JP2784357B2 - Overcurrent protection circuit - Google Patents

Overcurrent protection circuit

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JP2784357B2
JP2784357B2 JP3354816A JP35481691A JP2784357B2 JP 2784357 B2 JP2784357 B2 JP 2784357B2 JP 3354816 A JP3354816 A JP 3354816A JP 35481691 A JP35481691 A JP 35481691A JP 2784357 B2 JP2784357 B2 JP 2784357B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、負荷である回路を過電
流から保護する過電流保護回路に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an overcurrent protection circuit for protecting a load circuit from overcurrent.

【0002】[0002]

【従来の技術】負荷に直列に接続して、過電流から負荷
を保護する装置として、ヒューズやブレーカ等が使用さ
れている。
2. Description of the Related Art Fuses, breakers, and the like are used as devices connected in series to a load to protect the load from overcurrent.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ヒューズは、過電流が
流れると溶断するために、その度に、交換しなければな
らない。ブレーカは、遮断速度が遅いために、速動性を
必要とする回路には使用できない。本発明は、ヒューズ
やブレーカのように、必要なところに簡単に負荷に直列
に接続することができ、過電流が流れるたびに交換する
必要がなく、遮断特性を負荷に合わせて、速動形にも、
遅延形にもできる、N型・P型のディプレッション形M
OS電界効果半導体による過電流保護回路を提供するこ
とを目的とする。
The fuse must be replaced each time it blows when an overcurrent flows. The breaker cannot be used for a circuit that requires a high speed due to a low breaking speed. The present invention can be easily connected in series to the load where necessary, such as a fuse or breaker, and does not need to be replaced every time an overcurrent flows. Also,
N-type / P-type depletion type M that can be used as a delay type
It is an object to provide an overcurrent protection circuit using an OS field effect semiconductor.

【0004】[0004]

【課題を解決するための手段】本発明は、N型ディプレ
ッション形MOS半導体(以下N型DMOSと略す)の
ソースとP型ディプレッション形MOS半導体(以下P
型DMOSと略す)のソースとを接続し、N型DMOS
のゲートは抵抗等を通じてP型DMOSのドレインに接
続し、P型DMOSのゲートは抵抗等を通じてN型DM
OSのドレインに接続し、N型DMOSのドレインをプ
ラス、P型DMOSのドレインをマイナスとする過電流
保護回路である。
According to the present invention, a source of an N-type depletion type MOS semiconductor (hereinafter abbreviated as N-type DMOS) and a P-type depletion type MOS semiconductor (hereinafter referred to as a P-type depletion type MOS semiconductor) are provided.
N-type DMOS)
Is connected to the drain of a P-type DMOS through a resistor or the like, and the gate of the P-type DMOS is connected to the N-type DM
This is an overcurrent protection circuit connected to the drain of the OS, where the drain of the N-type DMOS is plus and the drain of the P-type DMOS is minus.

【0005】[0005]

【作用】 上記のように構成された過電流保護回路は、
N型DMOSのドレインがプラス、P型DMOSのドレ
インがマイナスの過電流が流れる時、P型DMOSにお
ける電位差がN型DMOSのゲート電圧になり、N型D
MOSにおける電位差がP型DMOSのゲート電圧にな
るために、過電流が流れて、N型DMOS、P型DMO
Sにおける電位差が大きくなると、それによりP型DM
OS、N型DMOSのゲート電圧が大きくなり、そし
て、P型DMOS、N型DMOSのゲート電圧が大きく
なると、また、P型DMOS、N型DMOSにおける電
位差が大きくなることを、繰り返して過電流を遮断す
る。
The overcurrent protection circuit configured as described above,
When an overcurrent flows through the drain of the N-type DMOS plus and the drain of the P-type DMOS negative , the potential difference in the P-type DMOS becomes the gate voltage of the N-type DMOS,
Since the potential difference in the MOS becomes the gate voltage of the P-type DMOS, an overcurrent flows and the N-type DMOS and the P-type DMO
When the potential difference at S increases, the P-type DM
When the gate voltages of the OS and N-type DMOSs increase and the gate voltages of the P-type and N-type DMOSs increase, the potential difference between the P-type and N-type DMOSs also increases. Cut off.

【0006】[0006]

【実施例】本発明の過電流保護回路の実施例を、図1に
より説明する。N型DMOS1のソースとP型DMOS
2のソースとを接続し、N型DMOS1のゲートはP型
DMOS3のドレインに接続し、P型DMOS3のソー
スはP型DMOS4のドレインに接続し、P型DMOS
4のソースはN型DMOS5のソースに接続し、N型D
MOS5のドレインは抵抗6を通じてP型DMOS2の
ドレインに接続する。P型DMOS2のゲートはN型D
MOS10のドレインに接続し、N型DMOS10のソース
はN型DMOS9のドレインに接続し、N型DMOS9
のソースはP型DMOS8のソースに接続し、P型DM
OS8のドレインは抵抗7を通じてN型DMOS1のド
レインに接続する。P型DMOS3のゲートはN型DM
OS1のドレインに接続し、P型DMOS4のゲートは
P型DMOS2のドレインに接続し、N型DMOS5の
ゲートはP型DMOS3のドレイン(N型DMOS1の
ゲート)に接続する。N型DMOS10のゲートはP型D
MOS2のドレインに接続し、N型DMOS9のゲート
はN型DMOS1のドレインに接続し、P型DMOS8
のゲートはN型DMOS10のドレイン(P型DMOS2
のゲート)に接続する。そして、N型DMOS1のドレ
インを外部へのプラスの端子Aとし、P型DMOS2の
ドレインを外部へのマイナスの端子Bとした過電流保護
回路である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the overcurrent protection circuit according to the present invention will be described with reference to FIG. N-type DMOS1 source and P-type DMOS
2, the gate of the N-type DMOS 1 is connected to the drain of the P-type DMOS 3, the source of the P-type DMOS 3 is connected to the drain of the P-type DMOS 4,
4 is connected to the source of the N-type DMOS 5, and the N-type
The drain of the MOS 5 is connected to the drain of the P-type DMOS 2 through the resistor 6. The gate of P-type DMOS2 is N-type D
The source of the N-type DMOS 10 is connected to the drain of the N-type DMOS 9.
Is connected to the source of the P-type DMOS 8 and the P-type
The drain of the OS 8 is connected to the drain of the N-type DMOS 1 through the resistor 7. The gate of P-type DMOS3 is N-type DM
Connected to the drain of OS1, the gate of P-type DMOS4 is connected to the drain of P-type DMOS2, and the gate of N-type DMOS5 is connected to the drain of P-type DMOS3 (gate of N-type DMOS1). The gate of the N-type DMOS 10 is a P-type D
The gate of the N-type DMOS 9 is connected to the drain of the N-type DMOS 1 and the P-type DMOS 8
Is the drain of N-type DMOS 10 (P-type DMOS 2
Gate). This is an overcurrent protection circuit in which the drain of the N-type DMOS 1 is a positive terminal A to the outside and the drain of the P-type DMOS 2 is a negative terminal B to the outside.

