JP2852052B2 - Decoding circuit - Google Patents

Decoding circuit

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JP2852052B2
JP2852052B2 JP18189288A JP18189288A JP2852052B2 JP 2852052 B2 JP2852052 B2 JP 2852052B2 JP 18189288 A JP18189288 A JP 18189288A JP 18189288 A JP18189288 A JP 18189288A JP 2852052 B2 JP2852052 B2 JP 2852052B2
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は二本の信号の位相関係を最適な状態に自動的
に調整する自動位相調整方式に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to an automatic phase adjustment method for automatically adjusting a phase relationship between two signals to an optimum state.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

磁気ディスク装置等のシステムにおいて、記録信号を
再生し復号するときに用いられる復号回路は、従来第6
図に示すブロック構成が一般的である。復号回路は位相
同期回路1、タップ付き遅延線8、ラッチ1、及びデコ
ーダ3で構成され再生信号の復号化をおこなう。さらに
位相同期回路1は位相比較器51、チャージポンプ52、ル
ープフィルタ53、及び電圧制御発振器(以下VCと略
す。)54で構成する。記録信号を再生し復号するとき
は、再生信号11を位相同期回路1に入力する。位相比較
器51は再生信号11とVCクロック13の位相を比較し、位
相差42を出力する。チャージポンプ52は位相差42に比較
して電流もしくは電圧43を出力する。ループフィルタ53
はチャージポンプ出力43を積分平滑化しVC制御電圧44
を生成する。VC54はVC制御電圧44に比例してその出
力であるVCクロック13の周波数を変化させる。以上の
如く位相同期回路1が動作してVCクロック13の位相を
再生信号11の位相に一致させる。次にタップ付き遅延線
8とラッチ1の動作を第7図に示すタイミングチャート
を用いて説明する。まず再生信号11とVCクロック13が
位相同期回路1によって完全に一致している場合につい
て説明する。タップ付き遅延線8は再生信号11をVCク
ロック半周期時間だけ遅延させる。これによりラッチ1
における遅延再生信号14のVCクロック13に対するセッ
トアップ時間はVCクロック半周期となり最適な位相関
係になる。一般に磁気ディスク装置ではメディア上での
磁化反転による干渉が原因で再生信号11のピークシフト
現象が起きる。このピークシフト現象が許容できる範囲
を一般にウィンドマージンと呼び、磁気ディスク装置の
性能を決定する大きな要因となる。このウィンドマージ
ンを最大にする為、ラッチ1におけるセットアップ時間
には高い精度が要求される。先に述べたように再生信号
11とVCクロック13が完全に一致し、さらにタップ付き
遅延線8が正確にVCクロックの半周期時間だけ遅延を
おこなえばウィンドマージンは最大となるが、実際には
第7図に示すように位相同期回路1の性能により安定し
た同期状態において再生信号11とVCクロック13の位相
差は零にならないことがある。またこの位相ずれは温度
により変動することもある。この場合タップ付き遅延線
8が正確にVCクロックの半周期時間だけの遅延をおこ
なってもウィンドマージンは最大にならない。従来はこ
のウィンドマージンのロス分は放置するか、タップ付き
遅延線8の遅延量を調整することにより補正していた。
しかし調整によるコスト高を招き、さらに先に述べた同
期状態での位相ずれが温度により変動する場合、もしく
はタップ付き遅延線8の遅延量が温度により変動する場
合はウィンドマージンのロス分を調整しきれない。
In a system such as a magnetic disk drive, a decoding circuit used when reproducing and decoding a recording signal is a conventional sixth-order decoding circuit.
The block configuration shown in the figure is general. The decoding circuit includes a phase synchronization circuit 1, a tapped delay line 8, a latch 1, and a decoder 3, and decodes a reproduced signal. Further, the phase synchronization circuit 1 includes a phase comparator 51, a charge pump 52, a loop filter 53, and a voltage controlled oscillator (hereinafter abbreviated as VC) 54. When reproducing and decoding a recording signal, the reproduction signal 11 is input to the phase synchronization circuit 1. The phase comparator 51 compares the phase of the reproduction signal 11 with the phase of the VC clock 13 and outputs a phase difference. The charge pump 52 outputs a current or a voltage 43 as compared with the phase difference. Loop filter 53
Integrates and smoothes the charge pump output 43 and VC control voltage 44
Generate The VC 54 changes the frequency of the output VC clock 13 in proportion to the VC control voltage 44. As described above, the phase synchronization circuit 1 operates to make the phase of the VC clock 13 coincide with the phase of the reproduction signal 11. Next, the operations of the tapped delay line 8 and the latch 1 will be described with reference to a timing chart shown in FIG. First, a case where the reproduction signal 11 and the VC clock 13 are completely matched by the phase synchronization circuit 1 will be described. The tapped delay line 8 delays the reproduction signal 11 by a half cycle time of the VC clock. As a result, latch 1
The setup time of the delayed reproduction signal 14 with respect to the VC clock 13 in FIG. Generally, in a magnetic disk device, a peak shift phenomenon of the reproduction signal 11 occurs due to interference due to magnetization reversal on a medium. The range in which this peak shift phenomenon can be tolerated is generally called a window margin, which is a major factor in determining the performance of the magnetic disk drive. In order to maximize this window margin, high accuracy is required for the setup time in the latch 1. As mentioned earlier, the playback signal
If the VC clock 13 completely matches the VC clock 13 and the delay line 8 with tapped delays exactly by the half cycle time of the VC clock, the window margin is maximized, but the phase margin is actually increased as shown in FIG. The phase difference between the reproduction signal 11 and the VC clock 13 may not become zero in a stable synchronization state due to the performance of the synchronization circuit 1. This phase shift may fluctuate depending on the temperature. In this case, even if the tapped delay line 8 accurately delays by a half cycle time of the VC clock, the window margin does not become maximum. Conventionally, the window margin loss has been corrected by leaving the window margin loss or adjusting the delay amount of the tapped delay line 8.
However, if the phase shift in the above-mentioned synchronous state fluctuates with temperature, or if the delay amount of the tapped delay line 8 fluctuates with temperature, the loss of the window margin is adjusted. I can't.

この問題点を解決する為に特開昭59−167813号に記載
された発明では、遅延量調整回路を設け既知量遅延した
データを位相同期回路に入力して、誤り発生の有無を判
断することによりデータパルス列とウインド間の位相ず
れ量を測定し、その位相ずれ量を適当な値に調整してい
た。
In order to solve this problem, in the invention described in Japanese Patent Application Laid-Open No. S59-166781, a delay amount adjustment circuit is provided, and data delayed by a known amount is input to a phase synchronization circuit to determine whether or not an error has occurred. The phase shift amount between the data pulse train and the window is measured by using the method, and the phase shift amount is adjusted to an appropriate value.

〔発明の解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上記従来技術は既知量遅延したデータが必要である
為、タップ付き遅延線に高い精度が要求され、またタッ
プ付き遅延線の温度ドリフト及び経年変化についての配
慮がされておらず、コスト及び精度の点で問題がある。
The above-mentioned prior art requires data delayed by a known amount, so that a high accuracy is required for the tapped delay line, and no consideration is given to temperature drift and aging of the tapped delay line. There is a problem in point.

本発明の目的は遅延線の遅延量精度のばらつき、温度
ドリフト及び経年変化による影響を受けず常にウィンド
マージンが最大となるように位相ずれを調整できる自動
位相調整回路方式を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an automatic phase adjustment circuit capable of adjusting a phase shift so that a window margin is always maximized without being affected by variations in delay amount accuracy of a delay line, temperature drift and aging.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

ウィンドマージンを最大にする為に必要な遅延量を得
るためにタップ付き遅延線を設ける。ウィンドから外れ
たことを検出するために検出回路を設ける。検出結果か
ら必要とする遅延量を持つタップを選択するために計算
回路を設ける。
A tapped delay line is provided to obtain a delay amount necessary to maximize the window margin. A detection circuit is provided for detecting that the vehicle has deviated from the window. A calculation circuit is provided to select a tap having a required delay amount from the detection result.

〔作用〕[Action]

タップ付き遅延線は調整モードでは使用タップをシフ
トしてゆき遅延量を変化させて出力する。通常モードで
は調整の結果復られた最適なタップを使用して入力デー
タを遅延させ出力する。
In the adjustment mode, the delay line with taps shifts the taps used and changes the delay amount before outputting. In the normal mode, the input data is delayed and output using the optimum tap restored as a result of the adjustment.

検出回路は再生データ信号をモニタしてウィンドから
外れてエラーが発生したことを検出する。
The detection circuit monitors the reproduction data signal and detects that an error has occurred outside the window.

計算回路は再生複号可能な遅延量のうち最大の遅延量
を持つタップ番号と最小の遅延量を持つタップ番号を基
準に必要とする遅延量を持つタップを内分比の形で計算
してタップ選択をおこなう。
The calculation circuit calculates the tap number with the required delay amount based on the tap number with the largest delay amount and the tap number with the smallest delay amount among the delay amounts that can be reproduced in the form of the internal division ratio. Make a tap selection.

これらの作用により必要とする遅延量は相対的な内分
比という方式で選択されるため、遅延線の精度及び温特
に依存しない。
The delay amount required by these operations is selected by a method of a relative internal division ratio, and thus does not particularly depend on the accuracy and temperature of the delay line.

〔実施例〕〔Example〕

以下、本発明の構成及び実施例を図面を参照して説明
する。第1図は本発明の実施例の構成図である。磁気記
録装置からの再生信号11と調整時に使用するテスト信号
12を切換える入力信号切換えスイッチ6、位相同期回路
1、タップ付き遅延線8、ラッチ1、再生信号11の復号
をおこなうデコーダ3、遅延信号14がウインドから外れ
たことを検出する検出回路4、及び検出信号17をもとに
最適なタップを選択する計算回路5で構成する。
Hereinafter, configurations and embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention. Reproduction signal 11 from magnetic recording device and test signal used for adjustment
An input signal changeover switch 6 for switching 12; a phase synchronization circuit 1; a delay line 8 with a tap; a latch 1; a decoder 3 for decoding the reproduction signal 11; a detection circuit 4 for detecting that the delay signal 14 has deviated from the window; It comprises a calculation circuit 5 for selecting an optimum tap based on the detection signal 17.

リードゲート信号19がネゲートされると調整モードと
なり入力信号切換えスイッチ6はテスト信号12を選択す
る。計算回路5は位相同期回路1がテスト信号12とVC
クロック13の位相同期を完了し、かつ検出回路4の中の
シフトレジスタに正常なデータが入力された後に動作を
開始する。テスト信号12はタップ付き遅延線8により遅
延されるが、その遅延量は計算回路5によってタップを
シフトしてゆくことにより変化させる。ラッチ1はVC
クロック13で遅延信号14をラッチするが遅延量を変化さ
せてゆくとウィンドから外れたところでラッチ1の出力
であるラッチデータ15のパターンが変化する。検出回路
4はこのラッチデータ15のパターン変化をラッチクロッ
ク16で検出して検出信号17を出力する。計算回路は検出
信号17が入力されるとそのときのタップ付き遅延線8の
タップ番号を記憶する。そしてさらにタップをシフトし
てゆき再びテスト信号12がウィンドから外れると1回目
と同様に動作してそのときのタップ番号を記憶する。そ
の後計算回路は記憶した2つのタップ番号を基準にし
て、必要とする遅延量を持つタップ番号を内分比のかた
ちで計算する。そして得られたタップ番号を選択して調
整動作を終了する。その後リードゲートがアサートされ
ると入力切換えスイッチ6は再生信号11を選択し、位相
同期回路1はVCクロック13と再生信号11の位相同期を
おこない、ラッチ1は最適な遅延時間が設定されたタッ
プ付き遅延線の遅延信号14をVCクロック13でラッチ
し、ラッチデータ15とラッチクロック16をデコーダに入
力し復号をおこなう。以上の説明でリードゲートがネゲ
ートされると調整モードになると述べたが、システム的
な立場から、リードゲートがネゲートされてさえいれば
時間的に余裕のあるときのみ調整をおこなうことも可能
である。また調整中はビジー状態を示すフラグ39を出力
することもできる。
When the read gate signal 19 is negated, the adjustment mode is set, and the input signal changeover switch 6 selects the test signal 12. The calculation circuit 5 determines that the phase synchronization circuit 1
The operation starts after the phase synchronization of the clock 13 is completed and normal data is input to the shift register in the detection circuit 4. The test signal 12 is delayed by the tapped delay line 8, and the amount of delay is changed by shifting the tap by the calculation circuit 5. Latch 1 is VC
The delay signal 14 is latched by the clock 13, but when the delay amount is changed, the pattern of the latch data 15 which is the output of the latch 1 changes at a position outside the window. The detection circuit 4 detects the pattern change of the latch data 15 by the latch clock 16 and outputs a detection signal 17. When the detection signal 17 is input, the calculation circuit stores the tap number of the tapped delay line 8 at that time. The taps are further shifted, and when the test signal 12 is again out of the window, the operation is performed in the same manner as the first time, and the tap number at that time is stored. Thereafter, the calculation circuit calculates a tap number having a required delay amount in the form of an internal division ratio based on the two stored tap numbers. Then, the obtained tap number is selected and the adjustment operation is completed. After that, when the read gate is asserted, the input changeover switch 6 selects the reproduction signal 11, the phase synchronization circuit 1 synchronizes the phase of the reproduction signal 11 with the VC clock 13, and the latch 1 taps the tap with the optimal delay time set. The delay signal 14 of the attached delay line is latched by the VC clock 13, and the latch data 15 and the latch clock 16 are input to the decoder for decoding. In the above description, the adjustment mode is set when the read gate is negated.However, from a system standpoint, it is also possible to perform adjustment only when there is enough time in the time as long as the read gate is negated. . During adjustment, a flag 39 indicating a busy state can be output.

次に本発明の具体的な一実施例を第2図から第5図を
用いて説明する。第2図は調整モード時に必要なタップ
付き遅延線8、検出回路4、計算回路5の構成を示して
いる。位相同期回路1、デコーダ3、及び調整モードに
限定するためスイッチ6は省略した。本実施例ではテス
ト信号12として基準クロック20から信号生成回路19によ
り4Tパターン(10001000…)のくり返し信号を生成す
る。もちろん4Tパターン以外でも構成することができ
る。また復号回路では遅延信号14はウインドの中心にあ
ることが望ましいので内分は1対1となるように構成す
る。もちろんマイコン等でl対m(l,mは自然数)に内
分する計算をさせることもできる。
Next, a specific embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 2 shows the configurations of the delay line 8 with taps required in the adjustment mode, the detection circuit 4, and the calculation circuit 5. The switch 6 is omitted to limit the operation to the phase synchronization circuit 1, the decoder 3, and the adjustment mode. In this embodiment, a 4T pattern (10001000...) Repeated signal is generated from the reference clock 20 by the signal generation circuit 19 as the test signal 12. Of course, a configuration other than the 4T pattern can be used. Further, in the decoding circuit, it is desirable that the delay signal 14 is located at the center of the window. Of course, it is also possible to use a microcomputer or the like to make a calculation that internally divides into l to m (l and m are natural numbers).

タップ付遅延線8はタップ付遅延線とタップを選択す
るためのセレクタ1で構成する。計算回路5は、セレク
タ1を切換えるタップ選択アドレス37を生成するカウン
タ、検出信号17が入力されたときのタップ選択アドレス
37をラッチするラッチ2、ラッチ3、ラッチ2とラッチ
3の値を加算する全加算器、全加算器の出力データを1
ビットシフトするためのシフトレジスタ2、カウンタが
出力するタップ選択アドレス37とシフトレジスタ2の出
力を切り換えるセレクタ2、及びこれらのブロックを制
御するコントロール回路で構成する。検出回路4はシフ
トレジスタ1とERゲートで構成する。具体的な構成
の一例を第3図に示す。D−タイプのフリップフロップ
5段で構成した5ビットのシフトレジスタの1ビット目
と5ビット目をERに入力する。
The tapped delay line 8 includes a tapped delay line and a selector 1 for selecting a tap. The calculation circuit 5 includes a counter that generates a tap selection address 37 for switching the selector 1 and a tap selection address when the detection signal 17 is input.
Latch 2 for latching 37, Latch 3, Full adder for adding values of Latch 2 and Latch 3, and output data of full adder 1
It comprises a shift register 2 for bit shifting, a tap selection address 37 output by a counter, a selector 2 for switching the output of the shift register 2, and a control circuit for controlling these blocks. The detection circuit 4 includes a shift register 1 and an ER gate. FIG. 3 shows an example of a specific configuration. The first and fifth bits of a 5-bit shift register constituted by five stages of D-type flip-flops are input to ER.

信号生成回路9は先に述べた4Tパターンのテスト信号
12とカウンタをインクリメントするためのインクリメン
トクロック信号21を4Tパターン数周期ごとに出力する。
The signal generation circuit 9 outputs the test signal of the 4T pattern described above.
12 and an increment clock signal 21 for incrementing the counter are output every 4T pattern several periods.

次に動作の説明を第4図及び第5図を用いて述べる。 Next, the operation will be described with reference to FIG. 4 and FIG.

リードゲート信号19がネゲートされると調整モードと
なり入力信号切換えスイッチ6はテスト信号12を選択す
る。またコントロール回路は制御信号36を出力しセレク
タ2はカウンタの出力であるタップ切換えアドレスを選
択37を選択する。そして位相同期回路1がテスト信号12
に対してVCOクロック13の位相同期を完了し、検出回路
4のシフトレジスタに正常な値が入力された後、コント
ロール回路は検出回路イネーブル信号38を出力し検出回
路4を動作状態にして、次にカウンタのカウントアップ
をイネーブルするカウントイネーブル信号31を出力す
る。その後、計算回路5はカウントアップ動作を開始し
検出を始める。カウンタはカウントイネーブル信号31が
入力されるとインクリメントクロック信号21に従いタッ
プ切換えアドレス37をインクリメントする。このタップ
切換えアドレス37はセレクタ2を通過し、タップセレク
ト信号18としてタップ付き遅延線8に入力される。タッ
プ付き遅延線8はこのタップセレクト信号18により選択
タップを切り換えてゆく。選択されたタップがウインド
範囲内の遅延量であれば検出回路4のシフトレジスタの
1ビット目と5ビット目は常に同じ値となりER出力
は“0"である。そしてタップ選択アドレス37がLになっ
たとき遅延量がウインドから外れたとする。このとき第
4図に示すようにラッチデータ15は4Tパターンから外れ
5Tもしくは3Tパターンなる。このためERの出力は
“1"となり検出信号17にパルスが出力される。このパル
スがコントロール回路に入力されるとコントロール回路
はラッチイネーブル信号32を出力しラッチ2はその時の
タップ選択アドレス“l"を記憶する。さらにタップ選択
アドレス37をインクリメントしてゆき“m"に到達したと
き再び遅延量がウインドから外れたとする。このとき前
回と同様に検出信号17にパルスが出力され、コントロー
ル回路はラッチイネーブル信号33を出力する。これによ
りラッチ3はその時のタップ選択アドレス“m"を記憶す
る。全加算器はラッチ2とラッチ3を常に加算している
ので、コントロール回路はシフトレジスタ2にパラレル
入力ラッチイネーブル信号34を出力し、続いて1ビット
シフトをおこなうシフトクロック35を出力する。これに
よりアドレス“l"とアドレス“m"の中間アドレスがシフ
トレジスタ2から出力される。この中間アドレスは“l"
と“m"を1対1に内分するアドレスである。その後コン
トロール回路は制御信号36を切り換えてセレクタ2から
シフトレジスタ2の出力をタップセレクト信号として出
力する。以上のように動作することにより、遅延信号14
をウインドの中心にセットすることができる。
When the read gate signal 19 is negated, the adjustment mode is set, and the input signal changeover switch 6 selects the test signal 12. The control circuit outputs a control signal 36, and the selector 2 selects a tap switching address 37, which is the output of the counter. Then, the phase synchronization circuit 1 outputs the test signal 12
After the phase synchronization of the VCO clock 13 is completed and the normal value is input to the shift register of the detection circuit 4, the control circuit outputs the detection circuit enable signal 38 to make the detection circuit 4 operative, and A count enable signal 31 for enabling the counter to count up. Thereafter, the calculation circuit 5 starts a count-up operation and starts detection. The counter increments the tap switching address 37 according to the increment clock signal 21 when the count enable signal 31 is input. The tap switching address 37 passes through the selector 2 and is input as the tap select signal 18 to the tapped delay line 8. The tap delay line 8 switches the selected tap by the tap select signal 18. If the selected tap is an amount of delay within the window range, the first bit and the fifth bit of the shift register of the detection circuit 4 always have the same value, and the ER output is “0”. Then, it is assumed that when the tap selection address 37 becomes L, the delay amount deviates from the window. At this time, the latch data 15 deviates from the 4T pattern as shown in FIG.
5T or 3T pattern. Therefore, the output of the ER becomes “1” and a pulse is output as the detection signal 17. When this pulse is input to the control circuit, the control circuit outputs a latch enable signal 32, and the latch 2 stores the tap selection address "1" at that time. Further, it is assumed that the delay amount deviates from the window again when the tap selection address 37 is incremented and reaches “m”. At this time, a pulse is output as the detection signal 17 as in the previous case, and the control circuit outputs the latch enable signal 33. As a result, the latch 3 stores the tap selection address "m" at that time. Since the full adder always adds the latches 2 and 3, the control circuit outputs a parallel input latch enable signal 34 to the shift register 2 and then outputs a shift clock 35 for performing a one-bit shift. As a result, an intermediate address between the address “l” and the address “m” is output from the shift register 2. This intermediate address is “l”
And "m" are one-to-one addresses. Thereafter, the control circuit switches the control signal 36 and outputs the output of the shift register 2 from the selector 2 as a tap select signal. By operating as described above, the delay signal 14
Can be set in the center of the window.

この調整動作中にリードゲートが再びアサートされた
場合、パラレル入力ラッチイネーブル信号34が出力され
る前であれば調整動作を中止し通常状態に戻ることがで
きる。そしてリードゲートがネゲートされた後、再び最
初から調整をおこなえばよい。パラレル入力ラッチイネ
ーブル信号34が出力されたあとリードゲートがアサート
された場合はシフトクロック35を出力し、制御信号36が
シフトレジスタ2の出力を選択した後、通常状態に戻
る。この時間的損失は回路構成によりわずかな時間にす
ることができる。また、この時間中、ビジーを示すフラ
グ39を外部へ出力することもできる。
If the read gate is asserted again during this adjustment operation, the adjustment operation can be stopped and the normal state can be restored before the parallel input latch enable signal 34 is output. Then, after the read gate is negated, the adjustment may be performed again from the beginning. When the read gate is asserted after the output of the parallel input latch enable signal 34, the shift clock 35 is output, and after the control signal 36 selects the output of the shift register 2, the operation returns to the normal state. This time loss can be reduced to a short time by a circuit configuration. During this time, the flag 39 indicating busy can be output to the outside.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

本発明によれば、ウインド幅に相当する2つのタップ
アドレスを内分することにより最適な遅延タップを選択
するため、遅延線の遅延時間精度及びその温特の影響を
受けず常に再生データをウインドの中心に保持でき、ウ
インドマージンが常に最大の状態で再生復号でき、装置
の信頼性を向上できる。
According to the present invention, since the optimum delay tap is selected by internally dividing two tap addresses corresponding to the window width, the reproduction data is always windowed without being affected by the delay time accuracy of the delay line and its temperature characteristics. , And reproduction and decoding can be performed with the window margin always maximized, and the reliability of the device can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は本発明の実施例の構成を示すブロック図であ
る。第2図は本発明の一実施例に用いる計算回路のブロ
ック図である。第3図は本発明の一実施例に用いる検出
回路のブロック図である。第4図は本発明の一実施例の
動作を示すタイミングチャートである。第5図は本発明
の一実施例の動作を示すタイミングチャートである。第
6図は従来の復号回路の構成図である。第7図は従来来
の復号回路の動作説明図である。 1…位相同期回路、3…デコーダ 4…検出回路、5…計算回路 6…入力信号切換えスイッチ 8…タップ付き遅延線、9…信号生成回路 11…再生信号、12…テスト信号 13…VCクロック、14…遅延信号 15…ラッチデータ信号、16…ラッチクロック信号 17…検出信号、18…タップセレクト信号 19…リードゲート信号、20…基準クロック 21…インクリメントクロック信号 31…カウントイネーブル信号 32…ラッチイネーブル信号 33…ラッチイネーブル信号 34…パラレル入力ラッチイネーブル信号 35…シフトクロック、36…制御信号 37…タップ切換えアドレス 38…検出回路イネーブル信号 39…フラグ、42…位相差 43…チャージポンプ出力、44…VC制御電圧 51…位相比較器、52…チャージポンプ 53…ループフイルタ、54…VC
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a block diagram of a calculation circuit used in one embodiment of the present invention. FIG. 3 is a block diagram of a detection circuit used in one embodiment of the present invention. FIG. 4 is a timing chart showing the operation of one embodiment of the present invention. FIG. 5 is a timing chart showing the operation of one embodiment of the present invention. FIG. 6 is a configuration diagram of a conventional decoding circuit. FIG. 7 is a diagram for explaining the operation of a conventional decoding circuit. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Phase synchronous circuit, 3 ... Decoder 4 ... Detection circuit, 5 ... Calculation circuit 6 ... Input signal changeover switch 8 ... Tap delay line, 9 ... Signal generation circuit 11 ... Reproduction signal, 12 ... Test signal 13 ... VC clock, 14 ... Delay signal 15 ... Latch data signal, 16 ... Latch clock signal 17 ... Detection signal, 18 ... Tap select signal 19 ... Read gate signal, 20 ... Reference clock 21 ... Increment clock signal 31 ... Count enable signal 32 ... Latch enable signal 33 ... Latch enable signal 34 ... Parallel input latch enable signal 35 ... Shift clock, 36 ... Control signal 37 ... Tap switching address 38 ... Detection circuit enable signal 39 ... Flag, 42 ... Phase difference 43 ... Charge pump output, 44 ... VC control Voltage 51… Phase comparator, 52… Charge pump 53… Loop filter, 54… VC

フロントページの続き (72)発明者 長谷 健一 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株式会社日立製作所マイクロエレクトロ ニクス機器開発研究所内 (72)発明者 井関 利之 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株式会社日立製作所マイクロエレクトロ ニクス機器開発研究所内 (72)発明者 児島 伸一 群馬県高崎市西横手町111番地 株式会 社日立製作所高崎工場内 (56)参考文献 特開 昭59−45615(JP,A) 特開 昭59−167813(JP,A) 特開 昭62−205578(JP,A) 特開 昭63−211831(JP,A) 特開 昭63−10824(JP,A) 実開 昭62−51569(JP,U) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G11B 20/10 - 20/14Continued on the front page (72) Inventor Kenichi Hase 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Inside Microelectronics Device Development Laboratory, Hitachi, Ltd. (72) Inventor Toshiyuki Iseki 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Stock (72) Inventor Shinichi Kojima 111 Nishiyokote-cho, Takasaki City, Gunma Prefecture Hitachi, Ltd. Takasaki Plant, Hitachi, Ltd. (56) References JP-A-59-45615 (JP, A) JP-A-59-167813 (JP, A) JP-A-62-205578 (JP, A) JP-A-63-211831 (JP, A) JP-A-63-10824 (JP, A) (JP, U) (58) Field surveyed (Int. Cl. 6 , DB name) G11B 20/10-20/14

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】磁気記録装置に記録されたデータ信号を再
生および復号するときに用いる復号回路において、 タップ付き遅延線を含む遅延量調整回路と、 前記データ信号を前記タップ付き遅延線に入力し、前記
遅延量調整回路は前記タップ付き遅延線のタップをシフ
トしていき、前記データ信号と前記タップ付き遅延線を
通した遅延データ信号とを用いて再生信号または復号信
号がウインドから外れてエラーが発生したことを判断す
ることにより、前記タップ付き遅延線において遅延量が
最大のタップと遅延量が最小のタップを検出する検出回
路と、前記遅延量が最大のタップと前記遅延量が最小の
タップを任意の比に内分するタップを選択するように計
算する計算回路を有することにより前記遅延データ信号
の遅延量を任意に調整することを特徴とする復号回路。
1. A decoding circuit used for reproducing and decoding a data signal recorded in a magnetic recording device, comprising: a delay amount adjusting circuit including a tapped delay line; and a data signal input to the tapped delay line. The delay amount adjusting circuit shifts the taps of the tapped delay line, and the reproduced signal or the decoded signal is deviated from the window using the data signal and the delayed data signal passed through the tapped delay line. A detection circuit that detects a tap having a maximum delay amount and a tap having a minimum delay amount in the delay line with taps by determining that the tap has occurred, a tap having the maximum delay amount and a tap having the minimum delay amount. Arbitrarily adjusting the amount of delay of the delayed data signal by having a calculation circuit that calculates so as to select taps that internally divide taps into an arbitrary ratio Decoding circuit according to claim.
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