JP2739816B2 - 重なり像判定装置 - Google Patents
重なり像判定装置Info
- Publication number
- JP2739816B2 JP2739816B2 JP5329352A JP32935293A JP2739816B2 JP 2739816 B2 JP2739816 B2 JP 2739816B2 JP 5329352 A JP5329352 A JP 5329352A JP 32935293 A JP32935293 A JP 32935293A JP 2739816 B2 JP2739816 B2 JP 2739816B2
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- Japan
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- Image Processing (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、欠陥検査等でよく使用
される２値画像間の重なりを判定する重なり像判定装置
に関する。
される２値画像間の重なりを判定する重なり像判定装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】画像による物品の欠陥検査等において、
良品の画像との比較を行ないその相違を２値画像（良品
と一致した部分の画素の画素値は０、相違した部分の画
素の画素値は１というように、０および１の２値により
表示された画像）に表現し、この２値画像の複数個の有
意の画素値（この場合には良品との相違を問題としてい
るのでその画素の画素値である１）の重複を調べること
により欠陥の原因を追求することがよく行なわれてい
る。この手法は、単に良品との相違だけではなく、製品
相互間の比較により行なわれる場合もある。
良品の画像との比較を行ないその相違を２値画像（良品
と一致した部分の画素の画素値は０、相違した部分の画
素の画素値は１というように、０および１の２値により
表示された画像）に表現し、この２値画像の複数個の有
意の画素値（この場合には良品との相違を問題としてい
るのでその画素の画素値である１）の重複を調べること
により欠陥の原因を追求することがよく行なわれてい
る。この手法は、単に良品との相違だけではなく、製品
相互間の比較により行なわれる場合もある。
【０００３】この２値画像の重複の調査に重なり像判定
装置が使用される。
装置が使用される。
【０００４】従来の重なり像判定装置としては、例えば
特開昭５６−１４７６７号公報の画像読み取り装置の多
数決回路がある。
特開昭５６−１４７６７号公報の画像読み取り装置の多
数決回路がある。
【０００５】上述の画像読み取り装置の多数決回路は、
３個のアンド回路と１個のオア回路より構成される。
３個のアンド回路と１個のオア回路より構成される。
【０００６】次に従来の重なり像判定装置ついて図面を
参照して説明する。
参照して説明する。
【０００７】図５は従来の重なり像判定装置の一例を示
す構成図である。図５の重なり像判定装置は対象データ
２１、２２、および２３に対して、データ２１と２２と
の論理積を計算するアンド回路２４と、データ２２と２
３との論理積を計算するアンド回路２５と、データ２３
と２１との論理積を計算するアンド回路２６と、アンド
回路２４、２５および２６の論理和を計算するオア回路
２７とから構成されている。
す構成図である。図５の重なり像判定装置は対象データ
２１、２２、および２３に対して、データ２１と２２と
の論理積を計算するアンド回路２４と、データ２２と２
３との論理積を計算するアンド回路２５と、データ２３
と２１との論理積を計算するアンド回路２６と、アンド
回路２４、２５および２６の論理和を計算するオア回路
２７とから構成されている。
【０００８】それぞれのアンド回路２４、２５および２
６でデータ２１、２２および２３の中の任意の２つのデ
ータの組み合わせすべてに対する重なりを求め、オア回
路２７でデータ２１、２２および２３の中の２個以上の
データが真のときにオア回路２７より真が出力され、３
個のデータの２個以上の重なりを検出している。
６でデータ２１、２２および２３の中の任意の２つのデ
ータの組み合わせすべてに対する重なりを求め、オア回
路２７でデータ２１、２２および２３の中の２個以上の
データが真のときにオア回路２７より真が出力され、３
個のデータの２個以上の重なりを検出している。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】欠陥検査等の２値画像
は、同一の比較を行なっても比較条件の微妙な違い、あ
るいはサンプリング時の時系列的違いにより微妙な差が
生じうる。これを単純に論理積により重なりを求める
と、この微妙な差の部分が無視されてしまう。
は、同一の比較を行なっても比較条件の微妙な違い、あ
るいはサンプリング時の時系列的違いにより微妙な差が
生じうる。これを単純に論理積により重なりを求める
と、この微妙な差の部分が無視されてしまう。
【００１０】上述の従来の重なり像判定装置は、論理積
により有意のデータ（有意の画素値）個々に対する重な
りを判定することができるが、上述の微妙な差の部分が
無視されてしまうという問題点がある。
により有意のデータ（有意の画素値）個々に対する重な
りを判定することができるが、上述の微妙な差の部分が
無視されてしまうという問題点がある。
【００１１】本発明の目的は、一部が重なっている有意
のデータ群間の連続性を判定することにより、単に重な
り部分だけではなく、それに連結している有意の画素を
も含めて重なり領域として見い出し、欠陥検査等におけ
る原因究明作業の大幅な効率向上ができる重なり像判定
装置を提供することにある。
のデータ群間の連続性を判定することにより、単に重な
り部分だけではなく、それに連結している有意の画素を
も含めて重なり領域として見い出し、欠陥検査等におけ
る原因究明作業の大幅な効率向上ができる重なり像判定
装置を提供することにある。
【００１２】
【課題を解決するための手段】第１の発明の重なり像判
定装置は、有意の画素の画素値を１としその他の画素の
画素値を０とする複数の２値画像の対応する画素の画素
値をそれぞれ加算して加算像を作成する加算手段と、前
記加算像内にあり隣接連続している複数の有意の画素か
ら構成されている独立した領域のそれぞれに対して異な
るラベルを付与するラベル付与手段と、前記ラベルを付
与された領域に属する画素の画素値の最大値を前記領域
毎に求める最大値判定手段と、前記最大値が２以上であ
る領域を重なり領域と判定する重なり領域判定手段とを
含んで構成されている。
定装置は、有意の画素の画素値を１としその他の画素の
画素値を０とする複数の２値画像の対応する画素の画素
値をそれぞれ加算して加算像を作成する加算手段と、前
記加算像内にあり隣接連続している複数の有意の画素か
ら構成されている独立した領域のそれぞれに対して異な
るラベルを付与するラベル付与手段と、前記ラベルを付
与された領域に属する画素の画素値の最大値を前記領域
毎に求める最大値判定手段と、前記最大値が２以上であ
る領域を重なり領域と判定する重なり領域判定手段とを
含んで構成されている。
【００１３】第２の発明の重なり像判定装置は、第１の
発明の重なり像判定装置において、ラベル付与手段は上
下左右の４方向の隣接関係を調べてラベルを付与するこ
とを特徴としている。
発明の重なり像判定装置において、ラベル付与手段は上
下左右の４方向の隣接関係を調べてラベルを付与するこ
とを特徴としている。
【００１４】第３の発明の重なり像判定装置は、第１の
発明の重なり像判定装置において、ラベル付与手段は上
下左右に加えて対角線方向の計８方向のの隣接関係を調
べてラベルを付与することを特徴としている。
発明の重なり像判定装置において、ラベル付与手段は上
下左右に加えて対角線方向の計８方向のの隣接関係を調
べてラベルを付与することを特徴としている。
【００１５】
【実施例】次に本発明の重なり像判定装置の実施例につ
いて図面を参照して説明する。
いて図面を参照して説明する。
【００１６】図１は本発明の重なり像判定装置の一実施
例を示すブロック図である。
例を示すブロック図である。
【００１７】本実施例の重なり像判定装置は図１に示す
ように、欠陥検査結果画像等の１対の２値画像ＡとＢと
の対応する画素の画素値をそれぞれ加算して加算像２を
作成する加算器１と、加算像２内の独立した連続性を持
つ画素群のそれぞれの画素に異なるラベル（他と識別す
る記号、番号等）をつけるラベル付け器３と、同一ラベ
ルを有する画素群毎に画素値の最大値を求める最大値判
定器４と、最大値が２以上である画素の属する画素群を
重なり領域と判定する重なり領域判定器５とを含んで構
成されている。
ように、欠陥検査結果画像等の１対の２値画像ＡとＢと
の対応する画素の画素値をそれぞれ加算して加算像２を
作成する加算器１と、加算像２内の独立した連続性を持
つ画素群のそれぞれの画素に異なるラベル（他と識別す
る記号、番号等）をつけるラベル付け器３と、同一ラベ
ルを有する画素群毎に画素値の最大値を求める最大値判
定器４と、最大値が２以上である画素の属する画素群を
重なり領域と判定する重なり領域判定器５とを含んで構
成されている。
【００１８】次に本実施例の動作を例示２値画像Ａおよ
びＢを使用して説明する。図２（ａ）に２値画像Ａの一
例を、図２（ｂ）に２値画像Ｂの一例を示す。ここで重
なりを調べようとする画素（前述の欠陥検査の例では、
良品と相違した画素をいう、以後これを有意の画素とい
う）に対しては、画素値１（以後これを有意の画素値と
いう）を与えてある。以後の図では有意の画素以外の画
素の画素値の表示は省略してある。
びＢを使用して説明する。図２（ａ）に２値画像Ａの一
例を、図２（ｂ）に２値画像Ｂの一例を示す。ここで重
なりを調べようとする画素（前述の欠陥検査の例では、
良品と相違した画素をいう、以後これを有意の画素とい
う）に対しては、画素値１（以後これを有意の画素値と
いう）を与えてある。以後の図では有意の画素以外の画
素の画素値の表示は省略してある。
【００１９】先ず、加算器１により２値画像Ａと２値画
像Ｂとの対応する画素の画素値をそれぞれ加算し加算像
２を作成する。画像Ａと画像Ｂとにおいて、対応する画
素の画素値が共に有意の画素値である１のときには、加
算動作により加算像２の対応する画素の画素値は２とな
り、それらの有意の画素は互いに重なっていることを示
している。一方のみ有意の画素の場合には加算結果の画
素値は１、共に有意でない画素の場合には加算結果の画
素値は０となる。図２（ａ）の２値画像Ａと図２（ｂ）
の２値画像Ｂとの加算器１による加算結果の加算像の画
素値分布は図３のようになる。
像Ｂとの対応する画素の画素値をそれぞれ加算し加算像
２を作成する。画像Ａと画像Ｂとにおいて、対応する画
素の画素値が共に有意の画素値である１のときには、加
算動作により加算像２の対応する画素の画素値は２とな
り、それらの有意の画素は互いに重なっていることを示
している。一方のみ有意の画素の場合には加算結果の画
素値は１、共に有意でない画素の場合には加算結果の画
素値は０となる。図２（ａ）の２値画像Ａと図２（ｂ）
の２値画像Ｂとの加算器１による加算結果の加算像の画
素値分布は図３のようになる。
【００２０】次に、加算像２の中にあって隣接連続して
いる複数の有意の画素により構成されている独立した領
域のそれぞれに対しラベル付け器３により異なるラベル
を付けていく。図３の加算像２に対してラベル付げ器３
により左上から右下にラベル付けしたときの結果を図４
に示す。
いる複数の有意の画素により構成されている独立した領
域のそれぞれに対しラベル付け器３により異なるラベル
を付けていく。図３の加算像２に対してラベル付げ器３
により左上から右下にラベル付けしたときの結果を図４
に示す。
【００２１】ラベル付けは、加算像２の上下左右方向の
４隣接またはこれに対角線方向を加えた８隣接等による
隣接関係を調べて行なわれる公知の領域のラベル付け法
により行なう（尾崎、谷口、小川、「画像処理」、１８
９〜１９１頁、共立出版、昭和５８年）。
４隣接またはこれに対角線方向を加えた８隣接等による
隣接関係を調べて行なわれる公知の領域のラベル付け法
により行なう（尾崎、谷口、小川、「画像処理」、１８
９〜１９１頁、共立出版、昭和５８年）。
【００２２】次に、加算像２のそれぞれの領域内にある
画素の画素値の最大値を最大値判定器４により判定す
る。その結果として、図４と図５とからラベル４の領域
に対しては最大値２、その他のラベル１、２、３および
５の領域に対しては最大値１と判定される。
画素の画素値の最大値を最大値判定器４により判定す
る。その結果として、図４と図５とからラベル４の領域
に対しては最大値２、その他のラベル１、２、３および
５の領域に対しては最大値１と判定される。
【００２３】そこで次に、最大値が２以上の画素値を有
する画素の属する領域を重なり領域判定器５により選別
され重なり領域と判定される。この場合には画素値２を
有する画素の属するラベル４の領域が重なり領域判定器
５により選別され重なり領域と判定される。
する画素の属する領域を重なり領域判定器５により選別
され重なり領域と判定される。この場合には画素値２を
有する画素の属するラベル４の領域が重なり領域判定器
５により選別され重なり領域と判定される。
【００２４】このように、本実施例では、単に重なり部
分だけではなく、それに連結している有意の画素をも含
めて重なり領域として見い出すことができ、欠陥検査等
における原因究明作業の大幅な効率向上ができる。
分だけではなく、それに連結している有意の画素をも含
めて重なり領域として見い出すことができ、欠陥検査等
における原因究明作業の大幅な効率向上ができる。
【００２５】本実施例では２つの２値画像についての重
なりを記述したが、本発明はこれに限るものではなく、
複数の２値画像についての重なりについて適用できるこ
とは自明である。その場合には、最大値は２以上となる
場合がでてくる。
なりを記述したが、本発明はこれに限るものではなく、
複数の２値画像についての重なりについて適用できるこ
とは自明である。その場合には、最大値は２以上となる
場合がでてくる。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、２値画像
間の加算を行いまとまった画像とし、画像内のラベル付
けにより有意の画素の連続を求め、単に重なり部分だけ
ではなく、それに連結している有意の画素をも含めて重
なり領域として見い出すことができ、欠陥検査等におけ
る原因究明作業の大幅な効率向上ができるという効果を
有する。
間の加算を行いまとまった画像とし、画像内のラベル付
けにより有意の画素の連続を求め、単に重なり部分だけ
ではなく、それに連結している有意の画素をも含めて重
なり領域として見い出すことができ、欠陥検査等におけ
る原因究明作業の大幅な効率向上ができるという効果を
有する。
【図１】本発明の重なり像判定装置の一実施例を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
【図２】（ａ）は２値画像Ａの、（ｂ）は２値画像Ｂの
それぞれの一例を示す画像図である。
それぞれの一例を示す画像図である。
【図３】２値画像ＡおよびＢの加算像２を示す画像図で
ある。
ある。
【図４】ラベル付けされた加算像２を示す画像図であ
る。
る。
【図５】従来の重なり像判定装置の例を示す回路図であ
る。
る。
１ 加算器 ２ 加算像 ３ ラベル付け器 ４ 最大値判定器 ５ 重なり領域判定器 ２１、２２、２３ データ ２４、２５、２６ アンド回路 ２７ オア回路
Claims (3)
- 【請求項１】 有意の画素の画素値を１としその他の画
素の画素値を０とする複数の２値画像の対応する画素の
画素値をそれぞれ加算して加算像を作成する加算手段
と、前記加算像内にあり隣接連続している複数の有意の
画素から構成されている独立した領域のそれぞれに対し
て異なるラベルを付与するラベル付与手段と、前記ラベ
ルを付与された領域に属する画素の画素値の最大値を前
記領域毎に求める最大値判定手段と、前記最大値が２以
上である領域を重なり領域と判定する重なり領域判定手
段とを含むことを特徴とする重なり像判定装置。 - 【請求項２】 ラベル付与手段は上下左右の４方向の隣
接関係を調べてラベルを付与することを特徴とする請求
項１記載の重なり像判定装置。 - 【請求項３】 ラベル付与手段は上下左右に加えて対角
線方向の計８方向のの隣接関係を調べてラベルを付与す
ることを特徴とする請求項１記載の重なり像判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5329352A JP2739816B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 重なり像判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5329352A JP2739816B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 重なり像判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07191938A JPH07191938A (ja) | 1995-07-28 |
| JP2739816B2 true JP2739816B2 (ja) | 1998-04-15 |
Family
ID=18220502
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5329352A Expired - Lifetime JP2739816B2 (ja) | 1993-12-27 | 1993-12-27 | 重なり像判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2739816B2 (ja) |
-
1993
- 1993-12-27 JP JP5329352A patent/JP2739816B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07191938A (ja) | 1995-07-28 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19971224 |