JP2873726B2 - 根尖位置検出装置 - Google Patents
根尖位置検出装置Info
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- JP2873726B2 JP2873726B2 JP2186330A JP18633090A JP2873726B2 JP 2873726 B2 JP2873726 B2 JP 2873726B2 JP 2186330 A JP2186330 A JP 2186330A JP 18633090 A JP18633090 A JP 18633090A JP 2873726 B2 JP2873726 B2 JP 2873726B2
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Classifications
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61C—DENTISTRY; APPARATUS OR METHODS FOR ORAL OR DENTAL HYGIENE
- A61C19/00—Dental auxiliary appliances
- A61C19/04—Measuring instruments specially adapted for dentistry
- A61C19/042—Measuring instruments specially adapted for dentistry for determining the position of a root apex
Landscapes
- Dental Tools And Instruments Or Auxiliary Dental Instruments (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、歯科の診断や治療に用いられる根管長測
定器における根尖位置検出装置の改良に関する。
定器における根尖位置検出装置の改良に関する。
〈従来の技術〉 根尖の位置を電気的に検出して根管長を測定する装置
としては、根管内に挿入される測定電極と口の中の軟組
織に接続される口腔電極との間の抵抗値を検出する方式
のもの（例えば特公昭62−25381号公報参照）、あるい
は両電極間のインピーダンスを検出する方式のもの（例
えば特公昭62−2817号公報参照）等が知られている。
としては、根管内に挿入される測定電極と口の中の軟組
織に接続される口腔電極との間の抵抗値を検出する方式
のもの（例えば特公昭62−25381号公報参照）、あるい
は両電極間のインピーダンスを検出する方式のもの（例
えば特公昭62−2817号公報参照）等が知られている。
上記公報の前者は、測定電極の先端が根尖に近づくと
抵抗値が低下することを、また後者は測定電極の先端が
根尖に近づくとインピーダンス値が低下することそれぞ
れ検出するものであり、測定電極と口腔電極間は抵抗と
コンデンサが並列に接続された等価回路とみなされるた
め、測定の原理としては後者の方が実情に適合している
と考えられる。特に後者では単純にインピーダンス値を
検出するのではなく、２種類の異なる周波数信号を両電
極間に印加して各信号ごとにインピーダンスを検出し、
その結果を逐次比較して両者の差分の変化状態から電極
先端が根尖に到達したことを検出するようにしている。
抵抗値が低下することを、また後者は測定電極の先端が
根尖に近づくとインピーダンス値が低下することそれぞ
れ検出するものであり、測定電極と口腔電極間は抵抗と
コンデンサが並列に接続された等価回路とみなされるた
め、測定の原理としては後者の方が実情に適合している
と考えられる。特に後者では単純にインピーダンス値を
検出するのではなく、２種類の異なる周波数信号を両電
極間に印加して各信号ごとにインピーダンスを検出し、
その結果を逐次比較して両者の差分の変化状態から電極
先端が根尖に到達したことを検出するようにしている。
＜発明が解決しようとする課題＞ 上記の前者の方式は根管内が乾燥状態であることを前
提として単純に両電極間の抵抗値を検出するものである
ため、根管内が良電導体で湿潤状態になっていると誤差
が生ずるが、常に根管内が乾燥した状態で測定を行うこ
とは実際には困難である。また、臨床的には根管内に薬
液や血液が存在していることが多く、薬液等の影響で根
管内の等価抵抗が減少するため根尖に到達していないの
に到達表示が出るアンダー表示や、測定不能が起きる可
能性が高い。更に、根尖孔の直径やファイルやリーマ等
の測定電極の太さなどの外的要素の影響も受けるため、
抵抗値の変化がファイルやリーマの根管内での位置変化
によるものか外部要素によるものかの区別が困難で誤表
示が生じやすいという問題点もあった。
提として単純に両電極間の抵抗値を検出するものである
ため、根管内が良電導体で湿潤状態になっていると誤差
が生ずるが、常に根管内が乾燥した状態で測定を行うこ
とは実際には困難である。また、臨床的には根管内に薬
液や血液が存在していることが多く、薬液等の影響で根
管内の等価抵抗が減少するため根尖に到達していないの
に到達表示が出るアンダー表示や、測定不能が起きる可
能性が高い。更に、根尖孔の直径やファイルやリーマ等
の測定電極の太さなどの外的要素の影響も受けるため、
抵抗値の変化がファイルやリーマの根管内での位置変化
によるものか外部要素によるものかの区別が困難で誤表
示が生じやすいという問題点もあった。
これに対して後者の方式は上述のような問題は解決さ
れているが、２種類の信号を同時に根管内に印加し、ま
たこれらによる検出結果を逐次比較して判断する必要が
あるため回路が複雑化し、更に根管内の状態の影響を除
くために測定の都度キャリブレーションが必要であり、
特に臼歯のような複根管歯の場合、１根ごとにキャリブ
レーションが必要で操作が煩わしく、治療の効率化が妨
げられるという問題点がある。
れているが、２種類の信号を同時に根管内に印加し、ま
たこれらによる検出結果を逐次比較して判断する必要が
あるため回路が複雑化し、更に根管内の状態の影響を除
くために測定の都度キャリブレーションが必要であり、
特に臼歯のような複根管歯の場合、１根ごとにキャリブ
レーションが必要で操作が煩わしく、治療の効率化が妨
げられるという問題点がある。
第８図はこのキャリブレーションを説明したものであ
り、横軸は電極先端の位置、縦軸はインピーダンスに対
応した検出電圧で示してある。２種類の周波数f1，f
2（ただしf1＜f2）による検出値は周波数の高い方が全
般に大きく、根尖付近での増加率も大きくなっており、
これらの値は根管内の状態に応じて上下に変動する。
り、横軸は電極先端の位置、縦軸はインピーダンスに対
応した検出電圧で示してある。２種類の周波数f1，f
2（ただしf1＜f2）による検出値は周波数の高い方が全
般に大きく、根尖付近での増加率も大きくなっており、
これらの値は根管内の状態に応じて上下に変動する。
今、歯頚部での検出値がV10、V20、根尖位置での検出
値がV1，V2であったとし、電極位置の変化による各検出
値の変化量をΔV1，ΔV2とすると、変化量の差ΔV2−Δ
V1が根管内の状態の影響が除かれ、周波数に依存したイ
ンピーダンスの相対的な変化を示したものとなる。すな
わち、 ΔV2−ΔV1＝（V2−V20）−（V1−V10） ＝（V2−V1）−（V20−V10） の関係が成立するのであり、歯頚部での検出値を用いて
上式の第２項の（V20−V10）に相当するキャリブレーシ
ョンをその都度実施し、根管内の状態の影響を除くこと
が必要となるのである。
値がV1，V2であったとし、電極位置の変化による各検出
値の変化量をΔV1，ΔV2とすると、変化量の差ΔV2−Δ
V1が根管内の状態の影響が除かれ、周波数に依存したイ
ンピーダンスの相対的な変化を示したものとなる。すな
わち、 ΔV2−ΔV1＝（V2−V20）−（V1−V10） ＝（V2−V1）−（V20−V10） の関係が成立するのであり、歯頚部での検出値を用いて
上式の第２項の（V20−V10）に相当するキャリブレーシ
ョンをその都度実施し、根管内の状態の影響を除くこと
が必要となるのである。
この発明はこのような点に着目し、煩わしいキャリブ
レーションは不要であり、しかも正確に根尖位置を検出
できる根尖位置検出装置を得ることを目的としてなされ
たものである。
レーションは不要であり、しかも正確に根尖位置を検出
できる根尖位置検出装置を得ることを目的としてなされ
たものである。
＜課題を解決するための手段＞ 上述の目的を達成するために、この発明では、測定電
極と口腔電極の間に連続で、あるいは所定の間隔で測定
電圧を繰り返し印加する測定信号出力手段と、印加され
た測定電圧の波形と両電極間に流れる負荷電流の波形と
を比較する比較手段とを備え、測定電極の先端が根尖付
近に達して上記電圧波形とのずれの状態が変化すること
を比較手段で検知して根尖位置を検出するようにしてい
る。
極と口腔電極の間に連続で、あるいは所定の間隔で測定
電圧を繰り返し印加する測定信号出力手段と、印加され
た測定電圧の波形と両電極間に流れる負荷電流の波形と
を比較する比較手段とを備え、測定電極の先端が根尖付
近に達して上記電圧波形とのずれの状態が変化すること
を比較手段で検知して根尖位置を検出するようにしてい
る。
また、上記の測定電圧を繰り返し波形とし、比較手段
で測定電圧と負荷電流との位相のずれを検出するように
している。
で測定電圧と負荷電流との位相のずれを検出するように
している。
また、測定電圧を単発波形または繰り返し波形とし、
比較手段が測定電圧と負過電流の波形の変化を検出する
ようにしている。
比較手段が測定電圧と負過電流の波形の変化を検出する
ようにしている。
更に、測定電極と口腔電極の間に容量成分を含むイン
ピーダンスによって生ずる過渡現象が異なる少なくとも
２個の単発波形を一組とした測定電圧を繰り返し印加す
る測定信号出力手段と、両電極間に流れる負荷電流の同
じ組の波形を比較する比較手段とを備え、測定電極の先
端が根尖付近に達して上記同じ組の負荷電流の波形に変
化が生ずることを比較手段で検知して根尖位置を検出す
るようにしている。
ピーダンスによって生ずる過渡現象が異なる少なくとも
２個の単発波形を一組とした測定電圧を繰り返し印加す
る測定信号出力手段と、両電極間に流れる負荷電流の同
じ組の波形を比較する比較手段とを備え、測定電極の先
端が根尖付近に達して上記同じ組の負荷電流の波形に変
化が生ずることを比較手段で検知して根尖位置を検出す
るようにしている。
＜作用＞ 等価インピーダンスの容量成分が増大すると、当然電
圧に対する電流の位相が変化する。また単発波形の場合
には位相の概念はなく過渡現象的なとらえ方が可能であ
り、等価インピーダンスの容量成分が増大すると、当然
過渡現象が変化し同一形状の電圧に対する電流波形が変
化する、。従って、位相あるいは過渡現象に着目して電
圧波形と電流波形の間の位相のずれや波形形状の変化等
を検出し、そのずれの状態や波形形状の変化の状態が変
わることを比較手段で検知することにより根尖位置を検
出できるのである。
圧に対する電流の位相が変化する。また単発波形の場合
には位相の概念はなく過渡現象的なとらえ方が可能であ
り、等価インピーダンスの容量成分が増大すると、当然
過渡現象が変化し同一形状の電圧に対する電流波形が変
化する、。従って、位相あるいは過渡現象に着目して電
圧波形と電流波形の間の位相のずれや波形形状の変化等
を検出し、そのずれの状態や波形形状の変化の状態が変
わることを比較手段で検知することにより根尖位置を検
出できるのである。
＜実施例＞ 次にこの発明の実施例を説明する。
第１図及び第２図は測定電圧を繰り返し波形とし、負
過電流の位相のずれを検出するようにした第１の実施例
であり、第１図はブロック図、第２図は波形の説明図で
ある。
過電流の位相のずれを検出するようにした第１の実施例
であり、第１図はブロック図、第２図は波形の説明図で
ある。
第１図において、１は歯牙、1a及び1bはその根管及び
根尖、２は測定電極、2aはその先端、３は口腔電極、４
は繰り返し信号発生回路、５は電流制限抵抗、６は位相
比較回路、７は表示部である。
根尖、２は測定電極、2aはその先端、３は口腔電極、４
は繰り返し信号発生回路、５は電流制限抵抗、６は位相
比較回路、７は表示部である。
繰り返し信号発生回路４は例えば1kHzの繰り返し信号
を測定電圧として発生し、これを電流制限抵抗５を介し
てリーマ、ファイル等の測定電極２に印加するものであ
る。測定電極２と口腔電極３の間に流れる負過電流は測
定電極２の電圧の形で検出され、この検出電圧と測定電
圧とが位相比較回路６に入力される。位相比較回路６は
両電圧に位相差に応じた幅のパルスで電圧を出力するよ
うに構成されており、表示部７は指針式メータや信号音
または断続音発生器、断続発光器などの適宣のものが使
用され、位相比較回路６から出力されるパルス信号のパ
ルス幅に応じて駆動されるようになっている。
を測定電圧として発生し、これを電流制限抵抗５を介し
てリーマ、ファイル等の測定電極２に印加するものであ
る。測定電極２と口腔電極３の間に流れる負過電流は測
定電極２の電圧の形で検出され、この検出電圧と測定電
圧とが位相比較回路６に入力される。位相比較回路６は
両電圧に位相差に応じた幅のパルスで電圧を出力するよ
うに構成されており、表示部７は指針式メータや信号音
または断続音発生器、断続発光器などの適宣のものが使
用され、位相比較回路６から出力されるパルス信号のパ
ルス幅に応じて駆動されるようになっている。
第２図において、Ａは繰り返し信号発生回路４から出
力される測定電圧波形であり、Ｂは検出された負過電流
波形で、B1及びB2は測定電極２の先端2aがそれぞれ歯頚
部及び根尖付近に位置している時の波形である。またＣ
は位相比較回路６の出力波形で、C1及びC2は電極２の先
端2aがそれぞれ歯頚部及び根尖付近に位置している時の
波形を示している。第１図のA,B,Cはこれらの各信号波
形に対応している。
力される測定電圧波形であり、Ｂは検出された負過電流
波形で、B1及びB2は測定電極２の先端2aがそれぞれ歯頚
部及び根尖付近に位置している時の波形である。またＣ
は位相比較回路６の出力波形で、C1及びC2は電極２の先
端2aがそれぞれ歯頚部及び根尖付近に位置している時の
波形を示している。第１図のA,B,Cはこれらの各信号波
形に対応している。
両電極2,3間の等価回路が抵抗とコンデンサの並列回
路とみなされるため、図のように測定電圧波形Ａが正弦
波である場合、負過電流波形B1及びB2は同じ正弦波とな
ってもその位相がコンデンサの容量に応じて異なったも
のとなる。このため、電極２の先端2aが根尖付近に近づ
いて等価インピーダンスの容量成分が増大すると波形Ａ
に対する負荷電流波形の位相のずれは大きくなり、位相
比較回路６の出力波形C2はその位相差に応じてC1よりも
パルス幅が大きくなる。従って、表示部７の表示内容、
例えば指針の振れはこれに応じて大きくなり、その振れ
によって根尖に到達したことが表示されるのである。
路とみなされるため、図のように測定電圧波形Ａが正弦
波である場合、負過電流波形B1及びB2は同じ正弦波とな
ってもその位相がコンデンサの容量に応じて異なったも
のとなる。このため、電極２の先端2aが根尖付近に近づ
いて等価インピーダンスの容量成分が増大すると波形Ａ
に対する負荷電流波形の位相のずれは大きくなり、位相
比較回路６の出力波形C2はその位相差に応じてC1よりも
パルス幅が大きくなる。従って、表示部７の表示内容、
例えば指針の振れはこれに応じて大きくなり、その振れ
によって根尖に到達したことが表示されるのである。
以上は根尖に近づくと位相のずれが大きくなる例であ
るが、逆にずれが小さくなるようにしたものを第３図及
び第４図に示す。この例では第３図のように抵抗５と測
定電極２との間に補償用コンデンサCcを挿入している。
このため、根管上部では測定電極２の電圧は根管内の容
量成分の影響を受けず、コンデンサCcによる進相電流の
ため位相が進む。しかし、根尖に近づくと根管内の容量
成分が増大して電流が進む（検出される測定電極２の電
圧は遅れる）ようになり、位相のずれが小さくなる。従
って、コンデンサCcや抵抗５の値を適切に選定しておけ
ば、ずれがゼロになることによって根尖位置を検出でき
ることになるのである。
るが、逆にずれが小さくなるようにしたものを第３図及
び第４図に示す。この例では第３図のように抵抗５と測
定電極２との間に補償用コンデンサCcを挿入している。
このため、根管上部では測定電極２の電圧は根管内の容
量成分の影響を受けず、コンデンサCcによる進相電流の
ため位相が進む。しかし、根尖に近づくと根管内の容量
成分が増大して電流が進む（検出される測定電極２の電
圧は遅れる）ようになり、位相のずれが小さくなる。従
って、コンデンサCcや抵抗５の値を適切に選定しておけ
ば、ずれがゼロになることによって根尖位置を検出でき
ることになるのである。
次に、第５図及び第６図により単発波形の測定電圧を
用い、過渡現象によって生ずる測定電圧と負過電流の波
形のずれを検出するようにした第２の実施例について説
明する。第５図はブロック図、第６図は波形の説明図で
ある。
用い、過渡現象によって生ずる測定電圧と負過電流の波
形のずれを検出するようにした第２の実施例について説
明する。第５図はブロック図、第６図は波形の説明図で
ある。
図において、11は単発波形発生回路、12はタイミング
コントローラ、13はメモリ、14は波形比較回路、15はＡ
−Ｄ変換器であり、他は第１図と同様である。
コントローラ、13はメモリ、14は波形比較回路、15はＡ
−Ｄ変換器であり、他は第１図と同様である。
単発波形発生回路11は例えば第６図の波形Ｄのように
正確な傾きと振幅を持つ三角波を測定電圧として発生す
るように構成され、この三角波が抵抗５を介して測定電
極２に印加される。Ａ−Ｄ変換器15は負荷電流に対応し
て測定電極２に発生する電圧、すなわち負荷電流波形Ｅ
をタイミングコントローラ12の制御のもとに所定の単位
時間ごとにＡ−Ｄ変換し、各時刻T1〜T6の波高値を記録
するように構成されている。また、メモリ13には電極２
の先端2aが根尖1bに到達した時に得られる負荷電流波形
の各時刻T1〜T6の波高値を基準データとして記憶してお
り、波形比較回路14はこのメモリ13の基準データとＡ−
Ｄ変換器15で得られた負荷電流波形Ｅとを比較し、比較
結果に応じた信号電圧を出力するように構成されてい
る。
正確な傾きと振幅を持つ三角波を測定電圧として発生す
るように構成され、この三角波が抵抗５を介して測定電
極２に印加される。Ａ−Ｄ変換器15は負荷電流に対応し
て測定電極２に発生する電圧、すなわち負荷電流波形Ｅ
をタイミングコントローラ12の制御のもとに所定の単位
時間ごとにＡ−Ｄ変換し、各時刻T1〜T6の波高値を記録
するように構成されている。また、メモリ13には電極２
の先端2aが根尖1bに到達した時に得られる負荷電流波形
の各時刻T1〜T6の波高値を基準データとして記憶してお
り、波形比較回路14はこのメモリ13の基準データとＡ−
Ｄ変換器15で得られた負荷電流波形Ｅとを比較し、比較
結果に応じた信号電圧を出力するように構成されてい
る。
すなわち、電極２の先端2aが例えば歯頚部に位置して
いる時の負荷電流波形E1は、等価インピーダンスの容量
成分がほとんどないため測定電圧波形Ｄと同等な三角波
となり、基準データとの形状のずれが大きくて波形比較
回路14の出力は小さい。しかし、電極２の先端2aが根尖
付近に近づいて等価インピーダンスの容量成分が増大す
ると過渡現象の影響によって負荷電流波形E2は基準デー
タの波形とずれが小さくなり、波形比較回路14の出力が
増大する。従って表示部７では例えば指針の振れが増大
し、波形が一致したこと、すなわち電極２の先端2aが根
尖に到達したことが表示されるのである。
いる時の負荷電流波形E1は、等価インピーダンスの容量
成分がほとんどないため測定電圧波形Ｄと同等な三角波
となり、基準データとの形状のずれが大きくて波形比較
回路14の出力は小さい。しかし、電極２の先端2aが根尖
付近に近づいて等価インピーダンスの容量成分が増大す
ると過渡現象の影響によって負荷電流波形E2は基準デー
タの波形とずれが小さくなり、波形比較回路14の出力が
増大する。従って表示部７では例えば指針の振れが増大
し、波形が一致したこと、すなわち電極２の先端2aが根
尖に到達したことが表示されるのである。
なお、この実施例では測定電圧が単発波形となってい
るが、測定電圧が繰り返し波形であっても同様な処理に
よって検出することができる。
るが、測定電圧が繰り返し波形であっても同様な処理に
よって検出することができる。
この方式を発展させ、単発波形の波高値や波形形状に
よって根尖位置を確認するようにしたものが請求項４の
発明であり、第７図はその実施例における波形の説明図
である。ここでは測定電圧として傾きが異なり、波高値
の等しい２個の三角波形F,F′を一組で使用し、負荷電
流として各三角波形F,F′に対応した波形G,G′のピーク
波高値を検出して比較してる。
よって根尖位置を確認するようにしたものが請求項４の
発明であり、第７図はその実施例における波形の説明図
である。ここでは測定電圧として傾きが異なり、波高値
の等しい２個の三角波形F,F′を一組で使用し、負荷電
流として各三角波形F,F′に対応した波形G,G′のピーク
波高値を検出して比較してる。
すなわち、電極２の先端2aが例えば歯頚部に位置して
いる時は、等価インピーダンスはほとんど抵抗成分のみ
であるから、その時の波形G1，G2′のピーク波高値に差
は生じない。しかし、根尖付近に近づいて容量成分が支
配的になると三角波形の傾きに応じて過渡現象が異なっ
たものとなるので、波形はG2，G2′のようにピーク波高
値に差が生ずるようになる。そこで、この現象を利用す
れば位相差や波形形状のずれを利用した場合と同様に根
尖位置を検出できるのである。
いる時は、等価インピーダンスはほとんど抵抗成分のみ
であるから、その時の波形G1，G2′のピーク波高値に差
は生じない。しかし、根尖付近に近づいて容量成分が支
配的になると三角波形の傾きに応じて過渡現象が異なっ
たものとなるので、波形はG2，G2′のようにピーク波高
値に差が生ずるようになる。そこで、この現象を利用す
れば位相差や波形形状のずれを利用した場合と同様に根
尖位置を検出できるのである。
なお、２個一組の単発波形は容量性インピーダンスに
よって生ずる過渡現象が異なるものであればよく、上記
の実施例のようにピーク波高値を比較せず、波形の形状
の差を比較することにより根尖位置を検出することもで
きる。
よって生ずる過渡現象が異なるものであればよく、上記
の実施例のようにピーク波高値を比較せず、波形の形状
の差を比較することにより根尖位置を検出することもで
きる。
〈発明の効果〉 上記の実施例の説明からも明らかなように、この発明
は測定電極の先端が根尖付近に達して等価インピーダン
スの容量成分が増大すると、電圧に対する電流の位相や
過渡現象による電流波形が変化するという簡単な動作原
理に基づき、電圧波形と電流波形の間の位相あるいは波
形のずれによつて根尖位置を検出するようにしたもので
ある。
は測定電極の先端が根尖付近に達して等価インピーダン
スの容量成分が増大すると、電圧に対する電流の位相や
過渡現象による電流波形が変化するという簡単な動作原
理に基づき、電圧波形と電流波形の間の位相あるいは波
形のずれによつて根尖位置を検出するようにしたもので
ある。
従って、乾燥状態か湿潤状態か、また薬液や血液が存
在しているか否か等の根管内の状態に左右されず、常に
安定した測定が可能となり、また根尖孔の直径やリーマ
等の測定電極の太さ等の外部要素の影響による誤差がな
く、測定の都度煩わしいキャリブレーションを行う必要
もなくなる。また回路構成が簡単であるため小型化、低
消費電力化が可能となり、バッテリを電源とするこの種
の装置として適したものを得ることが容易となる。
在しているか否か等の根管内の状態に左右されず、常に
安定した測定が可能となり、また根尖孔の直径やリーマ
等の測定電極の太さ等の外部要素の影響による誤差がな
く、測定の都度煩わしいキャリブレーションを行う必要
もなくなる。また回路構成が簡単であるため小型化、低
消費電力化が可能となり、バッテリを電源とするこの種
の装置として適したものを得ることが容易となる。
このように、この発明によれば前述した公報記載の抵
抗検出方式やインピーダンス検出方式における諸問題を
解決することができ、構成が簡単であると共に操作が容
易で臨床的に使いやすい根管長測定器を得ることが可能
となるのである。
抗検出方式やインピーダンス検出方式における諸問題を
解決することができ、構成が簡単であると共に操作が容
易で臨床的に使いやすい根管長測定器を得ることが可能
となるのである。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図はそ
の波形の説明図、第３図及び第４図は一実施例の変形例
のブロック図及び波形の説明図、第５図は他の実施例の
ブロック図、第６図はその波形の説明図、第７図は別の
発明の一実施例の波形の説明図、第８図は従来の装置に
おけるキャリブレーションの説明図である。 １……歯牙、1a……根管、1b……根尖、２……測定電
極、2a……先端、３……口腔電極、４……繰り返し信号
発生回路、５……電流制御抵抗、６……位相比較回路、
７……表示部、11……単発波形発生回路、12……タイミ
ングコントローラ、13……メモリ、14……波形比較回
路、15……Ａ−Ｄ変換器。
の波形の説明図、第３図及び第４図は一実施例の変形例
のブロック図及び波形の説明図、第５図は他の実施例の
ブロック図、第６図はその波形の説明図、第７図は別の
発明の一実施例の波形の説明図、第８図は従来の装置に
おけるキャリブレーションの説明図である。 １……歯牙、1a……根管、1b……根尖、２……測定電
極、2a……先端、３……口腔電極、４……繰り返し信号
発生回路、５……電流制御抵抗、６……位相比較回路、
７……表示部、11……単発波形発生回路、12……タイミ
ングコントローラ、13……メモリ、14……波形比較回
路、15……Ａ−Ｄ変換器。
Claims (4)
- 【請求項１】測定電極と口腔電極との間のインピーダン
スの変化から根尖位置を検出する装置であって、 測定電極と口腔電極の間に連続で、あるいは所定の間隔
で測定電圧を繰り返し印加する測定信号出力手段と、印
加された測定電圧の波形と両電極間に流れる負荷電流の
波形とを比較する比較手段とを備え、測定電極の先端が
根尖付近に達して上記電圧波形と電流波形とのずれの状
態が変化することを比較手段で検知して根尖位置を検出
することを特徴とする根尖位置検出装置。 - 【請求項２】測定電圧が繰り返し波形であり、比較手段
が測定電圧と負荷電流との位相のずれを検出するもので
ある請求項１記載の根尖位置検出装置。 - 【請求項３】測定電圧が単発波形または繰り返し波形で
あり、比較手段が測定電圧と負荷電流の波形の変化を検
出するものである請求項１記載の根尖位置検出装置。 - 【請求項４】測定電極と口腔電極との間のインピーダン
スの変化から根尖位置を検出する位置であって、 測定電極と口腔電極の間に容量成分を含むインピーダン
スによって生ずる過渡現象が異なる少なくとも２個の単
発波形を一組とした測定電圧を繰り返し印加する測定信
号出力手段と、両電極間に流れる負荷電流の同じ組の波
形を比較する比較手段とを備え、測定電極の先端が根尖
付近に達して上記同じ組の負荷電流の波形に変化が生ず
ることを比較手段で検知して根尖位置を検出することを
特徴とする根尖位置検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2186330A JP2873726B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 根尖位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2186330A JP2873726B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 根尖位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0473056A JPH0473056A (ja) | 1992-03-09 |
| JP2873726B2 true JP2873726B2 (ja) | 1999-03-24 |
Family
ID=16186461
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2186330A Expired - Fee Related JP2873726B2 (ja) | 1990-07-13 | 1990-07-13 | 根尖位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2873726B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH07246210A (ja) * | 1994-03-10 | 1995-09-26 | Konuki Shin | 歯科用診断装置 |
-
1990
- 1990-07-13 JP JP2186330A patent/JP2873726B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0473056A (ja) | 1992-03-09 |
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