JP2841214B2 - 不織布の欠点検出装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、連続走行生産される不織布の欠点検出装置
に関するものである。

〔従来の技術〕

一般に、薄手の不織布（例えば、目付け30g/m以下）
の場合、布の正常部でも構造上厚みむらが著しく分布
し、小さくは数十μｍから大きくは数cm程度の面積で分
散している。

前記した薄手の不織布に対する一次元イメージセンサ
カメラを用いた欠点検出装置においては、特開昭62−13
8740号公報にみられる如く、一次元イメージカメラ側か
らみて不織布の裏側より光源にて照射し、透過部を上記
カメラで撮像し、欠点検出回路部により欠点検出する透
過方式があり、一般に一次元イメージセンサカメラ出力
のビデオ信号を微分処理し、欠点による透過光量変化を
捕らえる欠点検出回路分を採用する場合が多い。

上記した方式で薄手の不織布の欠点を検出しようとす
る場合、不織布とは異色の汚れ、虫や屑等の飛散物等、
不織布と同素材のポリマ異物、正常目付けより厚い部分
欠点等すべての欠点について検出の可能性はあるが、不
織布の厚みむらが直接的に透過光量変化に関与するため
正常部でも透過光量変化が著しく現れ、これらの欠点の
うち約1mm前後の小さい欠点については、欠点による透
過光量変化と布の正常部の厚みむらによる透過光量変化
とがほぼ同等となり、欠点信号Ｓ対布の正常部状態信号
Ｎの比（S/N値以下、SN比と略称する）が小さく信号区
別がしにくいため検出が不可能となってしまうという問
題がある。

〔発明が解決しようとする課題〕

薄手の不織布に対する一次元イメージセンサカメラを
用いた透過方式で、一次元イメージセンサカメラ出力の
ビデオ信号を微分処理し、不織布に存在する欠点による
透過光量変化を捕らえる欠点検出回路分を採用した欠点
検出器について、前述したような欠点に対し約1mm前後
の小さな欠点について検出し難いという問題点を解決し
て、本発明は、前記したような小さな欠点であってもこ
れを充分検出できるような欠点検出装置の提供を目的と
するものである。

〔課題を解決するための手段〕

本発明に係る不織布の欠点検出装置は、前記の目的を
達成するために、走行する不織布を照射する光源と、前
記不織布を透過した光量を捕られる一次元イメージセン
サカメラとを配設し、前記一次元イメージセンサカメラ
から出力されるビデオ信号を微分処理する微分回路と、
微分処理出力信号を比較判定するための比較信号を生成
する比較信号設定回路と、前記微分処理信号と比較信号
を比較判定するための比較回路と、比較回路結果を検査
有効範囲内に制限する検査幅制限回路と、前記各回路用
電源等とからなる欠点検出回路部を備え、前記した光源
が、一次元イメージセンサカメラによる不織布の撮像部
直下で、かつ不織布をはさんで前記カメラの反対側に位
置する直接透過光源部と、前記撮像部を基点として傾斜
角を有し、かつ不織布をはさんで前記カメラの反対側に
位置する間接透過光源部とからなり、前記直接透過光源
部による不織布撮像の透過光量と前記間接透過光源部に
よる不織布撮像部の透過光量とをほぼ等しくすることを
特徴とするものである。

〔作用〕

本発明は、一次元イメージセンサカメラの撮像部直下
より不織布走行方向に離隔して斜め下部より照射可能な
間接透過光源部と、撮像部直下より直接照射可能な直接
透過光源部を設け、前記両光源による不織布撮像部の透
過光量をほぼ等しくすることにより不織布の欠点に対し
約1mm前後の小さい欠点についても検出を可能にしたも
のである。すなわち、仮に、間接透過光源部のみで一次
元イメージセンサカメラにより透過光量を捕らえる場
合、不織布の照射部で光が拡散され、かつ透過光量が少
なくなることにより不織布の正常部の厚みむらによる透
過光量変化は抑えられることになるが、不織布と同素材
のポリマ異物、正常目付けより厚い部分欠点等について
も上記拡散効果により光量変化が著しく小さくなるた
め、これらの欠点検出が不可能となる。

しかるに、間接透過光源部のみで得られる不織布透過
光量とほぼ同等の不織布透過光量を供給可能な直接透過
光源部と前記した間接透過光源部とを併用し、直接透過
光源部より数十mm離隔した位置に不織布を走行させ、一
次元イメージセンサカメラにより透過光量を捕らえるこ
とにより、直接透過光源部からの照射効果により不織布
と同素材のポリマ異物、正常目付けより厚い部分欠点等
について検出を可能にし、かつ、間接透過光源部からの
照射効果により不織布の正常時の厚みむらによる透過光
量変化を小さくすることにより約1mm前後の小さい欠点
の検出も可能としたものである。

〔実施例〕

本発明の実施例を図面に基づいて説明する。

第１図は欠点検出装置の構成を示し、図において、１
は不織布であり、該不織布１は例えば布幅約350mmで約1
00m/分で走行されており、前記走行する不織布１を下方
より光源２にて照射するようにしてある。３は不織布１
をはさんで、前記光源２と反対側に配設され、前記光源
２よりの照射によって前記不織布１を通過した光量を捕
らえる一次元イメージセンサカメラであり、該一次元イ
メージセンサカメラ３は、一次元CCD受光素子の素子数
を1024ビットとし、該CCD受光素子の各素子で得られる
光電変換電圧信号の電子走行を0.15msで繰り返しながら
ビデオ信号Viを出力するもので、上記の条件のもとでは
約0.3mmの分解能を有するビデオ信号Viが得られる。

前記したビデオ信号Viは欠点検出回路部４の微分回路
５に入力し、微分処理し、微分処理出力信号は、比較回
路７により比較信号設定回路６で生成される比較信号と
比較判定される。

比較回路７の判定結果は検査幅制限回路８により検査
有効範囲内に制限され、最終的な欠点検出出力POを得
る。

また、前記した検査幅制限回路８には、検査有効範囲
を決定するために前記した一次元イメージセンサカメラ
３から0.15msの繰り返しパルスとなる電子走査開始信号
STを入力する。

なお、前記した微分回路５、比較回路７、検査幅制限
回路８内に用いるオペアンプ回路作動用として、＋12V
電源（＋Ｖ）、−12V電源（−Ｖ）、OVライン（Ｅ）、
検査幅制限回路８内に用いるインバータ・アンド回路素
子等の作動用としてDC0〜＋5Vの電源を供給する回路用
電源９を用意する。

前記した一次元イメージセンサカメラ３の構成を第２
図に示すが、前記の一次元イメージセンサカメラ３は、
前記した不織布１の走行方向に直交する方向に例えば撮
像範囲約300mmで撮像Ｐすべくレンズ2a及び受光素子数1
024ビットで構成する一次元CCD受光素子2bを備え、前記
一次元CCD受光素子2bで得られる各素子の光伝変換信号
を0.15msごとに電子走査する電子走査回路2cを経てサン
プリングホールド回路2dにより各素子信号をアナログ連
続化してビデオ信号Viとして出力する。また、前記した
欠点検出回路部４の検査幅制限回路８で検査有効範囲を
決定するために必要な0.15msの繰り返しパルスとなる電
子走査開始信号STも前記した電子走査回路2cより出力す
る。

前記した一次元イメージセンサカメラ３の動作信号波
形を第３図に示し、（ａ）は0.15msの繰り返しパルスと
なる電子走査開始信号ST、（ｂ）は、各電子走査ごとの
不織布の状態を捕らえたビデオ信号Viの信号波形であ
る。

電子走査開始信号STはデジタル回路であるアンド回路
素子に入力するためDC0〜＋5Vレベルとし、ビデオ信号V
iは、アナログ回路である前記微分回路５に入力するた
めDC0〜＋10V前後まで許されるが、前記したレンズ2aの
絞りの大きさによりDC0〜＋2V前後となるようにするの
がよい。

透過光量を減ずるような減光特性を示す欠点はビデオ
信号Vi上では電圧値が部分減少する部分波形Siとして現
われる。

微分回路図を第４図に示す。前記した一次元イメージ
センサカメラ３により各電子走査ごとに出力されるビデ
オ信号Viを微分用コンデンサCd、微分用抵抗器Rdで受け
微分処理する。

電子走査を0.15msごととし、撮像範囲を前述したよう
に約300mmとして約1mm前後の欠点に対する信号波形は、
およそ0.5μｓ程度のパルス状となり、これに相当する
変化分を強調する微分定数としての微分用コンデンサC
d、微分用抵抗器Rdの値はRd＝100Ωとすれば、Cd＝800p
F程度となる。この微分結果を入力抵抗R₄₁、帰還抵抗R
₄₂で構成する反転型オペアンプ5aに入力し、該オペアン
プ5aの出力がDC0〜＋10Vの範囲となるように前記の入力
抵抗R₄₁及び帰還抵抗R₄₂を所要の値とし、前記のオペア
ンプ出力を微分回路出力Vdとする。

第５図に微分回路の動作信号波形を示し、（ａ）は各
電子走査ごとの不織布の状態を捕らえたビデオ信号Viの
信号波形であり微分回路の入力信号となる。また、
（ｂ）は微分回路出力Vdの信号波形である。本実施例で
は、微分回路用オペアンプを反転型オペアンプ5aとして
いるため、減光特性を示す欠点のビデオ信号Vi上の部分
波形Siは電圧値が部分減少する波形として現われるが、
微分回路出力Vd上では、電圧値が部分上昇値に大きくな
る微分波形Sdとして現われる。また、ビデオ信号Viの終
端部も電圧値が部分減少する波形として現われるため微
分回路出力Vd上では部分上昇側に大きくなる微分波形Se
として現われる。

比較信号設定回路を第６図に示す。比較信号Vtは、前
記微分回路出力Vdと比較する目的のため該微分回路出力
Vdと同レベルのDC0〜＋10Vの範囲の電圧値が必要とな
る。供給源としてDC12Vの直流安定電源装置6aを用意す
る。電圧降下用抵抗器R₆₁を適当値とすることにより比
較信号取り出し用可変抵抗器VR₆₁の両端電圧を10Vと
し、電圧安定化のために可変抵抗器VR₆₁の両端にツェナ
ダイオードDzを接続する。前記の可変抵抗器VR₆₁の摺動
側端子より電圧信号を取り出せばDC0〜＋10Vの範囲で設
定可能な比較信号Vtが得られる。

第７図に比較回路図を示す。オペアンプを利用した比
較器7aに比較信号Vtと微分回路出力Vdを入力し、 Vd＞Vtの場合比較器7aの出力を＋11V Vd＜Vtの場合比較器7aの出力を−11V となるような動作となる。

前記の比較器7aで得られたVd＞Vtのときのパルス情報
はディジタル回路であるアンド回路素子に入力するた
め、ダイオードＤ、分圧抵抗器R₇₁,R₇₂で構成されるリ
ミット回路7bにより０〜＋5Vレベルのパルスに圧縮し比
較回路出力Vcとする。

比較回路の動作信号波形を第８図に示すが、第８図の
（ａ）は、前記した比較器7aに入力する比較信号Vtと微
分回路出力Vdを示し、（ｂ）は前記比較器7aによる動作
結果Vbで、減光特性を示す欠点の微分回路出力Vd上の微
分波形Sdと、ビデオ信号Viの終端部に対応する微分波形
Seの部分が±11Vにパルス化される。また（ｃ）は前記
したリミット回路7bによる動作結果で比較回路出力Vcと
なる。そして上記微分波形Sd,Seに対応するパルスが０
〜±5VレベルのパルスPd,Peに圧縮される。

検査幅制限回路図を第９図に示す。

前述した一次元イメージセンサカメラ３から出力され
る0.15msの繰り返しパルスとなる電子走査開始信号STを
抵抗器R₉₁,R₉₂,R₉₃、コンデンサC₉₁,C₉₂、可変抵抗器VR
₉₁及びオペアンプで構成する第１段目の単安定マルチバ
イブレータ9aに入力し、各電子走査ごとの検査開始ポイ
ント決定のための電子走査開始信号STからの遅延時間T₁
の幅を有するパルスを生成出力し、該パルスを抵抗器R
₉₄,R₉₅,R₉₆、コンデンサC₉₃,C₉₄、可変抵抗器VR₉₂及び
オペアンプで構成する第２段目の単安定マルチバイブレ
ータ9bに入力し、各電子走査ごとの検査開始ポイントか
ら検査終了ポイントまでの時間、換言すれば検査幅制限
時間T₂の幅を有するパルスを上記T₁後に出力する。上記
T₁,T₂は、可変抵抗器VR₉₁,VR₉₂、コンデンサC₉₂,C₉₄に
より定まり、例えば T₁＝10μｓの場合 VR₉₁＝10kΩ、C₉₂＝510pF T₂＝80μｓの場合 VR₉₂＝80kΩ、C₉₄＝51pF となる。

前記検査幅制限時間T₂の幅を有するパルスは±11Vの
パルスとなり、インバータ9c、アンド回路素子9d等のデ
ィジタル回路に伝送するため、前記微分回路で利用した
ようなリミット回路7bにより０〜＋5Vレベルのパルスに
圧縮し、更に、インバータ9cにより反転し、アンド回路
素子9dに入力する。また、欠点に対応するパルスPd、ビ
デオ信号Viの終端部に対応するパルスPeを含む比較回路
出力Vcを前記アンド回路素子9dに入力し、前記検査制限
時間T₂の幅を有するパルスにより、本来、欠点とは無関
係のビデオ信号Viの終端部に対応するパルスPeの情報が
出力されるのを避け、欠点に対応するパルスPdの情報の
みが出力されるようにする。

このためには、検査幅制限用パルスは、ビデオ信号Vi
の終端部より若干早めに終るような時間幅T₂とすればよ
い。

検査幅制限回路の動作信号波形を第10図に示すが、第
10図（ａ）は、第１段目の単安定マルチバイブレータ9a
に入力する電子走査開始信号STを示し、（ｂ）は、第１
段目の単安定マルチバイブレータ比較器9aの出力を示
し、（ｃ）は第２段目の単安定マルチバイブレータ比較
器9bの出力を示し、（ｄ）は第２段目の単安定マルチバ
イブレータ比較9bの出力をリミット回路7bにより０〜＋
5Vレベルのパルスに圧縮した後、インバータ9cにより反
転した波形を示し、（ｅ）はアンド回路素子に入力する
比較回路出力Vcの波形を示し、（ｆ）は比較回路出力Vc
とインバータ9c出力とのアンドをとったアンド回路素子
の出力波形を示し、これが最終的な欠点検出出力P0とな
る。

光源２の構成を第11図に示す。

前述した一次元イメージセンサカメラ３による不織布
１の撮像部Ｐの直下で、かつ前記の不織布１をはさんで
前記カメラ３の反対側に間接透過光源部11aを配設し、
前記の間接透過光源部11aとして例えば直径約30〜40mm
の直管形高周波螢光灯（例えば、駆動周波数30KHz、20W
のもの）を用い、該直管形螢光灯の管円心位置を前記の
不織布１より例えば約40mm〜60mm離隔させ、かつ前記し
た一次元イメージセンサカメラ３により不織布１の撮像
部Ｐを基点として不織布１より約45゜〜60゜の傾斜範囲
の位置に少なくとも１個以上配設する（本実施例では２
個としている）。上記した間接透過光源部11aにより不
織布１を斜め下部より間接照射Ａで照射する。

前記した撮像部Ｐの直下で、かつ不織布１をはさんで
前記カメラ３の反対側に不織布１と同色で、前記間接照
明Ａを妨げない程度の幅（例えば、幅約30mm前後）とす
る半透明アクリル板（例えば厚み0.3〜1mm前後）や刷り
ガラス（例えば、厚み3mm前後）等の光拡散板を透明ガ
ラス11c上に配置して、前後の高周波螢光灯からなる間
接透過光源部11aから放射する光量の一部を前記光拡散
板に当て不織布を直接照射Ｂが可能な直接透過光源部11
bを配設する。

また、前記した光拡散板からなる直接透過光源部11b
と高周波螢光灯からなる間接透過光源部11aの間にシャ
ッタ11dを設け、該シャッタ11bにより光拡散板で構成す
る直接透過光源部11bの明るさを調製可能となし、直接
照射Ｂを供給する直接透過光源部11bの明るさを、間接
透過光源部11aにより間接照射Ａで得られる不織布透過
光量とをほぼ同等の不織布透過光量を供給可能な明るさ
としている。なお、前記した直接透過光源部11bは、上
記条件の明るさを有する高周波螢光灯で代替可能である
が、本実施例の如く光拡散板、シャッタ構造とすれば電
力供給量も少なく安価な光源となる。

走行する不織布１と直接透過光源部11bとの離隔距離
ｓは前記した条件の下では約20mm〜40mmとなる。

前記した各種光源によるビデオ信号Vi、微分回路出力
Vd上の欠点信号波形例と比較信号、Vtの関係を第12図に
示す。

第12図における（ａ）は、間接透過光源部11aのみの
場合の各種欠点信号波形例、（ｂ）は直接透過光源部11
bのみの場合の各種欠点信号波形例、（ｃ）は間接透過
光源部11aと直接透過光源部11bを併用した場合の各種欠
点信号波形例であり、各種欠点は信号比較する上で、約
1mm前後の汚れ，虫，屑，不織布１と同素材のポリマ異
物，及び約10cm²程度の正常目付けより厚い部分欠点と
している。

前記した（ａ）の間接透過光源部11aのみの場合は、
不織布の照射部で光が拡散され、かつ透過光量が少なく
なることにより不織布の正常部の厚みむらによる透過光
量変化は抑えられることになるが、不織布と同素材の約
1mm前後ポリマ異物、約10cm²程度の正常目付けより厚い
部分欠点等についても前記拡散降下により光量変化が著
しく小さくなるため微分回路出力Vd上の欠点信号S₃,S₄
が非常に小さくなり欠点検出が不可能となる。

前記した（ｂ）の直接透過光源部11bのみの場合は、
この方式で薄手の不織布の欠点検出をしようとする場
合、約1mm前後の汚れ、虫，屑，不織布と同素材のポリ
マ異物、約10cm²程度の正常目付けより厚い部分欠点等
すべての欠点について検出が可能であるが、不織布の厚
みむらが直接的に透過光量変化に関与するため正常部で
あっても透過光量変化が著しく現われ、欠点による透過
光量変化と布の正常部の厚みむらによる透過光量変化と
がほぼ同等となり、欠点信号S₁〜S₄を捉えようとする
と、正常部の透過光量変化の大きい部分の状態信号Ｎを
拾ってしまう場合が発生し、上記のような欠点に対し検
出が不可能となる。

前記した（ｃ）の間接透過光源部11aと直接透過光源
部11bとを併用した場合は、直接透過光源部からの照射
効果により不織布と同素材のポリマ異物，正常目付けよ
り厚い部分欠点等については間接透過光源部11aのみの
場合より透過光量変化が大きくなるため欠点信号S₃〜S₄
を大きくでき、かつ間接透過光源部11aからの照射効果
により不織布の正常部の厚みむらによる透過光量変化が
小さくなるため、正常部の状態信号Ｎを小さくでき、前
記したような約1mm前後の汚れ，虫，屑，不織布と同素
材のポリマ異物，及び約10cm²程度の正常目付けより厚
い部分欠点等に対し欠点の検出が可能となるものであ
る。

前記した実施例における欠点検出回路では、比較信号
設定回路，比較回路をそれぞれ１組として説明したが、
これらを複数組とすることにより、複数段の比較信号に
よる欠点検出が可能となるものである。

本実施例は、一次元イメージセンサカメラ３の撮像部
Ｐ直下より不織布１より離隔して斜め下方より照射可能
な間接透過光源部11aと、撮像部Ｐ直下より直接照射可
能な直接透過光源部11bを設け、前記両光源部11a,11bに
よる不織布撮像部Ｐの透過光量をほぼ等しくすることに
より、1mm前後の小さい欠点でも検出を可能にしたもの
である。すなわち、一次元イメージセンサカメラ３の撮
像部直下から不織布１より離隔して高周波螢光灯を配置
して前記不織布１を斜め裏側45゜から60゜の角度より照
射可能な間接透過光源部11bを設け、前記撮像部Ｐ直下
に不織布１と同色の半透明アクリル板や刷りガラス等の
光拡散板を配置して上記高周波螢光灯から放射する光量
の一部を前記光拡散面に当てて不織布１を直接裏側から
照射可能な直接透過光源部11bとした。更に、前記した
光拡散板と高周波螢光灯の間にシャッタ11dを設け、直
接透過光源部11bによる不織布撮像部の透過光量を間接
透過光源部による透過光量とほぼ同じくするように明る
さの調整可能としてある。

そして、仮に、間接透過光源部11aのみで一次元イメ
ージセンサカメラ３により透過光量を捕らえる場合、不
織布の照射部で光が拡散され、かつ透過光量が少なくな
ることにより不織布１の正常部の厚みむらによる透過光
量変化は抑えられることになるが、不織布１と同素材の
ポリマ異物，正常目付けより厚い部分欠点等についても
上記拡散効果により光量変化が著しく小さくなるため、
これらの欠点検出が不可能となる。

しかるに、間接透過光源部11aのみで得られる不織布
透過光量とほぼ同等の不織布透過光量を供給可能な前記
拡散板で構成する直接透過光源部11bと前記高周波螢光
灯で構成する間接透過光源部11aとを併用し、前記の直
接透過光源部11bより数十mm（約20〜40mm）離隔した位
置に不織布１を走行させ、一次元イメージセンサカメラ
３により透過光量を捕らえることにより、直接透過光源
部11bからの照射効果により不織布と同素材のポリマ異
物，正常目付けより厚い部分欠点等についても検出を可
能にし、かつ、間接透過光源部からの照射効果により不
織布の正常部の厚みむらによる透過光量変化を小さくす
ることにより約1mm前後の小さい欠点の検出も可能とし
たものである。そして、前記した実施例においては、不
織布１の約1mm前後の汚れ，虫，屑，不織布１と同素材
のポリマ異物等の欠点の検出について述べたが、その他
に不織布の欠点の要素として穴欠点があるが、光源２内
の直接透過光源部11bの明るさをシャッタの位置調整に
より適当量暗くすることにより穴部が減光特性を示すよ
うになり検出が可能となり、更に、光源２内のシャッタ
を全開位置とすることにより直接透過光源部11bの明る
さを最大とし、透過光量増加を図れば厚手の不織布（例
えば、目付け30g/m²を超えるもの）に対しても欠点の検
出が可能となる。

本実施例による欠点検出装置は、次のように使用して
不織布の検査を管理することができる。

すなわち、布幅約350mm前後の不織布を約100m/分前後
で走行させるような不織布１の巻き返し工程の布走行途
中に、前記の不織布１を光源２で照射し、前記不織布１
を透過した光量を捕らえるために、前記光源２と前記不
織布１をはさんで反対側に一次元イメージセンサカメラ
３を配設し、該一次元イメージセンサカメラ３から出力
するビデオ信号Viを欠点検出回路部４に入力する本実施
例の欠点検出装置を配置し、巻き返しロール等の回転部
にフリクションプーリ付きロータリエンコーダ型パルス
ジェネレータを設置し、該パルスジェネレータのパルス
カウントによる布の走行長計測をマイクロコンピュータ
等で行い、かつ前記した欠点検出装置の欠点検出出力
を、前記したマイクロコンピュータに入力することによ
り布の走行方向に対する欠点発生位置を管理するように
し、また、前記した欠点検出装置においては電子走査開
始信号から欠点信号位置までの時間を計測するロジック
回路を追加し布幅方向の欠点位置を計測し、この結果を
上記マイクロコンピュータに入力することにより布幅方
向の欠点位置を管理する。

上記したマイクロコンピュータによる管理結果を布が
巻き終る時点でプリンタ等により記録出力することによ
り欠点検出装置の本来の目的を達成できるものである。

また、布幅が350mmを超えるような不織布の生産工程
における布走行途中での検査をする場合、一次元イメー
ジセンサカメラ、欠点検出回路部を必要数用意して、欠
点検出をする。

〔発明の効果〕

本発明に係る、不織布の欠点検出装置は、間接透過光
源部と直接透過光源部との併用により約1mm前後の小さ
い欠点まで完全に検出ができるものであり、また、不織
布の欠点要素として穴欠点があるが、光源内の直接透過
光源部の明るさを適度に暗くすることにより穴部が減光
特性を示すようになり、検出が可能となり、更に、光源
内の直接透過光源部の明るさを最大にし、透過光量増加
を図れば厚手の不織布に対しても欠点検出可能となる。

また、欠点検出回路部の比較信号設定回路、比較回路
を複数とすることにより、複数段の比較信号による欠点
検出が可能となり、欠点の程度分離ができ、ひいては不
織布製品の格付けまで応用できるという効果を有するも
のである。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の実施例を示し、第１図は欠点検出装置の
構成説明図、第２図は一次元イメージセンサカメラの構
成説明図、第３図は一次元イメージセンサカメラの動作
信号波形図で（ａ）は電子走査開始信号図、（ｂ）はビ
デオ信号の波形を示す。第４図は微分回路図、第５図は
微分回路の動作信号波形図で（ａ）は各電子走査ごとの
不織布の状態のビデオ信号の信号波形、（ｂ）は微分回
路出力の信号波形である。第６図は比較信号設定回路
図、第７図は比較回路図、第８図は比較回路の動作信号
波形図で（ａ）は比較器に入力する比較信号と微分回路
出力を示し、（ｂ）は比較器による動作結果を示し、
（ｃ）は比較回路出力を示す。第９図は検査幅制限回路
図、第10図は検査制限回路の動作信号波形図で（ａ）は
電子走査開始信号を示し、（ｂ）は第１段目の単安定マ
ルチバイブレータの出力を示し、（ｃ）は第２段目の単
安定マルチバイブレータ比較器の出力を示し、（ｄ）は
インバータによる反転した波形を示し、（ｅ）はアンド
回路素子に入力する比較回路出力の波形を示し、（ｆ）
はアンド回路素子の出力波形を示す。第11図は光源の構
成説明図、第12図は各種光源によるビデオ信号、微分回
路出力上の欠点信号波形例と比較信号との関係図で、
（ａ）は間接透過光源部のみの場合の各種欠点信号波形
例、（ｂ）は直接透過光源部のみの場合の各種欠点信号
波形例、（ｃ）は間接透過光源部と直接透過光源部を併
用した場合の各種欠点信号波形例を示す。 1:不織布、2:光源 3:一次元イメージセンサカメラ 4:欠点検出回路部、5:微分回路 6:比較信号設定回路、7:比較回路 8:検査幅制限回路、9:回路用電源 11a:間接透過光源部、11b:直接透過光源部

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】走行する不織布を照射する光源と、前記不
   織布を透過した光量を捕らえる一次元イメージセンサカ
   メラとを配設し、前記一次元イメージセンサカメラから
   出力されるビデオ信号を微分処理する微分回路と、微分
   処理出力信号を比較判定するための比較信号を生成する
   比較信号設定回路と、前記微分処理信号と比較信号を比
   較判定するための比較回路と、比較回路結果を検査有効
   範囲内に制限する検査幅制限回路と、前記各回路用電源
   等とからなる欠点検出回路部を備え、前記した光源が、
   一次元イメージセンサカメラによる不織布の撮像部直下
   で、かつ不織布をはさんで前記カメラの反対側に位置す
   る直接透過光源部と、前記撮像部を基点として傾斜角を
   有し、かつ不織布をはさんで前記カメラの反対側に位置
   する間接透過光源部とからなり、前記直接透過光源部に
   よる不織布撮像の透過光量と前記間接透過光源部による
   不織布撮像部の透過光量とをほぼ等しくすることを特徴
   とする不織布の欠点検出装置。