JP2737771B2 - ATM connection test system and receiving unit of ATM connection test system - Google Patents

ATM connection test system and receiving unit of ATM connection test system

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JP2737771B2
JP2737771B2 JP7244404A JP24440495A JP2737771B2 JP 2737771 B2 JP2737771 B2 JP 2737771B2 JP 7244404 A JP7244404 A JP 7244404A JP 24440495 A JP24440495 A JP 24440495A JP 2737771 B2 JP2737771 B2 JP 2737771B2
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Japan
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detection
sequence number
circuit
cell
cells
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孝史 斉藤
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Nippon Electric Co Ltd
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、送信部及び受信部
間にコネクションとして設定されたバーチャルパス(V
P)もしくはバーチャルチャネル(VC)を用いて通信
を行うATM (asynchronous tranfer mode)システムに
おけるOAM (operation administrationmonitoring)
機能に関し、特に、コネクションとして設定されたVP
もしくはVCを試験するためのATMコネクション試験
方式に関する。
The present invention relates to a virtual path (V) set as a connection between a transmission unit and a reception unit.
OAM (operation administration monitoring) in an ATM (asynchronous transfer mode) system that communicates using P) or a virtual channel (VC)
Regarding functions, especially VPs set as connections
Or, it relates to an ATM connection test method for testing a VC.

【0002】[0002]

【従来の技術】特開平5−244196号公報には誤配
セル、損失セルの検出を可能にしたVP試験方式が開示
されている。また特開平5−183573号公報にはセ
ルの損失や誤配が頻繁におきても、VPやVCの導通試
験、特性試験、伝送路の故障箇所切分け試験を有効に行
える試験方式が開示されている。
2. Description of the Related Art Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 5-244196 discloses a VP test system which enables detection of mis-distributed cells and lost cells. Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 5-183573 discloses a test method capable of effectively performing a VP or VC continuity test, a characteristic test, and a test for isolating a failure point in a transmission line even if cell loss or mis-distribution frequently occurs. ing.

【0003】従来、この種の試験方式は、図3に示すよ
うに、送信部31及び受信部32を備え、送信部31及
び送信部32間で一連のATMセルを送受するATMシ
ステムにおいて、送信部31及び受信部32間に伝送路
(コネクション)33として形成されたVPやVCを試
験しその回線品質を測定するために使用される。
Conventionally, as shown in FIG. 3, this type of test system includes a transmitting unit 31 and a receiving unit 32, and an ATM system for transmitting and receiving a series of ATM cells between the transmitting unit 31 and the transmitting unit 32. It is used to test a VP or VC formed as a transmission path (connection) 33 between the unit 31 and the receiving unit 32 to measure the line quality.

【0004】このようなATMシステムでは、通常の通
信状態では、セルの形で与えられる入力信号INを送信
部31から受信部32に伝送路33を介して送信され
る。
In such an ATM system, in a normal communication state, an input signal IN provided in a cell form is transmitted from a transmission unit 31 to a reception unit 32 via a transmission line 33.

【0005】伝送路33としてのVPもしくはVCを試
験するために、送信部31は、PN(pseudo-noise)パタ
ーンを発生するPNパターン発生回路41と、シーケン
ス番号をカウントし出力するシーケンス番号カウンタ回
路42と、送信データにPNパターン及びシーケンス番
号を試験セルとして挿入する試験セル挿入回路43とを
有する。
In order to test VP or VC as the transmission path 33, the transmission unit 31 includes a PN pattern generation circuit 41 for generating a PN (pseudo-noise) pattern, and a sequence number counter circuit for counting and outputting a sequence number. And a test cell insertion circuit 43 for inserting a PN pattern and a sequence number into the transmission data as test cells.

【0006】受信部32は、受信信号から試験セルを検
出セルとして検出すると共に、この検出セルからPNパ
ターン及びシーケンス番号を、検出PNパターン及び検
出シーケンス番号として検出し、検出PNパターン及び
検出シーケンス番号をラッチし出力する検出回路44
と、検出セル毎に検出PNパターンの同期を取り、各検
出セルの検出PNパターンの同期が取れている時、同期
を示す制御信号を出力し、各検出セルの検出PNパター
ンの同期が取れていない時、非同期を表す制御信号を出
力する同期判定回路45と、検出シーケンス番号の連続
性をチェックしてその差分から損失セル数と誤配セル数
を出力するシーケンス番号比較回路46と、その損失セ
ル数をカウントする損失セル数カウンタ47及び誤配セ
ル数をカウントする誤配セル数カウンタ48を有してい
る。
The receiving section 32 detects a test cell from the received signal as a detection cell, and detects a PN pattern and a sequence number from the detection cell as a detection PN pattern and a detection sequence number. Circuit 44 that latches and outputs
And the detection PN pattern of each detection cell is synchronized. When the detection PN pattern of each detection cell is synchronized, a control signal indicating synchronization is output, and the detection PN pattern of each detection cell is synchronized. If not, a synchronization determination circuit 45 that outputs a control signal indicating asynchronous, a sequence number comparison circuit 46 that checks the continuity of the detected sequence numbers and outputs the number of lost cells and the number of mis-distributed cells from the difference, and It has a lost cell number counter 47 for counting the number of cells and an incorrectly distributed cell number counter 48 for counting the number of incorrectly distributed cells.

