JP2854198B2 - 積層枚数計数装置 - Google Patents
積層枚数計数装置Info
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- JP2854198B2 JP2854198B2 JP4202751A JP20275192A JP2854198B2 JP 2854198 B2 JP2854198 B2 JP 2854198B2 JP 4202751 A JP4202751 A JP 4202751A JP 20275192 A JP20275192 A JP 20275192A JP 2854198 B2 JP2854198 B2 JP 2854198B2
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06M—COUNTING MECHANISMS; COUNTING OF OBJECTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06M—COUNTING MECHANISMS; COUNTING OF OBJECTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G06M1/00—Design features of general application
- G06M1/08—Design features of general application for actuating the drive
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- G06M1/101—Design features of general application for actuating the drive by electric or magnetic means by electro-optical means
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、カードおよび硬貨等の
板状部材を積層した積層物の積層枚数を計数する積層枚
数計数装置に関する。
板状部材を積層した積層物の積層枚数を計数する積層枚
数計数装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、積層されたカードの積層枚数を計
数する装置として、実開昭６３−２０２６９号公報およ
び特開昭６３−２５７０９０号公報に記載されたものが
ある。これらは、カードが積層された積層物に、その積
層方向に対し側方から光を照射しつつ、センサを積層方
向に沿って一定速度で移動させ、該センサにより積層物
の積層方向側方の反射光を検出し、この反射光の光量が
少ない部分（すなわちカードの境界線）を検出および計
数して、積層枚数を計数するようになっている。
数する装置として、実開昭６３−２０２６９号公報およ
び特開昭６３−２５７０９０号公報に記載されたものが
ある。これらは、カードが積層された積層物に、その積
層方向に対し側方から光を照射しつつ、センサを積層方
向に沿って一定速度で移動させ、該センサにより積層物
の積層方向側方の反射光を検出し、この反射光の光量が
少ない部分（すなわちカードの境界線）を検出および計
数して、積層枚数を計数するようになっている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記積
層枚数計数装置は、カードの投光面の反射光とカードの
境界線の反射光との光量の差が小さく誤検出を生じる可
能性があった。また、積層物の一部のみを積層方向に沿
って検出しているため、その検出する一部に傷やゴミ等
があると、各カードの境界線の検出が正確にできないと
いう問題があった。また、センサを積層方向に沿って一
定速度で移動させるための機構が複雑であるという問題
があった。さらにセンサを移動させるのにある程度の時
間が必要であるため、計数時間が長くなるという問題が
あった。
層枚数計数装置は、カードの投光面の反射光とカードの
境界線の反射光との光量の差が小さく誤検出を生じる可
能性があった。また、積層物の一部のみを積層方向に沿
って検出しているため、その検出する一部に傷やゴミ等
があると、各カードの境界線の検出が正確にできないと
いう問題があった。また、センサを積層方向に沿って一
定速度で移動させるための機構が複雑であるという問題
があった。さらにセンサを移動させるのにある程度の時
間が必要であるため、計数時間が長くなるという問題が
あった。
【０００４】したがって、本発明の目的は、傷やゴミ等
がある板状部材が積層されていたとしても正確に積層枚
数を計数でき、また板状部材の境界線の検出のために複
雑な機構を設けることなく、さらに計数時間を短縮する
ことができる積層枚数計数装置を提供することである。
がある板状部材が積層されていたとしても正確に積層枚
数を計数でき、また板状部材の境界線の検出のために複
雑な機構を設けることなく、さらに計数時間を短縮する
ことができる積層枚数計数装置を提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の積層枚数計数装置は、板状部材を積層して
なる積層物に、その積層方向に対し側方から光を照射す
る投光手段と、該投光手段により照射されている前記積
層物の積層方向側方の反射光を積層方向に沿って捉えか
つ該反射光を積層方向に直交する方向に沿って集光する
集光手段と、前記集光手段により集光された反射光を積
層方向に沿って検出し該集光された反射光の光量を検出
信号として出力する一次元イメージセンサと、該一次元
イメージセンサからの検出信号に基づいて前記板状部材
の境界線を検出し計数する境界線計数手段とを具備する
ことを特徴としている。
に、本発明の積層枚数計数装置は、板状部材を積層して
なる積層物に、その積層方向に対し側方から光を照射す
る投光手段と、該投光手段により照射されている前記積
層物の積層方向側方の反射光を積層方向に沿って捉えか
つ該反射光を積層方向に直交する方向に沿って集光する
集光手段と、前記集光手段により集光された反射光を積
層方向に沿って検出し該集光された反射光の光量を検出
信号として出力する一次元イメージセンサと、該一次元
イメージセンサからの検出信号に基づいて前記板状部材
の境界線を検出し計数する境界線計数手段とを具備する
ことを特徴としている。
【０００６】
【作用】本発明の積層枚数計数装置によれば、集光手段
が、投光手段により照射されている積層物の積層方向側
方の反射光を積層方向に沿って捉えかつ該反射光を積層
方向に直交する方向に沿って集光し、この集光された反
射光を一次元イメージセンサが積層方向に沿って検出し
該集光された反射光の光量を検出信号として出力するこ
とになる。よって、積層物の、積層方向に直交する方向
の所定の範囲の反射光を集光して検出することになるた
め、実際の集光されない反射光による板状部材の投光面
と境界線との光量の差よりも、その差が拡大され、境界
線が強調されて、板状部材の投光面と境界線とのコント
ラストが高くなる。しかも、板状部材の上記範囲内の一
部に傷やゴミ等があってその部分の光量が低くなること
があっても、集光された反射光の光量のトータルとして
はその影響を受けることはない。
が、投光手段により照射されている積層物の積層方向側
方の反射光を積層方向に沿って捉えかつ該反射光を積層
方向に直交する方向に沿って集光し、この集光された反
射光を一次元イメージセンサが積層方向に沿って検出し
該集光された反射光の光量を検出信号として出力するこ
とになる。よって、積層物の、積層方向に直交する方向
の所定の範囲の反射光を集光して検出することになるた
め、実際の集光されない反射光による板状部材の投光面
と境界線との光量の差よりも、その差が拡大され、境界
線が強調されて、板状部材の投光面と境界線とのコント
ラストが高くなる。しかも、板状部材の上記範囲内の一
部に傷やゴミ等があってその部分の光量が低くなること
があっても、集光された反射光の光量のトータルとして
はその影響を受けることはない。
【０００７】また、一次元イメージセンサが、集光され
た反射光を積層方向に沿って検出することになるため、
検出するためのセンサを積層物の積層方向に沿って移動
させる必要がなくなる。よって、当然、該センサを移動
させるための機構が不要となり、また検出時間が短くな
る。
た反射光を積層方向に沿って検出することになるため、
検出するためのセンサを積層物の積層方向に沿って移動
させる必要がなくなる。よって、当然、該センサを移動
させるための機構が不要となり、また検出時間が短くな
る。
【０００８】
