JP2870480B2 - セラミック配線基板の製造方法 - Google Patents

セラミック配線基板の製造方法

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JP2870480B2 JP8115653A JP11565396A JP2870480B2 JP 2870480 B2 JP2870480 B2 JP 2870480B2 JP 8115653 A JP8115653 A JP 8115653A JP 11565396 A JP11565396 A JP 11565396A JP 2870480 B2 JP2870480 B2 JP 2870480B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、セラミック配線基
板の製造方法に関し、特に焼成方法に関する。
【0002】
【従来の技術】この種の従来のセラミック配線基板の製
造方法については、例えば刊行物(大塚寛治著、「セラ
ミック多層配線基板」、1987年 内田老鶴圃発行、
3ページ、図1.1)等が参照される。
【0003】従来の一般的なセラミック配線基板の焼成
方法においては、図3に示すように、「セッター」と呼
ぶセラミック製の台32の上に生セラミック体を載せて
焼成を行う。この際の焼成炉の温度は、図5に示すよう
に制御されている。
【0004】図5を参照して、初めに200℃程度での
脱バインダ工程を基板の大きさにより1時間から5時間
程度行い、次に約1600℃程度で焼結工程を1時間程
度行う。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来のセラミ
ック配線基板の焼成方法の問題点は、焼成の際ほぼ一定
の割合で収縮が起こることである。このため、焼成前の
生セラミック体を予め収縮量を見込んだ大きさに作る
が、基板内および基板間の収縮量のバラツキが発生す
る。
【0006】このバラツキにより、この後の工程である
基板上の回路パターン形成時にスルーホールの位置ずれ
が起きることが避けられない。
【0007】従って、本発明は、上記事情に鑑みて為さ
れたものであって、その目的は、セラミック配線基板焼
成時の収縮を無くし、精度の高いセラミック配線基板の
製造方法を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係るセラミック配線基板の製造方法は、焼
成工程において、生セラミック体に多孔質セラミックで
圧力を加えながらバインダ成分を燃焼させる工程と、上
記セラミックを焼結させる工程と、を含む。
【0009】上記した本発明に係るセラミック配線基板
の製造方法においては、生セラミック体に多孔質セラミ
ックの表面に微小くぼみを形成したもので圧力を加えな
がらバインダ成分を燃焼させる。
【0010】本発明による方法によれば、セラミックの
焼成による収縮が起きないため、後工程である配線形成
時にずれの発生が起きない。
【0011】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態について図面
を参照して説明する。図1は、本発明の第1の実施の形
態に係るセラミック配線基板の焼成方法を模式的に示し
たものである。また、図3は、本発明の第1の実施の形
態における脱バインダ工程を説明するための図である。
【0012】本発明の第1の実施の形態においては、図
3に示すように、セラミック配線基板の焼成工程は、生
セラミック体31に含まれる気化可能なバインダ成分を
燃焼させる脱バインダ工程と、図1に示すように、この
脱バインダ工程を経た生セラミック体11を厚さ方向に
重し13で加圧した状態にて焼結させる工程と、を含
む。
【0013】図2は、本明の第2の実施の形態の焼成方
法を模式的に示したものである。本発明の第2の実施の
形態においては、図2に示すように、セラミック配線基
板の焼成工程は、生セラミック体21に多孔質セラミッ
ク23で圧力を加えながらバインダ成分を燃焼させる工
程、及び、セラミックを焼結させる工程を含む。その
際、この多孔質セラミック23は好ましくは表面に微小
くぼみ25を備える。
【0014】本発明の実施例を、図1〜図5を参照して
以下に説明する。なお、図4は、本発明の第1の実施例
による焼成の際の温度プロファイルを示したものであ
る。図5は、一般的な焼成および本発明の第2の実施例
による際の温度プロファイルを示した図である。
【0015】次に、本発明の実施例として、本発明の実
施例により製造した多層配線セラミック基板の製造プロ
セスを順を追って説明する。
【0016】始めに、グリーンシートの形成を行う。ま
ずアルミナの粉末と固形化のためのバインダとの混合粉
に分散剤、可塑剤等の有機溶剤を加えて混合し、十分に
攪拌しスラリー化する。
【0017】バインダとしては、好ましくはセルロース
系(メチルセルロース、エチルセルロース)、ポリビニ
ルアルコール、アクリル系、ポリビニルブチラール等が
主に用いられる。分散剤としては、好ましくは非イオン
系界面活性剤が、可塑剤としては、好ましくはジブチル
フタレート、ジオクチルフタレート、グリセリン等が用
いられる。
【0018】グリーンシートを作成する方法としてはい
くつかあるが、ここでは薄いシートを形成するのに適し
ているドクターブレード法によっている。この方法は、
上記のスラリーを「ドクターブレード」と呼ばれるナイ
フと連続したフィルムとのギャップによってキャスティ
ングを行い、乾燥させ、フィルム上にグリーンシートを
形成する方法である。この方法では、シート厚は約0.
03〜1mm程度の間で形成可能である。
【0019】本実施例では、シート厚を約0.2mmと
し、キャスティングの幅は約160mmとした。この連
続シートを、約150mm□の大きさに切り、方形のグ
リーンシートとする。
【0020】次に、グリーンシートにスルーホール孔を
予め定められた所定の位置に形成する。この方法は、パ
ソコン等の情報処理装置で制御されたNC機構を有し、
ピンと金型を組み合わせる装置により自動化されてい
る。これにより、いくつもの様々なデジタルデータを入
力することにより、多品種生産に対応できる。なお、孔
径は約0.25mmとし、孔のピッチは約2mmとす
る。
【0021】スルーホール孔形成の後、スクリーンによ
るり厚膜印刷法でスルーホール中への導体ペーストの埋
込みを行い、スルーホールを形成する。
【0022】この後、所定のスルーホール間を結ぶため
のシート表面の配線ライトパターンの形成を行う。パタ
ーン形成は、スルーホール中への埋込み同様にスクリー
ンを用いた厚膜印刷による。
【0023】これらの配線形成に用いる印刷ペースト材
料には、セラミックの焼成温度を考慮し、融点の高いタ
ングステン(W)やモリブデン(Mo)を用いている。
信号配線の配線幅、膜厚はそれぞれ0.2mm、0.0
1mmである。
【0024】上述したシート、スルーホール径及びピッ
チ、配線ラインの幅及び膜厚等の寸法は、従来の方法で
は、焼成時の収縮を考慮して予め一定の拡大率を乗じた
寸法としている。
【0025】これに対して、本発明に係る焼成方法で
は、収縮が生じないため、これらの焼成前の寸法は、焼
成後の所望の寸法そのものでよい。
【0026】このように、スルーホールと配線ラインを
形成した複数枚のグリーンシートをずれの無いように所
定の順番に積層を行う。このときの位置合わせは十分な
精度が要求される。
【0027】この後、熱圧着により複数シートの一体化
形成を行いセラミック生積層体基板を得る。本実施例に
係る基板では、10枚のシートを積層した。
【0028】これを、適当な排気機構を有する炉中で水
素等の不活性気体雰囲気にて脱バインダおよび焼成を行
う。焼成炉は、例えば電気ヒータを用いたバッチ炉が用
いられる。
【0029】初めに、生積層体基板の脱バインダ工程を
行う。この時のセッティングの様子を図3に示す。セラ
ミック製の「セッター」と呼ばれる板32の上に生積層
体であるセラミック配線基板31を載せる。
【0030】このときの代表的な温度プロファイルの一
例を、図4の脱バインダ工程温度プロファイル41に示
す。
【0031】図4を参照して、初めの時間間隔t1の間
にバインダを燃焼気化させるに十分であるように、温度
を常温から約250度まで制御された速度で上昇させ
る。そして続く時間間隔t2によって燃焼を完全なもの
にする。この後自然冷却する。
【0032】t1、t2の最適な値は、基板の厚さや大
きさに大きく依存するため一概には決められないが、本
実施例の基板においては、t1=約1時間、t2=約1
0分とした。この工程では、有機物であるバインダが燃
焼し、多量のガスが放出される。なお、この工程ではセ
ラミックの収縮は起きない。
【0033】その後、一旦、焼成炉は停止して常温まで
冷やし、図1のようなセッティングにて、焼成工程を行
う。図1を参照して、本実施例では、図3に示したセッ
ティング状態に加えて、重し13を基板11上に載せ、
重し13が焼成途中で落ちないように枠14を嵌めてい
る。重し13と枠14の材料は、セッター12の材料同
様にセラミックとされている。
【0034】このときの代表的な温度プロファイルの一
例を、図4に、焼成工程温度プロファイル42として示
す。
【0035】図4を参照して、初めの時間間隔t3の間
にセラミックおよび配線金属を焼結させるため制御され
た速度で約1600度まで上昇させる。さらに、焼結に
必要な時間間隔t4の後自然冷却する。t1、t2と同
様、t3、t4の値も基板の厚さや大きさに大きく依存
する。本実施例の基板では、t3=約10時間、t4=
約1時間とした。
【0036】重し13を載せない一般の焼成方法では、
この工程で10%から20%程度の収縮が起きるが、本
実施例に係る焼成工程では、収縮は厚さ方向にのみ起こ
り、縦横方向の収縮は生じない。その際、重し13の重
量として、セラミック配線基板11の1平方cm当たり
好ましくは0.1kgから0.5kg程度以上とした。
重し13がこれよりも軽いと、基板破壊が起き易い。
【0037】なお、脱バインダ工程では、有機物が燃焼
する際に多量のガスが放出され、これを排気するため、
重しを載せることはできない。
【0038】このようにして、焼成時収縮の起きないセ
ラミック配線基板を得る。
【0039】次に、本発明の第2の実施例の焼成方法に
ついて説明する。
【0040】上記した第1の実施例の焼成方法において
は、脱バインダ工程と、焼成工程と、の2段階の工程と
され、炉を途中で一旦停止する必要があったが、本発明
の第2の実施例では、これを一度に行い、リードタイム
を短縮するようにしたものである。
【0041】すなわち、本実施例では、図2に示すよう
に、セッター22および重し23を多孔質セラミック材
料で作成する。このような重しを用いたことにより、有
機物の燃焼ガスの排気を十分に行うことができ、脱バイ
ンダ工程と焼成工程とを分ける必要がなく、一度に行う
ことができる。
【0042】そして、図2に示すように、セッター22
および重し23の表面に、微小くぼみ25を形成する
と、排気がさらに十分になる。
【0043】図5に、この際の温度プロファイルの代表
的な例を示す。本実施例においては、図4に示した第1
の実施例のように、工程が分離しておらず、セラミック
基板の脱バインダ焼成としてごく一般的なものとなる。
なお、図5におけるt1、t2、t3、t4は、図4に
示したものと同様である。
【0044】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による方法
は、セラミック基板の焼成による収縮が起きないため、
後工程である配線形成時にずれの発生がなく、信頼性の
高い配線形成ができるという効果を有する。また、請求
項2記載の発明によれば、途中で炉を停止する必要がな
いため、一般的なセラミックの焼成方法と変わらない焼
成時間で行うことができるという利点を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例における焼成工程を示す
図である。
【図2】本発明の第2の実施例の製造方法を示す図であ
る。
【図3】本発明の第1の実施例における脱バインダ工程
を説明する図であり、且つ従来技術を説明するために用
いた図である。
【図4】本発明の第1の実施例の温度プロファイルを示
した図である。
【図5】本発明の第2の実施例(及び従来技術)におけ
る温度プロファイルを示した図である。
【符号の説明】
11 セラミック配線基板 12 セッター 13 重し 14 枠 21 セラミック配線基板 22 多孔質セッター 23 多孔質重し 24 枠 31 セラミック配線基板 32 セッター 41 脱バインダ工程温度プロファイル 42 焼成工程温度プロファイル
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) H05K 3/46,3/12 C04B 35/645

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】セラミック配線基板の焼成工程において、 生セラミック体に多孔質セラミックの表面に微小くぼみ
    を形成したもので圧力を加えながらバインダ成分を燃焼
    させる工程と、セラミックを焼結させる工程と、を含む
    ことを特徴とするセラミック配線基板の製造方法。
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