JP2669455B2 - Substrate processing apparatus and substrate processing method - Google Patents

Substrate processing apparatus and substrate processing method

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JP2669455B2 JP7325664A JP32566495A JP2669455B2 JP 2669455 B2 JP2669455 B2 JP 2669455B2 JP 7325664 A JP7325664 A JP 7325664A JP 32566495 A JP32566495 A JP 32566495A JP 2669455 B2 JP2669455 B2 JP 2669455B2
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【発明の詳細な説明】 【0001】 【発明の利用分野】本発明はエッチング装置,プラズマ
CVD装置,スパッタ装置等の半導体製造工程における
真空処理装置に関するものである。 【0002】 【発明の背景】最近の半導体製造プロセス技術の進歩は
著しく、ドライエッチング装置においても1μmパター
ンを処理する機種が現われ、注目を浴びている。このよ
うな微細化が進むにつれ、基板は大口径化し、それに伴
って半導体製造装置の占有床面積あたりのスループット
(時間あたりの基板処理枚数)を向上させることおよび
製造プロセス技術の多様化に応えることが大きな課題と
なっている。 【0003】このような要求を解決するためには装置を
小形化するとともに、複数の真空処理室を用いて多目的
処理を行うことが必要で、しかも、プロセス変更やライ
ン変更に対応して真空処理室数を自由に変えてシステム
が構成あるいは編成できる真空処理モジュールが要求さ
れるようになってきた。これに対して、従来の、例え
ば、特開昭57−128928号公報に開示されている
ような真空処理室と大気中での基板搬送ラインを結合し
たモジュールを増設できるタイプでは清浄度の悪い大気
中を経て基板が次の真空処理室に搬送されるので、処理
途中で次の真空処理室に処理を引き継ぐようなプロセス
工程への適用にはむかない。 【0004】また、実開昭57−39430号公報に開
示されているようないくつかの真空処理室と一つのバッ
ファ室との間を基板が搬送されて連続的に処理されるよ
うなタイプでは真空処理室数が固定され、プロセス変更
やライン変更に対応して真空処理室数を変更したりする
自由度がなく、使用しづらいという問題点を有してい
る。 【0005】 【発明の目的】本発明の目的は、スループットを向上さ
せることおよび製造プロセス技術の多様化に応えること
のできる基板処理方法および基板処理装置を提供するこ
とにある。 【0006】 【発明の概要】本発明の特徴は、真空予備室と、バッフ
ァ室と、真空処理室と、前記真空予備室と前記真空処理
室の間で前記基板の搬送を行う搬送手段とを備えた基板
処理装置において、真空予備室は、それぞれ独立してカ
セットを収納する第一、第二の真空予備室を有し、前記
真空処理室は、それぞれ独立して所定の真空処理を行う
第一、第二の真空処理室を有し、前記搬送手段は、前記
第一の真空予備室のカセットから1枚毎取り出した基板
基板処理モードに応じて前記バッファ室経由で前記第
一の真空処理室へ搬送し、前記真空処理が終了した基板
を前記第一の真空処理室から搬出し、該搬出した前記基
板を前記バッファ室経由で前記第一、第二いずれかの真
空予備室のカセットに1枚毎回収するとともに、前記第
二の真空予備室のカセットから1枚毎取り出した基板を
基板処理モードに応じて前記バッファ室経由で前記第二
の真空処理室へ搬送し、前記真空処理が終了した基板を
前記第二の真空処理室から搬出し、該搬出した前記基板
を前記バッファ室経由で前記第一、第二いずれかの真空
予備室のカセットに1枚毎回収するように構成したもの
である。 【0007】本発明の他の特徴は、それぞれ独立してカ
セットを収納する第一、第二の真空予備室と、バッファ
室と、それぞれ独立して所定の真空処理を行う第一、第
二の真空処理室と、前記真空予備室と前記真空処理室の
間で前記基板の搬送を行う搬送手段とを備えた基板処理
装置による基板処理方法において、前記搬送手段によ
り、前記第一の真空予備室のカセットから1枚毎取り出
した基板を基板処理モードに応じて前記バッファ室経由
で前記第一の真空処理室へ搬送し、前記真空処理が終了
した基板を前記第一の真空処理室から搬出し、該搬出し
た前記基板を前記バッファ室経由で前記第一、第二いず
れかの真空予備室のカセットに1枚毎回収するととも
に、前記第二の真空予備室のカセットから1枚毎取り出
した基板を基板処理モードに応じて前記バッファ室経由
で前記第二の真空処理室へ搬送し、前記真空処理が終了
した基板を前記第二の真空処理室から搬出し、該搬出し
た前記基板を前記バッファ室経由で前記第一、第二いず
れかの真空予備室のカセットに1枚毎回収する、こと
ある。 【0008】本発明によれば、搬送手段は、第一の真空
予備室のカセットから1枚毎取り出した基板を基板処理
モードに応じてバッファ室経由で第一の真空処理室へ搬
送し、真空処理が終了した基板を第一の真空処理室から
搬出し、この基板をバッファ室経由で再び前記第一、第
二いずれかの真空予備室のカセットに1枚毎回収する。
一方、第二の真空予備室のカセットから1枚毎取り出し
た基板を基板処理モードに応じてバッファ室経由で第二
の真空処理室へ搬送し、真空処理が終了した基板を第二
の真空処理室から搬出し、この基板をバッファ室経由で
再び前記第一、第二いずれかの真空予備室のカセットに
1枚毎回収する。 【0009】このように、第一、第二の真空予備室は、
何れもロード室、アンロード室としての機能を備え、基
板を第一、第二の真空予備室に設けられたカセットから
それぞれ別々に供給し、別々に回収するので、基板の供
給、回収のための制御が簡単になり、スループットを向
上させることおよび製造プロセス技術の多様化に応える
ことができる。 【0010】 【発明の実施例】本発明の一実施例を図1〜図5で説明
する。図1で、真空処理装置は、真空排気可能なバッフ
ァ室10と、バッファ室10に設けられた真空処理室2
0と、基板30を矢印A方向に搬送可能なバッファ室1
0に内設された第1の基板搬送手段(図示省略)と、第
1の基板搬送手段の両端に対応してバッファ室10の側
壁に設けられたゲート弁,仕切具等の真空開閉手段4
0,41と、この場合、真空開閉手段40,41が設け
られた側壁と直角をなし第1の基板搬送手段をはさんで
真空処理室20と対応する側壁に設けられたゲート弁等
の他の真空開閉手段50,51を介してバッファ室10
に具設された真空予備室60と、第1の基板搬送手段と
の間で他の真空開閉手段50,51を介して基板30を
矢印B,C方向に搬送する第2の基板搬送手段(図示省
略)と、第1の基板搬送手段の基板搬送経路上で、か
つ、真空処理室20に対応して設けられた基板受渡手段
(図示省略)と、基板受渡手段と真空処理室20との間
で基板30を矢印D方向に搬送する第3の基板搬送手段
(図示省略)とを有している。なお、この場合、真空予
備室60には、基板カセット70,71を昇降駆動する
カセット昇降装置(図示省略)のカセットテーブル(図
示省略)が昇降可能に他の真空開閉手段50,51と対
応して内設されている。第1〜第3の基板搬送手段,基
板受渡手段等を図2で更に詳細に説明する。 【0011】図2で、第1の基板搬送手段はベルト搬送
装置80であり、ベルト搬送装置80は、その全体を昇
降装置、例えば、シリンダ81で昇降駆動されると共
に、モータ82でベルト83を回転駆動される。第2の
基板搬送手段は、他の真空開閉手段50,51をはさん
で真空予備室60に設けられたベルト搬送装置90,1
00とバッファ室10に設けられたベルト搬送装置11
0,120である。ベルト搬送装置90のプーリ91,
92とプーリ91,92に無端に巻掛けられたベルト9
3とは、カセット昇降装置130のカセットテーブル1
31に対応し、かつ、カセットテーブル131が最高位
置まで上昇させられた時点でもその上方に位置するよう
に配設されている。ベルト93はモータ94で回転駆動
される。 【0012】ベルト搬送装置110はモータ111でベ
ルト112を回転駆動され、ベルト搬送装置110のベ
ルト搬送装置80側端部は、ベルト搬送装置80のベル
ト83の一方の昇降動を阻害しないように、この場合、
V字形に折曲され最終端のプーリ113は、ベルト搬送
装置80のベルト83間に位置するように設けられてい
る。なお、ベルト搬送装置90のベルト93とベルト搬
送装置110のベルト112とは同一レベルであり、ベ
ルト搬送装置90とベルト搬送装置110との他の真空
開閉手段50側端の間隔は、基板30の受渡しに支障の
ない大きさとなっている。ベルト搬送装置100のプー
リ101,102とプーリ101,102に無端に巻掛け
られたベルト103とは、ベルト搬送装置90と同様に
配設され、ベルト103はモータ104で回動駆動され
る。ベルト搬送装置120はモータ121でベルト12
2を回転駆動され、ベルト搬送装置120のベルト搬送
装置80側端部は、ベルト搬送装置110の場合と同様
にベルト搬送装置80のベルト83の一方の昇降動を阻
害しないようにV字形に折曲され最終端のプーリ123
は、ベルト搬送装置80のベルト83間に位置するよう
に設けられている。 【0013】なお、ベルト搬送装置100のベルト10
3とベルト搬送装置120のベルト122とは同一レベ
ルであり、ベルト搬送装置100とベルト搬送装置12
0との他の真空開閉手段51側端の間隔は、基板30の
受渡しに支障のない大きさとなっている。また、ベルト
搬送装置110のプーリ113とプーリ113に対応す
るプーリ114との間隔は、基板30の落下を防止して
良好に受渡し可能な大きさであり、ベルト搬送装置12
0のプーリ123に対応するプーリ124との間隔も同
様の大きさである。なお、ベルト搬送装置80は、ベル
ト83のレベルがベルト搬送装置110,120のベル
ト112,122のレベル以下並びに以上になるように
昇降駆動される。基板受渡手段140は、ベルト搬送装
置80のベルト83間の寸法より小さい基板テーブル1
41と昇降装置、例えば、シリンダ142とで構成され
ている。基板テーブル141は真空処理室20と対応す
る位置で、この場合は、ベルト搬送装置110,120
の間の位置で、ベルト搬送装置80のベルト83間を通
過しシリンダ142で昇降可能に設けられている。第3
の基板搬送手段は、アーム搬送装置150,160であ
る。アーム搬送装置150は、基板すくい具151とア
ーム152と回動装置、例えば、パルスモータ153と
で構成されている。パルスモータ153は、ベルト搬送
装置80と真空処理室20との間で、かつ、基板受渡手
段140の基板テーブル141の中心と真空処理室20
の基板電極21の中心とを結ぶ線の一方の側(図2では
左側)に設けられ、パルスモータ153には、アーム1
52の一端が設けられている。アーム152の他端には
基板すくい具151が設けられている。また、アーム搬
送装置160は、基板すくい具161とアーム162と
回動装置、例えば、パルスモータ163とで構成されて
いる。パルスモータ163は、ベルト搬送装置80と真
空処理室20との間で、かつ、基板受渡手段140の基
板テーブル141の中心と真空処理室20の基板電極21
の中心とを結ぶ線の他方の側(図2では右側)に設けら
れ、パルスモータ163には、アーム162の一端が設
けられている。アーム162の他端には、基板すくい具
161が設けられている。この場合、基板すくい具15
1,161,アーム152,162の寸法は、基板テー
ブル141並びに基板電極21に基板30が載置されて
いる場合、この基板30を基板すくい具151,161
ですくい可能な寸法である。また、アーム152,16
2は、基板すくい具151,161で基板30を基板テ
ーブル141と基板電極21との間で搬送可能にパルス
モータ153,163でそれぞれ部分回動される。な
お、この場合、アーム152,162の動作平面はアー
ム152が上面、アーム162で下面と異なり、例え
ば、アーム搬送装置150で基板30を基板テーブル1
41から基板電極21へ搬送する際に、アーム搬送装置
160で基板30を基板電極21から基板テーブル14
1へ搬送するのを阻害しないようになっている。カセッ
ト昇降装置130は、カセットテーブル131と、カセ
ットテーブル131に垂設され下端部にネジが形成され
た昇降ロッド132と、モータ133で回動駆動される
歯車134と、歯車134と噛合し設けられると共に昇
降ロッド132の下端部が螺合された歯車135とで構
成されている。基板電極21は、ラック・ピニオン機構
22を介しモータ23の回動により昇降駆動される。ま
た、基板電極21の中心部には、基板支持用の爪24が
昇降装置、例えば、シリンダ25で昇降可能に設けられ
ている。爪24は、その表面が基板電極21の表面以下
になる位置と、アーム搬送装置150,160の基板す
くい具151,161と基板30を受渡し可能な位置と
の間で昇降駆動される。 【0014】図1,図2で示される真空処理装置では、
次のような基板処理を行うことができる。 【0015】まず、他の真空開閉手段50に対応するカ
セットテーブル131は、最下部に下降させられ、他の
真空開閉手段51に対応するカセットテーブル(図示省
略)は最上部に上昇させられる。他の真空開閉手段5
0,51が、例えば、シリンダ52,53の駆動により
閉止されバッファ室10と真空予備室60との連通は気
密に遮断されると共に、真空開閉手段40,41が閉止
又は仕切られてバッファ室10と外部との連通も気密に
遮断される。この状態でバッファ室10は真空排気装置
(図示省略)を作動させることで所定圧力に減圧排気さ
れる。 【0016】一方、真空予備室60には、外部が大気側
である場合は、真空予備室60に設けられた扉等の大気
真空開閉手段(図示省略)を開放することで所定枚数の
基板30が装填された基板カセット(以下、供給カセッ
トと略)70と基板回収用の空の基板カセット(以下、
回収カセットと略)71とが搬入されて、供給カセット
70は他の真空開閉手段50に対応するカセットテーブ
ル131に、回収カセット71は他の真空開閉手段51
に対応するカセットテーブルにそれぞれ載置される。そ
の後、大気真空開閉手段は閉止され真空予備室60は、
真空排気装置(図示省略)でバッファ室10の圧力と同
程度の圧力まで減圧排気される。その後、シリンダ52
の駆動により他の真空開閉手段50が開放され、これに
よりバッファ室10と真空予備室60とは連通状態とな
る。この状態下で、モータ133を駆動しカセットテー
ブル131を1ピッチ分下降させることで供給カセット
70の、この場合、最下部に装填された基板30はベル
ト93に載置される。 【0017】その後、モータ94によりベルト93を回
転駆動することで載置された基板30は他の真空開閉手
段50側へ搬送され、モータ111により回転駆動され
ているベルト112に他の真空開閉手段50を介して渡
される。ベルト112に渡された基板30はベルト搬送
装置80側へ搬送される。なお、このときベルト83の
レベルがベルト112のレベル以下となるようにベルト
搬送装置80全体はシリンダ81により降下させられて
いる。その後、基板30がプーリ113,114にかか
る程度に搬送されてきた時点でベルト83のレベルがベ
ルト112のレベル以上となるようにベルト搬送装置8
0全体はシリンダ81により上昇させられ、これにより
基板30はベルト112からベルト83へ渡される。ベ
ルト83に渡された基板30は、モータ82の駆動によ
り基板テーブル141に対応する位置まで搬送された後
に、基板テーブル141をシリンダ142で上昇させる
ことで基板テーブル141に受取られる。 【0018】基板テーブル141に受取られた基板30
は、例えば、オリフラ合せ装置170でオリフラを合わ
される。その後、基板30は、例えば、基板のせ具15
1に渡されアーム152をパルスモータ153で真空処
理室20側へ回転駆動することで、バッファ室10を経
て真空処理室20の基板電極21の上方へ搬送される。
その後、爪24をシリンダ25で上昇させることで、基
板のせ具151の基板30は、爪24に受取られる。そ
の後、基板30を爪24に渡した基板のせ具151は、
真空処理室20外のバッファ室10に退避させられる。 【0019】その後、爪24を、その表面が基板電極2
1の表面以下となるようにシリンダ25で下降させるこ
とで、基板30は爪24から基板電極21に渡されて載
置される。その後、仕切り用のフランジ180と、フラ
ンジ180の裏面とバッファ室10の底壁とに跨設され
たベローズ181と、フランジ180を昇降駆動する昇
降装置、例えば、シリンダ182とで構成される仕切り
手段183によりバッファ室10と真空処理室20とは
仕切られる。この状態で、まず、基板電極20と、基板
電極30の上方に対向して真空処理室20に設けられた
対向電極(図示省略)との電極間隔は、モータ23を駆
動することにより適正間隔に調節される。その後、真空
処理室20には、流量を調節されてプロセスガスが導入
されると共に、真空排気装置(図示省略)の駆動により
真空処理室20の圧力は処理圧力に調整される。 【0020】その後、例えば、基板電極21に接続され
た電源、例えば、高周波電源(図示省略)より基板電極
21に高周波電力を印加することで、対向電極と基板電
極21との間には、グロー放電が生じ、該放電によりプ
ロセスガスはプラズマ化される。このプラズマにより基
板電極21に載置された基板30は、エッチング処理等
所定処理される。この間、供給カセット70からは、上
記した操作により基板30が取り出されベルト搬送装置
110,80で搬送されて基板テーブル141に渡され
オリフラが合わされた後に基板のせ具151に渡され
る。真空処理室20での処理が終了した後に仕切り手段
183によるバッファ室10と真空処理室20の仕切り
は解除され、真空処理室20はバッファ室10と再び連
通させられる。その後、基板電極21は、所定位置まで
降下させられ、爪24をシリンダ25で上昇させること
で、処理済みの基板30は、基板電極21から除去され
爪24に渡される。その後、基板のせ具161を爪24
に渡された基板30の裏面に対応する位置まで回転させ
た後に、爪24をシリンダ25で下降させることで、処
理済みの基板30は基板のせ具161に渡される。 【0021】その後、基板のせ具151に渡された基板
30は、基板テーブル141から基板電極21へ、ま
た、基板のせ具161に渡された処理済みの基板30は
基板電極21から基板テーブル141へそれぞれ搬送さ
れる。基板電極21へ搬送された基板30は、上記した
操作により所定処理される。この間、基板テーブル14
1に搬送された処理済みの基板30は、基板テーブル1
41をシリンダ142で下降させることでベルト搬送装
置80のベルト83に渡され、その後、ベルト83,1
22のモータ82,121による回転駆動で他の真空開
閉手段51側へ搬送される。 【0022】なお、ベルト83からベルト122への処
理済みの基板30の受渡しは、ベルト112からベルト
83への基板30の受渡しと逆操作により行われる。シ
リンダ53の駆動により他の真空開閉手段51が開放さ
れ、モータ104によりベルト103を回転駆動するこ
とで、他の真空開閉手段51側へ搬送されてきた処理済
みの基板30は他の真空開閉手段51を介して真空予備
室60に搬入され、その後、カセットテーブルを1ピッ
チ分上昇させることで回収カセット71に回収される。
また、供給カセット70からは上記した操作により基板
30が取り出されベルト搬送装置110,80で搬送さ
れて基板テーブル141に渡されオリフラが合わされた
後に基板のせ具151に渡される。 【0023】以上のような操作を繰り返し実施すること
で、供給カセット70からは基板30が1枚毎取り出さ
れ、真空予備室60からバッファ室10を経て真空処理
室20に搬送され、真空処理室20で1枚毎処理され、
処理済みの基板30は、真空処理室20からバッファ室
10を経て真空予備室60に搬送されて1枚毎回収カセ
ット71に回収される。 【0024】図3は、図1,図2で示される真空処理装
置を1モジュールとして真空開閉手段40,41を介し
て2モジュール連設した場合の例を示すものである。な
お、図3での構成部品は、図2のそれと全て同一であ
り、したがって、構成,作用等の説明は省略する。図3
で示される真空処理装置では、図4(a)〜図4(c)
に示すような基板処理を行うことができる。 【0025】即ち、図4(a)に示すように基板30を
連設された真空処理装置の二つの真空処理室20でシリ
ーズ処理することも、図4(b)に示すように、基板3
0を連設された真空処理装置の二つの真空処理室20で
パラレル処理することも、図4(c)に示すように、基
板30を、連設された真空処理装置毎の真空処理室20
でパラレル処理することもできる。なおこのような基板
処理モードで図4(a),(b)に示される基板処理モー
ドの場合、前段の真空処理装置の真空予備室60に供給
カセット(図示省略)を少なくとも1個セットし、後段
の真空処理装置の真空予備室60に回収カセット(図示
省略)を少なくとも1個セットするようにする。 【0026】また、図4(c)に示される基板処理モー
ドの場合、各真空処理装置の真空予備室60に供給カセ
ット(図示省略),回収カセット(図示省略)を各1個
セットするようにする。また、図1,図2で示される真
空処理装置を1モジュールとして真空開閉手段40,4
1を介して2モジュール連設した場合、各真空処理装置
における基板30の搬送はバッファ室10を経ることで
行われる。 【0027】更に、図1,図2で示される真空処理装置
を1モジュールとして真空開閉手段40,41を介して
3モジュール以上連設した場合は、図4に示すような基
板処理モードに加えて図5(a),(b)に示すような基
板処理を行うことができる。 【0028】即ち、図5(a)に示すように、基板30
を連設された真空処理装置の前段の真空処理装置の真空
処理室20と、この場合は、中段の真空処理装置の真空
処理室20とで、まず、パラレル処理し、引続き後段の
真空処理装置の真空処理室20でシリーズ処理すること
も、図5(b)に示すように、基板30を連設された真
空処理装置の前段と中段の真空処理装置の真空処理室2
0でシリーズ処理すると共に、前段と後段の真空処理装
置の真空処理室20でシリーズ処理することもできる。 【0029】なお、このような基板処理モードの場合、
前段の真空処理装置の真空予備室60に供給カセット
(図示省略)を2個セットし、後段の真空処理装置の真
空予備室60に回収カセット(図示省略)を2個セット
するようにする。 【0030】また、各真空処理装置の真空処理室20で
基板30をシリーズ処理する場合は、前段の真空処理装
置の真空予備室60に供給カセットを1個セットし、後
段の真空処理装置の真空予備室に回収カセットを1個セ
ットするようにする。また、各真空処理装置の真空処理
室で基板30をパラレル処理する場合は、前段の真空処
理装置の真空予備室に供給カセットを少なくとも1個セ
ットし後段の真空処理装置の真空予備室に回収カセット
を少なくとも1個セットするようにする。 【0031】また、各真空処理装置を独立させそれぞれ
の真空処理室で基板をパラレル処理する場合は、各真空
処理装置の真空予備室に供給カセットと回収カセットと
を各1個セットするようにする。また、図1,図2で示
される真空処理装置を1モジュールとして真空開閉手段
40,41を介して3モジュール以上連設した場合で
も、各真空処理装置における基板30の搬送は、バッフ
ァ室10を経ることで行われる。 【0032】本実施例のような真空処理装置では、次の
ような効果が得られる。 【0033】(1)プロセス変更やライン変更に対応して
真空処理室数を自由に変えてシステム構成あるいは編成
ができる。 【0034】(2)基板は真空排気されているバッファ室
を経て次の真空処理室に搬送されるため、処理途中で次
の真空処理室へ処理を引継ぐようなプロセス工程にも問
題なく適用できる。 【0035】(3)第2の基板搬送手段と第3の基板搬送
手段とを平行とし真空処理装置の前面横幅を小さくする
ことができ、多モジュール構成がし易くなっている。 【0036】(4)真空予備室を真空排気可能なカセット
室としているので、真空処理装置の奥行寸法を小さくす
ることができ、多モジュールシステムでは、1モジュー
ルに2個のカセットをセットすることも可能でスループ
ット向上時のカセットセット時間間隔を長くすることが
できる。 【0037】(5)第3の基板搬送手段として動作平面の
異なるアーム搬送装置を用いているので、真空処理室へ
の基板の搬入,搬出を同時に行うことができるので、ス
ループットを向上できる。 【0038】(6)多モジュールによるシリーズ処理ある
いはパラレル処理が可能となるため、真空処理装置の小
形化と合わせ床面積当りのスループットを向上させるこ
とができる。 【0039】(7)バッファ室に設けられる真空開閉手段
の開口面積は、基板が1枚通過可能な面積であればよ
く、したがって、多モジュールの場合、真空処理装置間
での残留プロセスガスの混入がほとんど生じないため、
各真空処理装置でのプロセスガスに対する独立性を確保
できる。 【0040】なお、真空処理装置の奥行寸法を小さくし
て、しかも他の装置との連続一貫処理を目指す場合は、
図6に示すように、真空予備室60′を例えば、真空開
閉手段40を介してバッファ室10に具設すると共に、
矢印A方向に基板30を搬送する第1の基板搬送手段で
あるベルト搬送装置(図示省略)との間で真空開閉手段
40を介して矢印E方向に基板30を受渡し可能に第2
の基板搬送手段であるベルト搬送装置(図示省略)を真
空予備室60′に設けるようにする。この場合、他の真
空開閉手段は不用である。 【0041】以上、説明した実施例では、真空予備室を
供給カセット,回収カセットが外部より搬入されてセッ
トされるような真空予備室としているが、特に、このよ
うな真空予備室に限定する必要はない。 【0042】例えば、供給カセット,回収カセットを真
空予備室に固定してセットし、供給カセットに外部から
所定枚数基板を装填すると共に、回収カセットに回収さ
れた基板を回収カセットから取り出して外部へ搬出する
ようにしても良い。また、第1の基板搬送手段は、ベル
ト搬送装置の他に基板をバッファ室に設けられた真空開
閉手段との間で搬送するようなものであれば良い。ま
た、第2の基板搬送手段は、ベルト搬送装置の他に、例
えば、アームが直進するアーム搬送装置、アームが回動
するアーム搬送装置等を用いても良い。 【0043】 【発明の効果】本発明によれば、第一、第二の真空予備
室は、何れもロード室、アンロード室としての機能を備
え、基板を第一、第二の真空予備室に設けられたカセッ
トからそれぞれ別々に共給し、別々に回収するので、基
板の供給、回収のための制御が簡単になり、スループッ
トを向上させることおよび製造プロセス技術の多様化に
応えることができるという効果がある。すなわち、本発
明によれば、基板処理モードに従って、基板を収納する
ためのカセットを備えた第一、第二真空予備室のいずれ
にも基板を搬送できるように制御しているため、ウエハ
の搬入等で片方の真空予備室が大気圧になっているとき
でも、別の真空予備室が真空状態で有ればいずれの真空
予備室でも回収できるというように、真空予備室と大気
との間でウエハを搬入搬出する自由度が増し、回収タイ
ミングを問題とせずに、処理を継続することができ、ス
ループットが向上するという効果がある。
Description: BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum processing apparatus in a semiconductor manufacturing process such as an etching apparatus, a plasma CVD apparatus, and a sputtering apparatus. BACKGROUND OF THE INVENTION Recent progress in semiconductor manufacturing process technology has been remarkable, and a type of processing a 1 μm pattern has appeared even in a dry etching apparatus, and has been receiving attention. As such miniaturization progresses, the substrate becomes larger in diameter, and accordingly, the throughput per occupied floor area of the semiconductor manufacturing apparatus (the number of processed substrates per time) is improved and the manufacturing process technology is diversified. Is a major issue. In order to solve such demands, it is necessary to reduce the size of the apparatus and perform multipurpose processing using a plurality of vacuum processing chambers. A vacuum processing module that can configure or organize a system by freely changing the number of chambers has been required. On the other hand, in a conventional type in which a module in which a vacuum processing chamber and a substrate transfer line in the atmosphere can be added as disclosed in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 57-128929, can be added, the air quality is poor. Since the substrate is transported to the next vacuum processing chamber through the inside, it is not suitable for application to a process step in which processing is transferred to the next vacuum processing chamber during processing. Further, in a type in which a substrate is transported between several vacuum processing chambers and one buffer chamber and continuously processed as disclosed in Japanese Utility Model Laid-Open No. 57-39430. There is a problem that the number of vacuum processing chambers is fixed, and there is no freedom to change the number of vacuum processing chambers in response to a process change or a line change, making it difficult to use. An object of the present invention is to provide a substrate processing method and a substrate processing apparatus capable of improving throughput and responding to diversification of manufacturing process technologies. SUMMARY OF THE INVENTION A feature of the present invention is that a vacuum preliminary chamber, a buffer chamber, a vacuum processing chamber, and a transport means for transporting the substrate between the vacuum preliminary chamber and the vacuum processing chamber. In the provided substrate processing apparatus, the vacuum preparatory chamber has first and second vacuum preparatory chambers for independently accommodating cassettes, and the vacuum processing chambers independently perform predetermined vacuum processing. First and second vacuum processing chambers, wherein the transfer means transfers the substrates taken out of the cassettes of the first vacuum preliminary chamber one by one through the buffer chamber according to the substrate processing mode. Transported to the processing chamber, unloads the substrate after the vacuum processing from the first vacuum processing chamber, and transfers the unloaded substrate via the buffer chamber to the cassette in one of the first and second vacuum preparatory chambers At the same time, Substrates removed one by one from the cassette in the vacuum prechamber
The substrate is transported to the second vacuum processing chamber via the buffer chamber according to the substrate processing mode, and the substrate after the vacuum processing is carried out of the second vacuum processing chamber, and the unloaded substrate is transferred to the buffer chamber. Each of the cassettes is collected via the cassette into the cassette of the first or second vacuum preparatory chamber. Another feature of the present invention is that the first and second vacuum preparatory chambers for independently accommodating cassettes, the buffer chamber, and the first and second vacuum preparatory chambers for independently performing predetermined vacuum processing are provided. In a substrate processing method using a substrate processing apparatus, comprising: a vacuum processing chamber; and a transfer unit configured to transfer the substrate between the vacuum preparatory chamber and the vacuum processing chamber. The substrates taken out one by one from the cassette are transferred to the first vacuum processing chamber via the buffer chamber in accordance with the substrate processing mode, and the substrates after the vacuum processing are unloaded from the first vacuum processing chamber. And recovering each of the unloaded substrates via the buffer chamber into the cassette in one of the first and second vacuum preparatory chambers, and removing the substrates one by one from the cassette in the second vacuum preparatory chamber. a substrate processing mode Transported to the second vacuum processing chamber via the buffer chamber in response to de, the substrate on which the vacuum processing has been completed is unloaded from the second vacuum processing chamber, said substrate out該搬via the buffer chamber recovering one by one to the first, second or preparatory vacuum chamber of the cassette, it the
There is . According to the present invention, the transfer means performs the substrate processing on the substrates taken out one by one from the cassette in the first vacuum preliminary chamber.
Depending on the mode, the substrate is transferred to the first vacuum processing chamber via the buffer chamber, the substrate after the vacuum processing is carried out of the first vacuum processing chamber, and the substrate is again transferred to the first and second via the buffer chamber .
Recovering one by one into two or preparatory vacuum chamber of the cassette.
On the other hand, the substrates taken out one by one from the cassette of the second vacuum preparatory chamber are transported to the second vacuum processing chamber via the buffer chamber according to the substrate processing mode, and the substrate subjected to the vacuum processing is subjected to the second vacuum processing. The substrates are taken out from the chamber and recovered again one by one via the buffer chamber into the cassette of the first or second vacuum reserve chamber. Thus, the first and second vacuum spare chambers are:
Each of them has a function as a load chamber and an unload chamber, and supplies and collects the substrates separately from the cassettes provided in the first and second vacuum preparatory chambers. Can be easily controlled, and throughput can be improved and diversification of manufacturing process technology can be responded to. An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In FIG. 1, a vacuum processing apparatus includes a buffer chamber 10 capable of evacuating, and a vacuum processing chamber 2 provided in the buffer chamber 10.
0 and the buffer chamber 1 capable of transporting the substrate 30 in the direction of arrow A.
And a vacuum opening / closing means 4 such as a gate valve and a partition provided on the side wall of the buffer chamber 10 at both ends of the first substrate transfer means.
0, 41 and, in this case, a gate valve provided on the side wall corresponding to the vacuum processing chamber 20 at right angles to the side wall on which the vacuum opening / closing means 40, 41 are provided and sandwiching the first substrate transfer means. Of the buffer chamber 10 through the vacuum opening / closing means 50 and 51 of FIG.
The second substrate transporting means (which transports the substrate 30 in the directions of arrows B and C via the other vacuum opening / closing means 50 and 51 between the pre-vacuum chamber 60 provided in the apparatus and the first substrate transporting means ( A substrate transfer means (not shown) provided on the substrate transfer path of the first substrate transfer means and corresponding to the vacuum processing chamber 20, and a connection between the substrate transfer means and the vacuum processing chamber 20. And a third substrate carrying means (not shown) for carrying the substrate 30 in the direction of the arrow D between them. In this case, in the vacuum preparatory chamber 60, a cassette table (not shown) of a cassette elevating device (not shown) for driving the substrate cassettes 70 and 71 up and down corresponds to the other vacuum opening / closing means 50 and 51 so as to be able to go up and down. It is installed inside. The first to third substrate transfer means and the substrate transfer means will be described in more detail with reference to FIG. In FIG. 2, the first substrate transfer means is a belt transfer device 80. The belt transfer device 80 is entirely driven up and down by an elevating device, for example, a cylinder 81, and a belt 82 is driven by a motor 82. It is driven to rotate. The second substrate transfer means is a belt transfer device 90, 1 provided in the vacuum preliminary chamber 60 with the other vacuum opening / closing means 50, 51 interposed therebetween.
00 and a belt transport device 11 provided in the buffer chamber 10
0,120. The pulley 91 of the belt conveying device 90,
Belt 9 that is endlessly wound around a pulley 92 and pulleys 91 and 92
3 is the cassette table 1 of the cassette elevating device 130
It is arranged so as to correspond to No. 31 and be located above the cassette table 131 even when the cassette table 131 is raised to the highest position. The belt 93 is driven to rotate by a motor 94. The belt conveying device 110 is driven to rotate the belt 112 by a motor 111, and the end of the belt conveying device 110 on the side of the belt conveying device 80 does not hinder one of the movements of the belt 83 of the belt conveying device 80. in this case,
The V-shaped bent pulley 113 at the final end is provided so as to be located between the belts 83 of the belt conveyor 80. The belt 93 of the belt conveyance device 90 and the belt 112 of the belt conveyance device 110 are at the same level, and the interval between the belt conveyance device 90 and the other end of the belt opening / closing means 50 on the side of the vacuum conveyance means 50 It is a size that does not hinder delivery. The pulleys 101 and 102 of the belt transport device 100 and the belt 103 wound around the pulleys 101 and 102 endlessly are disposed in the same manner as the belt transport device 90, and the belt 103 is rotated by a motor 104. The belt conveying device 120 uses the motor 121 to drive the belt 12
2 and the end portion of the belt conveying device 120 on the side of the belt conveying device 80 is folded in a V-shape so as not to hinder one of the movements of the belt 83 of the belt conveying device 80 as in the case of the belt conveying device 110. Bending and pulley 123 at the end
Are provided between the belts 83 of the belt transport device 80. The belt 10 of the belt conveying device 100
3 and the belt 122 of the belt conveying device 120 are at the same level, and the belt conveying device 100 and the belt conveying device 12
The distance between the other end of the vacuum opening / closing means 51 and 0 is a size that does not hinder delivery of the substrate 30. The distance between the pulleys 113 of the belt transport device 110 and the pulleys 114 corresponding to the pulleys 113 is large enough to prevent the substrate 30 from dropping and to be satisfactorily delivered.
The distance between the pulley 123 corresponding to the zero pulley 123 and the corresponding pulley 124 is the same size. The belt conveying device 80 is driven to move up and down so that the level of the belt 83 is equal to or lower than the level of the belts 112 and 122 of the belt conveying devices 110 and 120. The substrate transfer means 140 is smaller than the dimension between the belts 83 of the belt transfer device 80.
41 and an elevating device, for example, a cylinder 142. The substrate table 141 is located at a position corresponding to the vacuum processing chamber 20, and in this case, the belt transfer devices 110, 120
Between the belts 83 of the belt conveying device 80 so that the cylinder 142 can move up and down. Third
The substrate transfer means is the arm transfer devices 150 and 160. The arm transfer device 150 includes a board scooping tool 151, an arm 152, and a rotation device, for example, a pulse motor 153. The pulse motor 153 is provided between the belt transfer device 80 and the vacuum processing chamber 20, and between the center of the substrate table 141 of the substrate transfer means 140 and the vacuum processing chamber 20.
2 is provided on one side (the left side in FIG. 2) of the line connecting the center of the substrate electrode 21 of FIG.
One end of 52 is provided. A board scooping tool 151 is provided at the other end of the arm 152. The arm transfer device 160 is composed of a substrate scooping tool 161, an arm 162, and a rotating device, for example, a pulse motor 163. The pulse motor 163 is provided between the belt transfer device 80 and the vacuum processing chamber 20, and at the center of the substrate table 141 of the substrate transfer means 140 and the substrate electrode 21 of the vacuum processing chamber 20.
It is provided on the other side (the right side in FIG. 2) of the line connecting the center of the pulse motor 163, and the pulse motor 163 is provided with one end of the arm 162. At the other end of the arm 162, a board scooping tool 161 is provided. In this case, the substrate scooping tool 15
When the substrate 30 is placed on the substrate table 141 and the substrate electrode 21, the dimensions of the substrates 161, 161, arms 152, 162 are the substrate scooping tools 151, 161.
It is a size that can be scooped. Also, the arms 152, 16
2 is partially rotated by pulse motors 153 and 163, respectively, so that the substrate 30 can be transported between the substrate table 141 and the substrate electrode 21 by the substrate scooping tools 151 and 161. In this case, the operating planes of the arms 152 and 162 are different from the upper surface of the arm 152 and the lower surface of the arm 162, and for example, the substrate 30 is placed on the substrate table 1 by the arm transfer device 150.
When the substrate 30 is transferred from the substrate electrode 21 to the substrate table 14 by the arm transfer device 160 when the substrate 30 is transferred from the substrate electrode 41 to the substrate electrode 21.
It is designed so that it does not hinder the transportation to item 1. The cassette elevating device 130 is provided by meshing with a cassette table 131, an elevating rod 132 suspended from the cassette table 131 and having a screw formed at a lower end thereof, a gear 134 rotationally driven by a motor 133, and a gear 134. And a gear 135 with which the lower end of the lifting rod 132 is screwed. The substrate electrode 21 is driven up and down by rotation of a motor 23 via a rack and pinion mechanism 22. Further, a claw 24 for supporting the substrate is provided at the center of the substrate electrode 21 so as to be able to move up and down by a lifting device, for example, a cylinder 25. The claw 24 is driven to move up and down between a position where the surface thereof is equal to or lower than the surface of the substrate electrode 21 and a position where the substrate rakes 151 and 161 of the arm transfer devices 150 and 160 and the substrate 30 can be transferred. In the vacuum processing apparatus shown in FIGS. 1 and 2,
The following substrate processing can be performed. First, the cassette table 131 corresponding to the other vacuum opening / closing means 50 is lowered to the lowermost position, and the cassette table (not shown) corresponding to the other vacuum opening / closing means 51 is raised to the uppermost position. Other vacuum switching means 5
For example, the cylinders 52 and 53 are closed by driving the cylinders 52 and 53, and the communication between the buffer chamber 10 and the vacuum preparatory chamber 60 is air-tightly cut off. Communication with the outside is also airtightly shut off. In this state, the buffer chamber 10 is evacuated to a predetermined pressure by operating a vacuum exhaust device (not shown). On the other hand, when the outside is on the atmospheric side, a predetermined number of substrates 30 are opened by opening an atmospheric vacuum opening / closing means (not shown) such as a door provided in the vacuum preliminary chamber 60. Loaded with a substrate cassette (hereinafter abbreviated as a supply cassette) 70 and an empty substrate cassette (hereinafter, abbreviated as a substrate cassette) for collecting a substrate.
A collection cassette 71 is carried in, and the supply cassette 70 is placed on a cassette table 131 corresponding to the other vacuum opening / closing means 50, and the collection cassette 71 is placed in another vacuum opening / closing means 51.
Are placed on the cassette tables corresponding to. Thereafter, the atmospheric vacuum opening / closing means is closed, and the vacuum preliminary chamber 60 is
The pressure in the buffer chamber 10 is reduced and evacuated by a vacuum evacuator (not shown). Then, the cylinder 52
Drives the other vacuum opening / closing means 50 to open, whereby the buffer chamber 10 communicates with the vacuum preparatory chamber 60. In this state, the motor 133 is driven to lower the cassette table 131 by one pitch, whereby the substrate 30 loaded at the lowermost part of the supply cassette 70 in this case, is placed on the belt 93. Thereafter, the substrate 30 placed by rotating the belt 93 by the motor 94 is conveyed to the other vacuum opening / closing means 50 side, and the belt 112 driven by the motor 111 is rotated by the other vacuum opening / closing means. Passed through 50. The substrate 30 transferred to the belt 112 is transported to the belt transport device 80 side. At this time, the entire belt conveying device 80 is lowered by the cylinder 81 so that the level of the belt 83 is lower than the level of the belt 112. After that, when the substrate 30 is conveyed to the extent that the pulleys 113 and 114 are conveyed, the belt conveying device 8 is set so that the level of the belt 83 becomes equal to or higher than the level of the belt 112.
The whole 0 is raised by the cylinder 81, whereby the substrate 30 is transferred from the belt 112 to the belt 83. The substrate 30 transferred to the belt 83 is conveyed to a position corresponding to the substrate table 141 by driving of the motor 82, and then received by the substrate table 141 by lifting the substrate table 141 by the cylinder 142. The substrate 30 received on the substrate table 141
For example, the orientation flat is adjusted by the orientation flat adjustment device 170. Thereafter, the substrate 30 is, for example, the substrate brace 15
By being driven to rotate the arm 152 to the side of the vacuum processing chamber 20 by the pulse motor 153, the arm 152 is transported to above the substrate electrode 21 of the vacuum processing chamber 20 via the buffer chamber 10.
Thereafter, the claw 24 is raised by the cylinder 25, so that the substrate 30 of the substrate placing tool 151 is received by the claw 24. After that, the substrate placing tool 151 that has passed the substrate 30 to the nail 24 is
It is retracted to the buffer chamber 10 outside the vacuum processing chamber 20. Thereafter, the nail 24 is placed on the surface of the substrate electrode 2.
By lowering the surface of the substrate 30 with the cylinder 25 so that the surface of the substrate 30 is less than or equal to 1, the substrate 30 is passed from the claw 24 to the substrate electrode 21 and placed. Thereafter, a partitioning means comprising a partitioning flange 180, a bellows 181 laid over the back surface of the flange 180 and the bottom wall of the buffer chamber 10, and a lifting device for driving the flange 180 up and down, for example, a cylinder 182. The buffer chamber 10 and the vacuum processing chamber 20 are partitioned by 183. In this state, first, the electrode interval between the substrate electrode 20 and a counter electrode (not shown) provided above the substrate electrode 30 in the vacuum processing chamber 20 so as to oppose the substrate electrode 30 is adjusted to an appropriate interval by driving the motor 23. Adjusted. Thereafter, the process gas is introduced into the vacuum processing chamber 20 at a controlled flow rate, and the pressure of the vacuum processing chamber 20 is adjusted to the processing pressure by driving a vacuum exhaust device (not shown). Thereafter, high frequency power is applied to the substrate electrode 21 from, for example, a power supply connected to the substrate electrode 21, for example, a high frequency power supply (not shown), so that a glow is applied between the counter electrode and the substrate electrode 21. Discharge occurs and the process gas turns the process gas into plasma. The substrate 30 placed on the substrate electrode 21 by this plasma is subjected to a predetermined process such as an etching process. During this time, the substrate 30 is taken out of the supply cassette 70 by the above-described operation, transported by the belt transport devices 110 and 80, transferred to the substrate table 141, aligned with the orientation flat, and then transferred to the substrate placing tool 151. After the processing in the vacuum processing chamber 20 is completed, the partition between the buffer chamber 10 and the vacuum processing chamber 20 by the partitioning means 183 is released, and the vacuum processing chamber 20 is communicated with the buffer chamber 10 again. Thereafter, the substrate electrode 21 is lowered to a predetermined position, and the claw 24 is raised by the cylinder 25, whereby the processed substrate 30 is removed from the substrate electrode 21 and passed to the claw 24. After that, the claws 161 of the substrate are fixed.
After being rotated to a position corresponding to the back surface of the substrate 30 transferred to the substrate 30, the claw 24 is lowered by the cylinder 25, so that the processed substrate 30 is transferred to the substrate holder 161. Thereafter, the substrate 30 transferred to the substrate holder 151 is transferred from the substrate table 141 to the substrate electrode 21, and the processed substrate 30 transferred to the substrate holder 161 is transferred from the substrate electrode 21 to the substrate table 141. Each is transported. The substrate 30 transported to the substrate electrode 21 is subjected to predetermined processing by the above-described operation. During this time, the substrate table 14
The processed substrate 30 transported to the substrate table 1
41 is passed down to the belt 83 of the belt conveying device 80 by being lowered by the cylinder 142, and thereafter, the belts 83, 1
It is conveyed to another vacuum opening / closing means 51 side by the rotation drive by the motors 82 and 121 of 22. Delivery of the processed substrate 30 from the belt 83 to the belt 122 is performed by the reverse operation of delivery of the substrate 30 from the belt 112 to the belt 83. The other vacuum opening / closing means 51 is opened by the driving of the cylinder 53, and the processed substrate 30 conveyed to the other vacuum opening / closing means 51 is driven by rotating the belt 103 by the motor 104. It is carried into the vacuum preparatory chamber 60 via 51, and is then collected in the collection cassette 71 by raising the cassette table by one pitch.
Further, the substrate 30 is taken out of the supply cassette 70 by the above-described operation, transported by the belt transport devices 110 and 80, transferred to the substrate table 141, aligned with the orientation flat, and then transferred to the substrate placing tool 151. By repeatedly performing the above-described operations, the substrates 30 are taken out one by one from the supply cassette 70, transferred from the pre-vacuum chamber 60 to the vacuum processing chamber 20 via the buffer chamber 10, and stored in the vacuum processing chamber 20. It is processed one by one at 20,
The processed substrate 30 is conveyed from the vacuum processing chamber 20 to the pre-vacuum chamber 60 via the buffer chamber 10 and is collected one by one in the collection cassette 71. FIG. 3 shows an example in which the vacuum processing apparatus shown in FIGS. 1 and 2 is provided as one module and two modules are continuously connected via vacuum opening / closing means 40 and 41. Note that the components in FIG. 3 are all the same as those in FIG. 2, and therefore, the description of the configuration, operation, and the like is omitted. FIG.
4 (a) to 4 (c)
Can be performed. That is, as shown in FIG. 4A, series processing of the substrate 30 in the two vacuum processing chambers 20 of the vacuum processing apparatus connected in series is performed, or as shown in FIG.
4 may be processed in parallel in the two vacuum processing chambers 20 of the vacuum processing apparatus connected in series, or as shown in FIG.
Can be processed in parallel. In the substrate processing mode shown in FIGS. 4A and 4B in such a substrate processing mode, at least one supply cassette (not shown) is set in the vacuum preliminary chamber 60 of the preceding vacuum processing apparatus. At least one collection cassette (not shown) is set in the vacuum preparatory chamber 60 of the subsequent vacuum processing apparatus. In the case of the substrate processing mode shown in FIG. 4C, one supply cassette (not shown) and one recovery cassette (not shown) are set in the vacuum preparatory chamber 60 of each vacuum processing apparatus. To do. Further, the vacuum processing apparatus shown in FIGS.
In the case where two modules are connected in series via 1, the transfer of the substrate 30 in each vacuum processing apparatus is performed by passing through the buffer chamber 10. Further, when the vacuum processing apparatus shown in FIGS. 1 and 2 is connected as one module and three or more modules are connected via the vacuum opening / closing means 40 and 41, in addition to the substrate processing mode shown in FIG. Substrate processing as shown in FIGS. 5A and 5B can be performed. That is, as shown in FIG.
In the vacuum processing chamber 20 of the preceding vacuum processing apparatus of the vacuum processing apparatus and the vacuum processing chamber 20 of the middle vacuum processing apparatus in this case, parallel processing is performed first, and then the subsequent vacuum processing apparatus As shown in FIG. 5B, the series processing is performed in the vacuum processing chamber 20 of the vacuum processing chamber 20 of the first and middle vacuum processing apparatuses in which the substrate 30 is connected in series.
In addition to performing the series processing at 0, the series processing can be performed in the vacuum processing chambers 20 of the vacuum processing apparatuses at the first and second stages. In the case of such a substrate processing mode,
Two supply cassettes (not shown) are set in the vacuum preparatory chamber 60 of the preceding vacuum processing apparatus, and two collection cassettes (not shown) are set in the vacuum preparatory chamber 60 of the subsequent vacuum processing apparatus. When series processing of the substrate 30 is performed in the vacuum processing chamber 20 of each vacuum processing apparatus, one supply cassette is set in the vacuum preparatory chamber 60 of the preceding vacuum processing apparatus, and the vacuum of the subsequent vacuum processing apparatus is set. Make sure to set one recovery cassette in the spare room. When the substrates 30 are processed in parallel in the vacuum processing chambers of the respective vacuum processing apparatuses, at least one supply cassette is set in the vacuum preparatory chamber of the preceding vacuum processing apparatus, and the collection cassette is set in the vacuum preparatory chamber of the subsequent vacuum processing apparatus. Is set at least one. When the vacuum processing apparatuses are made independent and the substrates are processed in parallel in the respective vacuum processing chambers, one supply cassette and one recovery cassette are set in the vacuum preparatory chamber of each vacuum processing apparatus. . In addition, even when three or more modules are connected to each other via the vacuum opening / closing means 40 and 41 as one module of the vacuum processing apparatus shown in FIGS. 1 and 2, the substrate 30 in each vacuum processing apparatus is transferred to the buffer chamber 10. It is done by going through. The following effects can be obtained with the vacuum processing apparatus of this embodiment. (1) The system configuration or organization can be changed by freely changing the number of vacuum processing chambers in response to process changes and line changes. (2) Since the substrate is conveyed to the next vacuum processing chamber via the evacuated buffer chamber, it can be applied to a process step in which processing is transferred to the next vacuum processing chamber during processing without any problem. . (3) The horizontal width of the front surface of the vacuum processing apparatus can be reduced by making the second substrate transfer means and the third substrate transfer means parallel, which facilitates the multi-module configuration. (4) Since the vacuum preparatory chamber is a cassette chamber capable of evacuating, the depth of the vacuum processing apparatus can be reduced. In a multi-module system, two cassettes can be set in one module. It is possible to extend the cassette setting time interval at the time of improving the throughput. (5) Since the arm transfer device having a different operation plane is used as the third substrate transfer means, the transfer of the substrate into and out of the vacuum processing chamber can be performed simultaneously, so that the throughput can be improved. (6) Since series processing or parallel processing by multiple modules becomes possible, the throughput per floor area can be improved together with downsizing of the vacuum processing apparatus. (7) The opening area of the vacuum opening / closing means provided in the buffer chamber only needs to be an area through which one substrate can pass. Therefore, in the case of a multi-module, mixing of residual process gas between vacuum processing apparatuses. Rarely occurs,
Independence from the process gas in each vacuum processing apparatus can be secured. When reducing the depth of the vacuum processing apparatus and aiming for continuous and continuous processing with other apparatuses,
As shown in FIG. 6, a vacuum preparatory chamber 60 'is provided in the buffer chamber 10 via the vacuum opening / closing means 40, for example.
A second substrate transfer device (not shown), which is a first substrate transfer means for transferring the substrate 30 in the direction of arrow A, is capable of transferring the substrate 30 in the direction of arrow E via the vacuum opening / closing means 40.
A belt transfer device (not shown) as a substrate transfer means is provided in the vacuum preliminary chamber 60 '. In this case, no other vacuum opening / closing means is required. In the embodiment described above, the vacuum preparatory chamber is a vacuum preparatory chamber in which the supply cassette and the recovery cassette are loaded and set from the outside, but it is particularly necessary to limit the vacuum preparatory chamber to such a vacuum preparatory chamber. There is no. For example, a supply cassette and a recovery cassette are fixed and set in a vacuum spare chamber, a predetermined number of substrates are loaded from the outside into the supply cassette, and the substrates recovered in the recovery cassette are taken out of the recovery cassette and carried out. It may be done. Further, the first substrate carrying means may be any one that carries the substrate to and from the vacuum opening / closing means provided in the buffer chamber in addition to the belt carrying device. In addition to the belt transfer device, the second substrate transfer means may use, for example, an arm transfer device in which an arm moves straight, an arm transfer device in which an arm rotates, or the like. According to the present invention, each of the first and second vacuum preparatory chambers has a function as a load chamber and an unload chamber, and the substrate is stored in the first and second vacuum preparatory chambers. Since they are separately supplied and collected separately from the cassettes provided in the apparatus, the control for supplying and collecting the substrates is simplified, thereby improving the throughput and responding to the diversification of the manufacturing process technology. There is an effect. That is, according to the present invention, according to the substrate processing mode, control is performed so that the substrate can be transported to either of the first and second vacuum preliminary chambers provided with the cassette for storing the substrate. Even if one of the vacuum preparatory chambers is at atmospheric pressure, etc., if another vacuum preparatory chamber is in a vacuum state, it can be recovered in any vacuum preparatory chamber. There is an effect that the degree of freedom in loading and unloading the wafer is increased, the processing can be continued without causing a problem with the recovery timing, and the throughput is improved.

【図面の簡単な説明】 【図1】本発明による真空処理装置の一実施例を示す平
面図。 【図2】図1の真空処理装置の基板搬送手段の斜視構成
図。 【図3】図1の真空処理装置を2モジュール連設した真
空処理装置の基板搬送手段の斜視構成図。 【図4】(a)ないし(c)は、2モジュール真空処理
装置での基板処理モード図。 【図5】(a),(b)は、3モジュール真空処理装置で
の他の基板処理モード図。 【図6】本発明による真空処理装置の他の実施例を示す
平面図。 【符号の説明】 10…バッファ室、20…真空処理室、30…基板、4
0,41…真空開閉手段、50,51…他の真空開閉手
段、60,60′…真空予備室、80ないし 120…ベルト搬送装置、140…基板受渡手段、15
0,160…アーム搬送装置。
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a plan view showing one embodiment of a vacuum processing apparatus according to the present invention. FIG. 2 is a perspective configuration diagram of a substrate transfer unit of the vacuum processing apparatus of FIG. FIG. 3 is a perspective view of a substrate transfer means of a vacuum processing apparatus in which two modules of the vacuum processing apparatus of FIG. 1 are connected in series. 4A to 4C are substrate processing mode diagrams in a two-module vacuum processing apparatus. FIGS. 5A and 5B are other substrate processing mode diagrams in a three-module vacuum processing apparatus. FIG. 6 is a plan view showing another embodiment of the vacuum processing apparatus according to the present invention. [Description of References] 10: buffer chamber, 20: vacuum processing chamber, 30: substrate, 4
0, 41: vacuum opening / closing means, 50, 51: other vacuum opening / closing means, 60, 60 ': vacuum preparatory chamber, 80 to 120: belt conveying device, 140: substrate transfer means, 15
0,160: arm transfer device.

フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 C23F 4/00 C23F 4/00 A H01L 21/205 H01L 21/205 21/3065 21/302 B (72)発明者 柴田 史雄 山口県下松市大字東豊井794番地 株式 会社 日立製作所 笠戸工場内 (72)発明者 坪根 恒彦 山口県下松市大字東豊井794番地 株式 会社 日立製作所 笠戸工場内 (72)発明者 金井 謙雄 山口県下松市大字東豊井794番地 株式 会社 日立製作所 笠戸工場内 (56)参考文献 特開 昭57−149748(JP,A) 実開 昭57−39430(JP,U)Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification number Office reference number FI Technical display location C23F 4/00 C23F 4/00 A H01L 21/205 H01L 21/205 21/3065 21/302 B (72) Invention Person Fumio Shibata 794, Higashi-Toyoi, Oaza, Kudamatsu City, Yamaguchi Prefecture Inventor, Hitachi, Ltd., Kasado Factory (72) Keno Yamaguchi Prefecture, Kudamatsu City, Oita 794, Higashi-Toyoi, Ltd. Hitachi Ltd., Kasado Plant (56) References JP 57-149748 (JP, A) Actual 57-39430 (JP, U)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】 1.真空予備室と、バッファ室と、真空処理室と、前記
真空予備室と前記真空処理室の間で前記基板の搬送を行
う搬送手段とを備えた基板処理装置において、 真空予備室は、それぞれ独立してカセットを収納する第
一、第二の真空予備室を有し、前記真空処理室は、それ
ぞれ独立して所定の真空処理を行う第一、第二の真空処
理室を有し、 前記搬送手段は、前記第一の真空予備室のカセットから
1枚毎取り出した基板を基板処理モードに応じて前記バ
ッファ室経由で前記第一の真空処理室へ搬送し、前記真
空処理が終了した基板を前記第一の真空処理室から搬出
し、該搬出した前記基板を前記バッファ室経由で前記第
一、第二いずれかの真空予備室のカセットに1枚毎回収
するとともに、 前記第二の真空予備室のカセットから1枚毎取り出した
基板を基板処理モードに応じて前記バッファ室経由で前
記第二の真空処理室へ搬送し、前記真空処理が終了した
基板を前記第二の真空処理室から搬出し、該搬出した前
記基板を前記バッファ室経由で前記第一、第二いずれか
の真空予備室のカセットに1枚毎回収するように構成さ
れていることを特徴とする基板処理装置。 2.それぞれ独立してカセットを収納する第一、第二の
真空予備室と、バッファ室と、それぞれ独立して所定の
真空処理を行う第一、第二の真空処理室と、前記真空予
備室と前記真空処理室の間で前記基板の搬送を行う搬送
手段とを備えた基板処理装置による基板処理方法におい
て、 前記搬送手段により、前記第一の真空予備室のカセット
から1枚毎取り出した基板を基板処理モードに応じて
記バッファ室経由で前記第一の真空処理室へ搬送し、前
記真空処理が終了した基板を前記第一の真空処理室から
搬出し、該搬出した前記基板を前記バッファ室経由で前
記第一、第二いずれかの真空予備室のカセットに1枚毎
回収するとともに、 前記第二の真空予備室のカセットから1枚毎取り出した
基板を基板処理モードに応じて前記バッファ室経由で前
記第二の真空処理室へ搬送し、前記真空処理が終了した
基板を前記第二の真空処理室から搬出し、該搬出した前
記基板を前記バッファ室経由で前記第一、第二いずれか
の真空予備室のカセットに1枚毎回収する、ことを特徴
とする基板処理方法。
(57) [Claims] In a substrate processing apparatus including a vacuum preliminary chamber, a buffer chamber, a vacuum processing chamber, and a transfer unit configured to transport the substrate between the vacuum preliminary chamber and the vacuum processing chamber, the vacuum preliminary chambers are independent of each other. First and second vacuum preparatory chambers for accommodating cassettes, and the vacuum processing chambers have first and second vacuum processing chambers for independently performing predetermined vacuum processing, and The means transports the substrates taken out one by one from the cassette of the first vacuum preliminary chamber to the first vacuum processing chamber via the buffer chamber according to the substrate processing mode, and removes the substrate after the vacuum processing. The substrate is unloaded from the first vacuum processing chamber, and the unloaded substrate is collected one by one into a cassette in one of the first and second vacuum preliminary chambers via the buffer chamber, and the second vacuum preliminary Removed one by one from the cassette in the room Plate was conveyed to the second vacuum processing chamber via the buffer chamber according to the substrate processing mode, the substrate is carried out of the vacuum process has been completed from the second vacuum processing chamber, the said substrate which issued該搬A substrate processing apparatus configured to collect one by one in a cassette in the first or second vacuum auxiliary chamber via a buffer chamber. 2. First and second vacuum preparatory chambers for independently accommodating cassettes, buffer chambers, first and second vacuum processing chambers for independently performing predetermined vacuum processing, the vacuum preparatory chamber and the In a substrate processing method using a substrate processing apparatus, comprising: a transfer unit that transfers the substrate between vacuum processing chambers. The transfer unit transfers a substrate taken out of a cassette in the first vacuum preliminary chamber to the substrate. The substrate is conveyed to the first vacuum processing chamber via the buffer chamber according to the processing mode, and the substrate on which the vacuum processing is completed is carried out of the first vacuum processing chamber, and the substrate carried out is carried out. Are collected one by one into the cassettes of the first and second vacuum spare chambers via the buffer chamber, and the substrates taken out one by one from the cassettes of the second vacuum spare chamber according to the substrate processing mode. the buffer chamber through Te Transported to the second vacuum processing chamber, and unloads the substrate after the vacuum processing from the second vacuum processing chamber, and transfers the unloaded substrate via the buffer chamber to the first or second vacuum processing chamber. A method of processing a substrate, characterized in that each one is collected in a cassette of the vacuum preliminary chamber.
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