JP2731793B2 - 電気部品の特性測定装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、連なった複数の電気部品から成る被測定対
象の各電気部品を一つずつ間欠送りに測定機構に供給し
て、電気特性を測定する電気部品の特性測定装置に関す
る。

〔従来の技術〕

従来の各種電気部品類の電気特性を測定する機構は、
例えば管形ヒューズの場合、被測定管形ヒューズを一個
ずつ止めるシャッター機構と、測定ステージへ搬送する
ハンドリング機構と、管形ヒューズの導通特性、すなわ
ち断線やエンドキャップとのはんだ付けの良否等を検査
する測定機構とから構成されていた。

上述した従来の電気特性測定機構は、シャッター機構
部と測定機構部とから構成される各機構部が複雑な機構
となり、これら各機構部間の制御にあたって多くの制御
信号を必要とし、これら相互間の制御が複雑となる欠点
があった。

〔発明が解決しようとする課題〕

本発明の課題は、簡単な構造と方式によって連なった
複数の電気部品の各々の電気特性、例えば、導通の有
無、電気抵抗値、静電容量等を確実に検査測定する電気
部品の特性測定装置を提供することにある。

〔課題を解決するための手段〕

本発明の課題は、前記電気部品の落下を許す開状態の
カム面、及び落下を許さない閉状態のカム面とをそれぞ
れ有し、電気部品の大きさに合わせた幅で軸支され、同
一速度で回転するブレーキ円板，シャッター円板と測定
ステージが同一軸線上に順次設けられていること、 ブレーキ円板が開状態の時、シャッター円板が閉状態
になって、電気部品がシャッター円板に待機され、シャ
ッター円板が開状態になると、ブレーキ円板が閉状態に
なって後続の電気部品の落下を阻止すると共に、測定ス
テージが閉状態になって測定しようとする電気部品が測
定ステージに設定され、測定ステージが開状態になる
と、電気部品が落下し、次いで閉状態になると、シャッ
ター円板に待機している後続の電気部品が測定ステージ
に設定されるように、次々と電気部品が一つずつ測定ス
テージに間欠的に送り込まれる都度、シャッター円板と
測定ステージとの間の前記同一軸線上に軸支されている
プローブ駆動カムが電気部品を検査測定すること、 によって解決されている。

〔実施例〕

以下、添付図を参照しつつ、本発明を詳細に説明す
る。なお、本発明の特性測定装置は、所定形状の電気・
電子部品、例えば、管形ヒューズ、電気抵抗器、小型コ
ンデンサ等の特性を測定することができるが、代表的例
として管形ヒューズの導通を測定する実施例について説
明する。

第１図は、本発明の一実施例を示す正面図である。第
２図は第１図のＡ−Ａ断面図である。第３図は、ブレー
キ円板と測定プローブ駆動カムの動作軌道図である。第
４図は、ブレーキ円板とシャッター円板と測定ステージ
円板と測定プローブ駆動カムとをシャフトに取りつけた
立体図である。

第１図及び第２図において、シュータ１は被測定対
象、ここでは管形ヒューズ２を上方から供給するもので
ある。装置本体の上から順に配列されたブレーキ円板
３、シャッター円板４、測定ステージ５、そしてプロー
ブ駆動カム６は、モータ８とカップリング16によって連
結されたシャフト９にそれぞれ順次軸支され、このシャ
フト９はモータプレート10及びガイドブロック11によっ
て保持されている。上記のブレーキ円板３、シャッター
円板４と測定ステージ５は、部分的に切り欠かれてい
る。これらの切り欠かれている部分が、開状態を形成し
て各管形ヒューズ２を間欠的に１つずつ落下させる。切
り欠かれていない部分では、各管形ヒューズ２が落下し
ない閉状態、すなわち管形ヒューズ２が停止して待機し
ている。

上記のブレーキ円板３、シャッター円板４と測定ステ
ージ５は、電気部品の大きさに合わせた幅でシャフト９
に軸支されて同一速度で回転することにより、各電気部
品の検査測定がなされる。

以下に、各部品の動作を第３図にしたがって詳しく説
明する。

ブレーキ円板３が、閉状態（2a〜3a）から開状態（4a
〜1a）に移行すると、シャッター円板４が閉状態（4b〜
1b）になる。そして、先行する電気部品がシャッター円
板４に至って待機する。

次いで、シャッター円板４が開状態（2b〜3b）になる
と、ブレーキ円板３が閉状態（2a〜3a）になり、後続の
電気部品の落下を阻止する。この直後に、測定ステージ
５が閉状態（2c〜3c）になり、測定しようとする電気部
品が測定ステージ５に到達して設定される。

次いで、測定ステージ５が開状態（4c〜1c）になる
と、電気部品が落下する。そして再び閉状態（2c〜3c）
になると、シャッター円板４に待機している後続の電気
部品が測定ステージ５に設定される。

このようにして、次々と電気部品が一つずつ測定ステ
ージ５に間欠的に送り込まれるごとに、シャッター円板
４と測定ステージ５との間のシャフト９に軸支されてい
るプローブ駆動カム６が電気部品を検査測定し、さらに
後続する電気部品も同様に検査測定される。

以上がブレーキ円板３、シャッター円板４、測定ステ
ージ円板５、プローブ駆動カム６及びプローブ７の一連
の動作である。かかる動作によって上記の課題が解決さ
れる。

〔発明の効果〕

本発明の電気特性測定装置によれば、簡単な構造と方
式によって連なった複数の電気部品の各々の電気特性、
例えば、導通の有無、電気抵抗値、静電容量等を確実に
検査測定できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す正面図である。 第２図は第１図のＡ−Ａ断面図である。 第３図はブレーキ円板と測定プローブ駆動カムの動作軌
道図である。 第４図はブレーキ円板とシャッター円板と測定ステージ
円板と測定プローブ駆動カムとをシャフトに取りつけた
立体図であり、第３図のカム動作軌道点を示すものであ
る。 〔符号の説明〕 １……シュータ ２……被測定対象 ３……ブレーキ円板 ４……シャッター円板 ５……測定ステージ ６……プローブ駆動カム ７……プローブ ８……モータ ９……シャフト 10……モータプレート 11……ガイドブロック 12……スライドブロック 13……スプリング 14……ベース 15……カムフロアー 16……カップリング

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 斉藤 敏雄 東京都渋谷区代々木５丁目８番８号 株 式会社長沢電機製作所内 (56)参考文献 特開 昭54−73658（ＪＰ，Ａ) 実開 昭63−108700（ＪＰ，Ｕ)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】連なった複数の電気部品から成る被測定対
   象（２）の各電気部品を一つずつ間欠送りに測定機構に
   供給して、電気特性を測定する電気部品の特性測定装置
   において、 前記電気部品の落下を許す開状態のカム面、及び落下を
   許さない閉状態のカム面とをそれぞれ有し、電気部品の
   大きさに合わせた幅で軸支され、同一速度で回転するブ
   レーキ円板（３），シャッター円板（４）と測定ステー
   ジ（５）が同一軸線上に順次設けられていること、 ブレーキ円板（３）が開状態の時、シャッター円板
   （４）が閉状態になって、電気部品がシャッター円板
   （４）に待機され、 シャッター円板（４）が開状態になると、ブレーキ円板
   （３）が閉状態になって後続の電気部品の落下を阻止す
   ると共に、測定ステージ（５）が閉状態になって測定し
   ようとする電気部品が測定ステージ（５）に設定され、 測定ステージ（５）が開状態になると、電気部品が落下
   し、次いで閉状態になると、シャッター円板（４）に待
   機している後続の電気部品が測定ステージ（５）に設定
   されるように、次々と電気部品が一つずつ測定ステージ
   （５）に間欠的に送り込まれる都度、シャッター円板
   （４）と測定ステージ（５）との間の前記同一軸線上に
   軸支されているプローブ駆動カム（６）が電気部品を検
   査測定すること、 を特徴とする電気部品の特性測定装置。