【実施例】本発明の一実施例による積層枚数計数装置を
図１〜図５を参照して以下に説明する。図中符号１は板
状部材としてのカード２を複数束ねて積層した状態の積
層物、符号３は本実施例の積層枚数計数装置をそれぞれ
示している。積層枚数計数装置３は、積層物１の一側面
４に、その積層方向（図１における紙面に垂直な方向）
に対し側方から光を照射する投光手段としてのランプ５
と、積層物１の積層方向側方に配置された集光手段とし
ての円筒面レンズ６と、該円筒面レンズ６を介して積層
物１の反対側に設けられた一次元イメージセンサ７とを
有している。
図１〜図５を参照して以下に説明する。図中符号１は板
状部材としてのカード２を複数束ねて積層した状態の積
層物、符号３は本実施例の積層枚数計数装置をそれぞれ
示している。積層枚数計数装置３は、積層物１の一側面
４に、その積層方向（図１における紙面に垂直な方向）
に対し側方から光を照射する投光手段としてのランプ５
と、積層物１の積層方向側方に配置された集光手段とし
ての円筒面レンズ６と、該円筒面レンズ６を介して積層
物１の反対側に設けられた一次元イメージセンサ７とを
有している。
【０００９】円筒面レンズ６は、直方体の一側面に外方
凸の円筒面８を設けた形状をなす一体品であり、円筒面
８を積層物１の側面４に対向させかつ円筒面８の軸線が
積層方向に平行をなすように積層物１から所定距離離間
して配置されており、しかもその両端面９，１０が最大
に積層された積層物１の両端面１１，１２より所定量外
方に延在するよう設定されている。そして、この円筒面
レンズ６は、ランプ５により照射されている積層物１
の、積層方向側方の反射光を積層方向に沿って捉えかつ
反射光を屈折させ積層方向に直交する方向に沿って集光
するようになっている。
凸の円筒面８を設けた形状をなす一体品であり、円筒面
８を積層物１の側面４に対向させかつ円筒面８の軸線が
積層方向に平行をなすように積層物１から所定距離離間
して配置されており、しかもその両端面９，１０が最大
に積層された積層物１の両端面１１，１２より所定量外
方に延在するよう設定されている。そして、この円筒面
レンズ６は、ランプ５により照射されている積層物１
の、積層方向側方の反射光を積層方向に沿って捉えかつ
反射光を屈折させ積層方向に直交する方向に沿って集光
するようになっている。
【００１０】一次元イメージセンサ７は、上記円筒面レ
ンズ６の、円筒面８に反する側の側面１３に平行に設け
られており、その両端面１４，１５は、円筒面レンズ６
の両端面９，１０より所定量外方に延在していて、その
検出範囲が円筒面レンズ６の両端面９，１０間の範囲と
同等あるいはそれ以上となっている。そして、この一次
元イメージセンサ７は、円筒面レンズ６の焦点上にその
検出面１６が配置されており、これにより、円筒面レン
ズ６により集光された反射光を積層方向に沿って検出す
ることになる。さらに、この集光された反射光の光量を
検出信号として出力するようになっている。
ンズ６の、円筒面８に反する側の側面１３に平行に設け
られており、その両端面１４，１５は、円筒面レンズ６
の両端面９，１０より所定量外方に延在していて、その
検出範囲が円筒面レンズ６の両端面９，１０間の範囲と
同等あるいはそれ以上となっている。そして、この一次
元イメージセンサ７は、円筒面レンズ６の焦点上にその
検出面１６が配置されており、これにより、円筒面レン
ズ６により集光された反射光を積層方向に沿って検出す
ることになる。さらに、この集光された反射光の光量を
検出信号として出力するようになっている。
【００１１】一次元イメージセンサ７は、図３に示すよ
うに、駆動回路１７に接続されており、この駆動回路１
７から駆動信号が出力されると検出を行なうようになっ
ている。また、他方で一次元イメージセンサ７は、波形
増幅・整形回路１８に接続しこれに上記検出信号を出力
するようになっている。ここで、この波形増幅・整形回
路１８は検出信号の波形を増幅し整形するものである。
うに、駆動回路１７に接続されており、この駆動回路１
７から駆動信号が出力されると検出を行なうようになっ
ている。また、他方で一次元イメージセンサ７は、波形
増幅・整形回路１８に接続しこれに上記検出信号を出力
するようになっている。ここで、この波形増幅・整形回
路１８は検出信号の波形を増幅し整形するものである。
【００１２】波形増幅・整形回路１８は、境界線計数手
