JPS6337286A - Ｐｍｔのゲイン設定装置 - Google Patents
Ｐｍｔのゲイン設定装置Info
- Publication number
- JPS6337286A JPS6337286A JP61180622A JP18062286A JPS6337286A JP S6337286 A JPS6337286 A JP S6337286A JP 61180622 A JP61180622 A JP 61180622A JP 18062286 A JP18062286 A JP 18062286A JP S6337286 A JPS6337286 A JP S6337286A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- gain
- pmt
- peak
- circuit
- output
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- Nuclear Medicine (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、リング型５ＰＥＣＴ （シングルフォトン
場エミッション・コンピュータ・トモグラフィ）装置や
アンガーカメラなどの多数のＰＭＴ（フォトマルチプラ
イア）を有する放射線検出器において、各ＰＭＴのゲイ
ンを自動的に設定する装置に関する。
場エミッション・コンピュータ・トモグラフィ）装置や
アンガーカメラなどの多数のＰＭＴ（フォトマルチプラ
イア）を有する放射線検出器において、各ＰＭＴのゲイ
ンを自動的に設定する装置に関する。
従来の技術
リング型５ＰＥＣＴ装置やアンガーカメラ等の放射線検
出器では、多数のＰＭＴが用いられるが、当初これらの
ＰＭＴのゲインを揃えたとしても、経詩変化のため各Ｐ
ＭＴのゲインにばらつきが生じることが避けられない。
出器では、多数のＰＭＴが用いられるが、当初これらの
ＰＭＴのゲインを揃えたとしても、経詩変化のため各Ｐ
ＭＴのゲインにばらつきが生じることが避けられない。
その結果、波高分析器であるシングルチャネルアナライ
ザ（以下ＳＣＡ回路という）のエネルギウィンドウ内に
光電ピークが入らないＰＭＴも出てくる。このようなば
らつきにより結果として再構成画像にアーティファクト
が生じる。
ザ（以下ＳＣＡ回路という）のエネルギウィンドウ内に
光電ピークが入らないＰＭＴも出てくる。このようなば
らつきにより結果として再構成画像にアーティファクト
が生じる。
そこで、従来では、手動で、各ＰＭＴに加える高ＪＴ電
圧を調整したり、あるいは増幅器のゲインを調整したり
して、このようなばらつきをなくすようにしていた。
圧を調整したり、あるいは増幅器のゲインを調整したり
して、このようなばらつきをなくすようにしていた。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、従来のように手動でゲインを調整するの
では、ＰＭＴが多数備えられている装置では大変な・Ｌ
間となり、しかも必ずしも１１確に調整できないという
欠点がある。
では、ＰＭＴが多数備えられている装置では大変な・Ｌ
間となり、しかも必ずしも１１確に調整できないという
欠点がある。
この発明は、ＰＭＴのゲインを自動的に１１つ１１）確
に調整できるＰＭＴのゲイン設定装置を提供することを
［１的とする。
に調整できるＰＭＴのゲイン設定装置を提供することを
［１的とする。
問題点を解決するための手段
この発明によるＰＭＴのゲイン設定装置は、ＰＭＴから
波高分析器の間の信号伝達系に挿入されたゲイン調整１
段と、参照用線源の測定時に上記ゲイン調整１段のゲイ
ンを変化きせる手段と、各ゲインに対する波高分析器出
力を収集する手段と、この収集ｙれたゲインに対する波
高分析器出力特性のピークを示すゲインを求める手段と
、このピークのゲインを記ｔαする一Ｌ段と、実際の被
検体の測定時に１−記ピークのゲインを読み出して１−
記ゲイン調整手段のゲインを設定する手段とを有する。
波高分析器の間の信号伝達系に挿入されたゲイン調整１
段と、参照用線源の測定時に上記ゲイン調整１段のゲイ
ンを変化きせる手段と、各ゲインに対する波高分析器出
力を収集する手段と、この収集ｙれたゲインに対する波
高分析器出力特性のピークを示すゲインを求める手段と
、このピークのゲインを記ｔαする一Ｌ段と、実際の被
検体の測定時に１−記ピークのゲインを読み出して１−
記ゲイン調整手段のゲインを設定する手段とを有する。
作 用
参照用線源の測定時にゲインを変化させ、各ゲインに対
する波高分析器出力を観測し、波高分析器出力特性のピ
ークを示すゲインを求めているため、波高分析器のエネ
ルギウィンドウの丁度中心に光電ピークが位置するよう
なゲインを直接求めることができるので、この求められ
たゲインは正確なものとなる。さらにこの操作が自動的
に行なわれるので、多数のＰＭＴについても短時間で終
了する。そして、この求められたピークのゲインを記憶
しておいて、実際の被検体の測定時にこれを読み出して
ゲイン調整するので、きわめて容易である。
する波高分析器出力を観測し、波高分析器出力特性のピ
ークを示すゲインを求めているため、波高分析器のエネ
ルギウィンドウの丁度中心に光電ピークが位置するよう
なゲインを直接求めることができるので、この求められ
たゲインは正確なものとなる。さらにこの操作が自動的
に行なわれるので、多数のＰＭＴについても短時間で終
了する。そして、この求められたピークのゲインを記憶
しておいて、実際の被検体の測定時にこれを読み出して
ゲイン調整するので、きわめて容易である。
実施例
第１図はこの発明をリング型５ＰＥＣＴ装置に適用した
一実施例を示すものである。この図において、ＮａＩな
とのシンチレータｌに１個のＰＭＴ２が光結合されて１
個の検出器が構成されており、このＰＭＴ２の出力がゲ
イン調整回路３を経て５ＣＡＨ路４にそれぞれ送られて
いる。たとえば、１リング当り６４（ｗのＰＭＴ２が用
いられ、このリングが３層に積層されて３リング構成の
リング型５ＰＥＣＴ装置が構成されるので、この場合は
総数１９２本のＰＭＴ２が愉えられることになる。ゲイ
ン調整回路３は外部信号によりそのゲインが変化させら
れるもので、インターフェイス回路８を介してＣＰＵ７
により制御される。ＳＣＡ回路４は１つのエネルギウィ
ンドウを有し、そのウィンドウ内に、１個の放射線入射
に応じて生′じたＰＭＴ２のパルス出力の波高値が入っ
たとき１個のパルスを出力する。
一実施例を示すものである。この図において、ＮａＩな
とのシンチレータｌに１個のＰＭＴ２が光結合されて１
個の検出器が構成されており、このＰＭＴ２の出力がゲ
イン調整回路３を経て５ＣＡＨ路４にそれぞれ送られて
いる。たとえば、１リング当り６４（ｗのＰＭＴ２が用
いられ、このリングが３層に積層されて３リング構成の
リング型５ＰＥＣＴ装置が構成されるので、この場合は
総数１９２本のＰＭＴ２が愉えられることになる。ゲイ
ン調整回路３は外部信号によりそのゲインが変化させら
れるもので、インターフェイス回路８を介してＣＰＵ７
により制御される。ＳＣＡ回路４は１つのエネルギウィ
ンドウを有し、そのウィンドウ内に、１個の放射線入射
に応じて生′じたＰＭＴ２のパルス出力の波高値が入っ
たとき１個のパルスを出力する。
実際の臨床医療において被検者の測定を行なう前に、定
期的にまたは随時に次のような校正作業を行なう。まず
、適宜なＲＩ（ラジオアイソトープ）の参照線源を検出
器のリング状配列の中央部に置く。そして、ＣＰＵ７に
よりゲイン調整回路３のゲインを最も小さい値に設定す
る。この時、放射線がシンチレータ１に１回入射すると
、ＰＭＴ２から１個のパルス出力が生じるが、そのゲイ
ンは最小のものとされるため、ＳＣＡ回路４に入力する
信号は第２図へのような抑えられたものとなる。そのた
め、多数の放射線が入射して多数個のパルス出力がＳＣ
Ａ回路４に入力ネれても、それらの波高値がＳＣＡ回路
４のエネルギウィンドウｃｙ） Ｌ Ｌ （Ｌｏｗｅｒ
Ｌｅｖｅｌ）に達する回数が少なくなる。ゲイン調整
回路３のゲインを徐々に上げていくと、第２図Ｂのよう
にパルス出力の波高値がエネルギウィンドウ＋７）Ｕ
Ｌ （ｔｌｐｐｅｒ Ｌｅｖｅｌ）とＬＬとの間に入る
回数が増え、さらにゲインを上げると、今度は第２図Ｃ
のようにパルス出力の波高値がエネルギウィンドウのＵ
Ｌより」―になる回数が増えてＳＣＡ回路４から出力さ
れるパルスの数が減少する。このＳＣＡ回路４のパルス
はインターフェイス回路５を介してメモリ６に送られて
格納され、ＳＣＡ回路４から出力されるパルスの各ゲイ
ン毎の数がそれぞれ収集されることになり、ＳＣＡ回路
４の出力パルス数の分布特性が第３図のように得られる
。このようなメモリ６へのデータ収集がＰＭＴ２の各々
につき並列的に行なわれていくので、一定時間後には、
たとえば１９２木のＰＭＴ２の全てについて第３図のよ
うなカーブが同時に得られることになる。そこで、ＣＰ
Ｕ７は、第３図のカーブのピークを示すゲインＧＰをＰ
ＭＴ２の各々につき求め、これをＲＡＭ（ランダムアク
セスメモリ）９に格納する。この作業は自動的に行なわ
れる。
期的にまたは随時に次のような校正作業を行なう。まず
、適宜なＲＩ（ラジオアイソトープ）の参照線源を検出
器のリング状配列の中央部に置く。そして、ＣＰＵ７に
よりゲイン調整回路３のゲインを最も小さい値に設定す
る。この時、放射線がシンチレータ１に１回入射すると
、ＰＭＴ２から１個のパルス出力が生じるが、そのゲイ
ンは最小のものとされるため、ＳＣＡ回路４に入力する
信号は第２図へのような抑えられたものとなる。そのた
め、多数の放射線が入射して多数個のパルス出力がＳＣ
Ａ回路４に入力ネれても、それらの波高値がＳＣＡ回路
４のエネルギウィンドウｃｙ） Ｌ Ｌ （Ｌｏｗｅｒ
Ｌｅｖｅｌ）に達する回数が少なくなる。ゲイン調整
回路３のゲインを徐々に上げていくと、第２図Ｂのよう
にパルス出力の波高値がエネルギウィンドウ＋７）Ｕ
Ｌ （ｔｌｐｐｅｒ Ｌｅｖｅｌ）とＬＬとの間に入る
回数が増え、さらにゲインを上げると、今度は第２図Ｃ
のようにパルス出力の波高値がエネルギウィンドウのＵ
Ｌより」―になる回数が増えてＳＣＡ回路４から出力さ
れるパルスの数が減少する。このＳＣＡ回路４のパルス
はインターフェイス回路５を介してメモリ６に送られて
格納され、ＳＣＡ回路４から出力されるパルスの各ゲイ
ン毎の数がそれぞれ収集されることになり、ＳＣＡ回路
４の出力パルス数の分布特性が第３図のように得られる
。このようなメモリ６へのデータ収集がＰＭＴ２の各々
につき並列的に行なわれていくので、一定時間後には、
たとえば１９２木のＰＭＴ２の全てについて第３図のよ
うなカーブが同時に得られることになる。そこで、ＣＰ
Ｕ７は、第３図のカーブのピークを示すゲインＧＰをＰ
ＭＴ２の各々につき求め、これをＲＡＭ（ランダムアク
セスメモリ）９に格納する。この作業は自動的に行なわ
れる。
実際の臨床において被検者の測定を行なう場合、リング
型５ＰＥＣＴ装置を起動させると、自動的にＲＡＭ９か
ら各ＰＭＴ２に関するＧＰの値が読み出され、ＣＰＵ７
によりゲイン調整回路３の各々のゲインが自動的に設定
される。したがって、各ＰＭＴ２のゲインが正確に調整
された状態で臨床測定を実行できる。すなわち、各ゲイ
ン調整回路３が設定されるゲインＧＰは、そのＰＭＴ２
−３ＣＡ回路４の各県において、光電ピークがエネルギ
ウィンドウに丁度中央に位置するように直接定めたもの
となっているから正確なのである。
型５ＰＥＣＴ装置を起動させると、自動的にＲＡＭ９か
ら各ＰＭＴ２に関するＧＰの値が読み出され、ＣＰＵ７
によりゲイン調整回路３の各々のゲインが自動的に設定
される。したがって、各ＰＭＴ２のゲインが正確に調整
された状態で臨床測定を実行できる。すなわち、各ゲイ
ン調整回路３が設定されるゲインＧＰは、そのＰＭＴ２
−３ＣＡ回路４の各県において、光電ピークがエネルギ
ウィンドウに丁度中央に位置するように直接定めたもの
となっているから正確なのである。
発明の効果
この発明によれば、多数のＰＭＴのゲインが短時間で自
動的に最適な値に調整・設定される。たとえば数百本の
ＰＭＴを持つリング型５ＰＥＣＴ装置でも、３０分程度
の時間でそれら全てのＰＭＴのゲインの調整が可能であ
る。
動的に最適な値に調整・設定される。たとえば数百本の
ＰＭＴを持つリング型５ＰＥＣＴ装置でも、３０分程度
の時間でそれら全てのＰＭＴのゲインの調整が可能であ
る。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図Ａ、
Ｂ、ＣはＰＭＴのパルス出力の波形図、第３図はゲイン
に対するＳＣＡ回路の出力パルス数を表わすグラフであ
る。 ｌ・・・シンチレータ ２・・・ＰＭＴ３・・・ゲ
イン調整回路 ４・・・ＳＣＡ回路５．８・・・イン
ターフェイス回路 ６・・・メモリ ７・・・ＣＰＵ９・・・
ＲＡＭ 答２目
Ｂ、ＣはＰＭＴのパルス出力の波形図、第３図はゲイン
に対するＳＣＡ回路の出力パルス数を表わすグラフであ
る。 ｌ・・・シンチレータ ２・・・ＰＭＴ３・・・ゲ
イン調整回路 ４・・・ＳＣＡ回路５．８・・・イン
ターフェイス回路 ６・・・メモリ ７・・・ＣＰＵ９・・・
ＲＡＭ 答２目
Claims (1)
- （１）ＰＭＴから波高分析器の間の信号伝達系に挿入さ
れたゲイン調整手段と、参照用線源の測定時に上記ゲイ
ン調整手段のゲインを変化させる手段と、各ゲインに対
する波高分析器出力を収集する手段と、この収集された
ゲインに対する波高分析器出力特性のピークを示すゲイ
ンを求める手段と、このピークのゲインを記憶する手段
と、実際の被検体の測定時に上記ピークのゲインを読み
出して上記ゲイン調整手段のゲインを設定する手段とか
らなるＰＭＴのゲイン設定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61180622A JPH0668546B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | Ｐｍｔのゲイン設定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61180622A JPH0668546B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | Ｐｍｔのゲイン設定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6337286A true JPS6337286A (ja) | 1988-02-17 |
| JPH0668546B2 JPH0668546B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=16086430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61180622A Expired - Fee Related JPH0668546B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | Ｐｍｔのゲイン設定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0668546B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105182399A (zh) * | 2015-07-27 | 2015-12-23 | 江苏赛诺格兰医疗科技有限公司 | 一种正电子断层扫描探测器在线实时校正方法 |
-
1986
- 1986-07-31 JP JP61180622A patent/JPH0668546B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105182399A (zh) * | 2015-07-27 | 2015-12-23 | 江苏赛诺格兰医疗科技有限公司 | 一种正电子断层扫描探测器在线实时校正方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0668546B2 (ja) | 1994-08-31 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |