JP2772074B2 - 光子計数型光波形観測装置 - Google Patents
光子計数型光波形観測装置Info
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- JP2772074B2 JP2772074B2 JP1299092A JP29909289A JP2772074B2 JP 2772074 B2 JP2772074 B2 JP 2772074B2 JP 1299092 A JP1299092 A JP 1299092A JP 29909289 A JP29909289 A JP 29909289A JP 2772074 B2 JP2772074 B2 JP 2772074B2
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Landscapes
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
本発明は、光子計数型ストリークカメラを利用した光
波形観測装置に係り、特に、ストリーク管本来の時間分
解能を実現可能な光子計数型光波形観測装置に関するも
のである。
波形観測装置に係り、特に、ストリーク管本来の時間分
解能を実現可能な光子計数型光波形観測装置に関するも
のである。
高速で変化する発光現象等の時間的光強度分布の変化
を定測する装置として、ストリークカメラが知られてい
る。このストリークカメラは、第８図に基本的な構成を
示す如く、例えばスリツト板10及びレンズ12からなる入
力光学系を介して、入射光をストリーク管14の光電面16
に当てて電子に変換し、偏向電極18の間を光電子が通過
する際に高速掃引することによつて、時間的に変化する
入射光強度を螢光面22上の位置における輝度変化として
測定するものである。図において、20は、螢光面22の直
前で光電子を増倍するためのマイクロチヤンネルプレー
ト（MCP）である。 このストリークカメラで使用されるストリーク管14
は、光電面16と螢光面22の間に偏向電極18を配置した電
子管であり、ストリーク管14の光電面16に被測定光が入
射させられると、該光電面16は、入射光の経時変化に対
応して順次光電子を放出し、時間的に変化する光電子ビ
ームが形成される。この光電子ビームがストリーク管14
内を移動する過程で、前記偏向電極18に電界を作用させ
ると、光電子ビームは、螢光面22上で一方向（第８図で
は図の上から下の方向）に掃引され、入射光の強度変化
が、螢光面22上の光電子ビームの掃引方向（時間軸方
向）の輝度変化として現われる。このようにして出力螢
光面22上に現われた像は、ストリーク像と呼ばれ、これ
をテレビカメラで撮像した後、この出力像の時間軸方向
に沿つた明るさの分布を定量することによつて、被測定
光の強度の経時変化を知ることができる。 このストリークカメラは、その動作原理上、掃引方式
によつて、単掃引型とシンクロスキヤン型に大別され
る。単掃引型は、通常数KHz程度以下で繰返す超高速鋸
歯状波による直線掃引を行うもので、単一の発光現象の
観測に利用されている。又、シンクロスキヤン型は、正
弦波による高速繰返し掃引を行うもので、繰返し発光現
象を、その発光に同期した掃引により螢光面上に重ねて
観察するのに利用されている。 更に、第９図に示す如く、前記偏向電極18の他に、も
う１組の偏向電極（前記偏向電極と区別してシフト電極
と呼ぶ）24を、前記偏向電極18と直交する方向に配置し
た二重掃引ストリークカメラも知られている。 この二重掃引ストリークカメラにおいては、偏向電極
18には、前記と同様に電界を作用させ、１つの発光現象
のストリーク像を螢光面上に得るが、シフト電極24に
は、偏向電極18に比べて電界変化をゆつくりと作用させ
る。その結果、ストリーク管の光電面に被測定光を次々
と入射させ、各々の被測定光の入射に合わせて偏向電極
18に電界を作用させ、シフト電極24にはゆつくりとした
電界変化を作用させることによつて、出力螢光面上に
は、各々の被測定光のストリーク像が、時間軸と直交す
る方向に並んで２次元的に得られる。 更に、被測定光が微弱なため、１回の被測定光の入射
で高々数個〜数十個の光電子しか光電面から放出されな
い場合には、光子計数型ストリークカメラが用いられ
る。この光子計数型ストリークカメラで使用されるスト
リーク管には、前記ストリーク管14の螢光面22の前に、
第10図に示す如く、２枚のMCP20A、20Bが配置されてお
り、これによりストリーク管の利得が高まる。その結
果、１つ１つの光電子が螢光面上で明るい輝点となつて
現われるストリーク像が得られる。このストリーク像
は、テレビカメラで読み出され、デジタル信号に変換さ
れた後、デジタルメモリに記憶され、又、デジタルメモ
リ内で複数個のストリーク像が加算される。従つて、デ
ジタルメモリに記憶されたストリーク像において、該ス
トリーク像の一部について、時間軸と直交する方向にデ
ータを加算することによつて、時間的な光強度変化の波
形が得られる。
を定測する装置として、ストリークカメラが知られてい
る。このストリークカメラは、第８図に基本的な構成を
示す如く、例えばスリツト板10及びレンズ12からなる入
力光学系を介して、入射光をストリーク管14の光電面16
に当てて電子に変換し、偏向電極18の間を光電子が通過
する際に高速掃引することによつて、時間的に変化する
入射光強度を螢光面22上の位置における輝度変化として
測定するものである。図において、20は、螢光面22の直
前で光電子を増倍するためのマイクロチヤンネルプレー
ト（MCP）である。 このストリークカメラで使用されるストリーク管14
は、光電面16と螢光面22の間に偏向電極18を配置した電
子管であり、ストリーク管14の光電面16に被測定光が入
射させられると、該光電面16は、入射光の経時変化に対
応して順次光電子を放出し、時間的に変化する光電子ビ
ームが形成される。この光電子ビームがストリーク管14
内を移動する過程で、前記偏向電極18に電界を作用させ
ると、光電子ビームは、螢光面22上で一方向（第８図で
は図の上から下の方向）に掃引され、入射光の強度変化
が、螢光面22上の光電子ビームの掃引方向（時間軸方
向）の輝度変化として現われる。このようにして出力螢
光面22上に現われた像は、ストリーク像と呼ばれ、これ
をテレビカメラで撮像した後、この出力像の時間軸方向
に沿つた明るさの分布を定量することによつて、被測定
光の強度の経時変化を知ることができる。 このストリークカメラは、その動作原理上、掃引方式
によつて、単掃引型とシンクロスキヤン型に大別され
る。単掃引型は、通常数KHz程度以下で繰返す超高速鋸
歯状波による直線掃引を行うもので、単一の発光現象の
観測に利用されている。又、シンクロスキヤン型は、正
弦波による高速繰返し掃引を行うもので、繰返し発光現
象を、その発光に同期した掃引により螢光面上に重ねて
観察するのに利用されている。 更に、第９図に示す如く、前記偏向電極18の他に、も
う１組の偏向電極（前記偏向電極と区別してシフト電極
と呼ぶ）24を、前記偏向電極18と直交する方向に配置し
た二重掃引ストリークカメラも知られている。 この二重掃引ストリークカメラにおいては、偏向電極
18には、前記と同様に電界を作用させ、１つの発光現象
のストリーク像を螢光面上に得るが、シフト電極24に
は、偏向電極18に比べて電界変化をゆつくりと作用させ
る。その結果、ストリーク管の光電面に被測定光を次々
と入射させ、各々の被測定光の入射に合わせて偏向電極
18に電界を作用させ、シフト電極24にはゆつくりとした
電界変化を作用させることによつて、出力螢光面上に
は、各々の被測定光のストリーク像が、時間軸と直交す
る方向に並んで２次元的に得られる。 更に、被測定光が微弱なため、１回の被測定光の入射
で高々数個〜数十個の光電子しか光電面から放出されな
い場合には、光子計数型ストリークカメラが用いられ
る。この光子計数型ストリークカメラで使用されるスト
リーク管には、前記ストリーク管14の螢光面22の前に、
第10図に示す如く、２枚のMCP20A、20Bが配置されてお
り、これによりストリーク管の利得が高まる。その結
果、１つ１つの光電子が螢光面上で明るい輝点となつて
現われるストリーク像が得られる。このストリーク像
は、テレビカメラで読み出され、デジタル信号に変換さ
れた後、デジタルメモリに記憶され、又、デジタルメモ
リ内で複数個のストリーク像が加算される。従つて、デ
ジタルメモリに記憶されたストリーク像において、該ス
トリーク像の一部について、時間軸と直交する方向にデ
ータを加算することによつて、時間的な光強度変化の波
形が得られる。
しかしながら、光電面より放出された光電子は、第10
図に示す如く、１枚目のMCP20Aにより増倍され、拡がつ
た状態で２枚目のMCP20Bに入射する。２枚目のMCP20Bに
入射した光電子は、第11図に示す如く、該２枚目のMCP2
0Bで更に増倍された後、更に拡がつて出力される。この
ため、単一光電子は、螢光面上で無視できない拡がりを
持つこととなる。従つて、前記時間的光強度変化の波形
は、該拡がりの分だけ時間軸に対してなまつた波形とな
り、時間分解能の劣化を招いていた。 例えば、ストリーク管の時間分解能が、半値幅で2p
s、前記光電子の拡がりを時間換算した値が同じく半値
幅で5psとし、それぞれの拡がりがガウス分布であると
すると、得られる時間分解能は（22＋52）1/2≒5.4psと
なり、ストリーク管本来の時間分解能（2ps）は得られ
なかつた。 本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされた
もので、ストリーク管本来の時間分解能を実現すること
が可能な光子計数型光波形観測装置を提供することを課
題とする。
図に示す如く、１枚目のMCP20Aにより増倍され、拡がつ
た状態で２枚目のMCP20Bに入射する。２枚目のMCP20Bに
入射した光電子は、第11図に示す如く、該２枚目のMCP2
0Bで更に増倍された後、更に拡がつて出力される。この
ため、単一光電子は、螢光面上で無視できない拡がりを
持つこととなる。従つて、前記時間的光強度変化の波形
は、該拡がりの分だけ時間軸に対してなまつた波形とな
り、時間分解能の劣化を招いていた。 例えば、ストリーク管の時間分解能が、半値幅で2p
s、前記光電子の拡がりを時間換算した値が同じく半値
幅で5psとし、それぞれの拡がりがガウス分布であると
すると、得られる時間分解能は（22＋52）1/2≒5.4psと
なり、ストリーク管本来の時間分解能（2ps）は得られ
なかつた。 本発明は、前記従来の問題点を解消するべくなされた
もので、ストリーク管本来の時間分解能を実現すること
が可能な光子計数型光波形観測装置を提供することを課
題とする。
本発明は、光子計数型光波形観測装置において、光子
計数型ストリークカメラと、該ストリークカメラで得た
ストリーク像を撮像するテレビカメラと、該テレビカメ
ラにより撮像されたストリーク像から検出された、撮像
系のノイズや光増倍系における空間的拡がりを除去した
後の、単一光電子による輝点の位置のデータをカウント
アップするための光子計数用メモリと、これら計測を繰
返して行い、前記光子計数用メモリ上にデータを積算し
て光子計数型ストリーク像を得る手段とを備え、得られ
たストリーク像一つ一つに対して独立した演算を行い、
各ストリーク像に重畳している撮像系のノイズを除去
し、光増倍系における光電子像の空間的拡がりを無くし
た上で、データを積算することにより、前記課題を達成
したものである 又、前記単一光電子により輝点の位置検出を、ストリ
ーク像のピーク位置検出により行うようにしたものであ
る。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、該輝点
の概略位置を含む所定範囲内における１次モーメントの
値を前記輝点の位置とすることによつて行うようにした
ものである。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、前記ス
トリーク像を所定のスレツシユホールドレベルで２値化
し、該２値画像の各輝領域の１次モーメントの値を前記
輝点の位置とすることによつて行うようにしたものであ
る。 又、光子計数型光波形観測装置において、光子計数型
ストリークカメラと、該ストリークカメラで得たストリ
ーク像を撮像するテレビカメラと、該テレビカメラによ
り撮像されたストリーク像の一部を、該ストリーク像の
時間軸と直交する方向に積分して時間対光強度波形を得
る手段と、該光強度波形から検出された、撮像系のノイ
ズや光増倍系における空間的拡がりを除去した後の、単
一光電子による輝点の位置のデータをカウントアップす
るための光子計数用波形メモリと、これら計測を繰返し
て行い、前記光子計数用波形メモリ上にデータを積算し
て、光現象の時間的強度分布を得る手段とを備え、得ら
れた時間対光強度波形一つ一つに対して独立した演算を
行い、各時間対光強度波形に重畳している撮像系のノイ
ズを除去し、光増倍系における光電子像の空間的拡がり
を無くした上で、データを積算することにより、同じく
前記課題を達成したものである。
計数型ストリークカメラと、該ストリークカメラで得た
ストリーク像を撮像するテレビカメラと、該テレビカメ
ラにより撮像されたストリーク像から検出された、撮像
系のノイズや光増倍系における空間的拡がりを除去した
後の、単一光電子による輝点の位置のデータをカウント
アップするための光子計数用メモリと、これら計測を繰
返して行い、前記光子計数用メモリ上にデータを積算し
て光子計数型ストリーク像を得る手段とを備え、得られ
たストリーク像一つ一つに対して独立した演算を行い、
各ストリーク像に重畳している撮像系のノイズを除去
し、光増倍系における光電子像の空間的拡がりを無くし
た上で、データを積算することにより、前記課題を達成
したものである 又、前記単一光電子により輝点の位置検出を、ストリ
ーク像のピーク位置検出により行うようにしたものであ
る。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、該輝点
の概略位置を含む所定範囲内における１次モーメントの
値を前記輝点の位置とすることによつて行うようにした
ものである。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、前記ス
トリーク像を所定のスレツシユホールドレベルで２値化
し、該２値画像の各輝領域の１次モーメントの値を前記
輝点の位置とすることによつて行うようにしたものであ
る。 又、光子計数型光波形観測装置において、光子計数型
ストリークカメラと、該ストリークカメラで得たストリ
ーク像を撮像するテレビカメラと、該テレビカメラによ
り撮像されたストリーク像の一部を、該ストリーク像の
時間軸と直交する方向に積分して時間対光強度波形を得
る手段と、該光強度波形から検出された、撮像系のノイ
ズや光増倍系における空間的拡がりを除去した後の、単
一光電子による輝点の位置のデータをカウントアップす
るための光子計数用波形メモリと、これら計測を繰返し
て行い、前記光子計数用波形メモリ上にデータを積算し
て、光現象の時間的強度分布を得る手段とを備え、得ら
れた時間対光強度波形一つ一つに対して独立した演算を
行い、各時間対光強度波形に重畳している撮像系のノイ
ズを除去し、光増倍系における光電子像の空間的拡がり
を無くした上で、データを積算することにより、同じく
前記課題を達成したものである。
本発明においては、光子計数型ストリークカメラで得
たストリーク像をテレビカメラで撮像し、撮像されたス
トリーク像から、撮像系のノイズや光増倍系における空
間的拡がりを除去した後の、単一光電子による輝点の位
置を検出して、光子計数用メモリにおける同位置のデー
タをカウントアップし、これら計測を繰返して行うこと
によつて、光子計数用メモリ上にデータを積算して光子
計数型ストリーク像を得るようにしている。従つて、単
一光電子による輝点の位置を的確に検出して、積算する
ことができるので、MCPの出力像の拡がり等による時間
分解能の劣化がなくなり、ストリーク管本来の時間分解
能を得ることができる。又、本質的な光子計数法である
ので、従来例に比べて、MCP等の増倍揺ぎによるS/Nの劣
化もなくなる。従つて、生体からの発光の観測等、極微
弱な光現象の観測を、高時間分解能で、且つS/N良く行
うことができる。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、ストリ
ーク像のピーク位置検出により行う場合には、前記輝点
の位置検出を容易に行うことができる。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、該輝点
の概略位置を含む所定範囲内における１次モーメントの
値を前記輝点の位置とすることによつて行う場合には、
前記輝点の位置を正確に求めることができる。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、前記ス
トリーク像を所定のスレツシユホールドレベルで２値化
し、該２値画像の各輝領域の１次モーメントの値を前記
輝点の位置とすることによつて行う場合には、ノイズの
影響等を受けることなく、前記輝点の位置を正確に検出
することができる。 又、光子計数型ストリークカメラで得たストリーク像
をテレビカメラで撮像し、撮像されたストリーク像の一
部を、該ストリーク像の時間軸と直交する方向に積分し
て時間対光強度波形を得、該光強度波形の、撮像系のノ
イズや光増倍系における空間的拡がりを除去した後の輝
点の位置を検出し、光子計数用波形メモリにおける同位
置のデータをカウントアツプし、これら計測を繰返して
行うことにより、前記光子計数用波形メモリ上にデータ
を積算して、光現象の時間的強度分布を得るようにした
場合には、微弱な光現象の時間的強度分布を、高い時間
分解能及びS/Nで得ることが可能となる。
たストリーク像をテレビカメラで撮像し、撮像されたス
トリーク像から、撮像系のノイズや光増倍系における空
間的拡がりを除去した後の、単一光電子による輝点の位
置を検出して、光子計数用メモリにおける同位置のデー
タをカウントアップし、これら計測を繰返して行うこと
によつて、光子計数用メモリ上にデータを積算して光子
計数型ストリーク像を得るようにしている。従つて、単
一光電子による輝点の位置を的確に検出して、積算する
ことができるので、MCPの出力像の拡がり等による時間
分解能の劣化がなくなり、ストリーク管本来の時間分解
能を得ることができる。又、本質的な光子計数法である
ので、従来例に比べて、MCP等の増倍揺ぎによるS/Nの劣
化もなくなる。従つて、生体からの発光の観測等、極微
弱な光現象の観測を、高時間分解能で、且つS/N良く行
うことができる。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、ストリ
ーク像のピーク位置検出により行う場合には、前記輝点
の位置検出を容易に行うことができる。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、該輝点
の概略位置を含む所定範囲内における１次モーメントの
値を前記輝点の位置とすることによつて行う場合には、
前記輝点の位置を正確に求めることができる。 又、前記単一光電子による輝点の位置検出を、前記ス
トリーク像を所定のスレツシユホールドレベルで２値化
し、該２値画像の各輝領域の１次モーメントの値を前記
輝点の位置とすることによつて行う場合には、ノイズの
影響等を受けることなく、前記輝点の位置を正確に検出
することができる。 又、光子計数型ストリークカメラで得たストリーク像
をテレビカメラで撮像し、撮像されたストリーク像の一
部を、該ストリーク像の時間軸と直交する方向に積分し
て時間対光強度波形を得、該光強度波形の、撮像系のノ
イズや光増倍系における空間的拡がりを除去した後の輝
点の位置を検出し、光子計数用波形メモリにおける同位
置のデータをカウントアツプし、これら計測を繰返して
行うことにより、前記光子計数用波形メモリ上にデータ
を積算して、光現象の時間的強度分布を得るようにした
場合には、微弱な光現象の時間的強度分布を、高い時間
分解能及びS/Nで得ることが可能となる。
以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳細に説明
する。 本実施例は、第１図に示す如く、光子計数型ストリー
クカメラ30と、該ストリークカメラ30で得たストリーク
像を撮像するテレビ（TV）カメラ32と、該TVカメラ32で
得たビデオ信号をデジタル信号に変換するアナログ／デ
ジタル（A/D）変換器34と、デジタル化された前記ビデ
オ信号を記憶するイメージメモリ36と、該イメージメモ
リ36に記憶されたストリーク像から検出された、単一光
電子による輝点の位置のデータをカウントアツプするた
めの光子計数用（SPC）メモリ38又はSPC波形メモリ40
と、これら計測を繰返して行い、前記SPCメモリ38又はS
PC波形メモリ40上にデータを積算して光子計数型ストリ
ーク像を得るためのマイクロプロセツタ（CPU）42とか
ら主に構成されている。 前記ストリークカメラ30は、外部トリガ信号によつて
起動する掃引回路28によつて掃引されている。 このストリークカメラ30は、前記TVカメラ32と、レン
ズ31又はフアイバプレートにより結合される。 以下、実施例の作用を説明する。 ストリークカメラ30で得られたストリーク像は、TVカ
メラ32で撮像され、そのビデオ信号をA/D変換器34でA/D
変換した後、デジタルメモリであるイメージメモリ36に
記憶する。 なお、TVカメラ32の代わりに冷却したCCDカメラでス
トリーク像を一定時間露光し、複数個のストリーク像を
露光した後、信号をCCDから読み出し、イメージメモリ3
6に記憶することもできる。 このようにして記憶されたストリーク像の一例を第２
図に示す。第２図において、黒点で示したのが、単一光
電子による輝点である。ストリークカメラ30の前に分光
器を配置し、該分光器の出力像をストリークカメラ30に
入射すれば、得られるストリーク像の時間軸と直交する
軸は波長軸となる。 CPU42は、第２図に示されたストリーク像に対して、
次の手順により光子計数積載を行う。ここで、光子計数
積算とは、単一光電子１個１個を検出し、光電子の数を
数えることにより画像又は波形を構成することを言う。 手順1: ストリーク像の単一光電子による各輝点の位置を検出
し、SPCメモリ38又はSPC波形メモリ40の同位置に１を加
える。輝点の位置は、例えば次のいずれかの方法によつ
て検出することができる。 （１）ストリーク像の中において、局所的なピークを全
て検出し、検出されたピークの値が、予め決めておいた
値より大きければその位置を輝点の位置とする。 （２）第３図に示す如く、ストリーク像の中において、
まず（１）の方法によつて輝点の概略位置を求め、その
点を中心としたある決まつた範囲Δｘ×Δｙにおける１
次モーメントの値Ｃを輝点の位置とする。 （３）第４図に示す如く、ストリーク像（第４図
（Ａ））の中において、ある決まつた値以上の値を持つ
部分を全て抽出し（第４図（Ｂ））、その一団の部分毎
に求めた１次モーメントの値を輝点の位置とする（第４
図（Ｃ））。 （４）第５図に示す如く、ストリーク像（第５図
（Ａ））を、ある決めた値をスレツシユホールドとして
２値化し（第５図（Ｂ））、該２値画像の各輝領域の１
次モーメントの値を各輝点の位置とする（第５図
（Ｃ））。 手順１で求められた各輝点の位置、即ち、単一光電子
像の位置を、SPCメモリ38に積算して保持する。 手順2: ストリーク像の計測と手順１を何回か繰返し、SPCメ
モリ38上にデータを積算し、第６図（Ａ）に示すストリ
ーク像を得る。第６図（Ａ）に示すストリーク像のある
部分について、時間軸と直交する方向にデータを積分す
れば、第６図（Ｂ）に示す如く、（横軸が波長軸である
場合にはある特定波長における）時間的な光の強度変化
の波形が得られる。一方、時間軸に沿つてデータを積分
すれば、第６図（Ｃ）に示す如く、ある特定時間におけ
る空間的な光の強度変化の波形（横軸が波長であればス
ペクトル）が得られる。 又、第７図に示す如く、前記手順１において、第２図
に示したようなストリーク像について手順２と同じ手法
でまず波形（時間的光強度波形又はスペクトル）を抽出
し、その波形について手順１の（１）〜（４）と同様の
方法により、該波形の輝点位置を検出する。そして、SP
C波形メモリ40の同位置に１を加算し、ストリーク像の
計測とこの位置検出を繰返し行うことによつて、第６図
（Ｂ）、（Ｃ）と同等の波形を得ることもできる。
する。 本実施例は、第１図に示す如く、光子計数型ストリー
クカメラ30と、該ストリークカメラ30で得たストリーク
像を撮像するテレビ（TV）カメラ32と、該TVカメラ32で
得たビデオ信号をデジタル信号に変換するアナログ／デ
ジタル（A/D）変換器34と、デジタル化された前記ビデ
オ信号を記憶するイメージメモリ36と、該イメージメモ
リ36に記憶されたストリーク像から検出された、単一光
電子による輝点の位置のデータをカウントアツプするた
めの光子計数用（SPC）メモリ38又はSPC波形メモリ40
と、これら計測を繰返して行い、前記SPCメモリ38又はS
PC波形メモリ40上にデータを積算して光子計数型ストリ
ーク像を得るためのマイクロプロセツタ（CPU）42とか
ら主に構成されている。 前記ストリークカメラ30は、外部トリガ信号によつて
起動する掃引回路28によつて掃引されている。 このストリークカメラ30は、前記TVカメラ32と、レン
ズ31又はフアイバプレートにより結合される。 以下、実施例の作用を説明する。 ストリークカメラ30で得られたストリーク像は、TVカ
メラ32で撮像され、そのビデオ信号をA/D変換器34でA/D
変換した後、デジタルメモリであるイメージメモリ36に
記憶する。 なお、TVカメラ32の代わりに冷却したCCDカメラでス
トリーク像を一定時間露光し、複数個のストリーク像を
露光した後、信号をCCDから読み出し、イメージメモリ3
6に記憶することもできる。 このようにして記憶されたストリーク像の一例を第２
図に示す。第２図において、黒点で示したのが、単一光
電子による輝点である。ストリークカメラ30の前に分光
器を配置し、該分光器の出力像をストリークカメラ30に
入射すれば、得られるストリーク像の時間軸と直交する
軸は波長軸となる。 CPU42は、第２図に示されたストリーク像に対して、
次の手順により光子計数積載を行う。ここで、光子計数
積算とは、単一光電子１個１個を検出し、光電子の数を
数えることにより画像又は波形を構成することを言う。 手順1: ストリーク像の単一光電子による各輝点の位置を検出
し、SPCメモリ38又はSPC波形メモリ40の同位置に１を加
える。輝点の位置は、例えば次のいずれかの方法によつ
て検出することができる。 （１）ストリーク像の中において、局所的なピークを全
て検出し、検出されたピークの値が、予め決めておいた
値より大きければその位置を輝点の位置とする。 （２）第３図に示す如く、ストリーク像の中において、
まず（１）の方法によつて輝点の概略位置を求め、その
点を中心としたある決まつた範囲Δｘ×Δｙにおける１
次モーメントの値Ｃを輝点の位置とする。 （３）第４図に示す如く、ストリーク像（第４図
（Ａ））の中において、ある決まつた値以上の値を持つ
部分を全て抽出し（第４図（Ｂ））、その一団の部分毎
に求めた１次モーメントの値を輝点の位置とする（第４
図（Ｃ））。 （４）第５図に示す如く、ストリーク像（第５図
（Ａ））を、ある決めた値をスレツシユホールドとして
２値化し（第５図（Ｂ））、該２値画像の各輝領域の１
次モーメントの値を各輝点の位置とする（第５図
（Ｃ））。 手順１で求められた各輝点の位置、即ち、単一光電子
像の位置を、SPCメモリ38に積算して保持する。 手順2: ストリーク像の計測と手順１を何回か繰返し、SPCメ
モリ38上にデータを積算し、第６図（Ａ）に示すストリ
ーク像を得る。第６図（Ａ）に示すストリーク像のある
部分について、時間軸と直交する方向にデータを積分す
れば、第６図（Ｂ）に示す如く、（横軸が波長軸である
場合にはある特定波長における）時間的な光の強度変化
の波形が得られる。一方、時間軸に沿つてデータを積分
すれば、第６図（Ｃ）に示す如く、ある特定時間におけ
る空間的な光の強度変化の波形（横軸が波長であればス
ペクトル）が得られる。 又、第７図に示す如く、前記手順１において、第２図
に示したようなストリーク像について手順２と同じ手法
でまず波形（時間的光強度波形又はスペクトル）を抽出
し、その波形について手順１の（１）〜（４）と同様の
方法により、該波形の輝点位置を検出する。そして、SP
C波形メモリ40の同位置に１を加算し、ストリーク像の
計測とこの位置検出を繰返し行うことによつて、第６図
（Ｂ）、（Ｃ）と同等の波形を得ることもできる。
第１図は、本発明に係る光子計数型光波形観測装置の実
施例の全体構成を示すブロツク線図、 第２図は、前記実施例によつて得られるストリーク像の
一例を示す線図、 第３図は、第２図に示したストリーク像から輝点位置を
検出する方法の一例を示す線図、 第４図は、同じく他の例を示す線図、 第５図は、更に他の例を示す線図、 第６図は、本実施例によりSPCメモリ上に得られるスト
リーク像の一例及びその積分波形の例を示す線図、 第７図は、前出第２図に示したようなストリーク像を先
に積算することによつて得られる波形の例を示す線図、 第８図は、ストリークカメラの動作原理を説明するため
の略示断面図、 第９図は、二重掃引の原理を説明するための断面図、 第10図及び第11図は、光子計数型ストリークカメラにお
ける光電子の拡がりを説明するための線図である。 30……光子計数型ストリークカメラ、 32……テレビ（TV）カメラ、 36……イメージメモリ、 38……光子計数用（SPC）メモリ、 40……光子計数用（SPC）波形メモリ、 42……マイクロプロセツサ（CPU）。
施例の全体構成を示すブロツク線図、 第２図は、前記実施例によつて得られるストリーク像の
一例を示す線図、 第３図は、第２図に示したストリーク像から輝点位置を
検出する方法の一例を示す線図、 第４図は、同じく他の例を示す線図、 第５図は、更に他の例を示す線図、 第６図は、本実施例によりSPCメモリ上に得られるスト
リーク像の一例及びその積分波形の例を示す線図、 第７図は、前出第２図に示したようなストリーク像を先
に積算することによつて得られる波形の例を示す線図、 第８図は、ストリークカメラの動作原理を説明するため
の略示断面図、 第９図は、二重掃引の原理を説明するための断面図、 第10図及び第11図は、光子計数型ストリークカメラにお
ける光電子の拡がりを説明するための線図である。 30……光子計数型ストリークカメラ、 32……テレビ（TV）カメラ、 36……イメージメモリ、 38……光子計数用（SPC）メモリ、 40……光子計数用（SPC）波形メモリ、 42……マイクロプロセツサ（CPU）。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平３−41324（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−229995（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−4286（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−148186（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−9324（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.6，ＤＢ名) G01J 1/41 G01J 1/02 G01J 11/00
Claims (5)
- 【請求項１】光子計数型ストリークカメラと、 該ストリークカメラで得たストリーク像を撮像するテレ
ビカメラと、 該テレビカメラにより撮像されたストリーク像から検出
された、撮像系のノイズや光増倍系における空間的拡が
りを除去した後の、単一光電子による輝点の位置のデー
タをカウントアップするための光子計数用メモリと、 これら計測を繰返して行い、前記光子計数用メモリ上に
データを積算して光子計数型ストリーク像を得る手段と
を備え、 得られたストリーク像一つ一つに対して独立した演算を
行い、各ストリーク像に重畳している撮像系のノイズを
除去し、光増倍系における光電子像の空間的拡がりを無
くした上で、データを積算することを特徴とする光子計
数型光波形観測装置。 - 【請求項２】請求項１に記載の光子計数型光波形観測装
置において、前記単一光電子による輝点の位置検出を、
ストリーク像のピーク位置検出により行うことを特徴と
する光子計数型光波形観測装置。 - 【請求項３】請求項１に記載の光子計数型光波形観測装
置において、前記単一光電子による輝点の位置検出を、
該輝点の概略位置を含む所定範囲内における１次モーメ
ントの値を前記輝点の位置とすることによつて行うこと
を特徴とする光子計数型光波形観測装置。 - 【請求項４】請求項１に記載の光子計数型光波形観測装
置において、前記単一光電子による輝点の位置検出を、
前記ストリーク像を所定のスレツシユホールドレベルで
２値化し、該２値画像の各輝領域の１次モーメントの値
を前記輝点の位置とすることによつて行うことを特徴と
する光子型計数型光波形観測装置。 - 【請求項５】光子計数型ストリークカメラと、 該ストリークカメラで得たストリーク像を撮像するテレ
ビカメラと、 該テレビカメラにより撮像されたストリーク像の一部
を、該ストリーク像の時間軸と直交する方向に積分して
時間対光強度波形を得る手段と、 該光強度波形から検出された、撮像系のノイズや光像倍
系における空間的拡がりを除去した後の、単一光電子に
よる輝点の位置のデータをカウントアップするための光
子計数用波形メモリと、 これら計測を繰返して行い、前記光子計数用波形メモリ
上にデータを積算して、光現象の時間的強度分布を得る
手段とを備え、 得られた時間対光強度波形一つ一つに対して独立した演
算を行い、各時間対光強度波形に重畳している撮像系の
ノイズを除去し、光増倍系における光電子像の空間的拡
がりを無くした上で、データを積算することを特徴とす
る光子計数型光波形観測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1299092A JP2772074B2 (ja) | 1989-11-17 | 1989-11-17 | 光子計数型光波形観測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1299092A JP2772074B2 (ja) | 1989-11-17 | 1989-11-17 | 光子計数型光波形観測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03160330A JPH03160330A (ja) | 1991-07-10 |
| JP2772074B2 true JP2772074B2 (ja) | 1998-07-02 |
Family
ID=17868063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1299092A Expired - Lifetime JP2772074B2 (ja) | 1989-11-17 | 1989-11-17 | 光子計数型光波形観測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2772074B2 (ja) |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0230447B2 (ja) * | 1982-06-29 | 1990-07-06 | Hamamatsu Photonics Kk | Nijigenbijakugazokeisokusochi |
| JPS63148186A (ja) * | 1986-12-11 | 1988-06-21 | Hamamatsu Photonics Kk | 光又は放射線入射位置検出装置 |
| JPS649324A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-12 | Hamamatsu Photonics Kk | Light waveform observing instrument |
| JPH01229995A (ja) * | 1988-03-10 | 1989-09-13 | Hamamatsu Photonics Kk | 放射線位置検出器 |
| JPH0341324A (ja) * | 1989-07-07 | 1991-02-21 | Hamamatsu Photonics Kk | 光波形観測装置 |
-
1989
- 1989-11-17 JP JP1299092A patent/JP2772074B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03160330A (ja) | 1991-07-10 |
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