JP2723749B2

JP2723749B2 - ディスク装置のオフトラック補正方法

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Publication number: JP2723749B2
Application number: JP7643992A
Authority: JP
Inventors: 伸幸鈴木
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1992-03-31
Filing date: 1992-03-31
Publication date: 1998-03-09
Anticipated expiration: 2013-03-09
Also published as: JPH05282637A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、サーボ面サーボ方式を
用いた各種の磁気ディスク装置におけるオフトラック補
正方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】図１８〜図２４は従来例を示した図であ
り、図１８は磁気ディスク装置のブロック図、図１９は
ディスク機構部の説明図、図２０はヘッド位置決めのサ
ーボ制御部のブロック図、図２１は、オフトラック補正
部のブロック図、図２２はオフトラック信号作成回路の
説明図、図２３はオフトラック補正の説明図（その
１）、図２４はオフトラック補正の説明図（その２）で
ある。

【０００３】図１８〜図２４中、１は磁気ディスク装
置、２は上位コントローラ、３はリード／ライト制御
部、４はディスク機構部、５はヘッド位置決めサーボ制
御部、６はスピンドルモータ制御部、７はオフトラック
補正部、９はＶＣＭ（ボイスコイルモータ）、１０はア
クチュエータ、１１はスピンドル、１２はサーボヘッ
ド、１３はデータヘッド、１４はデータ面、１５はサー
ボ面、１６は磁気ディスク、１７はオントラック判定回
路、１８はパワーアンプ、１９は速度制御／位置制御切
り換え回路、２０〜２２はコンパレータ、２３は位置信
号作成回路、２４は速度信号作成回路、２５はサーボブ
ロック制御部、２６はオフトラック信号作成回路、２７
は整流回路、２８は平滑回路、２９はダイオード、３０
はコンデンサを示す。

【０００４】また、３３はアナログ／ディジタルコンバ
ータ、３４はワークレジスタ、３５は演算部、３６はオ
フトラック補正値レジスタ、３７はオントラックスライ
スレジスタ、ＤＳＤはサーボデータを示す。

【０００５】従来、磁気ディスク装置として、サーボ面
サーボ方式を用いた磁気ディスク装置が知られていた。
このような磁気ディスク装置では、データヘッド自体で
位置を検出せず、データヘッドと機械的に結合されたサ
ーボヘッドによってのみ、位置検出を行っていた。

【０００６】従って、周辺温度の変化等が原因で、その
相対位置にずれが発生する。また、オフトラック現象が
発生することも、原理的に避けられない。そこで、上述
のずれ量を計測し、補正するためのオフトラック補正技
術がある。

【０００７】オフトラック補正を行うには、サーボヘッ
ドとデータヘッドの相対的な位置ずれ量を計測し、その
ずれ量を打ち消す方向にオフセットして、データヘッド
を位置ずけする補償を行う。

【０００８】また、データヘッドが、アーム上に複数あ
る装置では、データヘッド毎に、上記のずれ量及び補正
量が異なる。即ち、シークを伴わないため、高速なアク
セスが期待できるとして、頻繁に用いられているヘッド
スイッチオペレーション時でも、ヘッド間のオフトラッ
ク量のばらつきのため、ヘッドを微小に移動させて補正
を行う必要がある。

【０００９】以下、図面に基づいて、上記のサーボ面サ
ーボ方式を採用した磁気ディスク装置の従来技術を説明
する。図１８に示したように、磁気ディスク装置１は、
上位コントローラ２、リード／ライト制御部３、ディス
ク機構部４、ヘッド位置決めサーボ制御部５、スピンド
ルモータ制御部６、オフトラック補正部７等で構成され
ている。

【００１０】上位コントローラ２は、磁気ディスク装置
１内の各種制御等を行うと共に、上位装置（ホスト）と
の間のコマンドやデータの制御等を行うものである。リ
ード／ライト制御部３は、上位コントローラ２からの指
示に基づいて、ディスク機構部４に対するデータのリー
ド／ライト制御等を行うものである。

【００１１】ヘッド位置決めサーボ制御部５は、上位コ
ントローラ２からのシーク命令を受けて、ディスク機構
部４内のヘッド位置決め制御等を行うものである。オフ
トラック補正部７は、リード／ライト制御部３からのオ
フトラックデータと、上位コントローラ２からのヘッド
番号等の情報を受け取って、オフトラック補正用のデー
タ等を作成するものである。

【００１２】スピンドルモータ制御部６は、ディスク機
構部４内のスピンドルモータの回転を制御するものであ
る。上記のディスク機構部４は、例えば図１９のように
構成されている。

【００１３】図１９に示したように、ディスク機構部４
には、スピンドル１１に結合され、スピンドルモータ
（図示省略）によって回転駆動される複数の磁気ディス
ク１６が設けてある。

【００１４】これら複数の磁気ディスク１６の内、いず
れか１つの磁気ディスクの一面に、サーボ面１５が設け
てあり、他の磁気ディスク１６の面は、全てデータ面１
４となっている。

【００１５】そして、ＶＣＭ（ボイスコイルモータ）９
によって駆動されるアクチュエータ（ヘッドアクチュエ
ータ）１０上には、複数の磁気ヘッドが設けてある。こ
れらの磁気ヘッドの内、サーボ面１５側の磁気ヘッド
を、サーボヘッド１２とし、データ面１４側の磁気ヘッ
ドを全て、データヘッド１３としている。

【００１６】上記サーボヘッド１２は、サーボ面１５の
サーボ情報を読み取るものであり、読み取ったサーボ情
報は、ヘッド位置決めサーボ制御部５へ送り、ヘッドの
位置決め制御を行う際の情報とするものである。

【００１７】また、データヘッド１３は、データ面１４
に対して、データのリード／ライトを行うものであり、
リード／ライト制御部３により制御されるものである。
ＶＣＭ９は、ヘッド位置決めサーボ制御部５により駆動
され、アクチュエータ１０を介して、データヘッド１３
及びサーボヘッド１２を、磁気ディスク１６の半径方向
に移動させるものである。

【００１８】上記ヘッド位置決めサーボ制御部５は、例
えば図２０のように構成されている。図２０において、
サーボブロック制御部２５は、上位コントローラ２から
のシーク命令を受け取り、ヘッド位置決めサーボ制御全
体の制御をするものである。

【００１９】位置信号作成回路２３は、サーボヘッド１
２で読み出したサーボ信号を復調して、位置信号を作成
するものである。速度信号作成回路２４は、上記サーボ
信号を入力して、速度信号（実速度）を作成するもので
ある。

【００２０】コンパレータ２１は、サーボブロック制御
部２５からの目標位置（指令値）と、オフトラック補正
データ（オフトラック補正部７からのデータ）との差を
求めるものであり、コンパレータ２１では、コンパレー
タ２１の前記差の値と、位置信号（実位置）との差、即
ち位置誤差を求めるものである。

【００２１】コンパレータ２２は、サーボブロック制御
部２５からの目標速度（指令値）と、速度信号作成回路
２４で作成した速度信号（実速度）との差、即ち、速度
誤差を求めるものである。

【００２２】速度制御／位置制御切り換え部１９は、サ
ーボブロック制御部２５からの切り換え信号により、コ
ンパレータ２０の出力（位置誤差信号）と、コンパレー
タ２２の出力（速度誤差信号）とを切り換え、操作量を
パワーアンプ１８に出力するものである。

【００２３】パワーアンプ１８は、前記の操作量に応じ
た出力により、ＶＣＭ９を駆動して、ヘッドの位置決め
を行うものである。オントラック判定回路１７は、オフ
トラック補正部７からのオントラックスライスレベル
と、上位コントローラ２からのヘッド番号と、コンパレ
ータ２０の出力（位置誤差信号）を入力して、オントラ
ックの判定を行うものである。

【００２４】上記オフトラック補正部７は、例えば図２
１のように構成されている。図２１において、アナログ
／ディジタルコンバータ（ＡＧＣ）３３は、リード／ラ
イト制御部３からのオフトラックデータを受け取り、デ
ィジタル信号に変換するものである。

【００２５】演算部３５は、ディジタル化されたオフト
ラックデータをもとに、ワークレジスタ３４を使用して
各種の演算処理を行い、オフトラック補正値とオフトラ
ックスライスレベルのデータを出力するものである。

【００２６】オフトラック補正値レジスタ３６は、上位
コントローラ２からのヘッド番号と、上記オフトラック
補正値を入力し、ヘッド番号に対応したオフトラック補
正値を格納しておくものである。

【００２７】オントラックスライスレジスタ３７は、上
位コントローラ２からのヘッド番号と、上記オントラッ
クスライスレベルを入力し、ヘッド番号に対応したオン
トラックスライスレベルを格納しておくものである。

【００２８】上記リード／ライト制御部３では、機構部
４のデータヘッド１３で読み出したデータ面１４のサー
ボ情報をもとに、オントラックデータを作成するが、そ
の際に使用するオフトラック作成回路は、例えば図２２
のように構成されている。

【００２９】図２２のＡはブロック図、Ｂは回路例であ
る。図示のように、オフトラック作成回路２６は、整流
回路２７と平滑回路２８で構成される。また、整流回路
２７は、例えば図示のようなダイオード２９で構成し、
平滑回路２８は、例えばコンデンサ３０で構成される。

【００３０】上記構成の磁気ディスク装置において、オ
フトラック補正を行うには、例えば次のようにして行っ
ていた。先ず、図２３に示したように、磁気ディスク１
６のサーボ面のみならず、データ面１４の特定領域に、
データ面サーボ情報ＤＳＤを書き込んでおく。

【００３１】このデータ面サーボ情報ＤＳＤは、例えば
トラックセンタに対して、所定量オフセットさせた位置
にパターンＡとパターンＢを交互に書き込む。その後、
イニシャルシーク時、または装置の自動調整等に、デー
タヘッド１３でデータ面サーボ情報ＤＳＤを読み込む。

【００３２】そして、前記データ面サーボ情報ＤＳＤを
用いてオフトラック量を求め、これをメモリに保持して
おき、ヘッド位置付け時に、サーボ面のサーボデータに
加え、このオフトラック量で補正していた。

【００３３】上記オフトラック補正を行う際の各部の波
形を図２４に示す。図２４において、Ａはデータ面サー
ボ情報ＤＳＤ上のデータヘッド１３の軌跡、Ｂはデータ
面サーボ復調器の出力、Ｃはオフトラック補正信号、Ｄ
はオフトラック補正時のポジション信号（位置信号）、
Ｅはオフトラック補正時のデータヘッドの出力を示す。

【００３４】

【発明が解決しようとする課題】上記のような従来のも
のにおいては、次のような課題があった。 (1) 一般に、ディスク機構部は、温度変化、あるいは他
の環境変化があると、微小な変形が起こったりして、狂
いが生じることがある。

【００３５】また、トラックピッチが高密度化すると、
各磁気ディスクの伸縮量の差、スピンドルのふらつき等
による、同一シリンダ間での微小なトラックずれが生じ
て、オフトラックが発生する。

【００３６】そこで、上記のように、サーボ面だけでな
く、データ面にもサーボ情報を書き込んで、オフトラッ
ク補正を行うことが行われていた。しかし、オフトラッ
ク量は時間的に変化するし、また、データヘッドの位置
ずれ量と、サーボヘッドの位置ずれ量が異なる場合もあ
る。

【００３７】このような場合、従来のオフトラック補正
時には、データ面のサーボ情報（ＤＳＤ）を読んでサー
ボ面側の補正を行ったり、サーボ面側のサーボ情報を読
んでデータ面側の補正を行ったりしながら、オフトラッ
ク補正を行う必要があった。

【００３８】従って、オフトラック補正に時間がかか
り、かつ高精度なオフトラック補正を行うことは困難で
あった。 (2) オフトラック量の測定時におけるランダムな位置制
御誤差によって、測定値がばらつくため、有効な測定結
果を得るのに、複数回にわたって試行を行い、平均化を
行う必要があった。

【００３９】このため、測定時間が長くなり、かつ計算
量も多くなる。その結果、資源も多く必要とし、正確な
オフトラック補正も困難であった。本発明は、このよう
な従来の課題を解決し、精度の高いオフトラック補正が
できるようにすると共に、オフトラック量の計測等に要
する時間を短くし、かつ装置の信頼性を向上させること
を目的とする。

【００４０】

【課題を解決するための手段】図１は本発明の原理図で
あり、図１中、図１８〜図２４と同じものは、同一符号
で示してある。

【００４１】また、３８Ａは不揮発メモリ、Ａ、Ｂはサ
ーボデータ、Ｗはデータヘッド１３のコア幅、ａは出力
レベル、ＣＮＴは制御部を示す。本発明は上記の課題を
解決するため、次のように構成した。

【００４２】（１）いずれか一面をサーボ面１５とし、
他の面をすべてデータ面１４とした複数のディスク１６
と、該サーボ面及びデータ面に配置されたサーボヘッド
１２及びデータヘッド１３と、サーボヘッド及びデータ
ヘッドを所望のトラックに位置決めする位置決め機構９
と、該位置決め機構を制御する制御部ＣＮＴとを具備
し、該制御部が、データ面のサーボデータを読み出し、
オフトラック補正データを求めて更新し、該オフトラッ
ク補正データと、サーボ面のサーボ情報を用いて、ヘッ
ド位置決め制御を行うディスク装置のオフトラック補正
方法において、ヘッド位置決めの基準をサーボヘッド１
２のサーボトラック中心とし、該トラック中心から所定
のオフセット量を与えて、上記データ面１４に、ヘッド
位置決め用の一対のサーボデータを書き込み、その後、
所定のオフセット量を与えて、上記一対のサーボデータ
を読んで測定し、その値を用いて、変換係数Ｇ（再生感
度に相当する）を求めておき、上記一対のサーボデータ
から検出したオフトラック量に対し、上記変換係数Ｇを
用いて校正した値で、オフトラック補正を行うようにし
た。

【００４３】(2) 構成（１）において、一対のサーボデ
ータを１組（Ａ、Ｂ）とした。 (3) 構成（２）において、一対のサーボデータＡ、Ｂを
書き込む際、上記トラック中心を挟んで、その両側（シ
リンダのインナ側及びアウタ側）に、等しいオフセット
量を与えて書き込むようにした。

【００４４】(4) 構成（３）において、変換係数Ｇを求
める際、上記トラック中心に対し、その両側（シリンダ
のインナ側及びアウタ側）に等しいオフセット量（ＯＦ
ＦＳＥＴ）を与え、各オフセット量に対応した位置で、
それぞれ一対のサーボデータＡ、Ｂを読むようにした。

【００４５】(5) 構成（４）において、変換係数Ｇを求
める際、各オフセット量に対応した位置毎に、一対のサ
ーボデータを読んで測定したオフトラックの値の差を求
め、誤差の値から、実際のオフトラック量を求めて変換
係数Ｇを求めるようにした。

【００４６】(6) 構成（１）にいて、変換係数Ｇとし
て、一対のサーボデータを読む際に与えたオフセット量
ＯＦＦＳＥＴと、一対のサーボデータを読んで測定した
実際のオフトラック量との比を用いた。

【００４７】(7) 構成（１）において、変換係数Ｇを、
不揮発メモリ３８Ａに格納しておき、該不揮発メモリ３
８Ａから読み出した変換係数Ｇを用いて、上記オフトラ
ック補正データの校正を行うようにした。

【００４８】(8) 構成（１）において、一対のサーボデ
ータを読んで測定したオフトラック量に対し、上記変換
係数Ｇを用いて校正した値（オフセット量）から、更
に、該オフセット量の測定時の位置制御誤差（ＰＯＳ
Ｅ_rr）を差し引いた値（オフトラック量）で、オフトラ
ック補正を行うようにした。

【００４９】(9) 構成（２）において、オフセット量Ｏ
ＦＦＳＥＴあるいはサーボデータＡ、Ｂの値と、実際の
ヘッドのオフトラック量が直線的な関係にない場合、そ
の関係が十分直線的と見なせる小さな区間に分けて、各
区間毎に、上記変換係数を求めるようにした。

【００５０】(10)構成（１）において、一対のサーボデ
ータを複数組（Ａ、Ｂの組、Ｃ、Ｄの組、Ｅ、Ｆの組
等）を用いた。 (11)構成（１０）において、一対のサーボデータを複数
組書き込む際、いずれか１組の一対のデータＡ、Ｂは、
上記トラック中心を挟んで、その両側（シリンダのイン
ナ側及びアウタ側）に書き込み、他の組のデータは、上
記トラック中心から所定量離れた位置を中心として書く
ようにした。

【００５１】(12) 構成（１１）において、変換係数Ｇ
を求める際、上記各組毎に、一対のサーボデータを読ん
で測定し、各組毎の変換係数を求めるようにした。 (13)構成（１２）において、変換係数Ｇを求める際、上
記各組の内、いずれか１組の一対のサーボデータを読ん
で測定し、その値から求めた変換係数を、複数組のサー
ボデータに対する代表値Ｇとして用いた。

【００５２】(14)構成（１）において、上記変換係数
（Ｇ）を求める処理を、工場出荷前の装置組み立て時、
あるいは装置の調整時に行うようにした。 (15)構成（１）において、上記変換係数（Ｇ）を求める
処理を、工場出荷後、ユーザ先において行うようにし
た。

【００５３】(16)構成（１）において、ディスク装置の
機構部と制御部の組み合わせが変わった場合に、上記変
換係数（Ｇ）を求める処理を行うようにした。 (17)構成（１）において、上記変換係数（Ｇ）を用いて
校正した値で行うオフトラック補正を、任意の時間毎に
行うようにした。

【００５４】(18)構成（１）において、ディスク装置の
温度を測定し、測定した温度を条件として、上記変換係
数（Ｇ）を用いて校正した値でオフトラック補正を行う
ようにした。

【００５５】(19)構成（１）においし、ディスク装置の
稼働中におけるエラーを監視し、該エラー情報を条件と
して、上記変換係数（Ｇ）を用いて校正した値でオフト
ラック補正を行うようにした。

【００５６】

【作用】上記構成に基づく本発明の作用を、図１を参照
しながら説明する。図１の（１）図に示した制御部ＣＮ
Ｔ内のオフトラック補正部７では、リード／ライト制御
部３からのオフトラックデータと、上位コントローラか
らのヘッド番号を入力して、オフトラック補正データ
と、オントラックスライスデータを作成する。

【００５７】ヘッド位置決めサーボ制御部５では、サー
ボヘッド１２で読み出したサーボ信号と、オフトラック
補正部７からのオフトラック補正データ等を入力し、上
位コントローラからの指令等に従って、ヘッド位置決め
サーボ制御を行う。

【００５８】このような装置の制御部ＣＮＴ内に、不揮
発メモリ３８Ａを設けておき、この不揮発メモリ３８Ａ
に、変換係数Ｇを求めて格納しておき、キャリブレーシ
ョン実行時に、この変換係数Ｇを用いて、オフトラック
補正データを校正する。

【００５９】上記の変換係数Ｇは、例えば工場出荷時等
の調整時に、その値を求めておき、ユーザ先において、
キャリブレーションを行う時に使用する。このようにす
れば、環境変化、温度変化等により、ヘッド位置決め誤
差が発生しても、常に、正確なオフトラック補正が短時
間で行える。

【００６０】また、オフトラック量の測定時に、該オフ
トラック量測定時の位置制御誤差を差し引いておくこと
により、位置誤差の大小に係わらず、正確なオフトラッ
ク補正を行うことができる。

【００６１】更に、変換係数Ｇを求める際、一対のサー
ボデータを複数組書いておくことにより、広範囲にわた
って、オフトラック量の検出を行うことが可能となり、
より広い範囲で、正確なオフトラック補正を行うことが
できる。

【００６２】

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図２〜図１７は、本発明の実施例を示した図であ
り、図２は磁気ディスク装置のブロック図、図３はヘッ
ド位置決めサーボ制御部のブロック図、図４はオフトラ
ック補正部のブロック図、図５はヘッド位置決めデータ
の説明図、図６は位置決めデータ書き込み処理フローチ
ャート（実施例１）、図７は変換係数を求めるトレーニ
ングシーケンス（実施例１）、図８はオフトラック補正
時の処理フローチャート（実施例１）、図９はオフトラ
ック補正時の処理フローチャート（実施例２）、図１０
は実施例２の波形による説明図、図１１は変換係数の求
め方の例（実施例３）、図１２はヘッド位置決めデータ
の説明図（実施例４）、図１３は位置決めデータ書き込
み処理フローチャート（実施例４）、図１４は変換係数
を求めるトレーニングシーケンス（実施例４）、図１５
は変換係数（Ｇ_X）測定サブルーチンの処理フローチャ
ート（実施例４）、図１６はオフトラック補正時の処理
フローチャート（その１）（実施例４）、図１７はオフ
トラック補正時の処理フローチャート（その２）（実施
例４）である。

【００６３】図２〜図１７中、図１、図１８〜図２４と
同じものは同一符号で示す。また、３８はＥＥＰＲＯＭ
（電気的に書き込み可能なＲＯＭ）を示す。 (1) 実施例で用いる装置の説明・・・図２〜図４参照本発明の実施例で用いるサーボ面サーボ方式の磁気ディ
スク装置は、図２〜図４のように構成されている。

【００６４】この磁気ディスク装置１は、図２に示した
ように、上位コントローラ２、リード／ライト制御部
３、ディスク機構部４、ヘッド位置決めサーボ制御部
５、スピンドルモータ制御部６、オフトラック補正部
７、ＥＥＰＲＯＭ（電気的に消去及び書き込み可能なＲ
ＯＭ）３８等で構成される。

【００６５】なお、図２のブロック図では、ＥＥＰＲＯ
Ｍ３８以外の構成は、上記従来例と同じなので、説明は
省略する。上記ヘッド位置決めサーボ制御部５は、図３
に示したように、オントラック判定回路１７、パワーア
ンプ１８、速度制御／位置制御切り換え回路１９、コン
パレータ２０〜２２、位置信号作成回路２３、速度信号
作成回路２４、サーボブロック制御部３５で構成され
る。

【００６６】このヘッド位置決めサーボ制御部５では、
コンパレータ２０で作成した位置誤差信号（ＰＯＳＥ
_rr）を、オフトラック補正部７へ出力するが、それ以外
の構成は、上記従来例と同じである。

【００６７】上記オフトラック補正部７は、図４に示し
たように、アナログ／ディジタルコンバータ（ＡＤＣ）
３３、ワークレジスタ３４、演算部３５、オフトラック
補正値レジスタ３６、オントラックスライスレジスタ３
７で構成される。

【００６８】この場合、演算部３５には、リード／ライ
ト制御部３からのオフトラックデータと、ヘッド位置決
めサーボ制御部５からの位置誤差信号（ＰＯＳＥ_rr）
と、ＥＥＰＲＯＭ３８からのデータが入力すると共に、
演算部３５の演算結果を、ＥＥＰＲＯＭ３８へ転送でき
るようになっている。

【００６９】なお、オフトラック補正部７の他の構成
は、上記従来例と同じである。 (2) オフトラック補正方法の説明以下の説明において、従来例と同じ部分は、従来例の図
面を援用して説明する。

【００７０】実施例１・・・図５〜図８参照磁気ディスク装置において、オフトラック補正をするに
は、サーボヘッド１２と、データヘッド１３の相対的な
位置ずれ量を計測し、そのずれ量を打ち消す方向にオフ
セットして、データヘッドを位置付けする補償を行う。

【００７１】実施例１では、オフトラック量が充分安定
した状態で、図５の手順に従って、基準となるデータ面
上の位置決めデータ（データ面に書き込むサーボデー
タ）を書き込む。

【００７２】次に、図６に示したトレーニングシーケン
スで、変換係数Ｇを求め、ＥＥＰＲＯＭ３８に格納して
おく。その後、キャリブレーションシークを行って、オ
フトラック量を測定し、測定したオフトラック量をＥＥ
ＰＲＯＭ３８から読み出した変換係数Ｇを用いて校正
し、その値を新たなオフトラック補正用のオフトラック
量として用いるものである。

【００７３】以下、図に基づいて、詳細に説明する。（位置決めデータの説明）・・・図５参照この実施例で使用する位置決めデータ（以下、実施例で
は、パターン又は位置決めパターンという）は、図５の
ように書き込む。

【００７４】図５の（Ａ）に示したように、データヘッ
ド１３のコア幅（シーク方向の幅）をＷとし、データヘ
ッド１３を、トラックセンタに対し、Ｗ／２、−Ｗ／２
だけオフセットして、パターンＡ、Ｂを書き込む。

【００７５】このパターンＡ、Ｂを、トラックセンタに
対し、所定量オフセットして読むと、その出力レベル
は、図５の（Ｂ）のような波形になる。（図５の
（Ｂ）、（Ｃ）の横軸はトラックセンタからのオフトラ
ック量を示し（インナ側を＋とする）、縦軸が出力レベ
ルを示す。）例えば、パターンＡを読む場合、３／２Ｗ
の位置で読むと出力レベルは０、Ｗ位置で読むと出力レ
ベルはａ／２、Ｗ／２の位置で読むと出力レベルはａ
（ｍａｘ）、０の位置（オフセットなし）で読むと出力
レベルはａ／２、−Ｗ／２の位置で読むと出力レベルは
０となる。

【００７６】パターンＢを読む場合は、Ｗ／２の位置で
読むと出力レベルは０、０の位置で読むと出力レベルは
ａ／２、−Ｗ／２の位置で読むと出力レベルはａ（ｍａ
ｘ）、−Ｗの位置で読むと出力レベルはａ／２、−３／
２Ｗの位置で読むと出力レベルは０となる。

【００７７】（なお、トラックセンタからインナ側を＋
で表し、アウタ側を−で表している。）従って、例えば
Ｗ／２の位置で、パターンＡとＢを読むと、パターンＡ
の出力レベルはａで、パターンＢの出力レベルは０であ
るから、Ａ−Ｂの出力レベルはａとなる。

【００７８】また、−Ｗ／２の位置でパターンＡとＢを
読むと、パターンＡの出力レベルは０で、パターンＢの
出力レベルはａであるから、Ａ−Ｂは−ａとなる。更
に、０の位置でパターンＡ、Ｂを読むと、その出力レベ
ルは同じ値（ａ／２）であるから、Ａ−Ｂの出力レベル
は０となる。従って、Ａ−Ｂの出力レベルは図５の
（Ｃ）のようになる。

【００７９】（位置決めデータ書き込み処理の説明）・
・・図６参照（なお、図６の各処理番号はカッコ内に示
す。）先ず、パターンを書くシリンダにシークする。

【００８０】以下、位置決めの基準を、サーボヘッド１
２によるサーボトラック中心とする（Ｓ１）。次に、図
５に示したように、トラック中心からインナ側にＷ／２
（Ｗ：データヘッドのコア幅）だけオフセットし（Ｓ
２）、媒体円周上の点にパターンＡ（位置決め用のパタ
ーン）を書き込む（Ｓ３）。

【００８１】続いて、トラック中心からアウタ側に−Ｗ
／２だけオフセットし（Ｓ４）、媒体円周上のパターン
Ａの近傍にパターンＢを書き込む（Ｓ５）。上記のよう
に、オフセットシークをしながら図５に示したようなパ
ターンＡ、Ｂ（サーボデータ）をデータ面に書き込む
が、この場合のオフセット量（ＯＦＦＳＥＴ）は、−Ｗ
／２≦ＯＦＦＳＥＴ≦Ｗ／２の範囲内で任意に設定して
よい。

【００８２】（ゲインＧを求めるトレーニングシーケン
スの説明）・・・図７参照（なお、図７のＡＰ、ＢＰ、ＳＰ、ＡＭ、ＢＭ、ＳＭ、
Ｓは図４のワークレジスタ３４内の各レジスタを示す。
また、図７の各処理番号は、カッコ内に示す。）この処
理では、先ず、データ面上の位置決めデータ（上記のパ
ターンＡ、Ｂ）が書き込んであるシリンダにシークす
る。

【００８３】以下、位置決めの基準をサーボヘッドによ
るサーボトラック中心とする（Ｓ１１）。次に、トラッ
ク中心からインナ側にＷ／２（Ｗ：データヘッドのコア
幅）だけオフセットし（Ｓ１２）、先に書き込んだパタ
ーンＡ、Ｂを、この順で読み出し、レジスタＡＰ、ＢＰ
にその値を格納する（Ｓ１３）。

【００８４】即ち、前記の状態でパターンＡを読んだ値
をレジスタＡＰに格納し、パターンＢを読んだ値をレジ
スタＢＰに格納する。そして、ＡＰ−ＢＰの演算を、図
４の演算部３５で行い、演算結果をレジスタＳＰに格納
する（Ｓ１４）。

【００８５】次に、トラック中心からアウタ側に−Ｗ／
２だけオフセットし（Ｓ１５）、パターンＡ、Ｂを、こ
の順で読み出し、その値をレベルＡＭ、ＢＭに格納する
（Ｓ１６）。

【００８６】その後、演算部３５により、ＡＭ−ＢＭの
演算を行い、その結果をレジスタＳＭに格納する（Ｓ１
７）。そして、ＳＰ−ＳＭ（レジスタＳＰの値と、レジ
スタＳＭの値の差）の演算を行い、その結果をレジスタ
Ｓに格納し（Ｓ１８）、このレジスタＳの値（実際のオ
フトラック量）と、オフセット量Ｗとの比Ｗ／Ｓを求
め、この値を変換係数Ｇ（オフトラックと実際のオフト
ラック量の比）とする（Ｓ１９）。

【００８７】このようにして求めた変換係数Ｇ（ゲイ
ン）は、ＥＥＰＲＯＭ３８内に格納しておく（Ｓ２
０）。（オフトラック補正時の処理説明）・・・図８参照（なお、図８において、ＡＲ、ＢＲ、ＳＳ、ＯＴは、図
４に示したワークレジスタ３４内の各レジスタを示す。
また、図８の各処理番号は、カッコ内に示す。）この処
理では、先ずデータ面上の位置決めパターンが書き込ん
であるシリンダにシークする。

【００８８】以下、位置決めの基準を、サーボヘッドに
よるサーボトラック中心とする（Ｓ２１）。次に、デー
タヘッド１３により、先に書き込んである位置決めパタ
ーンＡ、Ｂを、この順で読み出し、レジスタＡＲ、ＢＲ
に格納し（Ｓ２２）、レジスタＡＲ、ＢＲの値の差ＡＲ
−ＢＲを演算で求め、その結果をレジスタＳＳに格納す
る（Ｓ２３）。

【００８９】その後演算部３５では、ＥＥＰＲＯＭ３８
に予め格納されている変換係数Ｇを読み出し、レジスタ
ＳＳ内の値と変換係数Ｇとの積ＳＳ×Ｇを求めて校正
し、この値をオフトラック量（オフトラック補正デー
タ）とし、レジスタＯＴに格納する（Ｓ２４）。

【００９０】次に、目標位置Ｃｙｌｃｍｄ（指令値）か
ら、レジスタＯＴの値（ＳＳ×Ｇの値）を差し引いた位
置を、新たな目標位置として（Ｃｙｌｃｍｄ←Ｃｙｌｃ
ｍｄ−ＯＴ）ヘッドの位置決め制御を行う（Ｓ２５）。
このようにして、オフトラック補正を行ったヘッド位置
決め制御ができる。

【００９１】実施例２・・・図９〜図１０参照上記実施例１でオフトラック補正方法を説明したが、サ
ーボ面センタにオントラックして、ずれ量を測定する際
に、常に位置誤差０（ＰＯＳＥ_rr＝０）を保って制御
することは困難である。

【００９２】従って、実施例１で得られたヘッドのずれ
量は、その測定の際の制御誤差を含んだ値となってしま
い、正確なオフトラック量が把握できないことがある。
制御誤差は、種々の要因で発生するが、そのほとんど
は、ヘッド位置決めサーボ系の誤差検出量に現れている
にもかかわらず、制御誤差として残ってしまったものと
考えられる。

【００９３】実施例２では、この点に着目し、実施例１
の処理を更に改善し、より正確なオフトラック補正が行
えるようにしたものである。以下、図面に基づいて、詳
細に説明する。なお、第２実施例においても、図６に示
した位置決めデータ書き込み処理、図７に示したゲイン
Ｇを求めるトレーニングシーケンスは全く同一処理なの
で説明を省略する。

【００９４】（オフトラック補正時の処理説明）・・・
図９参照（なお、図９において、ＰＥ、ＡＲ、ＢＲ、ＳＳ、ＯＴ
₁、ＯＴ₂は、図４のワークレジスタ３４内の各レジス
タを示す。また、図９の各処理番号は、カッコ内に示
す。）先ず、データ面上の位置決めパターンが書き込ん
であるシリンダにシークする。以下、位置決めの基準
を、サーボヘッドによるサーボトラック中心とする（Ｓ
３１）。

【００９５】次に、データ面に予め書き込んである位置
決めパターンＡ、Ｂをこの順で読み出し、その値をレジ
スタＡＲ、ＢＲに格納する。また同時に、演算部３５で
は、ヘッド位置決めサーボ制御部５から位置誤差信号
（ＰＯＳＥ_rr）を受け取ると、その値（ＰＯＳＥ_rr
の値）をレジスタＰＥに格納する（Ｓ３２）。

【００９６】そして、レジスタＡＲ、ＢＲの値の差（Ａ
Ｒ−ＢＲ）を演算して求め、演算結果をレジスタＳＳに
格納する（Ｓ３３）。更に、レジスタＳＳの値と、ＥＥ
ＰＲＯＭ３８から読み出した変換係数Ｇとの積（ＳＳ×
Ｇ）を求め、その値をレジスタＯＴ₁に格納する（Ｓ３
４）。続いて、レジスタＯＴ₁、ＰＥの値の差（ＯＴ₁
−ＰＥ）を求め、その値をレジスタＯＴ₂に格納する
（Ｓ３５）。

【００９７】この処理が終了すると、ヘッド位置決めサ
ーボ制御部５では、目標位置Ｃｙｌｃｍｄからレジスタ
ＯＴ₂の値を差し引いた位置を、新たな目標位置として
（Ｃｙｌｃｍｄ←Ｃｙｌｃｍｄ−ＯＴ₂）、ヘッドの位
置決め制御を行う。

【００９８】上記のようにしてオフトラック補正を行う
が、その状態を図１０に基づいて説明する。図１０の
（Ａ）は、データヘッド１３のオフトラック量（真の
値）であり、オフトラック量が図示のようになっていた
とする。

【００９９】この場合、図１０の（Ｂ）に示したよう
に、サーボ系の制御誤差（ＰＯＳＥ _rr）が発生するた
め、リード／ライト制御部３内のオフトラック信号作成
回路２６の出力信号は、図１０の（Ｃ）に示したように
なる。

【０１００】即ち、オフトラック量が、真のオフトラッ
ク量＋制御誤差（ＰＯＳＥ_rr）となる。そこで、上記
実施例２の処理を行うと、図１０の（Ｄ）に示したよう
に、制御誤差（ＰＯＳＥ_rr）の影響を除去したオフト
ラック量が得られることになる。

【０１０１】実施例３・・・図１１参照実施例３は、図７に示したトレーニングシーケンスで、
変換係数Ｇを求める際、１つの変換係数でなく、多数の
変換係数を求めるようにした例である。

【０１０２】例えば、図８の（Ｂ）に示したパターンＡ
の出力レベル、及びパターンＢの出力レベルが、オフト
ラック量（横軸）に対して直線関係にならない場合があ
る。このような場合には、図８の（Ｃ）に示したＡ−Ｂ
の特性が直線にならず、図１１のような曲線となってし
まう。

【０１０３】そこで、その関係が十分直線的（比例関
係）と見なせる小さな区間に分けて、それぞれの区間で
変換係数（ゲイン）Ｇを求める。即ち、トラックセンタ
に対し、任意のオフトラック量毎に、変換係数Ｇ₁、Ｇ
₂、Ｇ₃、Ｇ₄・・・及びＧ_-1、Ｇ_-2、Ｇ_-3、Ｇ_-4・・
・等を求める。

【０１０４】この変換係数は、図７に示した処理と同様
にして求めるが、パターンＡ、Ｂを読む時のオフセット
量を変えながら、それぞれのオフセット量に対応した変
換係数を求めればよい。

【０１０５】そして、求めた各変換係数は、ＥＥＰＲＯ
Ｍ３８内にテーブルデータとして格納しておき、この値
を用いてオフトラック補正を行えばよい。実施例４・・・図１２〜図１７参照この実施例は、ヘッド位置決めパターンの数を増やすこ
とにより、更に広範囲のオフトラックが検出できるよう
にした場合の例である。

【０１０６】前記ヘッド位置決めパターンは、例えば図
１２のように設定する。この例では、パターンＣ、Ｄの
組、パターンＡ、Ｂの組、パターンＥ、Ｆの組の合計３
組のパターンで構成する。

【０１０７】図１２において、ＭはパターンＡ、Ｂで測
定できる範囲を示し、ＮはパターンＡ、Ｂの組とパター
ンＣ、Ｄの組とパターンＥ、Ｆの組を用いて測定できる
範囲を示している。

【０１０８】（位置決めデータ書き込み処理の説明）・
・・図１３参照（なお、図１３の各処理番号はカッコ内
に示す。）データヘッド１３により、データ面１４に位
置決めパターン（図１２のパターンＡ〜Ｆ）を書き込む
には、次のようにして行う。

【０１０９】先ず、位置決めパターンを書くシリンダに
シークする。以下位置決めの基準をサーボヘッドによる
サーボトラック中心とする（Ｓ４１）。次に、トラック
中心からＰ₁オフセットし、パターンＣを書き（Ｓ４
２）、トラック中心からＰ₁−Ｗオフセットしパターン
Ｄを書く（Ｓ４３）。

【０１１０】その後、トラック中心からＰ₁と同方向に
Ｗ／２オフセットし、パターンＡを書き（Ｓ４４）、ト
ラック中心からＰ₂と同方向にＷ／２オフセットし、パ
ターンＢを書く（Ｓ４５）。

【０１１１】続いて、トラック中心からＰ₂＋Ｗオフセ
ットしパターンＥを書き（Ｓ４６）、トラック中心から
Ｐ₂オフセットしパターンＦを書く（Ｓ４７）。以上の
処理により、図１２に示したようなパターンＡ〜Ｆを書
き込む。

【０１１２】ただし、Ｐ₁≦３／２Ｗ、Ｐ₂≦３／２Ｗ
の範囲内とする。（変換係数Ｇを求めるトレーニングシーケンスの説明）
・・・図１４、図１５参照（なお、図１４、図１５において、ＸＭ、ＹＭ、ＳＭ、
ＳＰ、ＸＰ、ＹＰ、Ｓ等はレジスタを示す。また、図１
４、図１５の各処理番号はカッコ内に示す。）この処理
では、上記のようにして書き込んだパターン（図１２参
照）を読んで測定し、変換係数（ゲイン）Ｇを求める
が、この例では、パターンの組（ＣとＤ、ＡとＢ、Ｅと
Ｆ）が３つあるので、各々個別な変換係数Ｇを求める際
のトレーニングシーケンスである。

【０１１３】先ず、データ面上の位置決めパターンが書
き込んであるシリンダにシークする（Ｓ５１）。そし
て、位置決めの基準をサーボヘッドによるサーボトラッ
ク中心として（Ｓ５２）、変換係数測定サーブルーチン
（後述する図１５の処理）を行う（Ｓ５３）。

【０１１４】この処理で求めた変換係数Ｇ_XをＧ_AB（パ
ターンＡ、Ｂを測定して求めた変換係数）とする（Ｓ５
４）。次に、位置決めの基準を、サーボヘッドによるサ
ーボトラックよりＰ₁−Ｗ／２として（Ｓ５５）、変換
係数測定サブルーチンの処理を行う（Ｓ５６）。

【０１１５】この処理で求めた変換係数Ｇ_XをＧ_CD（パ
ターンＣ、Ｄを測定して求めた変換係数）とする（Ｓ５
７）。次に、位置決めの基準を、サーボヘッドによるサ
ーボトラックよりＰ₂＋Ｗ／２の位置として（Ｓ５
８）、変換係数測定サブルーチン処理を行う（Ｓ５
９）。

【０１１６】この処理で求めた変換係数Ｇ_XをＧ_EF（パ
ターンＥ、Ｆを測定して求めた変換係数）とする（Ｓ６
０）。以上の処理で求めた変換係数Ｇ_AB、Ｇ_CD、Ｇ
_EFは、ＥＥＰＲＯＭ３８に格納しておく。

【０１１７】上記変換係数測定サブルーチンの処理は、
図１５のようにして行う。先ず、基準位置からインナ側
にＷ／２オフセットし（Ｓ６１）、１組のパターンの値
を読み出し、レジスタＸＰ、ＹＰにその値を格納する
（Ｓ６２）。

【０１１８】そして、レジスタＸＰ、ＹＰの値の差（Ｘ
Ｐ−ＹＰ）を求め、レジスタＳＰに格納しておく（Ｓ６
３）。次に、基準位置からのアウタ側にＷ／２オフセッ
トし（Ｓ６４）、１組のパターンの値を読み出し、レジ
スタＸＭ、ＹＭにその値を格納する（Ｓ６５）。

【０１１９】そして、レジスタＸＭ、ＹＭの値の差（Ｘ
Ｍ−ＹＭ）を求め、レジスタＳＭに格納しておく（Ｓ６
６）。その後、レジスタＳＰ、ＳＭの値の差（ＳＰ−Ｓ
Ｍ）を求めてレジスタＳに格納しておき（Ｓ６７）、こ
のレジスタＳの値と、データヘッドのコア幅Ｗとの比Ｗ
／２を求め、この値を変換係数Ｇ_Xとする（Ｓ６８）。

【０１２０】以上の処理が終了すると、メインルーチン
（図１４の処理）へリターンする。なお、上記の各レジ
スタは、ワークレジスタ３４内のレジスタであり、上記
各演算は、演算部３５（図４参照）が行う。

【０１２１】（オフトラック補正時の処理説明）・・・
図１６、図１７参照図１６、１７において、Ａ、Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆは、図
１２の各パターンを読んだ値（出力レベル）を示し、Ａ
Ｒ、ＢＲ、Ｃｏｍｐ、ＯＴ、ＳＳはレジスタを示す。ま
た図１６、１７の各処理番号はカッコ内に示す。

【０１２２】この処理では、データ面に書き込んだパタ
ーンＡ〜Ｆを読んで測定して（１組のパターン毎に測
定）、オフトラック量を求め、この値をＥＥＰＲＯＭ３
８から読み出した変換係数Ｇを用いて校正し、新たなオ
フトラック補正データとするものである。

【０１２３】先ず、データ面上の位置決めパターンが書
き込まれているシリンダにシークする。以下位置決めの
基準をサーボヘッドによるサーボトラック中心とする
（Ｓ７１）。

【０１２４】次に、パターンＡＢＣＤＥＦの各値を読ん
で（Ｓ７２）、比較処理（Ｓ７３〜Ｓ７１）を行う。こ
の処理において、Ｓ７３、Ｓ７４の処理では、パターン
Ｂ、Ｃのレベルを比較して、データヘッドが図１２のＳ
₁〜Ｓ₇の区間内を２分した内のどちら側にあるかを調
べる。

【０１２５】また、Ｓ７７、Ｓ７５の処理では、パター
ンＡ、Ｆのレベルを比較して、データヘッドが、図１２
に示したＳ₂〜Ｓ₈の区間内を２分した内のどちら側に
あるかを調べ、Ｓ７３、Ｓ７４の結果と照らし合わせ
て、読み出したパターンが正常であるか否かを検査す
る。

【０１２６】矛盾があれば、データ面のサーボパターン
のエラー（Ｓ８６）として処理を終了する。Ｓ７８の処
理では、読み出したパターンが正常であるかを検査し、
矛盾があればエラーとして（Ｓ８６）処理を終了する。

【０１２７】上記Ｓ７３、Ｓ７４、Ｓ７８、Ｓ７５の判
定によってパターンＡとＢの組でオフトラック量を検出
する（Ｓ８０）。Ｓ８０の処理では、パターンＡ、Ｂの
組のセンタ位置は、サーボトラックセンタに対し、オフ
セット０の位置で書かれており、Ｓ８３以降の処理で求
まるオフトラック値に対して補正は不要である。

【０１２８】従って、この場合Ｃｏｍｐ＝０とする。ま
たパターンＡ、Ｂの値をそれぞれレジスタＡＲ、ＢＲに
格納しておく。上記Ｓ７３、Ｓ７４、Ｓ７７の判定処理
によって、パターンＣとＤの組でオフトラック量を検出
する（Ｓ８１）。

【０１２９】Ｓ８１の処理では、パターンＣとＤの組の
センタ位置は、サーボトラックセンタに対して、Ｐ₁−
Ｗ／２だけオフセットした位置で書かれており、Ｓ８３
以降の処理で求まるオフトラック値に対して、上記の量
（Ｐ₁−Ｗ／２）だけ補正する必要がある。

【０１３０】従って、この場合はＣｏｍｐ＝Ｐ₁−Ｗ／
２とする。またパターンＣ、Ｄの値はそれぞれレジスタ
ＡＲ、ＢＲに格納しておく。上記Ｓ７３、Ｓ７５、Ｓ７
６の判定処理によって、パターンＥとＦの組でオフトラ
ック量を検出する（Ｓ８２）。

【０１３１】Ｓ８２の処理では、パターンＥとＦの組の
センタ位置は、サーボトラックセンタに対してＰ₂＋Ｗ
／２だけオフセットした位置で書かれており、Ｓ８３以
降の処理で求まるオフトラック値に対して、上記の量
（Ｐ₂＋Ｗ／２）だけ補正する必要である。

【０１３２】従って、この場合はＣｏｍｐ＝Ｐ₂＋Ｗ／
２とする。また、パターンＥ、Ｆの値はそれぞれレジス
タＡＲ、ＢＲに格納しておく。次に、レジスタＡＲ、Ｂ
Ｒの値の差（ＡＲ−ＢＲ）を求め、レジスタＳＳに格納
しておく（Ｓ８３）。そして、レジスタＳＳの値と、Ｅ
ＥＰＲＯＭ３８内に格納されている変換係数（ゲイン）
Ｇとの積ＳＳ×Ｇを求め、レジスタＯＴに格納する（Ｓ
８４）。

【０１３３】その後、上記処理Ｓ８０、Ｓ８１、Ｓ８２
で求めたレジスタＣｏｍｐの値を用いてオフトラック量
の補正（ＯＦＦＴＲＡＣＫ←ＯＴ＋Ｃｏｍｐ）を行う
（Ｓ８５）。

【０１３４】即ち、レジスタＯＴの値（ＳＳ×Ｇ）に、
レジスタＣｏｍｐの値を加えたものを、補正後のオフト
ラック量とする。なお、上記の処理で、パターンＡ、
Ｂ、Ｃ、Ｄ、Ｅ、Ｆの組み合わせで存在しない組み合わ
せが検出された場合には、データ面サーボパターンのエ
ラーとして（Ｓ８６）処理を終了する。

【０１３５】上記のようにしてオフトラック量が決まる
と、このオフトラック量は、オフトラック補正値レジス
タ３６（図４参照）に格納される。そして、ヘッド位置
決めサーボ制御部５では、オフトラック補正値レジスタ
３６からオフトラック補正データを読み出して、ヘッド
の位置決め制御を行う。

【０１３６】（他の実施例）以上実施例について説明し
たが、本発明は次のようにしても実施可能である。 (1) 変換係数（ゲイン）Ｇを求めるトレーニングシーケ
ンスは、例えば、次のような場合に行う。

【０１３７】ａ、工場出荷前の装置組み立て時、あるい
は装置の調整時に行う。ｂ、工場出荷後、ユーザ先において、例えば機構部と制
御部の組み合わせが変わったときに行う。

【０１３８】なお、この処理は、人が手操作で行っても
よく、また、機構部と制御部の組み合わせが変わったこ
とを自動的に検出して行ってもよい。この自動検出を行
うには、例えば、保守単位（出荷後に分解、修理される
可能性のある最小の区分）の部品毎に、単一かつ唯一の
ＩＤ番号を持ち、この値を読み出すことで、組み合わせ
が変わったことを検出して行えばよい。

【０１３９】(2) オフトラック補正時の処理（図８、図
９、図１６、図１７のキャリブレーションを含む処理）
は、次の場合に実行すればよい。ａ、一定時間毎に実行ｂ、任意の時間毎に実行ｃ、装置中、温度によって特性の変化する箇所に温度セ
ンサを設定し、温度を条件として実行ｄ、装置始動時は頻繁に、そして、時間経過と共に、そ
の間隔を長くして実行ｅ、シークエラーレートを監視し、規格を割ったら実行ｆ、リード／ライトのエラーレートを監視し、規格を割
ったら実行ｇ、装置がエラーを検出する毎に実行ｈ、人間がスイッチ等を操作することにより実行 (3) 実施例４におけるオフトラック補正時の処理（図１
６、図１７に示したキャリブレーションを含む処理）に
おいて、測定したオフトラック量を、変換係数Ｇで補正
した後、図９の処理と同様に、位置制御誤差（位置誤差
ＰＯＳＥ_rr）の値を差し引いた値でオフトラック補正
すれば、より精度の高いオフトラック補正が可能とな
る。

【０１４０】(4) 実施例４において、書き込むパターン
の数を更に増やし、一対のパターンＣ、Ｄ、Ａ、Ｂ、
Ｅ、Ｆの組より更に外側にパターンを書いてもよい。こ
のようにすれば更に広い範囲にわたってオフトラック量
の検出が可能となる。

【０１４１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような効果がある。 (1) 従来のように、測定データの平均化を行う必要もな
く、測定等に要する時間が短くなる。また、装置の応答
時間も短くなる。

【０１４２】(2) サーボヘッドを基準として、データヘ
ッドのオフトラック量を計測する時に、データヘッドの
ずれ量の測定結果は、サーボヘッドの真のトラックセン
タからのずれ量を含んでいるが、本発明では、このよう
な位置誤差を除去しているため、正確なオフトラック補
正ができる。

【０１４３】(3) サーボ面サーボ方式の長所を生かし、
かつ原理的に発生するオフトラックを正確に補正でき
る。 (4) オフトラックを正確に補正できるため、誤ってずれ
た位置で、データの書き込みや読み出しを行うことがな
く、常にデータトラックの中心で書き込みや読み出しが
行える。

【０１４４】従って、オフトラックに起因するデータエ
ラーを大幅に減少させることができ、装置の信頼性、生
産性の歩留まりの向上に寄与する。 (5) 装置を分解することなく、データヘッドのオフトラ
ック状態を正確に測定することができる。

【０１４５】そして、測定したオフトラック量を監視す
ることによって、装置の機械的な異常を早期に、かつ迅
速に検出することができる。従って、装置の信頼性が向
上する。

【０１４６】また、装置の維持、管理に掛かる費用を大
幅に削減することができ、安価な装置を提供できる。 (6) 変換係数Ｇを求める際、トラックセンタを挟んで、
その両側に等しいオフセット量を与えてサーボデータを
書き込むことにより、０付近の非直線的な特性に左右さ
れずに変換係数を求めることができる。

【０１４７】その結果、正確なオフトラック補正が可能
となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の原理図である。

【図２】本発明の実施例における磁気ディスク装置のブ
ロック図である。

【図３】実施例のヘッド位置決めサーボ制御部のブロッ
ク図である。

【図４】実施例のオフトラック補正部のブロック図であ
る。

【図５】ヘッド位置決めデータの説明図である。

【図６】実施例１の位置決めデータ書き込み処理フロー
チャートである。

【図７】実施例１の変換係数を求めるトレーニングシー
ケンスである。

【図８】実施例１のオフトラック補正時の処理フローチ
ャートである。

【図９】実施例２におけるオフトラック補正時の処理フ
ローチャートである。

【図１０】実施例２の波形による説明図である。

【図１１】変換係数の求め方の他の例（実施例３）であ
る。

【図１２】実施例４におけるヘッド位置決めパターンの
説明図である。

【図１３】実施例４における位置決めデータ書き込み処
理フローチャートである。

【図１４】実施例４の変換係数を求めるトレーニングシ
ーケンスである。

【図１５】実施例４の変換係数測定サブルーチンの処理
フローチャートである。

【図１６】実施例４のオフトラック補正時の処理フロー
チャート（その１）である。

【図１７】実施例４のオフトラック補正時の処理フロー
チャート（その２）である。

【図１８】従来の磁気ディスク装置のブロック図であ
る。

【図１９】従来のディスク機構部の説明図である。

【図２０】従来のヘッド位置決めサーボ制御部のブロッ
ク図である。

【図２１】従来のオフトラック補正部のブロック図であ
る。

【図２２】従来のオフトラック信号作成回路の説明図で
ある。

【図２３】従来のオフトラック補正の説明図（その１）
である。

【図２４】従来のオフトラック補正の説明図（その２）
である。

【符号の説明】

ＣＮＴ制御部３リード／ライト制御部５ヘッド位置決めサーボ制御部７オフトラック補正部９ＶＣＭ（ボイスコイルモータ）１１スピンドル１２サーボヘッド１３データヘッド１４データ面１５サーボ面１６磁気ディスク３８Ａ不揮発メモリＷデータヘッドのコア幅Ａ、Ｂサーボデータ

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】何れか一面をサーボ面とし、他の面をデー
タ面とした複数のディスクと、前記サーボ面及びデータ面に配置されたサーボヘッド及
びデータヘッドと、前記サーボヘッドを前記サーボ面の所望のサーボトラッ
クに位置決めする位置決め機構とを備え、前記サーボヘッドを所望のサーボトラックに位置決めす
る際、予め定められた前記サーボヘッドと前記データヘ
ッドのオフセット量をオフセットさせて前記サーボヘッ
ドを位置決めすることにより、前記データヘッドを所望
のデータトラックに位置決めする、ディスク装置のオフ
セット補正方法において、前記サーボヘッドを所定のサーボトラックに対して内周
側及び外周側に所定のオフセット量を与えて位置決めし
ながら、前記データヘッドにより前記データ面に、内周
側にオフセットした第一のサーボデータと外周側にオフ
セットした第二のサーボデータを書き込み、その後、前記サーボヘッドを前記所定のサーボトラック
に対して内周側及び外周側に所定のオフセット量を与え
て位置決めしながら、前記データヘッド毎に前記データ
ヘッドにより前記第一及び第二のサーボデータの再生出
力を検出し、前記データ毎に、前記サーボヘッドを内周側にオフセッ
トさせた時の前記第一及び第二のサーボデータの再生出
力の差分である第一の検出値と、前記サーボヘッドを外
周側にオフセットさせた時の前記第一及び第二のサーボ
データの再生出力の差分である第二の検出値を求め、前記データヘッド毎に、前記第一及び第二の検出値の差
分により前記データヘッドの再生感度を求め、前記サーボヘッドと前記データヘッドのオフセット量を
求める際、前記サーボヘッドを前記所定のサーボトラッ
クに位置決めしながら、前記データヘッド毎に、前記第
一及び第二のサーボデータの再生出力の差分である第三
の検出値を求め、前記第三の検出値に前記再生感度を乗
ずることにより、オフセット量を求めることを特徴とす
るディスク装置のオフセット補正方法。
【請求項２】上記一対のサーボデータから検出したオフ
トラック量（ＳＳ）に対し、上記再生感度を用いて校正した値（ＯＴ_１）から、更に、上記オフトラック量検出時の位置制御誤差（ＰＯ
ＳＥｒｒ）を差し引いた値でオフトラック補正を行う
ことを特徴とした請求項１記載のディスク装置のオフト
ラック補正方法。
【請求項３】上記オフセット量（ＯＦＦＳＥＴ）あるい
はサーボデータ（Ａ、Ｂ）の値と、実際のヘッドのオフ
トラック量が直線的な関係にない場合、その関係が十分直線的と見なせる小さな区間に分けて、
各区間毎に、上記再生感度を求めることを特徴とした請
求項１記載のディスク装置のオフトラック補正方法。
【請求項４】上記一対のサーボデータが複数組（ＡとＢ
の組、ＣとＤの組、ＥとＦの組等）であることを特徴と
した請求項１記載のディスク装置のオフトラック補正方
法。
【請求項５】上記一対のサーボデータを複数組書き込む
際、いずれか１組の一対のデータ（Ａ、Ｂ）は、上記トラッ
ク中心を挟んで、その両側（シリンダのインナ側および
アウタ側）に書き込み、他の組のデータ（ＣとＤ、ＥとＦ等）は、上記トラック
中心から所定量離れた位置を中心として書くことを特徴
とした請求項４記載のディスク装置のオフトラック補正
方法。
【請求項６】上記再生感度を求める際、上記各組毎に、所定のオフセット量を与えて一対のサー
ボデータ（Ａ、Ｂの組、Ｃ、Ｄの組、Ｅ、Ｆの組等）を
読んで測定し、各組毎の再生感度を求めることを特徴とした請求項５記
載のディスク装置のオフトラック補正方法。
【請求項７】上記再生感度を求める際、上記各組の内、いずれか１組の一対のサーボデータ（例
えばＡ、Ｂの組）を読んで測定し、その値から求めた再生感度を、複数組のサーボデータに
対する代表値（Ｇ）として用いることを特徴とした請求
項６記載のディスク装置のオフトラック補正方法。
【請求項８】上記再生感度を求める処理を、工場出荷前
の装置組み立て時、あるいは装置の調整時に行うことを
特徴とした請求項１記載のディスク装置のオフトラック
補正方法。
【請求項９】上記再生感度を求める処理を、工場出荷
後、ユーザ先において行うことを特徴とした請求項１記
載のディスク装置のオフトラック補正方法。
【請求項１０】ディスク装置の機構部と制御部の組み合
わせが変わった場合に、上記再生感度を求める処理を行
うことを特徴とした請求項９記載のディスク装置のオフ
トラック補正方法。
【請求項１１】上記再生感度を用いて校正した値で行う
オフトラック補正を、任意の時間毎に行うことを特徴と
した請求項１記載のディスク装置のオフトラック補正方
法。
【請求項１２】ディスク装置の温度を測定し、測定した
温度を条件として、上記再生感度を用いて校正した値で
オフトラック補正を行うことを特徴とした請求項１記載
のディスク装置のオフトラック補正方法。
【請求項１３】ディスク装置の稼働中におけるエラーを
監視し、該エラー情報を条件として、上記再生感度を用
いて校正した値でオフトラック補正を行うことを特徴と
した請求項１記載のディスク装置のオフトラック補正方
法。