JP2694105B2 - 伝送ライン終端器 - Google Patents

伝送ライン終端器

Info

Publication number
JP2694105B2
JP2694105B2 JP5100719A JP10071993A JP2694105B2 JP 2694105 B2 JP2694105 B2 JP 2694105B2 JP 5100719 A JP5100719 A JP 5100719A JP 10071993 A JP10071993 A JP 10071993A JP 2694105 B2 JP2694105 B2 JP 2694105B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
transistor
transmission line
latch
line
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP5100719A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0661786A (ja
Inventor
アナトル・ファーマン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
International Business Machines Corp
Original Assignee
International Business Machines Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by International Business Machines Corp filed Critical International Business Machines Corp
Publication of JPH0661786A publication Critical patent/JPH0661786A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2694105B2 publication Critical patent/JP2694105B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L25/00Baseband systems
    • H04L25/02Details ; arrangements for supplying electrical power along data transmission lines
    • H04L25/0264Arrangements for coupling to transmission lines
    • H04L25/0298Arrangement for terminating transmission lines

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は伝送ラインに対し適切な
終端インピーダンスを提供する伝送ライン終端器に関
し、特に低パワー消費が期待される能動回路終端器に関
する。
【0002】
【従来の技術】デジタル電子回路が高速化するにつれ、
メモリ、プロセッサ及び他の電子カード上における配線
が長距離伝送ラインのように振る舞うことが認識される
ようになった。ここで"長距離"とは伝送ライン上に発生
するパルス或いは波の立上り/立下り遷移に関係する。
こうした伝送ラインは一般に、ラインに沿って分布する
いくつかの受信器回路をドライブし、遠端において開路
化される。これらの受信器回路は完全にMOSFETで構成さ
れ、無視できる容量負荷を提供する。遠端における開路
はライン上に反射を生じ、これはライン上に分布する受
信器の動作を妨害する。(本明細書では伝送ラインの"
近端"及び"遠端"は、それぞれ信号源に接続される伝送
ラインの終端、及び信号源から最も遠い点に接続される
伝送ラインの終端を指す。)
【0003】反射の影響を最小化する場合、ライン・ド
ライバの立上り時間を制限し、単に反射の漸次ダンピン
グを待つことが一般に実施されてきた。これは受容でき
ない長い遅延を伴い、動作サイクル時間を不適当に伸ば
す結果となる。ライン・インピーダンスに等しいテブナ
ン(Thevenin)等価インピーダンスを有し、プラス電圧
レールとグランド間に接続される中央タップ抵抗器が、
反射除去用の終端器として使用可能であるが、その結果
ドライバ・チップに負担となって課せられるパワー消費
については受容不可と見なされてきた。
【0004】パワー的欠点を伴うことなしに、終端特性
を改善する能動回路を使用するいくつかの試みが、これ
までに行われてきた。これらのアプローチは一般に3つ
のカテゴリに分類される。
【0005】第1のタイプのアプローチはプラス・レー
ルとグランド間に接続される1対のフォワード・バイア
ス式ダイオードを使用する。ここでは中央タップをライ
ン・インピーダンスZ0の近似として使用する。ダイオ
ードはFETトランジスタとして製作され、そのゲート
はドレインに接続される。このアプローチの例はIBMTec
hnical Disclosure Bulletin("TDB")、Vol.32、No.
4A、September 1989、pp.393-395 "Active Terminator
s for CMOS Drivers"、及びIBM TDB、Vol.20、No.1
2、May 1978、pp.5192-5193 "Low Power Dissipation
Push-PullDriver"で説明されている。
【0006】このアプローチは2つの好ましくない条件
の間のトレードオフを表す。ダイオードは常時フォワー
ド・バイアスされるため、常時スタンディング・パワー
が存在する。更にZ0に近づけ、それにより反射の大き
さを低減させるため、よりパワーが要求される。一方、
パワーの低減は終端器とライン間のインピーダンス整合
を低下させ、従って反射の大きさを増加させる。
【0007】第2のタイプのアプローチは伝送ラインの
遠端における入射波の遷移をセンスし、適切なパワー・
レール及び伝送ライン間のトランジスタ・スイッチをタ
ーン・オンするためのターン・オン信号を生成するレベ
ル感度受信器を使用する。スイッチはそれらの動的チャ
ネル・インピーダンスを使用するか、或いは伝送ライン
を終端するためにその値が選択される抵抗器をスイッチ
する。このカテゴリは更に2つのサブカテゴリに分割さ
れる。その第1は安定状態終端を含む。この例はCooper
man らによる1989年8月22日出願の米国特許出願
第4859877号"Bidirectional Digital Signal Tr
ansmission System"、及びIBM TDB Vol.28、No.10、M
arch 1986、pp.4268-4269 "Active Terminator forTra
nsmission Line"で述べられている。第2のサブカテゴ
リは一時終端のみを含む。この例はIBM TDB Vol.30、N
o.7、December 1987、pp.393-395"Transient Termina
tor for Transmission Lines"に述べられている。
【0008】これらのサブカテゴリで提示されるアプロ
ーチは、どちらも制限を有する。両者ともラインを横断
して終端インピーダンスをスイッチする時期を判断する
ために、レベル感度検出器を使用する。従って、終端は
入力遷移が所定の設計閾値を通過後、いくらかの遅延を
提供される。Cooperman の場合には終端極性を変化する
決定が下される以前に、6段階の遅延が存在する。上記
IBM TDB Vol.28、No.10の記事では2段階の遅延が存
在する。この遅延の結果、終端極性の変化は遅れて発生
し、追加の反射が発生する。これら両方の参照文献は、
安定状態におけるパワー無損失の達成を主張するが、遷
移の間に安定状態に達するまでの時間は所望されるより
も大きい。Cooperman 特許はまた、決定が活動状態の時
間を計測することを含んでいる。
【0009】上記IBM TDB Vol.30、No.7の記事はま
た、入射波が閾値を通過する時刻を検出するに当たり遅
延を被る。更に、これはZ0に近づけるために2個のト
ランジスタのチャネル・インピーダンスを使用するが、
2個のトランジスタは遅延ラインにより決定される一時
期間だけ導通する。その結果、終端回路はオーバーシュ
ートの期間を制限するためにのみ機能する。
【0010】第3のタイプのアプローチは、一時カット
・オフのために容量性結合を使用する。このタイプの例
はIBM TDB、Vol.19、No.10、March 1977、p.3745"Dy
namic Active Terminator Circuit" に述べられてい
る。このアプローチによれば正方向の遷移の間、キャパ
シタが電流をバイポーラ・トランジスタのベースに結合
し、これによりキャパシタ及び関連抵抗器により決定さ
れる時間間隔だけトランジスタがドライブされる。すな
わち、こうした時間間隔だけ回路に終端抵抗器を設置す
る。このアプローチは容量結合の遅延効果を受け、正方
向の遷移においてのみ動作する。
【0011】論理開路の受信終端に様々なタイプの回路
を設置する数多くの開示が従来成されてきたが、これら
は伝送ラインに適切な終端インピーダンスを提供する問
題について指摘していない。例えばIBM TDB Vol.32、N
o.10B、March 1990、pp.272-273 "Tri-State Driver
with Integrated Hold Circuit" では、従来技術とし
て、トライ・ステート・ドライバに接続されるラッチを
使用する。このラッチはトライ・ステート・ドライバの
ハイ・インピーダンス状態における受信器入力レベル
を"0"或いは"1"レベルに保持し、受信器入力が任意の
レベルにドリフトすることを阻止する。参照文献はその
電圧保持機能を達成するために、ラッチを受信器寄りで
はなく、トライ・ステート・ドライバに近接して配置す
ることを推奨する。これによりラッチのヒステリシス遅
延効果が、受信器におけるラッチの除去により、効果的
に除去されるものと述べている。
【0012】別のタイプの回路としてはIBM TDB、Vol.
32、No.12、May 1990、pp.389-392 "On-Chip Receive
r Featuring Fall-Through Radiation-HardendedLatchi
ng" などで開示されているフロー・スルー或いはフォー
ル・スルー・ラッチがある。この参照文献ではラッチが
特にメモリ・アプリケーションなどのVLSIチップ入
力に接続されて使用され、システム環境のインタリーブ
を支援することを指摘している。この参照文献は放射に
よる不要なラッチのスイッチングを阻止するための、こ
うしたラッチの放射対策技術についても提案しており、
これはラッチ内部に抵抗を提供することにより、放射に
より生成される短い電気的パルスを積分化し、それによ
りこうした不要なスイッチングを阻止する。しかしなが
ら、参照文献では伝送ラインの終端或いはインピーダン
ス整合について何も教示していない。
【0013】更に別のタイプの回路にアンダーシュート
/オーバーシュート・クランプ或いはダンパがある。こ
れらの例はC.M.Petersonによる1992年4月7日出
願の米国特許出願第5103118号"High Speed Anti
-Undershoot and Anti-Overshoot Circuit"、及びT.
P.Hagen らによる1990年11月13日出願の米国
特許出願第4970419号"Low-Noise Transmission
Line TerminationCircuitry"、及びG.G.Slaughter に
よる1990年7月24日出願の米国特許出願第494
3739号"Non-Reflecting Transmission Line Termin
ation"、及びE.E.Davidsonらによる1977年3月2
9日出願の米国特許出願第4015147号"Low Power
Transmission Line Terminator"に記載されている。
【0014】
【発明が解決しようとする課題】従って本発明の目的
は、安定状態において実質的にパワーを消費しない伝送
ライン終端器を提供することである。
【0015】本発明の別の目的は、伝送ライン上の反射
を最小化する、伝送ラインとの好適なインピーダンス整
合を提供するこうした終端器を提供することである。
【0016】更に本発明の目的は、最小数の回路素子に
より効率的に実施される伝送ライン終端器を提供するこ
とである。
【0017】
【課題を解決するための手段】本発明の原理によれば、
パワー・ソースから比較的少量のDC電流を引出す能動
回路伝送ライン終端器が提供される。本発明の終端器
は、特性インピーダンスを有する伝送ラインの終端に接
続される入力ポート(例えば、図1の9)、一端が前記
入力ポートに接続された抵抗手段(例えば、図1のR
T)、及び前記抵抗手段の他端に接続されたラッチ・ポ
ートを有するラッチ回路(例えば、図1の3)を含む。
ラッチ回路は、第1の直列回路(例えば、図1のFET
素子5、7)、及び第2の直列回路(例えば、図1のF
ET素子4、6)を有する。第1の直列回路は、パワー
・ソース(Vdd)とグランド間に直列に接続された第1
導電型の第1トランジスタ(例えば、p−タイプFET
素子5)及び前記第1導電型と相補的な第2導電型の第
2トランジスタ(例えば、n−タイプFET素子7)を
含み、第1及び第2のトランジスタの制御入力はラッチ
・ポート(8)に接続される。第2の直列回路は、パワ
ー・ソース(Vdd)とグランド間に直列に接続された第
1導電型の第3トランジスタ(例えば、図1のp−タイ
プFET素子4)及び第2導電型の第4トランジスタ
(例えば、図1のn−タイプFET素子6)を含み、そ
の直列接続点はラッチ・ポート(8)に接続され、第3
及び第4のトランジスタの制御入力は前記第1及び第2
のトランジスタの直列接続点の信号に応答するように接
続される。第3及び第4のトランジスタ(4、6)及び
抵抗手段(RT)のインピーダンスは、パワー・ソース
及びグランドの各々に対する入力ポートにおけるインピ
ーダンスが伝送ラインの特性インピーダンスと等しくな
るように選択される。本発明の終端器は、第3トランジ
スタをラッチ・ポートに選択的に接続するために、第3
トランジスタとラッチ・ポート間に挿入された第1スイ
ッチ手段(例えば、図4の15)、及び第4トランジス
タをラッチ・ポートに選択的に接続するために、第4ト
ランジスタとラッチ・ポート間に挿入された第2スイッ
チ手段(例えば、図4の16)を含むことができる。こ
のとき、第3トランジスタ、第4トランジスタ、第1ス
イッチ手段、第2スイッチ手段及び抵抗手段のインピー
ダンスは、パワー・ソース及びグランドの各々に対する
入力ポートにおけるインピーダンスが伝送ラインの特性
インピーダンスと等しくなるように選択される。ラッチ
回路は、入力ポートに供給される信号に応答して、その
状態をスイッチする。抵抗手段は、入力ポート電圧が、
一方のラッチ状態の入力ポート電圧値と、反対のラッチ
状態の入力ポート電圧値との電圧差の半分より実質的に
大きい時に状態をスイッチさせる手段として働く。すな
わち、この抵抗手段は、ヒステリシスを提供するための
手段である。トランジスタ及び抵抗手段の特性は、入力
ポートで見た時のACグランドに対するインピーダンス
が実質的に伝送ラインの特性インピーダンスに等しく、
伝送ラインに与えられるエネルギが、伝送ラインの特性
インピーダンスに実質的に等しいインピーダンスにより
終端されるように選択される。
【0018】本発明の第1の実施例によれば、第1導電
型及び第2導電型のトランジスタはp−タイプ及びn−
タイプの金属酸化膜半導体電界効果トランジスタ(MOSF
ET)であり、ヒステリシス提供手段はラッチ・ポートと
入力ポート間に接続される抵抗器である。この実施例は
ピコアンペアで測定される、顕著に低い安定状態電流を
引出す。しかしながら、本発明はMOSFET技術の応用例に
限るものではなく、例えばバイポーラ技術にも適用でき
る。しかしながら、当業者においてはこうした代替実施
例における安定状態電流の消費は、一般にMOSFET技術の
場合に比較して大きくなることが理解されよう。
【0019】本発明の伝送ライン終端器は終端極性を変
化するために、崩壊する電磁界によるパワー消費をセン
スし、それ自身最適な時期にこうした変化を自動的に発
生させる。更に、4個の素子及び1個の抵抗器が必要と
されるだけである。
【0020】
【実施例】図1は本発明の第1の実施例のネットワーク
を示し、電圧ドライバ1及び近端に接続されるテブナン
等価抵抗RD を含み、これは、特性インピーダンスZ0
を有し、その遠端が回路3により終端される伝送ライン
2をドライブする。回路3はp−タイプのFET素子4
及び5、及びn−タイプのFET素子6及び7を含み、
これらは相互に接続されてラッチを形成する。このラッ
チは図示のように伝送ライン2の終端に抵抗RT により
結合される。Vddはこの回路の供給電圧である。こうし
た回路は典型的には集積回路上に組込まれる。例えば、
周知の技術により、入力抵抗器RT はその導通状態にバ
イアスされる適切なサイズの相補形トランジスタにより
構成できる。
【0021】素子4及び6はゼロ入力状態において、素
子6のチャネル・インピーダンス及び抵抗RT の合成イ
ンピーダンスが、伝送ライン2の特性インピーダンスZ
0に等しくなるように、そのサイズが決定される。入力
状態"1"では素子4のチャネル・インピーダンス及び抵
抗RTの合成インピーダンスはZ0に等しい。RT=Z0
の特定のケースは素子サイズが無限である必要があるた
め、不可能である。
【0022】抵抗器RT の目的はラッチ・ポート8がほ
とんどの入力遷移に対し、入力ポート9よりも遅延する
ようにヒステリシス効果を提供することである。換言す
るとラッチ・ポートは、入力ポートとACグランド間の
電圧分割器のタップ・ポイントに相当する。これはラッ
チがスイッチを開始する以前に、遷移が入力ポート9に
おいて、その中間点を十分に越えていることを保証す
る。これはラッチ/伝送ライン・システムの発振、及び
ライン上のリンギングなどの抵抗器RT が存在しない場
合に発生する可能性のある望ましくない状態を回避す
る。特定のケースであるRT =0はヒステリシス効果を
提供しないため適切と見なされない。RT の都合のよい
値はZ0の半分である。しかしながら、RT の値の選択
は本明細書において説明される、本発明の原理を理解す
れば、設計選択の事項としてなしうることである。更
に、抵抗器RT は固定値であることが好適であるが、こ
れが接続される伝送ラインの特性インピーダンスの変化
を補償するために、調整可能としても良い。
【0023】ここで述べたヒステリシス効果は電圧領域
ヒステリシスである。しかしながら、時間領域ヒステリ
シスも同様に効果的である。従って、スイッチング素子
5及び7にキャパシタを接続し、ラッチのスイッチング
を遅延させることによっても、不適な状態を阻止するこ
とができる。ヒステリシスを提供する他の手段も考えら
れ、本発明におけるこうした他の素子による置換えにつ
いても、全て本発明の範中に含まれるものである。
【0024】図1の実施例の説明に戻り、素子5及び7
のサイズはラッチのスイッチング時間が、伝送ライン2
からの入力遷移の立上り/立下り時間より小さいように
選択される。
【0025】図1では示されていないが従来の技術で述
べられたように、典型的には受信器などの種々の複数の
回路が、伝送ライン2に沿う種々のポイントに接続され
る。
【0026】安定状態では回路3のラッチ部分は前回終
端されたライン状態を保持し、Z0インピーダンスを伝
送ライン2に提供する。新たな入射波が回路3に提供さ
れると、伝送ライン内における電圧及び電流とおよそ同
じ比率(すなわちZ0)の電圧及び電流が回路3内に生
成される。入射波がその最大値に近づくと、ライン2に
おける電磁界の崩壊の結果、回路3内で消費されるパワ
ーに応答してラッチがスイッチする。
【0027】図2は図1の伝送ライン2に入射する波に
対する応答を示す電圧対時間のグラフである。実線10
はライン2の近端における電圧応答を示し、破線11は
ライン2の遠端における電圧応答を示す。図3はライン
2の近端及び遠端における入射波に対する電流応答を示
す電流対時間のグラフであり、実線12はライン2の近
端における応答を、また破線13はライン2の遠端にお
ける応答を示す。ここでライン上における負荷は容量性
と仮定する。
【0028】図2に示される電圧遷移はライン2に入力
される以前に、Z0/(RD +Z0)の電圧分割効果に
より最初に減衰される。このパルスは時刻t1 において
回路3(図1)の伝送ライン2の遠端部分に流れ込み、
回路3の素子及び抵抗器インピーダンスにより実際に終
端される。しかしながら、その過程において図3のラッ
チは状態を変化し、この状態の変化は新たな波をソース
1に向けて発し、その結果、回路3の入力において制御
されたオーバーシュートが生じる。
【0029】このオーバーシュート波がソース・ドライ
バ1(図1)に時刻t2 に到着すると、不十分な終端に
遭遇し、回路3に向かって伝送される逆反射が返送され
る。回路3は既にスイッチされているため、この逆反射
が時刻t3 において回路3に達すると、オーバーシュー
トがキャンセルされる(図2)。換言すると時刻t3
おいて、回路3の入力における3つの波の和、すなわち
元の入射波、回路3の入力において引起こされるオーバ
ーシュート、及び近端からの逆反射波の和が、回路3の
入力における適切な境界条件を形成する。ここでライン
は図2に示されるように電圧値Eにチャージされ、ライ
ン電流は図3に示されるように時刻t3において0に戻
る。このように入射波エネルギは入射波の3回のライン
通過の後に完全に吸収される。換言するとラインの遠端
は入射波の3回のライン通過後に静止状態となる。時間
的に見た場合、この時点においてラインは新たな電圧値
Eにチャージされ、電流は0に落ち込み、回路3は新た
な値のライン・ポテンシャルを保持する。
【0030】回路3の動作はラッチのスイッチングにお
けるオーバーシュート値により、伝送ライン2のソース
端にこれが達する時に、RD の値に無関係にソース端が
電圧Eにステップ・アップされることを自動的に保証す
る。換言すると伝送ライン2のソース端における3波の
和、すなわち元の入射波、ソースに達するオーバーシュ
ート、及びオーバーシュート波の結果生ずる逆反射波の
和は近端において適切な境界条件を形成し、それにより
ラインは電圧Eにチャージされ、ソース電流は0とな
る。換言すると、ラインの近端は入射波の2回のライン
通過後に静止状態となる。
【0031】図2からライン2の近端における入射波の
電圧は、2回のライン通過後にEにステップ・アップさ
れることが分かる。ライン2の遠端においては、1回の
ライン通過後の電圧オーバーシュートは2回のライン通
過の間このレベルを保持し、その後Eにステップ・ダウ
ンされる。遠端においてはt3 後はエネルギが生じない
ため、全エネルギ吸収は3回のライン通過後に発生す
る。
【0032】図3の電流応答から、近端における入射電
流はE/(RD +Z0)にステップ・アップされ、2ラ
イン通過の間そこに保持され、その後0にステップ・ダ
ウンされることが分かる。間もなく反射が近端に到達
し、ラインの近端は2回のライン通過後に静止状態とな
る。
【0033】図2及び図3において立下りパルスについ
ても、立上りパルスに続いて現れることが示されてお
り、これは上述の状態の反対を示す。
【0034】図4は本発明の第2の実施例を示す回路図
である。図1の素子4、5、6及び7に対応する素子4
^、5^、6^及び7^の他に、p−タイプ素子15及びn
−タイプ素子16が設けられる。これらの追加素子15
及び16は、入力インピーダンスを強制的に開路にする
ためのフィードバックを不能にする追加機能を提供する
ために、スイッチ・オン/オフされる。この実施例は双
方向アプリケーションにおいて最も有用であり、この場
合、近端終端器は開路され、近端ドライバは低インピー
ダンス状態となる。この実施例ではライン2(図1)に
対応する適切な終端インピーダンスを提供するために、
追加素子15及び16のインピーダンス値は、素子4^
及び6^のインピーダンス、及び抵抗値RT を考慮して
決定されねばならない。
【0035】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば安
定状態において実質的にパワーを消費しない伝送ライン
終端器が提供される。
【図面の簡単な説明】
【図1】電圧ソースによりドライブされる伝送ラインに
接続される本発明の第1の実施例を示す回路図である。
【図2】図1の伝送ラインの近端及び遠端における電圧
波形を示すグラフである。
【図3】図1の伝送ラインの近端及び遠端における電流
波形を示すグラフである。
【図4】本発明の第2の実施例の能動回路部分の回路図
である。
【符号の説明】
2 伝送ライン 4、5 p−タイプの素子 6、7 n−タイプの素子 8 ラッチ・ポート 9 入力ポート
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 平2−196528(JP,A) 特開 平5−276070(JP,A) 特開 昭60−500355(JP,A)

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】特性インピーダンスを有する伝送ラインの
    終端に接続される入力ポートと、 一端が前記入力ポートに接続された抵抗手段と、 前記抵抗手段の他端に接続されたラッチ・ポートと、パ
    ワー・ソースとグランド間に直列に接続された第1導電
    型の第1トランジスタ及び前記第1導電型と相補的な第
    2導電型の第2トランジスタを含み、前記第1及び第2
    のトランジスタの制御入力が前記ラッチ・ポートに接続
    された第1の直列回路と、パワー・ソースとグランド間
    に直列に接続された第1導電型の第3トランジスタ及び
    前記第2導電型の第4トランジスタを含み、その直列接
    続点が前記ラッチ・ポートに接続され、前記第3及び第
    4のトランジスタの制御入力が前記第1及び第2のトラ
    ンジスタの前記直列接続点の信号に応答するように接続
    された第2の直列回路とを含むラッチ回路とを有し、 前記第3及び第4のトランジスタ及び前記抵抗手段のイ
    ンピーダンスは、前記パワー・ソース及び前記グランド
    の各々に対する前記入力ポートにおけるインピーダンス
    が前記伝送ラインの特性インピーダンスと等しくなるよ
    うに選択されていることを特徴とする伝送ライン終端
    器。
  2. 【請求項2】前記第3トランジスタを前記ラッチ・ポー
    トに選択的に接続するために、前記第3トランジスタと
    前記ラッチ・ポート間に挿入された第1スイッチ手段
    と、 前記第4トランジスタを前記ラッチ・ポートに選択的に
    接続するために、前記第4トランジスタと前記ラッチ・
    ポート間に挿入された第2スイッチ手段とを含み、 前記の第3トランジスタ、第4トランジスタ、第1スイ
    ッチ手段、第2スイッチ手段及び抵抗手段のインピーダ
    ンスは、前記パワー・ソース及び前記グランドの各々に
    対する前記入力ポートにおけるインピーダンスが前記伝
    送ラインの特性インピーダンスと等しくなるように選択
    されていることを特徴とする請求項1に記載の伝送ライ
    ン終端器。
JP5100719A 1992-06-10 1993-04-27 伝送ライン終端器 Expired - Lifetime JP2694105B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US896719 1992-06-10
US07/896,719 US5227677A (en) 1992-06-10 1992-06-10 Zero power transmission line terminator

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0661786A JPH0661786A (ja) 1994-03-04
JP2694105B2 true JP2694105B2 (ja) 1997-12-24

Family

ID=25406718

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5100719A Expired - Lifetime JP2694105B2 (ja) 1992-06-10 1993-04-27 伝送ライン終端器

Country Status (3)

Country Link
US (1) US5227677A (ja)
EP (1) EP0573807A3 (ja)
JP (1) JP2694105B2 (ja)

Families Citing this family (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5282173A (en) * 1991-05-07 1994-01-25 Sony Corporation Semiconductor memory device with high speed transmission of address signals between a predecoder and a main decoder
US5831467A (en) * 1991-11-05 1998-11-03 Monolithic System Technology, Inc. Termination circuit with power-down mode for use in circuit module architecture
DE69226150T2 (de) * 1991-11-05 1999-02-18 Hsu Fu Chieh Redundanzarchitektur für Schaltungsmodul
DE69232168T2 (de) * 1992-05-27 2002-07-18 Cons Ric Microelettronica CMOS-Logikschaltung
JPH08500687A (ja) 1992-08-10 1996-01-23 モノリシック・システム・テクノロジー・インコーポレイテッド ウェハ規模の集積化のためのフォルトトレラントな高速度のバス装置及びバスインタフェース
US5422608A (en) * 1992-09-23 1995-06-06 Texas Instruments Incorporated Adaptive transmission line termination
JP3139868B2 (ja) * 1993-03-10 2001-03-05 株式会社東芝 入力回路
US5345113A (en) * 1993-05-19 1994-09-06 Unisys Corporation Control module for reducing ringing in digital signals on a transmission line
DE69434903T2 (de) * 1993-11-29 2007-04-26 Fujitsu Ltd., Kawasaki Elektronisches System zum Abschluss von Busleitungen
US5668834A (en) * 1993-12-28 1997-09-16 Hitachi, Ltd. Signal transmitting device suitable for fast signal transmission including an arrangement to reduce signal amplitude in a second stage transmission line
US5767695A (en) * 1993-12-28 1998-06-16 Takekuma; Toshitsugu Fast transmission line implemented with receiver, driver, terminator and IC arrangements
JP2882266B2 (ja) * 1993-12-28 1999-04-12 株式会社日立製作所 信号伝送装置及び回路ブロック
US5502400A (en) * 1994-02-15 1996-03-26 International Business Machines Corporation Logically configurable impedance matching input terminators for VLSI
SE9400657D0 (sv) * 1994-02-25 1994-02-25 Ellemtel Utvecklings Ab En, en kontrollspänning alstrande, krets
US5655113A (en) 1994-07-05 1997-08-05 Monolithic System Technology, Inc. Resynchronization circuit for a memory system and method of operating same
SE502835C2 (sv) * 1994-11-23 1996-01-29 Ellemtel Utvecklings Ab Termineringsnätsrelaterat kopplingsarrangemang
EP0744097A1 (en) * 1994-12-08 1996-11-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Terminating transmission line impedance-matching circuit
US5530377A (en) * 1995-07-05 1996-06-25 International Business Machines Corporation Method and apparatus for active termination of a line driver/receiver
JPH0955651A (ja) * 1995-08-15 1997-02-25 Toshiba Corp 論理回路
JP3192937B2 (ja) * 1995-08-31 2001-07-30 株式会社東芝 バスホールド回路
US6229372B1 (en) * 1998-04-23 2001-05-08 International Business Machines Corporation Active clamp network for multiple voltages
US6075399A (en) * 1998-04-23 2000-06-13 International Business Machines Corporation Switchable active clamp network
US6408347B1 (en) 1998-12-10 2002-06-18 Cisco Technology, Inc. Integrated multi-function adapters using standard interfaces through single a access point
US6294942B2 (en) 1999-03-09 2001-09-25 International Business Machines Corporation Method and apparatus for providing self-terminating signal lines
US6222413B1 (en) 1999-03-16 2001-04-24 International Business Machines Corporation Receiver assisted net driver circuit
US6380787B1 (en) * 1999-08-31 2002-04-30 Micron Technology, Inc. Integrated circuit and method for minimizing clock skews
US6501293B2 (en) 1999-11-12 2002-12-31 International Business Machines Corporation Method and apparatus for programmable active termination of input/output devices
US6486696B1 (en) * 2000-02-23 2002-11-26 Lucent Technologies Inc. Termination structure for high speed, high pin density chips
US6359465B1 (en) * 2000-05-30 2002-03-19 International Business Machines Corporation CMOS small signal switchable adjustable impedence terminator network
US6356104B1 (en) * 2000-05-30 2002-03-12 International Business Machines Corporation CMOS small signal switchable, impedence and voltage adjustable terminator network
US6512393B1 (en) * 2000-11-15 2003-01-28 California Micro Devices, Inc. Method and apparatus for non-linear termination of a transmission line
TW536066U (en) 2001-03-13 2003-06-01 Realtek Semiconductor Corp Impedance matching circuit
US6737926B2 (en) * 2001-08-30 2004-05-18 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for providing clock signals at different locations with minimal clock skew
US6686763B1 (en) 2002-05-16 2004-02-03 Pericam Semiconductor Corp. Near-zero propagation-delay active-terminator using transmission gate
US6865512B2 (en) * 2002-11-12 2005-03-08 Koninklijke Philips Electronics N.V. Automated medical imaging system maintenance diagnostics
US7138821B2 (en) * 2002-11-18 2006-11-21 Koninklijke Philips Electronics N.V. Digital filter circuit and method for blocking a transmission line reflection signal
US7068064B1 (en) 2003-05-12 2006-06-27 Pericom Semiconductor Corp. Memory module with dynamic termination using bus switches timed by memory clock and chip select
US8736306B2 (en) * 2011-08-04 2014-05-27 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods of communicating differential serial signals including charge injection

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4015147A (en) * 1974-06-26 1977-03-29 International Business Machines Corporation Low power transmission line terminator
US4345171A (en) * 1980-06-30 1982-08-17 Texas Instruments Incorporated Adaptable nonlinear transmission line terminator
US4859877A (en) * 1988-01-04 1989-08-22 Gte Laboratories Incorporated Bidirectional digital signal transmission system
JPH02196528A (ja) * 1989-01-26 1990-08-03 Fujitsu Ltd 終端回路
US4985674A (en) * 1989-10-16 1991-01-15 Rockwell International Corporation Real time, hostile environment, memory tester interface
JP2902016B2 (ja) * 1989-11-21 1999-06-07 株式会社日立製作所 信号伝送方法および回路
US5023488A (en) * 1990-03-30 1991-06-11 Xerox Corporation Drivers and receivers for interfacing VLSI CMOS circuits to transmission lines
US5029284A (en) * 1990-04-30 1991-07-02 Motorola, Inc. Precision switchable bus terminator circuit

Also Published As

Publication number Publication date
EP0573807A2 (en) 1993-12-15
EP0573807A3 (en) 1994-07-27
US5227677A (en) 1993-07-13
JPH0661786A (ja) 1994-03-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2694105B2 (ja) 伝送ライン終端器
US5546016A (en) MOS termination for low power signaling
EP1006657B1 (en) Constant impedance, low noise CMOS buffer
US5347177A (en) System for interconnecting VLSI circuits with transmission line characteristics
US5619147A (en) CMOS buffer with controlled slew rate
US6054881A (en) Input/output (I/O) buffer selectively providing resistive termination for a transmission line coupled thereto
US7363595B2 (en) Method and apparatus for analog compensation of driver output signal slew rate against device impedance variation
US5811997A (en) Multi-configurable push-pull/open-drain driver circuit
US5936429A (en) Interface circuit and method for transmitting binary logic signals with reduced power dissipation
JP2977223B2 (ja) 対雑音回路
JPH1093417A (ja) 伝送ライン・ドライブ用プッシュプル回路
US6184730B1 (en) CMOS output buffer with negative feedback dynamic-drive control and dual P,N active-termination transmission gates
JP3121586B2 (ja) 動的線路終端クランプ回路
KR100453760B1 (ko) 다중 반사의 발생을 방지할 수 있는 반도체 장치, 이장치의 구동 방법 및 세팅 방법
EP0228585B1 (en) Small signal swing driver circuit
US6281702B1 (en) CMOS small signal terminated hysteresis receiver
US5485107A (en) Backplane driver circuit
US7157931B2 (en) Termination circuits having pull-down and pull-up circuits and related methods
US5852372A (en) Apparatus and method for signal handling on GTL-type buses
US6262591B1 (en) SOI small signal terminated receiver
US6429678B1 (en) Capacitively-coupled extended swing zero-DC-power active termination with CMOS overshoot/undershoot clamps
US5093587A (en) ECL bidirectional bus for use in a network with modules which employs high resistance interconnect technology between module
US6265914B1 (en) Predriver for high frequency data transceiver
US6335632B1 (en) CMOS small signal switchable terminator network
JPH0432313A (ja) 出力回路