【0007】シーケンス番号比較回路46は、同期を示
す制御信号を受けた時(即ち、試験セルである時)にの
み、上述のように、検出シーケンス番号の連続性をチェ
ックしてその差分から損失セル数と誤配セル数を出力す
る動作を行い、試験セルでない時のシーケンス番号に相
当する領域を誤ってシーケンス番号と認識して誤動作す
るのを防止している。
The sequence number comparing circuit 46 checks the continuity of the detected sequence number only when the control signal indicating the synchronization is received (ie, when the cell is a test cell) as described above, and determines the loss from the difference. An operation of outputting the number of cells and the number of mis-distributed cells is performed, and an area corresponding to a sequence number when the cell is not a test cell is erroneously recognized as a sequence number to prevent malfunction.

【0008】図3に加えて図4も参照して、シーケンス
番号比較回路46は、検出セルの数をカウント値として
カウントし、検出セル到着ごとにカウント値が1ずつ増
加される内部参照カウンタを有しており、この内部参照
カウンタのカウント値と到着した試験セルのシーケンス
番号との比較を行う。シーケンス番号比較回路46は、
同期を示す制御信号を受けた場合の内部参照カウンタの
カウント値と試験セルシーケンス番号を比較し、前者が
小さい場合はその間に試験セルの損失が起こったものと
みなし、その差分を損失セル数カウンタ47に出力する
と共に内部参照カウンタのカウント値にその差分を加算
して内部参照カウンタのカウント値を試験セルシーケン
ス番号に一致させ、逆に前者が大きい場合はその間に試
験セルの誤配が起こったものとみなし、その差分を誤配
セル数カウンタ48に出力すると共に内部参照カウンタ
のカウント値からその差分を減算して内部参照カウンタ
のカウント値を試験セルシーケンス番号に一致させる。
Referring to FIG. 3 in addition to FIG. 3, sequence number comparing circuit 46 counts the number of detected cells as a count value, and has an internal reference counter that increases the count value by one each time a detected cell arrives. And compares the count value of the internal reference counter with the sequence number of the test cell that has arrived. The sequence number comparison circuit 46
When the control value indicating the synchronization is received, the count value of the internal reference counter is compared with the test cell sequence number.If the former is smaller, it is considered that test cell loss has occurred during that time, and the difference is regarded as the lost cell counter. 47, and the difference is added to the count value of the internal reference counter so that the count value of the internal reference counter matches the test cell sequence number. Conversely, if the former is large, an error in the distribution of test cells has occurred during that time. The difference is output to the mis-distributed cell number counter 48, and the difference is subtracted from the count value of the internal reference counter so that the count value of the internal reference counter matches the test cell sequence number.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】しかしながらこの方式
では、PN同期が取れた試験セルのシーケンス番号によ
って損失数/誤配数を決定するため、損失と誤配が連続
して起こった場合には両セル数がカウントされない難点
がある。言い換えれば、図4のような流れの試験セルが
到着したとき、結果として損失セル数と誤配セル数の各
カウンタが損失及び誤配の連続発生した場合だけそれぞ
れ少ない値となり、正確にはカウントされない。
However, in this system, the number of losses / the number of mis-distributions is determined by the sequence number of the test cell with which the PN synchronization has been established. There is a disadvantage that the number of cells is not counted. In other words, when a test cell having a flow as shown in FIG. 4 arrives, each of the counters of the number of lost cells and the number of mis-distributed cells has a small value only when loss and mis-distribution occur consecutively. Not done.

【0010】より正確なコネクションの回線品質を測定
しようとするには、損失と誤配が連続して発生する場合
も考慮する必要がある。
In order to more accurately measure the line quality of a connection, it is necessary to consider a case where a loss and an incorrect distribution occur continuously.

【0011】従って本発明の課題は、損失と誤配が連続
して発生した場合にも損失セル数及び誤配セル数が正確
にカウントされる、より正確なコネクションの試験が行
えるATMコネクション試験方式を提供することにあ
る。
Accordingly, an object of the present invention is to provide an ATM connection test system capable of accurately counting the number of lost cells and the number of mis-distributed cells even when a loss and a mis-distribution occur consecutively, thereby enabling a more accurate connection test. Is to provide.

