JP2794258B2 - V溝の測定方法 - Google Patents
V溝の測定方法Info
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- JP2794258B2 JP2794258B2 JP35516392A JP35516392A JP2794258B2 JP 2794258 B2 JP2794258 B2 JP 2794258B2 JP 35516392 A JP35516392 A JP 35516392A JP 35516392 A JP35516392 A JP 35516392A JP 2794258 B2 JP2794258 B2 JP 2794258B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、通信用光ファイバ接
続用コネクタおよびコネクタ成形用金型の、V溝のセン
タ位置を測定する方法に関するものである。
続用コネクタおよびコネクタ成形用金型の、V溝のセン
タ位置を測定する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】図3にV溝を用いた光コネクタ10の一
例を示す。これは光コネクタ10をz方向から見た端面
を示す(xyz方向は矢印のように決める)。12はフ
ェルール、14は位置決めピンで、16はそのV溝、1
8は光ファイバで、20はそのV溝である。ピン14は
光ファイバ18よりも大径であるから、V溝16はV溝
20よりも大きい。22は押えである。
例を示す。これは光コネクタ10をz方向から見た端面
を示す(xyz方向は矢印のように決める)。12はフ
ェルール、14は位置決めピンで、16はそのV溝、1
8は光ファイバで、20はそのV溝である。ピン14は
光ファイバ18よりも大径であるから、V溝16はV溝
20よりも大きい。22は押えである。
【0003】光コネクタ10において、 ・左右の位置決めピン14のセンタ間の間隔a、 ・位置決めピン14と一番外側の光ファイバ18のセン
タ間の間隔b、 ・各光ファイバ18のセンタ間の間隔c、 が、すべて正確に規格どおりであれば、このような光コ
ネクタ同志の接続損失は最低になる。
タ間の間隔b、 ・各光ファイバ18のセンタ間の間隔c、 が、すべて正確に規格どおりであれば、このような光コ
ネクタ同志の接続損失は最低になる。
【0004】従来は、V溝16,20の形状を、透過光
による画像処理、接触式輪郭形状測定機などにより測定
し、V溝16,20の各センタ160,200を算出し
(図4)、それから上記a,b,cの値を求めていた。
による画像処理、接触式輪郭形状測定機などにより測定
し、V溝16,20の各センタ160,200を算出し
(図4)、それから上記a,b,cの値を求めていた。
【0005】
(1)V溝の表面の粗さ、うねり、曲面度の影響があ
り、精度が悪かった。 (2)靱性材料の場合、バリ202が影響した。 (3)図5のように、光ファイバ18の場合の例につい
て言えば、V溝20に角度差(θ1≠θ2)があるとき、
V溝20のセンタ200と、光ファイバ18の中心18
0とが一致しなかったので、コネクタ接続時に光ファイ
バ端面間に軸ずれが生じた。
り、精度が悪かった。 (2)靱性材料の場合、バリ202が影響した。 (3)図5のように、光ファイバ18の場合の例につい
て言えば、V溝20に角度差(θ1≠θ2)があるとき、
V溝20のセンタ200と、光ファイバ18の中心18
0とが一致しなかったので、コネクタ接続時に光ファイ
バ端面間に軸ずれが生じた。
【0006】
(1)図1のように、z方向のV溝16,20にダミー
となる所定形状、たとえば円柱状のピン30,32を置
き、y方向の上方から画像センサ42で、反射照明によ
り観察し、その出力信号を画像処理して、前記ピンのセ
ンタ位置を求める。 (2)または図2のように、z方向のV溝16,20に
球34,36を置き、z方向の横から画像センサ42
で、反射照明により観察し、その出力信号を画像処理し
て、前記球のセンタ位置を求める。
となる所定形状、たとえば円柱状のピン30,32を置
き、y方向の上方から画像センサ42で、反射照明によ
り観察し、その出力信号を画像処理して、前記ピンのセ
ンタ位置を求める。 (2)または図2のように、z方向のV溝16,20に
球34,36を置き、z方向の横から画像センサ42
で、反射照明により観察し、その出力信号を画像処理し
て、前記球のセンタ位置を求める。
【0007】
【作 用】画像センサ42の出力信号を画像処理によ
り、たとえば2値化したとき、受光量やしきい値のとり
方によりピン30,32の外側位置(直径)は変化する
が、センタ位置は変化しない。よって、実際に位置決め
ピンや光ファイバを配置したときと同状態で測定できる
から、V溝の形状や面精度に関係なくセンタ位置の高精
度の測定ができる。
り、たとえば2値化したとき、受光量やしきい値のとり
方によりピン30,32の外側位置(直径)は変化する
が、センタ位置は変化しない。よって、実際に位置決め
ピンや光ファイバを配置したときと同状態で測定できる
から、V溝の形状や面精度に関係なくセンタ位置の高精
度の測定ができる。
【0008】
【実施例1】図1のように、円柱状のピン30,32を
V溝16,20に置く。同図(a)はフェルール12を
y方向の上から見た状態、(b)はフェルール12をz
方向の横から見た状態を示す。同図(b)のように、光
40を真上からフェルール12の表面に照射し、反射光
を画像センサ42(たとえばCCDカメラ)でとらえ
る。図1(c)に示すように、ピン30の表面は、端部
側300より中央側302の方が反射光量が大きくな
る。画像センサ42の出力信号を画像処理する。同図
(b)に、2値化した後のパターン44を、ディスプレ
イ46(たとえばCRT)上に示した場合を示す。波形
パターン内で各凹部(L)のセンタ位置は、ピン30,
32のセンタ位置と正確に一致する。また、ピン30の
センタ位置は、V溝16に入れる位置決めピン14のセ
ンタ位置とも正確に一致し、またピン32のセンタ位置
は、V溝20に入れる光ファイバ18のセンタ位置とも
正確に一致する。
V溝16,20に置く。同図(a)はフェルール12を
y方向の上から見た状態、(b)はフェルール12をz
方向の横から見た状態を示す。同図(b)のように、光
40を真上からフェルール12の表面に照射し、反射光
を画像センサ42(たとえばCCDカメラ)でとらえ
る。図1(c)に示すように、ピン30の表面は、端部
側300より中央側302の方が反射光量が大きくな
る。画像センサ42の出力信号を画像処理する。同図
(b)に、2値化した後のパターン44を、ディスプレ
イ46(たとえばCRT)上に示した場合を示す。波形
パターン内で各凹部(L)のセンタ位置は、ピン30,
32のセンタ位置と正確に一致する。また、ピン30の
センタ位置は、V溝16に入れる位置決めピン14のセ
ンタ位置とも正確に一致し、またピン32のセンタ位置
は、V溝20に入れる光ファイバ18のセンタ位置とも
正確に一致する。
【0009】
【実施例2】図2のように、球34,36をV溝16,
20に置く。同図(a)はy方向の上から見た状態、
(b)はz方向の横から見た状態、(c)はx方向の横
から見た状態を示す。同図(c)のように、光40をz
方向の真横からフェルール12の正面に照射し、反射光
を画像センサ42(たとえばCCDカメラ)でとらえ
る。それ以後は、上記実施例1の場合と同じである。
20に置く。同図(a)はy方向の上から見た状態、
(b)はz方向の横から見た状態、(c)はx方向の横
から見た状態を示す。同図(c)のように、光40をz
方向の真横からフェルール12の正面に照射し、反射光
を画像センサ42(たとえばCCDカメラ)でとらえ
る。それ以後は、上記実施例1の場合と同じである。
【0010】位置決めで重要な要素はピン30間の長さ
であり、またピン30はピン32よりも大きく画像処理
も容易で精度も優れるから、この長さが規定値であるか
どうかを検討するだけでもコネクタ精度は向上する。ピ
ンは、断面円形の円柱状ピンが好ましいが、他形状でも
よい。なお、V溝研削加工機に、本発明を適用すれば、
機上測定が可能で、ワークをチャックから外さずに、V
溝測定ができる。
であり、またピン30はピン32よりも大きく画像処理
も容易で精度も優れるから、この長さが規定値であるか
どうかを検討するだけでもコネクタ精度は向上する。ピ
ンは、断面円形の円柱状ピンが好ましいが、他形状でも
よい。なお、V溝研削加工機に、本発明を適用すれば、
機上測定が可能で、ワークをチャックから外さずに、V
溝測定ができる。
【0011】
【発明の効果】V溝に所定形状たとえば円柱状ピンまた
は球を置き、それを画像センサで観察し、その出力信号
を画像処理するので、ピンまたは球のセンタは、上記の
ように、正確に求められる。また、ピンまたは球のセン
タ位置は、位置決めピン14,光ファイバ18のセンタ
位置とも正確に一致する。したがって、V溝の角度差や
表面の粗さ、うねり、曲面度、バリ等の影響を受けず
に、V溝のセンタ位置を高い精度で測定できるから、高
精度の光ファイバコネクタ用の金型や光コネクタを提供
することができる。
は球を置き、それを画像センサで観察し、その出力信号
を画像処理するので、ピンまたは球のセンタは、上記の
ように、正確に求められる。また、ピンまたは球のセン
タ位置は、位置決めピン14,光ファイバ18のセンタ
位置とも正確に一致する。したがって、V溝の角度差や
表面の粗さ、うねり、曲面度、バリ等の影響を受けず
に、V溝のセンタ位置を高い精度で測定できるから、高
精度の光ファイバコネクタ用の金型や光コネクタを提供
することができる。
【図1】本発明の実施例1の説明図。
【図2】本発明の実施例2の説明図。
【図3】V溝を用いたコネクタの端面の説明図。
【図4】V溝の説明図。
【図5】V溝の角度差や表面の粗さ、バリ等の説明図。
10 光コネクタ 12 フェルール 14 位置決めピン 16,20 V溝 22 押え 30,32 ピン 34,36 球 40 光 42 画像センサ 44 パターン 46 ディスプレイ
フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01B 11/00 - 11/30 G01B 21/00 - 21/32 G02B 6/24,6/36,6/38,6/40
Claims (2)
- 【請求項1】 z方向のV溝に所定形状のピンを置き、
y方向の上方から画像センサで、反射照明により観察
し、その出力信号を画像処理して、前記ピンのセンタ位
置を求める、V溝の測定方法。 - 【請求項2】 z方向のV溝に球を置き、z方向の横か
ら画像センサで、反射照明により観察し、その出力信号
を画像処理して、前記球のセンタ位置を求める、V溝の
測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35516392A JP2794258B2 (ja) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | V溝の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP35516392A JP2794258B2 (ja) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | V溝の測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH06185982A JPH06185982A (ja) | 1994-07-08 |
JP2794258B2 true JP2794258B2 (ja) | 1998-09-03 |
Family
ID=18442311
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP35516392A Expired - Fee Related JP2794258B2 (ja) | 1992-12-17 | 1992-12-17 | V溝の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2794258B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8363904B2 (en) | 2009-10-13 | 2013-01-29 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface texture measuring machine |
US8654351B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface profile measuring machine |
US8650939B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method |
-
1992
- 1992-12-17 JP JP35516392A patent/JP2794258B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8363904B2 (en) | 2009-10-13 | 2013-01-29 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface texture measuring machine |
US8654351B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Offset amount calibrating method and surface profile measuring machine |
US8650939B2 (en) | 2009-10-13 | 2014-02-18 | Mitutoyo Corporation | Surface texture measuring machine and a surface texture measuring method |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH06185982A (ja) | 1994-07-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |