JP2767057B2 - 圧力センサー - Google Patents

圧力センサー

Info

Publication number
JP2767057B2
JP2767057B2 JP1075566A JP7556689A JP2767057B2 JP 2767057 B2 JP2767057 B2 JP 2767057B2 JP 1075566 A JP1075566 A JP 1075566A JP 7556689 A JP7556689 A JP 7556689A JP 2767057 B2 JP2767057 B2 JP 2767057B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
probe
pressure
diaphragm
piezoelectric body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP1075566A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH02253117A (ja
Inventor
正隆 新荻
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
Priority to JP1075566A priority Critical patent/JP2767057B2/ja
Publication of JPH02253117A publication Critical patent/JPH02253117A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2767057B2 publication Critical patent/JP2767057B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measuring Fluid Pressure (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
  • Pressure Sensors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体分野などの微小なガスの制御流量・
ガス圧・真空圧等の圧力を測定する圧力センサー及び加
速度センサー、変位センサーに用いられる。
〔発明の概要〕
本発明は、探針表面に形成された第1の電極と該第1
の電極に相対向して設けられた第2の電極との間隙を1n
m程度とすることによりトンネル電流が流れ、かつ、該
間隙の変化に対しトンネル電流値が指数関数的に変化す
ることを利用するものであり、流体の圧力変位を、第1
及び第2の電極間の間隙に連動せしめ、トンネル電流の
変化として流体の圧力変化を検出するものである。
〔従来の技術〕
従来、変位を検出する場合、電気抵抗がひずみによっ
て顕著に変化する金属材料を使用し、圧力の検知を行う
方法、もしくは半導体に加えられる力によって変化する
現象を利用する方法、可動部の動きを電気信号に変換し
て力学量を検出する方法等がある。しかし、より微小な
変位量の検出力の向上が望まれる。従来のセンサーは、
第4図に示されるように、固定台7上にダイヤフラム5
が搭載され、ダイヤフラム5に歪ゲージが設けられてい
る。ここで圧力が印加すると、ダイヤフラム5が変形
し、歪ゲージ6に歪が発生する。このため、歪ゲージ6
には圧電体抵抗効果により大きな変化が起こり、圧力に
比例したブリッジ出力が得られる方法がとられていた。
また、トンネル効果を利用したセンサーとしては還元
性ガスセンサーとして特開昭59−131152号公報にセンサ
ーの構造が開示されているが、ガスの吸脱着による仕事
関数の変化により検出するもので、圧力・変位・加速度
の検出は不向きである。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、従来のセンサーでは半導体センサーでも自動
車・飛行機等の加速度を検出する等の用途が多かったが
近年、半導体の分野ではたとえばCVDによる膜付けには
微量のガス流量の制御を高精度に行う必要が生じてお
り、微小な圧力・変位を高精度に検出する方法が望まれ
ていた。
そこで、微小な圧力・変位を高精度に検出することの
可能なセンサーを目的としている。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は、上記問題点を解決するために、圧力微小変
位検出方法を、探針表面に形成された第1の電極と、該
第1の電極と相対向して設けられた第2の電極との間隙
を、予めトンネル電流の流れる領域に保持し、流体の圧
力の変化を、該電極間の間隙の変化に連動せしめ、トン
ネル電流の変化として流体の圧力微小変位を検出するも
のとし、センサーを鋭利な先端形状を有する探針と、該
探針表面に形成された第1の電極と、第1の電極と相対
向して設けられた第2の電極と、流体の圧力の微小変位
を第1の電極と第2の電極との間隔の変位に連動する圧
力感応部と、第1の電極と第2の電極との間隔を制御す
る間隙制御機構とからなる圧力微小変位検出機構を具備
する構成とした。
〔作用〕
本発明によれば、間隙制御機構により、探針もしくは
第2の電極を移動せしめ、第1の電極と第2の電極との
間に微小電圧を印加してトンネル電流の流れる電極間間
隙に維持し、圧力感応部により、流体の圧力変化を、第
2の電極もしくは探針に連動させ、電極間間隙を変化さ
せ、トンネル電流を変化させるものである。
間隙制御機構は、電極間間隙を微調整するものであ
り、特に、PZT,BaTiO3,LiNbO3等の圧電体が適当であ
る。
この圧電体は、電圧の印加方向に対し、垂直、水平、
又は斜め方向に伸縮する特性があり、かつ印加電圧値と
伸縮量との相関があり、探針もしくは第2の電極を移動
量を制御でき、電極間間隙の微調整が達成される。
圧力感応部は、表裏の圧力差により形状が変形するも
のであり、流体の圧力変化に伴い圧力感応部の裏面に形
成された探針もしくは第2の電極を移動するものであ
る。
この圧力感応部は薄い金属板、薄いシリコン板等のダ
イヤフラムが用いられる。更に、探針と第2の電極は相
対向して配置され、圧力感応部の裏面に一方が配置され
るものであり、又探針が金属材料で構成される場合に
は、探針よりトンネル電流を検出する電極を設けること
により、特に第1の電極を形成する必要はない。
このように、本発明によればトンネル電流は鋭利な先
端形状を有する探針表面に形成された第1の電極と第2
の電極との間隙を1nm程度にすることにより流れ、かつ
電極間間隙の変化に対して指数関数的に変化することか
ら、流体の圧力変位を電極間間隙の変化に連動すること
により、流体の微小圧力変位をトンネル電流変化として
とらえ、高精度に検出することができる。
〔実施例〕
以下に、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
(第1実施例) 第1図、第2図、第3図において、本発明のセンサー
の製造方法を説明する。探針1の製作は、シリコン基板
4a上にピラミッド構造の探針1を作る。探針1の製造方
法は酸化シリコン(SiO2)をマスクとして、異方性エッ
チングで形成する。エッチング液としては、水酸化カリ
ウム(KOH)を用い酸化シリコン(SiO2)を取り除きピ
ラミッド構造ができる。ピラミッド構造に導通を持たせ
るため第1の電極としての電極3cを被覆する。製造方法
としてはCVD等の膜付け装置で金・白金等をシリコン基
板4aの表面に付ける。
また、第2図に示すように圧力を受ける部分の応答性
を良好にするため円形上にエッチングで抜き4箇所ブリ
ッジを付けた圧力感応部としてのダイヤフラム5を作製
する。さらに応答性をよくするためダイヤフラム5をエ
ッチングし薄くする。
次に、シリコン基板4b上に圧電体の製作方法について
説明する。シリコン基板4bを、溝加工を行う。その溝部
分に、金・白金等の金属薄膜をスパッタ等により膜付け
を行い圧電体2の電極3bとする。電極は外部電源より電
圧をかけられるようにする。さらに圧電材料(PZT)を
膜付けし圧電体2を作製する。圧電体2上に金・白金等
の金属薄膜を膜付けし圧電体2の電極3aとし間隙制御機
構を作製する。厚みについては、探針と溝の深さをモニ
タリングしながら、圧電体の動作によりトンネル領域に
入るようにする。ここで、電極3aは、トンネル電流を検
出する一方の電極である第2の電極として使用される。
シリコン基板4a,4bを探針1と圧電体2が向き合うよう
にマイクロ接合しセンサーを作製する。
センシング動作について第3図により説明する。電極
3a,3bに電圧をかけると圧電効果により歪が生じ、電極
−圧電体2−電極が伸縮することにより、探針との間を
トンネル領域にする。図の上部より圧力が加わると電極
3a−圧電体2−電極3bと探針1の距離が変化し電流値に
変化を生じる。
探針1と圧電体2の指数関数的なトンネル電流値の変
化により、微小な変位を検出できるセンサーが可能とな
る。
(第2実施例) 第5図は本発明のセンサーの他の実施例を示す断面図
である。
探針1は、白金線を機械研磨した後、硫酸、硝酸、リ
ン酸の混合液にて電解研磨し、鋭利な先端形状を形成
し、金属板からなる支持板9上に接合される。
シリコン基板4bは、溝加工により凹部を形成され、凹
部底面に金・白金等をスパッタにより被覆して圧電体の
電極3bとし、さらに圧電材料(BaTiO3)を膜付けし圧電
体2をし形成し、圧電体2上に金・白金等をスパッタに
より被覆して電極3aを形成し、間隙制御機構とした。
次に、探針1を配した支持板9を、圧電体2上の電極
3aに接着した。ここでは、トンネル電流の検出するため
の一方の電極である第1の電極は、探針1及び支持体9
が導体で形成されていることから形成しなかった。
シリコン基板4aは、中央部をエッチングにより薄板化
し、圧力感応部としてのダイヤフラム5を形成し、ダイ
ヤフラム5の裏面に金・白金等をスパッタにより被覆
し、第2の電極としての電極8を形成した。これらのシ
リコン基板4a,4bをマイクロ接合してセンサーを作製し
た。
ここで、センシング動作について説明する。まず、圧
電体2に対して電極3a,3b間に電圧を印加し、探針1を
移動させることにより、探針1と電極8との間隙をトン
ネル電流の流れる領域に保持する。この時、電極8と探
針1との間に微小電圧を印加し、トンネル電流を検知し
ている。
次にダイヤフラム5の表面に接する流体の圧力が変化
すると、ダイヤフラム5が変位し、電極8と探針1との
間隙が変化し、トンネル電流に変化を生じさせる。この
トンネル電流は、間隙の変化に対して指数関数的な変化
を起こすことから、微小な変位を検出できるセンサーが
可能となる。
〔発明の効果〕
以上のように本発明によれば、圧電体の動作により探
針と圧電体間をトンネル領域に入れるという簡単な構造
で、外部要因によりトンネル電流値が変化し微小な変位
を検出できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のセンサーの一実施例を示す断面図、第
2図は本発明のセンサーの一実施例を示す平面図、第3
図は本発明の探針・圧電体の関係を示す断面図、第4図
は従来の圧力センサーの基本構造を示す断面図、第5図
は本発明のセンサーの他の実施例を示す断面図である。 1……探針 2……圧電体 3a……電極(圧電体) 3b……電極(圧電体) 3c……電極(探針) 4a……シリコン基板(上側) 4b……シリコン基板(下側) 5……ダイヤフラム 6……歪ゲージ 7……固定台
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.6,DB名) G01D 5/14 G01L 9/04 101 H01L 29/84