段としての演算装置１９に接続し、これに増幅・整形し
た検出信号を出力するようになっている。この演算装置
１９は、検出信号の波形から光量の大小を見て、光量が
小である部分がカード２の境界線２０であると判定し、
この境界線２０の数を計数して、カード２の枚数を計数
するようになっている。そして、この計数結果を表示装
置２１に出力し、該表示装置２１に計数値を表示させ
る。
段としての演算装置１９に接続し、これに増幅・整形し
た検出信号を出力するようになっている。この演算装置
１９は、検出信号の波形から光量の大小を見て、光量が
小である部分がカード２の境界線２０であると判定し、
この境界線２０の数を計数して、カード２の枚数を計数
するようになっている。そして、この計数結果を表示装
置２１に出力し、該表示装置２１に計数値を表示させ
る。
【００１３】上記構成の積層枚数計数装置３により、積
層物１の積層枚数を計数する場合には、まず、ランプ５
により積層物１が照射された状態においては、円筒面レ
ンズ６が、積層物１の積層方向側方の反射光を積層方向
に沿って捉え、かつ該反射光を積層方向に直交する方向
に沿って集光しており、この集光された反射光が一次元
イメージセンサ７の検出面１６上に投影された状態とな
っている。すなわち、円筒面レンズ６により、積層物１
の、積層方向に直交する方向の所定の範囲の反射光が集
光されて投影されている。そして、この状態で駆動回路
１７が一次元イメージセンサ７を駆動させる駆動信号を
出力すると、一次元イメージセンサ７は、投影されてい
る反射光を検出し該反射光の光量に応じた波形の検出信
号を波形増幅・整形回路１８に出力する。そして波形増
幅・整形回路１８では、検出信号の波形を増幅し整形し
て演算装置１９に出力する。
層物１の積層枚数を計数する場合には、まず、ランプ５
により積層物１が照射された状態においては、円筒面レ
ンズ６が、積層物１の積層方向側方の反射光を積層方向
に沿って捉え、かつ該反射光を積層方向に直交する方向
に沿って集光しており、この集光された反射光が一次元
イメージセンサ７の検出面１６上に投影された状態とな
っている。すなわち、円筒面レンズ６により、積層物１
の、積層方向に直交する方向の所定の範囲の反射光が集
光されて投影されている。そして、この状態で駆動回路
１７が一次元イメージセンサ７を駆動させる駆動信号を
出力すると、一次元イメージセンサ７は、投影されてい
る反射光を検出し該反射光の光量に応じた波形の検出信
号を波形増幅・整形回路１８に出力する。そして波形増
幅・整形回路１８では、検出信号の波形を増幅し整形し
て演算装置１９に出力する。
【００１４】すると、演算装置１９には、図４に示すよ
うな、光量に応じた波形が入力されることになる。ここ
で、図４においては、下側ほど光量が多く（すなわち
明）上側ほど光量が少なくなっている（すなわち暗）。
そして、カード２の投光面２２は、平面状をなしており
光の反射率が高いため反射光の光量が多く、カード２間
の境界線２０および積層物１の両端面１１，１２（これ
も境界線２０に含む）は光の反射率が低いため反射光の
光量が少なくなっている。そして、境界線２０に対応す
る、波形の光量が少なくなる部分の数を計数し、これか
ら１を引くことにより積層枚数を計数することができ
る。なお、両端を除く波形の光量が少なくなる部分の数
を計数し、これに１を加えてもよい。そして、計数結果
を表示装置２１に出力し表示させることになる。
うな、光量に応じた波形が入力されることになる。ここ
で、図４においては、下側ほど光量が多く（すなわち
明）上側ほど光量が少なくなっている（すなわち暗）。
そして、カード２の投光面２２は、平面状をなしており
光の反射率が高いため反射光の光量が多く、カード２間
の境界線２０および積層物１の両端面１１，１２（これ
も境界線２０に含む）は光の反射率が低いため反射光の
光量が少なくなっている。そして、境界線２０に対応す
る、波形の光量が少なくなる部分の数を計数し、これか
ら１を引くことにより積層枚数を計数することができ
る。なお、両端を除く波形の光量が少なくなる部分の数
を計数し、これに１を加えてもよい。そして、計数結果
を表示装置２１に出力し表示させることになる。
【００１５】そして、本実施例においては、上記したよ
うに、円筒面レンズ６が、反射光を積層方向に直交する
方向に沿って集光しているため、積層物１の、積層方向
に直交する方向の所定の範囲の反射光が集光されて、そ
の集光された反射光が一次元イメージセンサ７の検出面
１６上に投影されることになる。よって、一次元イメー
ジセンサ７上の投影された反射光は、実際の集光されな
い反射光の光量の差（以下明度差と称す）よりも、明度
差が拡大されるため、カード２の境界線２０が強調さ
れ、カード２の投光面２２と境界線２０とのコントラス
トが高くなる。しかも、例えカード２の上記範囲内の一
部に傷やゴミ等があってその部分の光量が低くなること
があっても、集光された反射光の光量のトータルとして
はその影響を受けることはない。したがって、境界線２
０の検出および計数、すなわち積層枚数の計数を正確に
行なうことができる。
うに、円筒面レンズ６が、反射光を積層方向に直交する
方向に沿って集光しているため、積層物１の、積層方向
に直交する方向の所定の範囲の反射光が集光されて、そ
の集光された反射光が一次元イメージセンサ７の検出面
１６上に投影されることになる。よって、一次元イメー
ジセンサ７上の投影された反射光は、実際の集光されな
い反射光の光量の差（以下明度差と称す）よりも、明度
差が拡大されるため、カード２の境界線２０が強調さ
れ、カード２の投光面２２と境界線２０とのコントラス
トが高くなる。しかも、例えカード２の上記範囲内の一
部に傷やゴミ等があってその部分の光量が低くなること
があっても、集光された反射光の光量のトータルとして
はその影響を受けることはない。したがって、境界線２
０の検出および計数、すなわち積層枚数の計数を正確に
行なうことができる。
【００１６】また、本実施例においては、一次元イメー
ジセンサ７を用いており、該一次元イメージセンサ７
が、集光された反射光を積層方向に沿って検出すること
になるため、従来にように検出するセンサを積層物１の
積層方向に沿って移動させる必要がなくなる。よって、
当然、該センサを移動させるための機構が不要となるた
め、構造が簡単になり、また検出時間が短くなるため、
計数時間を短縮できる。
ジセンサ７を用いており、該一次元イメージセンサ７
が、集光された反射光を積層方向に沿って検出すること
になるため、従来にように検出するセンサを積層物１の
積層方向に沿って移動させる必要がなくなる。よって、
当然、該センサを移動させるための機構が不要となるた
め、構造が簡単になり、また検出時間が短くなるため、
計数時間を短縮できる。
【００１７】なお、本実施例の積層枚数計数装置３の演
算装置１９は、さらに以下の処理を行なうようになって
いる。
算装置１９は、さらに以下の処理を行なうようになって
いる。
【００１８】まず、カード２の色調等によってカード２
の投光面２２と境界線２０との明度差が波形に出にくい
場合、あるいは厚みの異なる複数種類のカード２が積層
されている場合等においては、所定の判断基準から波形
を正規化して境界線を検出するようになっている。
の投光面２２と境界線２０との明度差が波形に出にくい
場合、あるいは厚みの異なる複数種類のカード２が積層
されている場合等においては、所定の判断基準から波形
を正規化して境界線を検出するようになっている。
【００１９】また、あらかじめカード２の厚さの公差が
わかっている場合には、図５左側に示すように、境界線
と判断された波形の立ち上がりａから公差範囲（カード
２の厚さをＤ，厚さの公差を±ｄとすると、公差範囲＝
Ｄ±ｄ）の最小値（Ｄ−ｄ）より小さい範囲内にある波
形の立ち上がりｂは無視し、この最小値（Ｄ−ｄ）より
大きく最大値（Ｄ＋ｄ）より小さい範囲内にある波形の
立ち上がりのうちの明度差が一番大きいものｃを境界線
と判断することになる。しかも、図５右側に示すよう
に、境界線と判断される波形の立ち上がりの隣り合うも
の同士ｅ，ｆの間に公差範囲の最小値の二倍（２Ｄ−２
ｄ）の距離があり、この範囲に波形の立ち上がりがない
場合には、この間に境界線ｇを補間する。この場合、厚
さの異なる複数種類のカード２を同一種類毎に計数する
場合には、各種類毎の厚さの公差データをあらかじめ記
憶しておき、スイッチ操作等により選択し、計数する種
類のカード２に応じた厚さの公差データを読み出す。
わかっている場合には、図５左側に示すように、境界線
と判断された波形の立ち上がりａから公差範囲（カード
２の厚さをＤ，厚さの公差を±ｄとすると、公差範囲＝
Ｄ±ｄ）の最小値（Ｄ−ｄ）より小さい範囲内にある波
形の立ち上がりｂは無視し、この最小値（Ｄ−ｄ）より
大きく最大値（Ｄ＋ｄ）より小さい範囲内にある波形の
立ち上がりのうちの明度差が一番大きいものｃを境界線
と判断することになる。しかも、図５右側に示すよう
に、境界線と判断される波形の立ち上がりの隣り合うも
の同士ｅ，ｆの間に公差範囲の最小値の二倍（２Ｄ−２
ｄ）の距離があり、この範囲に波形の立ち上がりがない
場合には、この間に境界線ｇを補間する。この場合、厚
さの異なる複数種類のカード２を同一種類毎に計数する
場合には、各種類毎の厚さの公差データをあらかじめ記
憶しておき、スイッチ操作等により選択し、計数する種
類のカード２に応じた厚さの公差データを読み出す。
【００２０】さらに、あらかじめカード２の厚さの公差
が分からない場合には、所定値以上の明度差が出ている
疑似境界線の寸法統計をとり、これから標準値を求め
て、計数を行なう。
が分からない場合には、所定値以上の明度差が出ている
疑似境界線の寸法統計をとり、これから標準値を求め
て、計数を行なう。
【００２１】なお、以上に述べた実施例においては、集
光手段として円筒面レンズ６を用いるものを例にとり説
明したが、カード２と一次元イメージセンサ７との距離
が短いときは円柱レンズを用いてもよい。また、上記一
次元イメージセンサ７としては、積層物１の累積寸法と
同等以上の受光長さを必要とするため、密着型のイメー
ジセンサが適当であるが、集光手段としてトーリックレ
ンズを用いれば受光長さの短い一次元イメージセンサを
使用することも可能である。さらに、本実施例の積層枚
数計数装置３により計数できる積層物１としては、各種
プリペイドカードやクレジットカード等のカード類を積
層したものの他、スタック状態にある硬貨や透明フィル
ムで包装された硬貨等があげられる。
光手段として円筒面レンズ６を用いるものを例にとり説
明したが、カード２と一次元イメージセンサ７との距離
が短いときは円柱レンズを用いてもよい。また、上記一
次元イメージセンサ７としては、積層物１の累積寸法と
同等以上の受光長さを必要とするため、密着型のイメー
ジセンサが適当であるが、集光手段としてトーリックレ
ンズを用いれば受光長さの短い一次元イメージセンサを
使用することも可能である。さらに、本実施例の積層枚
数計数装置３により計数できる積層物１としては、各種
プリペイドカードやクレジットカード等のカード類を積
層したものの他、スタック状態にある硬貨や透明フィル
ムで包装された硬貨等があげられる。
【００２２】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の積層枚数
計数装置によれば、積層物の、積層方向に直交する方向
の所定の範囲の反射光を集光して検出することになるた
め、実際の集光されない反射光による板状部材の投光面
と板状部材の境界線との光量の差よりも、その差が拡大
され、境界線が強調されて、板状部材の投光面と境界線
とのコントラストが高くなる。しかも、板状部材の上記
範囲内の一部に傷やゴミ等があってその部分の光量が低
くなることがあっても、集光された反射光の光量のトー
タルとしてはその影響を受けることはない。したがっ
て、境界線の検出および計数、すなわち積層枚数の計数
を正確に行なうことができる。
計数装置によれば、積層物の、積層方向に直交する方向
の所定の範囲の反射光を集光して検出することになるた
め、実際の集光されない反射光による板状部材の投光面
と板状部材の境界線との光量の差よりも、その差が拡大
され、境界線が強調されて、板状部材の投光面と境界線
とのコントラストが高くなる。しかも、板状部材の上記
範囲内の一部に傷やゴミ等があってその部分の光量が低
くなることがあっても、集光された反射光の光量のトー
タルとしてはその影響を受けることはない。したがっ
て、境界線の検出および計数、すなわち積層枚数の計数
を正確に行なうことができる。
【００２３】また、一次元イメージセンサを用いてお
り、該一次元イメージセンサが、集光された反射光を積
層方向に沿って検出することになるため、従来にように
検出するセンサを積層物の積層方向に沿って移動させる
必要がなくなる。よって、当然、該センサを移動させる
ための機構が不要となるため、構造が簡単になり、また
検出時間が短くなるため、計数時間を短縮できる。
り、該一次元イメージセンサが、集光された反射光を積
層方向に沿って検出することになるため、従来にように
検出するセンサを積層物の積層方向に沿って移動させる
必要がなくなる。よって、当然、該センサを移動させる
ための機構が不要となるため、構造が簡単になり、また
検出時間が短くなるため、計数時間を短縮できる。
【図１】本発明の一実施例による積層枚数計数装置の構
成を概略的に示す平面図である。
成を概略的に示す平面図である。
【図２】本発明の一実施例による積層枚数計数装置の構
成を概略的に示す側面図である。
成を概略的に示す側面図である。
【図３】本発明の一実施例による積層枚数計数装置の制
御系の構成を示すブロック図である。
御系の構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の一実施例による積層枚数計数装置の演
算装置において得られる波形データの一例を示す図であ
る。
算装置において得られる波形データの一例を示す図であ
る。
【図５】本発明の一実施例による積層枚数計数装置の演
算装置において得られる波形データの別の例を示す図で
ある。
算装置において得られる波形データの別の例を示す図で
ある。
１ 積層物 ２ カード ３ 積層枚数計数装置 ５ ランプ（投光手段） ６ 円筒面レンズ（集光手段） ７ 一次元イメージセンサ １９ 演算装置（境界線計数手段）
Claims (1)
- 【請求項１】 板状部材を積層してなる積層物に、その
積層方向に対し側方から光を照射する投光手段と、 該投光手段により照射されている前記積層物の積層方向
側方の反射光を積層方向に沿って捉えかつ該反射光を積
層方向に直交する方向に沿って集光する集光手段と、 前記集光手段により集光された反射光を積層方向に沿っ
て検出し該集光された反射光の光量を検出信号として出
力する一次元イメージセンサと、 該一次元イメージセンサからの検出信号に基づいて前記
板状部材の境界線を検出し計数する境界線計数手段とを
具備することを特徴とする積層枚数計数装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4202751A JP2854198B2 (ja) | 1992-07-29 | 1992-07-29 | 積層枚数計数装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4202751A JP2854198B2 (ja) | 1992-07-29 | 1992-07-29 | 積層枚数計数装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0652378A JPH0652378A (ja) | 1994-02-25 |
| JP2854198B2 true JP2854198B2 (ja) | 1999-02-03 |
Family
ID=16462566
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4202751A Expired - Fee Related JP2854198B2 (ja) | 1992-07-29 | 1992-07-29 | 積層枚数計数装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2854198B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2011161642A1 (en) * | 2010-06-25 | 2011-12-29 | Kba-Notasys Sa | Method and system for touchless counting of stacked substrates, especially bundled banknotes |
| JPWO2021193380A1 (ja) * | 2020-03-24 | 2021-09-30 |
-
1992
- 1992-07-29 JP JP4202751A patent/JP2854198B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0652378A (ja) | 1994-02-25 |
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