JP2834799B2 - タブパッケージのバーンインテスト用治具 - Google Patents
タブパッケージのバーンインテスト用治具Info
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- printed wiring
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
配線パターンを設け、該配線パターンにICチップ、LSI
チップ等の集積回路チップをボンディングしてなるいわ
ゆるタブ(TAB)パッケージをバーンインテストするた
めに用いられるタブパッケージのバーンインテスト用治
具に関する。
ルム上に形成され、該タブパッケージが多数連なったタ
ブパッケージテープは、一般に数10メートルあり、今後
さらに長尺化する傾向にある。該テープは通常リールに
巻かれているが、各タブパッケージにバーンインテスト
を実施するにあたっては、それが作動するための電力や
信号の印加が必要であるので、前記テープは適当な長さ
に切断される。切断された各テープはバーンインテスト
装置に着脱可能なボード状のバーンインテスト用治具に
配列されたタブパッケージ用ソケットに装着される。
ソケットは該治具に固定されている。
たテープ送りやソケットへの位置決めに用いる孔がタブ
パッケージテープ製作時の寸法誤差や熱的な影響、或い
はこれらの積算等のために正規位置からずれていること
がある。
ッケージテープを装着する場合には、前記位置決め孔の
位置ずれがあっても、そのずれの影響を受けず、タブパ
ッケージを傷付けないように正しく装着するために、タ
ブパッケージテープを個々のパッケージに、または、短
冊状に切断しなければならない。短冊状に切断する場
合、それぞれの短冊状テープは前記ずれを許容できるよ
うに短くならざるを得ない。
ーンインテストを行っている間の熱的影響等によるテー
プの歪発生を考慮するうえからも、前記短冊状テープは
短いものにならざるを得ない。
における不良タブパッケージを切断除去する。
テープは多数の個々のパッケージや短い短冊状テープに
切断されるのであるが、このように切断された個々のパ
ッケージや各短冊状テープは次の工程に備えてリールに
巻き取る等のために再び一連のテープに継ぎ合わされ
る。
ジテープにおいては、耳部の孔や各タブパッケージにお
ける電極等の位置その他において、当初の精度が得られ
ないため、次工程における円滑な連続送り処理等が困難
になることが多い。
ぎ合わせ箇所をできるだけ少なくして継ぎ合わせ後の一
連のタブパッケージテープの精度をできるだけ当初のも
のに復元し易いようにタブパッケージテープを従来に比
し長い短冊状に切断した状態で、しかも該短冊状テープ
上の各タブパッケージを傷つけることなく、正確にバー
ンインテストを実施できるタブパッケージのバーンイン
テスト用治具を提供することを目的とする。
ームと、 前記フレーム上に1または数列に配列され、前記マザ
ー基板に結線される小プリント配線板と、 前記各小プリント配線板列における各小プリント配線
板に該列の方向に順次設けられた1または数個のソケッ
ト部とを備え、 前記各小プリント配線板は該小プリント配線板を含む
小プリント配線板列の方向に若干遊動可能に前記本体フ
レームに取り付けられており、前記各ソケット部は該ソ
ケット部を含む小プリント配線板列の方向に延ばされた
タブパッケージテープ上のタブパッケージを装着でき、
または該装着状態から該パッケージを外せるように形成
されていることを特徴とするタブパッケージのバーンイ
ンテスト用治具を提供するものである。
パッケージテープの個々の切断部分が、治具本体フレー
ム上の各列の小プリント配線板におけるソケット部にわ
たし配置され、該切断部分上の個々のタブパッケージが
ソケット部に装着される。その後、前記本体フレームが
バーンインテスト装置内に装着され、該フレーム一端部
のマザー基板における端子部が、バーンインテスト装置
内のコネクタに接続され、所要の信号等が印加され、バ
ーンインテストが実施される。テスト終了後は本体フレ
ームがバーンインテスト装置外へ取り出され、各ソケッ
ト部からタブパッケージが取り外される。かくしてバー
ンインテストを終了した各短冊状テープは、不良パッケ
ージ部分を切断除去したのち、再び一連のテープに継ぎ
合わされる。
ら見た状態を示しており、第2図は治具の断面を、第3
図は治具の底面を示している。第4図は小プリント配線
板の遊動取付構造を説明している。第5図は開いた状態
のソケットとタブパッケージテープを示している。また
第6図は第1図の治具をバーンインテスト装置に装着し
た状態を示している。