【0012】本発明の別の課題は、損失と誤配が連続し
て発生した場合にも損失セル数及び誤配セル数が正確に
カウントされる、より正確なコネクションの試験が行え
るATMコネクション試験方式の受信部を提供すること
にある。
Another object of the present invention is to provide an ATM connection test capable of performing a more accurate connection test by accurately counting the number of lost cells and the number of mis-distributed cells even when losses and mis-distributions occur continuously. It is to provide a receiving unit of a system.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明によれば、送信部
及び受信部を備えたATMシステムの前記送信部及び前
記受信部間のコネクションを試験するためのATMコネ
クション試験方式において、前記送信部は、PNパター
ンを発生するPNパターン発生回路と、試験セル番号を
表すシーケンス番号を出力するシーケンス番号カウンタ
と、前記PNパターンと前記シーケンス番号とを送信デ
ータに試験セルとして挿入する試験セル挿入回路とを有
し、前記受信部は、受信信号から前記試験セルを検出セ
ルとして検出すると共に、この検出セルから前記PNパ
ターン及び前記シーケンス番号を検出PNパターン及び
検出シーケンス番号として検出する検出回路と、前記検
出セル毎に前記検出PNパターンの同期を取り、各検出
セルの前記検出PNパターンの同期が取れている時、同
期を示す制御信号を出力し、各検出セルの前記検出PN
パターンの同期が取れていない時、非同期を表す制御信
号を出力する同期判定回路と、前記検出セルの数をカウ
ント値としてカウントする内部参照カウンタを有し、前
記同期を示す制御信号を受信した時に、前記検出シーケ
ンス番号と前記カウント値とを比較し、前記検出シーケ
ンス番号が前記カウント値より大きい時、両者の差を損
失セル数として出力すると共に、前記内部参照カウンタ
の前記カウント値を前記検出シーケンス番号に等しい値
とし、前記検出シーケンス番号が前記カウント値より小
さい時、両者の差を誤配セル数として出力すると共に、
前記内部参照カウンタの前記カウント値を前記検出シー
ケンス番号に等しい値とするシーケンス番号比較回路
と、前記シーケンス番号比較回路が前記非同期を表す制
御信号を連続して出力している間の前記検出セルの数
を、連続して同期が外れた誤配セル数としてカウントす
る同期外れセル数カウンタと、前記同期外れセル数カウ
ンタの前記連続して同期が外れた誤配セル数と前記シー
ケンス番号比較回路により出力された前記誤配セル数と
を比較し、一致しなければその差分を出力する比較/差
分回路と、前記比較/差分回路によって出力された前記
差分を前記シーケンス番号比較回路によって出力された
誤配セル数に加算して出力する第1の加算回路と、前記
比較/差分回路によって出力された前記差分を前記シー
ケンス番号比較回路によって出力された損失セル数に加
算して出力する第2の加算回路と、前記第1の加算回路
の出力値を総誤配セル数としてカウントする誤配セル数
カウンタと、前記第2の加算回路の出力値を総損失セル
数としてカウントする損失セル数カウンタとを有するこ
とを特徴とするATMコネクション試験方式が得られ
る。
According to the present invention, there is provided an ATM connection test system for testing a connection between the transmitting unit and the receiving unit in an ATM system having a transmitting unit and a receiving unit. A PN pattern generation circuit that generates a PN pattern, a sequence number counter that outputs a sequence number representing a test cell number, a test cell insertion circuit that inserts the PN pattern and the sequence number as test cells into transmission data, A receiving circuit for detecting the test cell as a detection cell from a received signal, and detecting the PN pattern and the sequence number from the detection cell as a detection PN pattern and a detection sequence number; and The detection PN pattern is synchronized for each detection cell, and the detection P of each detection cell is synchronized. When the synchronization pattern is established, it outputs a control signal indicating synchronization, the detected PN of each detection cell
When the pattern is not synchronized, it has a synchronization determination circuit that outputs a control signal indicating asynchronous, and an internal reference counter that counts the number of the detection cells as a count value, and when a control signal indicating the synchronization is received. Comparing the detection sequence number with the count value, and when the detection sequence number is larger than the count value, outputs the difference between them as the number of lost cells, and compares the count value of the internal reference counter with the detection sequence. When the detected sequence number is smaller than the count value, the difference between the two is output as the number of mis-distributed cells,
A sequence number comparison circuit that sets the count value of the internal reference counter to a value equal to the detection sequence number, and a detection number of the detection cell while the sequence number comparison circuit continuously outputs a control signal indicating the asynchronous state. The number of out-of-sync cells that counts the number as the number of consecutively out-of-sync cells that are out of synchronization, and the number of continuously out-of-sync cells in the out-of-sync cell number counter and the sequence number comparison circuit. A comparison / difference circuit that compares the output number of erroneous cells and outputs the difference if they do not match, and compares the difference output by the comparison / difference circuit with the error output by the sequence number comparison circuit. A first adding circuit for adding the number of cells to the number of cells and outputting the result, and the difference output by the comparing / differential circuit to the sequence number comparing circuit. A second adding circuit that adds the number of lost cells output by the second adding circuit to output the number of lost cells, an erroneous cell number counter that counts an output value of the first adding circuit as a total erroneous cell number, An ATM connection test method is provided, comprising: a lost cell counter for counting the output value of the adder circuit as the total number of lost cells.

【0014】更に本発明によれば、送信部及び受信部を
備えたATMシステムの前記送信部及び前記受信部間の
コネクションを試験するために、前記送信部は、PNパ
ターンを発生するPNパターン発生回路と、試験セル番
号を表すシーケンス番号を出力するシーケンス番号カウ
ンタと、前記PNパターンと前記シーケンス番号とを送
信データに試験セルとして挿入する試験セル挿入回路と
を有しているATMコネクション試験方式において、前
記受信部は、受信信号から前記試験セルを検出セルとし
て検出すると共に、この検出セルから前記PNパターン
及び前記シーケンス番号を検出PNパターン及び検出シ
ーケンス番号として検出する検出回路と、前記検出セル
毎に前記検出PNパターンの同期を取り、各検出セルの
前記検出PNパターンの同期が取れている時、同期を示
す制御信号を出力し、各検出セルの前記検出PNパター
ンの同期が取れていない時、非同期を表す制御信号を出
力する同期判定回路と、前記検出セルの数をカウント値
としてカウントする内部参照カウンタを有し、前記同期
を示す制御信号を受信した時に、前記検出シーケンス番
号と前記カウント値とを比較し、前記検出シーケンス番
号が前記カウント値より大きい時、両者の差を損失セル
数として出力すると共に、前記内部参照カウンタの前記
カウント値を前記検出シーケンス番号に等しい値とし、
前記検出シーケンス番号が前記カウント値より小さい
時、両者の差を誤配セル数として出力すると共に、前記
内部参照カウンタの前記カウント値を前記検出シーケン
ス番号に等しい値とするシーケンス番号比較回路と、前
記シーケンス番号比較回路が前記非同期を表す制御信号
を連続して出力している間の前記検出セルの数を、連続
して同期が外れた誤配セル数としてカウントする同期外
れセル数カウンタと、前記同期外れセル数カウンタの前
記連続して同期が外れた誤配セル数と前記シーケンス番
号比較回路により出力された前記誤配セル数とを比較
し、一致しなければその差分を出力する比較/差分回路
と、前記比較/差分回路によって出力された前記差分を
前記シーケンス番号比較回路によって出力された誤配セ
ル数に加算して出力する第1の加算回路と、前記比較/
差分回路によって出力された前記差分を前記シーケンス
番号比較回路によって出力された損失セル数に加算して
出力する第2の加算回路と、前記第1の加算回路の出力
値を総誤配セル数としてカウントする誤配セル数カウン
タと、前記第2の加算回路の出力値を総損失セル数とし
てカウントする損失セル数カウンタとを有することを特
徴とするATMコネクション試験方式の受信部が得られ
る。
According to the present invention, in order to test a connection between the transmitting unit and the receiving unit in an ATM system having a transmitting unit and a receiving unit, the transmitting unit includes a PN pattern generating unit for generating a PN pattern. An ATM connection test system comprising a circuit, a sequence number counter for outputting a sequence number representing a test cell number, and a test cell insertion circuit for inserting the PN pattern and the sequence number as test cells into transmission data. A receiving circuit for detecting the test cell as a detected cell from a received signal and detecting the PN pattern and the sequence number from the detected cell as a detected PN pattern and a detected sequence number; The detected PN pattern is synchronized with the detected PN pattern of each detected cell. A synchronization determination circuit that outputs a control signal indicating synchronization when the detection cells are synchronized, and outputs a control signal indicating asynchronous when the detection PN pattern of each detection cell is not synchronized; Has an internal reference counter that counts the number as a count value, and when receiving a control signal indicating the synchronization, compares the detection sequence number with the count value, and when the detection sequence number is larger than the count value. Outputting the difference between the two as the number of lost cells, and making the count value of the internal reference counter equal to the detection sequence number,
When the detection sequence number is smaller than the count value, a difference between the two is output as the number of mis-distributed cells, and a sequence number comparison circuit that sets the count value of the internal reference counter to a value equal to the detection sequence number; An out-of-synchronization cell number counter that counts the number of the detected cells while the sequence number comparison circuit continuously outputs the control signal indicating the non-synchronization as the number of erroneously distributed cells that are out of synchronization; A comparison / difference comparing the number of consecutively out-of-sync cells in the out-of-sync cell number counter and the number of incorrectly-arranged cells output by the sequence number comparison circuit, and outputting a difference if they do not match. And the difference output by the comparison / difference circuit is added to the number of mis-distributed cells output by the sequence number comparison circuit and output. A first adding circuit, the comparing /
A second adding circuit that adds the difference output by the difference circuit to the number of lost cells output by the sequence number comparing circuit and outputs the added value, and uses an output value of the first adding circuit as a total number of mis-distributed cells. An ATM connection test type receiving section is provided, which has a counter for counting the number of mis-distributed cells and a counter for counting the number of lost cells that counts the output value of the second adder circuit as the total number of lost cells.

【0015】本発明では、損失及び誤配が連続して発生
する場合すなわち2重故障を考慮した場合まで正確に損
失したセル数及び誤配したセル数をカウントできる。
According to the present invention, the number of lost cells and the number of mis-distributed cells can be accurately counted up to the case where losses and mis-distributions occur consecutively, that is, the case where a double failure is considered.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施例について図
面を参照して説明する。
Next, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0017】図1には、本発明の一実施例によるATM
コネクション試験方式の受信部のみが示されており、従
来の方式と同じ構成を用いる図3に示された送信部31
及びPNパターン発生回路41、シーケンス番号カウン
タ回路42、試験セル挿入回路43は省略されている。
FIG. 1 shows an ATM according to an embodiment of the present invention.
Only the receiving unit of the connection test system is shown, and the transmitting unit 31 shown in FIG.
And a PN pattern generation circuit 41, a sequence number counter circuit 42, and a test cell insertion circuit 43 are omitted.

【0018】図1の検出回路11、同期判定回路12、
及びシーケンス番号比較回路13は、図3の検出回路4
4、同期判定回路45、及びシーケンス番号比較回路4
6と同様の構成で同様の動作をする。図1の損失セル数
カウンタ17及び誤配セル数カウンタ19は図3の損失
セル数カウンタ47及び誤配セル数カウンタ48と同様
の構成を有する。
The detection circuit 11, the synchronization determination circuit 12,
And the sequence number comparing circuit 13 corresponds to the detecting circuit 4 shown in FIG.
4, synchronization determination circuit 45, and sequence number comparison circuit 4
The same operation is performed with the same configuration as in FIG. The lost cell number counter 17 and the mis-distributed cell number counter 19 in FIG. 1 have the same configuration as the lost cell number counter 47 and the mis-distributed cell number counter 48 in FIG.

【0019】図1の受信部においては、同期外れカウン
タ14と、比較/差分回路15と、加算回路16及び1
8が新たに設けられている。
In the receiving section shown in FIG. 1, an out-of-synchronization counter 14, a comparison / difference circuit 15, and addition circuits 16 and 1
8 is newly provided.

【0020】図1に加えて図2をも参照して、同期外れ
セル数カウンタ14は、シーケンス番号比較回路13が
非同期を表す制御信号を連続して出力している間の検出
セルの数を、連続して同期が外れた誤配セル数としてカ
ウントする。比較/差分回路15は、同期外れセル数カ
ウンタ14の前記連続して同期が外れた誤配セル数とシ
ーケンス番号比較回路13により出力された誤配セル数
とを比較し、一致しなければその差分を出力する。加算
回路18は、比較/差分回路15によって出力された差
分をシーケンス番号比較回路13によって出力された誤
配セル数に加算して出力する。加算回路16は、比較/
差分回路15によって出力された差分をシーケンス番号
比較回路13によって出力された損失セル数に加算して
出力する。誤配セル数カウンタ19は、加算回路18の
出力値を総誤配セル数としてカウントする。損失セル数
カウンタ17は、加算回路16の出力値を総損失セル数
としてカウントする。
Referring to FIG. 2 in addition to FIG. 1, out-of-synchronization cell number counter 14 counts the number of detected cells while sequence number comparison circuit 13 continuously outputs a control signal indicating asynchronous. , And counts as the number of erroneously delivered cells that are continuously out of synchronization. The comparison / difference circuit 15 compares the number of consecutively out-of-sync cells in the out-of-sync cell number counter 14 with the number of out-of-sync cells output by the sequence number comparison circuit 13, and if they do not match, the number is compared. Output the difference. The addition circuit 18 adds the difference output from the comparison / difference circuit 15 to the number of mis-distributed cells output from the sequence number comparison circuit 13 and outputs the result. The adder circuit 16 performs the comparison /
The difference output by the difference circuit 15 is added to the number of lost cells output by the sequence number comparison circuit 13 and output. The misplaced cell number counter 19 counts the output value of the adding circuit 18 as the total number of misplaced cells. The lost cell counter 17 counts the output value of the adding circuit 16 as the total number of lost cells.

【0021】以下、図1及び図2を参照して図1の受信
部の動作を詳細に説明する。
Hereinafter, the operation of the receiver in FIG. 1 will be described in detail with reference to FIGS.

【0022】検出回路11は、試験セルを受信すると予
め決定された特定の識別子を検出した時点で試験セルと
判定し、その中でPNパターン及びシーケンス番号に該
当する領域をラッチし出力する。
Upon receiving the test cell, the detection circuit 11 determines that the test cell is a test cell when detecting a predetermined specific identifier, and latches and outputs an area corresponding to a PN pattern and a sequence number.

【0023】PNパターンと判定された領域は、同期判
定回路12にて同期引き込みが行われ、予め決定された
後方保護段数の値に達したときに同期確立とする。同期
判定回路12は、同期確立後は所定のPNパターンと入
力される試験セルのPNパターンとのビット比較を行っ
てゆき誤り数をカウントする。その誤り数が1セル内で
予め決定された前方保護段数の値を超過した時点で同期
外れとし、次の試験セルの先頭から再び同期引き込みを
行う。セルの誤配によって試験セルでないセルが同期判
定回路21にて同期引き込みを行おうとすると、PNパ
ターンではないため誤りビット数が保護段数を超過し同
期が外れる。また試験セルの損失が発生した場合も次の
試験セルとのPNパターンの間に系列の不連続が生じ、
同様に同期が外れる。
The area determined to be a PN pattern is subjected to synchronization pull-in by the synchronization determination circuit 12, and synchronization is established when the number reaches the predetermined number of backward protection stages. After the synchronization is established, the synchronization determination circuit 12 compares the bits of the predetermined PN pattern with the PN pattern of the input test cell and counts the number of errors. When the number of errors exceeds a predetermined value of the number of forward protection stages in one cell, the synchronization is determined to be out of synchronization, and synchronization is pulled in again from the head of the next test cell. If a cell that is not a test cell attempts to pull in the synchronization in the synchronization determination circuit 21 due to an erroneous cell distribution, the number of error bits exceeds the number of protection stages and the synchronization is lost because the cell is not a PN pattern. Also, when a test cell loss occurs, a series discontinuity occurs between the PN pattern with the next test cell,
Similarly, synchronization is lost.

【0024】シーケンス番号と判定された領域は、シー
ケンス番号比較回路13によってその連続性がチェック
される。シーケンス番号比較回路13は、内部参照カウ
ンタを有しており、そのカウンタは入力される試験セル
のシーケンス番号を表すものと期待して動作し、セル到
着ごとに1ずつ増加される。従って損失/誤配が生じな
い通常の動作では、両者は常に同一の値を採る。試験セ
ルの損失が発生した場合は、次に同期が確立した試験セ
ルのシーケンス番号が内部参照カウンタより大きな値を
示し、その差分を損失したセル数とみなし比較/差分回
路15に出力する。また試験セルの誤配が生じた場合
は、内部参照カウンタが次に同期が確立した試験セルの
シーケンス番号より大きな値を示し、その差分を誤配し
たセル数とみなし比較/差分回路15に出力する。
The continuity of the area determined as the sequence number is checked by the sequence number comparing circuit 13. The sequence number comparison circuit 13 has an internal reference counter, which operates in expectation of indicating the sequence number of the input test cell, and is incremented by one each time a cell arrives. Therefore, in a normal operation in which no loss / misplacement occurs, the two always take the same value. When a test cell loss occurs, the sequence number of the test cell with which synchronization has been established next indicates a value greater than the internal reference counter, and the difference is regarded as the number of lost cells and output to the comparison / difference circuit 15. If a test cell mis-distribution occurs, the internal reference counter indicates a value larger than the sequence number of the test cell with which synchronization is next established, and the difference is regarded as the number of mis-distributed cells and output to the comparison / difference circuit 15. I do.

【0025】図3の受信部32と同様に、上記動作は同
期判定回路12から出力される制御信号が同期を示して
いる場合にのみ行われる。
Similar to the receiving section 32 in FIG. 3, the above operation is performed only when the control signal output from the synchronization determination circuit 12 indicates synchronization.

【0026】同期外れセル数カウンタ14は、試験セル
の同期外れが生じた時、その同期外れセル数をカウント
する目的で具備される。同期判定回路12から出力され
る制御信号が非同期を示しているとき、同期外れセル数
カウンタ14をリセットしてカウンタをスタートさせ
る。カウントアップは制御信号が次に同期を表す直前の
セルまで行い、そのときのカウンタの値すなわち同期外
れセル数を比較/差分回路15に出力する。
The out-of-sync cell counter 14 is provided for counting the number of out-of-sync cells when a test cell is out of sync. When the control signal output from the synchronization determination circuit 12 indicates asynchronous, the out-of-synchronization cell number counter 14 is reset to start the counter. The count up is performed up to the cell immediately before the next time the control signal indicates synchronization, and the value of the counter at that time, that is, the number of cells out of synchronization is output to the comparison / difference circuit 15.

【0027】比較/差分回路15は、同期外れセル数と
シーケンス番号比較回路13によって出力された損失セ
ル数もしくは誤配セル数を比較し、一致しなければ両者
の差が連続して生じた損失/誤配によって生じたセルと
みなして差分を加算回路16及び加算回路18に出力す
る。
The comparison / difference circuit 15 compares the number of cells out of synchronization with the number of lost cells or the number of mis-distributed cells output by the sequence number comparison circuit 13. The difference is output to the adder circuit 16 and the adder circuit 18 assuming that the cell is caused by the incorrect distribution.

【0028】比較/差分回路15によって得られた値す
なわち損失/誤配の連続により生じた損失セル数とシー
ケンス番号比較回路13によって得られた損失セル数を
加算回路16によって加算した結果を損失セル数カウン
タ17によってカウントする。
The result obtained by adding the value obtained by the comparison / difference circuit 15, that is, the number of lost cells caused by the continuous loss / misplacement and the number of lost cells obtained by the sequence number comparison circuit 13 by the addition circuit 16 is the loss cell. It is counted by the number counter 17.

【0029】比較/差分回路15によって得られた値す
なわち損失/誤配の連続により生じた誤配セル数とシー
ケンス番号比較回路13によって得られた誤配セル数を
加算回路18によって加算した結果を誤配セル数カウン
タ19によってカウントする。
The result obtained by adding the value obtained by the comparison / difference circuit 15, that is, the number of mis-distributed cells caused by the continuous loss / mis-distribution and the number of mis-distributed cells obtained by the sequence number comparing circuit 13 by the addition circuit 18. It is counted by the misplaced cell counter 19.

【0030】このようにして、図2に示したように、試
験セルが連続して損失及び誤配したときの損失セル数及
び誤配セル数が正確にカウントされる。
In this way, as shown in FIG. 2, the number of lost cells and the number of mis-distributed cells when test cells are continuously lost and mis-distributed are accurately counted.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上実施例から明らかなように、本発明
では、同期が外れた時点から次に同期が取れたセルまで
の試験セルをカウントして、その値と損失セル数もしく
は誤配セル数から、損失及び誤配が連続して発生したこ
とを判定して両者カウンタをインクリメントさせること
により、損失及び誤配が連続して発生した場合の損失セ
ル数及び誤配セル数が正確にカウントされ、2重故障を
考慮したATMコネクション試験が行える。
As is clear from the above embodiments, in the present invention, the number of test cells from the point where synchronization is lost to the next cell where synchronization is obtained is counted, and the value is counted and the number of lost cells or mis-distributed cells is counted. By judging from the number that loss and mis-delivery have occurred continuously, and by incrementing both counters, the number of lost cells and the number of mis-distributed cells when loss and mis-delivery occur continuously can be accurately counted. Thus, an ATM connection test in consideration of a double failure can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施例によるATMコネクション試
験方式の受信部のブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram of a receiving unit of an ATM connection test system according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1のATMコネクション試験方式の受信部の
動作を説明するための図である。
FIG. 2 is a diagram for explaining an operation of a receiving unit of the ATM connection test system of FIG. 1;

【図3】従来のATMコネクション試験方式のブロック
図である。
FIG. 3 is a block diagram of a conventional ATM connection test method.

【図4】図3のATMコネクション試験方式の動作を説
明するための図である。
FIG. 4 is a diagram for explaining the operation of the ATM connection test system of FIG. 3;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 検出回路 12 同期判定回路 13 シーケンス番号比較回路 14 同期外れセル数カウンタ 15 比較/差分回路 16 加算回路 17 損失セル数カウンタ 18 加算回路 19 誤配セル数カウンタ 31 送信部 32 受信部 41 PNパターン発生回路 42 シーケンス番号カウンタ回路 43 試験セル挿入回路 44 検出回路 45 同期判定回路 46 シーケンス番号比較回路 47 損失セル数カウンタ 48 誤配セル数カウンタ DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Detection circuit 12 Synchronization determination circuit 13 Sequence number comparison circuit 14 Out-of-synchronization cell number counter 15 Comparison / difference circuit 16 Addition circuit 17 Lost cell number counter 18 Addition circuit 19 Miscellaneous cell number counter 31 Transmitter 32 Receiver 41 PN pattern generation Circuit 42 Sequence number counter circuit 43 Test cell insertion circuit 44 Detection circuit 45 Synchronization determination circuit 46 Sequence number comparison circuit 47 Lost cell number counter 48 Misplaced cell number counter

Claims (6)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 送信部及び受信部を備えたATMシステ
ムの前記送信部及び前記受信部間のコネクションを試験
するためのATMコネクション試験方式において、 前記送信部は、 PNパターンを発生するPNパターン発生回路と、 試験セル番号を表すシーケンス番号を出力するシーケン
ス番号カウンタと、 前記PNパターンと前記シーケンス番号とを送信データ
に試験セルとして挿入する試験セル挿入回路とを有し、 前記受信部は、 受信信号から前記試験セルを検出セルとして検出すると
共に、この検出セルから前記PNパターン及び前記シー
ケンス番号を検出PNパターン及び検出シーケンス番号
として検出する検出回路と、 前記検出セル毎に前記検出PNパターンの同期を取り、
各検出セルの前記検出PNパターンの同期が取れている
時、同期を示す制御信号を出力し、各検出セルの前記検
出PNパターンの同期が取れていない時、非同期を表す
制御信号を出力する同期判定回路と、 前記検出セルの数をカウント値としてカウントする内部
参照カウンタを有し、前記同期を示す制御信号を受信し
た時に、前記検出シーケンス番号と前記カウント値とを
比較し、前記検出シーケンス番号が前記カウント値より
大きい時、両者の差を損失セル数として出力すると共
に、前記内部参照カウンタの前記カウント値を前記検出
シーケンス番号に等しい値とし、前記検出シーケンス番
号が前記カウント値より小さい時、両者の差を誤配セル
数として出力すると共に、前記内部参照カウンタの前記
カウント値を前記検出シーケンス番号に等しい値とする
シーケンス番号比較回路と、 前記シーケンス番号比較回路が前記非同期を表す制御信
号を連続して出力している間の前記検出セルの数を、連
続して同期が外れた誤配セル数としてカウントする同期
外れセル数カウンタと、 前記同期外れセル数カウンタの前記連続して同期が外れ
た誤配セル数と前記シーケンス番号比較回路により出力
された前記誤配セル数とを比較し、一致しなければその
差分を出力する比較/差分回路と、 前記比較/差分回路によって出力された前記差分を前記
シーケンス番号比較回路によって出力された誤配セル数
に加算して出力する第1の加算回路と、 前記比較/差分回路によって出力された前記差分を前記
シーケンス番号比較回路によって出力された損失セル数
に加算して出力する第2の加算回路と、 前記第1の加算回路の出力値を総誤配セル数としてカウ
ントする誤配セル数カウンタと、 前記第2の加算回路の出力値を総損失セル数としてカウ
ントする損失セル数カウンタとを有することを特徴とす
るATMコネクション試験方式。
1. An ATM connection test method for testing a connection between said transmitting unit and said receiving unit in an ATM system having a transmitting unit and a receiving unit, wherein said transmitting unit generates a PN pattern. A circuit, a sequence number counter that outputs a sequence number representing a test cell number, and a test cell insertion circuit that inserts the PN pattern and the sequence number as test cells into transmission data. A detection circuit for detecting the test cell as a detection cell from a signal, and detecting the PN pattern and the sequence number from the detection cell as a detection PN pattern and a detection sequence number; and synchronizing the detection PN pattern for each detection cell. Take
When the detection PN pattern of each detection cell is synchronized, a control signal indicating synchronization is output. When the detection PN pattern of each detection cell is not synchronized, a control signal indicating asynchronous is output. A determination circuit, having an internal reference counter that counts the number of the detection cells as a count value, and upon receiving a control signal indicating the synchronization, comparing the detection sequence number with the count value; Is larger than the count value, the difference between the two is output as the number of lost cells, and the count value of the internal reference counter is set to a value equal to the detection sequence number, and when the detection sequence number is smaller than the count value, The difference between the two is output as the number of mis-distributed cells, and the count value of the internal reference counter is set to the detection sequence number. A sequence number comparison circuit having a value equal to the number of the detection cells while the sequence number comparison circuit continuously outputs the control signal indicating the non-synchronization; The number of out-of-sync cells counting as a number, and comparing the number of mis-arranged cells continuously out of synchronization of the out-of-sync cell number counter with the number of mis-arranged cells output by the sequence number comparison circuit, A comparison / difference circuit that outputs the difference if they do not match, and a first addition that adds the difference output by the comparison / difference circuit to the number of mis-distributed cells output by the sequence number comparison circuit and outputs the result. A second adder circuit for adding the difference output by the comparison / difference circuit to the number of lost cells output by the sequence number comparison circuit and outputting the result. A mis-distributed cell number counter that counts the output value of the first adder circuit as the total number of mis-distributed cells; and a lost cell number counter that counts the output value of the second adder circuit as the total lost cell number. An ATM connection test method characterized by having:
【請求項2】 前記ATMシステムの前記送信部及び前
記受信部間のコネクションが前記送信部と前記受信部と
の間に設定されたバーチャルパス(VP)であることを
特徴とする請求項1に記載のATMコネクション試験方
式。
2. The ATM system according to claim 1, wherein the connection between the transmitting unit and the receiving unit of the ATM system is a virtual path (VP) set between the transmitting unit and the receiving unit. The described ATM connection test method.
【請求項3】 前記ATMシステムの前記送信部及び前
記受信部間のコネクションが前記送信部と前記受信部と
の間に設定されたバーチャルチャネル(VC)であるこ
とを特徴とする請求項1に記載のATMコネクション試
験方式。
3. The ATM system according to claim 1, wherein the connection between the transmitting unit and the receiving unit of the ATM system is a virtual channel (VC) set between the transmitting unit and the receiving unit. The described ATM connection test method.
【請求項4】 送信部及び受信部を備えたATMシステ
ムの前記送信部及び前記受信部間のコネクションを試験
