JP2775036B2 - pump - Google Patents

pump

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JP2775036B2
JP2775036B2 JP1341991A JP34199189A JP2775036B2 JP 2775036 B2 JP2775036 B2 JP 2775036B2 JP 1341991 A JP1341991 A JP 1341991A JP 34199189 A JP34199189 A JP 34199189A JP 2775036 B2 JP2775036 B2 JP 2775036B2
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water
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polishing
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忠弘 大見
三之亟 大崎
六平次 佐藤
憲二 佐藤
Original Assignee
忠弘 大見
二国機械工業 株式会社
日造精密研磨 株式会社
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  • Structures Of Non-Positive Displacement Pumps (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はポンプに係る。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to a pump.

[従来技術] 近年の半導体工業のめざましい発展につれて、パーテ
ィクル等の不純物の含有量が少ない高純度水が大量に使
われるようになっている。
[Prior Art] With the remarkable development of the semiconductor industry in recent years, a large amount of high-purity water having a low content of impurities such as particles has been used.

さらに、LSIの高集積化、高性能化が進み、最小パタ
ーン寸法がサブミクロンオーダーの超LSIが製造される
今日では、わずかな不純物の存在でもLSIのパターン欠
陥の原因となるため、理論純水(比抵抗18.25MΩ・cm
at25℃)に近いレベルの高純度水が必要とされるにいた
っている。
Furthermore, as LSIs become more highly integrated and higher in performance, and ultra-LSIs with a minimum pattern size of the order of sub-microns are manufactured, even small amounts of impurities can cause LSI pattern defects. (Specific resistance 18.25MΩ ・ cm
At 25 ° C), high-purity water is required.

かかる理論純水に近いレベルの高純度水を達成するた
めには、パーティクルについては、少なくとも、粒径0.
2μm以上のパーティクルは10個/ml以下、粒径0.1〜0.2
μmのパーティクルは100個/ml、粒径0.1μm以下のパ
ーティクルは100個/ml以下としなければならない。
In order to achieve high-purity water at a level close to such theoretical pure water, at least particles have a particle size of 0.1.
Particles of 2 μm or more are 10 particles / ml or less, particle size 0.1 to 0.2
The particle size of μm should be 100 particles / ml, and the particle size of 0.1 μm or less should be 100 particles / ml or less.

しかるに、水供給系へ供給される前の源水に高純度水
を用いたとしても、水供給系、例えば、ポンプ、配管及
びその部材等から微細な粒子パーティクルが混入した
り、これらの内表面から溶出する金属等が混入するた
め、純度の大幅な低下を招いてしまう。
However, even if high-purity water is used as the source water before being supplied to the water supply system, fine particle particles may be mixed from the water supply system, for example, pumps, pipes and members thereof, or the inner surfaces of these may be mixed. Since metal and the like eluted from the water are mixed, the purity is greatly reduced.

パイプ、各種パイプ類、レギュレーター等の配管及び
その部材については、それらの接液面を平滑化し、ま
た、構造上もメインラインから配管系の水滞留部を一掃
するなどの工夫が施され、上記問題の解決の方向に進ん
でいる。
For pipes, various pipes, pipes such as regulators and their members, the liquid contact surface is smoothed, and the structure is also devised such as cleaning out the water retention part of the piping system from the main line. We are moving in the direction of solving the problem.

しかし、コンタミネーションが最も起り易く高純度水
の供給の可否を決定するのに最も大きな影響のあるポン
プについては適切なクリーン化技術は未だ開発されてお
らず、従来より使用されているポンプを何の工夫もな
く、半導体高純度水用として使用しているのが現状であ
る。
However, no appropriate cleaning technology has been developed for pumps that are most likely to cause contamination and have the greatest effect on determining whether to supply high-purity water. At present, it is used for semiconductor high-purity water without contrivance.

すなわち、従来のポンプでは材料として一般にSCS13
が使用されており、また、ポンプの製造は次のような工
程により行われている。
In other words, conventional pumps generally use SCS13
Is used, and the pump is manufactured by the following steps.

(所定形状への鋳造)→(熱処理)→(酸洗)→(切
削)→(カエリ取り)→(アルコール洗浄)→(洗浄)
→(組立)→(性能テスト) しかし、このような工程により製造されたポンプにお
いては、その内表面は鋳物肌をしており、表面の凹凸が
ひどい。また、鋳物肌を切削加工により取り去っても割
れ目、細孔、ひだ、ブローホールなどが存在している。
しかも、熱処理によりポーラスな表面となっており、ま
た、酸洗により結晶粒界には腐食が進行している。
(Casting to predetermined shape) → (Heat treatment) → (Pickling) → (Cutting) → (Burr removal) → (Alcohol cleaning) → (Cleaning)
→ (Assembly) → (Performance test) However, in the pump manufactured by such a process, the inner surface has a casting surface, and the surface is very uneven. Also, even if the casting surface is removed by cutting, cracks, pores, folds, blow holes, and the like are present.
In addition, a porous surface is formed by the heat treatment, and corrosion is progressing on the crystal grain boundaries by pickling.

従って、パーティクルや、非金属介在物を包蔵し、ケ
ミカルコンタミネーションも生じやすい表面となってお
り、高純度水の品質低下の原因となる。
Therefore, it has a surface that embeds particles and non-metallic inclusions and is liable to cause chemical contamination, which causes a deterioration in quality of high-purity water.

しかも構造の面においても、高純度水に対する考慮に
欠けた複雑な形状になっており、接液面積も多く、デッ
ドスペースも多い。
Moreover, in terms of structure, it has a complicated shape without consideration for high-purity water, has a large liquid contact area, and has many dead spaces.

また、ポンプのパーティクルは、ポンプ軸封部の摩
擦、振動などでも発生し、ポンプ内に金属粉末等が混入
し、パーティクル発生の原因になるなど構造上も問題が
ある。
In addition, particles of the pump are also generated due to friction, vibration, and the like of the pump shaft sealing portion, and metal powders and the like are mixed into the pump, which causes generation of particles.

なお、パーティクルを除去するためにフィルタを設け
ることも考えられる。しかし、0.1μm以上のパーティ
クルの場合にはポンプ下流にフィルタを設置しておけば
かかる粒子の除去はある程度は可能であるが、0.1μm
以下の微粒子の場合にはフィルタでの除去は困難であ
る。
Note that a filter may be provided to remove particles. However, in the case of particles of 0.1 μm or more, if a filter is installed downstream of the pump, such particles can be removed to some extent.
In the case of the following fine particles, it is difficult to remove them with a filter.

これらの問題を解決するために、ポンプ内面処理とし
て、機械研磨(バフ研磨)などが試みられているが表面
に研磨剤や、光沢剤が混入し、TOC(全有機炭素)量が
増加し、これらがむしろ水の品質を低下させることとな
ったり、また、その他にも幾多の欠点をもたらしてしま
う。従って、これらの技術は、完成された技術とはいい
がたい。
In order to solve these problems, mechanical polishing (buff polishing) has been attempted as the inner surface treatment of the pump. However, abrasives and brighteners are mixed into the surface, increasing the TOC (total organic carbon) amount. These would rather reduce the quality of the water, and also have a number of other disadvantages. Therefore, these technologies are not perfect technologies.

また、これら以外に一般浸漬電解研磨法もあるが、表
面粗さ等は改善されず、高純度水用のポンプに使用でき
る技術とはいえない。
In addition, there is also a general immersion electropolishing method, but the surface roughness and the like are not improved, and it cannot be said that the technology can be used for a pump for high-purity water.

[課題を解決するための手段] 本発明のポンプは、ポンプ内の接液部表面の少なくと
も主要表面が、電解複合研磨により表面を鏡面とした圧
延材又は鍛造材により構成されていることを特徴とす
る。
[Means for Solving the Problems] The pump of the present invention is characterized in that at least the main surface of the liquid contacting part surface in the pump is made of a rolled material or a forged material having a mirror-finished surface by electrolytic composite polishing. And

[作用] 本発明者らは、パーティクルの発生をおさえ、高い比
抵抗値が維持された水等の液を送り出すことが可能なポ
ンプを得るために鋭意工夫を重ねた結果、ポンプの接液
部表面に、圧延材または鍛造材を用い、かつ、電解複合
研磨法により鏡面仕上げすると目的を達成できることを
知見した。
[Operation] The inventors of the present invention have made various efforts to obtain a pump capable of suppressing the generation of particles and sending out a liquid such as water maintaining a high specific resistance value. It has been found that the purpose can be achieved by using a rolled or forged material on the surface and mirror-finished by electrolytic combined polishing.

本発明は、上記の知見に基づいてなされたものであ
り、電解複合研磨法によって、ポンプ内表面に極めて平
滑な、かつ、細孔などのない面で、微細なパーティクル
が発生しにくく、しかも金属溶出量が少なく、理論純水
に近い高純度液の移送が可能なポンプを提供することが
できる。
The present invention has been made on the basis of the above-described findings. By the electrolytic combined polishing method, extremely smooth, and free of pores, etc., on the inner surface of the pump, fine particles are hardly generated, and metal It is possible to provide a pump capable of transferring a high-purity liquid close to theoretical pure water with a small amount of elution.

本発明では、高純度を維持するために、水との接触面
(接液内表面)の少なくとも主要面積を電解複合研磨す
ることにより、内表面を鏡面化し、パーティクルの発生
を著しく減少させ、かつ内表面に吸脱着されるケミカル
コンタミネーションを減じ、比抵抗値の高度維持が図れ
る。
In the present invention, in order to maintain high purity, at least the main area of the contact surface with water (the inner surface in contact with the liquid) is electrolytically combined and polished, so that the inner surface is mirror-finished, the generation of particles is significantly reduced, and Chemical contamination adsorbed and desorbed on the inner surface is reduced, and the high specific resistance value can be maintained.

[実施態様例] 以下に本発明の実施態様例を説明する。[Embodiments] Embodiments of the present invention will be described below.

本発明の対象となるポンプは、一般的には超純水用ポ
ンプという名称で販売されているポンプであり、その形
式は特に限定されないが、例えば、渦流ポンプ(第1図
(a))、渦巻ポンプ(第2図(a))が好ましい。
The pump which is the object of the present invention is a pump which is generally sold under the name of ultrapure water pump. The type of the pump is not particularly limited. For example, a vortex pump (FIG. 1 (a)) A centrifugal pump (FIG. 2 (a)) is preferred.

第1図(a)に示す渦流ポンプは代表的には次のよう
な構成を有している。すなわち、ディスク円盤)の周縁
に複数の羽根18が形成され(第1図(b))、回転軸16
に一体的に取り付けられた羽根車12が、ケーシング13内
においてシール箱14を介して軸受17に支承されており、
ケーシング13と羽根車12とにより形成される空間が流体
通路20となっている。流体通路20は流体入口19と連通せ
しめてある。かかる構造のポンプにおいては、回転軸16
を駆動手段(図示せず)により駆動して羽根車12を回転
させると、羽根車12の羽根18内の流体が遠心力により羽
根18外周から流出するとともに流体通路20から羽根18側
部を通じて羽根18内に流入する流れが生じ、羽根車12の
回転の遠心力によって流体はエネルギーを受け、流体通
路20内で速度エネルギーと圧力エネルギーに変換され、
このような作用が羽根車12内で繰返されて流体の圧力が
高められ吐出口を通じて吐出される。この構造のポンプ
はデッドスペースが少なく、また、摺動部が軸封部だけ
のためパーティクルの発生が少ないポンプとして本発明
において好適である。
The vortex pump shown in FIG. 1A typically has the following configuration. That is, a plurality of blades 18 are formed on the periphery of the disc (FIG. 1 (b)),
An impeller 12 integrally mounted on the bearing 13 is supported by a bearing 17 via a seal box 14 in a casing 13,
The space formed by the casing 13 and the impeller 12 is a fluid passage 20. Fluid passage 20 is in communication with fluid inlet 19. In the pump having such a structure, the rotating shaft 16
Is driven by driving means (not shown) to rotate the impeller 12, the fluid in the blade 18 of the impeller 12 flows out of the outer periphery of the blade 18 by centrifugal force, and the blade passes through the fluid passage 20 through the side of the blade 18. The flow flowing into 18 occurs, the fluid receives energy by the centrifugal force of rotation of the impeller 12, and is converted into velocity energy and pressure energy in the fluid passage 20,
Such an action is repeated in the impeller 12 to increase the pressure of the fluid and discharge the fluid through the discharge port. The pump having this structure is suitable in the present invention as a pump having a small dead space and a small amount of particles because the sliding portion is only the shaft sealing portion.

第2図(a)に示す渦巻ポンプは、ディスク(円盤)
の周縁から半径方向から少しずれた方向に延びる複数の
羽根18が形成され(第2図(b)、やはり回転軸16に一
体的に取り付けられた羽根車12が、カバー11内において
シール箱14を介して軸受17に支承されている。羽根車12
はケーシング13により覆われており、このケーシング13
の頭部には、流体入口19となる口を開口せしめてある。
かかる構造のポンプにおいても、回転軸16を駆動手段
(図示せず)により駆動して羽根車12を回転させると、
流体入口から流入した流体は、羽根18によりエネルギー
を受け、羽根車12の円周方向吐出される。この構造のポ
ンプもデッドスペースが少なく、また、摺動部が少ない
ためパーティクルの発生が少ないポンプとして好適であ
る。
The centrifugal pump shown in FIG. 2 (a) has a disk (disc).
A plurality of blades 18 are formed extending in a direction slightly deviated from the radial direction from the peripheral edge of the seal box 14 (FIG. 2 (b)). The bearing is supported by a bearing 17 via an impeller 12.
Is covered by a casing 13, and this casing 13
An opening serving as a fluid inlet 19 is opened in the head of the device.
Also in the pump having such a structure, when the rotating shaft 16 is driven by driving means (not shown) to rotate the impeller 12,
The fluid flowing from the fluid inlet receives energy by the blade 18 and is discharged in the circumferential direction of the impeller 12. The pump having this structure is also suitable as a pump having a small dead space and a small amount of particles because of a small number of sliding portions.

なお、ポンプは、例えば、鋼、アルミニウム合金、チ
タン合金等の材料により構成すればよく、金属製ポンプ
であればこれらに制限されるものではない。
The pump may be made of, for example, a material such as steel, an aluminum alloy, or a titanium alloy, and is not limited to these as long as it is a metal pump.

また、本発明では、塑性加工材を用いる。塑性加工材
としては、例えば、圧延、鍛造、押出等の塑性加工によ
り得られる材料を用いればよい。塑性加工材以外の材料
(例えば鋳造材)を用いた場合には、後述する電解複合
研磨を行ってもパーティクルの発生を抑え得る表面を得
ることはできない。
In the present invention, a plastically processed material is used. As the plastic working material, for example, a material obtained by plastic working such as rolling, forging, or extrusion may be used. When a material other than the plastic working material (for example, a cast material) is used, a surface capable of suppressing the generation of particles cannot be obtained even by performing electrolytic composite polishing described later.

本発明のポンプは例えば次の工程により製造すればよ
い。
The pump of the present invention may be manufactured, for example, by the following steps.

(所定形状への鍛造)→(熱処理)→(酸洗)→(形
状切削)→(カエリ取り)→(洗浄)→(電解複合研
磨)→(洗浄)→(組立) 本発明では、鏡面とする表面の表面粗度としては、0.
1μmRmax以下が好ましい。
(Forging into a predetermined shape) → (heat treatment) → (pickling) → (shape cutting) → (burr removal) → (washing) → (electrolytic composite polishing) → (washing) → (assembly) In the present invention, the mirror surface Surface roughness is 0.
1 μmRmax or less is preferable.

本発明で適用する電解複合研磨法とは、電解により陽
極性の被研磨金属を電解溶出されると共に、被研磨金属
の表面に生成された不働態化酸化皮膜を、研磨砥粒によ
る擦過作用で鏡面に加工する方法である。研磨砥粒に一
定以上の速度を与えて研磨面を擦過すると同時に、不働
態化型電解液を介して数A/cm2以下の電解電流速度で、
溶出と酸化の陽極反応を研磨面に発生させる方法である
(特公昭57−47759号公報、特公昭58−19409号公報)。
With the electrolytic combined polishing method applied in the present invention, the polished metal to be polished is electrolytically eluted by electrolysis, and the passivation oxide film generated on the surface of the polished metal is rubbed by abrasive grains. This is a method of processing into a mirror surface. At the same time as giving a certain speed or more to the abrasive grains and rubbing the polished surface, at the same time as the electrolytic current speed of several A / cm 2 or less through the passivation type electrolyte,
This is a method in which an anodic reaction of elution and oxidation occurs on a polished surface (JP-B-57-47759, JP-B-58-19409).

第3図に基づきさらに具体的に説明する。 This will be described more specifically with reference to FIG.

第3図は、この発明の鏡面加工法に使用される工具の
一例を示し、1は駆動軸に接続された駆動装置により回
転される工具、2は、工具1の下部に形成された鋼板か
らなる円板状の陰極、3は陰極2の下面に十字状に形成
された露出面、4は陰極2の中央に透設された電解液5
の流出口、6は陰極2の下面の露出面3及び流出口4を
除いて全面貼付された研磨砥粒、7は電気的に絶縁性を
もつ塗料などの薄膜であり、陰極2の周面および工具1
の周面から無益な漏れ電流の流出を防止し、電解液5
は、工具1の駆動軸を介して、電解液供給装置から移送
され、流出口4から露出面3と、被研磨金属(図示せ
ず)との間隙に供給され、工具の外へ放出される。そし
て工具1の陰極2と被研磨金属に直流あるいはパルス性
の電圧の陰極側と陽極側がそれぞれ接続される。
FIG. 3 shows an example of a tool used in the mirror finishing method of the present invention, wherein 1 is a tool rotated by a driving device connected to a driving shaft, and 2 is a steel plate formed at a lower portion of the tool 1. A disk-shaped cathode 3 has an exposed surface formed in a cross shape on the lower surface of the cathode 2, and 4 has an electrolyte 5 penetrated in the center of the cathode 2.
6 is an abrasive grain attached to the entire surface except for the exposed surface 3 on the lower surface of the cathode 2 and the outlet 4, and 7 is a thin film of an electrically insulating paint or the like. And tool 1
Useless leakage current is prevented from flowing out of the peripheral surface of the
Is transferred from the electrolytic solution supply device via the drive shaft of the tool 1, supplied from the outlet 4 to the gap between the exposed surface 3 and the metal to be polished (not shown), and discharged out of the tool. . Then, the cathode side and the anode side of direct current or pulsed voltage are connected to the cathode 2 of the tool 1 and the metal to be polished, respectively.

そして、研磨加工に際し、工具1の陰極2と被研磨金
属間に前記のとおり電圧を印加するとともに、その間に
電解液5を供給し、陰極2を被研磨金属に押付けつつ回
転することにより、電解作用で被研磨金属の陽極溶解を
行い、かつ被研磨金属の表面の凹凸部に生成された不働
態化酸化皮膜のうち、その凸部を研磨砥粒6により、擦
過除去し被研磨金属の凸部を優先的選択的に電解溶出し
鏡面に仕上げる。
During the polishing process, the voltage is applied between the cathode 2 of the tool 1 and the metal to be polished as described above, and the electrolytic solution 5 is supplied during the application, and the cathode 2 rotates while pressing the cathode 2 against the metal to be polished. The anodic dissolution of the metal to be polished is performed by the action, and among the passivation oxide films formed on the irregularities on the surface of the metal to be polished, the convex portions are rubbed and removed by the abrasive grains 6 to remove the convexities of the metal to be polished. The part is preferentially and selectively electrolytically eluted to a mirror finish.