11には図示しないプリント配線が施されており、該配線
は一方では基板下面のフラットケーブルコネクタ12に接
続されており、他方では端子13に接続されている。
設けられている。これら横桟の下には底板15が設けられ
ている。
置されている。従って、本体フレーム1には一列につき
4枚の板2を含む合計4列の小プリント配線板列があ
る。
ト3が小プリント配線板列の方向Xに隣り合わせてネジ
留め固定されているとともに、板2の下面にはフラット
ケーブルコネクタ4が設けられている。また、各小プリ
ント配線板2には、図示しないプリント配線が施されて
おり、該配線は一方では2個のソケット3に、他方では
板下面のコネクタ4に接続されている。
るタブパッケージテープの単位長さの整数倍(本例では
2倍)より少し短く作られている。
た板2に代表的に示されるように、4ケ所に小プリント
配線板列の方向に長い長孔21が設けられており、該各孔
に貫通するネジ棒5(第4図参照、第1図では省略)が
横桟14に螺合している。これをさらに詳言すると、第4
図に示すようにネジ棒5はネジ頭51の下に前記プリント
配線板2の長孔21に遊嵌するスペーサ部52を有し、その
下に雄ネジ部53を備えている。また、長孔21の上下に滑
性のよい四沸化エチレン樹脂(テフロン)製のリング2
2、23が配置され、前記スペーサ部52はこれら両リング
の厚さの和および前記長孔21の長さの合計より若干長
く、リング22、長孔21およびリング23を貫通し、前記雄
ネジ部53が横桟14に螺着している。
れを含む板列方向Xに若干遊動可能となっている。
ジ棒スペーサ部52の外径より若干大きく、従って各板2
は該板を含む板列に直交する方向にも僅かに動くことが
できる。もっともこの方向の動きは、タブパッケージテ
ープのねじれ等を防止するため大きいものであってはい
けない。また、必ずしも必要ではない。
び第3図に示すようにフラットケーブル41でマザー基板
11下面のコネクタ12へ結線される。
とおりである。
た上下の部材31、32およびこれらを閉位置にロックする
ロック爪33を備えており、下部材32が板2にネジ留めさ
れている。下部材32にはこのソケットに装着されるタブ
パッケージ6の電極(パッド)61が接触する接点34を多
数備えており、該接点は板2上のプリント配線に継なが
っている。また、下部材32はタブパッケージ6を位置決
めするためのピン35を備えており、タブパッケージテー
プ60の耳部にあるテープ送り用孔62がこれらピンに嵌め
られることにより各パッケージが下部材32上の正規位置
に配置される。
嵌まる穴311を備えているとともにタブパッケージ上の
集積回路チップ63が嵌まる孔312を備えており、この上
部材31が下部材32上に閉じられることにより、タブパッ
ケージは正規位置でソケットに装着されることになる。
図示しない爪回動軸に装着したバネの作用で常時ロック
方向への回動力を付与され、下部材32上に閉じた上部材
31に係止して、該上部材31を閉位置にロックすることが
できる。
ケット3の上部材31が開かれ、一方、タブパッケージテ
ープ60がタブパッケージ6を8個ずつ含むように短冊状
に切断される。
下部材32上にわたし載置され、各パッケージ6が対応す
る下部材32上に正規位置で配置されるとともに、上部材
31が閉じられ、ロック爪33にてロックされる。
プ孔62の位置ずれ等の寸法誤差は、各小プリント配線板
2がX方向に遊動することで吸収される。
6図に示すようにバーンインテスト装置7に装填され、
各治具の端子13が装置7のコネクタ71に挿入連結され
る。
中継ボード72を介してドライバ73から必要な信号が印加
され、従って各タブパッケージにも信号が印加される。
なお、バーンインテスト装置内は必要に応じ図示しない
装置により、所定の温度または温湿度に維持される。
はテスト装置外へ取り出され、各治具上のソケット3に
おけるロック爪33が解かれて各短冊状のテープが取り出
される。
断され、残ったパッケージが一連のテープに継ぎ直さ
れ、次の工程に備えられる。
的長く短冊状に切断されるので、バーンインテスト終了
後、これらを継いで一連のテープに形成し直す場合に、
寸法上、当初の精度を、またはそれに近い精度を復元し
易いという利点がある。
位置誤差やその積算誤差は、各小プリント配線板2が主
として小プリント配線板列方向Xに遊動することにより
吸収でき、従って、テープを損傷することなく安全に各
パッケージをソケット3に装着できる。さらに、バーン
インテスト中、ソケットに装着されたテープが熱的影響
等により伸縮することがあっても、これも前記小プリン
ト配線板の遊動により吸収することができる。
く、他にも種々の態様で実施することができる。
ト3が固定されているが、これら両者を一体的に形成す
ることも可能であり、例えば、小プリント配線板の一部
がソケットの一部を、或いはソケットの一部が小プリン
ト配線板の一部を構成していてもよい。
2個の限定される必要はなく、タブパッケージテープの
寸法誤差に応じて1個でも、3個以上でもよい。また、
各小プリント配線板列の数および該列における板2の個
数も前記実施例に限定されるものではない。
ぎ合わせ箇所をできるだけ少なくして継ぎ合わせ後の一
連のタブパッケージテープの精度をできるだけ当初のも
のに復元し易いようにタブパッケージテープを従来に比
し長い短冊状に切断した状態で、しかも該短冊状テープ
上の各タブパッケージを傷付けることなく、正確にバー
ンインテストを実施できるタブパッケージのバーンイン
テスト用治具を提供することができる。
パッケージに変更があった場合でも、各ソケット部およ
び小プリント配線板、またはマザー基板、或いはこれら
双方を変更するだけで対応できるので、当該変更に要す
る費用をそれだけ低減できる利点がある。
分配を行えるようにするときには、マザー基板を各種タ
ブパッケージに共通化でき、それだけ治具製作費を安価
に済ませることができる。
斜視図、第2図は全体の断面図、第3図は底面図であ
り、第4図は小プリント配線板の遊動構造説明図、第5
図は開状態のソケットおよびタブパッケージテープの斜
視図、第6図は第1図の治具がバーンインテスト装置に
装填された状態の説明図である。 1……本体フレーム 11……マザー基板 13……端子 2……小プリント配線板 3……ソケット 60……タブパッケージテープ 6……タブパッケージ
Claims (1)
- 【請求項1】端子部を有するマザー基板を一端部に備え
た本体フレームと、 前記フレーム上に1または数列に配列され、前記マザー
基板に結線される小プリント配線板と、 前記各小プリント配線板列における各小プリント配線板
に該列の方向に順次設けられた1または数個のソケット
部とを備え、 前記各小プリント配線板は該小プリント配線板を含む小
プリント配線板列の方向に若干遊動可能に前記本体フレ
ームに取り付けられており、前記各ソケット部は該ソケ
ット部を含む小プリント配線板列の方向に延ばされたタ
ブパッケージテープ上のタブパッケージを装着でき、ま
たは該装着状態から該タブパッケージを外せるように形
成されていることを特徴とするタブパッケージのバーン
インテスト用治具。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1292800A JP2834799B2 (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 | タブパッケージのバーンインテスト用治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1292800A JP2834799B2 (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 | タブパッケージのバーンインテスト用治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03153051A JPH03153051A (ja) | 1991-07-01 |
JP2834799B2 true JP2834799B2 (ja) | 1998-12-14 |
Family
ID=17786511
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1292800A Expired - Lifetime JP2834799B2 (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 | タブパッケージのバーンインテスト用治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2834799B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3038284B2 (ja) * | 1993-09-17 | 2000-05-08 | 株式会社東芝 | 半導体素子用バーイン装置 |
-
1989
- 1989-11-10 JP JP1292800A patent/JP2834799B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH03153051A (ja) | 1991-07-01 |
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