JP2674009B2 - パターンの連続性判別方法 - Google Patents
パターンの連続性判別方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】
以下の順序で本発明を説明する。
Ａ 産業上の利用分野
Ｂ 発明の概要
Ｃ 従来の技術
Ｄ 発明が解決しようとする問題点
Ｅ 問題点を解決するための手段
（第１図及び第16図〜第18図）
Ｆ 作用
Ｇ 実施例
G1入力文字の細線化（第４図）
G2入力文字の参照文字に対する包含関係の検査方法及び
検査回路 （第１図〜第14図） G3消去処理後の残差評価法（Ｉ） （第15図） G4消去処理後の残差評価法（II） （第16図〜第18図） Ｈ 発明の効果 Ａ 産業上の利用分野 本発明は文字認識方法、パターン認識方法に適用して
好適なパターンの連続性判別方法に関する。 Ｂ 発明の概要 本発明はパターンの連続性判別方法に関し、第１のメ
モリに記憶されたパターンデータを走査的に読み出し
て、現在の点データを前の走査ラインのデータと比較
し、前の走査ラインに現在の点データに近接した点デー
タがあったら、前の走査ラインの近接点データの数値Ｎ
に１を加算して、第１のメモリと対応する第２のメモリ
の現在の点データの位置に記憶し、第２のメモリから読
み出された数値を基準値と比較するようにしたことによ
り、線分パターン容易に認識することができるようにし
たものである。 Ｃ 従来の技術 特になし。 Ｄ 発明が解決しようとする問題点 文字認識方法やパターン認識方法では、線分を点や点
状のノイズと区別して認識する必要がある場合がある。 かかる点に鑑み、本発明は線分パターンを容易に認識
することのできるパターンの連続性判別方法を提案しよ
うとするものである。 Ｅ 問題点を解決するための手段 本発明によるパターンの連続性判別方法は、パターン
データが記憶された第１のメモリを走査的に読み出す読
出しステップと、第１のメモリ内に点データがあるとき
は、第２のメモリにおいて、前の走査ラインの近接する
点データから所定の条件に基づいて、１つの点データを
選択し、選択された点データの有する値に対して所定の
値を加算する加算ステップと、その加算ステップによっ
て算出された値を現在の点データに対する値として、上
記第２のメモリに記憶する記憶ステップと、第２のメモ
リに記憶されている点データの値を読み出して基準血と
比較する比較ステップとを有し、その比較ステップによ
ってパターンの連続性を判別するようにしたものであ
る。 Ｆ 作用 かかる本発明によれば、パターンデータが記憶された
第１のメモリを走査的に読み出し、第１のメモリ内に点
データがあるときは、第２のメモリにおいて、前の走査
ラインの近接する点データから所定の条件に基づいて、
１つの点データを選択し、選択された点データを有する
値に対して所定の値を加算し、その加算によって算出さ
れた値を現在の点データに対する値として、第２のメモ
リに記憶し、その第２のメモリに記憶されている点デー
タの値を読み出して基準血と比較し、その比較結果にに
よってパターンの連続性を判別する。 Ｇ 実施例 以下に、図面を参照して、本発明によるパターンの連
続性判別方法を文字認識方法に適用した場合のその方法
及びそのため回路について説明する。 G1入力文字の細線化 第４図Ａに示すように、入力文字を細線化する。これ
は入力文字データの電気的処理によって行う。尚、入力
文字及び参照文字のデータは、デジタル信号として後述
する各別のメモリに記憶されるが、その記憶状態は夫々
点（「１」）の列及び点（「１」）の分散と成る。又、
入力文字を細線化するとき、水平成分は仮えその周辺部
にノイズがあって乱れていても、少なくとも２個以上の
連続点列が存在するように細線点列化される。参照文字
は第４図Ｂに示すように、そのままとする。 認識の対象とする入力文字は、片仮名、平仮名、漢
字、外国文字、数字、記号等を含む。又、以下の説明で
は、入力文字を細線化し、参照文字をそのまゝとした場
合について説明するが、その逆に、入力文字をそのまゝ
とし、参照文字を細線化することも可能である。 G2入力文字の参照文字に対する包含関係の検査方法及び
検査回路 次に、第１図のブロック線図を参照して、細線化され
た入力文字の参照文字に対する包含関係の検査法及び検
査回路について説明する。第１図において、Miは１個の
細線化された入力文字のデータを記憶するメモリ、Mrは
１個の参照文字（数種のフォントから合成されている）
のデータを記憶するメモリで、これらのアドレスは１対
１に対応している。入力端子T1からの入力文字データ
を、マルチプレクサMXi−シフトレジスタSRiを通じて入
力文字メモリMiに書き込む。同様に、入力端子T2からの
参照文字データを、マルチプレクサMXr−シフトレジス
タSRrを通じて参照文字メモリMrに書き込む。両メモリM
i、Mrの各アドレスには、入力文字の点列及び参照文字
の文字領域の部分に「１」が書き込まれる。従って、そ
れ以外の部分のアドレスの記憶内容は「０」である。 SLi,SLrはセレクタで、夫々メモリMi、Mrに記憶され
ている文字のデータの、夫々文字の水平方向Ｈ及び垂直
方向Ｖに線走査される如く読み出されたデータを切り換
えるためのものである。 DCは、両セレクタSLi、SLrの出力（メモリMi,Mrの対
応するアドレスの同じ走査方向の読み出し出力）の包含
関係を判定する判定回路で、両出力が包含関係にあるも
のと判断されたときは、原則的には夫々マルチプレクサ
MXi,MXr及びシフトレジスタSRi、SRrを通じて、両メモ
リMi、Mrのその「１」の得られたアドレスに「０」を書
き込んで、その「１」を消去する。T3、T4はセレクタSL
i、SLrの出力側より導出された出力端子である。 即ち、この第１図の検査回路では、入力文字メモリMi
及び参照文字メモリMrに夫々記憶されている入力文字デ
ータ及び参照文字データを、夫々水平方向Ｈに線走査及
び垂直方向Ｖに面走査する如く同時に読み出し（第１の
走査読み出し）、且つその後夫々垂直方向Ｖに線走査す
ると共に水平方向Ｈに面走査する如く同時に読み出し
（第２の走査読み出し）て、夫々判定回路DCによってメ
モリMi、Mrの対応するアドレスのデータの包含関係を判
定し、包含関係にあれば、両メモリMi、Mrの「１」であ
った両アドレスに共に「０」を書き込むようにする。
尚、この走査の順序は上述とは逆にしても良い。そし
て、両メモリMi,Mrの各アドレスに残っているデータ
「１」が、互いに包含関係にない部分と成る。 尚、メモリMi、Mrに記憶された入力文字及び参照文字
データの走査読み出し速度はそれらの文字の矩形の外接
枠の寸法に反比例するようにする。これにより、従来の
文字認識法であるパターンマッチング法の欠点である正
規化による丸め誤差の影響はなくなる。 この入力文字及び参照文字の包含関係判定の原則は上
述の通りであるが、これに対し以下のような特則を設け
る。 （特則１） 各メモリMi、Mrの水平方向Ｘの線走査的読み出し（第
１の走査読み出し）のとき、参照文字の文字領域（デー
タが「１」のところ）の幅Ｗが、ある値Th1未満で、そ
の中に入力文字の点（データが「１」のところ）が含ま
れていて、その点が２個以上連続して含まれないとき
は、両メモリMi、Mrの対応アドレス「０」を書き込む。 これを第５図を参照して説明すると、第５図Ａ、Ｂ及
びＣは、夫々幅Ｗ（＜Th1）の参照文字領域内に、夫々
入力文字の点が夫々１個、１個置きに２個及び連続して
２個含まれている場合を示し、同図Ａ、Ｂの場合は、両
メモリMi、Mrの対応アドレスに「０」を書き込み、同図
Ｃの場合は書き込みを行わない。 この特則１の意味は次の通りである。第５図Ｃのよう
に細線化された入力文字の水平方向Ｘに２個以上連続し
ていると言うことは、その部分が入力文字の水平乃至緩
やかな傾斜の部分であることを意味しており、次の垂直
方向Ｙの線走査的読み出し（第２の走査読み出し）によ
る比較の対象としてメモリに残しておいた方が自然だか
らである。 （特則２） 各メモリMi,Mrの水平方向の線走査的読み出し（第１
図の走査読み出し）のとき参照文字の文字領域（データ
が「１」のところ）の幅Ｗがある値Th1以上のときは、
次の特則２−１乃至２−３に従う。 （特則２−１） 参照文字の文字領域の両端からある値Th2未満の幅
E1、E2の部分（両端部分）に入力文字の点が含まれ、そ
の内側E3に２個以上連続する点が含まれていないとき
は、両メモリMi、Mrの対応アドレスに「０」を書き込む
（第６図Ａ参照）。 特則２−１は以下の理由により設けたものである。入
力文字の微細なパターンは、イメージスキャナの特性に
よって、目潰れして読み取れない場合もあるが、文字に
よっては、それでも容易に認識できる場合がある。即
ち、これは文字によっては、ある部分の認識を厳密に行
わなくても、文字全体の認識が可能と成ることを意味す
る。従って、参照文字においても、文字認識を左程厳密
に行わなくても良い寛容領域を設けた方が、文字認識率
が向上することに成る。このための簡便な方法として、
参照文字の寛容部分を塗り潰し処理する。これを、第７
図に「復」の字の例に採って、元の文字及び塗り潰した
文字を示してある。 第８図に「日」の字を例に採って、元の入力文字とそ
の細線化された入力文字とを対照させて示し、同図Ａは
元の入力文字が目潰れしていない場合を示し、同図Ｂ、
Ｃは夫々元の入力文字が目潰れしている場合を示す。 この特則２−１によって、いずれの場合も、線走査的
読み出し時のメモリへの「０」の書き込み作業が円滑に
行くことが判る。 （特則２−２） 参照文字の文字領域の両端からある値Th2未満の幅
E1、E2の部分（両端部分）に入力文字の点が全く含まれ
ず、しかもその内側の幅E3の部分に、入力文字の点が２
個以上連続して含まれないときは、入力文字メモリMiの
アドレスのみに「０」を書き込む（第６図Ｂ参照）。 特則２−２は、入力文字の不要な点列によって、参照
文字の文字領域のデータが大幅に消去されるのを防止す
るためである。 （特則２−３） 参照文字の文字領域内に、入力文字の点が２個以上連
続するときは、メモリMi、Mrのいずれにも書き込みを行
わない（第６図Ｃ参照）。 （特則３） 入力文字の点列及び参照文字間に対応関係がないとき
は、メモリMi、Mrのいずれにも書き込みを行わない。 （特則４） 上述の特則１〜４だけでは、比較すべき文字が特殊記
号等のときは、特定を誤る虞があるので、細線化された
入力文字のその点に対する元の入力文字（第９図Ａ）の
各部の水平方向の幅Ｈ（第９図Ｂ）及び各部の垂直方向
の幅Ｖ（第９図Ｃ）をもメモリ（図示せず）に記憶して
おいて、メモリMiの水平走査的読み出しのとき、入力文
字の各部の水平方向の幅Ｈのデータを読み出し、メモリ
Miの垂直走査的読み出しのとき、入力文字の各部の垂直
方向の幅Ｖのデータを読み出し、対応する参照文字の各
部の水平方向の幅及び垂直方向の幅と比較し、不一致で
あればフラグを立てるようにする。 即ち、特則１〜３の包含関係のチェックだけでは、入
力文字が例えば第10図Ａに示す幅の広いリングである場
合、これを細線化した場合、第10図Ｂに示す如くなる
が、これを参照文字である第10図Ｃの黒丸や第10図Ｄの
リングとの包含関係だけのチェックを行ったのでは、そ
の入力文字の認識を行うことはできない。このようなこ
とは、通常の文字では起こり得ないので、その場合には
幅Ｈ、Ｖの記憶は不要である。 尚、細線点列化された入力文字は、水平重心Hg、垂直
重心Vgの点列の混合から構成されることに成るが、その
入力文字の対応する幅Hl、Vlの総和を採り、Hg、Vg夫々
の点列数で除することにより、その両値が略等しく、あ
る基準値に近接しているか否かを調べることにより、そ
の書体がゴッジクか否かを判別することができる。 さて、上述した特則だけでは、端点部の文字の線分の
長さの違い又はコーナー部でのデータ「１」の消し残り
による誤差が発生する。これらが様々に重複すると、入
力文字の認識が困難に成るので、できるだけメモリのデ
ータ「１」の消し残りがなくなるようにした方が良い。 即ち、入力文字及び参照文字が例えば第11図Ａに示す
ように、矩形枠状の場合、入力文字を破線にて示す如く
細線化した後、これを上述の特則に従って、参照文字と
比較して各メモリのデータ「１」を消去して行く場合、
入力文字及び参照文字の四隅の斜線の部分が消し残りと
成る。しかし、これはメモリの水平方向の走査的読み出
しによる文字データの消去の後、第11図Ｂに示す垂直方
向の走査的読み出しによる文字データの消去の段階にお
ける、入力文字及び参照文字の線分の長さの違いによる
端点部誤差と共通の問題と成る。 そこで、メモリへの「０」の書き込みの手順の中で、
次の操作を加えることにする。即ち、第１図に示す如
く、セレクタSLr、SLiからの参照文字データ及び入力文
字データを夫々、縦続接続されたシフトレジスタSR1〜S
R3、SR4〜SR6に供給して、夫々３走査ライン分遅延さ
せ、その遅延出力をANDゲートGr、Giに供給することに
より、例えば第11図Ｂに示す参照文字メモリMr、入力文
字メモリMiの内容を、垂直走査的に読み出して包含関係
を判定し、そのαの範囲では包含関係ありと判断して、
各メモリの対応部に「０」を書き込むが、その両端の包
含関係にない部分、β、γにおいても２ライン遡って、
又、２ライン後まで、各メモリの対応部に「０」を書き
込むようにする。 次ぎに、第１図〜第３図を参照して、上述の特則を考
慮した包含関係検査回路の説明を行う。 先ず、判定回路DCでの判定について説明する。セレク
タSLrからの参照文字データの文字領域の幅を測定す
る。その文字領域中に細線化された入力文字の点が入っ
ているかどうか及びその文字領域の両端部に入った入力
文字の点の位置を判定する。又、セレクタSLiからの細
線化された入力文字のデータの点が２個以上連続してい
る否かを判定する。 判定回路DCの出力端子ｉからのデータ「０」が、AND
ゲートGi−マルチプレクサMXi−シフトレジスタSRiを通
じて、入力文字メモリMiに供給されて対応アドレスに書
き込まれる。 判定回路DCの出力端子ｒからのデータ「０」が、AND
ゲートGr−マルチプレクサMXr−シフトレジスタSRrを通
じて、参照文字メモリMrに供給されて対応アドレスに書
き込まれる。 SR1〜SR3は、セレクタSLrからの入力文字データを受
けて、これに基づいてANDゲートGrに端点処理のための
ゲート信号を供給する縦続接続されたシフトレジスタ
で、全体として３走査ライン分の遅延線を構成する。 SR4〜SR6は、セレクタSLiからの入力文字データを受
けて、これに基づいてANDゲートGiに端点処理のための
ゲート信号を供給する縦続接続されたシフトレジスタ
で、全体として３走査ライン分の遅延線を構成する。 この判定回路DCは第２図に示すように構成されてい
る。CNT1及びCNT2はカウンタである。カウンタCNT1の係
数イネーブル入力端子及びロード入力端子に、セレクタ
SLrからの参照文字データが供給される。このカウンタC
NT1のクロック入力端子には、クロック信号が供給され
る。カウンタCNT2の計数イネーブル入力端子及クリア入
力端子には、セレクタSLrからの参照文字データが供給
される。又、カウンタCNT2のロード入力端子には、セレ
クタSLiからの入力文字データのインバータIV1によって
位相反転されたものが供給される。このカウンタCNT2の
クロック入力端子にはクロック信号が供給される。 そして、カウンタCNT1は、参照文字の文字領域の幅W1
（第12図参照）を計測する。カウンタCNT2は、参照文字
の文字領域が始まってから、細線化された入力文字の最
初の点が到来するまでの幅W2（第12図参照）及びその最
後の点から文字領域の終わりまでの幅W3（第12図参照）
を計測する。 Ma〜Meはメモリである。この内メモリMa〜Mcは夫々上
述の幅W1〜W3のデータを記憶するメモリである。又、Md
は細線化された入力文字データの点が、参照文字データ
の文字領域に含まれていることＰ（但しＰ＝「１」）を
記憶するメモリ、Meは細線化された入力文字の点が２個
以上連続していることＱ（但しＱ＝「１」）を記憶する
メモリである。 カウンタCNT1の出力はメモリMaに供給される。カウン
タCNT2の出力は、メモリMb、Mcに供給される。F1、F2は
フリップフロップ回路で、フリップフロップ回路F1の非
反転出力がメモリMdに供給され、フリップフロップ回路
F2の非反転出力がメモリMeに供給される。 セレクタSLrからの参照文字データがインバータIV2に
よって位相反転されてメモリMa、Mc〜Meのクロック入力
端子に供給される。セレクタSLrからの参照文字データ
が、NANDゲートG1及びフリップフロップ回路F1のクリア
入力端子に供給される。セレクタSLr及びSLiからの文字
データがANDゲートG2に供給される。そして、このANDゲ
ートG2の出力がインバータIV3によって位相反転されて
フリップフロップ回路F1のプリセット入力端子に供給さ
れる。更に、このフリップフロップ回路F1の反転出力が
NANDゲートG1に供給される。そして、NANDゲートG1の出
力がメモリMbのクロック入力端子に供給される。ANDゲ
ートG2の出力がNANDゲートG3及びフリップフロップ回路
F3のＤ入力端子に供給される。又、フリップフロップ回
路F3のクロック入力端子にはクロックが供給される。フ
リップフロップ回路F3の非反転出力がNANDゲートG3に供
給される。このNANDゲートG3の出力がフリップフロップ
回路F2のプリセット入力端子に供給される。フリップフ
ロップ回路F2のＤ入力端子は接地され、そのクロック入
力端子にインバータIV2の出力が供給される。 メモリMa〜Meには、第13図のNo.1、No.2、No.3、・・
・No.iの各参照文字の文字領域毎の、幅W1、W2、W3及び
包含関係Ｐ、入力文字の点列の連続性Ｑが記憶され、こ
れがテーブル用ROM TB1にアドレスとして供給され、テ
ーブル用ROM TB1では第14図に示すような判定基準で、
メモリMr、Miのアドレスに「０」を書き込むか否かの判
定出力を出す。 第14図で、Ｘ、Ｙ、Ｚは、上述の幅W1、W2、W3に対応
し、 W1＞Th1ならＸ＝１ W1≦Th1ならＸ＝０ W2＜Th2ならＹ＝１ W2≧Th2ならＹ＝０ W3＜Th2ならＺ＝１ W3≧Th2ならＺ＝０ である。 そして、メモリMr、Miへの「０」の書き込みの有無の
判定基準は第14図の通りであって、これを説明すれば、
次の通りである。 ｉ）W1≦Th1のとき Ａ）参照文字の文字領域内に細線化された入力文字の連
続した点がなければ、メモリMr、Miの対応アドレスに
「０」を書き込む。 Ｂ）参照文字の文字領域内に細線化された入力文字の連
続した点があれば、メモリMr、Miへの書き込みは行わな
い。 ii）W1＞Th1のとき Ａ）参照文字の文字領域内に細線化され入力文字の連続
した点がないとき ａ）参照文字の文字領域内の両端部に入力文字の点があ
れば、メモリMr、Miの対応アドレスに「０」を書き込
む。 ｂ）参照文字の文字領域内の両端部に入力文字の点がな
ければ、メモリMr、Miへの書き込みは行わない。 Ｂ）参照文字の文字領域内に細線化され入力文字の連続
した点があれば、メモリMr、Miへの書き込みは行わな
い。 次に端点処理のための回路について、第３図を参照し
て、説明する。テーブル用ROM TB1からの２ビットの出
力は、縦続接続されたシフトレジスタDR1〜DR5の初段の
シフトレジスタDR1に供給される。これらシフトレジス
タDR1〜DR5からの各２ビットの出力は、端点処理のため
のテーブル用ROM TB2に供給される。そして、テーブル
用ROM TB2の出力端子ｒ、ｉからの出力が、第１図のAN
DゲートGr、Giに供給される。又、第１図及び第３図に
おいて、セレクタSLr、SLiの出力を、夫々消去処理を２
ラインに遡って行うために、３段の縦続接続されたシフ
トレジスタSR1〜SR3及びSR4〜SR6を通じて、夫々ANDゲ
ートGr、Giに供給するようにしている。そして、これら
ANDゲートGr、Giから得られたデータ「０」が夫々マル
チプレクサMXr、MXiに供給されて、夫々シフトレジスタ
SRr、SRiを通じて、メモリMr、Miの対応するアドレスに
書き込まれる。 次にテーブル用ROM TB2のシフトレジスタDR1〜DR5の
判定結果を選択制御する論理について説明する。シフト
レジスタSR3の内容に対して、シフトレジスタDR3の内容
が中心的な役割を果たし、シフトレジスタDR1、DR2及び
DR4、DR5の内容は補佐的な役割を果たす。シフトレジス
タDR3の判定結果が入力文字メモリMi及び参照文字Mrの
双方に「０」を書き込む、入力文字メモリMiに「０」を
書き込み、参照文字メモリMrに「０」を書き込まない場
合は、シフトレジスタDR3の内容は他のシフトレジスタD
R1、DR2及びDR4、DR5の内容に影響されず、シフトレジ
スタDR3の判定結果がメモリへの「０」の書き込み可能
であるときのみ、他のシフトレジスタDR1、DR2及びD
R4、DR5の内容に影響される。 G3消去処理後の残差評価法（Ｉ） 上述の消去法によって、データ「１」の消去された入
力及び参照文字メモリMi、Mrの残存しているデータ
「１」の周辺分布を求める。その代表的な例を第15図Ａ
〜Ｄに示す。これは個々のメモリの各アドレスの内容
（「１」又は「０」）を、Ｘ及びＹ軸上で積分して示し
たものである。即ち、同図Ａ及びＢは、メモリに不一致
線分のデータが残存している場合を示している。同図Ｃ
は端点の誤差が偶然Ｙ投影において連続して判定を紛ら
わしくした例である。又同図Ｄは細線化入力文字と参照
文字とが良く一致した例である。 しかして、かかる周辺分布によるチェックを入力及び
参照文字メモリMi、Mrにおいて実施し、両メモリの周辺
分布の結果が、共に第15図Ｃ、Ｄのようにったのであれ
ば、入力文字及び参照文字は互いに一致しているものと
判定する。但し、このときＸ投影及Ｙ投影の局所的積分
値が等しいかどうかのチェックは必要となろう。 G4消去処理後の残差評価法（II） 上述の消去法によって、データ「１」の消去された入
力及び参照文字メモリMi、Mrの残存しているデータ
「１」から、文字の一部を構成する所定値以上の長さの
円分の有無を調べる。これにより、例えば入力文字が
「木」の場合に、参照文字である「木」、「本」との異
同を調べることにより、入力文字の認識を行う。 第16図は、メモリMr、Miに残存しているデータ「１」
の連続性を判別する回路で、以下これについて説明す
る。この判別回路は、メモリMr、Miに対して同じ構成を
採り得る。第１のセレクタSLr又はSLiからの細線化され
た参照文字又は入力文字の残差データが入力端子（１）
からシフトレジスタ（２）、検査回路（４）、ANDゲー
ト（５）及び加算回路（６）に供給される。シフトレジ
スタ（２）は、メモリMr又はMiの水平方向の１走査ライ
ン分のデータを記憶する。シフトレジスタ（２）の出力
はフリップフロップ回路（３）に供給される。そして、
入力端子（１）からの現在のデータ（第17図のｑ′＝
「１」）と、シフトレジスタ（２）及びフリップフロッ
プ回路（３）からの、１ライン前のデータｑ、その前後
のデータｐ、ｒ（第17図）とを検査回路（４）に供給し
て比較する。そして、この検査回路（４）では、現在の
ラインと１ライン前のラインのデータの垂直方向の連続
性及び斜め方向の連続性を検査する。 加算回路（６）において、ANDゲート（５）の出力
と、入力端子（１）からの現在のデータとが加算され、
その加算出力がメモリ（８）に供給されて書き込まれ
る。メモリ（８）の読み出し出力はラッチ回路（９）に
供給される。そして、メモリ（８）及びラッチ回路
（９）から読み出された水平方向の走査線上の１ライン
前の隣接するデータＰ、Ｑ、Ｒ（夫々０、１、２、３、
・・・の値を採り得る）がセレクタ（７）に供給され、
検査回路（４）の出力によって選択される。そして、こ
のセレクタ（７）によって選択されたデータが、上述の
入力端子（１）からの現在のデータと共に、ANDゲート
（５）に供給される。 しかして、メモリMi又はMrの最初の水平方向走査線上
のデータが、セレクタSLi又はSLrを介して入力端子
（１）に供給された場合は、そのデータが「１」のとき
は、１がメモリ（８）の文字対応部に書き込まれる。そ
して、次の水平走査線及びそれ以降の走査線上のデータ
が入力端子（１）に供給されるときは、検査回路（４）
において、第17図に示す、あるデータｑ′が「１」の場
合において、それより１ライン前のデータｑ及びその前
後のデータｐ、ｒが「１」であるか「０」であるかが検
査回路（４）において検査され、それに応じてセレクタ
（７）が制御される。 即ち、ｑ＝「１」のときは、セレクタ（７）によっ
て、データＱが選択されてANDゲート（５）を通じて加
算回路（６）に供給されて、入力端子（１）からのデー
タｑに加算されて、メモリ（８）の文字対応部に記録さ
れる。 又、ｐ・＝「１」のときは、セレクタ（７）によっ
て、データＰが選択されてANDゲート（５）を通じて加
算回路（６）に供給されて加算されて、メモリ（８）の
文字対応部に記録される。 又、・・ｒ＝「１」のときは、セレクタ（７）に
よって、データＲが選択されてANDゲート（５）を通じ
て加算回路（６）に供給されて加算されて、メモリ
（８）の文字対応部に記録される。 例えば、第18図に示す如く、メモリMi又はMrに残存し
た「１」のデータの内、メモリMi又はMrのある水平走査
線Ｎに「１」のデータがあって、そこから線分が開始さ
れている場合は、メモリ（８）の対応アドレスに１が書
き込まれ、メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋１に、水平
走査線Ｎの「１」のデータの真下、又は、その前後に
「１」のデータがある場合は、メモリ（８）の対応アド
レスに、１＋１＝２が書き込まれ、メモリMi又はMrの水
平走査線Ｎ＋２に、水平走査線Ｎ＋１の「１」のデータ
の真下、又は、その前後に「１」のデータがある場合
は、メモリ（８）の対応アドレスに、２＋１＝３が書き
込まれ、メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋３に、水平走
査線Ｎ＋２の「１」のデータの真下、又は、その前後に
「１」のデータがある場合は、メモリ（８）の対応アド
レスに、３＋１＝４が書き込まれる。 メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋４に、水平走査線Ｎ
＋３の「１」のデータの真下、又は、その前後に「１」
のデータがない場合は、メモリ（８）の対応アドレス
に、０が書き込まれる。 メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋６に「１」のデータ
があって、そこから線分が開始されている場合は、メモ
リ（８）の対応対応アドレスに１が書き込まれ、メモリ
Mi又はMrの水平走査線Ｎ＋７に、水平走査線Ｎ＋６の
「１」のデータの真下、又は、その前後に「１」のデー
タがある場合は、メモリ（８）の対応アドレスに、１＋
１＝２が書き込まれ、メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋
８に、水平走査線Ｎ＋７の１」のデータの真下、又は、
その前後に「１」のデータがある場合は、メモリ（８）
の対応アドレスに、２＋１＝３が書き込まれる。 そして、このメモリ（８）の内容（これをＡとする）
がレベル比較器（11）に供給されて、スレッシュホール
ドＢと比較され、Ａ＞Ｂのときは出力「１」が得られて
ORゲート（13）を通じてフリップフロップ回路（14）の
Ｄ入力端子に供給される。このフリップフロップ回路
（14）のクロック入力端子にはクロック信号が供給され
る。そして、このフリップフロップ回路（14）の反転出
力が他のフリップフロップ回路（15）のセット入力端子
に供給される。尚、フリップフロップ回路（15）のリセ
ット入力端子に初期値信号が供給される。そして、比較
器（11）において、Ａ＞Ｂと成る毎に、フリップフロッ
プ回路（15）からフラグが出力される。 （10）は、入力端子（１）に供給される現在のデータ
の水平方向の線分を検出するカウンタである。カウンタ
（10）のイネーブル入力端子及びクリア入力端子に、入
力端子（１）からの現在のデータが供給される。又、カ
ウンタのクロック入力端子には、クロック信号が供給さ
れる。カウンタ（10）は、入力端子（１）からのデータ
が「１」のときこの「１」を計数し、入力端子「１」か
らのデータが「０」のときクリアされる。 そして、このカウンタ（10）の計数出力が（これを
Ａ′とする）がレベル比較器（12）に供給されて、スレ
ッシュホールドＢ′と比較され、Ａ′＞Ｂ′のときは出
力「１」が得られてORゲート（13）を通じてフリップフ
ロップ回路（14）のＤ入力端子に供給される。そして、
比較器（12）において、Ａ′＞Ｂ′と成る毎に、フリッ
プフロップ回路（15）からフラグが出力される。 かくして、かかる連続性の判別回路によれば、消去処
理の行われたメモリMi、Mrに残存しているデータから、
線分（所定長さ以上の線分）のデータを点や点状のノイ
ズと区別して判別することができる。 Ｈ 発明の効果 上述せる本発明によれば、線分パターンを容易に認識
することのできるパターンの連続性判別方法を得ること
ができる。
検査回路 （第１図〜第14図） G3消去処理後の残差評価法（Ｉ） （第15図） G4消去処理後の残差評価法（II） （第16図〜第18図） Ｈ 発明の効果 Ａ 産業上の利用分野 本発明は文字認識方法、パターン認識方法に適用して
好適なパターンの連続性判別方法に関する。 Ｂ 発明の概要 本発明はパターンの連続性判別方法に関し、第１のメ
モリに記憶されたパターンデータを走査的に読み出し
て、現在の点データを前の走査ラインのデータと比較
し、前の走査ラインに現在の点データに近接した点デー
タがあったら、前の走査ラインの近接点データの数値Ｎ
に１を加算して、第１のメモリと対応する第２のメモリ
の現在の点データの位置に記憶し、第２のメモリから読
み出された数値を基準値と比較するようにしたことによ
り、線分パターン容易に認識することができるようにし
たものである。 Ｃ 従来の技術 特になし。 Ｄ 発明が解決しようとする問題点 文字認識方法やパターン認識方法では、線分を点や点
状のノイズと区別して認識する必要がある場合がある。 かかる点に鑑み、本発明は線分パターンを容易に認識
することのできるパターンの連続性判別方法を提案しよ
うとするものである。 Ｅ 問題点を解決するための手段 本発明によるパターンの連続性判別方法は、パターン
データが記憶された第１のメモリを走査的に読み出す読
出しステップと、第１のメモリ内に点データがあるとき
は、第２のメモリにおいて、前の走査ラインの近接する
点データから所定の条件に基づいて、１つの点データを
選択し、選択された点データの有する値に対して所定の
値を加算する加算ステップと、その加算ステップによっ
て算出された値を現在の点データに対する値として、上
記第２のメモリに記憶する記憶ステップと、第２のメモ
リに記憶されている点データの値を読み出して基準血と
比較する比較ステップとを有し、その比較ステップによ
ってパターンの連続性を判別するようにしたものであ
る。 Ｆ 作用 かかる本発明によれば、パターンデータが記憶された
第１のメモリを走査的に読み出し、第１のメモリ内に点
データがあるときは、第２のメモリにおいて、前の走査
ラインの近接する点データから所定の条件に基づいて、
１つの点データを選択し、選択された点データを有する
値に対して所定の値を加算し、その加算によって算出さ
れた値を現在の点データに対する値として、第２のメモ
リに記憶し、その第２のメモリに記憶されている点デー
タの値を読み出して基準血と比較し、その比較結果にに
よってパターンの連続性を判別する。 Ｇ 実施例 以下に、図面を参照して、本発明によるパターンの連
続性判別方法を文字認識方法に適用した場合のその方法
及びそのため回路について説明する。 G1入力文字の細線化 第４図Ａに示すように、入力文字を細線化する。これ
は入力文字データの電気的処理によって行う。尚、入力
文字及び参照文字のデータは、デジタル信号として後述
する各別のメモリに記憶されるが、その記憶状態は夫々
点（「１」）の列及び点（「１」）の分散と成る。又、
入力文字を細線化するとき、水平成分は仮えその周辺部
にノイズがあって乱れていても、少なくとも２個以上の
連続点列が存在するように細線点列化される。参照文字
は第４図Ｂに示すように、そのままとする。 認識の対象とする入力文字は、片仮名、平仮名、漢
字、外国文字、数字、記号等を含む。又、以下の説明で
は、入力文字を細線化し、参照文字をそのまゝとした場
合について説明するが、その逆に、入力文字をそのまゝ
とし、参照文字を細線化することも可能である。 G2入力文字の参照文字に対する包含関係の検査方法及び
検査回路 次に、第１図のブロック線図を参照して、細線化され
た入力文字の参照文字に対する包含関係の検査法及び検
査回路について説明する。第１図において、Miは１個の
細線化された入力文字のデータを記憶するメモリ、Mrは
１個の参照文字（数種のフォントから合成されている）
のデータを記憶するメモリで、これらのアドレスは１対
１に対応している。入力端子T1からの入力文字データ
を、マルチプレクサMXi−シフトレジスタSRiを通じて入
力文字メモリMiに書き込む。同様に、入力端子T2からの
参照文字データを、マルチプレクサMXr−シフトレジス
タSRrを通じて参照文字メモリMrに書き込む。両メモリM
i、Mrの各アドレスには、入力文字の点列及び参照文字
の文字領域の部分に「１」が書き込まれる。従って、そ
れ以外の部分のアドレスの記憶内容は「０」である。 SLi,SLrはセレクタで、夫々メモリMi、Mrに記憶され
ている文字のデータの、夫々文字の水平方向Ｈ及び垂直
方向Ｖに線走査される如く読み出されたデータを切り換
えるためのものである。 DCは、両セレクタSLi、SLrの出力（メモリMi,Mrの対
応するアドレスの同じ走査方向の読み出し出力）の包含
関係を判定する判定回路で、両出力が包含関係にあるも
のと判断されたときは、原則的には夫々マルチプレクサ
MXi,MXr及びシフトレジスタSRi、SRrを通じて、両メモ
リMi、Mrのその「１」の得られたアドレスに「０」を書
き込んで、その「１」を消去する。T3、T4はセレクタSL
i、SLrの出力側より導出された出力端子である。 即ち、この第１図の検査回路では、入力文字メモリMi
及び参照文字メモリMrに夫々記憶されている入力文字デ
ータ及び参照文字データを、夫々水平方向Ｈに線走査及
び垂直方向Ｖに面走査する如く同時に読み出し（第１の
走査読み出し）、且つその後夫々垂直方向Ｖに線走査す
ると共に水平方向Ｈに面走査する如く同時に読み出し
（第２の走査読み出し）て、夫々判定回路DCによってメ
モリMi、Mrの対応するアドレスのデータの包含関係を判
定し、包含関係にあれば、両メモリMi、Mrの「１」であ
った両アドレスに共に「０」を書き込むようにする。
尚、この走査の順序は上述とは逆にしても良い。そし
て、両メモリMi,Mrの各アドレスに残っているデータ
「１」が、互いに包含関係にない部分と成る。 尚、メモリMi、Mrに記憶された入力文字及び参照文字
データの走査読み出し速度はそれらの文字の矩形の外接
枠の寸法に反比例するようにする。これにより、従来の
文字認識法であるパターンマッチング法の欠点である正
規化による丸め誤差の影響はなくなる。 この入力文字及び参照文字の包含関係判定の原則は上
述の通りであるが、これに対し以下のような特則を設け
る。 （特則１） 各メモリMi、Mrの水平方向Ｘの線走査的読み出し（第
１の走査読み出し）のとき、参照文字の文字領域（デー
タが「１」のところ）の幅Ｗが、ある値Th1未満で、そ
の中に入力文字の点（データが「１」のところ）が含ま
れていて、その点が２個以上連続して含まれないとき
は、両メモリMi、Mrの対応アドレス「０」を書き込む。 これを第５図を参照して説明すると、第５図Ａ、Ｂ及
びＣは、夫々幅Ｗ（＜Th1）の参照文字領域内に、夫々
入力文字の点が夫々１個、１個置きに２個及び連続して
２個含まれている場合を示し、同図Ａ、Ｂの場合は、両
メモリMi、Mrの対応アドレスに「０」を書き込み、同図
Ｃの場合は書き込みを行わない。 この特則１の意味は次の通りである。第５図Ｃのよう
に細線化された入力文字の水平方向Ｘに２個以上連続し
ていると言うことは、その部分が入力文字の水平乃至緩
やかな傾斜の部分であることを意味しており、次の垂直
方向Ｙの線走査的読み出し（第２の走査読み出し）によ
る比較の対象としてメモリに残しておいた方が自然だか
らである。 （特則２） 各メモリMi,Mrの水平方向の線走査的読み出し（第１
図の走査読み出し）のとき参照文字の文字領域（データ
が「１」のところ）の幅Ｗがある値Th1以上のときは、
次の特則２−１乃至２−３に従う。 （特則２−１） 参照文字の文字領域の両端からある値Th2未満の幅
E1、E2の部分（両端部分）に入力文字の点が含まれ、そ
の内側E3に２個以上連続する点が含まれていないとき
は、両メモリMi、Mrの対応アドレスに「０」を書き込む
（第６図Ａ参照）。 特則２−１は以下の理由により設けたものである。入
力文字の微細なパターンは、イメージスキャナの特性に
よって、目潰れして読み取れない場合もあるが、文字に
よっては、それでも容易に認識できる場合がある。即
ち、これは文字によっては、ある部分の認識を厳密に行
わなくても、文字全体の認識が可能と成ることを意味す
る。従って、参照文字においても、文字認識を左程厳密
に行わなくても良い寛容領域を設けた方が、文字認識率
が向上することに成る。このための簡便な方法として、
参照文字の寛容部分を塗り潰し処理する。これを、第７
図に「復」の字の例に採って、元の文字及び塗り潰した
文字を示してある。 第８図に「日」の字を例に採って、元の入力文字とそ
の細線化された入力文字とを対照させて示し、同図Ａは
元の入力文字が目潰れしていない場合を示し、同図Ｂ、
Ｃは夫々元の入力文字が目潰れしている場合を示す。 この特則２−１によって、いずれの場合も、線走査的
読み出し時のメモリへの「０」の書き込み作業が円滑に
行くことが判る。 （特則２−２） 参照文字の文字領域の両端からある値Th2未満の幅
E1、E2の部分（両端部分）に入力文字の点が全く含まれ
ず、しかもその内側の幅E3の部分に、入力文字の点が２
個以上連続して含まれないときは、入力文字メモリMiの
アドレスのみに「０」を書き込む（第６図Ｂ参照）。 特則２−２は、入力文字の不要な点列によって、参照
文字の文字領域のデータが大幅に消去されるのを防止す
るためである。 （特則２−３） 参照文字の文字領域内に、入力文字の点が２個以上連
続するときは、メモリMi、Mrのいずれにも書き込みを行
わない（第６図Ｃ参照）。 （特則３） 入力文字の点列及び参照文字間に対応関係がないとき
は、メモリMi、Mrのいずれにも書き込みを行わない。 （特則４） 上述の特則１〜４だけでは、比較すべき文字が特殊記
号等のときは、特定を誤る虞があるので、細線化された
入力文字のその点に対する元の入力文字（第９図Ａ）の
各部の水平方向の幅Ｈ（第９図Ｂ）及び各部の垂直方向
の幅Ｖ（第９図Ｃ）をもメモリ（図示せず）に記憶して
おいて、メモリMiの水平走査的読み出しのとき、入力文
字の各部の水平方向の幅Ｈのデータを読み出し、メモリ
Miの垂直走査的読み出しのとき、入力文字の各部の垂直
方向の幅Ｖのデータを読み出し、対応する参照文字の各
部の水平方向の幅及び垂直方向の幅と比較し、不一致で
あればフラグを立てるようにする。 即ち、特則１〜３の包含関係のチェックだけでは、入
力文字が例えば第10図Ａに示す幅の広いリングである場
合、これを細線化した場合、第10図Ｂに示す如くなる
が、これを参照文字である第10図Ｃの黒丸や第10図Ｄの
リングとの包含関係だけのチェックを行ったのでは、そ
の入力文字の認識を行うことはできない。このようなこ
とは、通常の文字では起こり得ないので、その場合には
幅Ｈ、Ｖの記憶は不要である。 尚、細線点列化された入力文字は、水平重心Hg、垂直
重心Vgの点列の混合から構成されることに成るが、その
入力文字の対応する幅Hl、Vlの総和を採り、Hg、Vg夫々
の点列数で除することにより、その両値が略等しく、あ
る基準値に近接しているか否かを調べることにより、そ
の書体がゴッジクか否かを判別することができる。 さて、上述した特則だけでは、端点部の文字の線分の
長さの違い又はコーナー部でのデータ「１」の消し残り
による誤差が発生する。これらが様々に重複すると、入
力文字の認識が困難に成るので、できるだけメモリのデ
ータ「１」の消し残りがなくなるようにした方が良い。 即ち、入力文字及び参照文字が例えば第11図Ａに示す
ように、矩形枠状の場合、入力文字を破線にて示す如く
細線化した後、これを上述の特則に従って、参照文字と
比較して各メモリのデータ「１」を消去して行く場合、
入力文字及び参照文字の四隅の斜線の部分が消し残りと
成る。しかし、これはメモリの水平方向の走査的読み出
しによる文字データの消去の後、第11図Ｂに示す垂直方
向の走査的読み出しによる文字データの消去の段階にお
ける、入力文字及び参照文字の線分の長さの違いによる
端点部誤差と共通の問題と成る。 そこで、メモリへの「０」の書き込みの手順の中で、
次の操作を加えることにする。即ち、第１図に示す如
く、セレクタSLr、SLiからの参照文字データ及び入力文
字データを夫々、縦続接続されたシフトレジスタSR1〜S
R3、SR4〜SR6に供給して、夫々３走査ライン分遅延さ
せ、その遅延出力をANDゲートGr、Giに供給することに
より、例えば第11図Ｂに示す参照文字メモリMr、入力文
字メモリMiの内容を、垂直走査的に読み出して包含関係
を判定し、そのαの範囲では包含関係ありと判断して、
各メモリの対応部に「０」を書き込むが、その両端の包
含関係にない部分、β、γにおいても２ライン遡って、
又、２ライン後まで、各メモリの対応部に「０」を書き
込むようにする。 次ぎに、第１図〜第３図を参照して、上述の特則を考
慮した包含関係検査回路の説明を行う。 先ず、判定回路DCでの判定について説明する。セレク
タSLrからの参照文字データの文字領域の幅を測定す
る。その文字領域中に細線化された入力文字の点が入っ
ているかどうか及びその文字領域の両端部に入った入力
文字の点の位置を判定する。又、セレクタSLiからの細
線化された入力文字のデータの点が２個以上連続してい
る否かを判定する。 判定回路DCの出力端子ｉからのデータ「０」が、AND
ゲートGi−マルチプレクサMXi−シフトレジスタSRiを通
じて、入力文字メモリMiに供給されて対応アドレスに書
き込まれる。 判定回路DCの出力端子ｒからのデータ「０」が、AND
ゲートGr−マルチプレクサMXr−シフトレジスタSRrを通
じて、参照文字メモリMrに供給されて対応アドレスに書
き込まれる。 SR1〜SR3は、セレクタSLrからの入力文字データを受
けて、これに基づいてANDゲートGrに端点処理のための
ゲート信号を供給する縦続接続されたシフトレジスタ
で、全体として３走査ライン分の遅延線を構成する。 SR4〜SR6は、セレクタSLiからの入力文字データを受
けて、これに基づいてANDゲートGiに端点処理のための
ゲート信号を供給する縦続接続されたシフトレジスタ
で、全体として３走査ライン分の遅延線を構成する。 この判定回路DCは第２図に示すように構成されてい
る。CNT1及びCNT2はカウンタである。カウンタCNT1の係
数イネーブル入力端子及びロード入力端子に、セレクタ
SLrからの参照文字データが供給される。このカウンタC
NT1のクロック入力端子には、クロック信号が供給され
る。カウンタCNT2の計数イネーブル入力端子及クリア入
力端子には、セレクタSLrからの参照文字データが供給
される。又、カウンタCNT2のロード入力端子には、セレ
クタSLiからの入力文字データのインバータIV1によって
位相反転されたものが供給される。このカウンタCNT2の
クロック入力端子にはクロック信号が供給される。 そして、カウンタCNT1は、参照文字の文字領域の幅W1
（第12図参照）を計測する。カウンタCNT2は、参照文字
の文字領域が始まってから、細線化された入力文字の最
初の点が到来するまでの幅W2（第12図参照）及びその最
後の点から文字領域の終わりまでの幅W3（第12図参照）
を計測する。 Ma〜Meはメモリである。この内メモリMa〜Mcは夫々上
述の幅W1〜W3のデータを記憶するメモリである。又、Md
は細線化された入力文字データの点が、参照文字データ
の文字領域に含まれていることＰ（但しＰ＝「１」）を
記憶するメモリ、Meは細線化された入力文字の点が２個
以上連続していることＱ（但しＱ＝「１」）を記憶する
メモリである。 カウンタCNT1の出力はメモリMaに供給される。カウン
タCNT2の出力は、メモリMb、Mcに供給される。F1、F2は
フリップフロップ回路で、フリップフロップ回路F1の非
反転出力がメモリMdに供給され、フリップフロップ回路
F2の非反転出力がメモリMeに供給される。 セレクタSLrからの参照文字データがインバータIV2に
よって位相反転されてメモリMa、Mc〜Meのクロック入力
端子に供給される。セレクタSLrからの参照文字データ
が、NANDゲートG1及びフリップフロップ回路F1のクリア
入力端子に供給される。セレクタSLr及びSLiからの文字
データがANDゲートG2に供給される。そして、このANDゲ
ートG2の出力がインバータIV3によって位相反転されて
フリップフロップ回路F1のプリセット入力端子に供給さ
れる。更に、このフリップフロップ回路F1の反転出力が
NANDゲートG1に供給される。そして、NANDゲートG1の出
力がメモリMbのクロック入力端子に供給される。ANDゲ
ートG2の出力がNANDゲートG3及びフリップフロップ回路
F3のＤ入力端子に供給される。又、フリップフロップ回
路F3のクロック入力端子にはクロックが供給される。フ
リップフロップ回路F3の非反転出力がNANDゲートG3に供
給される。このNANDゲートG3の出力がフリップフロップ
回路F2のプリセット入力端子に供給される。フリップフ
ロップ回路F2のＤ入力端子は接地され、そのクロック入
力端子にインバータIV2の出力が供給される。 メモリMa〜Meには、第13図のNo.1、No.2、No.3、・・
・No.iの各参照文字の文字領域毎の、幅W1、W2、W3及び
包含関係Ｐ、入力文字の点列の連続性Ｑが記憶され、こ
れがテーブル用ROM TB1にアドレスとして供給され、テ
ーブル用ROM TB1では第14図に示すような判定基準で、
メモリMr、Miのアドレスに「０」を書き込むか否かの判
定出力を出す。 第14図で、Ｘ、Ｙ、Ｚは、上述の幅W1、W2、W3に対応
し、 W1＞Th1ならＸ＝１ W1≦Th1ならＸ＝０ W2＜Th2ならＹ＝１ W2≧Th2ならＹ＝０ W3＜Th2ならＺ＝１ W3≧Th2ならＺ＝０ である。 そして、メモリMr、Miへの「０」の書き込みの有無の
判定基準は第14図の通りであって、これを説明すれば、
次の通りである。 ｉ）W1≦Th1のとき Ａ）参照文字の文字領域内に細線化された入力文字の連
続した点がなければ、メモリMr、Miの対応アドレスに
「０」を書き込む。 Ｂ）参照文字の文字領域内に細線化された入力文字の連
続した点があれば、メモリMr、Miへの書き込みは行わな
い。 ii）W1＞Th1のとき Ａ）参照文字の文字領域内に細線化され入力文字の連続
した点がないとき ａ）参照文字の文字領域内の両端部に入力文字の点があ
れば、メモリMr、Miの対応アドレスに「０」を書き込
む。 ｂ）参照文字の文字領域内の両端部に入力文字の点がな
ければ、メモリMr、Miへの書き込みは行わない。 Ｂ）参照文字の文字領域内に細線化され入力文字の連続
した点があれば、メモリMr、Miへの書き込みは行わな
い。 次に端点処理のための回路について、第３図を参照し
て、説明する。テーブル用ROM TB1からの２ビットの出
力は、縦続接続されたシフトレジスタDR1〜DR5の初段の
シフトレジスタDR1に供給される。これらシフトレジス
タDR1〜DR5からの各２ビットの出力は、端点処理のため
のテーブル用ROM TB2に供給される。そして、テーブル
用ROM TB2の出力端子ｒ、ｉからの出力が、第１図のAN
DゲートGr、Giに供給される。又、第１図及び第３図に
おいて、セレクタSLr、SLiの出力を、夫々消去処理を２
ラインに遡って行うために、３段の縦続接続されたシフ
トレジスタSR1〜SR3及びSR4〜SR6を通じて、夫々ANDゲ
ートGr、Giに供給するようにしている。そして、これら
ANDゲートGr、Giから得られたデータ「０」が夫々マル
チプレクサMXr、MXiに供給されて、夫々シフトレジスタ
SRr、SRiを通じて、メモリMr、Miの対応するアドレスに
書き込まれる。 次にテーブル用ROM TB2のシフトレジスタDR1〜DR5の
判定結果を選択制御する論理について説明する。シフト
レジスタSR3の内容に対して、シフトレジスタDR3の内容
が中心的な役割を果たし、シフトレジスタDR1、DR2及び
DR4、DR5の内容は補佐的な役割を果たす。シフトレジス
タDR3の判定結果が入力文字メモリMi及び参照文字Mrの
双方に「０」を書き込む、入力文字メモリMiに「０」を
書き込み、参照文字メモリMrに「０」を書き込まない場
合は、シフトレジスタDR3の内容は他のシフトレジスタD
R1、DR2及びDR4、DR5の内容に影響されず、シフトレジ
スタDR3の判定結果がメモリへの「０」の書き込み可能
であるときのみ、他のシフトレジスタDR1、DR2及びD
R4、DR5の内容に影響される。 G3消去処理後の残差評価法（Ｉ） 上述の消去法によって、データ「１」の消去された入
力及び参照文字メモリMi、Mrの残存しているデータ
「１」の周辺分布を求める。その代表的な例を第15図Ａ
〜Ｄに示す。これは個々のメモリの各アドレスの内容
（「１」又は「０」）を、Ｘ及びＹ軸上で積分して示し
たものである。即ち、同図Ａ及びＢは、メモリに不一致
線分のデータが残存している場合を示している。同図Ｃ
は端点の誤差が偶然Ｙ投影において連続して判定を紛ら
わしくした例である。又同図Ｄは細線化入力文字と参照
文字とが良く一致した例である。 しかして、かかる周辺分布によるチェックを入力及び
参照文字メモリMi、Mrにおいて実施し、両メモリの周辺
分布の結果が、共に第15図Ｃ、Ｄのようにったのであれ
ば、入力文字及び参照文字は互いに一致しているものと
判定する。但し、このときＸ投影及Ｙ投影の局所的積分
値が等しいかどうかのチェックは必要となろう。 G4消去処理後の残差評価法（II） 上述の消去法によって、データ「１」の消去された入
力及び参照文字メモリMi、Mrの残存しているデータ
「１」から、文字の一部を構成する所定値以上の長さの
円分の有無を調べる。これにより、例えば入力文字が
「木」の場合に、参照文字である「木」、「本」との異
同を調べることにより、入力文字の認識を行う。 第16図は、メモリMr、Miに残存しているデータ「１」
の連続性を判別する回路で、以下これについて説明す
る。この判別回路は、メモリMr、Miに対して同じ構成を
採り得る。第１のセレクタSLr又はSLiからの細線化され
た参照文字又は入力文字の残差データが入力端子（１）
からシフトレジスタ（２）、検査回路（４）、ANDゲー
ト（５）及び加算回路（６）に供給される。シフトレジ
スタ（２）は、メモリMr又はMiの水平方向の１走査ライ
ン分のデータを記憶する。シフトレジスタ（２）の出力
はフリップフロップ回路（３）に供給される。そして、
入力端子（１）からの現在のデータ（第17図のｑ′＝
「１」）と、シフトレジスタ（２）及びフリップフロッ
プ回路（３）からの、１ライン前のデータｑ、その前後
のデータｐ、ｒ（第17図）とを検査回路（４）に供給し
て比較する。そして、この検査回路（４）では、現在の
ラインと１ライン前のラインのデータの垂直方向の連続
性及び斜め方向の連続性を検査する。 加算回路（６）において、ANDゲート（５）の出力
と、入力端子（１）からの現在のデータとが加算され、
その加算出力がメモリ（８）に供給されて書き込まれ
る。メモリ（８）の読み出し出力はラッチ回路（９）に
供給される。そして、メモリ（８）及びラッチ回路
（９）から読み出された水平方向の走査線上の１ライン
前の隣接するデータＰ、Ｑ、Ｒ（夫々０、１、２、３、
・・・の値を採り得る）がセレクタ（７）に供給され、
検査回路（４）の出力によって選択される。そして、こ
のセレクタ（７）によって選択されたデータが、上述の
入力端子（１）からの現在のデータと共に、ANDゲート
（５）に供給される。 しかして、メモリMi又はMrの最初の水平方向走査線上
のデータが、セレクタSLi又はSLrを介して入力端子
（１）に供給された場合は、そのデータが「１」のとき
は、１がメモリ（８）の文字対応部に書き込まれる。そ
して、次の水平走査線及びそれ以降の走査線上のデータ
が入力端子（１）に供給されるときは、検査回路（４）
において、第17図に示す、あるデータｑ′が「１」の場
合において、それより１ライン前のデータｑ及びその前
後のデータｐ、ｒが「１」であるか「０」であるかが検
査回路（４）において検査され、それに応じてセレクタ
（７）が制御される。 即ち、ｑ＝「１」のときは、セレクタ（７）によっ
て、データＱが選択されてANDゲート（５）を通じて加
算回路（６）に供給されて、入力端子（１）からのデー
タｑに加算されて、メモリ（８）の文字対応部に記録さ
れる。 又、ｐ・＝「１」のときは、セレクタ（７）によっ
て、データＰが選択されてANDゲート（５）を通じて加
算回路（６）に供給されて加算されて、メモリ（８）の
文字対応部に記録される。 又、・・ｒ＝「１」のときは、セレクタ（７）に
よって、データＲが選択されてANDゲート（５）を通じ
て加算回路（６）に供給されて加算されて、メモリ
（８）の文字対応部に記録される。 例えば、第18図に示す如く、メモリMi又はMrに残存し
た「１」のデータの内、メモリMi又はMrのある水平走査
線Ｎに「１」のデータがあって、そこから線分が開始さ
れている場合は、メモリ（８）の対応アドレスに１が書
き込まれ、メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋１に、水平
走査線Ｎの「１」のデータの真下、又は、その前後に
「１」のデータがある場合は、メモリ（８）の対応アド
レスに、１＋１＝２が書き込まれ、メモリMi又はMrの水
平走査線Ｎ＋２に、水平走査線Ｎ＋１の「１」のデータ
の真下、又は、その前後に「１」のデータがある場合
は、メモリ（８）の対応アドレスに、２＋１＝３が書き
込まれ、メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋３に、水平走
査線Ｎ＋２の「１」のデータの真下、又は、その前後に
「１」のデータがある場合は、メモリ（８）の対応アド
レスに、３＋１＝４が書き込まれる。 メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋４に、水平走査線Ｎ
＋３の「１」のデータの真下、又は、その前後に「１」
のデータがない場合は、メモリ（８）の対応アドレス
に、０が書き込まれる。 メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋６に「１」のデータ
があって、そこから線分が開始されている場合は、メモ
リ（８）の対応対応アドレスに１が書き込まれ、メモリ
Mi又はMrの水平走査線Ｎ＋７に、水平走査線Ｎ＋６の
「１」のデータの真下、又は、その前後に「１」のデー
タがある場合は、メモリ（８）の対応アドレスに、１＋
１＝２が書き込まれ、メモリMi又はMrの水平走査線Ｎ＋
８に、水平走査線Ｎ＋７の１」のデータの真下、又は、
その前後に「１」のデータがある場合は、メモリ（８）
の対応アドレスに、２＋１＝３が書き込まれる。 そして、このメモリ（８）の内容（これをＡとする）
がレベル比較器（11）に供給されて、スレッシュホール
ドＢと比較され、Ａ＞Ｂのときは出力「１」が得られて
ORゲート（13）を通じてフリップフロップ回路（14）の
Ｄ入力端子に供給される。このフリップフロップ回路
（14）のクロック入力端子にはクロック信号が供給され
る。そして、このフリップフロップ回路（14）の反転出
力が他のフリップフロップ回路（15）のセット入力端子
に供給される。尚、フリップフロップ回路（15）のリセ
ット入力端子に初期値信号が供給される。そして、比較
器（11）において、Ａ＞Ｂと成る毎に、フリップフロッ
プ回路（15）からフラグが出力される。 （10）は、入力端子（１）に供給される現在のデータ
の水平方向の線分を検出するカウンタである。カウンタ
（10）のイネーブル入力端子及びクリア入力端子に、入
力端子（１）からの現在のデータが供給される。又、カ
ウンタのクロック入力端子には、クロック信号が供給さ
れる。カウンタ（10）は、入力端子（１）からのデータ
が「１」のときこの「１」を計数し、入力端子「１」か
らのデータが「０」のときクリアされる。 そして、このカウンタ（10）の計数出力が（これを
Ａ′とする）がレベル比較器（12）に供給されて、スレ
ッシュホールドＢ′と比較され、Ａ′＞Ｂ′のときは出
力「１」が得られてORゲート（13）を通じてフリップフ
ロップ回路（14）のＤ入力端子に供給される。そして、
比較器（12）において、Ａ′＞Ｂ′と成る毎に、フリッ
プフロップ回路（15）からフラグが出力される。 かくして、かかる連続性の判別回路によれば、消去処
理の行われたメモリMi、Mrに残存しているデータから、
線分（所定長さ以上の線分）のデータを点や点状のノイ
ズと区別して判別することができる。 Ｈ 発明の効果 上述せる本発明によれば、線分パターンを容易に認識
することのできるパターンの連続性判別方法を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第１図乃至第18図は本発明に係る図で、第１図は包含関
係の検査回路を示すブロック線図、第２図は包含関係の
検査回路の判定回路を示すブロック線図、第３図は検査
回路の一部を示すブロック線図、第４図は入力文字及び
参照文字の説明図、第５図及び第６図は夫々包含関係の
説明図、第７図は参照文字の塗り潰しの説明図、第８図
は入力文字の潰れの説明図、第９図は入力文字の幅デー
タの説明図、第10図は特殊記号の認識の説明図、第11図
は端点処理の説明図、第12図は包含関係の説明図、第13
図はメモリの記憶内容を示す図、第14図はテーブル用RO
Mの説明図、第15図は累積の説明図、第16図は連続性の
判別回路を示すブロック線図、第17図及び第18図は夫々
線分の連続性の説明図である。 Mi、Mrは第１のメモリ、（８）は第２のメモリである。
係の検査回路を示すブロック線図、第２図は包含関係の
検査回路の判定回路を示すブロック線図、第３図は検査
回路の一部を示すブロック線図、第４図は入力文字及び
参照文字の説明図、第５図及び第６図は夫々包含関係の
説明図、第７図は参照文字の塗り潰しの説明図、第８図
は入力文字の潰れの説明図、第９図は入力文字の幅デー
タの説明図、第10図は特殊記号の認識の説明図、第11図
は端点処理の説明図、第12図は包含関係の説明図、第13
図はメモリの記憶内容を示す図、第14図はテーブル用RO
Mの説明図、第15図は累積の説明図、第16図は連続性の
判別回路を示すブロック線図、第17図及び第18図は夫々
線分の連続性の説明図である。 Mi、Mrは第１のメモリ、（８）は第２のメモリである。
Claims (1)
- (57)【特許請求の範囲】 １．パターンデータが記憶された第１のメモリを走査的
に読み出す読出しステップと、 上記第１のメモリ内に点データがあるときは、第２のメ
モリにおいて、前の走査ラインの近接する点データから
所定の条件に基づいて、１つの点データを選択し、選択
された点データの有する値に対して所定の値を加算する
加算ステップと、 該加算ステップによって算出された値を現在の点データ
に対する値として、上記第２のメモリに記憶する記憶ス
テップと、 上記第２のメモリに記憶されている点データの値を読み
出して基準値と比較する比較ステップとを有し、 該比較ステップによってパターンの連続性を判別するよ
うにしたことを特徴とするパターンの連続性判別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61178181A JP2674009B2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 | パターンの連続性判別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61178181A JP2674009B2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 | パターンの連続性判別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6334677A JPS6334677A (ja) | 1988-02-15 |
| JP2674009B2 true JP2674009B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=16044017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61178181A Expired - Fee Related JP2674009B2 (ja) | 1986-07-29 | 1986-07-29 | パターンの連続性判別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2674009B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0752778Y2 (ja) * | 1990-09-20 | 1995-12-06 | コンビ株式会社 | ベビーカーのリクライニング機構 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57211674A (en) * | 1981-06-23 | 1982-12-25 | Ricoh Co Ltd | Frame recognizing method |
-
1986
- 1986-07-29 JP JP61178181A patent/JP2674009B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6334677A (ja) | 1988-02-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |