹脂管の製造方法及びその装置
JPH06168685A (ja) 1992-11-27 1994-06-14 Japan Steel Works Ltd:The 電子サイクロトロン共振多価イオン源
JP3284886B2 (ja) * 1996-06-20 2002-05-20 株式会社日立製作所 イオン源及びイオン注入装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110718434A (zh) * 2018-07-11 2020-01-21 北京中科信电子装备有限公司 一种多线圈电流控制的均匀性调节方法
CN110718434B (zh) * 2018-07-11 2022-04-29 北京中科信电子装备有限公司 一种多线圈电流控制的均匀性调节方法

Also Published As

Publication number Publication date
JPH11339675A (ja) 1999-12-10
US6184624B1 (en) 2001-02-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2897770B1 (ja) イオン源
US5133826A (en) Electron cyclotron resonance plasma source
US5203960A (en) Method of operation of electron cyclotron resonance plasma source
JP3408093B2 (ja) 高アスペクト比構造をエッチングする負イオン誘導源
US5506475A (en) Microwave electron cyclotron electron resonance (ECR) ion source with a large, uniformly distributed, axially symmetric, ECR plasma volume
TWI467615B (zh) 離子源與調整離子束均一性的方法
US5266146A (en) Microwave-powered plasma-generating apparatus and method
JPH10229000A (ja) プラズマ発生装置およびそれを用いたイオン源
US4851668A (en) Ion source application device
US6922019B2 (en) Microwave ion source
US8760054B2 (en) Microwave plasma electron flood
US4859909A (en) Process and apparatus for igniting an ultra-high frequency ion source
JPH03500221A (ja) 改良されたプラズマ波管
JPS6127035A (ja) 電子ビームスクランブラ
US5350974A (en) Coaxial electromagnetic wave injection and electron cyclotron resonance ion source
US5506405A (en) Excitation atomic beam source
Mišina et al. Electron cyclotron resonance plasma enhanced direct current sputtering discharge with magnetic-mirror plasma confinement
JP2744188B2 (ja) マイクロ波イオン源及びイオン打ち込み装置
US5694005A (en) Plasma-and-magnetic field-assisted, high-power microwave source and method
Amemiya et al. Multicusp type machine for electron cyclotron resonance plasma with reduced dimensions
Golubev et al. Ion charge state distribution in plasma of electron cyclotron resonance discharge sustained by powerful millimeter wave radiation
RU2810726C1 (ru) Сильноточный непрерывный источник ионных пучков на основе плазмы электронно-циклотронного резонансного разряда, удерживаемой в открытой магнитной ловушке
JP3010059B2 (ja) イオン源
JPH06140196A (ja) パルス引出型の電子サイクロトロン共振イオン源
JP3498424B2 (ja) Ecrイオン源

Legal Events

Date Code Title Description
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees