JP2707675B2 - 光磁気デイスク装置 - Google Patents
光磁気デイスク装置Info
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Description
【発明の詳細な説明】 以下の順序で本発明を説明する。
Ａ 産業上の利用分野 Ｂ 発明の概要 Ｃ 従来の技術 Ｄ 発明が解決しようとする問題点 Ｅ 問題点を解決するための手段（第１図、第５図及び
第６図） Ｆ 作用（第１図、第５図及び第６図） Ｇ 実施例 （G1）第１の実施例（第１図〜第３図） （G2）第２の実施例（第４図及び第５図） （G3）第３の実施例（第６図及び第７図） （G4）他の実施例（第８図） Ｈ 発明の効果 Ａ 産業上の利用分野 本発明は光磁気デイスク装置に関し、例えば記録情報
を光磁気デイスク上に重書き記録し得るようになされた
光磁気デイスク装置に適用して好適なものである。
第６図） Ｆ 作用（第１図、第５図及び第６図） Ｇ 実施例 （G1）第１の実施例（第１図〜第３図） （G2）第２の実施例（第４図及び第５図） （G3）第３の実施例（第６図及び第７図） （G4）他の実施例（第８図） Ｈ 発明の効果 Ａ 産業上の利用分野 本発明は光磁気デイスク装置に関し、例えば記録情報
を光磁気デイスク上に重書き記録し得るようになされた
光磁気デイスク装置に適用して好適なものである。
Ｂ 発明の概要 第１の発明は、記録用の第１の光スポツトがパルス状
に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置に
おいて、第１の光スポツトが形成される記録トラツク
に、所定間隔だけ後行して第２の光スポツトを形成し、
その戻り光に基づいて、第１の光スポツトで磁気記録さ
れた記録情報を検出するようにしたことにより、記録情
報を記録とほぼ同時に検出し得る。
に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置に
おいて、第１の光スポツトが形成される記録トラツク
に、所定間隔だけ後行して第２の光スポツトを形成し、
その戻り光に基づいて、第１の光スポツトで磁気記録さ
れた記録情報を検出するようにしたことにより、記録情
報を記録とほぼ同時に検出し得る。
また第２の発明は、記録用の第１の光スポツトがパル
ス状に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク装
置において、記録トラツク上に形成される第１及び第２
の光スポツトのスポツト間隔を、記録情報の最短ピツト
長の略整数倍に選定したことにより、確実に記録情報を
記録とほぼ同時に検出し得る。
ス状に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク装
置において、記録トラツク上に形成される第１及び第２
の光スポツトのスポツト間隔を、記録情報の最短ピツト
長の略整数倍に選定したことにより、確実に記録情報を
記録とほぼ同時に検出し得る。
さらに第３の発明は、記録用の第１の光スポツトがパ
ルス状に角速度一定で回転する光磁気デイスクに照射さ
れる磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置において、
記録トラツク上に形成される第１及び第２の光スポツト
のスポツト間隔を、第１の光スポツトが形成される記録
トラツク情報に応じて変更制御するようにしたことによ
り、光磁気デイスクが角速度一定で回転する場合にも、
確実に記録情報を記録とほぼ同時に検出し得る。
ルス状に角速度一定で回転する光磁気デイスクに照射さ
れる磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置において、
記録トラツク上に形成される第１及び第２の光スポツト
のスポツト間隔を、第１の光スポツトが形成される記録
トラツク情報に応じて変更制御するようにしたことによ
り、光磁気デイスクが角速度一定で回転する場合にも、
確実に記録情報を記録とほぼ同時に検出し得る。
さらに第４の発明は、記録用の第１の光スポツトがパ
ルス状に角速度一定で回転する光磁気デイスクに照射さ
れる磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置において、
第１の光スポツトが形成される記録トラックの後行側
に、所定間隔毎に複数の光スポツトを形成し、その戻り
光によつて得られる複数の受光出力を、第１の光スポツ
トが形成される記録トラツク情報に応じて合成して、第
１の光スポツトで磁気記録された記録情報を検出するよ
うにしたことにより、光磁気デイスクが角速度一定で回
転する場合にも簡易な構成で確実に記録情報を記録とほ
ぼ同時に検出し得る。
ルス状に角速度一定で回転する光磁気デイスクに照射さ
れる磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置において、
第１の光スポツトが形成される記録トラックの後行側
に、所定間隔毎に複数の光スポツトを形成し、その戻り
光によつて得られる複数の受光出力を、第１の光スポツ
トが形成される記録トラツク情報に応じて合成して、第
１の光スポツトで磁気記録された記録情報を検出するよ
うにしたことにより、光磁気デイスクが角速度一定で回
転する場合にも簡易な構成で確実に記録情報を記録とほ
ぼ同時に検出し得る。
Ｃ 従来の技術 従来、光磁気デイスク装置においては、垂直磁気異方
性を有する垂直磁化膜でなる光磁気デイスクの磁化特性
がキユーリ温度TCを境にして大きく変化することを利用
して、所望の記録情報を磁気記録するようになされてい
る。
性を有する垂直磁化膜でなる光磁気デイスクの磁化特性
がキユーリ温度TCを境にして大きく変化することを利用
して、所望の記録情報を磁気記録するようになされてい
る。
すなわち、光磁気デイスクの垂直磁化膜は、その保磁
力HCがキユーリ温度TCで急激に減少する磁化特性を有
し、従つて垂直磁化膜を一旦キユーリ温度TC以上に暖め
た状態で外部磁界を印加し、この後光磁気デイスクをキ
ユーリ温度TC以下に冷却することにより、垂直磁化膜の
磁化方向を外部磁界の向きに配向し得る。
力HCがキユーリ温度TCで急激に減少する磁化特性を有
し、従つて垂直磁化膜を一旦キユーリ温度TC以上に暖め
た状態で外部磁界を印加し、この後光磁気デイスクをキ
ユーリ温度TC以下に冷却することにより、垂直磁化膜の
磁化方向を外部磁界の向きに配向し得る。
かかる磁化原理に基づいて、重書き記録いわゆるオー
バライト可能な磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置
においては、光ビームを連続的に照射して光磁気デイス
ク上に光スポツトを走査させることにより、光磁気デイ
スク上の所定領域をキユーリ温度TC以上に暖めると共
に、磁気ヘツドを用いて基準クロツク信号のタイミング
で記録情報に応じて極性が反転する変調磁界を印加す
る。
バライト可能な磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置
においては、光ビームを連続的に照射して光磁気デイス
ク上に光スポツトを走査させることにより、光磁気デイ
スク上の所定領域をキユーリ温度TC以上に暖めると共
に、磁気ヘツドを用いて基準クロツク信号のタイミング
で記録情報に応じて極性が反転する変調磁界を印加す
る。
このようにすれば、光スポツトが照射された領域は、
一旦キユーリ温度TC以上に暖められた後、光スポツトが
通過することによつて自然冷却され、キユーリ温度TC以
下になるタイミングで、印加された変調磁界の向きに配
向される。
一旦キユーリ温度TC以上に暖められた後、光スポツトが
通過することによつて自然冷却され、キユーリ温度TC以
下になるタイミングで、印加された変調磁界の向きに配
向される。
かくして光磁気デイスク上に、すでに磁化パターンが
形成されている場合でも、基準クロツク信号の周期で光
スポツトの走査軌跡に、変調磁界に応じて配向された微
少領域（以下ピツトと呼ぶ）が順次形成され、これによ
り光磁気デイスク上に所望の記録情報をオーバライトし
得るようになされている。
形成されている場合でも、基準クロツク信号の周期で光
スポツトの走査軌跡に、変調磁界に応じて配向された微
少領域（以下ピツトと呼ぶ）が順次形成され、これによ
り光磁気デイスク上に所望の記録情報をオーバライトし
得るようになされている。
Ｄ 発明が解決しようとする問題点 ところでかかる構成の光磁気デイスク装置において、
単一のレーザ光源から射出された光ビームを、例えばグ
レーテイングを介して０次光及び±１次光でなる３本の
光ビームに整形して、記録情報の確認用（いわゆる照合
用）の光スポツトを形成するようになされた光磁気デイ
スク装置が提案されている（特開昭62−252552号公
報）。
単一のレーザ光源から射出された光ビームを、例えばグ
レーテイングを介して０次光及び±１次光でなる３本の
光ビームに整形して、記録情報の確認用（いわゆる照合
用）の光スポツトを形成するようになされた光磁気デイ
スク装置が提案されている（特開昭62−252552号公
報）。
すなわち、このような光磁気デイスク装置において
は、０次光でなる光ビームを用いて光磁気デイスク上に
所望の記録情報をオーバライトすると共に、±１次光で
なる２本の光ビームを０次光でなる光ビームが照射され
る記録トラツク上で０次光でなる光ビームに対して所定
間隔だけ前後に配置し、０次光でなる光ビームに先行す
る光ビームで、アドレス読み取り用の光スポツトを形成
すると共に、後行する光ビームで、照合用の光スポツト
を形成するようになされている。
は、０次光でなる光ビームを用いて光磁気デイスク上に
所望の記録情報をオーバライトすると共に、±１次光で
なる２本の光ビームを０次光でなる光ビームが照射され
る記録トラツク上で０次光でなる光ビームに対して所定
間隔だけ前後に配置し、０次光でなる光ビームに先行す
る光ビームで、アドレス読み取り用の光スポツトを形成
すると共に、後行する光ビームで、照合用の光スポツト
を形成するようになされている。
ところが、かかる構成の光磁気デイスク装置のよう
に、光ビームを照射した後自然冷却する場合には、光ス
ポツトが走査した後キユーリ温度TC以下に温度降下する
までの時間が光磁気デイスク自体の温度特性に応じて変
化し、この場合光磁気デイスク自体の温度特性に応じて
基準クロツク信号に対してピツトの形成位置が変化する
問題がある。
に、光ビームを照射した後自然冷却する場合には、光ス
ポツトが走査した後キユーリ温度TC以下に温度降下する
までの時間が光磁気デイスク自体の温度特性に応じて変
化し、この場合光磁気デイスク自体の温度特性に応じて
基準クロツク信号に対してピツトの形成位置が変化する
問題がある。
従つて、例えば予め光磁気デイスク上に形成されたプ
リピツトから基準クロツク信号を形成する場合、当該プ
リピツトに対してピツトの形成位置が変化し、プリピツ
トを基準にした記録情報の再生が困難になる（すなわ
ち、プリピツトから得られる再生信号の位相に対して、
位相ずれが発生する）。
リピツトから基準クロツク信号を形成する場合、当該プ
リピツトに対してピツトの形成位置が変化し、プリピツ
トを基準にした記録情報の再生が困難になる（すなわ
ち、プリピツトから得られる再生信号の位相に対して、
位相ずれが発生する）。
さらに、隣接するピツトとの間で配向の変化を確実に
検出して記録情報を再生するためには、隣接するピツト
間で配向が急峻に反転する磁化パターンを形成する必要
がある。
検出して記録情報を再生するためには、隣接するピツト
間で配向が急峻に反転する磁化パターンを形成する必要
がある。
従つて、光ビームを連続的に照射する場合において
は、変調磁界を形成する磁気ヘツド及びその磁気ヘツド
を駆動する駆動回路として周波数特性の優れたものを選
択して、変調磁界の極性を急激に反転させる必要があ
り、その分全体の構成が複雑になる問題がある。
は、変調磁界を形成する磁気ヘツド及びその磁気ヘツド
を駆動する駆動回路として周波数特性の優れたものを選
択して、変調磁界の極性を急激に反転させる必要があ
り、その分全体の構成が複雑になる問題がある。
本発明は以上の点を考慮してなされたもので、全体と
して簡易な構成で、基準クロツク信号のタイミングに対
して正しい位置にピツトを形成することができ、かつ記
録情報を記録と同時に検出し得る光磁気デイスク装置を
提案しようとするものである。
して簡易な構成で、基準クロツク信号のタイミングに対
して正しい位置にピツトを形成することができ、かつ記
録情報を記録と同時に検出し得る光磁気デイスク装置を
提案しようとするものである。
Ｅ問題点を解決するための手段 かかる問題点を解決するため第１の発明においては、
所定の基準クロツク信号SCKのタイミングで、順次光磁
気デイスク４の記録トラツクTR上に第１の光スポツトSP
RWを形成すると共に、基準クロツク信号SCKに同期して
記録情報DTRECに応じて極性が反転する所定の変調磁界H
Wを印加することにより、光磁気デイスク４に記録情報D
TRECを磁気記録するようになされた光磁気デイスク装置
１、30、40において、基準クロツク信号SCKのタイミン
グで、順次記録トラツクTR上の第１の光スポツトSPRWに
対して所定間隔ｌだけ後行する位置に第２の光スポツト
SPSB2を形成し、その第２の光スポツトSPSB2からの戻り
光によつて得られる受光出力SPPD2に基づいて、第１の
光スポツトSPRWで光磁気デイスク４上に磁気記録された
記録情報DTMNを検出するようにした。
所定の基準クロツク信号SCKのタイミングで、順次光磁
気デイスク４の記録トラツクTR上に第１の光スポツトSP
RWを形成すると共に、基準クロツク信号SCKに同期して
記録情報DTRECに応じて極性が反転する所定の変調磁界H
Wを印加することにより、光磁気デイスク４に記録情報D
TRECを磁気記録するようになされた光磁気デイスク装置
１、30、40において、基準クロツク信号SCKのタイミン
グで、順次記録トラツクTR上の第１の光スポツトSPRWに
対して所定間隔ｌだけ後行する位置に第２の光スポツト
SPSB2を形成し、その第２の光スポツトSPSB2からの戻り
光によつて得られる受光出力SPPD2に基づいて、第１の
光スポツトSPRWで光磁気デイスク４上に磁気記録された
記録情報DTMNを検出するようにした。
また第２の発明においては、第１及び第２の光スポツ
トSPRW及びSPSB2のスポツト間隔ｌを、第１の光スポツ
トSPRWで光磁気デイスク４上に磁気記録された記録情報
DTRECの最短ピツト長λminの略整数倍に選定するように
した。
トSPRW及びSPSB2のスポツト間隔ｌを、第１の光スポツ
トSPRWで光磁気デイスク４上に磁気記録された記録情報
DTRECの最短ピツト長λminの略整数倍に選定するように
した。
さらに第３の発明においては、光磁気デイスク４は、
角速度一定に回転制御され、第１及び第２の光スポツト
SPRW及びSPSB2のスポツト間隔ｌ（l1、l2）を、第１の
光スポツトSPRWが形成される記録トラツク情報TRIN、TR
OUTに応じて変更制御するようにした。
角速度一定に回転制御され、第１及び第２の光スポツト
SPRW及びSPSB2のスポツト間隔ｌ（l1、l2）を、第１の
光スポツトSPRWが形成される記録トラツク情報TRIN、TR
OUTに応じて変更制御するようにした。
さらにまた第４の発明においては、光磁気デイスク４
は、角速度一定に回転制御され、基準クロツク信号SCK
のタイミングで、順次記録トラツクTR上の第１の光スポ
ツトSPRWに対して後行する位置に、所定間隔l21毎に複
数の光スポツトSPSB20、SPSB21を形成し、その複数の光
スポツトSPSB20、SPSB21からの戻り光によつて得られる
複数の受光出力SPD40、SPD41を、第１の光スポツトSPRW
が形成される記録トラツク情報TRIN、TROUTに応じて合
成し、第１の光スポツトSPRWで光磁気デイスク４上に磁
気記録された記録情報DTMN1を検出するようにした。
は、角速度一定に回転制御され、基準クロツク信号SCK
のタイミングで、順次記録トラツクTR上の第１の光スポ
ツトSPRWに対して後行する位置に、所定間隔l21毎に複
数の光スポツトSPSB20、SPSB21を形成し、その複数の光
スポツトSPSB20、SPSB21からの戻り光によつて得られる
複数の受光出力SPD40、SPD41を、第１の光スポツトSPRW
が形成される記録トラツク情報TRIN、TROUTに応じて合
成し、第１の光スポツトSPRWで光磁気デイスク４上に磁
気記録された記録情報DTMN1を検出するようにした。
Ｆ 作用 記録用の第１の光スポツトSPRWがパルス状に照射され
る磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置１、30、40に
おいて、第１の光スポツトSPRWが形成される記録トラッ
クTRに、所定間隔ｌだけ後行して第２の光スポツトSP
SB2を形成し、その戻り光に基づいて、第１の光スポツ
トSPRWで磁気記録された記録情報DTMNを検出するように
したことにより、記録情報DTRECを記録とほぼ同時に照
合し得る。
る磁界変調記録方式の光磁気デイスク装置１、30、40に
おいて、第１の光スポツトSPRWが形成される記録トラッ
クTRに、所定間隔ｌだけ後行して第２の光スポツトSP
SB2を形成し、その戻り光に基づいて、第１の光スポツ
トSPRWで磁気記録された記録情報DTMNを検出するように
したことにより、記録情報DTRECを記録とほぼ同時に照
合し得る。
また、記録トラツクTR上に形成される第１及び第２の
光スポツトSPRW及びSPSB2のスポツト間隔ｌだけを、記
録情報の最短ピツト長λminの略整数倍に選定したこと
により、確実に記録情報DTRECを記録とほぼ同時に照合
し得る。
光スポツトSPRW及びSPSB2のスポツト間隔ｌだけを、記
録情報の最短ピツト長λminの略整数倍に選定したこと
により、確実に記録情報DTRECを記録とほぼ同時に照合
し得る。
さらに、角速度一定で回転する光磁気デイスク４を用
いた光磁気デイスク装置30においては、記録トラツクTR
上に形成される第１及び第２の光スポツトSPRW及びSP
SB2のスポツト間隔ｌ（l1、l2）を、第１の光スポツトS
PRWが形成される記録トラツク情報TRIN、TROUTに応じて
変更制御するようにしたことにより、光磁気デイスク４
が角速度一定で回転する場合にも、確実に記録情報DT
RECを記録とほぼ同時に照合し得る。
いた光磁気デイスク装置30においては、記録トラツクTR
上に形成される第１及び第２の光スポツトSPRW及びSP
SB2のスポツト間隔ｌ（l1、l2）を、第１の光スポツトS
PRWが形成される記録トラツク情報TRIN、TROUTに応じて
変更制御するようにしたことにより、光磁気デイスク４
が角速度一定で回転する場合にも、確実に記録情報DT
RECを記録とほぼ同時に照合し得る。
さらにまた、第１の光スポツトSPRWが形成される記録
トラツクTRの後行側に、所定間隔毎に複数の光スポツト
SPSB20、SPSB21を形成し、その戻り光によつて得られる
複数の受光出力SPD40、SPD41を、第１の光スポツトSPRW
が形成される記録トラツク情報TRIN、TROUTに応じて合
成して、第１の光スポツトSPRWで磁気記録された記録情
報DTMN1を検出するようにしたことにより、光磁気デイ
スク４が角速度一定で回転する場合にも、簡易な構成で
確実に記録情報DTRECを記録とほぼ同時に照合し得る。
トラツクTRの後行側に、所定間隔毎に複数の光スポツト
SPSB20、SPSB21を形成し、その戻り光によつて得られる
複数の受光出力SPD40、SPD41を、第１の光スポツトSPRW
が形成される記録トラツク情報TRIN、TROUTに応じて合
成して、第１の光スポツトSPRWで磁気記録された記録情
報DTMN1を検出するようにしたことにより、光磁気デイ
スク４が角速度一定で回転する場合にも、簡易な構成で
確実に記録情報DTRECを記録とほぼ同時に照合し得る。
Ｇ 実施例 以下図面について、本発明の一実施例を詳述する。
（G1）第１の実施例 第１の実施例は第１及び第２の発明を適用したもの
で、第１図において、１は全体として特願昭63−263503
号に記載された光磁気記録装置の光学系に、グレーテイ
ングを付加することにより、光磁気デイスクの記録トラ
ツク上に３個の光スポツトを形成するようになされた光
磁気デイスク装置を示す。
で、第１図において、１は全体として特願昭63−263503
号に記載された光磁気記録装置の光学系に、グレーテイ
ングを付加することにより、光磁気デイスクの記録トラ
ツク上に３個の光スポツトを形成するようになされた光
磁気デイスク装置を示す。
すなわち、この光磁気デイスク装置１においては、例
えばポリカーボネイト、ガラス等でなる透明保護基盤２
に垂直磁化膜３が、例えば連続スパツタリングによつて
披着されてなる光磁気デイスク４が、軸５を中心にスピ
ンドルモータ６に駆動され、線速度一定（CLV（constan
t linear velocity））で回転制御されている。
えばポリカーボネイト、ガラス等でなる透明保護基盤２
に垂直磁化膜３が、例えば連続スパツタリングによつて
披着されてなる光磁気デイスク４が、軸５を中心にスピ
ンドルモータ６に駆動され、線速度一定（CLV（constan
t linear velocity））で回転制御されている。
この光磁気デイスク装置１の場合、レーザ光源７から
射出されたレーザ光L1は、コリメータレンズ８及びグレ
ーテイング９を介して、３本の平行光ビームL10、L11、
L12に変換された後、ビームスプリツタ10を透過し対物
レンズ11によつて集光され、第２図に示すように、光磁
気デイスク４の記録トラツクTR上に走行方向（矢印ａで
示す）順に順次３個の光スポツトSPSB1、SPRW、SPSB2を
形成する。
射出されたレーザ光L1は、コリメータレンズ８及びグレ
ーテイング９を介して、３本の平行光ビームL10、L11、
L12に変換された後、ビームスプリツタ10を透過し対物
レンズ11によつて集光され、第２図に示すように、光磁
気デイスク４の記録トラツクTR上に走行方向（矢印ａで
示す）順に順次３個の光スポツトSPSB1、SPRW、SPSB2を
形成する。
なお、この実施例の光磁気デイスク装置１において
は、３個の光スポツトSPSB1、SPRW、SPSB2の内、中央の
光スポツトSPRWを用いて記録データの記録再生を行い、
先行する光スポツトSPSB1で、例えば記録トラツクTR上
に記録されたアドレス情報等を読み出すと共に、後行す
る光スポツトSPSB2で、中央の光スポツトSPRWを用いて
記録トラツクTR上に記録された記録データを照合し得る
ようになされている。
は、３個の光スポツトSPSB1、SPRW、SPSB2の内、中央の
光スポツトSPRWを用いて記録データの記録再生を行い、
先行する光スポツトSPSB1で、例えば記録トラツクTR上
に記録されたアドレス情報等を読み出すと共に、後行す
る光スポツトSPSB2で、中央の光スポツトSPRWを用いて
記録トラツクTR上に記録された記録データを照合し得る
ようになされている。
ここで光磁気デイスク４には、所定の間隔で配置され
たサーボ領域に予めサンプルフオーマツトのサーボパタ
ーンが形成されており、これによりこの光磁気デイスク
装置１においては、光磁気デイスク４の中央の光スポツ
トSPRWからの戻り光ビームを、対物レンズ11を介してビ
ームスプリツタ10で90°折り曲げ、検光子12を通じてフ
オトデイテクタ部13に集光する。
たサーボ領域に予めサンプルフオーマツトのサーボパタ
ーンが形成されており、これによりこの光磁気デイスク
装置１においては、光磁気デイスク４の中央の光スポツ
トSPRWからの戻り光ビームを、対物レンズ11を介してビ
ームスプリツタ10で90°折り曲げ、検光子12を通じてフ
オトデイテクタ部13に集光する。
かくして、フオトデイテクタ部13の中央に配置された
４分割フオトデイテクタ13Aから得られる各受光出力を
用いて、例えばプシユプル法によるトラツキング制御及
び非点収差法によるフオーカス制御を実行すると共に、
その各受光出力の和信号SPD1は、クロツク信号発生回路
14に入力され、この結果サンプルフオーマツトのサーボ
パターンから得られる再生信号に基づいて、記録データ
の書き込み及び読み出し用の基準クロツク信号SCK（第
３図（Ａ））を得、レーザ駆動系の発光パルス発生回路
15及び磁気ヘツド駆動系の磁界変調回路16に送出する。
４分割フオトデイテクタ13Aから得られる各受光出力を
用いて、例えばプシユプル法によるトラツキング制御及
び非点収差法によるフオーカス制御を実行すると共に、
その各受光出力の和信号SPD1は、クロツク信号発生回路
14に入力され、この結果サンプルフオーマツトのサーボ
パターンから得られる再生信号に基づいて、記録データ
の書き込み及び読み出し用の基準クロツク信号SCK（第
３図（Ａ））を得、レーザ駆動系の発光パルス発生回路
15及び磁気ヘツド駆動系の磁界変調回路16に送出する。
レーザ駆動系の発光パルス発生回路15は、入力される
基準クロツク信号SCKに基づいて、基準クロツク信号SCK
の立ち上がるタイミング（時点t1）で立り上がり、所定
のパルス幅τを有するレーザ発光パルスSP（第３図
（Ｂ））を発生し、レーザ駆動回路17を介してレーザ光
源７に供給し、かくして、基準クロツク信号SCKのタイ
ミングで、順次光磁気デイスク４の記録トラツクTR上に
３個の光スポツトSPSB1、SPRW、SPSB2を形成する。
基準クロツク信号SCKに基づいて、基準クロツク信号SCK
の立ち上がるタイミング（時点t1）で立り上がり、所定
のパルス幅τを有するレーザ発光パルスSP（第３図
（Ｂ））を発生し、レーザ駆動回路17を介してレーザ光
源７に供給し、かくして、基準クロツク信号SCKのタイ
ミングで、順次光磁気デイスク４の記録トラツクTR上に
３個の光スポツトSPSB1、SPRW、SPSB2を形成する。
一方磁気ヘツド駆動系の磁界変調回路16は、例えば記
録情報処理回路（図示せず）から入力される記録データ
DTRECを、クロツク信号発生回路14から入力される基準
クロツク信号SCKのタイミングに同期させ、これを磁気
ヘツド駆動信号SDR（第３図（Ｃ））として磁気ヘツド
駆動回路18を介して、電磁石構成の磁気ヘツド19に供給
する。
録情報処理回路（図示せず）から入力される記録データ
DTRECを、クロツク信号発生回路14から入力される基準
クロツク信号SCKのタイミングに同期させ、これを磁気
ヘツド駆動信号SDR（第３図（Ｃ））として磁気ヘツド
駆動回路18を介して、電磁石構成の磁気ヘツド19に供給
する。
かくして、磁気ヘツド19は中央の光スポツトSPRWが形
成される光磁気デイスク４に対して、基準クロツク信号
SCKに同期して記録データDTRECに応じて極性が反転する
変調磁界HW（第３図（Ｄ））を印加する。
成される光磁気デイスク４に対して、基準クロツク信号
SCKに同期して記録データDTRECに応じて極性が反転する
変調磁界HW（第３図（Ｄ））を印加する。
このようにして、この光磁気デイスク装置１において
は、光磁気デイスク４の順次中央の光スポツトSPRWが照
射される位置に、記録データDTRECの値に基づいて極性
が反転する変調磁界HWを印加するようにしたことによ
り、光磁気デイスク４の記録トラツクTR上にすでに記録
パターンが形成されている場合でも、予め消去すること
なく記録トラツクTR上に記録データDTRECに応じて、垂
直磁化膜３を上又は下方向に配向してなる記録パターン
PTN（第３図（Ｅ））を形成して、オーバライト記録し
得るようになされている。
は、光磁気デイスク４の順次中央の光スポツトSPRWが照
射される位置に、記録データDTRECの値に基づいて極性
が反転する変調磁界HWを印加するようにしたことによ
り、光磁気デイスク４の記録トラツクTR上にすでに記録
パターンが形成されている場合でも、予め消去すること
なく記録トラツクTR上に記録データDTRECに応じて、垂
直磁化膜３を上又は下方向に配向してなる記録パターン
PTN（第３図（Ｅ））を形成して、オーバライト記録し
得るようになされている。
またこの光磁気デイスク装置１においては、光磁気デ
イスク４の記録トラツクTR上に照射された３個の光スポ
ツトSPSB1、SPRW、SPSB2の内、後行する光スポツトSP
SB2の戻り光ビームを、対物レンズ11を介してビームス
プリツタ10で90°折り曲げ、検光子12を通じてフオトデ
イテクタ部13に集光する。
イスク４の記録トラツクTR上に照射された３個の光スポ
ツトSPSB1、SPRW、SPSB2の内、後行する光スポツトSP
SB2の戻り光ビームを、対物レンズ11を介してビームス
プリツタ10で90°折り曲げ、検光子12を通じてフオトデ
イテクタ部13に集光する。
かくして、フオトデイテクタ部13の後行側の光スポツ
トSPSB2に対応する位置に配置されたフオトデイテクタ1
3Bから得られる受光出力信号SPD2は、クロツク信号発生
回路14から入力される基準クロツク信号SCKと共に、例
えばサンプルホールド回路構成の記録モニタ信号検出回
路20に入力される。
トSPSB2に対応する位置に配置されたフオトデイテクタ1
3Bから得られる受光出力信号SPD2は、クロツク信号発生
回路14から入力される基準クロツク信号SCKと共に、例
えばサンプルホールド回路構成の記録モニタ信号検出回
路20に入力される。
なお記録用の光スポツトSPRW及び照合用の光スポツト
SPSB2の間隔ｌは、記録データDTRECの最短波長λminを
用いて、次式 で表される値に選定され、この実施例の場合スポツト間
隔ｌは、第３図（Ｆ）で示すように、基準クロツク信号
SCKの１周期、すなわち記録データDTRECの最短波長λ
minに等しい間隔に選定されている。
SPSB2の間隔ｌは、記録データDTRECの最短波長λminを
用いて、次式 で表される値に選定され、この実施例の場合スポツト間
隔ｌは、第３図（Ｆ）で示すように、基準クロツク信号
SCKの１周期、すなわち記録データDTRECの最短波長λ
minに等しい間隔に選定されている。
かくして、基準クロツク信号SCKのタイミングで、受
光出力信号SPD2をサンプリングすることにより、基準ク
ロツク信号SCKの１周期分だけ遅れて、記録トラツクTR
上の記録パターンPTNを読み出してなるモニタデータDT
MNを検出することができ、このようにして、記録トラツ
クTR上に記録された記録データを実用上ほぼ記録と同時
に照合することができる。
光出力信号SPD2をサンプリングすることにより、基準ク
ロツク信号SCKの１周期分だけ遅れて、記録トラツクTR
上の記録パターンPTNを読み出してなるモニタデータDT
MNを検出することができ、このようにして、記録トラツ
クTR上に記録された記録データを実用上ほぼ記録と同時
に照合することができる。
以上の構成によれば、記録用の第１の光スポツトがパ
ルス状に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク
装置において、全体として簡易な構成で、光磁気デイス
クに記録した記録データを、記録と同時に照合し得る光
磁気デイスク装置を実現できる。
ルス状に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク
装置において、全体として簡易な構成で、光磁気デイス
クに記録した記録データを、記録と同時に照合し得る光
磁気デイスク装置を実現できる。
（G2）第２の実施例 第２の実施例は、第１及び第３の発明を適用したもの
で、光磁気デイスク４は軸５を中心にスピンドルモータ
６に駆動され、角速度一定（CAV（constant angular ve
locity））で回転制御されている。
で、光磁気デイスク４は軸５を中心にスピンドルモータ
６に駆動され、角速度一定（CAV（constant angular ve
locity））で回転制御されている。
従つて、この光磁気デイスク４においては、内周側の
記録トラツクTRIN及び外周側の記録トラツクTROUTで、
記録データDTRECの最短波長λminを可変して記録するよ
うになされ、かくして、内周側の最短波長λmin1に応じ
た記録パターンPTN1（第４図（Ａ））に対して、外周側
では長い最短波長λmin2に応じた記録パターンPTN2（第
４図（Ｃ））が形成されている。
記録トラツクTRIN及び外周側の記録トラツクTROUTで、
記録データDTRECの最短波長λminを可変して記録するよ
うになされ、かくして、内周側の最短波長λmin1に応じ
た記録パターンPTN1（第４図（Ａ））に対して、外周側
では長い最短波長λmin2に応じた記録パターンPTN2（第
４図（Ｃ））が形成されている。
このため、この実施例の光磁気デイスク装置において
は、光磁気デイスク４の半径情報に基づいて、記録用の
光スポツトSPRW及び照合用の光スポツトSPSB2の間隔
を、内周側及び外周側の最短波長λmin1及びλmin2に応
じた間隔l1及びl2に可変制御し、かくして、CAVで回転
制御される光磁気デイスク４の場合にも、（１）式につ
いて上述した条件を満足するようになされている。
は、光磁気デイスク４の半径情報に基づいて、記録用の
光スポツトSPRW及び照合用の光スポツトSPSB2の間隔
を、内周側及び外周側の最短波長λmin1及びλmin2に応
じた間隔l1及びl2に可変制御し、かくして、CAVで回転
制御される光磁気デイスク４の場合にも、（１）式につ
いて上述した条件を満足するようになされている。
すなわち、第１図との対応部分に同一符号を付した第
５図に示すように、この光磁気デイスク装置30において
は、グレーテイング９が可動コイル31でなる移動手段に
取り付けられ、矢印ｂで示すように光学系の光軸方向に
移動制御し得るようになされている。
５図に示すように、この光磁気デイスク装置30において
は、グレーテイング９が可動コイル31でなる移動手段に
取り付けられ、矢印ｂで示すように光学系の光軸方向に
移動制御し得るようになされている。
従つて、光磁気デイスク４の半径情報に応じて可動コ
イル31を制御し、例えば内周側の帰路トラツクTRINの場
合、グレーテイング９をビームスプリツタ10側に移動す
ることにより、記録用の光スポツトSPRW及び照合用の光
スポツトSPSB2の間隔（第４図（Ｂ））を、内周側の最
短波長λmin1に応じた間隔l1に制御し得（第５図
（Ａ））、逆に外周側の記録トラツクTROUTの場合、グ
レーテイング９をコリメータレンズ８側に移動すること
により、記録用の光スポツトSPRW及び照合用の光スポツ
トSPSB2の間隔（第４図（Ｄ））を、外周側の最短波長
λmin2に応じた間隔l2に制御し得るようになされている
（第５図（Ｂ））。
イル31を制御し、例えば内周側の帰路トラツクTRINの場
合、グレーテイング９をビームスプリツタ10側に移動す
ることにより、記録用の光スポツトSPRW及び照合用の光
スポツトSPSB2の間隔（第４図（Ｂ））を、内周側の最
短波長λmin1に応じた間隔l1に制御し得（第５図
（Ａ））、逆に外周側の記録トラツクTROUTの場合、グ
レーテイング９をコリメータレンズ８側に移動すること
により、記録用の光スポツトSPRW及び照合用の光スポツ
トSPSB2の間隔（第４図（Ｄ））を、外周側の最短波長
λmin2に応じた間隔l2に制御し得るようになされている
（第５図（Ｂ））。
なお。この実施例の場合、光磁気デイスク４の内周側
及び外周側で記録パターンPTN1及びPTN2の最短波長λ
min1及びλmin2が変化しても、レーザ光源７の発光周波
数fLD及ぶ記録データＤTRECの最高繰り返し周波数fDATA
が、次式 fLD≧２fDATA ……（２） で表される関係を満足するようになされている。
及び外周側で記録パターンPTN1及びPTN2の最短波長λ
min1及びλmin2が変化しても、レーザ光源７の発光周波
数fLD及ぶ記録データＤTRECの最高繰り返し周波数fDATA
が、次式 fLD≧２fDATA ……（２） で表される関係を満足するようになされている。
以上の構成によれば、記録用の第１の光スポツトがパ
ルス状に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク
装置において、光磁気デイスク４がCAVで回転制御され
る場合にも、記録情報を記録と同時に照合し得る光磁気
デイスク装置を実現できる。
ルス状に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク
装置において、光磁気デイスク４がCAVで回転制御され
る場合にも、記録情報を記録と同時に照合し得る光磁気
デイスク装置を実現できる。
（G3）第３の実施例 第３の実施例は、第１及び第４の発明を適用したもの
で、第１図との対応部分に同一符号を付した第６図に示
すように、この光磁気デイスク装置40において、レーザ
光源７から射出されたレーザ光L1がグレーテイング41を
介して、０次光、±１次光、±２次光でなる５本の光ビ
ームL20、L21、L22、L23、L24に整形される。
で、第１図との対応部分に同一符号を付した第６図に示
すように、この光磁気デイスク装置40において、レーザ
光源７から射出されたレーザ光L1がグレーテイング41を
介して、０次光、±１次光、±２次光でなる５本の光ビ
ームL20、L21、L22、L23、L24に整形される。
この５本の光ビームL20〜L24は、CAVで回転制御され
る光磁気デイスク４の同一記録トラツクTR上に照射さ
れ、これにより０次光、±１次光、±２次光ビームに対
応した５個の光スポツトが形成される。
る光磁気デイスク４の同一記録トラツクTR上に照射さ
れ、これにより０次光、±１次光、±２次光ビームに対
応した５個の光スポツトが形成される。
この結果０次光ビームL20に対応した光スポツトSPRW
の照射される位置に、磁気ヘツド19を用いて変調磁界HW
を印加することにより、光磁気デイスク４の記録トラツ
クTR上に内周側及び外周側で異なる最短波長λmin10及
びλmin11で、記録データDTRECに応じた記録パターンPT
N10及びPTN11（第７図（Ａ）及び（Ｂ））が形成され
る。
の照射される位置に、磁気ヘツド19を用いて変調磁界HW
を印加することにより、光磁気デイスク４の記録トラツ
クTR上に内周側及び外周側で異なる最短波長λmin10及
びλmin11で、記録データDTRECに応じた記録パターンPT
N10及びPTN11（第７図（Ａ）及び（Ｂ））が形成され
る。
またこの実施例においては、０次光ビームL20に対応
した光スポツトSPRWに後行する光磁気デイスク４の記録
トラツクTR上に、＋１次光及び＋２次光ビームL21及びL
22又は−１次光及び−２次光ビームL23及びL24に応じた
第１及び第２の光スポツトSPSB20及びSPSB21（第７図
（Ｃ））が形成される。
した光スポツトSPRWに後行する光磁気デイスク４の記録
トラツクTR上に、＋１次光及び＋２次光ビームL21及びL
22又は−１次光及び−２次光ビームL23及びL24に応じた
第１及び第２の光スポツトSPSB20及びSPSB21（第７図
（Ｃ））が形成される。
なおこの第１の光スポツトSPSB20は、０次光ビームL2
0に応じた光スポツトSPRWに対して、間隔l20を有するよ
うに配置され、さらに第１及び第２の光スポツトSPSB20
及びSPSB21は間隔l21を有するように配置されている。
0に応じた光スポツトSPRWに対して、間隔l20を有するよ
うに配置され、さらに第１及び第２の光スポツトSPSB20
及びSPSB21は間隔l21を有するように配置されている。
これにより、この光磁気デイスク装置40においては、
第１及び第２の光スポツトSPSB20及びSPSB21の戻り光
を、フオトデイテクタ部42に各々対応して設けられたフ
オトデイテクタ42A及び42Bで受光し、この結果得られる
２つの受光出力SPD40及びSPD41が、記録モニタ信号検出
回路43に入力される。
第１及び第２の光スポツトSPSB20及びSPSB21の戻り光
を、フオトデイテクタ部42に各々対応して設けられたフ
オトデイテクタ42A及び42Bで受光し、この結果得られる
２つの受光出力SPD40及びSPD41が、記録モニタ信号検出
回路43に入力される。
この記録モニタ信号検出回路43においては、例えば光
磁気デイスク４の記録トラツクTRの半径情報に応じて第
１の光スポツトSPSB20の受光出力SPD40を遅延させ、こ
れにより得られる遅延出力及び第２の光スポツトSPSB21
の受光出力SPD41を合成してモニタデータDTMN1を送出す
る。
磁気デイスク４の記録トラツクTRの半径情報に応じて第
１の光スポツトSPSB20の受光出力SPD40を遅延させ、こ
れにより得られる遅延出力及び第２の光スポツトSPSB21
の受光出力SPD41を合成してモニタデータDTMN1を送出す
る。
このようにすれば、内周側の記録トラツクTRIN及び外
周側の記録トラツクTROUTで、記録データDTRECの最短波
長λmin10及びλmin11が異なる場合でも、０次光ビーム
L20に対応した光スポツトSPRWに対する第１及び第２の
光スポツトSPSB20及びSPSB21の間隔を固定した状態で、
常に最適化した条件で記録トラツクTRIN及びTROUTの記
録パターンPTN10及びPTN11を読み出してなるモニタデー
タDTMN1を得ることができる。
周側の記録トラツクTROUTで、記録データDTRECの最短波
長λmin10及びλmin11が異なる場合でも、０次光ビーム
L20に対応した光スポツトSPRWに対する第１及び第２の
光スポツトSPSB20及びSPSB21の間隔を固定した状態で、
常に最適化した条件で記録トラツクTRIN及びTROUTの記
録パターンPTN10及びPTN11を読み出してなるモニタデー
タDTMN1を得ることができる。
以上の構成によれば、記録用の第１の光スポツトがパ
ルス状に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク
装置において、光磁気デイスク４がCAVで回転制御され
る場合にも、簡易な構成で記録情報を記録と同時に照合
し得る光磁気デイスク装置を実現できる。
ルス状に照射される磁界変調記録方式の光磁気デイスク
装置において、光磁気デイスク４がCAVで回転制御され
る場合にも、簡易な構成で記録情報を記録と同時に照合
し得る光磁気デイスク装置を実現できる。
（G4）他の実施例 （１）上述の第１の実施例においては、記録用の光スポ
ツトSPRWに対して記録トラツクTR上を先行する光スポツ
トSPSB1を用いて、記録トラツクTR上のアドレスデータ
を再生する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、グレーテイング９に代えてホログラム素子を用い、
第８図に示すように、同一記録トラツクTR上に存在する
記録用の光スポツトSPRW及び照合データ検出用の光スポ
ツトSPSB2に対して、先行する光スポツトSPSB30を所定
量だけ記録トラツクTRの内周側にオフセツトさせて照射
するようにしても良い。
ツトSPRWに対して記録トラツクTR上を先行する光スポツ
トSPSB1を用いて、記録トラツクTR上のアドレスデータ
を再生する場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、グレーテイング９に代えてホログラム素子を用い、
第８図に示すように、同一記録トラツクTR上に存在する
記録用の光スポツトSPRW及び照合データ検出用の光スポ
ツトSPSB2に対して、先行する光スポツトSPSB30を所定
量だけ記録トラツクTRの内周側にオフセツトさせて照射
するようにしても良い。
因に、この場合、この先行する光スポツトSPSB30の戻
り光を、記録トラツクTR方向に２分割されたフオトデイ
テクタで受光すれば、記録用の光スポツトSPRWの戻り光
を受光する４分割フオトデイテクタを用いたプツシユプ
ル方式に加えて、いわゆる差動プツシユプル（DPP（dif
ferential push−pull））方式のトラツキング制御回路
を構成し得、これにより一段と安定なトラツキングサー
ボを実現できる。
り光を、記録トラツクTR方向に２分割されたフオトデイ
テクタで受光すれば、記録用の光スポツトSPRWの戻り光
を受光する４分割フオトデイテクタを用いたプツシユプ
ル方式に加えて、いわゆる差動プツシユプル（DPP（dif
ferential push−pull））方式のトラツキング制御回路
を構成し得、これにより一段と安定なトラツキングサー
ボを実現できる。
（２）上述の第２の実施例においては、可動コイル31の
制御によつてグレーテイング９を光学系の光軸方向に移
動制御して、第１及び第２の光スポツトSPRW、SPSB2の
スポツト間隔ｌ（l1、l2）を可変した場合について述べ
たが、本発明はこれに限らず、例えば小型モータの制御
によつてグレーテイング９を移動制御しても良く、さら
にグレーテイングの移動制御によらず、種々の光学的手
段を用いて第１及び第２の光スポツトSPRW、SPSB2のス
ポツト間隔ｌ（l1、l2）を可変するようにしても上述の
実施例と同様の効果を実現できる。
制御によつてグレーテイング９を光学系の光軸方向に移
動制御して、第１及び第２の光スポツトSPRW、SPSB2の
スポツト間隔ｌ（l1、l2）を可変した場合について述べ
たが、本発明はこれに限らず、例えば小型モータの制御
によつてグレーテイング９を移動制御しても良く、さら
にグレーテイングの移動制御によらず、種々の光学的手
段を用いて第１及び第２の光スポツトSPRW、SPSB2のス
ポツト間隔ｌ（l1、l2）を可変するようにしても上述の
実施例と同様の効果を実現できる。
（３）上述の第３の実施例においては、グレーテイング
41を介してレーザ光L1を０次光、±１次光及び±２次光
でなる光ビームL20〜L24に整形した場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、必要に応じてさらに±３次
光、±４次光等複数の光ビームを用いるようにしても良
い。
41を介してレーザ光L1を０次光、±１次光及び±２次光
でなる光ビームL20〜L24に整形した場合について述べた
が、本発明はこれに限らず、必要に応じてさらに±３次
光、±４次光等複数の光ビームを用いるようにしても良
い。
Ｈ 発明の効果 上述のように第１の発明によれば、第１の光スポツト
が形成される記録トラツクに、所定間隔だけ後行して第
２の光スポツトを形成し、その戻り光に基づいて、記録
用の第１の光スポツトで磁気記録された記録情報を検出
するようにしたことにより、記録情報を記録とほぼ同時
に検出し得る。
が形成される記録トラツクに、所定間隔だけ後行して第
２の光スポツトを形成し、その戻り光に基づいて、記録
用の第１の光スポツトで磁気記録された記録情報を検出
するようにしたことにより、記録情報を記録とほぼ同時
に検出し得る。
また第２の発明によれば、記録トラツク上に形成され
る第１及び第２の光スポツトのスポツト間隔を、記録情
報の最短ピツト長の略整数倍に選定したことにより、確
実に記録情報を記録とほぼ同時に検出し得る。
る第１及び第２の光スポツトのスポツト間隔を、記録情
報の最短ピツト長の略整数倍に選定したことにより、確
実に記録情報を記録とほぼ同時に検出し得る。
さらに第３の発明によれば、記録トラツク上に形成さ
れる第１及び第２の光スポツトのスポツト間隔を、記録
用の第１の光スポツトが形成される記録トラツク情報に
応じて変更制御するようにしたことにより、角速度一定
で回転する光磁気デイスク上においても確実に記録情報
を記録とほぼ同時に検出し得る。
れる第１及び第２の光スポツトのスポツト間隔を、記録
用の第１の光スポツトが形成される記録トラツク情報に
応じて変更制御するようにしたことにより、角速度一定
で回転する光磁気デイスク上においても確実に記録情報
を記録とほぼ同時に検出し得る。
さらにまた第４の発明によれば、記録用の第１の光ス
ポツトが形成される記録トラツクの後行側に、所定間隔
毎に複数の光スポツトを形成し、その戻り光によつて得
られる複数の受光出力を、第１の光スポツトが形成され
る記録トラツク情報に応じて合成して、第１の光スポツ
トで磁気記録された記録情報を検出するようにしたこと
により、角速度一定で回転する光磁気デイスクにおいて
も、簡易な構成で確実に記録情報を記録とほぼ同時に検
出し得る。
ポツトが形成される記録トラツクの後行側に、所定間隔
毎に複数の光スポツトを形成し、その戻り光によつて得
られる複数の受光出力を、第１の光スポツトが形成され
る記録トラツク情報に応じて合成して、第１の光スポツ
トで磁気記録された記録情報を検出するようにしたこと
により、角速度一定で回転する光磁気デイスクにおいて
も、簡易な構成で確実に記録情報を記録とほぼ同時に検
出し得る。
かくして、全体として簡易な構成で、所定のタイミン
グで光磁気デイスク上の正しい位置にピツトを形成する
ことができ、かつ記録情報を記録と同時に検出して照合
し得る光磁気デイスク装置を実現でき、光磁気デイスク
装置の有用性を一段と向上し得る。
グで光磁気デイスク上の正しい位置にピツトを形成する
ことができ、かつ記録情報を記録と同時に検出して照合
し得る光磁気デイスク装置を実現でき、光磁気デイスク
装置の有用性を一段と向上し得る。
第１図は本発明の第１の実施例による光磁気デイスク装
置を示す略線的系統図、第２図はその光スポツトの配置
を示す略線図、第３図はその動作の説明に供するタイミ
ングチヤート、第４図は第２の実施例の光スポツト間隔
と内外周の記録パターンの関係を示すタイミングチヤー
ト、第５図は第２の実施例による光磁気デイスク装置の
光学系を示す略線的系統図、第６図は第３の実施例によ
る光磁気デイスク装置を示す略線的系統図、第７図はそ
の動作の説明に供するタイミングチヤート、第８図は他
の実施例による光スポツトの配置を示す略線図である。 １、30、40……光磁気デイスク装置、４……光磁気デイ
スク、７……レーザ光源、８……コリメータレンズ、
９、41……グレーテイング、10……ビームスプリツタ、
11……対物レンズ、12……検光子、13、42……フオトデ
イテクタ部、19……磁気ヘツド、20、43……記録モニタ
信号検出回路。
置を示す略線的系統図、第２図はその光スポツトの配置
を示す略線図、第３図はその動作の説明に供するタイミ
ングチヤート、第４図は第２の実施例の光スポツト間隔
と内外周の記録パターンの関係を示すタイミングチヤー
ト、第５図は第２の実施例による光磁気デイスク装置の
光学系を示す略線的系統図、第６図は第３の実施例によ
る光磁気デイスク装置を示す略線的系統図、第７図はそ
の動作の説明に供するタイミングチヤート、第８図は他
の実施例による光スポツトの配置を示す略線図である。 １、30、40……光磁気デイスク装置、４……光磁気デイ
スク、７……レーザ光源、８……コリメータレンズ、
９、41……グレーテイング、10……ビームスプリツタ、
11……対物レンズ、12……検光子、13、42……フオトデ
イテクタ部、19……磁気ヘツド、20、43……記録モニタ
信号検出回路。
Claims (4)
- 【請求項１】所定の基準クロツク信号のタイミングで、
順次光磁気デイスクの記録トラツク上に第１の光スポツ
トを形成すると共に、上記基準クロツク信号に同期して
記録情報に応じて極性が反転する所定の変調磁界を印加
することにより、上記光磁気デイスクに上記記録情報を
磁気記録するようになされた光磁気デイスク装置におい
て、 上記基準クロツク信号のタイミングで、順次上記記録ト
ラツク上の上記第１の光スポツトに対して所定間隔だけ
後行する位置に第２の光スポツトを形成し、 当該第２の光スポツトからの戻り光によつて得られる受
光出力に基づいて、上記第１の光スポツトで上記光磁気
デイスク上に磁気記録された上記記録情報を検出するよ
うにした ことを特徴とする光磁気デイスク装置。 - 【請求項２】第１項記載の光磁気デイスク装置におい
て、 上記第１及び第２の光スポツトのスポツト間隔を、上記
第１の光スポツトで上記光磁気デイスク上に磁気記録さ
れた上記記録情報の最短ピツト長の略整数倍に選定する
ようにした ことを特徴とする光磁気デイスク装置。 - 【請求項３】第１項記載の光磁気デイスク装置におい
て、 上記光磁気デイスクは、角速度一定に回転制御され、 上記第１及び第２の光スポツトのスポツト間隔を、上記
第１の光スポツトが形成される上記記録トラツク情報に
応じて変更制御するようにした ことを特徴とする光磁気デイスク装置。 - 【請求項４】第１項記載の光磁気デイスク装置におい
て、 上記光磁気デイスクは、角速度一定に回転制御され、 上記基準クロツク信号のタイミングで、順次上記記録ト
ラツク上の上記第１の光スポツトに対して後行する位置
に、所定間隔毎に複数の光スポツトを形成し、 当該複数の光スポツトからの戻り光によつて得られる複
数の受光出力を、上記第１の光スポツトが形成される上
記記録トラツク情報に応じて合成し、 上記第１の光スポツトで上記光磁気デイスク上に磁気記
録された上記記録情報を検出するようにした ことを特徴とする光磁気デイスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1453589A JP2707675B2 (ja) | 1989-01-23 | 1989-01-23 | 光磁気デイスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1453589A JP2707675B2 (ja) | 1989-01-23 | 1989-01-23 | 光磁気デイスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02195548A JPH02195548A (ja) | 1990-08-02 |
| JP2707675B2 true JP2707675B2 (ja) | 1998-02-04 |
Family
ID=11863845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1453589A Expired - Fee Related JP2707675B2 (ja) | 1989-01-23 | 1989-01-23 | 光磁気デイスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2707675B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5381390A (en) * | 1993-06-03 | 1995-01-10 | Eastman Kodak Company | Directly overwrite information by using two radiation beams onto a single magneto-optical recording |
-
1989
- 1989-01-23 JP JP1453589A patent/JP2707675B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02195548A (ja) | 1990-08-02 |
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