JPS63148186A - 光又は放射線入射位置検出装置 - Google Patents

光又は放射線入射位置検出装置

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JPS63148186A
JPS63148186A JP61295669A JP29566986A JPS63148186A JP S63148186 A JPS63148186 A JP S63148186A JP 61295669 A JP61295669 A JP 61295669A JP 29566986 A JP29566986 A JP 29566986A JP S63148186 A JPS63148186 A JP S63148186A
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light
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JP61295669A
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Takashi Yamashita
貴司 山下
Keiji Shimizu
啓司 清水
Tomohide Omura
知秀 大村
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Japan Science and Technology Agency
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Hamamatsu Photonics KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光又は放射線入射位置検出装置に係わり、特に
回路構成が簡単で安価であり、高速に最適位置を演算し
て求めることが可能な光又は放射線入射位置検出装置に
関する。
〔従来の技術〕
従来、マルチワイヤ読み出し回路による検出器等のよう
な複数個の出力を有する位置検出器や、シンチレーショ
ンカメラのように複雑個の検出器を用いてこれらの出力
から位置演算を行う装置においては、通常アナログ回路
による位置演算が行われており、例えば遅延線を用いる
方法や、抵抗マトリックスによる方法等が用いられてい
る。
第6図はこのような従来のシンチレーションカメラを示
す図で、同図(A)はフォトマルチプライヤ(PMT)
の2次元配置を示す回、同図(B)はシンチレーション
カメラの構造を示す図、同図(C)は位置演算回路を示
す図である。図中、41は患者、42はコリメータ、4
3はシンチレータ、44はライトガイド、45はPMT
、46は位置演算回路、47はプリアンプ、48.49
は重み付は演算回路、5oは演算回路、51.52.5
3は増幅器、54.55.56はパルス伸長回路、57
は演算回路、58はシグナルチャンネルアナライザ、5
9は輝度変調回路、6oはCRTである。
第6図(B)において、患者からの放射線によりコリメ
ータ42を介してシンチレータ43のある位置でシンチ
レーション光が生ずると、このシンナレーション光をラ
イトガイド44を通して幾つかのPMT45で受け、位
置演算回路46により発光位置に相当するX、Y座標の
信号と、エネルギー値を表すZ信号を形成する。
第6図(C)により位置演算について説明すると、各P
MT45からの出力は、各PMT出力に対する重み付け
が逆の関係になっている重み付は演算回路48.49に
加えられると共に、各PMT出力に対する重み付けをし
ない演算回路5oに加えられる。各演算回路の出力は増
幅器51.52.53を介してパルス伸長回路54.5
5.56に加えられる0重み付けが逆の関係にある出力
x”、x−及びエネルギー値を表すZ信号を演算回路5
7に加え、ここで(X”−X−’)/Zの演算を行う、
この演算において、XoからX−を差し引くことにより
中心を0として左右逆符号の重み付けを行い、X方向に
対する位置信号を算出することができる。またZ信号で
#、Xすることにより、視野内におけるZ信号の統計的
な揺らぎに起因する視野周辺での解像度の低下を防止す
ると共に、エネルギーの大きさの違いにより像の位置が
変化しないようにする。同様にY方向に対する位置信号
も算出する。これらX、Y信号をCRT60のX、Y軸
に加え、Z信号で輝度変調することによりシンチレーシ
ョン光が生じた場合に、その発光位置を表示することが
できる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
ところでこのようなアナログ位置演算は、温度に対する
安定性が低く、演算速度は遅く、調整が繁雑であると共
に、位置歪の補正が難しいなどの欠点がある。
そこで、このようなアナログ回路による位置演算をディ
ジタル化することが考えられるが、このディジタル化の
方法としては次のようなものが考えられる。
■名入力信号を直ちにA/D変換し、これらのディジタ
ル信号からディジタル位置演算を行う。
■重みを付加したアナログ加算後、これらをA/D変換
し、除算をディジタル演算処理によって行う。
■重み付は加算、除算のアナログ演算後のアナログ位置
信号をA/D変換し、ディジタル化する。
以上のディジタル化後、メモリーに記憶したり、ディス
プレイに表示するが、このようなディジタル化の方法は
、次のような欠点がある。
■の方法においては、複数個の検出器に対して全てにA
/D変換器を設置するため、回路構成量が増加してさら
に高価となり、また、A/D変換後のディジタル情at
が膨大となり、リアルタイム処理するためには膨大なメ
モリIC等が必要となる。
■、■の方法においては、アナログ演算回路を一部に有
するため、前述したアナログ回路の欠点を一部に存し、
特に、位置歪の補正を行うためには複雑な回路を付加す
る必要がある。
本発明は上記問題点を解決するためのもので、高速位置
演算が可能であり、温度安定性に優れ、回路構成が簡単
で調整が容易であり、安価な光又は放射線入射位置検出
装置を提供することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
そのために本発明の光又は放射線入射位置検出装置は、
複数個の検出器と、各検出器からのアナログ信号が入力
され、1つの群においては1つのスレッショールドレベ
ルを有し、各群が異なるスレッショールドレベルを有す
る複数のコンパレータ群と、各コンパレータ群出力が入
力され、該入力を位置信号へ変換する変換テーブルを備
えたメモリとからなることを特徴とする。
〔作用〕
本発明の光又は放射線入射位置検出装置は、複数個の検
出器からのアナログ入力信号を、異なるスレッショール
ドレベルを有する各コンパレータ群に加えてディジタル
信号に変換し、これらをあらかじめメモリ中に設定した
変換テーブルによって位置信号に変換することにより、
高速位置演算を可能にし、温度安定性に優れ、回路構成
が簡単で安価であると共に調整も容易にすることができ
る。
〔実施例〕
以下、実施例を図面に基づき説明する。
本発明における光又は放射線入射位置検出原理を第1図
により説明する。
図において、1〜7はワイアーアノードで、光、又はγ
線入射位置(検出すべき信号入力位置)を中心として、
信号は図の破線8で示される分布で各アノードに分配さ
れる。
これに対して2個以上のスレッショールドレベル(闇値
レベル)Ll、L2を設定し、これを各信号レベルが越
えるか否かによりrlJ、rOJの2値のディジタル信
号P1、P2を得る。これらの2値信号の組合せを判別
することにより、入射位置を演算する。演算方法として
は、のように重心計算を行う方法、あるいは、24a信
号の組合せをメモリー中に作成したテーブルによりデコ
ードする方法等があり、これらを適宜適用すればよい。
このように、アナログ入力信号が所定のスレッショール
ドレベルを越えるか否かにより「1」又はrOJのデジ
タル出力を得るようにしているので、A/D変換器を使
用する場合に比して情報量(ビット数)を大幅に少なく
してアナログ人力信号に対するディジタル信号を得るこ
とができる。
また、スレッショールドレベルを2種類又はそれ以上に
設定して得られたディジタル信号を組み合わせることに
より、信号のピーク位置の算出精度がより向上し、入射
位置を高精度に求めることが可能となる。
第1図に示したものは、マルチワイアアノード検出器に
対して本発明を適用したが、各ワイアアノードに代えて
単体の検出器出力、例えば第6図のシンチレーシせンカ
メラにおける各PMT出力等に適用することも勿論可能
である。
第2図は本発明による光又は放射線入射位置検出装置の
回路構成を示す図で、11.〜11、はワイアアノード
、12.〜12.lは増幅器、131〜13..14.
〜14.はコンパレータ、15.16.17はROMで
ある。
図に示す演算回路では、各アノード11、〜111、か
らの信号は、増巾後、それぞれに対応して設置された2
つのコンパレータ群131〜13.l、14.〜14L
lに導かれる。この時、2つのコンパレータ群は、異な
ったスレッショールドレベJLzV1 、Vt  (第
1図のLl、L2に相当)が与えられている。各コンパ
レータ出力は、それぞれROM15.16に導かれる。
このROM内にはあらかじめ、それぞれのスレッショー
ルドレベルで得られた各コンパレータ出力の組み合わせ
を入射位置情報に変換するための変換テーブルが設定さ
れており、このテーブル変換により、入射位置アドレス
情報が得られる。そしてROM15.16の出力をRO
M17に人力することにより、例えば前述の重心計算等
によるさらに精度のよい計算された位置情報に変換され
る。
本発明の回路構成による演算結果を第3図(A)に示し
、比較のためスレッショールドレベルを1種類とした時
の結果を第3図(B)に示す。
この図から、2種のスレッショールドを設定した場合、
入射位置と演算結果が良好な直線性を示すことが分かる
第4図は本発明を二次元位置演算に拡張した実施例を示
し、第2図の回路構成をX方向、Y方向に対して設けた
ものであり、第1図と同一番号は同一内容を示している
。図中、11.’〜11、′はワイアアノード、12.
′〜12、゛は増幅器、131′〜13,1′、141
゛〜147′はコンパレータ、15′、16゛、17゛
はROMである。
図において、X方向、Y方向の各回路の動作は第2図の
場合と同様である。検出器のもつ位置歪みは、例えばX
方向に関してはY方向の位置が変わると歪み方も異なっ
てくるが、本実施例においては、座標(X、Y)の位置
演算において、X方向の位置演算にY方向の位置情報を
、Y方向の位置演算にX方向の位置情報をそれぞれ加え
ることによりそれぞれの方向の位置歪を補正し、二次元
的に最適な位置演算を実施することができる。
なお、前述の実施例においてはスレソシッールドレベル
を2種類としたが、これ以上のレベル数を設定してもよ
く、またコンパレータ出力からアドレス情報へ変換する
ための変換テーブルはROMに設定するようにしたが、
RAM等他の形式の記憶手段を利用してもよいことは勿
論である。
第5図はアノードワイヤピッチが4mの位置検出型PM
Tに3.5fiピツチのBGOシンチレータアレイを結
合した検出器(γ線検出器)に本発明の回路を適用して
得られた位置弁別結果例を示す図で、同図(A)はT線
入対位置と検出頻度の関係を示す図、同図(B)は検出
器の概略構成を示す図である0図中、21〜29はBG
Oシンチレータ、30は位置検出PMT、31は位置演
算回路である。
図において、BGOシンチレータは3.5flピツチで
配置されているが、同図(A)から分かるように、各シ
ンチレータでの検出の分離が極めて良好になされている
ことが分かる。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、A/D変換器を用いるこ
と無く、簡便にディジタル的に位置演算することができ
るので、位置演算を高速で行うことができると共に、温
度安定性に優れた位置演算回路を得ることができる。ま
た、ディジタル変換後の信号量(ビット数)が少ないた
め、少数個のメモリにより、リアルタイムで位置演算が
可能となり、回路構成が簡単で安価となると共に、調整
も容易となる。更に二次元に拡張した時、直交する位置
座標の情報を各方向で利用することにより、位置歪を補
正することができ、二次元的に最適な位置演算を行うこ
とが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の光又は放射線入射位置検出原理を説明
するための図、第2図は本発明の光又は放射線入射位置
検出装置の回路例を示す図、第3図(A)は本発明によ
る検出結果を示す図、第3図(B)はスレッシュホール
ドレベルが1種類のときの検出結果を示す図、第4図は
2次元に拡張した本発明による光又は放射線入射位置検
出装置の回路例を示す図、第5図は位置検出型PMTに
3mm巾のBGOシンチレータアレイを結合した検出器
に本発明の回路を適用して得られた位置弁別結果例を示
す図、第6図は従来のシンチレーションカメラによる位
置検出を示す図で、同図(A)はPMTの配置を示す図
、同図(B)はシンチレーションカメラの構造を示す図
、同図(C)は位置演算回路を示す図である。 1〜7、LLt〜11..111’〜11,1 ′・・
・ワイアアノード、121〜12,1.121’〜12
、、′・・・増幅器、13.〜13..13+  ’〜
1311 ′、14.〜1411,141’〜14゜′
・・・コンパレータ、15.15′、16.16′、1
7.17′・・・メモリ、21〜29・・・BGOシン
チレータ、30・・・位置検出PMT、31・・・位置
演算回路。 出 願 人    浜松ホトニクス株式会社(外1名)

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)複数個の検出器と、各検出器からのアナログ信号
    が入力され、1つの群においては1つのスレッショール
    ドレベルを有し、各群が異なるスレッショールドレベル
    を有する複数のコンパレータ群と、各コンパレータ群出
    力が入力され、該入力を位置信号へ変換する変換テーブ
    ルを備えたメモリとからなる光又は放射線入射位置検出
    装置。
  2. (2)前記複数のコンパレータ群は、X方向、Y方向に
    対して設けられ、それぞれの出力を変換して得られたX
    方向、Y方向の位置情報を、互いに他の方向の位置歪補
    正用に利用することを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の光又は放射線入射位置検出装置。
JP61295669A 1986-12-11 1986-12-11 光又は放射線入射位置検出装置 Granted JPS63148186A (ja)

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JP61295669A JPS63148186A (ja) 1986-12-11 1986-12-11 光又は放射線入射位置検出装置

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JP61295669A JPS63148186A (ja) 1986-12-11 1986-12-11 光又は放射線入射位置検出装置

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JPS63148186A true JPS63148186A (ja) 1988-06-21
JPH0520709B2 JPH0520709B2 (ja) 1993-03-22

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH03160330A (ja) * 1989-11-17 1991-07-10 Hamamatsu Photonics Kk 光子計数型光波形観測装置
FR2755815A1 (fr) * 1996-11-08 1998-05-15 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de determination de la position presumee d'un evenement par rapport a un ensemble de photodetecteurs, et application aux gamma-cameras

Cited By (3)

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FR2755815A1 (fr) * 1996-11-08 1998-05-15 Commissariat Energie Atomique Dispositif et procede de determination de la position presumee d'un evenement par rapport a un ensemble de photodetecteurs, et application aux gamma-cameras
WO1998021607A1 (fr) * 1996-11-08 1998-05-22 Commissariat A L'energie Atomique Dispositif et procede de determination de la position presumee d'un evenement par rapport a un ensemble de photodetecteurs, et application aux gamma-c

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JPH0520709B2 (ja) 1993-03-22

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