JP2669728B2 - Wiring board exposure processing method - Google Patents

Wiring board exposure processing method

Info

Publication number
JP2669728B2
JP2669728B2 JP3075185A JP7518591A JP2669728B2 JP 2669728 B2 JP2669728 B2 JP 2669728B2 JP 3075185 A JP3075185 A JP 3075185A JP 7518591 A JP7518591 A JP 7518591A JP 2669728 B2 JP2669728 B2 JP 2669728B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exposure
coordinate
coordinates
liquid crystal
crystal display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP3075185A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH04309956A (en
Inventor
敦夫 関
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP3075185A priority Critical patent/JP2669728B2/en
Publication of JPH04309956A publication Critical patent/JPH04309956A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2669728B2 publication Critical patent/JP2669728B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示素子の配線基
板を露光によって形成する際に、複数の露光領域に分割
して露光する配線基板の露光処理方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of exposing a wiring board of a liquid crystal display element by dividing it into a plurality of exposure areas and exposing the wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】アクティブマトリクス駆動方式で各表示
絵素を駆動する液晶表示素子の場合、各表示絵素のスイ
ッチング素子としては薄膜トランジスタ(以下、TFT
と記す)やMIM(Metel-Insulator-Metal)などが用い
られる。液晶表示素子の表示部にこれらのスイッチング
素子を形成するためには、液晶表示素子の基板に対して
複数回の露光を行い、エッチングされた回路配線の上に
さらに複数の回路配線を形成しなければならない。これ
らの露光を行う際には、大規模集積回路の露光に用いら
れている、実施例で説明する図1に示されている逐次型
露光装置1が用いられる。
2. Description of the Related Art In the case of a liquid crystal display element which drives each display pixel by an active matrix driving method, a thin film transistor (hereinafter referred to as a TFT) is used as a switching element of each display pixel.
) Or MIM (Metel-Insulator-Metal). In order to form these switching elements in the display section of the liquid crystal display element, the substrate of the liquid crystal display element must be exposed multiple times and a plurality of circuit wirings must be formed on the etched circuit wirings. I have to. When performing these exposures, the sequential exposure apparatus 1 shown in FIG. 1 described in the embodiment, which is used for exposure of a large scale integrated circuit, is used.

【0003】逐次型露光装置1のXステージ5x、Yス
テージ5y、Θステージ5θからなる台5上に露光を行
う基板6を載置し、直交する方向に移動可能なXステー
ジ5xおよびYステージ5yを移動させて露光すること
ができるため、基板6上に複数の液晶表示素子領域21
(後述する液晶表示素子領域21a,21bを総称して
参照符号を21とする)を形成することが可能である。
[0003] A substrate 6 to be exposed is mounted on a stage 5 composed of an X stage 5x, a Y stage 5y, and a Θ stage 5θ of the sequential exposure apparatus 1, and the X stage 5x and the Y stage 5y movable in orthogonal directions. Can be moved and exposed, so that a plurality of liquid crystal display element regions 21
(The liquid crystal display element regions 21a and 21b to be described later are collectively referred to as reference numeral 21).

【0004】図12は、第1の従来例を示す図である。
図示しない基板上に縦横各4個、計16個の点線で示さ
れる第1露光処理によって形成された液晶表示素子領域
21が形成されており、この液晶表示素子領域21の集
合は、四角形である。
FIG. 12 is a diagram showing a first conventional example.
A liquid crystal display element region 21 formed by a first exposure process indicated by four dotted lines, four in each of the vertical and horizontal directions, is formed on a substrate (not shown), and a set of the liquid crystal display element regions 21 is rectangular. .

【0005】これらの露光は、実施例で説明する図2に
示されている逐次型露光装置1の電気的構成を示す図の
設定入力部10から各液晶表示素子領域21の中心座標
m0を制御演算部11に記憶し、制御演算部11で台5
を移動して中心座標m0と逐次型露光装置1の露光位置
の中心とを一致させて行われる。
For these exposures, the central coordinate m0 of each liquid crystal display element region 21 is controlled from the setting input section 10 of the diagram showing the electrical configuration of the sequential exposure apparatus 1 shown in FIG. It is stored in the calculation unit 11, and the control calculation unit 11 stores
Is performed by aligning the center coordinate m0 with the center of the exposure position of the sequential exposure apparatus 1.

【0006】第1露光処理後にエッチングおよび洗浄な
どの処理が行われた基板6は、台5上に載置される。こ
のとき第1露光処理によって形成された図示しない位置
決めマーカを用いて、逐次型露光装置1の露光位置と、
基板との位置関係が第1露光処理時と一致するように台
5の各ステージ5θ,5y,5xを用いて位置合わせを
行う。しかしながら、露光を行う際に用いないΘステー
ジ5θをYステージ5yに固定する際に、Θステージ5
θが回転方向に移動してしまう。このため、図12に示
されるように台5のXステージ5xの移動方向を示すx
軸と、それと直交するyステージの移動方向を示すy軸
は、第1露光処理の際と第2露光処理の際とでは角度α
のずれを生じる。
The substrate 6 which has been subjected to etching, cleaning and the like after the first exposure processing is placed on the table 5. At this time, using the positioning marker (not shown) formed by the first exposure process, the exposure position of the sequential exposure apparatus 1 and
Positioning is performed using the stages 5θ, 5y, and 5x of the table 5 so that the positional relationship with the substrate matches that in the first exposure process. However, when fixing the Θ stage 5θ that is not used for exposure to the Y stage 5y,
θ moves in the rotation direction. For this reason, as shown in FIG. 12, x indicating the moving direction of the X stage 5x of the table 5
The axis and the y-axis indicating the moving direction of the y stage orthogonal to the axis are an angle α between the first exposure processing and the second exposure processing.
Deviation occurs.

【0007】図12では、液晶表示素子領域21の集合
の中心座標m上に形成されている図示しない位置決めマ
ーカを、Xステージ5xとYステージ5yとを用いて第
1露光時と同一位置に移動させ、その移動距離を図11
および図12に示されるXYΘレーザ干渉計8を用いて
制御演算部11で測定し、移動距離に基づいて各中心座
標m0が第1露光処理時の各中心座標m0と一致するよ
うに補正が行われる。したがって、図12に示されるよ
うに第1露光処理時の液晶表示素子領域21と実線で示
される第2露光処理時の液晶表示素子領域21とは、各
中心座標m0は一致しているけれども、他の位置におい
ては、各中心座標m0を中心として回転方向に角度αの
ずれを有している。
In FIG. 12, a positioning marker (not shown) formed on the center coordinate m of the set of the liquid crystal display element regions 21 is moved to the same position as that during the first exposure using the X stage 5x and the Y stage 5y. And the moving distance is shown in FIG.
And the XYθ laser interferometer 8 shown in FIG. 12 is used for measurement by the control calculation unit 11, and correction is performed based on the moving distance so that each center coordinate m0 matches each center coordinate m0 in the first exposure processing. Be seen. Therefore, as shown in FIG. 12, although the center coordinates m0 of the liquid crystal display element region 21 at the time of the first exposure process and the liquid crystal display device region 21 at the time of the second exposure process indicated by the solid line are the same, At other positions, there is a deviation of an angle α in the rotation direction about each center coordinate m0.

【0008】このずれによって、第1露光処理によって
形成された回路配線と第2露光処理によって形成された
回路配線の位置関係がずれ、電気的に不通になること等
が考えられるため、このずれが生じることによって表示
に影響が出ないような回路配線を形成するように、回路
配線を設計することによって表示品位を保持している。
Due to this displacement, the positional relationship between the circuit wiring formed by the first exposure processing and the circuit wiring formed by the second exposure processing may be displaced, causing electrical disconnection. The display quality is maintained by designing the circuit wiring so that the circuit wiring is formed so that the generation thereof does not affect the display.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】図13は、第2の従来
例を示す図である。第2の従来例は、第1の従来例と同
じ方法で第1露光処理および第2露光処理が行われてい
る。第2の従来例が第1の従来例と異なる点は、液晶表
示素子領域21が大きく、4種類のホトマスクA,B,
C,Dを用いて1つの表示素子領域21の露光を行って
いることである。
FIG. 13 is a diagram showing a second conventional example. In the second conventional example, the first exposure process and the second exposure process are performed by the same method as the first conventional example. The second conventional example differs from the first conventional example in that the liquid crystal display element region 21 is large and four types of photomasks A, B,
That is, one display element region 21 is exposed using C and D.

【0010】この場合、第2の露光処理によって形成さ
れる回路配線は、中央部に配線のない間隙22を有し、
またその回路配線はホトマスクA,B,C,Dによって
露光された各露光領域23が隣合う露光領域とx軸また
はy軸方向にずれている。
In this case, the circuit wiring formed by the second exposure processing has a wiring-free gap 22 at the center,
Further, the circuit wiring is such that each exposure area 23 exposed by the photomasks A, B, C and D is displaced from the adjacent exposure area 23 in the x-axis or y-axis direction.

【0011】したがって、表示を行った際各露光領域2
3の接続部に断層が生じたり、液晶表示素子として駆動
した場合に、各露光領域23相互間でコントラストに差
が生じるなど表示品位が低下している。
Therefore, when the display is performed, each exposure area 2
The display quality is deteriorated, for example, a cross section is generated at the connection portion of No. 3, and when the liquid crystal display element is driven, a difference in contrast occurs between the exposure regions 23.

【0012】本発明の目的は、表示品位を向上させる配
線基板の露光処理方法を提供することである。
An object of the present invention is to provide an exposure processing method for a wiring board that improves the display quality.

【0013】[0013]

【課題を解決するための手段】本発明は、1つのマスク
による1または複数の露光領域からなる表示領域毎に配
線基板を区分して露光処理を行う配線基板の露光方法に
おいて、各表示領域毎に予め設定される第1座標を示す
第1座標データと、各露光領域毎に予め設定される第2
座標を示す前記第1座標に基づく第2座標データと、露
光時に形成される位置決め手段の座標である第3座標を
示す第3座標データとを含む各種データを記憶手段に記
憶し、前記第1座標データと第2座標データとを用いて
第1露光処理を行って、配線基板上に第1回路配線と位
置決め手段とを形成し、記憶手段に記憶されている前記
第3座標と、位置決め手段の座標を検知する座標検知手
段によって検知された第1露光処理時に第3座標上に形
成された位置決め手段の座標とを比較し、その比較結果
と第1座標データおよび第3座標データとを用いて第1
座標の補正を行い、補正された第1座標と第2座標デー
タとを用いて第2露光処理を行って、前記第1回路配線
上に、1または複数の第2回路配線を形成することを特
徴とする配線基板の露光処理方法である。
According to the present invention, there is provided an exposure method for a wiring board, wherein a wiring board is divided into display areas each consisting of one or a plurality of exposure areas by one mask to perform exposure processing. Coordinate data indicating the first coordinate set in advance and the second coordinate set in advance for each exposure area.
Various data including second coordinate data based on the first coordinate indicating the coordinate and third coordinate data indicating the third coordinate which is the coordinate of the positioning means formed at the time of exposure are stored in the storage means, and the first means is stored. A first exposure process is performed using the coordinate data and the second coordinate data to form the first circuit wiring and the positioning means on the wiring board, and the third coordinate stored in the storage means and the positioning means. The coordinates of the positioning means formed on the third coordinates during the first exposure processing detected by the coordinate detection means for detecting the coordinates are compared, and the comparison result and the first coordinate data and the third coordinate data are used. First
A coordinate is corrected, and a second exposure process is performed using the corrected first coordinate and second coordinate data to form one or a plurality of second circuit wirings on the first circuit wiring. It is a characteristic method of exposing a wiring board.