するために、前記送信部は、PNパターンを発生するP
Nパターン発生回路と、試験セル番号を表すシーケンス
番号を出力するシーケンス番号カウンタと、前記PNパ
ターンと前記シーケンス番号とを送信データに試験セル
として挿入する試験セル挿入回路とを有しているATM
コネクション試験方式において、 前記受信部は、 受信信号から前記試験セルを検出セルとして検出すると
共に、この検出セルから前記PNパターン及び前記シー
ケンス番号を検出PNパターン及び検出シーケンス番号
として検出する検出回路と、 前記検出セル毎に前記検出PNパターンの同期を取り、
各検出セルの前記検出PNパターンの同期が取れている
時、同期を示す制御信号を出力し、各検出セルの前記検
出PNパターンの同期が取れていない時、非同期を表す
制御信号を出力する同期判定回路と、 前記検出セルの数をカウント値としてカウントする内部
参照カウンタを有し、前記同期を示す制御信号を受信し
た時に、前記検出シーケンス番号と前記カウント値とを
比較し、前記検出シーケンス番号が前記カウント値より
大きい時、両者の差を損失セル数として出力すると共
に、前記内部参照カウンタの前記カウント値を前記検出
シーケンス番号に等しい値とし、前記検出シーケンス番
号が前記カウント値より小さい時、両者の差を誤配セル
数として出力すると共に、前記内部参照カウンタの前記
カウント値を前記検出シーケンス番号に等しい値とする
シーケンス番号比較回路と、 前記シーケンス番号比較回路が前記非同期を表す制御信
号を連続して出力している間の前記検出セルの数を、連
続して同期が外れた誤配セル数としてカウントする同期
外れセル数カウンタと、 前記同期外れセル数カウンタの前記連続して同期が外れ
た誤配セル数と前記シーケンス番号比較回路により出力
された前記誤配セル数とを比較し、一致しなければその
差分を出力する比較/差分回路と、 前記比較/差分回路によって出力された前記差分を前記
シーケンス番号比較回路によって出力された誤配セル数
に加算して出力する第1の加算回路と、 前記比較/差分回路によって出力された前記差分を前記
シーケンス番号比較回路によって出力された損失セル数
に加算して出力する第2の加算回路と、 前記第1の加算回路の出力値を総誤配セル数としてカウ
ントする誤配セル数カウンタと、 前記第2の加算回路の出力値を総損失セル数としてカウ
ントする損失セル数カウンタとを有することを特徴とす
るATMコネクション試験方式の受信部。
4. In order to test a connection between the transmitting unit and the receiving unit in an ATM system having a transmitting unit and a receiving unit, the transmitting unit generates a PN pattern.
An ATM having an N pattern generating circuit, a sequence number counter for outputting a sequence number representing a test cell number, and a test cell insertion circuit for inserting the PN pattern and the sequence number as test cells into transmission data.
In the connection test system, the receiving unit detects the test cell as a detection cell from a received signal, and detects the PN pattern and the sequence number from the detection cell as a detection PN pattern and a detection sequence number. Synchronize the detection PN pattern for each detection cell,
When the detection PN pattern of each detection cell is synchronized, a control signal indicating synchronization is output. When the detection PN pattern of each detection cell is not synchronized, a control signal indicating asynchronous is output. A determination circuit, having an internal reference counter that counts the number of the detection cells as a count value, and upon receiving a control signal indicating the synchronization, comparing the detection sequence number with the count value; Is larger than the count value, the difference between the two is output as the number of lost cells, and the count value of the internal reference counter is set to a value equal to the detection sequence number, and when the detection sequence number is smaller than the count value, The difference between the two is output as the number of mis-distributed cells, and the count value of the internal reference counter is set to the detection sequence number. A sequence number comparison circuit having a value equal to the number of the detection cells while the sequence number comparison circuit continuously outputs the control signal indicating the non-synchronization; The number of out-of-sync cells counting as a number, and comparing the number of mis-arranged cells continuously out of synchronization of the out-of-sync cell number counter with the number of mis-arranged cells output by the sequence number comparison circuit, A comparison / difference circuit that outputs the difference if they do not match, and a first addition that adds the difference output by the comparison / difference circuit to the number of mis-distributed cells output by the sequence number comparison circuit and outputs the result. A second adder circuit for adding the difference output by the comparison / difference circuit to the number of lost cells output by the sequence number comparison circuit and outputting the result. A mis-distributed cell number counter that counts the output value of the first adder circuit as the total number of mis-distributed cells; and a lost cell number counter that counts the output value of the second adder circuit as the total lost cell number. A receiving unit of an ATM connection test system, comprising:
【請求項5】 前記ATMシステムの前記送信部及び前
記受信部間のコネクションが前記送信部と前記受信部と
の間に設定されたバーチャルパス(VP)であることを
特徴とする請求項4に記載のATMコネクション試験方
式の受信部。
5. The ATM system according to claim 4, wherein the connection between the transmitting unit and the receiving unit of the ATM system is a virtual path (VP) set between the transmitting unit and the receiving unit. The receiving unit of the ATM connection test method described in the above.
【請求項6】 前記ATMシステムの前記送信部及び前
記受信部間のコネクションが前記送信部と前記受信部と
の間に設定されたバーチャルチャネル(VC)であるこ
とを特徴とする請求項4に記載のATMコネクション試
験方式の受信部。
6. The communication system according to claim 4, wherein the connection between the transmission unit and the reception unit of the ATM system is a virtual channel (VC) set between the transmission unit and the reception unit. The receiving unit of the ATM connection test method described in the above.
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