JPH0668546B2 - Ｐｍｔのゲイン設定装置 - Google Patents
Ｐｍｔのゲイン設定装置Info
- Publication number
- JPH0668546B2 JPH0668546B2 JP61180622A JP18062286A JPH0668546B2 JP H0668546 B2 JPH0668546 B2 JP H0668546B2 JP 61180622 A JP61180622 A JP 61180622A JP 18062286 A JP18062286 A JP 18062286A JP H0668546 B2 JPH0668546 B2 JP H0668546B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、リング型ＳＰＥＣＴ（シングルフォトン・
エミッション・コンピュータ・トモグラフィ）装置やア
ンガーカメラなどの多数のＰＭＴ（フォトマルチプライ
ア）を有する放射線検出器において、各ＰＭＴのゲイン
を自動的に設定する装置に関する。
エミッション・コンピュータ・トモグラフィ）装置やア
ンガーカメラなどの多数のＰＭＴ（フォトマルチプライ
ア）を有する放射線検出器において、各ＰＭＴのゲイン
を自動的に設定する装置に関する。
従来の技術 リング型ＳＰＥＣＴ装置やアンガーカメラ等の放射線検
出器では、多数のＰＭＴが用いられるが、当初これらの
ＰＭＴのゲインを揃えたとしても、経時変化のため各Ｐ
ＭＴのゲインにばらつきが生じることが避けられない。
その結果、波高分析器であるシングルチャネルアナライ
ザ（以下ＳＣＡ回路という）のエネルギウインドウ内に
光電ピークが入らないＰＭＴも出てくる。このようなば
らつきにより結果として再構成画像にアーティファクト
が生じる。
出器では、多数のＰＭＴが用いられるが、当初これらの
ＰＭＴのゲインを揃えたとしても、経時変化のため各Ｐ
ＭＴのゲインにばらつきが生じることが避けられない。
その結果、波高分析器であるシングルチャネルアナライ
ザ（以下ＳＣＡ回路という）のエネルギウインドウ内に
光電ピークが入らないＰＭＴも出てくる。このようなば
らつきにより結果として再構成画像にアーティファクト
が生じる。
そこで、従来では、手動で、各ＰＭＴに加える高圧電圧
を調整したり、あるいは増幅器のゲインを調整したりし
て、このようなばらつきをなくすようにしていた。
を調整したり、あるいは増幅器のゲインを調整したりし
て、このようなばらつきをなくすようにしていた。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら、従来のように手動でゲインを調整するの
では、ＰＭＴが多数備えられている装置では大変な手間
となり、しかも必ずしも正確に調整できないという欠点
がある。
では、ＰＭＴが多数備えられている装置では大変な手間
となり、しかも必ずしも正確に調整できないという欠点
がある。
この発明は、ＰＭＴのゲインを自動的に且つ正確に調整
できるＰＭＴのゲイン設定装置を提供することを目的と
する。
できるＰＭＴのゲイン設定装置を提供することを目的と
する。
問題点を解決するための手段 この発明によるＰＭＴのゲイン設定装置は、ＰＭＴから
波高分析器の間の信号伝達系に挿入されたゲイン調整手
段と、参照用線源の測定時に上記ゲイン調整手段のゲイ
ンを変化させる手段と、各ゲインに対する波高分析器出
力を収集する手段と、この収集されたゲインに対する波
高分析器出力特性のピークを示すゲインを求める手段
と、このピークのゲインを記憶する手段と、実際の被検
体の測定時に上記ピークのゲインを読み出して上記ゲイ
ン調整手段のゲインを設定する手段とを有する。
波高分析器の間の信号伝達系に挿入されたゲイン調整手
段と、参照用線源の測定時に上記ゲイン調整手段のゲイ
ンを変化させる手段と、各ゲインに対する波高分析器出
力を収集する手段と、この収集されたゲインに対する波
高分析器出力特性のピークを示すゲインを求める手段
と、このピークのゲインを記憶する手段と、実際の被検
体の測定時に上記ピークのゲインを読み出して上記ゲイ
ン調整手段のゲインを設定する手段とを有する。
作用 参照用線源の測定時にゲインを変化させ、各ゲインに対
する波高分析器出力を観測し、波高分析器出力特性のピ
ークを示すゲインを求めているため、波高分析器のエネ
ルギウインドウの丁度中心に光電ピークが位置するよう
なゲインを直接求めることができるので、この求められ
たゲインは正確なものとなる。さらにこの操作が自動的
に行なわれるので、多数のＰＭＴについても短時間で終
了する。そして、この求められたピークのゲインを記憶
しておいて、実際の被検体の測定時にこれを読み出して
ゲイン調整するので、きわめて容易である。
する波高分析器出力を観測し、波高分析器出力特性のピ
ークを示すゲインを求めているため、波高分析器のエネ
ルギウインドウの丁度中心に光電ピークが位置するよう
なゲインを直接求めることができるので、この求められ
たゲインは正確なものとなる。さらにこの操作が自動的
に行なわれるので、多数のＰＭＴについても短時間で終
了する。そして、この求められたピークのゲインを記憶
しておいて、実際の被検体の測定時にこれを読み出して
ゲイン調整するので、きわめて容易である。
実施例 第１図はこの発明をリング型ＳＰＥＣＴ装置に適用した
一実施例を示すものである。この図において、ＮａＩな
どのシンチレータ１に１個のＰＭＴ２が光結合されて１
個の検出器が構成されており、このＰＭＴ２の出力がゲ
イン調整回路３を経てＳＣＡ回路４にそれぞれ送られて
いる。たとえば、１リング当り６４個のＰＭＴ２が用い
られ、このリングが３層に積層されて３リング構成のリ
ング型ＳＰＥＣＴ装置が構成されるので、この場合は総
数１９２本のＰＭＴ２が備えられることになる。ゲイン
調整回路３は外部信号によりそのゲインが変化させられ
るもので、インターフェイス回路８を介してＣＰＵ７に
より制御される。ＳＣＡ回路４は１つのエネルギウイン
ドウを有し、そのウインドウ内に、１個の放射線入射に
応じて生じたＰＭＴ２のパルス出力の波高値が入ったと
き１個のパルスを出力する。
一実施例を示すものである。この図において、ＮａＩな
どのシンチレータ１に１個のＰＭＴ２が光結合されて１
個の検出器が構成されており、このＰＭＴ２の出力がゲ
イン調整回路３を経てＳＣＡ回路４にそれぞれ送られて
いる。たとえば、１リング当り６４個のＰＭＴ２が用い
られ、このリングが３層に積層されて３リング構成のリ
ング型ＳＰＥＣＴ装置が構成されるので、この場合は総
数１９２本のＰＭＴ２が備えられることになる。ゲイン
調整回路３は外部信号によりそのゲインが変化させられ
るもので、インターフェイス回路８を介してＣＰＵ７に
より制御される。ＳＣＡ回路４は１つのエネルギウイン
ドウを有し、そのウインドウ内に、１個の放射線入射に
応じて生じたＰＭＴ２のパルス出力の波高値が入ったと
き１個のパルスを出力する。
実際の臨床医療において被検者の測定を行なう前に、定
期的にまたは随時に次のような校正作業を行なう。ま
ず、適宜なＲＩ（ラジオアイソトープ）の参照線源を検
出器のリング状配列の中央部に置く。そして、ＣＰＵ７
によりゲイン調整回路３のゲインを最も小さい値に設定
する。この時、放射線がシンチレータ１に１回入射する
と、ＰＭＴ２から１個のパルス出力が生じるが、そのゲ
インは最小のものとされるため、ＳＣＡ回路４に入力す
る信号は第２図Ａのような抑えられたものとなる。その
ため、多数の放射線が入射して多数個のパルス出力がＳ
ＣＡ回路４に入力されても、それらの波高値がＳＣＡ回
路４のエネルギウインドウのＬＬ(Lower Level)に達す
る回数が少なくなる。ゲイン調整回路３のゲインを徐々
に上げていくと、第２図Ｂのようにパルス出力の波高値
がエネルギウインドウのＵＬ(Upper Level)とＬＬとの
間に入る回数が増え、さらにゲインを上げると、今度は
第２図Ｃのようにパルス出力の波高値がエネルギウイン
ドウのＵＬより上になる回数が増えてＳＣＡ回路４から
出力されるパルスの数が減少する。このＳＣＡ回路４の
パルスはインターフェイス回路５を介してメモリ６に送
られて格納され、ＳＣＡ回路４から出力されるパルスの
各ゲイン毎の数がそれぞれ収集されることになり、ＳＣ
Ａ回路４の出力パルス数の分布特性が第３図のように得
られる。このようなメモリ６へのデータ収集がＰＭＴ２
の各々につき並列的に行なわれていくので、一定時間後
には、たとえば１９２本のＰＭＴ２の全てについて第３
図のようなカーブが同時に得られることになる。そこ
で、ＣＰＵ７は、第３図のカーブのピークを示すゲイン
ＧＰをＰＭＴ２の各々につき求め、これをＲＡＭ（ラン
ダムアクセスメモリ）９に格納する。この作業は自動的
に行なわれる。
期的にまたは随時に次のような校正作業を行なう。ま
ず、適宜なＲＩ（ラジオアイソトープ）の参照線源を検
出器のリング状配列の中央部に置く。そして、ＣＰＵ７
によりゲイン調整回路３のゲインを最も小さい値に設定
する。この時、放射線がシンチレータ１に１回入射する
と、ＰＭＴ２から１個のパルス出力が生じるが、そのゲ
インは最小のものとされるため、ＳＣＡ回路４に入力す
る信号は第２図Ａのような抑えられたものとなる。その
ため、多数の放射線が入射して多数個のパルス出力がＳ
ＣＡ回路４に入力されても、それらの波高値がＳＣＡ回
路４のエネルギウインドウのＬＬ(Lower Level)に達す
る回数が少なくなる。ゲイン調整回路３のゲインを徐々
に上げていくと、第２図Ｂのようにパルス出力の波高値
がエネルギウインドウのＵＬ(Upper Level)とＬＬとの
間に入る回数が増え、さらにゲインを上げると、今度は
第２図Ｃのようにパルス出力の波高値がエネルギウイン
ドウのＵＬより上になる回数が増えてＳＣＡ回路４から
出力されるパルスの数が減少する。このＳＣＡ回路４の
パルスはインターフェイス回路５を介してメモリ６に送
られて格納され、ＳＣＡ回路４から出力されるパルスの
各ゲイン毎の数がそれぞれ収集されることになり、ＳＣ
Ａ回路４の出力パルス数の分布特性が第３図のように得
られる。このようなメモリ６へのデータ収集がＰＭＴ２
の各々につき並列的に行なわれていくので、一定時間後
には、たとえば１９２本のＰＭＴ２の全てについて第３
図のようなカーブが同時に得られることになる。そこ
で、ＣＰＵ７は、第３図のカーブのピークを示すゲイン
ＧＰをＰＭＴ２の各々につき求め、これをＲＡＭ（ラン
ダムアクセスメモリ）９に格納する。この作業は自動的
に行なわれる。
実際の臨床において被検者の測定を行なう場合、リング
型ＳＰＥＣＴ装置を起動させると、自動的にＲＡＭ９か
ら各ＰＭＴ２に関するＧＰの値が読み出され、ＣＰＵ７
によりゲイン調整回路３の各々のゲインが自動的に設定
される。したがって、各ＰＭＴ２のゲインが正確に調整
された状態で臨床測定を実行できる。すなわち、各ゲイ
ン調整回路３が設定されるゲインＧＰは、そのＰＭＴ２
−ＳＣＡ回路４の各系において、光電ピークがエネルギ
ウインドウに丁度中央に位置するように直接定めたもの
となっているから正確なのである。
型ＳＰＥＣＴ装置を起動させると、自動的にＲＡＭ９か
ら各ＰＭＴ２に関するＧＰの値が読み出され、ＣＰＵ７
によりゲイン調整回路３の各々のゲインが自動的に設定
される。したがって、各ＰＭＴ２のゲインが正確に調整
された状態で臨床測定を実行できる。すなわち、各ゲイ
ン調整回路３が設定されるゲインＧＰは、そのＰＭＴ２
−ＳＣＡ回路４の各系において、光電ピークがエネルギ
ウインドウに丁度中央に位置するように直接定めたもの
となっているから正確なのである。
発明の効果 この発明によれば、多数のＰＭＴのゲインが短時間で自
動的に最適な値に調整・設定される。たとえば数百本の
ＰＭＴを持つリング型ＳＰＥＣＴ装置でも、３０分程度
の時間でそれら全てのＰＭＴのゲインの調整が可能であ
る。
動的に最適な値に調整・設定される。たとえば数百本の
ＰＭＴを持つリング型ＳＰＥＣＴ装置でも、３０分程度
の時間でそれら全てのＰＭＴのゲインの調整が可能であ
る。
第１図はこの発明の一実施例のブロック図、第２図Ａ、
Ｂ、ＣはＰＭＴのパルス出力の波形図、第３図はゲイン
に対するＳＣＡ回路の出力パルス数を表わすグラフであ
る。 １……シンチレータ、２……ＰＭＴ ３……ゲイン調整回路、４……ＳＣＡ回路 ５、８……インターフェイス回路 ６……メモリ、７……ＣＰＵ ９……ＲＡＭ
Ｂ、ＣはＰＭＴのパルス出力の波形図、第３図はゲイン
に対するＳＣＡ回路の出力パルス数を表わすグラフであ
る。 １……シンチレータ、２……ＰＭＴ ３……ゲイン調整回路、４……ＳＣＡ回路 ５、８……インターフェイス回路 ６……メモリ、７……ＣＰＵ ９……ＲＡＭ
Claims (1)
- 【請求項１】ＰＭＴから波高分析器の間の信号伝達系に
挿入されたゲイン調整手段と、参照用線源の測定時に上
記ゲイン調整手段のゲインを変化させる手段と、各ゲイ
ンに対する波高分析器出力を収集する手段と、この収集
されたゲインに対する波高分析器出力特性のピークを示
すゲインを求める手段と、このピークのゲインを記憶す
る手段と、実際の被検体の測定時に上記ピークのゲイン
を読み出して上記ゲイン調整手段のゲインを設定する手
段とからなるＰＭＴのゲイン設定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61180622A JPH0668546B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | Ｐｍｔのゲイン設定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61180622A JPH0668546B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | Ｐｍｔのゲイン設定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6337286A JPS6337286A (ja) | 1988-02-17 |
| JPH0668546B2 true JPH0668546B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=16086430
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61180622A Expired - Fee Related JPH0668546B2 (ja) | 1986-07-31 | 1986-07-31 | Ｐｍｔのゲイン設定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0668546B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105182399B (zh) * | 2015-07-27 | 2017-11-07 | 江苏赛诺格兰医疗科技有限公司 | 一种正电子断层扫描探测器在线实时校正方法 |
-
1986
- 1986-07-31 JP JP61180622A patent/JPH0668546B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6337286A (ja) | 1988-02-17 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |