JP2688012B2 - 熱拡散率測定方法 - Google Patents
熱拡散率測定方法Info
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- JP2688012B2 JP2688012B2 JP7114284A JP11428495A JP2688012B2 JP 2688012 B2 JP2688012 B2 JP 2688012B2 JP 7114284 A JP7114284 A JP 7114284A JP 11428495 A JP11428495 A JP 11428495A JP 2688012 B2 JP2688012 B2 JP 2688012B2
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N25/00—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
- G01N25/18—Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating thermal conductivity
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は熱拡散率測定方法に関
し、特に試料を操作周波数の下で周期的に加熱してその
一部を熱源とし、その熱源により生じる交流温度の温度
波特性を測定することにより熱拡散率を測定する交流法
による熱拡散率測定方法に関するものである。
し、特に試料を操作周波数の下で周期的に加熱してその
一部を熱源とし、その熱源により生じる交流温度の温度
波特性を測定することにより熱拡散率を測定する交流法
による熱拡散率測定方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】高温超電導材料を始めとする新材料開発
の分野では、初期段階では良質の試料が極微量しか合成
されないのが普通であり、極微量の試料に対しても高感
度な熱物性評価が可能な交流法による測定は、このよう
な新材料の評価に最適と考えられ、同法に基づいて比熱
測定法や熱拡散率測定法、熱伝導率測定法が種々提案さ
れている。このような測定法のうち、熱拡散率測定法に
も様々な方法が提案されているが、以下の２種類の方法
に大別される。但し、操作周波数ｆの周期加熱に応答す
る試料の交流温度の振幅をＡ、位相をθ、加熱部と測温
部の相対距離を特徴づける長さをｌとする。 （１）長さｌが一定の場合、振幅Ａまたは位相θのｆ依
存性を測定し、熱拡散率Ｄを決定する。 （２）操作周波数ｆが一定の場合、振幅Ａまたは位相θ
のｌ依存性を測定し、熱拡散率Ｄを決定する。
の分野では、初期段階では良質の試料が極微量しか合成
されないのが普通であり、極微量の試料に対しても高感
度な熱物性評価が可能な交流法による測定は、このよう
な新材料の評価に最適と考えられ、同法に基づいて比熱
測定法や熱拡散率測定法、熱伝導率測定法が種々提案さ
れている。このような測定法のうち、熱拡散率測定法に
も様々な方法が提案されているが、以下の２種類の方法
に大別される。但し、操作周波数ｆの周期加熱に応答す
る試料の交流温度の振幅をＡ、位相をθ、加熱部と測温
部の相対距離を特徴づける長さをｌとする。 （１）長さｌが一定の場合、振幅Ａまたは位相θのｆ依
存性を測定し、熱拡散率Ｄを決定する。 （２）操作周波数ｆが一定の場合、振幅Ａまたは位相θ
のｌ依存性を測定し、熱拡散率Ｄを決定する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記（１）
（２）のいずれの場合も、熱拡散率Ｄの温度依存性を求
めるためには、各温度で上記手続きを繰り返す手間が必
要であり、しかも熱拡散率Ｄは温度変化によってその大
きさが容易に１〜２桁変化してしまうので、温度管理を
精度良く行う必要があり、一般に広い温度範囲での詳細
なデータ取得には膨大な時間を要してしまう。また、操
作周波数ｆが一定の（２）の方法では、原理的に熱拡散
率Ｄの測定のダイナミックレンジが狭く、広範囲に渡る
測定では系統誤差が含まれやすくなる。さらに、（１）
の方法においては操作周波数ｆを幅広く取る必要がある
が、高周波数側では信号強度が急激に低下するために、
高分解能化が困難になる。
（２）のいずれの場合も、熱拡散率Ｄの温度依存性を求
めるためには、各温度で上記手続きを繰り返す手間が必
要であり、しかも熱拡散率Ｄは温度変化によってその大
きさが容易に１〜２桁変化してしまうので、温度管理を
精度良く行う必要があり、一般に広い温度範囲での詳細
なデータ取得には膨大な時間を要してしまう。また、操
作周波数ｆが一定の（２）の方法では、原理的に熱拡散
率Ｄの測定のダイナミックレンジが狭く、広範囲に渡る
測定では系統誤差が含まれやすくなる。さらに、（１）
の方法においては操作周波数ｆを幅広く取る必要がある
が、高周波数側では信号強度が急激に低下するために、
高分解能化が困難になる。
【０００４】この発明は上記に鑑み提案されたもので、
熱拡散率の測定を効率よくかつ高精度、高分解能で行う
ことができる熱拡散率測定方法を提供することを目的と
する。
熱拡散率の測定を効率よくかつ高精度、高分解能で行う
ことができる熱拡散率測定方法を提供することを目的と
する。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の熱拡散率測定方法は、試料を操作周波数
の下で周期的に加熱してその一部を熱源とし、その熱源
により生じる交流温度の温度波特性を測定することによ
り熱拡散率を測定する熱拡散率測定方法において、上記
熱源から所定の相対距離にある検出位置での上記交流温
度の位相を一定に保つように操作周波数をフィードバッ
ク制御し、そのフィードバック制御における操作周波数
の相対変化に基づいて熱拡散率を測定するものである。
に、この発明の熱拡散率測定方法は、試料を操作周波数
の下で周期的に加熱してその一部を熱源とし、その熱源
により生じる交流温度の温度波特性を測定することによ
り熱拡散率を測定する熱拡散率測定方法において、上記
熱源から所定の相対距離にある検出位置での上記交流温
度の位相を一定に保つように操作周波数をフィードバッ
ク制御し、そのフィードバック制御における操作周波数
の相対変化に基づいて熱拡散率を測定するものである。
【０００６】
【作用】上述したように、この発明によれば、先ず試料
を操作周波数の下で周期的に加熱してその一部を熱源と
し、その熱源によって生じる交流温度の位相を一定に保
つように操作周波数をフィードバック制御する。このフ
ィードバック制御の下では、試料温度を変えた場合、熱
拡散率の変化に応じて、フィードバック制御ループをバ
ランスさせる操作周波数も変化することになる。すなわ
ち、熱拡散率の相対変化が操作周波数の相対変化に置換
して検出されることとなるので、熱拡散率はこの操作周
波数の相対変化に基づいて求まる。
を操作周波数の下で周期的に加熱してその一部を熱源と
し、その熱源によって生じる交流温度の位相を一定に保
つように操作周波数をフィードバック制御する。このフ
ィードバック制御の下では、試料温度を変えた場合、熱
拡散率の変化に応じて、フィードバック制御ループをバ
ランスさせる操作周波数も変化することになる。すなわ
ち、熱拡散率の相対変化が操作周波数の相対変化に置換
して検出されることとなるので、熱拡散率はこの操作周
波数の相対変化に基づいて求まる。
【０００７】例えば、極低温側の温度Ｔ１で上記のフィ
ードバック制御を行ったときの操作周波数をｆ１、常温
Ｔｓで上記のフィードバック制御を行ったときの操作周
波数をｆｓとする。また常温Ｔｓでの試料の熱拡散率Ｄ
ｓは、従来手法で測定して既知であるとする。温度Ｔ１
での熱拡散率をＤ１とすると、上記のフィードバック制
御時にはＤ１／Ｄｓ＝ｆ１／ｆｓが成立することとな
り、熱拡散率Ｄ１は操作周波数の相対変化ｆ１／ｆｓに
基づいて（ｆ１／ｆｓ）＊Ｄｓで与えられる。
ードバック制御を行ったときの操作周波数をｆ１、常温
Ｔｓで上記のフィードバック制御を行ったときの操作周
波数をｆｓとする。また常温Ｔｓでの試料の熱拡散率Ｄ
ｓは、従来手法で測定して既知であるとする。温度Ｔ１
での熱拡散率をＤ１とすると、上記のフィードバック制
御時にはＤ１／Ｄｓ＝ｆ１／ｆｓが成立することとな
り、熱拡散率Ｄ１は操作周波数の相対変化ｆ１／ｆｓに
基づいて（ｆ１／ｆｓ）＊Ｄｓで与えられる。
【０００８】
【実施例】以下にこの発明の実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。図１はこの発明を実施するための計測シ
ステムの一例を示す図である。この計測システムでは、
加熱用光学系の光源としてＨｅ−Ｎｅレーザ１を用いて
いる。Ｈｅ−Ｎｅレーザ１から出力されたレーザビーム
は、音響光学素子２を通過して厚さｄの薄板状の試料３
表面に照射され、ガウシアン強度プロファイルのビーム
スポットでその照射部分を周期的に加熱する。この結果
として、試料３裏面の検出位置４には周期的な温度変化
が現れ、その周期的温度（交流温度）の変化を熱電対５
で検出しロックインアンプ６で検波することにより、位
相θが測定される。この位相θの一定制御値からの偏差
は常にコンピュータ７で監視され、この偏差を打ち消す
ように操作周波数ｆを決定し、チョッピングドライバ８
を通じ音響光学素子２を制御する。この音響光学素子２
の制御によってＨｅ−Ｎｅレーザ１からのレーザビーム
は、任意の操作周波数ｆで強度変調可能となるととも
に、試料３表面上の特定位置に固定して照射可能とな
る。
細に説明する。図１はこの発明を実施するための計測シ
ステムの一例を示す図である。この計測システムでは、
加熱用光学系の光源としてＨｅ−Ｎｅレーザ１を用いて
いる。Ｈｅ−Ｎｅレーザ１から出力されたレーザビーム
は、音響光学素子２を通過して厚さｄの薄板状の試料３
表面に照射され、ガウシアン強度プロファイルのビーム
スポットでその照射部分を周期的に加熱する。この結果
として、試料３裏面の検出位置４には周期的な温度変化
が現れ、その周期的温度（交流温度）の変化を熱電対５
で検出しロックインアンプ６で検波することにより、位
相θが測定される。この位相θの一定制御値からの偏差
は常にコンピュータ７で監視され、この偏差を打ち消す
ように操作周波数ｆを決定し、チョッピングドライバ８
を通じ音響光学素子２を制御する。この音響光学素子２
の制御によってＨｅ−Ｎｅレーザ１からのレーザビーム
は、任意の操作周波数ｆで強度変調可能となるととも
に、試料３表面上の特定位置に固定して照射可能とな
る。
【０００９】このように、上記の計測システムはフィー
ドバックループを構成し、操作周波数ｆをフィードバッ
ク制御することにより、試料３裏面の検出位置４での周
期的温度変化の位相θを常に一定に保っている。
ドバックループを構成し、操作周波数ｆをフィードバッ
ク制御することにより、試料３裏面の検出位置４での周
期的温度変化の位相θを常に一定に保っている。
【００１０】次にこの発明の熱拡散率測定方法について
説明する。この発明の熱拡散率測定方法は、操作周波数
ｆを測定変数とし、位相θを常に一定に保つように操作
周波数ｆをフィードバック制御することで、熱拡散率Ｄ
を操作周波数ｆに置換して検出する方法である。これは
以下に示す温度波の伝播方程式に基づき説明される。
説明する。この発明の熱拡散率測定方法は、操作周波数
ｆを測定変数とし、位相θを常に一定に保つように操作
周波数ｆをフィードバック制御することで、熱拡散率Ｄ
を操作周波数ｆに置換して検出する方法である。これは
以下に示す温度波の伝播方程式に基づき説明される。
【００１１】一般に、ρｃ・ｅｘｐ（ｉ２πｆｔ）の点
熱源（ρは密度、ｃは単位体積当たりの熱容量）が引き
起こす温度波の伝播方程式は、距離ｌ離れた点での交流
温度をＴとして Ｔ＝（４πＤｌ）-1・ｅｘｐ｛−ｋｌ＋ｉ（２πｆｔ−ｋｌ）｝・・・式１ となり、これを特徴づける温度波の波数ｋは次式２で表
される。 ｋ＝（πｆ／Ｄ）1/2＝１／λ・・・式２ λは熱拡散長となる。式１から分かるように検出される
交流温度Ｔの位相は−ｋｌとなり、ｌが一定の条件で
は、ｋのみに依存する。また式２よりｋはＤおよびｆの
みに依存する。
熱源（ρは密度、ｃは単位体積当たりの熱容量）が引き
起こす温度波の伝播方程式は、距離ｌ離れた点での交流
温度をＴとして Ｔ＝（４πＤｌ）-1・ｅｘｐ｛−ｋｌ＋ｉ（２πｆｔ−ｋｌ）｝・・・式１ となり、これを特徴づける温度波の波数ｋは次式２で表
される。 ｋ＝（πｆ／Ｄ）1/2＝１／λ・・・式２ λは熱拡散長となる。式１から分かるように検出される
交流温度Ｔの位相は−ｋｌとなり、ｌが一定の条件で
は、ｋのみに依存する。また式２よりｋはＤおよびｆの
みに依存する。
【００１２】ここで、周波数ｆ１、測定時の試料温度Ｔ
１、熱拡散率がＤ１、波数がｋ１の状態から周波数ｆ
２、測定時の試料温度Ｔ２、熱拡散率がＤ２、波数がｋ
２の状態に移行したとする。ｋ２がｋ１に等しくなるよ
うにｆ２を設定すると、上記の式２から ｆ１／Ｄ１＝ｆ２／Ｄ２ 即ち ｆ２／ｆ１＝Ｄ２／Ｄ１・・・式３ となる。上記のフィードバックループのもとで、試料温
度Ｔを変えた場合、熱拡散率Ｄの変化に伴い、式３で表
されるように、ループをバランスさせる操作周波数ｆが
変化することになる。即ち、熱拡散率Ｄの相対変化が操
作周波数ｆの相対変化に置換して検出され、熱拡散率Ｄ
の相対変化Ｄ２／Ｄ１を操作周波数の相対変化ｆ２／ｆ
１に置換して検出することが可能となる。
１、熱拡散率がＤ１、波数がｋ１の状態から周波数ｆ
２、測定時の試料温度Ｔ２、熱拡散率がＤ２、波数がｋ
２の状態に移行したとする。ｋ２がｋ１に等しくなるよ
うにｆ２を設定すると、上記の式２から ｆ１／Ｄ１＝ｆ２／Ｄ２ 即ち ｆ２／ｆ１＝Ｄ２／Ｄ１・・・式３ となる。上記のフィードバックループのもとで、試料温
度Ｔを変えた場合、熱拡散率Ｄの変化に伴い、式３で表
されるように、ループをバランスさせる操作周波数ｆが
変化することになる。即ち、熱拡散率Ｄの相対変化が操
作周波数ｆの相対変化に置換して検出され、熱拡散率Ｄ
の相対変化Ｄ２／Ｄ１を操作周波数の相対変化ｆ２／ｆ
１に置換して検出することが可能となる。
【００１３】図２はこの発明の熱拡散率測定方法を適用
したときの測定結果を示す図である。試料には高温超電
導材料を用いている。図において、曲線Ｃは、試料を極
低温から常温近傍まで変化させたときの各試料温度Ｔで
の操作周波数ｆを示している。この操作周波数ｆの曲線
Ｃを用いて試料の熱拡散率Ｄは、次のようにして求める
ことができる。
したときの測定結果を示す図である。試料には高温超電
導材料を用いている。図において、曲線Ｃは、試料を極
低温から常温近傍まで変化させたときの各試料温度Ｔで
の操作周波数ｆを示している。この操作周波数ｆの曲線
Ｃを用いて試料の熱拡散率Ｄは、次のようにして求める
ことができる。
【００１４】すなわち、極低温側の温度Ｔ１で上記のフ
ィードバック制御を行ったときの操作周波数をｆ１、常
温Ｔｓで上記のフィードバック制御を行ったときの操作
周波数をｆｓとする。また常温Ｔｓでの試料の熱拡散率
Ｄｓ（図中○印で示した校正点での熱拡散率）は、従来
手法、例えば位相θの操作周波数ｆ依存性の測定に基づ
いて既知であるとする。温度Ｔ１での熱拡散率をＤ１と
すると、上記のフィードバック制御時にはＤ１／Ｄｓ＝
ｆ１／ｆｓが成立することとなり、熱拡散率Ｄ１は操作
周波数の相対変化ｆ１／ｆｓに基づいて（ｆ１／ｆｓ）
＊Ｄｓで与えられる。このようにして、各試料温度Ｔで
の熱拡散率Ｄを曲線Ｃの各点に対応して求めることがで
きる。
ィードバック制御を行ったときの操作周波数をｆ１、常
温Ｔｓで上記のフィードバック制御を行ったときの操作
周波数をｆｓとする。また常温Ｔｓでの試料の熱拡散率
Ｄｓ（図中○印で示した校正点での熱拡散率）は、従来
手法、例えば位相θの操作周波数ｆ依存性の測定に基づ
いて既知であるとする。温度Ｔ１での熱拡散率をＤ１と
すると、上記のフィードバック制御時にはＤ１／Ｄｓ＝
ｆ１／ｆｓが成立することとなり、熱拡散率Ｄ１は操作
周波数の相対変化ｆ１／ｆｓに基づいて（ｆ１／ｆｓ）
＊Ｄｓで与えられる。このようにして、各試料温度Ｔで
の熱拡散率Ｄを曲線Ｃの各点に対応して求めることがで
きる。
【００１５】試料温度Ｔは、試料が小さいため極めて短
時間にそのときの雰囲気温度と一致し、安定に保つこと
ができるので、それに伴って各試料温度Ｔでの操作周波
数ｆも安定して短時間に求めることができる。したがっ
て、熱拡散率Ｄもフィードバック制御ループがバランス
する範囲内で温度掃引下で速やかに求めることができ、
従来方法に比べて約１０倍以上の効率でデータ取得が可
能である。
時間にそのときの雰囲気温度と一致し、安定に保つこと
ができるので、それに伴って各試料温度Ｔでの操作周波
数ｆも安定して短時間に求めることができる。したがっ
て、熱拡散率Ｄもフィードバック制御ループがバランス
する範囲内で温度掃引下で速やかに求めることができ、
従来方法に比べて約１０倍以上の効率でデータ取得が可
能である。
【００１６】また、熱拡散長λ（温度波の波数ｋ）を一
定に保つことで、測定の条件を変更しない即ち系統誤差
が最小となる測定条件を実現でき、高精度に熱拡散率Ｄ
を求めることができる。さらに、試料温度Ｔに伴う熱拡
散率Ｄの変化に応じて常に最適な操作周波数ｆを設定で
きるので、広いダイナミックレンジと高い分解能を維持
することができる。
定に保つことで、測定の条件を変更しない即ち系統誤差
が最小となる測定条件を実現でき、高精度に熱拡散率Ｄ
を求めることができる。さらに、試料温度Ｔに伴う熱拡
散率Ｄの変化に応じて常に最適な操作周波数ｆを設定で
きるので、広いダイナミックレンジと高い分解能を維持
することができる。
【００１７】上記の説明では熱源を点熱源としたが、一
般に有限な広がりを持つ熱源の場合でも、点熱源の重ね
合わせで解析されるために、検出される交流温度Ｔは最
終的に Ｔ＝Ａ・ｅｘｐ｛ｉ（２πｆｔ＋θ）｝・・・式４ と表現できる。ここで、測定における全ての幾何学的条
件（試料形状、熱源の強度プロファイル、熱源と検出部
の相対的位置関係、熱拡散長）が一定に保たれるなら
ば、結果として位相θも一定に保たれる。但し、熱拡散
長以外の条件が温度にほとんど依存しないことを考慮す
ると、位相θを一定に保つことは熱拡散長即ち波数を一
定に保つことと等価である。従って、任意の加熱源を用
いた場合でも式３を利用することが可能となり、この発
明の熱拡散率測定方法を適用して熱拡散率を測定するこ
とができる。
般に有限な広がりを持つ熱源の場合でも、点熱源の重ね
合わせで解析されるために、検出される交流温度Ｔは最
終的に Ｔ＝Ａ・ｅｘｐ｛ｉ（２πｆｔ＋θ）｝・・・式４ と表現できる。ここで、測定における全ての幾何学的条
件（試料形状、熱源の強度プロファイル、熱源と検出部
の相対的位置関係、熱拡散長）が一定に保たれるなら
ば、結果として位相θも一定に保たれる。但し、熱拡散
長以外の条件が温度にほとんど依存しないことを考慮す
ると、位相θを一定に保つことは熱拡散長即ち波数を一
定に保つことと等価である。従って、任意の加熱源を用
いた場合でも式３を利用することが可能となり、この発
明の熱拡散率測定方法を適用して熱拡散率を測定するこ
とができる。
【００１８】
【発明の効果】以上説明したようにこの発明の熱拡散率
測定方法によれば、交流温度の位相を一定に保つように
操作周波数をフィードバック制御し、そのときの操作周
波数の相対変化に基づいて熱拡散率を求めるようにし、
しかも試料温度Ｔは、極めて短時間に安定に保つことが
できるので、フィードバック制御ループがバランスする
範囲内で温度掃引下で速やかに求めることができ、従来
方法に比べて約１０倍以上の効率でデータ取得が可能で
ある。また、交流温度の位相を一定に保つことで、測定
の条件を変更しない即ち系統誤差が最小となる測定条件
を実現でき、高精度に熱拡散率を求めることができる。
さらに、試料温度に伴う熱拡散率の変化に応じて常に最
適な操作周波数を設定できるので、広いダイナミックレ
ンジと高い分解能を維持することができる。
測定方法によれば、交流温度の位相を一定に保つように
操作周波数をフィードバック制御し、そのときの操作周
波数の相対変化に基づいて熱拡散率を求めるようにし、
しかも試料温度Ｔは、極めて短時間に安定に保つことが
できるので、フィードバック制御ループがバランスする
範囲内で温度掃引下で速やかに求めることができ、従来
方法に比べて約１０倍以上の効率でデータ取得が可能で
ある。また、交流温度の位相を一定に保つことで、測定
の条件を変更しない即ち系統誤差が最小となる測定条件
を実現でき、高精度に熱拡散率を求めることができる。
さらに、試料温度に伴う熱拡散率の変化に応じて常に最
適な操作周波数を設定できるので、広いダイナミックレ
ンジと高い分解能を維持することができる。
【図１】この発明を実施するための計測システムの一例
を示す図である。
を示す図である。
【図２】この発明の熱拡散率測定方法を適用したときの
測定結果を示す図である。
測定結果を示す図である。
１ Ｈｅ−Ｎｅレーザ ２ 音響光学素子 ３ 試料 ４ 検出位置 ５ 熱電対 ６ ロックインアンプ ７ コンピュータ ８ チョッピングドライバ
Claims (1)
- 【請求項１】 試料を操作周波数の下で周期的に加熱し
てその一部を熱源とし、その熱源により生じる交流温度
の温度波特性を測定することにより熱拡散率を測定する
熱拡散率測定方法において、 上記熱源から所定の相対距離にある検出位置での上記交
流温度の位相を一定に保つように操作周波数をフィード
バック制御し、 そのフィードバック制御における操作周波数の相対変化
に基づいて熱拡散率を測定することを特徴とする熱拡散
率測定方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7114284A JP2688012B2 (ja) | 1995-05-12 | 1995-05-12 | 熱拡散率測定方法 |
| US08/622,607 US5713665A (en) | 1995-05-12 | 1996-03-26 | Method and apparatus for thermal diffusivity measurement |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7114284A JP2688012B2 (ja) | 1995-05-12 | 1995-05-12 | 熱拡散率測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08304315A JPH08304315A (ja) | 1996-11-22 |
| JP2688012B2 true JP2688012B2 (ja) | 1997-12-08 |
Family
ID=14633996
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7114284A Expired - Lifetime JP2688012B2 (ja) | 1995-05-12 | 1995-05-12 | 熱拡散率測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5713665A (ja) |
| JP (1) | JP2688012B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109416332A (zh) * | 2016-04-06 | 2019-03-01 | 株式会社伯特利 | 热扩散率测定装置、热扩散率测定方法以及程序 |
Families Citing this family (23)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US6142662A (en) * | 1998-06-16 | 2000-11-07 | New Jersey Institute Of Technology | Apparatus and method for simultaneously determining thermal conductivity and thermal contact resistance |
| DE19837889C1 (de) * | 1998-08-20 | 2000-12-21 | Siemens Ag | Thermowellen-Meßverfahren |
| US6441695B1 (en) * | 2000-03-07 | 2002-08-27 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Methods for transmitting a waveform having a controllable attenuation and propagation velocity |
| US6847267B2 (en) | 2000-03-07 | 2005-01-25 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Methods for transmitting a waveform having a controllable attenuation and propagation velocity |
| US7375602B2 (en) * | 2000-03-07 | 2008-05-20 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Methods for propagating a non sinusoidal signal without distortion in dispersive lossy media |
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