JP2861338B2 - Optical inspection equipment - Google Patents
Optical inspection equipmentInfo
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- Paper (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】 《産業上の利用分野》 本発明は、撮像手段を用いた光学式検査装置に関し、
特に紙、金属板、プラスチックフィルム、布等のシート
状の被検査物の欠陥検査と地合検査の如き仕上がり具合
検査とを行う光学式検査装置に関するものである。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION << Industrial application field >> The present invention relates to an optical inspection apparatus using an imaging means,
In particular, the present invention relates to an optical inspection apparatus that performs a defect inspection of a sheet-like inspection object such as a paper, a metal plate, a plastic film, and a cloth, and a finish condition inspection such as a formation inspection.
《従来の技術》 紙の製造工程に於ける検査には、孔、汚れ等の欠陥の
有無を検査する欠陥検査と、紙繊維の絡み合い度合、分
散度合等の地合を検査する地合検査とがあり、この種の
検査を行う検査装置として、CCDカメラ(CCDイメージセ
ンサ)の如き撮像装置を用い、裁断前のロール紙を走行
させた状態にて固定の撮像装置により紙表面を撮像し、
その映像信号の信号処理によってそれら検査を光学的に
行うよう構成されたものが知られている。この種の検査
装置は、例えば、特開平2-82144号、特開平2-90047号の
各公報に示されている。<< Conventional Technology >> In the paper manufacturing process, there are two types of inspection: defect inspection to check for defects such as holes and dirt, and formation inspection to check the degree of paper fiber entanglement and dispersion. As an inspection device for performing this type of inspection, an imaging device such as a CCD camera (CCD image sensor) is used, and an image of the paper surface is captured by a fixed imaging device while the roll paper before cutting is running.
There is known a configuration in which the inspection is performed optically by signal processing of the video signal. This type of inspection apparatus is disclosed in, for example, JP-A-2-82144 and JP-A-2-90047.
《発明が解決しようとする課題》 上述の如き紙の欠陥検査に於いては、面状の二次元画
像データは必要ではなく、紙の走行方向を横切る方向、
即ち紙の幅方向に沿う線状の一次元画像データとしての
映像データが得られればよいが、しかし紙全域に亘って
孔、汚れ等の欠陥の有無を検査するために、紙の幅方向
の全域に亘って、また紙の走行方向に対し連続して隙間
なく紙表面を撮像する必要がある。従って欠陥検査に於
いては、撮像装置は走行する紙を幅方向全域の一次元画
像として連続撮像するリニアCCDカメラの如きリニア撮
像装置であってよい。<< Problems to be Solved by the Invention >> In the above-described paper defect inspection, planar two-dimensional image data is not necessary, and a direction transverse to the paper traveling direction is not necessary.
That is, it is only necessary to obtain video data as linear one-dimensional image data along the width direction of the paper. However, in order to inspect for defects such as holes and dirt over the entire area of the paper, It is necessary to take an image of the paper surface over the entire area and continuously without any gap in the paper traveling direction. Therefore, in the defect inspection, the imaging device may be a linear imaging device such as a linear CCD camera that continuously captures a running paper as a one-dimensional image over the entire width direction.
これに対し上述の如き紙の地合検査に於いては、必ず
しも紙の走行方向を横切る方向、即ち紙の幅方向の全域
に亘って、また紙の走行方向に対し連続して隙間なく紙
表面を撮像する必要はないが、しかし、静止画像として
の面状の二次元画像データを得るための映像データが必
要であり、このため地合検査に於いては、シャッタ付き
のエリアCCDカメラの如きシャッタ付きエリア撮像装
置、或はストロボ式照明装置とエリア撮像装置とが必要
になり、装置が大がかりなものになる。On the other hand, in the paper formation inspection as described above, the paper surface is not necessarily in a direction transverse to the paper running direction, that is, over the entire area in the width direction of the paper, and continuously in the running direction of the paper without any gap. Although it is not necessary to take images, however, video data for obtaining planar two-dimensional image data as a still image is necessary. Therefore, in the formation inspection, such as an area CCD camera with a shutter is used. An area imaging device with a shutter or a strobe lighting device and an area imaging device are required, and the device becomes large-scale.
また、地合検査に於いては、欠陥部分を画像データを
含む映像データが取り込まれると、欠陥像の画像データ
からして地合検査のためのデータが誤ったものになる。
例えば、透かし地合検査に於いて、濃淡信号を適当な弁
別レベルにて二値化して濃淡を面積割合でグラフ表示す
る場合や、濃度をヒストグラムにて表示する場合には、
透かし地合が同一であっても、第6図、第7図に示され
ている如く、その表示結果が相違するようになる。Further, in the formation inspection, when video data including image data of a defective portion is taken in, data for the formation inspection becomes erroneous based on the image data of the defect image.
For example, in the watermark formation inspection, when the grayscale signal is binarized at an appropriate discrimination level and the grayscale is displayed as a graph of the area ratio, or when the density is displayed as a histogram,
Even if the watermark formation is the same, the display results will be different as shown in FIGS. 6 and 7.
尚、第6図、第7図に於いて、(a)は紙の所定面積
による静止二次元画像を、(b)は濃淡信号を適当な弁
別レベルにて二値化する要領を、(c)は濃淡信号を適
当な弁別レベルにて二値化した場合の濃淡の面積割合を
示すでグラフ表示例を、(d)は濃度をヒストグラムに
て表示する場合の表示例を各々示している。In FIGS. 6 and 7, (a) shows a static two-dimensional image with a predetermined area of paper, (b) shows how to binarize a grayscale signal at an appropriate discrimination level, and (c) () Shows a graph display example in which the density ratio is binarized at an appropriate discrimination level, and (d) shows a display example in which the density is displayed in a histogram.
このため従来は、第6図(a)、第7図(a)に示さ
れいる如き画面表示をもって欠陥の有無を確認しつつ地
合検査を行う必要があった。For this reason, conventionally, it was necessary to perform the formation inspection while confirming the presence / absence of a defect by using a screen display as shown in FIGS. 6 (a) and 7 (a).
本発明は、紙の地合検査の如く、面状の二次元静止画
像データとしての映像データを必要とする仕上がり具合
検査を、シャッタ付きのエリアCCDカメラの如きシャッ
タ付きエリア撮像装置、或はストロボ式照明装置とエリ
ア撮像装置とを必要とすることなく、リニアCCDカメラ
の如きリニア撮像装置の映像データにより行い、しかも
この映像データより欠陥検査も行い、更に地合検査のた
めのデータ処理、データ連続採集を自動的に行う光学式
検査装置を提供することを目的としている。The present invention provides a finishing condition inspection that requires video data as planar two-dimensional still image data, such as a paper formation inspection, by using an area imaging device with a shutter such as an area CCD camera with a shutter, or a strobe. Without the need for an illumination device and an area imager, the image data of a linear imager, such as a linear CCD camera, is used for inspection, and defect inspection is also performed from this image data. It is an object of the present invention to provide an optical inspection device that automatically performs continuous collection.
《課題を解決するための手段》 上述の如き目的は、本発明によれば、走行する被検査
物を幅方向の一次元画像として撮像するリニア撮像手段
と、前記リニア撮像手段よりの映像信号を所定の弁別レ
ベルにて二値化し、欠陥検出を行う欠陥検出手段と、前
記リニア撮像手段よりの映像信号を順次格納し、前記欠
陥検出手段により欠陥が検出された時にはメモリ内容を
クリアするメモリと、前記メモリに格納された映像信号
を順次取り出してこれの集まりより仕上がり具合検査の
ための二次元画像データ処理を行う画像処理手段とを有
していることを特徴とする光学式検査装置によって達成
される。<< Means for Solving the Problems >> According to the present invention, the object as described above is to provide a linear imaging unit that captures a moving inspection object as a one-dimensional image in a width direction, and a video signal from the linear imaging unit. A defect detection unit that performs binarization at a predetermined discrimination level and performs defect detection, and a memory that sequentially stores video signals from the linear imaging unit and clears memory contents when a defect is detected by the defect detection unit. Image processing means for sequentially taking out video signals stored in the memory and performing two-dimensional image data processing for a finish condition inspection from a collection of the video signals. Is done.
《作用》 上述の如き構成によれば、リニア撮像手段によって被
検査物を幅方向の一次元画像として撮像することにより
得られた映像信号が欠陥検出手段により所定の弁別レベ
ルにて二値化され、この二値化された二値信号によって
欠陥検出が行われ、また前記リニア撮像手段が被検査物
を幅方向の一次元画像として撮像することにより得られ
た映像信号がメモリに順次格納されることにより一フレ
ーム分の二次元画像の作成のために必要な映像信号が得
られ、これより静止画像としての面状の二次元画像デー
タが獲得され、紙の地合検査の如き仕上がり具合検査が
行われる。そして欠陥検出が行われた時には前記メモリ
の内容がクリアされ、欠陥像の映像データを含むデータ
によって地合検査のための画像処理およびこれの表示が
行われることが未然回避される。<< Operation >> According to the configuration as described above, the video signal obtained by imaging the inspection object as a one-dimensional image in the width direction by the linear imaging means is binarized at a predetermined discrimination level by the defect detection means. Defect detection is performed by the binarized binary signal, and video signals obtained by the linear imaging unit capturing the inspection object as a one-dimensional image in the width direction are sequentially stored in a memory. As a result, a video signal necessary for creating a two-dimensional image for one frame is obtained, and planar two-dimensional image data as a still image is obtained from this, and a finish condition inspection such as a paper formation inspection can be performed. Done. When the defect detection is performed, the contents of the memory are cleared, and the image processing for the formation check and the display thereof are prevented from being performed by the data including the video data of the defect image.
《実施例》 以下に添付の図を参照して本発明を実施例について詳
細に説明する。<< Example >> Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings with reference to examples.
第1図は本発明による光学式検査装置の全体構成の一
実施例を示している。本発明による光学式検査装置はリ
ニア撮像手段としてリニアCCDカメラ10を有している。
リニアCCDカメラ10は、被検査物である紙Pの幅方向の
全域に亘って、また所定の一定速度にて走行している紙
Pの走行方向に対し連続して隙間なく紙表面を撮像すべ
く、紙Pの上方に、紙Pの幅方向に所定間隔をおいて複
数個固定配置されている。紙Pの下方には、リニアCCD
カメラ10と対向して紙Pの幅方向の全域に亘って延在す
るスリット状の光源手段12が固定配置されている。FIG. 1 shows an embodiment of the overall configuration of an optical inspection apparatus according to the present invention. The optical inspection apparatus according to the present invention has a linear CCD camera 10 as linear imaging means.
The linear CCD camera 10 captures an image of the paper surface without gaps over the entire width of the paper P to be inspected and continuously in the running direction of the paper P running at a predetermined constant speed. To this end, a plurality of papers P are fixedly arranged above the paper P at predetermined intervals in the width direction of the paper P. Below the paper P, a linear CCD
A slit-shaped light source means 12 extending across the entire area of the paper P in the width direction facing the camera 10 is fixedly arranged.
リニアCCDカメラ10は、光源手段12より紙Pに照射さ
れた照射光を紙Pを透過した透過光として与えられ、こ
れの光量変化による光像を紙Pの幅方向の一次元画像と
して連続撮像し、光電変換による映像信号(第3図
(a)参照)を第2図に示されいる如き欠陥判別処理部
20と地合モニタ処理部30とに出力するようになってい
る。The linear CCD camera 10 is provided with the irradiating light applied to the paper P from the light source means 12 as transmitted light transmitted through the paper P, and continuously captures a light image due to a change in the light amount as a one-dimensional image in the width direction of the paper P. Then, a video signal (see FIG. 3 (a)) obtained by photoelectric conversion is converted into a defect discrimination processing unit as shown in FIG.
20 and the formation monitor processing unit 30.
欠陥判別処理部20と地合モニタ処理部30及びCRTの如
き表示器40は、第1図に示されている如き制御機器コン
ソールボックス14に設けられている。The defect discrimination processing unit 20, the formation monitoring processing unit 30, and the display 40 such as a CRT are provided in the control equipment console box 14 as shown in FIG.
次に第2図を用いて欠陥判別処理部20と地合モニタ処
理部30とについて説明する。欠陥判別処理部20は、弁別
部22と、大きさ判別部24と、欠陥検出出力インタフェー
ス部26とを有している。Next, the defect determination processing section 20 and the formation monitoring processing section 30 will be described with reference to FIG. The defect determination processing unit 20 includes a discrimination unit 22, a size determination unit 24, and a defect detection output interface unit 26.
弁別部22は、リニアCCDカメラ10より映像信号(第3
図(a)参照)を与えられ、これを、第3図(b)に示
されている如く、孔明き欠陥検出のための弁別レベルと
汚れ欠陥検出のための弁別レベルの各々をもって第3図
(c)、(d)に示されている如く、二値化し、これを
大きさ判別部24へ出力するようになっている。The discrimination unit 22 receives a video signal (the third signal) from the linear CCD camera 10.
(See FIG. 3 (a)), which is shown in FIG. 3 (b) with a discrimination level for detecting a hole defect and a discrimination level for detecting a dirt defect. As shown in (c) and (d), the image data is binarized and output to the size determination unit 24.
尚、第3図(c)は孔明き欠陥信号を、第3図(d)
は汚れ欠陥信号を各々示している。FIG. 3 (c) shows a hole defect signal, and FIG. 3 (d)
Indicates a stain defect signal.
大きさ判別部24は、ビデオ周波数クロックにより定め
られた幅方向の感度(しきい値)と紙Pの走行距離パル
スにより定められた長さ方向(走行方向)の感度(しき
い値)に基づいて前記孔明き欠陥信号或は前記汚れ欠陥
信号のハイレベル持続時間を監視し、これが所定のしき
い値以上である場合には一致出力として欠陥検出信号を
インタフェース部26へ出力するようになっている。The size discriminating unit 24 is based on the sensitivity (threshold) in the width direction determined by the video frequency clock and the sensitivity (threshold) in the length direction (running direction) determined by the travel distance pulse of the paper P. The high-level duration of the perforated defect signal or the dirt defect signal is monitored, and if this is equal to or greater than a predetermined threshold, a defect detection signal is output to the interface unit 26 as a coincidence output. I have.
地合モニタ処理部30は、A/D変換器32と、メモリ34
と、画像処理部36とを有している。The formation monitor processing unit 30 includes an A / D converter 32 and a memory 34.
And an image processing unit 36.
A/D変換器32は、リニアCCDカメラ10が紙Pを幅方向の
一次元画像として撮像することにより得られた映像信号
をリニアCCDカメラ10より与えられ、これを多階調の重
みを有するディジタル信号に変換し、このディジタル信
号を順次メモリ34へ出力するようになっている。The A / D converter 32 is provided with a video signal obtained by the linear CCD camera 10 capturing the paper P as a one-dimensional image in the width direction from the linear CCD camera 10 and has a multi-gradation weight. The digital signals are converted into digital signals, and the digital signals are sequentially output to the memory 34.
メモリ34は、欠陥判別処理部20より欠陥検出信号を与
えられない限り多階調の重みを有するディジタル信号を
取り込んで、これを一フレーム毎に所定フレーム分、順
次格納し、これに対し欠陥判別処理部20より欠陥検出信
号を与えられた時には現在の一フレーム分のメモリ内容
をデリートによりクリアするようになっている。これに
よりメモリ34には欠陥像を含まない二次元画像としての
地合データのみが採集保存される。The memory 34 fetches a digital signal having weights of multiple gradations unless a defect detection signal is given from the defect determination processing section 20 and sequentially stores the digital signal for every predetermined frame for each frame. When a defect detection signal is given from the processing unit 20, the current memory contents for one frame are cleared by delete. Thus, only formation data as a two-dimensional image that does not include a defect image is collected and stored in the memory 34.
画像処理部36は、外部よりデータ作成信号を与えられ
ることによりメモリ34に格納された多階調の重みを有す
るディジタル信号を一フレーム分、順次取り出し、これ
の集まりより、静止画像としての面状の二次元画像デー
タを得て紙Pの地合検査のために必要な画像処理、例え
ば、輪郭強調処理、濃淡強調処理、周波数分析処理、そ
の他特徴量抽出処理等を行い、これら処理後の画像表示
信号をCRTの如き表示器40へ出力するようになってい
る。尚、この紙Pの地合検査のために必要な画像処理
は、特開平2-82144号公報に示されている如き要領と実
質的に同一の要領にて行われてよい。The image processing unit 36 sequentially receives one frame of digital signals having multi-tone weights stored in the memory 34 by receiving a data creation signal from the outside, and obtains a planar image as a still image from the collection of the digital signals. And performs image processing necessary for the formation inspection of the paper P, such as contour enhancement processing, shading enhancement processing, frequency analysis processing, and other feature amount extraction processing. The display signal is output to a display 40 such as a CRT. The image processing required for the formation inspection of the paper P may be performed in substantially the same manner as described in JP-A-2-82144.
表示器40は、画像処理部36より一フレーム分の画素表
示信号を与えられ、この画像表示信号に応じて、二次元
的な地合の濃淡画像表示、三次元的な濃度分布画像表
示、その他特徴量の画像表示を地合検査のために行うよ
うになっている。The display unit 40 is provided with a pixel display signal for one frame from the image processing unit 36, and in accordance with the image display signal, displays a two-dimensional shading image of a formation, a three-dimensional density distribution image display, and the like. Image display of the feature amount is performed for formation inspection.
画像処理部36が出力する画像表示信号は、表示器40以
外に、プリンタ42、メモリ44に与えられてもよく、この
場合は地合検査のための情報がプリンタ43により印刷さ
れ、またこれがメモリ44に保存されるようになる。The image display signal output from the image processing unit 36 may be given to the printer 42 and the memory 44 in addition to the display unit 40.In this case, information for formation inspection is printed by the printer 43, and the information is printed on the memory 43. 44 will be saved.
上述の如き構成により、リニアCCDカメラ10によって
紙Pが幅方向の一次元画像として撮像され、これにより
得られた映像信号が弁別部22により所定の弁別レベルに
て二値化され、この二値化された二値信号によって欠陥
検出が行われる。With the configuration described above, the paper P is captured as a one-dimensional image in the width direction by the linear CCD camera 10, and the video signal obtained thereby is binarized by the discrimination unit 22 at a predetermined discrimination level. Defect detection is performed by the converted binary signal.
また前記映像信号がA/D変換器32により多階調の重み
を有するディジタル信号に変換されてこれが欠陥像デー
タを含まない限りメモリ34に順次格納され、これにより
地合検査用の健全な一フレーム分の二次元静止画像の作
成のために必要な映像信号が得られる。これによって表
示器40に紙Pの欠陥像を含まない面情報のみが画面表示
され、常に紙Pの地合検査が適切に行われるようにな
る。The video signal is converted into a digital signal having a multi-gradation weight by the A / D converter 32, and the digital signal is sequentially stored in the memory 34 unless the digital signal includes defect image data. A video signal required for creating a two-dimensional still image for a frame is obtained. As a result, only the surface information that does not include the defect image of the paper P is displayed on the display 40, so that the formation inspection of the paper P is always appropriately performed.
第4図は欠陥がない場合の信号処理のタイムチャート
を、第5図は欠陥がある場合の信号処理のタイムチャー
トを各々示しており、両図に於いて、(a)は映像信号
を、(b)はデータ作成信号を、(c)はメモリ34の一
回のデータ蓄積期間を、(d)メモリ34に与える欠陥検
出信号よりなるメモリリセット信号を、(e)メモリ34
より画像処理部36へのデータ転送を各々示している。FIG. 4 shows a time chart of signal processing when there is no defect, and FIG. 5 shows a time chart of signal processing when there is a defect. In both figures, (a) shows a video signal, (B) shows a data creation signal, (c) shows one data accumulation period of the memory 34, (d) a memory reset signal composed of a defect detection signal given to the memory 34, and (e) a memory 34
3 shows data transfer to the image processing unit 36.
このタイムチャートから、映像信号が欠陥像のデータ
を含むと、メモリ34に於けるデータ蓄積が解除されて、
再度新しいデータの蓄積が開始され、欠陥像のデータを
含む蓄積データは破棄され、これは画像処理部36へは転
送されないことが理解されよう。From this time chart, if the video signal includes data of a defective image, the data accumulation in the memory 34 is released,
It will be understood that the accumulation of new data is started again and the accumulated data including the data of the defective image is discarded, and this is not transferred to the image processing section 36.
尚、上述の実施例に於いては、透過光方式の検査装置
について説明したが、本発明による光学式検査装置は、
これに限定されるものではなく、反射光方式の検査装置
にも適用され、また紙以外の金属板、プラスチックフィ
ルム、布等のシート状の被検査物の欠陥検査と仕上がり
具合検査とを行う光学式検査装置としても適用されるも
のである。Note that, in the above-described embodiment, the transmitted light type inspection apparatus has been described.
The present invention is not limited to this, and is also applied to a reflection light type inspection apparatus, and is an optical device that performs a defect inspection and a finish condition inspection of a sheet-like inspection object such as a metal plate, a plastic film, and a cloth other than paper. It is also applied as a type inspection device.
《発明の効果》 以上の説明より明かな如く、本発明による光学式検査
装置によれば、リニアCCDカメラの如きリニア撮像手段
によって紙等の被検査物を幅方向の一次元画像として撮
像することにより得られた映像信号が欠陥検出手段によ
り所定の弁別レベルにて二値化され、この二値化された
二値信号によって欠陥検出が行われ、また前記リニア撮
像手段が被検査物を幅方向の一次元画像として撮像する
ことにより得られた映像信号がメモリに順次格納される
ことにより一フレーム分の二次元静止画像の作成のため
に必要な映像信号が得られ、これより静止画像としての
面状の二次元静止画像データが獲得され、これにより紙
の地合検査の如く、面状の二次元静止画像データとして
の映像データを必要とする仕上がり具合検査が、シャッ
タ付きのエリアCCDカメラの如きシャッタ付きエリア撮
像装置、或はストロボ式照明装置とエリア撮像装置との
如き専用の撮像手段を必要とすることなく行われるよう
になる。更には欠陥検出が行われた時には、前記メモリ
の内容が自動的にクリアされ、欠陥像の映像データを含
むデータによって地合検査のための画像処理およびこれ
の表示が行われることが未然回避されるようになり、適
切な地合検査のためのデータ処理、データ連続採集が自
動的に行われ得るようになる。<< Effects of the Invention >> As is clear from the above description, according to the optical inspection apparatus of the present invention, an object to be inspected such as paper is imaged as a one-dimensional image in the width direction by linear imaging means such as a linear CCD camera. The video signal obtained by the above is binarized at a predetermined discrimination level by the defect detection unit, defect detection is performed by the binarized binary signal, and the linear imaging unit moves the inspection object in the width direction. By sequentially storing video signals obtained by capturing as a one-dimensional image in a memory, a video signal necessary for creating a two-dimensional still image for one frame is obtained. Planar two-dimensional still image data is obtained, so that a finishing condition inspection that requires video data as planar two-dimensional still image data, such as a paper formation inspection, has a shutter. This can be performed without the need for an area imaging device with a shutter such as an area CCD camera, or dedicated imaging means such as a strobe lighting device and an area imaging device. Further, when the defect detection is performed, the contents of the memory are automatically cleared, and the image processing for the formation inspection and the display thereof are prevented from being performed by the data including the video data of the defect image. As a result, data processing for proper formation inspection and continuous data collection can be automatically performed.
第1図は本発明による光学式検査装置の全体構成の一実
施例を示す斜視図、第2図は本発明による光学式検査装
置に用いられる欠陥判別処理部と地合モニタ処理部のブ
ロック線図、第3図(a)〜(d)は各々本発明による
光学式検査装置に於ける信号波形図、第4図(a)〜
(e)は欠陥がない場合の信号処理のタイムチャート、
第5図(a)〜(e)は欠陥がある場合の信号処理のタ
イムチャート、第6図(a)〜(d)は欠陥がない場合
の地合検査のための画像処理要領を示す説明図、第7図
(a)〜(d)は欠陥がある場合の地合検査のための画
像処理要領を示す説明図である。 10……リニアCCDカメラ 12……光源手段 14……制御機器コンソールボックス 20……欠陥判別処理部 22……弁別部 24……判別部 26……欠陥検出出力インタフェース部 30……地合モニタ処理部 32……A/D変換器 34……メモリ 36……画像処理部 40……表示器 42……プリンタ 44……メモリFIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the entire configuration of an optical inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a block diagram of a defect discrimination processing section and a formation monitoring processing section used in the optical inspection apparatus according to the present invention. FIGS. 3 (a) to 3 (d) are signal waveform diagrams in the optical inspection apparatus according to the present invention, and FIGS. 4 (a) to 4 (d).
(E) is a time chart of signal processing when there is no defect,
FIGS. 5 (a) to 5 (e) are time charts of signal processing when there is a defect, and FIGS. 6 (a) to (d) are explanations showing image processing procedures for formation inspection when there is no defect. FIGS. 7 (a) to 7 (d) are explanatory diagrams showing image processing procedures for formation inspection when there is a defect. 10 Linear CCD camera 12 Light source means 14 Control device console box 20 Defect discrimination processing unit 22 Discrimination unit 24 Discrimination unit 26 Defect detection output interface unit 30 Formation monitoring processing Section 32 A / D converter 34 Memory 36 Image processing section Display 42 Printer 44 Memory
Claims (1)
して撮像するリニア撮像手段と、 前記リニア撮像手段よりの映像信号を所定の弁別レベル
にて二値化し、欠陥検出を行う欠陥検出手段と、 前記リニア撮像手段よりの映像信号を順次格納し、前記
欠陥検出手段により欠陥が検出された時にはメモリ内容
をクリアするメモリと、 前記メモリに格納された映像信号を順次取り出してこれ
の集まりより仕上がり具合検査のための二次元画像デー
タ処理を行う画像処理手段と、 を有していることを特徴とする光学式検査装置。1. A linear imaging means for capturing an image of a traveling inspection object as a one-dimensional image in a width direction, and a defect detection for binarizing a video signal from the linear imaging means at a predetermined discrimination level to detect a defect. Means for sequentially storing video signals from the linear imaging means, and for clearing the contents of the memory when a defect is detected by the defect detection means; and sequentially collecting the video signals stored in the memory. An image processing means for performing two-dimensional image data processing for a more finished condition inspection.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23508990A JP2861338B2 (en) | 1990-09-05 | 1990-09-05 | Optical inspection equipment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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