【0014】[0014]

【作用】本発明に従えば、1つのホトマスクによる1ま
たは複数の露光領域からなる表示領域毎に配線基板を区
分して露光処理を行う配線基板の露光方法において、ま
ず、記憶手段に第1、第2および第3座標データを含む
各種データが記憶される。第1座標データは各領域毎に
予め設定される第1座標を示しており、第2座標データ
は各露光領域毎に予め設定される第2座標を示してい
る。第2座標データは、第1座標を基準として第2座標
を示している。また、第3座標データは、露光時に形成
される位置決め手段の座標である第3座標を示してい
る。第1、第2および第3座標データ以外の各種データ
としては、配線基板に形成される表示領域数、1つの表
示領域を形成する露光領域数、露光領域の大きさなどが
挙げられる。
According to the present invention, in a method of exposing a wiring board for performing an exposure process by dividing the wiring board into display areas each composed of one or a plurality of exposure areas using one photomask, first, the storage means is firstly stored in a storage means. Various data including the second and third coordinate data is stored. The first coordinate data indicates the first coordinate preset for each area, and the second coordinate data indicates the second coordinate preset for each exposure area. The second coordinate data indicates a second coordinate based on the first coordinate. Further, the third coordinate data indicates the third coordinate which is the coordinate of the positioning means formed at the time of exposure. Various data other than the first, second, and third coordinate data include the number of display areas formed on the wiring board, the number of exposure areas forming one display area, the size of the exposure area, and the like.

【0015】次に、第1露光処理が行われる。第1露光
処理は第1座標データに基づく第1座標を用いて第2座
標を第2座標データから決定し、その第2座標を用いて
配線基板上に各露光領域を設定することによって行われ
る。これによって、配線基板上に第1回路配線が形成さ
れる。
Next, a first exposure process is performed. The first exposure process is performed by determining the second coordinate from the second coordinate data by using the first coordinate based on the first coordinate data, and setting each exposure region on the wiring board by using the second coordinate. . As a result, the first circuit wiring is formed on the wiring board.

【0016】次に、第2露光処理が行われる。第2露光
処理を行う際の配線基板の位置は、第1露光処理が行っ
た位置からずれている。したがって座標検知手段によっ
て第1露光処理時に第3座標上に形成された位置決め手
段の座標を検知して、記憶手段に記憶されている第3座
標と比較を行う。その比較結果と、第1および第3座標
データとを用いて第1座標の補正を行う。補正された第
1座標を用いて第2座標を第2座標データから決定し、
その第2座標を用いて配線基板上に各露光領域を設定す
ることによって第2露光処理が行われる。これによっ
て、配線基板上に第2回路配線が形成される。第2露光
処理を繰り返すことによって、第1回路配線上に複数の
第2回路配線を形成することができる。
Next, a second exposure process is performed. The position of the wiring board when performing the second exposure process is deviated from the position where the first exposure process is performed. Therefore, the coordinate detection unit detects the coordinate of the positioning unit formed on the third coordinate during the first exposure processing, and compares it with the third coordinate stored in the storage unit. The first coordinate is corrected using the comparison result and the first and third coordinate data. Using the corrected first coordinates, a second coordinate is determined from the second coordinate data,
The second exposure process is performed by setting each exposure area on the wiring board using the second coordinates. As a result, the second circuit wiring is formed on the wiring board. By repeating the second exposure process, a plurality of second circuit wirings can be formed on the first circuit wirings.

【0017】[0017]

【実施例】図1は、逐次型露光装置1の光学的構成を示
す側面図である。ミラー2に反射した光は、露光パター
ンを有しているホトマスク3を通り、レンズ4を介して
台5上の基板6に照射される。基板6には、回路配線と
なる層上にホトレジストが塗布されている。
1 is a side view showing an optical configuration of a sequential exposure apparatus 1. The light reflected by the mirror 2 passes through the photomask 3 having an exposure pattern, and is irradiated onto the substrate 6 on the table 5 via the lens 4. On the substrate 6, a photoresist is applied on a layer which will be the circuit wiring.

【0018】台5は、回転方向に角変位するΘステージ
5θと、相互に直交する方向に移動するXステージ5x
およびYステージ5yからなる。台5上の基板6の露光
位置は、台5の各ステージ5x,5y,5θを駆動させ
ることによって任意に選ぶことができる。台5の位置と
XYΘレーザ干渉計8との測定位置との誤差は、座標検
知手段であるXYΘ位置決めセンサ7を用いて確認する
ことができる。
The stage 5 has a Θ stage 5θ which is angularly displaced in the rotational direction and an X stage 5x which is movable in directions orthogonal to each other.
And Y stage 5y. The exposure position of the substrate 6 on the table 5 can be arbitrarily selected by driving each stage 5x, 5y, 5θ of the table 5. The error between the position of the table 5 and the measurement position of the XYΘ laser interferometer 8 can be confirmed by using the XYΘ positioning sensor 7 which is the coordinate detecting means.

【0019】台5の各ステージ5x,5y,5θの位置
は、XYΘレーザ干渉計8によって常に測定されてお
り、また各ステージ5x,5y,5θの駆動は、XYΘ
ステージ駆動部9によって行われる。
The position of each stage 5x, 5y, 5θ of the table 5 is constantly measured by the XYΘ laser interferometer 8, and the driving of each stage 5x, 5y, 5θ is performed by XYΘ.
It is performed by the stage drive unit 9.

【0020】図2は、逐次型露光装置1の電気的構成を
示す図である。記憶手段である制御演算部11にXYΘ
位置決めセンサ7、XYΘレーザ干渉計8、XYΘステ
ージ駆動部9および設定入力部10が接続されている。
位置決めセンサ7と、XYΘステージ駆動部9ともまた
接続されている。XYΘステージ駆動部9には、Xステ
ージ5x、Yステージ5yおよびΘステージ5θが接続
されている。
FIG. 2 is a diagram showing the electrical configuration of the sequential exposure apparatus 1. XYΘ is stored in the control calculation unit 11 which is a storage means.
The positioning sensor 7, the XYΘ laser interferometer 8, the XYΘ stage drive unit 9 and the setting input unit 10 are connected.
The positioning sensor 7 and the XY stage driving unit 9 are also connected. An X stage 5x, a Y stage 5y, and a Θ stage 5θ are connected to the XYΘ stage drive unit 9.

【0021】台5の位置決めを行う際には、XYΘ位置
決めセンサ7がXYΘステージ駆動部9に位置決めを行
うことを伝え、位置決めセンサ7の検知結果に基づいて
XYΘステージ駆動部9が台5を駆動する。位置決めが
終了すると、XYΘ位置決めセンサ7が制御演算部11
に位置決めが終了したことを伝え、XYΘレーザ干渉計
8の位置を読取る。また、露光を行う際には、設定入力
部10から制御演算部11に入力をされたデータに基づ
いて、制御演算部11がXYΘレーザ干渉計8のデータ
を読み取りながら、XYΘステージ駆動部9にステージ
5x,5y,5θの駆動信号を出力し、XYΘステージ
駆動部9がその信号に基づいて各ステージ5x,5y,
5θの駆動を行う。
When positioning the table 5, the XY-position sensor 7 informs the XY-stage drive 9 that positioning is to be performed, and the XY-stage drive 9 drives the table 5 based on the detection result of the positioning sensor 7. To do. When the positioning is completed, the XYΘpositioning sensor 7 controls the control
Is notified that the positioning is completed, and the position of the XYΘ laser interferometer 8 is read. When performing the exposure, the control operation unit 11 reads the data of the XY laser interferometer 8 based on the data input from the setting input unit 10 to the control operation unit 11 and transmits the data to the XY stage drive unit 9. The drive signals of the stages 5x, 5y, 5θ are output, and the XYΘ stage drive unit 9 outputs each of the stages 5x, 5y,
Drive 5θ.

【0022】位置決めセンサ7は、たとえば光を検知す
るセンサであって、台5上または基板上の図示しない位
置決めマーカへ光を照射し、位置決めマーカからの反射
光の光度を検知して、反射光が最大となる位置を台5の
位置決め位置とする。
The positioning sensor 7 is, for example, a sensor that detects light. The positioning sensor 7 irradiates a positioning marker (not shown) on the table 5 or the substrate with light, detects the luminous intensity of the reflected light from the positioning marker, and reflects the reflected light. The position at which is the maximum is the positioning position of the table 5.

【0023】図3は、本発明の一実施例である液晶表示
素子領域12の分割の一例を示す図である。液晶表示素
子は大きく、1つのホトマスクの露光で液晶表示素子の
露光を行うことができない場合、液晶表示素子領域12
(後述する液晶表示素子領域12a,12b,12c,
12dを総称した参照符号を12とする)は複数の露光
領域に分割される。図3では、液晶表示素子は4つの露
光領域A,B,C,Dに分割されている。液晶表示素子
領域12の分割数は、液晶表示素子領域12およびホト
マスクの大きさや、台5の移動距離などから選ばれる。
FIG. 3 is a diagram showing an example of division of the liquid crystal display element region 12 which is an embodiment of the present invention. The liquid crystal display element is large, and when the exposure of the liquid crystal display element cannot be performed by the exposure of one photomask, the liquid crystal display element region 12
(Liquid crystal display element regions 12a, 12b, 12c, which will be described later,
12d is referred to as 12) and is divided into a plurality of exposure areas. In FIG. 3, the liquid crystal display element is divided into four exposure areas A, B, C and D. The number of divisions of the liquid crystal display element region 12 is selected from the sizes of the liquid crystal display element region 12 and the photomask, the moving distance of the base 5, and the like.

【0024】図4は、図3に示される液晶表示素子領域
12を露光するホトマスクa,b,c,dを示す図であ
る。ホトマスクaは露光領域Aの露光に用いられ、ホト
マスクbは露光領域B、ホトマスクcは露光領域C、ホ
トマスクdは露光領域Dの露光に用いられる。
FIG. 4 is a view showing photomasks a, b, c, d for exposing the liquid crystal display element region 12 shown in FIG. The photomask a is used for exposing the exposure area A, the photomask b is used for exposing the exposure area B, the photomask c is used for exposing the exposure area C, and the photomask d is used for exposing the exposure area D.

【0025】図5は本発明の一実施例である制御演算部
11に入力される座標を示す図である。図示しない1枚
の基板6上に4個の液晶表示素子12a,12b,12
c,12dを形成する。液晶表示素子領域12は、縦横
に2個ずつ並んで全液晶表示素子領域13を形成してい
る。液晶表示素子領域12a,12b,12c,12d
は、図3に示すように点線で示す4個の露光領域A,
B,C,Dに分割されている。
FIG. 5 is a diagram showing coordinates input to the control calculation unit 11 which is an embodiment of the present invention. Four liquid crystal display elements 12a, 12b, 12 are provided on one substrate 6 (not shown).
c, 12d are formed. Two liquid crystal display element regions 12 are arranged vertically and horizontally to form a total liquid crystal display element region 13. Liquid crystal display element regions 12a, 12b, 12c, 12d
Are four exposure areas A, indicated by dotted lines as shown in FIG.
It is divided into B, C and D.

【0026】制御演算部11には、全液晶表示素子領域
13の中心座標である第3座標である第3中心座標M、
各液晶表示素子領域12の中心座標である第1座標であ
る第1中心座標m1,m2,m3,m4が入力されてい
る。また各露光領域A,B,C,Dの中心座標である第
2座標である第2中心座標ma,mb,mc,mdは、
各露光領域A,B,C,Dを含む液晶表示素子領域12
の第1中心座標m1,m2,m3,m4から座標上での
隔たりを制御演算部11に記憶させておくことによっ
て、第2中心座標ma,mb,mc,mdを算出するこ
とができるようになっている。
The control calculation unit 11 has a third center coordinate M, which is the third coordinate that is the center coordinate of the entire liquid crystal display element region 13,
First center coordinates m1, m2, m3, m4, which are the first coordinates that are the center coordinates of each liquid crystal display element region 12, are input. Further, the second center coordinates ma, mb, mc, md, which are the second coordinates that are the center coordinates of the exposure areas A, B, C, D, are
Liquid crystal display element region 12 including each exposure region A, B, C, D
By storing the distance on the coordinates from the first center coordinates m1, m2, m3, and m4 in the control calculation unit 11, the second center coordinates ma, mb, mc, and md can be calculated. Has become.

【0027】図6は、本発明の一実施例の第1露光処理
を説明する工程図である。第1露光処理とは基板6上に
1回目の露光を行い、第1回路配線を形成する処理であ
る。工程a1では、台5の各ステージ5x,5y,5z
が予め制御演算部11に記憶されている初期位置に設定
される。工程a2では、位置決めセンサ7で台5上に形
成されている図示しない位置決めマーカの位置決めを行
い、初期位置に再設定される。工程a1で設定された初
期位置と、工程a2で再設定された初期位置とが異なっ
ている場合、XYΘレーザ干渉計8の各初期位置に対す
る測定結果に基づいて、制御演算部11は記憶している
各座標の補正を行う。
FIG. 6 is a process chart for explaining the first exposure process of one embodiment of the present invention. The first exposure process is a process of forming the first circuit wiring by performing the first exposure on the substrate 6. In step a1, each stage 5x, 5y, 5z of the table 5
Is set to the initial position stored in the control calculation unit 11 in advance. In step a2, the positioning sensor 7 positions the positioning marker (not shown) formed on the table 5 and resets it to the initial position. When the initial position set in the step a1 is different from the initial position reset in the step a2, the control calculation unit 11 stores the data based on the measurement result of the XYΘ laser interferometer 8 for each initial position. Correct each coordinate.

【0028】工程a3では、図1に図示しないホトマス
クステージ上にホトマスク3を載置する。工程a3で
は、図示しないホトマスク3上に設置されているホトマ
スク位置決めセンサを用いて、台5上の図示しない位置
決めマーカによって位置合わせを行う。工程a4では工
程a2と同様に、工程a2と工程a4との各ステージ5
a,5y,5θの位置に基づいて、制御演算部11は記
憶している各座標の補正を行う。
In step a3, the photomask 3 is placed on a photomask stage not shown in FIG. In step a3, a photomask positioning sensor installed on the photomask 3 (not shown) is used to perform positioning by a positioning marker (not shown) on the table 5. In step a4, similarly to step a2, each stage 5 of step a2 and step a4
The control calculation unit 11 corrects the stored coordinates based on the positions of a, 5y, and 5θ.

【0029】工程a5では、台5上に基板6が載置され
る。このとき、基板6は、台5上の図示しない複数の位
置決めピンによって大まかな位置合わせが行われる。工
程a6では、工程a7の露光時に、台5の移動に用いら
れないΘステージ5θがYステージ5y上に固定され
る。
In step a5, the substrate 6 is placed on the table 5. At this time, the substrate 6 is roughly aligned by a plurality of positioning pins (not shown) on the table 5. In step a6, the Θ stage 5θ that is not used for moving the table 5 is fixed on the Y stage 5y during the exposure in step a7.

【0030】工程a7では、基板6に対して露光が行わ
れる。ホトマスクaがホトマスクステージ上に載置され
ている場合には、第1中心座標m1から液晶表示素子領
域12aの露光領域Aの第2中心座標maが算出され、
算出された第2中心座標maが逐次型露光装置1の露光
領域の中心となるようにXステージ5xおよびYステー
ジ5yを移動して位置合わせを行い、液晶表示素子領域
12aの露光領域Aに対して露光が行われる。次に液晶
表示素子領域12bの露光領域Aの露光を行うには、第
1中心座標m2から液晶表示素子領域12bの露光領域
Aの第2中心座標maを算出し、算出された第2中心座
標maを位置合わせした後に露光が行われる。液晶表示
素子領域12cの露光領域Aおよび液晶表示素子領域1
2dの露光領域Aの露光も同様な手順で行われる。他の
露光領域B,C,Dについても、ホトマスクb,c,d
をホトマスクステージに載置した後に同様な手順で露光
を行う。
In step a7, the substrate 6 is exposed. When the photomask a is placed on the photomask stage, the second center coordinates ma of the exposure area A of the liquid crystal display element area 12a is calculated from the first center coordinates m1.
The X stage 5x and the Y stage 5y are moved and aligned so that the calculated second center coordinate ma becomes the center of the exposure region of the sequential exposure apparatus 1, and the position is adjusted with respect to the exposure region A of the liquid crystal display element region 12a. Exposure is performed. Next, to perform exposure of the exposure area A of the liquid crystal display element area 12b, the second center coordinates ma of the exposure area A of the liquid crystal display element area 12b is calculated from the first center coordinates m2, and the calculated second center coordinates m2 are calculated. Exposure is performed after ma is aligned. Exposure area A of liquid crystal display element area 12c and liquid crystal display element area 1
The exposure of the 2d exposure area A is performed in the same procedure. The photomasks b, c, and d are also used for the other exposure areas B, C, and D.
Is mounted on a photomask stage and exposure is performed in the same procedure.

【0031】このような手順で露光を行うことによっ
て、基板6上の各液晶表示素子領域12に対して第1回
路配線が形成される。第1露光処理によって形成された
第1回路配線には、第2露光処理を行う際の位置決めマ
ーカが同時に露光されている。
By performing the exposure in such a procedure, the first circuit wiring is formed for each liquid crystal display element region 12 on the substrate 6. The first circuit wiring formed by the first exposure process is simultaneously exposed with the positioning marker for performing the second exposure process.

【0032】図7は本発明の一実施例の第2露光処理を
説明する工程図であり、図8は図7の工程b7を示す図
であり、図9および図10は図7の工程b8を示す図で
あり、図11は図7の工程b9を示す図である。工程b
1から工程b5までは前述した図7の工程a1から工程
a5と同様に行われる。工程b1では台5が初期位置に
設定され、工程b2では位置決めセンサ7と台5上の位
置決めマーカとによって台5が初期位置に再設定され、
工程b1と工程b2との初期位置が異なっている場合に
は、制御演算部11は記憶している座標を補正する。
FIG. 7 is a process chart for explaining the second exposure process of one embodiment of the present invention, FIG. 8 is a diagram showing process b7 of FIG. 7, and FIGS. 9 and 10 are process b8 of FIG. FIG. 11 is a view showing a step b9 of FIG. Process b
The steps 1 to b5 are performed in the same manner as the steps a1 to a5 of FIG. 7 described above. In step b1, the table 5 is set to the initial position, and in step b2, the table 5 is reset to the initial position by the positioning sensor 7 and the positioning marker on the table 5,
When the initial positions of the process b1 and the process b2 are different, the control calculation unit 11 corrects the stored coordinates.

【0033】工程b3では、図示しないホトマスクステ
ージ上にホトマスクが載置され、工程b4ではホトマス
ク位置決めセンサと台5上の位置決めマーカとによって
台5がさらに位置決めされ、工程b2と工程b3との台
5の位置が異なっている場合には、制御演算部11は記
憶している座標を補正する。工程b5では、台5上の図
示しない位置決めピンを用いて、基板6を台5上に位置
合わせする。
In step b3, a photomask is placed on a photomask stage (not shown), and in step b4 the table 5 is further positioned by the photomask positioning sensor and the positioning marker on the table 5, and the table 5 of steps b2 and b3 is placed. Are different, the control calculation unit 11 corrects the stored coordinates. In step b5, the substrate 6 is aligned on the table 5 by using positioning pins (not shown) on the table 5.

【0034】工程b6では、位置決めセンサ7と第1露
光処理時に形成された複数の位置決めマーカとを用いて
基板6の位置決めが行われる。第1露光処理時に形成さ
れる複数の位置決めマーカの座標は、予め制御演算部1
1に記憶されている。台5を移動させることによって、
位置決めマーカを用いて第1露光処理時と同一の位置に
基板6が設置される。工程b5の台5の位置と、工程b
6の台5の位置とから、制御演算部11は記憶している
座標の補正を行う。工程b7では、露光時に台5の駆動
に用いられないΘステージ5θがYステージ5y上に固
定される。このとき、Θステージ5θは回転方向にずれ
を生じる。
In step b6, the substrate 6 is positioned using the positioning sensor 7 and the plurality of positioning markers formed during the first exposure process. The coordinates of the plurality of positioning markers formed at the time of the first exposure processing are determined in advance by the control
1 is stored. By moving the platform 5,
The substrate 6 is placed at the same position as during the first exposure process using the positioning marker. The position of the table 5 in the step b5 and the step b
The control calculation unit 11 corrects the stored coordinates based on the position of the table 5 of 6. In step b7, the Θ stage 5θ that is not used for driving the table 5 during exposure is fixed on the Y stage 5y. At this time, the Θ stage 5θ is displaced in the rotation direction.

【0035】図8に示されるように回転方向のずれは角
度αであって、実線で示される工程b6の基板6は、Θ
ステージ5θを固定することによって点線で示される位
置に移動し、第3中心座標Mもまた移動する。
As shown in FIG. 8, the deviation in the rotational direction is the angle α, and the substrate 6 in step b6 shown by the solid line is Θ.
By fixing the stage 5θ, it moves to the position shown by the dotted line, and the third center coordinate M also moves.

【0036】工程b8では、位置合わせセンサ7と第3
中心座標上に形成されている図示しない位置決めマーカ
とを用いて、角変位を生じた工程b7の基板6の第3中
心座標Mが工程b6の第3中心座標Mと一致するよう
に、Xステージ5xおよびYステージ5yを駆動する。
これによって図9に示されるように、工程b6における
基板6の第3中心座標Mと、点線で示される角変位を生
じた基板6との第3中心座標Mは一致する。しかしなが
ら、Θステージ5θが工程b7で固定されているため、
回転方向の駆動を行うことができないため、第3中心座
標Mを中心として角度αのずれを有している。
In step b8, the alignment sensor 7 and the third sensor
Using the positioning marker (not shown) formed on the center coordinates, the X stage is moved so that the third center coordinates M of the substrate 6 in step b7 where the angular displacement has occurred coincide with the third center coordinates M in step b6. 5x and Y stage 5y are driven.
As a result, as shown in FIG. 9, the third center coordinates M of the substrate 6 in step b6 and the third center coordinates M of the substrate 6 in which the angular displacement indicated by the dotted line has occurred coincide. However, since the Θ stage 5θ is fixed in step b7,
Since the driving in the rotation direction cannot be performed, there is a deviation of the angle α about the third center coordinate M.

【0037】したがって、図10に示されるように第1
露光処理で基板6上に形成されている点線で示される全
液晶表示素子領域13と、第2露光処理で形成される実
線で示される全液晶表示素子領域13とは第3中心座標
が一致しているだけで、各液晶表示素子領域12の第1
中心座標m1,m2,m3,m4は一致していない。
Therefore, as shown in FIG.
The third center coordinates of the whole liquid crystal display element region 13 shown by the dotted line formed on the substrate 6 by the exposure process and the whole liquid crystal display element region 13 shown by the solid line formed by the second exposure process coincide with each other. The liquid crystal display element area 12 of the first
The center coordinates m1, m2, m3, and m4 do not match.

【0038】制御演算部11は、工程b7と工程b8と
のXステージ5xおよびYステージ5yの位置を比較す
ることによって第3中心座標Mと各第1中心座標m1,
m2,m3,m4との位置関係を用いて、工程b8の第
2中心座標m1,m2,m3,m4が点線で示される第
1露光処理によって形成された液晶表示素子領域12の
中心である第2中心座標m1,m2,m3,m4と一致
するように座標の補正を行う。
The control calculation unit 11 compares the positions of the X stage 5x and the Y stage 5y in the process b7 and the process b8 to determine the third central coordinates M and the respective first central coordinates m1.
Using the positional relationship with m2, m3, and m4, the second center coordinates m1, m2, m3, and m4 in step b8 are the center of the liquid crystal display element region 12 formed by the first exposure process indicated by the dotted line. 2 The coordinates are corrected so as to match the center coordinates m1, m2, m3, m4.

【0039】工程b9では、図6の工程a7と同様に工
程b8で補正された各第1中心座標m1,m2,m3,
m4に基づいて各露光領域A,B,C,Dの中心である
第2中心座標ma,mb,mc,mdが求められ、各々
の露光領域A,B,C,Dに露光が行われ、第2回路配
線が形成される。
In step b9, each first center coordinate m1, m2, m3 corrected in step b8 is the same as step a7 in FIG.
Based on m4, the second center coordinates ma, mb, mc, md which are the centers of the exposure areas A, B, C, D are determined, and the exposure areas A, B, C, D are exposed, The second circuit wiring is formed.

【0040】図11に示されるように、点線で示される
第1露光処理によって形成された液晶表示素子領域12
と、実線で示される第2露光処理によって形成された液
晶表示素子領域12とは、第1中心座標m1,m2,m
3,m4の座標が一致しており、第1中心座標m1,m
2,m3,m4を中心として角度αだけずれている。
As shown in FIG. 11, the liquid crystal display element region 12 formed by the first exposure process shown by the dotted line.
And the liquid crystal display element region 12 formed by the second exposure process indicated by the solid line have the first central coordinates m1, m2, m
3 and m4 coincide with each other, and the first center coordinates m1 and m
It is offset by an angle α about 2, m3 and m4.

【0041】図7に示される工程を繰り返すことによっ
て、複数の第2回路配線を形成することができる。
By repeating the process shown in FIG. 7, a plurality of second circuit wirings can be formed.

【0042】以上のように本実施例に従えば、液晶表示
素子領域12の中心である第1中心座標m1,m2,m
3,m4と各露光領域A,B,C,Dの中心である第2
中心座標をma,mb,mc,mdとの位置関係を記憶
しておき、第1露光処理時の第2中心座標と第2露光処
理時の第2中心座標とを一致させて各露光領域A,B,
C,Dに対して露光を行うので、第1露光処理時の各露
光領域A,B,C,Dの位置関係を第2露光処理時にお
いても保持することができる。したがって、従来例のよ
うに各露光領域A,B,C,Dの接続部がずれて断層が
生じたり、表示中央部に表示むらが生じることがなく、
表示品位の向上した表示を行うことができる。
As described above, according to this embodiment, the first center coordinates m1, m2, m which are the centers of the liquid crystal display element region 12 are provided.
3, m4 and the second center which is the center of each of the exposure areas A, B, C, D.
The positional relationship between the central coordinates and ma, mb, mc, and md is stored, and the second central coordinates during the first exposure processing and the second central coordinates during the second exposure processing are made to coincide with each other to expose each exposure area A. , B,
Since C and D are exposed, the positional relationship between the exposure regions A, B, C, and D during the first exposure process can be maintained even during the second exposure process. Therefore, unlike the conventional example, the connecting portions of the exposure areas A, B, C, and D are not displaced and a tomographic image is not generated, and display unevenness does not occur in the display center portion.
Display with improved display quality can be performed.

【0043】本実施例では、位置決めセンサ7を用いる
際、XYΘステージ駆動部9に位置決めセンサ7からの
信号を判断させたけれども、位置決めセンサ7からの信
号の判断を制御演算部11が行い、その判断結果をXY
Θステージ駆動部9に出力してXYθステージ駆動部9
を駆動するようにしてもよい。
In this embodiment, when the positioning sensor 7 is used, although the XY stage drive unit 9 is caused to determine the signal from the positioning sensor 7, the control calculation unit 11 determines the signal from the positioning sensor 7, XY judgment result
Output to the Θ stage drive unit 9 to output the XYθ stage drive unit 9
May be driven.

【0044】また本実施例では液晶表示素子領域12を
4個の露光領域A,B,C,Dに分割したけれども、分
割はこれに限られるものではなく、また縦方向のみの分
割や横方向のみの分割、また縦方向と横方向とで違う数
に分割することも可能である。また同様に基板6上に形
成する液晶表示素子領域12を4個としたけれども、こ
の個数もこれに限定されるものではない。
In this embodiment, the liquid crystal display element region 12 is divided into four exposure regions A, B, C, and D. However, the division is not limited to this. It is also possible to divide only the number, or to divide into different numbers in the vertical and horizontal directions. Similarly, although the number of liquid crystal display element regions 12 formed on the substrate 6 is four, the number is not limited to this.

【0045】また本実施例では第2座標を露光処理領域
A,B,C,Dの中心座標、第3座標を液晶表示素子領
域13の中心座標としたけれども、これらは中心座標に
限られるものではなく、選ばれた第2および第3座標に
応じて各々の位置関係、および逐次型露光処理装置1の
露光領域のどの部分に位置決めするかなどを制御演算部
11に記憶すればよい。
In this embodiment, the second coordinates are the center coordinates of the exposure processing areas A, B, C, and D, and the third coordinates are the center coordinates of the liquid crystal display element area 13. However, these are limited to the center coordinates. Instead, it suffices to store each positional relationship according to the selected second and third coordinates, and in which part of the exposure area of the sequential exposure processing apparatus 1 the positioning is performed in the control calculation unit 11.

【0046】[0046]

【発明の効果】第1露光処理および第2露光処理を行う
際、各露光領域の位置決めは第2座標を用いて行われる
けれども、第2座標は第1座標に基づいて決定されるた
め、第3座標と座標検知手段によって検知された第3座
標とにずれが生じている場合、その比較結果と第1およ
び第3座標データとを用いて第1座標の補正が行われ
る。したがって、各露光処理において第1座標は常に一
致している。
When performing the first exposure processing and the second exposure processing, the positioning of each exposure area is performed using the second coordinates, but the second coordinates are determined based on the first coordinates. When there is a deviation between the three coordinates and the third coordinate detected by the coordinate detecting means, the first coordinate is corrected using the comparison result and the first and third coordinate data. Therefore, the first coordinates are always the same in each exposure process.

【0047】また、表示領域毎に設定される第1座標に
対して露光処理領域毎に設定されている第2座標が第2
座標データによって位置付けられているため、常に同じ
状態で各露光領域が形成され、したがって表示領域も常
に同じ状態で形成される。したがって、各露光領域の集
合を表示品位の高い表示領域を形成するように設定する
ことができ、表示品位の向上を行うことができる。
In addition, the second coordinate set for each exposure processing area is the second coordinate for the first coordinate set for each display area.
Since the position is determined by the coordinate data, each exposure area is always formed in the same state, and thus the display area is always formed in the same state. Therefore, a set of exposure regions can be set so as to form a display region with high display quality, and the display quality can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】逐次型露光装置1の光学的構成を示す側面図で
ある。
FIG. 1 is a side view showing an optical configuration of a sequential exposure apparatus 1.

【図2】逐次型露光装置1の電気的構成を示す図であ
る。
FIG. 2 is a diagram showing an electrical configuration of a sequential exposure apparatus 1.

【図3】本発明の一実施例である液晶表示素子領域12
の分割の一例を示す図である。
FIG. 3 is a liquid crystal display element region 12 according to an embodiment of the present invention.
It is a figure which shows an example of the division of.

【図4】図3に示される液晶表示素子領域12を露光す
るホトマスクa,b,c,dを示す図である。
4 is a diagram showing photomasks a, b, c, d for exposing the liquid crystal display element region 12 shown in FIG.

【図5】本発明の一実施例である制御演算部11に入力
される座標を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing coordinates input to a control calculation unit 11 which is an embodiment of the present invention.

【図6】本発明の一実施例の第1露光処理を説明する工
程図である。
FIG. 6 is a process diagram illustrating a first exposure process according to one embodiment of the present invention.

【図7】本発明の一実施例の第2露光処理を説明する工
程図である。
FIG. 7 is a process diagram illustrating a second exposure process according to one embodiment of the present invention.

【図8】図7の工程b7を示す図である。FIG. 8 is a diagram showing a step b7 in FIG. 7.

【図9】図7の工程b8を示す図である。9 is a diagram showing a step b8 in FIG. 7. FIG.

【図10】図7の工程b8を示す図である。10 is a diagram showing a step b8 in FIG. 7. FIG.

【図11】図7の工程b9を説明する図である。11 is a diagram illustrating a step b9 in FIG. 7. FIG.

【図12】第1の従来例を示す図である。FIG. 12 is a diagram showing a first conventional example.

【図13】第2の従来例を示す図である。FIG. 13 is a diagram showing a second conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 逐次型露光装置 3,a,b,c,d ホトマスク 6 基板 7 位置決めセンサ 12 液晶表示素子領域 M 第3中心座標 m1,m2,m3,m4 第1中心座標 ma,mb,mc,md 第2中心座標 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Sequential exposure apparatus 3, a, b, c, d Photomask 6 Substrate 7 Positioning sensor 12 Liquid crystal display element area M 3rd center coordinate m1, m2, m3, m4 1st center coordinate ma, mb, mc, md 2nd Center coordinates

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】 1つのマスクによる1または複数の露光
領域からなる表示領域毎に配線基板を区分して露光処理
を行う配線基板の露光方法において、各表示領域毎に予
め設定される第1座標を示す第1座標データと、各露光
領域毎に予め設定される第2座標を示す前記第1座標に
基づく第2座標データと、露光時に形成される位置決め
手段の座標である第3座標を示す第3座標データとを含
む各種データを記憶手段に記憶し、前記第1座標データ
と第2座標データとを用いて第1露光処理を行って、配
線基板上に第1回路配線と位置決め手段とを形成し、記
憶手段に記憶されている前記第3座標と、位置決め手段
の座標を検知する座標検知手段によって検知された第1
露光処理時に第3座標上に形成された位置決め手段の座
標とを比較し、その比較結果と第1座標データおよび第
3座標データとを用いて第1座標の補正を行い、補正さ
れた第1座標と第2座標データとを用いて第2露光処理
を行って、前記第1回路配線上に、1または複数の第2
回路配線を形成することを特徴とする配線基板の露光処
理方法。
1. A method of exposing a wiring board, wherein a wiring board is divided into display areas each including one or a plurality of exposure areas by one mask to perform an exposure process, and a first coordinate set in advance for each display area. Showing the first coordinate data, the second coordinate data based on the first coordinate indicating the second coordinate preset for each exposure area, and the third coordinate which is the coordinate of the positioning means formed during the exposure. Various data including the third coordinate data is stored in the storage means, the first exposure processing is performed using the first coordinate data and the second coordinate data, and the first circuit wiring and the positioning means are provided on the wiring board. And the first coordinate detected by the coordinate detection unit that detects the coordinate of the positioning unit and the third coordinate stored in the storage unit.
During the exposure process, the coordinates of the positioning means formed on the third coordinate are compared, the first coordinate is corrected using the comparison result and the first coordinate data and the third coordinate data, and the corrected first A second exposure process is performed using the coordinates and the second coordinate data so that one or a plurality of second exposure lines are formed on the first circuit wiring.
An exposure processing method for a wiring board, which comprises forming a circuit wiring.
JP3075185A 1991-04-08 1991-04-08 Wiring board exposure processing method Expired - Fee Related JP2669728B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3075185A JP2669728B2 (en) 1991-04-08 1991-04-08 Wiring board exposure processing method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3075185A JP2669728B2 (en) 1991-04-08 1991-04-08 Wiring board exposure processing method

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH04309956A JPH04309956A (en) 1992-11-02
JP2669728B2 true JP2669728B2 (en) 1997-10-29

Family

ID=13568895

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3075185A Expired - Fee Related JP2669728B2 (en) 1991-04-08 1991-04-08 Wiring board exposure processing method

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2669728B2 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
JPH04309956A (en) 1992-11-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI381253B (en) Exposure device, exposure method and production method for a display panel substrate
JPH08250399A (en) Scanning type aligner
JPH0272362A (en) Exposure method and aligner
KR20100016277A (en) Exposure method and electronic device manufacturing method
JP3450580B2 (en) Exposure apparatus and exposure method
JP2022507303A (en) Dynamic generation of layout-adaptive packaging
JP2010191127A (en) Exposure apparatus, exposure method, and method for manufacturing panel substrate for display
KR102377041B1 (en) How to align and calibrate the exposure system
JP2797506B2 (en) Exposure equipment
JPH0474854B2 (en)
JP2010087310A (en) Exposure apparatus, and method of manufacturing device
JP2669728B2 (en) Wiring board exposure processing method
JPH08130180A (en) Exposure method
JPH0147006B2 (en)
JPH06232027A (en) Projection aligner
TW396395B (en) Exposure method and scanning-type aligner
US6388737B1 (en) Exposure method and apparatus
JPH0547649A (en) Pattern formation method by charged particle beam exposure and charged particle beam exposure apparatus
JP2010085793A (en) Exposure apparatus, and method of manufacturing device
JP3472078B2 (en) Exposure method and exposure apparatus
KR102333943B1 (en) Exposure apparatus, stage calibration system, and stage calibration method
US20240118622A1 (en) Exposure apparatus and wiring pattern forming method
JP5537063B2 (en) Proximity exposure apparatus, gap control method for proximity exposure apparatus, and method for manufacturing display panel substrate
JP5430335B2 (en) Exposure apparatus, exposure method, and manufacturing method of display panel substrate
JP2013205678A (en) Proximity exposure device, substrate positioning method of proximity exposure device, and manufacturing method of display panel substrate

Legal Events

Date Code Title Description
LAPS Cancellation because of no payment of annual fees