研磨する一例を述べると、#120〜#1500のSiC系砥粒
で初期表面粗さが、20〜50μmRmaxのSUS316L内表面を擦
過する場合、不働態化型電解液に20%NaNO3水溶液を用
いて電解電流密度を0〜6A/cm2の範囲で変えて研磨すれ
ば、粗さが0.1μmRmax以下の表面粗度を有する内表面を
得ることができる。
As an example of polishing, if the initial surface roughness is rubbed with SUS316L inner surface of 20 to 50 μmRmax with # 120 to # 1500 SiC-based abrasive, use 20% NaNO 3 aqueous solution as the passivating electrolyte. If the polishing is performed while changing the electrolytic current density in the range of 0 to 6 A / cm 2 , an inner surface having a surface roughness of 0.1 μmRmax or less can be obtained.

また、同様の方法でアルミニウム合金等も研磨するこ
とが出来る。
Also, an aluminum alloy or the like can be polished by the same method.

本発明に係るポンプは、半導体分野に限らず、バイオ
テクロノジー、医薬品、食品、化学工業等の分野におい
ても用いることができることはいうまでもない。
It goes without saying that the pump according to the present invention can be used not only in the field of semiconductors but also in fields of biotechnology, medicine, food, chemical industry and the like.

また、材料として、ステンレス、アルミニウム、チタ
ン等の耐食材料を用いれば、腐食性を有する液を、ケミ
カクコンタミネーションをも生ずることなく移送するこ
とが可能である。
If a corrosion-resistant material such as stainless steel, aluminum, or titanium is used as the material, a corrosive liquid can be transferred without causing chemical contamination.

[実施例] 以下に本発明の実施例を図面に基づいて説明する。Embodiment An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

(実施例1) 第1図(a)に示す渦流ポンプを例として実施例1を
説明する。
(Example 1) Example 1 is described using the vortex pump shown in Fig. 1 (a) as an example.

本例では、カバー11、ケーシング13、羽根車13等を、
SUS316L材を所定形状に型鍛造し、鍛造後、熱処理、ス
ケール除去のための酸洗を順次行い、次いで、孔開け加
工と表面研削を行い、次に、電解複合研磨を行った。複
合電解研磨は、第3図に示した研磨装置を用いて行っ
た。
In this example, the cover 11, the casing 13, the impeller 13, etc.
The SUS316L material was die-forged into a predetermined shape, and after forging, heat treatment and pickling for scale removal were sequentially performed, followed by drilling and surface grinding, and then electrolytic composite polishing. The composite electropolishing was performed using the polishing apparatus shown in FIG.

なお、第1図(a)において、Aで示した内表面を0.
1μmRmax以下の表面粗度に鏡面仕上げした。
In FIG. 1 (a), the inner surface indicated by A is set to 0.
Mirror finish to a surface roughness of 1 μm Rmax or less.

かかるポンプにつき第4図に示すシステムにより供給
水の品質の測定を行った。
The quality of the feed water was measured for the pump using the system shown in FIG.

測定法の詳細を第4図にしたがって説明する。 Details of the measuring method will be described with reference to FIG.

ポンプ−イオン交換器−RO膜(逆浸透膜)−熱交換器
−ヒーター冷却器を、ステンレスパイプを介して直列に
接続し、表1に示す高純度水(源水、0.07〜0.1μmの
パーティクル80個/ml)を、クリーンルーム内におい
て、ポンプ口から供給し、ポンプを稼働し源水を移送し
た。なお、ステンレスパイプとしては、電解研磨後不動
態酸化膜を形成した内面を有するパイプを使用した。
Pump-ion exchanger-RO membrane (reverse osmosis membrane) -heat exchanger-heater cooler were connected in series via a stainless steel pipe, and high-purity water (source water, particles of 0.07 to 0.1 μm shown in Table 1) (80 / ml) was supplied from the pump port in the clean room, and the pump was operated to transfer the source water. As the stainless steel pipe, a pipe having an inner surface on which a passive oxide film was formed after electrolytic polishing was used.

ポンプ出口のサンプリング口において、サンプリング
を採取し、サンプル中のパーティクルを測定した。
At the sampling port at the pump outlet, sampling was collected and the particles in the sample were measured.

一方、比較のために、超純水用にデッドスペースを極
力少なくした構造のキャンドポンプにつき同様の測定を
行ったが、0.1μm以下のパーティクル、0.1μm以上の
パーティクルともに大量に発生した。
On the other hand, for comparison, the same measurement was performed for a canned pump having a structure in which the dead space was reduced as much as possible for ultrapure water, and a large amount of both particles of 0.1 μm or less and particles of 0.1 μm or more were generated.

次に第4図に示した測定システムを用いて、比抵抗値
の立ち上げテストを実施した。立ち上げテストは、冷却
器出口における比抵抗置を経時的に測定し、その比抵抗
値が18.2MΩ.cmとなった時点を立ち上り開始時点とし
た。測定結果を表2及び第5図に示す。表2及び第5図
に示すように、本実施例に係るポンプでは、立ち上りが
早く、30分後には18.2MΩの高い比抵抗値を維持し、低
下が認められなかった。
Next, a start-up test of a specific resistance value was performed using the measurement system shown in FIG. In the start-up test, the specific resistance at the outlet of the cooler was measured over time, and the point in time when the specific resistance became 18.2 MΩ.cm was defined as the start point of the start. The measurement results are shown in Table 2 and FIG. As shown in Table 2 and FIG. 5, the pump according to the present example started up quickly, maintained a high specific resistance value of 18.2 MΩ after 30 minutes, and did not decrease.

それに対して比較例のキャンドポンプの場合は、18.1
5MΩ・cmを達成するためには6月を要した。
On the other hand, in the case of the canned pump of the comparative example, 18.1
It took June to achieve 5MΩ · cm.

上記、比抵抗値の測定は、比抵抗計を用いて行った。 The measurement of the specific resistance value was performed using a specific resistance meter.

なお、サンプルにつき、TOC及び生菌を調査したとこ
ろ、TOCは50μgc/以下、生菌は1個/100mlであった。
なお、生菌の測定はメンブレン培養法によった。
In addition, when the TOC and the viable bacteria were examined for the sample, the TOC was 50 μgc or less, and the viable bacteria was 1/100 ml.
In addition, the measurement of viable bacteria was based on the membrane culture method.

(実施例2) 第2図(a)に示す渦巻ポンプについて実施例1と同
様の測定を行ったところ、パーティクルの発生抑制効果
も実施例1と同様の値が得られた。また、立ち上げテス
トについても実施例1と同様の結果が得られた。
Example 2 The same measurement as in Example 1 was performed on the centrifugal pump shown in FIG. 2A, and the same effect as in Example 1 was obtained for the particle generation suppressing effect. In addition, the same results as in Example 1 were obtained for the start-up test.

[発明の効果] 本発明によれば、パーティクルの発生が極めて少な
く、純度を低下させることなく液の移送が可能となり、
従って、高純度水の移送も可能となる。
[Effects of the Invention] According to the present invention, the generation of particles is extremely small, and the liquid can be transferred without lowering the purity.
Therefore, transfer of high-purity water is also possible.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図(a)は本発明の実施例1に係るポンプの断面図
であり、第1図(b)は該ポンプの羽根車の斜視図であ
る。第2図(a)は本発明の実施例2に係るポンプの断
面図であり、第2図(b)は該ポンプの羽根車の平面図
である。第3図は電解複合研磨に用いる装置の平面図及
び断面図である。第4図は供給水の品質を測定するため
のシステム配置図である。第5図は供給水の立ち上げ時
間を示すグラフである。 (符号の説明) 1……駆動軸に接続され駆動装置により回転される工
具、2……工具1の下部に形成された銅板からなる円板
状の陰極、3……陰極2の下面に十字状に形成された露
出面、4……陰極2の中央に透設された電解液の流出
口、5……電解液流出口、6……陰極2の下面の露出面
3及び流出口4を除いて全面貼付された研磨砥粒、7…
…電気的に絶縁性をもつ塗料などの薄膜、12……羽根
車、13……ケーシング、14……シール箱、16……回転
軸、17……軸受、18……羽根、19……流体入口、20……
流体通路。
FIG. 1A is a sectional view of a pump according to Embodiment 1 of the present invention, and FIG. 1B is a perspective view of an impeller of the pump. FIG. 2A is a sectional view of a pump according to a second embodiment of the present invention, and FIG. 2B is a plan view of an impeller of the pump. FIG. 3 is a plan view and a sectional view of an apparatus used for electrolytic combined polishing. FIG. 4 is a system layout diagram for measuring the quality of supply water. FIG. 5 is a graph showing the rise time of supply water. (Explanation of reference numerals) 1... A tool connected to a drive shaft and rotated by a driving device 2... A disk-shaped cathode made of a copper plate formed under tool 1, 3. The exposed surface 4 formed in the shape of the electrolyte, the outlet of the electrolytic solution penetrated in the center of the cathode 2, the electrolyte outlet 5, the exposed surface 3 and the outlet 4 on the lower surface of the cathode 2 Except for the abrasive grains, 7 ...
… A thin film of electrically insulating paint, etc., 12… impeller, 13… casing, 14 …… sealing box, 16 …… rotary shaft, 17 …… bearing, 18 …… blade, 19 …… fluid Entrance, 20 ……
Fluid passage.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大見 忠弘 宮城県仙台市青葉区米ケ袋2―1―17― 301 (72)発明者 大崎 三之亟 神奈川県川崎市高津区久地843―5 二 国機械工業株式会社内 (72)発明者 佐藤 六平次 神奈川県川崎市高津区久地843―5 二 国機械工業株式会社内 (72)発明者 佐藤 憲二 神奈川県川崎市川崎区水江町4―1 日 造精密研磨株式会社内 (56)参考文献 特開 昭60−222571(JP,A) 特公 昭57−47759(JP,B2) (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) F04D 29/40 H01L 21/304 F04D 5/00 F04D 9/00 F04B 15/00────────────────────────────────────────────────── ─── Continuing on the front page (72) Inventor Tadahiro Omi 2-1-1-17-301, Yonegabukuro, Aoba-ku, Sendai, Miyagi Prefecture (72) Inventor Minoyuki Osaki 843--5 Kuji, Takatsu-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa Prefecture Inside Machinery Co., Ltd. (72) Inventor Rokuhei Sato 843-5 Kuji, Takatsu-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture Inside Nikoku Machinery Co., Ltd. (72) Inventor Kenji Sato 4-1 Mizue-cho, Kawasaki-ku, Kawasaki City, Kanagawa Prefecture (56) References JP-A-60-222571 (JP, A) JP-B-57-47759 (JP, B2) (58) Fields investigated (Int. Cl. 6 , DB name) F04D 29/40 H01L 21/304 F04D 5/00 F04D 9/00 F04B 15/00

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ポンプ内の接液部表面の少なくとも主要表
面が、電解複合研磨により表面を鏡面とした圧延材又は
鍛造材により構成されていることを特徴とするポンプ。
1. A pump characterized in that at least a main surface of a liquid contacting part surface in the pump is made of a rolled material or a forged material having a mirror-finished surface by electrolytic composite polishing.
【請求項2】鏡面の面粗度は0.1μmRmax以下であること
請求項1記載のポンプ。
2. The pump according to claim 1, wherein the surface roughness of the mirror surface is 0.1 μmRmax or less.
【請求項3】ポンプは渦流ポンプである請求項1または
2に記載のポンプ。
3. The pump according to claim 1, wherein the pump is a vortex pump.
【請求項4】ポンプは渦巻ポンプである請求項1または
2に記載のポンプ。
4. The pump according to claim 1, wherein the pump is a centrifugal pump.
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