【0007】この接続により、端子Aにプラス、端子B
にマイナスの電圧VABがかかる時、P型DMOS2にお
ける電位差は、N型DMOS1のゲート電圧になり、N
型DMOS1における電位差は、P型DMOS2のゲー
ト電圧になる。このために、電圧VABが徐々に大きくな
ると、N型DMOS1とP型DMOS2を流れる電流I
ABは、徐々に大きくなるが、しかし、N型DMOS1に
おける電位差が大きくなると、P型DMOS2のゲート
電圧が大きくなり、同様に、P型DMOS2における電
位差が大きくなると、N型DMOS1のゲート電圧が大
きくなるように接続されているために、電圧VABが大き
くなると、N型DMOS1とP型DMOS2における電
位差が大きくなり、N型DMOS1とP型DMOS2の
ゲート電圧がある程度の大きさになるまでは、電流IAB
は大きくなるが、電圧VABがさらに大きくなって、N型
DMOS1とP型DMOS2における電位差がさらに大
きくなって、N型DMOS1とP型DMOS2のゲート
電圧がある程度の大きさになると、N型DMOS1とP
型DMOS2は電流IABが大きくなるのを抑えるように
なる。電圧VABがもっと大きくなると、N型DMOS1
とP型DMOS2ゲート電圧がもっと大きくなって、N
型DMOS1とP型DMOS2は電流IABを減らすよう
になり、その後、N型DMOS1とP型DMOS2はピ
ンチオフ状態に達して、電流IABを遮断する。このよう
に、電流IABはある程度の大きさまでは流れるが、ある
程度以上の大きな過電流が流れると、N型DMOS1と
P型DMOS2のそれぞれにおける電位差が大きくな
り、それによりN型DMOS1とP型DMOS2のそれ
ぞれのゲート電圧が大きくなる。そして、ゲート電圧が
大きくなると、また、その電位差が大きくなり、また、
ゲート電圧が大きくなることを、N型DMOS1とP型
DMOS2は互いに作用し合って繰り返して、電流IAB
を遮断し、過電流保護のはたらきをする。この過電流保
護回路の遮断の静特性を図3に示す。
With this connection, the terminal A is positive and the terminal B
Is applied with a negative voltage V AB , the potential difference in the P-type DMOS 2 becomes the gate voltage of the N-type DMOS 1
The potential difference in the type DMOS1 becomes the gate voltage of the P-type DMOS2. For this reason, when the voltage V AB gradually increases, the current I flowing through the N-type DMOS 1 and the P-type DMOS 2
AB gradually increases, however, when the potential difference in the N-type DMOS 1 increases, the gate voltage of the P-type DMOS 2 increases. Similarly, when the potential difference in the P-type DMOS 2 increases, the gate voltage of the N-type DMOS 1 increases. When the voltage V AB increases, the potential difference between the N-type DMOS1 and the P-type DMOS2 increases, and until the gate voltage of the N-type DMOS1 and the P-type DMOS2 becomes a certain level. Current I AB
Increases, the voltage V AB further increases, the potential difference between the N-type DMOS 1 and the P-type DMOS 2 further increases, and when the gate voltage of the N-type DMOS 1 and the P-type DMOS 2 becomes a certain level, the N-type DMOS 1 And P
Type DMOS2 moderates from current I AB increases. When the voltage V AB becomes larger, the N-type DMOS1
And the P-type DMOS2 gate voltage becomes larger,
The type DMOS1 and the P-type DMOS2 reduce the current I AB , and thereafter, the N-type DMOS1 and the P-type DMOS2 reach a pinch-off state and cut off the current I AB . As described above, the current I AB flows to a certain extent, but if a large overcurrent flows to a certain extent or more, the potential difference between each of the N-type DMOS 1 and the P-type DMOS 2 increases, whereby the N-type DMOS 1 and the P-type DMOS 2 Of each of the gates increases. When the gate voltage increases, the potential difference also increases, and
The N-type DMOS1 and the P-type DMOS2 act on each other repeatedly to increase the gate voltage, and the current I AB
Shuts off and works for overcurrent protection. FIG. 3 shows the static characteristics of the interruption of the overcurrent protection circuit.

【0008】 次に、N型DMOS1のゲートに接続さ
れているP型DMOS3,4とN型DMOS5の作用に
ついて説明する。端子AB間に端子Aがプラス、端子B
がマイナスのパルス状の電圧VABがかかって、周期的
な電流IABが流れるとする。定格電流値程度の大きさ
の正常な電流IABが流れる場合、N型DMOS1とP
型DMOS2における電位差が小さいので、P型DMO
S3のゲート電圧は小さく、P型DMOS3における電
位差は非常に小さい。過電流IABが流れる場合、N型
DMOS1とP型DMOS2が互いに作用し合って過電
流I AB を遮断すると、N型DMOS1とP型DMOS
2の両端に電源電圧がかかるために、N型DMOS1と
P型DMOS2のゲート電圧は大きくなる。そして、P
型DMOS3のドレインはN型DMOS1のゲートに接
続し、P型DMOS3のゲートはN型DMOS1のドレ
インに接続されているために、P型DMOS3のゲート
電圧は大きくなり、P型DMOS3における電位差は、
ある程度の大きさになる。そして、P型DMOS4のド
レインはP型DMOS3のソースに接続し、P型DMO
S4のソースはN型DMOS5のソースに接続し、N型
DMOS5のドレインは抵抗6を通じてP型DMOS2
のドレインに接続し、P型DMOS4のゲートはP型D
MOS2のドレインに接続し、N型DMOS5のゲート
はP型DMOS3のドレイン(N型DMOS1のゲー
ト)に接続しているために、P型DMOS4からN型D
MOS5へ流れる電流に対しては、P型DMOS4とN
型DMOS5は低抵抗状態になるが、N型DMOS5か
らP型DMOS4へ流れる電流に対しては、P型DMO
S3,4における電位差がN型DMOS5のゲート電圧
になり、N型DMOS5における電位差がP型DMOS
4のゲート電圧になるために、P型DMOS4とN型D
MOS5は高抵抗状態あるいは遮断状態になる。従っ
て、パルス状の電圧VABが、電圧が加わる周期から、
電圧が下がって、電圧がOVの周期になると、電圧が加
わる周期の時、充電されたN型DMOS1のゲート電圧
が放電するために、逆向きのゲート電流がN型DMOS
5からP型DMOS4へ流れようとするが、遮断時、あ
る程度の大きさになったP型DMOS3の電位差が、N
型DMOS5のゲート電圧になって、N型DMOS5に
おける電位差が大きくなる。そして、N型DMOS5の
大きな電位差によりP型DMOS4のゲート電圧が大き
くなって、P型DMOS4とN型DMOS5は高抵抗状
態あるいは遮断状態になり、N型DMOS1のゲート電
圧は放電されずに保持されるので、N型DMOS1の遮
断状態は保持される。
Next, the operation of the P-type DMOSs 3 and 4 and the N-type DMOS 5 connected to the gate of the N-type DMOS 1 will be described. Terminal A is positive between terminals AB, terminal B
Assume that a negative pulse-shaped voltage V AB is applied and a periodic current I AB flows. The order of magnitude of the rated current value
When the normal current I AB flows, the N-type DMOS 1 and P
Since the potential difference in the DMOS 2 is small,
The gate voltage of S3 is small, and the potential difference in the P-type DMOS 3 is very small. When the overcurrent I AB flows, the N-type DMOS1 and the P-type DMOS2 act on each other to
When the current I AB is cut off, the N-type DMOS1 and the P-type DMOS
Since the power supply voltage is applied to both ends of the gate 2, the gate voltages of the N-type DMOS 1 and the P-type DMOS 2 increase. And P
Drain type DMOS3 is connected to the gate of the N-type DMOS1, for the gate of the P-type DMOS3 is connected to the drain of the N-type DMOS1, the gate of the P-type DMOS3
The voltage increases, and the potential difference in the P-type DMOS 3 is
It becomes a certain size. The drain of the P-type DMOS 4 is connected to the source of the P-type DMOS 3,
The source of S4 is connected to the source of N-type DMOS 5, and the drain of N-type DMOS 5 is connected to P-type DMOS 2 through resistor 6.
And the gate of the P-type DMOS 4 is connected to the P-type
The gate of the N-type DMOS 5 is connected to the drain of the P-type DMOS 3 (the gate of the N-type DMOS 1).
For the current flowing to the MOS5, the P-type DMOS4 and N
Although the DMOS 5 enters a low resistance state, the current flowing from the N-type DMOS 5 to the P-type DMOS 4
The potential difference at S3 and S4 becomes the gate voltage of N-type DMOS 5, and the potential difference at N-type DMOS 5
4 and a P-type DMOS 4 and an N-type D
MOS 5 enters a high resistance state or a cutoff state. Therefore, the pulse-like voltage VAB is changed from the period in which the voltage is applied to
When the voltage falls and the voltage reaches the OV cycle, the voltage is increased.
In the cycle, the charged gate voltage of the N-type DMOS 1 is discharged, so that the gate current in the opposite direction becomes the N-type DMOS.
But it tends to flow to the P-type DMOS4 from 5, when the cut-off, Oh
The potential difference of the P-type DMOS 3 which has become
It becomes the gate voltage of the mold DMOS5, the potential difference in the N-type DMOS5 large ing. And the N-type DMOS 5
The gate voltage of the P-type DMOS4 is increased by a large potential difference, P-type DMOS4 and N-type DMOS5 goes high-resistance state or blocking state, the gate voltage of the N-type DMOS1 is held without being discharged Runode, N-type DMOS1 Is kept off.

【0009】同様にして、P型DMOS2のゲートに接
続されているP型DMOS8とN型DMOS9,10は、
P型DMOS8からN型DMOS9へ向かって流れるP
型DMOS2のゲートの充電電流に対しては、低抵抗状
態になり、充電電流を流すが、N型DMOS9からP型
DMOS8へ向かって流れるP型DMOS2のゲートの
放電電流に対しては、高抵抗状態あるいは遮断状態にな
り、放電電流を遮断し、P型DMOS2のゲート電圧を
保持し、P型DMOS2の遮断状態は保持される。これ
により、電圧が加わる次の周期まで過電流保護回路の遮
断状態は保持されるので、パルスの周期ごとに尖頭状の
突入電流が流れることがなく、パルス状の過電流を遮断
することができる。また、N型DMOS1のゲートに接
続している抵抗6と、P型DMOS2のゲートに接続し
ている抵抗7の抵抗値を小さくすると、遮断時間を速く
でき、大きくすると、遮断時間を遅くすることができ
る。N型DMOS1のゲートに接続しているP型DMO
S3か、P型DMOS2のゲートに接続しているN型D
MOS10かのどちらか1つを外して、過電流保護回路を
構成することもできる。
Similarly, the P-type DMOS 8 and the N-type DMOSs 9 and 10 connected to the gate of the P-type DMOS 2
P flowing from P-type DMOS 8 to N-type DMOS 9
A low-resistance state is established for the charging current of the gate of the D-type DMOS 2 and a charging current flows. However, a high-resistance state is set for the discharging current of the gate of the P-type DMOS 2 flowing from the N-type DMOS 9 to the P-type DMOS 8. In this state, the discharge current is cut off, the gate voltage of the P-type DMOS 2 is maintained, and the cut-off state of the P-type DMOS 2 is maintained. As a result, the cutoff state of the overcurrent protection circuit is maintained until the next cycle in which a voltage is applied, so that a peak-like rush current does not flow in each pulse cycle, and the pulse-like overcurrent can be cut off. it can. In addition, when the resistance value of the resistor 6 connected to the gate of the N-type DMOS 1 and the resistance value of the resistor 7 connected to the gate of the P-type DMOS 2 are reduced, the cutoff time can be shortened. Can be. P-type DMO connected to the gate of N-type DMOS1
S3 or N-type D connected to the gate of P-type DMOS2
One of the MOSs 10 may be removed to form an overcurrent protection circuit.

【0010】 別の実施例を図2により説明する。図1
の実施例では、P型DMOS3のゲートはN型DMOS
1のドレインに接続し、P型DMOS4のゲートはP型
DMOS2のドレインに接続し、N型DMOS9のゲー
トはN型DMOS1のドレインに接続し、N型DMOS
10のゲートはP型DMOS2のドレインに接続してい
るが、図2の実施例では、P型DMOS3のゲートはP
型DMOS2のドレインに接続し、P型DMOS4のゲ
ートはN型DMOS1のドレインに接続し、N型DMO
S9のゲートはP型DMOS2のドレインに接続し、N
型DMOS10のゲートはN型DMOS1のドレインに
接続したものである。そのほかは、図2の実施例は、図
1の実施例と同じである。この図2の実施例において
も、図1の実施例と同様に、過電流を遮断することがで
きる。以上に説明した過電流保護回路は、端子Aをプラ
ス、端子Bをマイナスとする直流形の過電流保護回路で
あるが、この直流形の過電流保護回路を2つ逆向き直列
に接続することにより、交流形の過電流保護回路にする
ことができる。
Another embodiment will be described with reference to FIG. FIG.
In the embodiment, the gate of the P-type DMOS 3 is an N-type DMOS
1, the gate of the P-type DMOS 4 is connected to the drain of the P-type DMOS 2, the gate of the N-type DMOS 9 is connected to the drain of the N-type DMOS 1, and the N-type DMOS
Although the gate of the P-type DMOS 3 is connected to the drain of the P-type DMOS 2 in the embodiment of FIG.
The gate of the P-type DMOS 4 is connected to the drain of the N-type DMOS 1,
The gate of S9 is connected to the drain of P-type DMOS2,
The gate of the type DMOS 10 is connected to the drain of the N-type DMOS 1. Otherwise, the embodiment of FIG. 2 is the same as the embodiment of FIG. In the embodiment of FIG. 2 , overcurrent can be cut off as in the embodiment of FIG. The overcurrent protection circuit described above is a DC-type overcurrent protection circuit in which the terminal A is positive and the terminal B is negative, but two DC-type overcurrent protection circuits are connected in series in the reverse direction. Accordingly, an AC overcurrent protection circuit can be obtained.

【0011】[0011]

【発明の効果】本発明は、以上に説明したように構成さ
れているので、以下に記載するような効果を示す。この
過電流保護回路は、ディプレッション形MOS半導体で
構成されているために、シュレッショルド電圧の小さい
ディプレッション形MOS半導体で回路を構成すれば、
正常電流が流れる時の過電流保護回路における電圧降下
を小さくすることができ、また、負荷回路の正常電流
は、過電流保腹回路において、1つのPN接合も横切ら
ないために、ゼロから正常値までスムーズに立ち上がる
ことができる。
Since the present invention is configured as described above, it exhibits the following effects. Since this overcurrent protection circuit is composed of a depletion type MOS semiconductor, if the circuit is composed of a depletion type MOS semiconductor having a small threshold voltage,
The voltage drop in the overcurrent protection circuit when a normal current flows can be reduced, and the normal current of the load circuit does not cross one PN junction in the overcurrent protection circuit. You can stand up smoothly.

【0012】負荷の回路電流が流れるN型DMOS1と
P型DMOS2のゲートには、それぞれ、ゲートの充電
電流に対しては低抵抗状態になり、ゲートの放電電流に
対しては遮断状態になるP型DMOSとN型DMOSの
組が接続されているので、使用する温度が高温でも低温
でも安定して、遮断時のゲート電圧は保持され、過電流
保護回路は遮断状態を保持する。そして、過電流保護回
路は、パルスの周期ごとに尖頭状の突入電流が流れるこ
とがなく、パルス状の過電流を遮断することができる。
The gates of the N-type DMOS1 and the P-type DMOS2, through which the load circuit current flows, have a low resistance state with respect to the charging current of the gate and a cutoff state with respect to the discharging current of the gate. Since the pair of the type DMOS and the N-type DMOS is connected, the gate voltage at the time of shutting down is maintained even when the temperature used is high or low, and the overcurrent protection circuit holds the shutoff state. The overcurrent protection circuit can cut off the pulse-like overcurrent without causing the peak-like rush current to flow at each pulse period.

【0013】N型DMOS1のゲートに接続している抵
抗6と、P型DMOS2のゲートに接続している抵抗7
の抵抗値を小さくすると、遮断時間を速くでき、大きく
すると、遮断時間を遅くすることができるので、負荷に
合わせて、過電流保護回路を速動形にも、遅延形にもす
ることができる。
A resistor 6 connected to the gate of the N-type DMOS 1 and a resistor 7 connected to the gate of the P-type DMOS 2
If the resistance value is small, the cutoff time can be shortened, and if it is increased, the cutoff time can be reduced. Therefore, the overcurrent protection circuit can be either a fast-acting type or a delay type according to the load. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の過電流保護回路の実施例を示す回路図
である。
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of an overcurrent protection circuit of the present invention.

【図2】本発明の過電流保護回路の別の実施例を示す回
路図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing another embodiment of the overcurrent protection circuit of the present invention.

【図3】本発明の過電流保護回路の遮断の静特性を示す
図である。
FIG. 3 is a diagram showing static characteristics of cutoff of the overcurrent protection circuit of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、5、9、10 N型ディプレッション形MOS半導体 2、3、4、8 P型ディプレッション形MOS半導体 6、7 抵抗 1,5,9,10 N-type depletion type MOS semiconductor 2,3,4,8 P-type depletion type MOS semiconductor 6,7 Resistance

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 N型ディプレッション形MOS半導体
(1)のソースとP型ディプレッション形MOS半導体
(2)のソースとを接続し、 N型ディプレッション形MOS半導体(1)のゲートは
P型ディプレッション形MOS半導体(3)のドレイン
に接続し、P型ディプレッション形MOS半導体(3)
のソースはP型ディプレッション形MOS半導体(4)
のドレインに接続し、P型ディプレッション形MOS半
導体(4)のソースはN型ディプレッション形MOS半
導体(5)のソースに接続し、N型ディプレッション形
MOS半導体(5)のドレインは抵抗(6)を通じてP
型ディプレッション形MOS半導体(2)のドレインに
接続し、 P型ディプレッション形MOS半導体(2)のゲートは
N型ディプレッション形MOS半導体(10)のドレイン
に接続し、N型ディプレッション形MOS半導体(10)
のソースはN型ディプレッション形MOS半導体(9)
のドレインに接続し、N型ディプレッション形MOS半
導体(9)のソースはP型ディプレッション形MOS半
導体(8)のソースに接続し、P型ディプレッション形
MOS半導体(8)のドレインは抵抗(7)を通じてN
型ディプレッション形MOS半導体(1)のドレインに
接続し、 P型ディプレッション形MOS半導体(3)のゲートは
N型ディプレッション形MOS半導体(1)のドレイン
に接続し、P型ディプレッション形MOS半導体(4)
のゲートはP型ディプレッション形MOS半導体(2)
のドレインに接続し、N型ディプレッション形MOS半
導体(5)のゲートはP型ディプレッション形MOS半
導体(3)のドレインに接続し、 N型ディプレッション形MOS半導体(10)のゲートは
P型ディプレッション形MOS半導体(2)のドレイン
に接続し、N型ディプレッション形MOS半導体(9)
のゲートはN型ディプレッション形MOS半導体(1)
のドレインに接続し、P型ディプレッション形MOS半
導体(8)のゲートはN型ディプレッション形MOS半
導体(10)のドレインに接続し、 N型ディプレッション形MOS半導体(1)のドレイン
をプラスの端子とし、P型ディプレッション形MOS半
導体(2)のドレインをマイナスの端子する過電流保護
回路。
1. A source of an N-type depletion type MOS semiconductor (1) is connected to a source of a P-type depletion type MOS semiconductor (2), and the gate of the N-type depletion type MOS semiconductor (1) has a P-type depletion type MOS semiconductor. P-type depletion type MOS semiconductor (3) connected to the drain of semiconductor (3)
Is a P-type depletion type MOS semiconductor (4)
The source of the P-type depletion type MOS semiconductor (4) is connected to the source of the N-type depletion type MOS semiconductor (5), and the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (5) is connected through the resistor (6). P
The gate of the P-type depletion type MOS semiconductor (2) is connected to the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (10), and the N-type depletion type MOS semiconductor (10) is connected to the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (10).
Is N-type depletion type MOS semiconductor (9)
And the source of the N-type depletion type MOS semiconductor (9) is connected to the source of the P-type depletion type MOS semiconductor (8), and the drain of the P-type depletion type MOS semiconductor (8) is connected through a resistor (7). N
The gate of the P-type depletion type MOS semiconductor (3) is connected to the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (1), and the P-type depletion type MOS semiconductor (4) is connected to the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (1).
Is a P-type depletion type MOS semiconductor (2)
The gate of the N-type depletion type MOS semiconductor (3) is connected to the drain of the P-type depletion type MOS semiconductor (3). The gate of the N-type depletion type MOS semiconductor (10) is connected to the P-type depletion type MOS semiconductor. N-type depletion type MOS semiconductor (9) connected to the drain of semiconductor (2)
Gate is N-type depletion type MOS semiconductor (1)
The gate of the P-type depletion type MOS semiconductor (8) is connected to the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (10); the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (1) is used as a positive terminal; An overcurrent protection circuit in which the drain of the P-type depletion type MOS semiconductor (2) has a negative terminal.
【請求項2】 N型ディプレッション形MOS半導体
(1)のソースとP型ディプレッション形MOS半導体
(2)のソースとを接続し、 N型ディプレッション形MOS半導体(1)のゲートは
P型ディプレッション形MOS半導体(3)のドレイン
に接続し、P型ディプレッション形MOS半導体(3)
のソースはP型ディプレッション形MOS半導体(4)
のドレインに接続し、P型ディプレッション形MOS半
導体(4)のソースはN型ディプレッション形MOS半
導体(5)のソースに接続し、N型ディプレッション形
MOS半導体(5)のドレインは抵抗(6)を通じてP
型ディプレッション形MOS半導体(2)のドレインに
接続し、 P型ディプレッション形MOS半導体(2)のゲートは
N型ディプレッション形MOS半導体(10)のドレイン
に接続し、N型ディプレッション形MOS半導体(10)
のソースはN型ディプレッション形MOS半導体(9)
のドレインに接続し、N型ディプレッション形MOS半
導体(9)のソースはP型ディプレッション形MOS半
導体(8)のソースに接続し、P型ディプレッション形
MOS半導体(8)のドレインは抵抗(7)を通じてN
型ディプレッション形MOS半導体(1)のドレインに
接続し、 P型ディプレッション形MOS半導体(3)のゲートは
P型ディプレッション形MOS半導体(2)のドレイン
に接続し、P型ディプレッション形MOS半導体(4)
のゲートはN型ディプレッション形MOS半導体(1)
のドレインに接続し、N型ディプレッション形MOS半
導体(5)のゲートはP型ディプレッション形MOS半
導体(3)のドレインに接続し、 N型ディプレッション形MOS半導体(10)のゲートは
N型ディプレッション形MOS半導体(1)のドレイン
に接続し、N型ディプレッション形MOS半導体(9)
のゲートはP型ディプレッション形MOS半導体(2)
のドレインに接続し、P型ディプレッション形MOS半
導体(8)のゲートはN型ディプレッション形MOS半
導体(10)のドレインに接続し、 N型ディプレッション形MOS半導体(1)のドレイン
をプラスの端子とし、P型ディプレッション形MOS半
導体(2)のドレインをマイナスの端子する過電流保護
回路。
2. The source of an N-type depletion type MOS semiconductor (1) is connected to the source of a P-type depletion type MOS semiconductor (2), and the gate of the N-type depletion type MOS semiconductor (1) has a P-type depletion type MOS semiconductor. P-type depletion type MOS semiconductor (3) connected to the drain of semiconductor (3)
Is a P-type depletion type MOS semiconductor (4)
The source of the P-type depletion type MOS semiconductor (4) is connected to the source of the N-type depletion type MOS semiconductor (5), and the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (5) is connected through the resistor (6). P
The gate of the P-type depletion type MOS semiconductor (2) is connected to the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (10), and the N-type depletion type MOS semiconductor (10) is connected to the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (10).
Is N-type depletion type MOS semiconductor (9)
And the source of the N-type depletion type MOS semiconductor (9) is connected to the source of the P-type depletion type MOS semiconductor (8), and the drain of the P-type depletion type MOS semiconductor (8) is connected through a resistor (7). N
The gate of the P-type depletion type MOS semiconductor (3) is connected to the drain of the P-type depletion type MOS semiconductor (2), and the P-type depletion type MOS semiconductor (4) is connected to the drain of the P-type depletion type MOS semiconductor (2).
Gate is N-type depletion type MOS semiconductor (1)
And the gate of the N-type depletion type MOS semiconductor (5) is connected to the drain of the P-type depletion type MOS semiconductor (3). The gate of the N-type depletion type MOS semiconductor (10) is N-type depletion type MOS. N-type depletion type MOS semiconductor (9) connected to the drain of semiconductor (1)
Is a P-type depletion type MOS semiconductor (2)
The gate of the P-type depletion type MOS semiconductor (8) is connected to the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (10); the drain of the N-type depletion type MOS semiconductor (1) is used as a positive terminal; An overcurrent protection circuit in which the drain of the P-type depletion type MOS semiconductor (2) has a negative terminal.
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