JP2765367B2 - Mask pattern design method - Google Patents

Mask pattern design method

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JP2765367B2 JP4143843A JP14384392A JP2765367B2 JP 2765367 B2 JP2765367 B2 JP 2765367B2 JP 4143843 A JP4143843 A JP 4143843A JP 14384392 A JP14384392 A JP 14384392A JP 2765367 B2 JP2765367 B2 JP 2765367B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はマスクパターン設計方法
に関し、特に半導体回路における回路素子の配置や配線
のためのマスクパターン設計方法に関する。
The present invention relates to a method of designing a mask pattern, and more particularly to a method of designing a mask pattern for arranging and wiring circuit elements in a semiconductor circuit.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来のマスクパターン設計方法は、図3
に示すように、まず、回路素子ブロック11〜15の配
置を行ない、次に、各回路素子ブロック11〜15の配
置位置を相対的に保持しながら回路素子ブロック11〜
15間の配線21〜25,31等を行なうというもので
あった。ここで、第1配線層の配線を実線で、第2配線
層の配線を点線で、スルーホールを白丸でそれぞれ示し
ている。
2. Description of the Related Art A conventional mask pattern designing method is shown in FIG.
As shown in FIG. 1, first, the circuit element blocks 11 to 15 are arranged, and then the circuit element blocks 11 to 15 are held while the arrangement positions of the circuit element blocks 11 to 15 are relatively held.
The wirings 21 to 25, 31 and the like between 15 are performed. Here, the wiring of the first wiring layer is indicated by a solid line, the wiring of the second wiring layer is indicated by a dotted line, and the through holes are indicated by white circles.

【0003】図2はこの種のマスクパターン設計の対象
の一例としてマルチプレクサ回路の回路図を示す。図2
に示すように、同一の論理回路であるスイッチM1〜M
4はそれぞれ図3における回路素子ブロック11〜14
に、インバータIN1は回路素子ブロック15にそれぞ
れ対応する。また、出力インバータIN1に入力する節
点N1に関し、スイッチM1〜M4で構成される同一の
論理回路の出力が並列接続されているという規則的な構
成となっている。
FIG. 2 shows a circuit diagram of a multiplexer circuit as an example of this type of mask pattern design. FIG.
As shown in the figure, switches M1 to M
4 are circuit element blocks 11 to 14 in FIG.
The inverter IN1 corresponds to the circuit element block 15, respectively. In addition, the node N1 input to the output inverter IN1 has a regular configuration in which outputs of the same logic circuit including the switches M1 to M4 are connected in parallel.

【0004】このような規則的な構成の回路の場合に
は、規則性が生じる主因となっている節点N1を中心と
してマスクパターン設計を行なう方が全体としてコンパ
クトにまたまり、かつ回路特性が向上すると考えられ
る。
In the case of a circuit having such a regular configuration, designing a mask pattern centering on the node N1, which is a main cause of regularity, is more compact overall and improves circuit characteristics. It is thought that.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来のマスク
パターン設計方法は、まず、回路素子ブロックの配置を
行ない、次に上記回路素子相互間の配線を行なっていた
ので、規則性のある回路構成の場合でも、規則性の主因
となる節点等を中心とした最適のマスクパターン設計と
はならず、回路面積が増大するとともに回路特性が劣化
するという欠点があった。
In the above-described conventional mask pattern designing method, first, circuit element blocks are arranged, and then wiring between the circuit elements is performed. Even in the case of (1), an optimal mask pattern cannot be designed around a node or the like which is a main cause of regularity, and there is a disadvantage that a circuit area increases and circuit characteristics deteriorate.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明のマスクパターン
設計方法は、複数の回路素子ブロックとこの回路素子ブ
ロック相互間を接続する複数の配線から成り予め定めた
節点に関して規則的な回路構成を有する第二の回路を含
む第一の回路のマスクパターン設計方法において、前記
第二の回路の規則性の決定要因である前記節点を抽出
し、前記節点の配線経路を決定し、前記配線経路に適合
するように前記回路素子ブロックを配置することを特徴
とするものである。
A mask pattern designing method according to the present invention comprises a plurality of circuit element blocks and a plurality of wirings connecting the circuit element blocks, and has a regular circuit configuration with respect to predetermined nodes. In the mask pattern designing method for the first circuit including the second circuit, the node which is a determining factor of the regularity of the second circuit is extracted, a wiring path of the node is determined, and the wiring path is adapted. The circuit element blocks are arranged so that

【0007】[0007]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0008】図1は本発明のマスクパターン設計方法の
一実施例を示すマスクパターン図である。
FIG. 1 is a mask pattern diagram showing an embodiment of a mask pattern designing method according to the present invention.

【0009】本実施例のマスクパターン図は、従来例と
同様の図2の回路のマスクパターンを実現した例であ
り、図1に示すように、回路素子ブロック11〜15
と、電源VCおよび接地Gの配線24,25と、節点N
1を構成する配線41とを含んでいる。また、第1配線
層の配線を実線で、第2配線層の配線を点線で、スルー
ホールを白丸でそれぞれ示している。
The mask pattern diagram of this embodiment is an example in which the same mask pattern of the circuit of FIG. 2 as that of the conventional example is realized. As shown in FIG.
And wirings 24 and 25 for power supply VC and ground G, and node N
1 as a wiring 41. The wiring of the first wiring layer is indicated by a solid line, the wiring of the second wiring layer is indicated by a dotted line, and the through holes are indicated by white circles.

【0010】次に、本実施例の動作について説明する。Next, the operation of this embodiment will be described.

【0011】図2は従来例と同様のマルチプレクサ回路
の回路図であり、スイッチM1〜M4はそれぞれ図1に
おける回路素子ブロック11〜14に、インバータIN
1は回路素子ブロック15にそれぞれ対応する。また、
出力インバータIN1に入力する節点N1に関し、スイ
ッチM1〜M4で構成される同一の論理回路の出力が並
列接続されているという規則的な構成となっている。
FIG. 2 is a circuit diagram of a multiplexer circuit similar to the conventional example. Switches M1 to M4 are connected to circuit element blocks 11 to 14 in FIG.
1 corresponds to each of the circuit element blocks 15. Also,
The node N1 input to the output inverter IN1 has a regular configuration in which outputs of the same logic circuit including the switches M1 to M4 are connected in parallel.

【0012】まず、図2のマルチプレクサ回路におい
て、各スイッチM1〜M4の出力をワイヤードロジック
する節点N1に注目する。この節点N1を構成する配線
41の配線経路を、図1に示すように、マスクパターン
の横方向に決定する。
First, in the multiplexer circuit shown in FIG. 2, attention is paid to a node N1 at which outputs of the switches M1 to M4 are wired-logic. The wiring path of the wiring 41 forming the node N1 is determined in the lateral direction of the mask pattern as shown in FIG.

【0013】この節点N1、すなわち配線41に接続す
る4つのスイッチM1〜M4の出力側の配線51〜54
と、インバータIN1の入力側の配線55とをできるだ
け折曲げがなく直線となるように配置する。
The wirings 51-54 on the output side of the four switches M1-M4 connected to the node N1, ie, the wiring 41
And the wiring 55 on the input side of the inverter IN1 are arranged so as to be as straight as possible without bending.

【0014】スイッチM1〜M4およびインバータIN
1の各回路素子ブロック11〜15の内部は、拡散層と
ポリシリコン層と第1配線層で完結している。したがっ
て、節点N1の配線41の一部に第2配線層を用いれ
ば、回路素子ブロック11〜15の配置部分を通過させ
ることができ、配線41に接続する配線51〜55の配
線経路を殆ど折曲ることなく配置することができる。
Switches M1 to M4 and inverter IN
The inside of each of the circuit element blocks 11 to 15 is completed by a diffusion layer, a polysilicon layer, and a first wiring layer. Therefore, if the second wiring layer is used as a part of the wiring 41 at the node N1, the wiring portions of the circuit elements blocks 11 to 15 can be passed, and the wiring paths of the wirings 51 to 55 connected to the wiring 41 are almost broken. Can be arranged without bending.

【0015】最後にスイッチM11〜M14の入力線I
1〜I4の配線61〜64とイネーブル線E1A,B〜
E4A,Bの配線71〜74を配線41,51〜55に
直交して配置し、電源VCの配線24と接地Gの配線2
5を配線41,51〜55に平行に配置して完成する。
Finally, the input lines I of the switches M11 to M14
1 to I4 wirings 61 to 64 and enable lines E1A, B1 to
The wirings 71 to 74 of E4A and B are arranged orthogonally to the wirings 41 and 51 to 55, and the wiring 24 of the power supply VC and the wiring 2 of the ground G are arranged.
5 is arranged in parallel with the wirings 41, 51 to 55 to complete the process.

【0016】一例として、本実施例の方法によるマスク
パターンは、従来例に比し回路面積が約4%、節点N1
を構成する配線長が約30%それぞれ低減できる。
As an example, the mask pattern according to the method of this embodiment has a circuit area of about 4% and a node N1 as compared with the conventional example.
Can be reduced by about 30%.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のマスクパ
ターン設計方法は、回路の規則性の要因となる節点の配
線経路を決定してから回路素子ブロックの配置を行なう
ことにより、設計対象回路全体のマスクパターンをコン
パクトに設計できるとともに回路特性を向上することが
できるという効果がある。
As described above, in the mask pattern designing method of the present invention, the circuit element block is arranged after determining the wiring route of the node which causes the regularity of the circuit. There is an effect that the entire mask pattern can be designed compactly and the circuit characteristics can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明のマスクパターン設計方法の一実施例を
示すマスクパターン図である。
FIG. 1 is a mask pattern diagram showing an embodiment of a mask pattern designing method according to the present invention.

【図2】本実施例および従来のマスクパターン設計方法
の対象回路の一例を示すマルチプレクサ回路の回路図で
ある。
FIG. 2 is a circuit diagram of a multiplexer circuit showing an example of a target circuit of the present embodiment and a conventional mask pattern designing method.

【図3】来のマスクパターン設計方法の一例を示すマス
クパターン図である。
FIG. 3 is a mask pattern diagram showing an example of a conventional mask pattern designing method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11〜15 回路素子ブロック 21〜25,31,41,51〜55,61〜64,7
1〜74 配線 M1〜M4 スイッチ IN1 インバータ
11 to 15 circuit element blocks 21 to 25, 31, 41, 51 to 55, 61 to 64, 7
1-74 Wiring M1-M4 Switch IN1 Inverter

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 複数の回路素子ブロックとこの回路素子
ブロック相互間を接続する複数の配線から成り予め定め
た節点に関して規則的な回路構成を有する第二の回路を
含む第一の回路のマスクパターン設計方法において、 前記第二の回路の規則性の決定要因である前記節点を抽
出し、 前記節点の配線経路を決定し、 前記配線経路に適合するように前記回路素子ブロックを
配置することを特徴とするマスクパターン設計方法。
1. A mask pattern of a first circuit including a second circuit having a plurality of circuit element blocks and a plurality of wirings interconnecting the circuit element blocks and having a regular circuit configuration with respect to predetermined nodes. In the design method, the node which is a determinant of the regularity of the second circuit is extracted, a wiring path of the node is determined, and the circuit element block is arranged so as to conform to the wiring path. Mask pattern design method.
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