JP2673570B2 - 単一モード光フアイバのモードフィールド径の測定方法 - Google Patents
単一モード光フアイバのモードフィールド径の測定方法Info
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Description
【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、遠視野像(以下FFP)法による、単一モ
ード光フアイバのすモードフィールド径の測定方法の改
善に関するもので、特にモードフィールド径の精度に大
きく影響するダイナミックレンジの拡大に関係するもの
である。
ード光フアイバのすモードフィールド径の測定方法の改
善に関するもので、特にモードフィールド径の精度に大
きく影響するダイナミックレンジの拡大に関係するもの
である。
[従来の技術] 単一モード光フアイバのモードフィールド径は、次の
ように、FFPの二次モーメントに関係した値となってい
る。
ように、FFPの二次モーメントに関係した値となってい
る。
ただし、p=k・sinθ Ψ:FFPによる界分布 そこで、次の方法によるFFPの測定が行われている
(文献1および2参照)。
(文献1および2参照)。
すなわち、第7図において、 10は被測定の光フアイバ、 20は受光素子で、回転するアーム30の先端にとりつけ
てあり、光フアイバ10の出射端面12を中心とする円周上
をステップ式に一定の角度ずつ移動する。
てあり、光フアイバ10の出射端面12を中心とする円周上
をステップ式に一定の角度ずつ移動する。
34は光源である。
FFPの測定例を第8図に示す。
また、(1)式によるモードフィールド径の計算値と
ダイナミックレンジとの関係の例を、第9図に示す。
ダイナミックレンジとの関係の例を、第9図に示す。
上の文献によれば、光源34に波長1.30μmまたは1.55
μmのレーザダイオード(LD)、受光素子20に受光径10
0μmのアバランシェフオトダイオード(APD)、出射端
面12〜受光素子20間の距離dを80mm、測定(サンプリン
グ)間隔を1度としたとき、ダイナミックレンジを35dB
以上にすれば、モードフィールド径を1%以内の精度で
測定できるとある。
μmのレーザダイオード(LD)、受光素子20に受光径10
0μmのアバランシェフオトダイオード(APD)、出射端
面12〜受光素子20間の距離dを80mm、測定(サンプリン
グ)間隔を1度としたとき、ダイナミックレンジを35dB
以上にすれば、モードフィールド径を1%以内の精度で
測定できるとある。
なお、ダイナミックレンジは、検出可能な最小パワー
強度と、θ=0における強度との比である。
強度と、θ=0における強度との比である。
[発明が解決しようとする課題] しかし、上記条件の場合、そのダイナミックレンジ
は、およそ40dB前後であり、測定精度ギリギリである。
は、およそ40dB前後であり、測定精度ギリギリである。
さらに、多くの単一モード光フアイバについて、モー
ドフィールド径とダイナミックレンジとの関係を調べた
ところ、ダイナミックレンジが35dBでは、モードフィー
ルド径が1%以内に集束しないもののあることが分っ
た。
ドフィールド径とダイナミックレンジとの関係を調べた
ところ、ダイナミックレンジが35dBでは、モードフィー
ルド径が1%以内に集束しないもののあることが分っ
た。
特に分散シフト単一モード光フアイバに代表される規
格化周波数(V)の小さい単一モード光フアイバでは、
このような傾向が多く見受けられた。
格化周波数(V)の小さい単一モード光フアイバでは、
このような傾向が多く見受けられた。
ダイナミックレンジを拡大するには、以下の方法が考
えられる。
えられる。
(1) 光源の光出力を上げる。
(2) 受光素子の感度を上げる。
(3) 受光素子と光フアイバの出射端面との距離dを
小さくする。
小さくする。
(4) 受光素子の径を大きくする。
しかし、上記の (1)については、市販のLDを用いる限り、大幅な拡
大はできない。
大はできない。
(2)については、常温で、APDまたはpin−PDを用い
る限り、大幅な拡大はできない。
る限り、大幅な拡大はできない。
そこで、上記の(3)と(4)について検討してみ
る。
る。
上記の測定条件では、受光素子20の径による角度分解
能(約0.07度)に比べて、測定角度間隔(1度)が大き
い。
能(約0.07度)に比べて、測定角度間隔(1度)が大き
い。
それら2つがほぼ等しくなるまで、距離dを近づける
か、受光素子20の径を大きくすることが考えられる。
か、受光素子20の径を大きくすることが考えられる。
しかし、距離dを小さくした場合、大きくした場合に
比べて、受光素子20の回転中心と出射端面12との位置ズ
レに対して測定誤差が大きくなる。
比べて、受光素子20の回転中心と出射端面12との位置ズ
レに対して測定誤差が大きくなる。
このことは以下の例を考えると理解できる。
すなわち、距離dを倍にし、受光素子20の径も倍にし
た測定系を考える。
た測定系を考える。
このとき、受光できる角度は等しくなるため、ダイナ
ミックレンジは変らない。
ミックレンジは変らない。
しかし受光素子20の回転の中心と出射端面12との位置
ズレを考えると、2つの測定系の相似から、許される位
置ズレも倍になると考えられる。
ズレを考えると、2つの測定系の相似から、許される位
置ズレも倍になると考えられる。
よって上記(3)の場合、距離dを小さくすることに
より、光フアイバ10の設置位置に対して高い精度がいる
ようになり、問題である。
より、光フアイバ10の設置位置に対して高い精度がいる
ようになり、問題である。
結局、(4)の受光素子20径を大きくする方法がよい
ことが判断できる。しかし、受光系の大きい素子は暗電
流が大きく、面感度にバラツキができてくる。
ことが判断できる。しかし、受光系の大きい素子は暗電
流が大きく、面感度にバラツキができてくる。
[課題を解決するための手段] 受光素子20には現状のものを用い、その直前にコリメ
ータレンズ40を置くことにより(第1図)、等価的に受
光面積を大きくした。
ータレンズ40を置くことにより(第1図)、等価的に受
光面積を大きくした。
また、受光素子20の代りに、コリメータレンズ40が光
フアイバ10の出射端面12を中心とする円周上を移動する
ようにし(第2図)、そのコリメータレンズ40と受光素
子20とが光フアイバ50によって結ばれるようにしてもよ
い。
フアイバ10の出射端面12を中心とする円周上を移動する
ようにし(第2図)、そのコリメータレンズ40と受光素
子20とが光フアイバ50によって結ばれるようにしてもよ
い。
[第1実施例](第1図) [1] 構成 受光素子20の前後にコリメータレンズ40を置く。
受光素子20、コリメータレンズ40ともにアーム30の段
部の上に載り、いっしょに移動する。
部の上に載り、いっしょに移動する。
コリメータレンズ40の受光径(レンズ径)は、受光素
子20に比べて、相当(たとえば10倍程度)大きいものを
用いる。
子20に比べて、相当(たとえば10倍程度)大きいものを
用いる。
[2] 作用 コリメータレンズ40に入射した光がすべて受光素子20
に入射するので、受光素子20の受光径を拡大したと同じ
ことになる。
に入射するので、受光素子20の受光径を拡大したと同じ
ことになる。
したがって、この場合は、出射端面12とコリメータレ
ンズ40間の距離dを大きくすることができる。dを大き
くすることにより、コリメータレンズ40の回転の中心と
出射端面12との位置ズレに対する測定誤差が小さくな
る。
ンズ40間の距離dを大きくすることができる。dを大き
くすることにより、コリメータレンズ40の回転の中心と
出射端面12との位置ズレに対する測定誤差が小さくな
る。
[第2実施例](第2図) アーム30の先端にコリメータレンズ40だけ設置し、受
光素子20との間を、光フアイバ50および集光レンズ52を
介して接続する。
光素子20との間を、光フアイバ50および集光レンズ52を
介して接続する。
これによる利点は、受光素子20およびその信号増幅部
を雑音源より遮蔽できることにある。
を雑音源より遮蔽できることにある。
また、より広いダイナミックレンジを求めて受光素子
20を冷却する場合にも便利である。
20を冷却する場合にも便利である。
[測定例] 出射端面12〜コリメータレンズ40間の距離d:200m
m、 コリメータレンズ40のレンズ径:1mm,角度分解能:
約0.29度 試験単一モード光フアイバ A:ステップコア型(Δ=0.35%) B:ヂュアルシェイブコア分散シフト型 の場合である。
m、 コリメータレンズ40のレンズ径:1mm,角度分解能:
約0.29度 試験単一モード光フアイバ A:ステップコア型(Δ=0.35%) B:ヂュアルシェイブコア分散シフト型 の場合である。
・ 第3図にフアイバAのFFPの測定結果を、 ・ 第4図にフアイバBのFFPの測定結果を、 それぞれ示す。
なお、それぞれに、従来の測定結果も併記した。
従来の測定結果では、ダイナミックレンジは40dB弱な
のに対して、本発明においては60dB弱に広がっているこ
とが分る。
のに対して、本発明においては60dB弱に広がっているこ
とが分る。
第5図と第6図に、フアイバA,Bの測定角度間隔を変
えたときの、モードフィールド径とダイナミックレンジ
との関係を示す。
えたときの、モードフィールド径とダイナミックレンジ
との関係を示す。
フアイバA,Bともに、測定角度間隔0.25度、ダイナミ
ックレンジ50dBにおいて、モードフィールド径のダイナ
ミックレンジ依存性と測定角度間隔の依存性の両方と
も、集束していることが分る。
ックレンジ50dBにおいて、モードフィールド径のダイナ
ミックレンジ依存性と測定角度間隔の依存性の両方と
も、集束していることが分る。
よって、フアイバAが11.05μm、フアイバBが8.12
μmのモードフィールド径であるといえる。
μmのモードフィールド径であるといえる。
測定精度を1%以内にする場合、フアイバAの場合
は、測定角度間隔を0.75度以内でかつダイナミックレン
ジ26dB以上にしなければならない。
は、測定角度間隔を0.75度以内でかつダイナミックレン
ジ26dB以上にしなければならない。
また、フアイバBの場合は、測定角度間隔を1度以内
でかつダイナミックレンジ37dB以上にしなければならな
い。
でかつダイナミックレンジ37dB以上にしなければならな
い。
よって、これら2種のようなフアイバを、測定精度を
1%以内にする場合は、測定角度間隔を0.75度以内でか
つダイナミックレンジ37dB以上にしなければならない。
1%以内にする場合は、測定角度間隔を0.75度以内でか
つダイナミックレンジ37dB以上にしなければならない。
[発明の効果] (1) 受光素子の直前にコリメータレンズを付けてお
いて、遠視野像を測定するので、ダイナミックレンジが
拡大され、その結果非常に高い精度でモードフィールド
径を測定できる。
いて、遠視野像を測定するので、ダイナミックレンジが
拡大され、その結果非常に高い精度でモードフィールド
径を測定できる。
(2) 光フアイバの出射端面を中心とする円周上を移
動するコリメータレンズならびに当該コリメータレンズ
40と光フアイバによって結ばれる受光素子によって、光
フアイバから出射する光の遠視野像を測定するので、非
常に高い精度でモードフィールド径を測定できるし、ま
た、受光素子およびその信号増幅部を雑音源より遮蔽で
きる。
動するコリメータレンズならびに当該コリメータレンズ
40と光フアイバによって結ばれる受光素子によって、光
フアイバから出射する光の遠視野像を測定するので、非
常に高い精度でモードフィールド径を測定できるし、ま
た、受光素子およびその信号増幅部を雑音源より遮蔽で
きる。
第1〜6図は本発明にかかるもので、 第1図は第1実施例の説明図、 第2図は第2実施例の説明図、 第3図はフアイバAのFFP測定結果を示し、 第4図はフアイバBのFFP測定結果を示し、 第5図はフアイバAのモードフィールド径のダイナミッ
クレンジ依存性を示し、 第6図はフアイバBのモードフィールド径のダイナミッ
クレンジ依存性を示す。 第7図以下は従来技術にかかるもので、 第7図はFFP測定法の説明図、 第8図はFFP測定結果の例を示し、 第9図はモードフィールド径のダイナミックレンジ依存
性の例を示す。 10:光フアイバ、12:出射端面 20:受光素子、30:アーム 34:光源、40:コリメータレンズ 50:光フアイバ、52:集光レンズ
クレンジ依存性を示し、 第6図はフアイバBのモードフィールド径のダイナミッ
クレンジ依存性を示す。 第7図以下は従来技術にかかるもので、 第7図はFFP測定法の説明図、 第8図はFFP測定結果の例を示し、 第9図はモードフィールド径のダイナミックレンジ依存
性の例を示す。 10:光フアイバ、12:出射端面 20:受光素子、30:アーム 34:光源、40:コリメータレンズ 50:光フアイバ、52:集光レンズ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭61−45949(JP,A) 特開 昭61−155933(JP,A) 実開 昭62−40542(JP,U)
Claims (2)
- 【請求項1】光フアイバの出射端面を中心とする円周上
を移動する受光素子によって、前記光フアイバから出射
する光の遠視野像を測定し、得られた当該遠視野像から
計算によってモードフィールド径を求める方法におい
て、 前記受光素子の直前にコリメータレンズを付けておいて
前記遠視野像を測定する、単一モード光フアイバのモー
ドフィールド径の測定方法。 - 【請求項2】光フアイバの出射端面を中心とする円周上
を移動するコリメータレンズならびに当該コリメータレ
ンズと光フアイバによって結ばれる受光素子によって、
前記光フアイバから出射する光の遠視野像を測定し、得
られた当該遠視野像から計算によってモードフィールド
径を求める、単一モード光フアイバのモードフィールド
径の測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33168688A JP2673570B2 (ja) | 1988-12-29 | 1988-12-29 | 単一モード光フアイバのモードフィールド径の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33168688A JP2673570B2 (ja) | 1988-12-29 | 1988-12-29 | 単一モード光フアイバのモードフィールド径の測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH02179439A JPH02179439A (ja) | 1990-07-12 |
JP2673570B2 true JP2673570B2 (ja) | 1997-11-05 |
Family
ID=18246445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33168688A Expired - Fee Related JP2673570B2 (ja) | 1988-12-29 | 1988-12-29 | 単一モード光フアイバのモードフィールド径の測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2673570B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010281696A (ja) * | 2009-06-04 | 2010-12-16 | Daitron Technology Co Ltd | 発光素子測定装置及び発光素子測定方法 |
JP5966672B2 (ja) * | 2012-06-27 | 2016-08-10 | 住友電気工業株式会社 | 光ファイバ測定方法 |
-
1988
- 1988-12-29 JP JP33168688A patent/JP2673570B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH02179439A (ja) | 1990-07-12 |
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Legal Events
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