Claims (6)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ダイヤフラムと、 前記ダイヤフラム上にあり、第1の電極となる鋭利な先
    端形状を有する探針と、 該第1の電極と相対向して設けられた第2の電極と、 圧力変化を該第1の電極と該第2の電極との間隔の変化
    に連動する圧力感応部と、 該第1の電極と該第2の電極との間隔を制御する間隔制
    御機構を有することを特徴とする圧力センサー。
  2. 【請求項2】該間隔制御機構が圧電体であることを特徴
    とする請求項1記載の圧力センサー。
  3. 【請求項3】ダイヤフラムと、 前記ダイヤフラム上にあり、第1の電極となる鋭利な先
    端形状を有する探針と、 該第1の電極と相対向して設けられた第2の電極と、 加速度を該探針と該第2の電極との間隔の変化に連動す
    る感応部と、、 該第1の電極と該第2の電極との間隔を制御する間隔制
    御機構を有することを特徴とする加速度センサー。
  4. 【請求項4】該間隔制御機構が圧電体であることを特徴
    とする請求項3記載の加速度センサー。
  5. 【請求項5】ダイヤフラムと、 前記ダイヤフラム上にあり、第1の電極となる鋭利な先
    端形状を有する探針と、 該第1の電極と相対向して設けられた第2の電極と、 変位を該探針と該第2の電極との間隔の変化に連動する
    感応部と、、 該第1の電極と該第2の電極との間隔を制御する間隔制
    御機構を有することを特徴とする変位センサー。
  6. 【請求項6】該間隔制御機構が圧電体であることを特徴
    とする請求項5記載の変位センサー。
JP1075566A 1989-03-28 1989-03-28 圧力センサー Expired - Fee Related JP2767057B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1075566A JP2767057B2 (ja) 1989-03-28 1989-03-28 圧力センサー

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1075566A JP2767057B2 (ja) 1989-03-28 1989-03-28 圧力センサー

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH02253117A JPH02253117A (ja) 1990-10-11
JP2767057B2 true JP2767057B2 (ja) 1998-06-18

Family

ID=13579860

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1075566A Expired - Fee Related JP2767057B2 (ja) 1989-03-28 1989-03-28 圧力センサー

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2767057B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0579940A (ja) * 1991-09-24 1993-03-30 Sharp Corp 真空包装体の真空度測定方法
JPH0651906U (ja) * 1992-11-27 1994-07-15 日本タイラン株式会社 歪みゲージを利用したマスフローコントローラ
CN104714672B (zh) * 2013-12-11 2019-04-09 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 压敏型显示屏触控单元、触摸屏及其制造方法
CN107997768A (zh) * 2018-01-02 2018-05-08 北京津发科技股份有限公司 一种穿戴式呼吸测量装置和呼吸测量方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0817243B2 (ja) * 1988-04-25 1996-02-21 横河電機株式会社 半導体圧力センサ
JPH01165433U (ja) * 1988-05-13 1989-11-20

Also Published As

Publication number Publication date
JPH02253117A (ja) 1990-10-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4765865A (en) Silicon etch rate enhancement
US4783237A (en) Solid state transducer and method of making same
JP3114570B2 (ja) 静電容量型圧力センサ
EP0338688B1 (en) Accelerometer
JP2517467B2 (ja) 静電容量式圧力センサ
KR100230891B1 (ko) 정전용량형 센서 및 그 제조방법
JPH06503423A (ja) 力を検出しまたは力を印加するマイクロ素子とその製造法
US4812199A (en) Rectilinearly deflectable element fabricated from a single wafer
JPH09113534A (ja) 加速度センサー
US5335544A (en) Apparatus for measuring mechanical forces and force actions
JPS62282270A (ja) 流れ感知装置
US4872945A (en) Post seal etching of transducer diaphragm
US20040025589A1 (en) Micromechanical component
WO2005054804A1 (en) Capacitive pressure sensor with a cantilever member
US6860154B2 (en) Pressure sensor and manufacturing method thereof
JP2767057B2 (ja) 圧力センサー
US20080028856A1 (en) Capacitive accelerating sensor bonding silicon substrate and glass substrate
JP3536817B2 (ja) 半導体力学量センサ及びその製造方法
JPH0554709B2 (ja)
JP2008076106A (ja) サーボ式圧力センサ
EP0400981B1 (en) A null flow sensor
JPH0554708B2 (ja)
JPH04178533A (ja) 半導体圧力センサ
JP3313793B2 (ja) シリコン構造体とガラス構造体の接合法及びそれを用いた力学量センサ
JPH06323939A (ja) 静電容量式センサ

Legal Events

Date Code Title Description
S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees