JP2663492B2 - Rotary surface treatment equipment for substrates - Google Patents

Rotary surface treatment equipment for substrates

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JP2663492B2
JP2663492B2 JP63083298A JP8329888A JP2663492B2 JP 2663492 B2 JP2663492 B2 JP 2663492B2 JP 63083298 A JP63083298 A JP 63083298A JP 8329888 A JP8329888 A JP 8329888A JP 2663492 B2 JP2663492 B2 JP 2663492B2
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Description

【発明の詳細な説明】 <産業上の利用分野> 本発明は、半導体基板や液晶表示装置用のガラス基板
等のような各種の薄板状基板(以下、被処理基板と称す
る)の水洗後における表面乾燥処理などに用いる回転式
の表面処理装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION <Industrial Application Field> The present invention relates to a method for cleaning various thin plate-like substrates (hereinafter, referred to as substrates to be processed) such as a semiconductor substrate and a glass substrate for a liquid crystal display device after washing with water. The present invention relates to a rotary type surface treatment apparatus used for a surface drying treatment or the like.

<従来の技術> このような回転式表面処理装置として、例えば特開昭
60−59740号公報で開示されているように、遠心脱水式
の水切り乾燥装置が知られている。
<Prior Art> As such a rotary surface treatment apparatus, for example,
As disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-59740, a centrifugal dewatering type drainer / dryer is known.

この水切り乾燥装置の概略は、第6図および第7図に
示すように、ケーシング31内にモータ32によって縦軸心
で高速回転されるロータ33が設けられ、このロータ33
に、水洗処理された多数の被処理基板W群を適当間隔で
並列収納した複数個のキャリア34を被処理基板表面が上
下に並ぶ姿勢にして、ロータ回転中心の周りに装着固定
し、ロータ33を高速回転することで被処理基板表面の水
分を遠心分離し、かつ、ロータ33の下部に備えたファン
35によって、ケーシング31上部の吸気口36から取り入れ
た清浄空気もしくは不活性ガスをケーシング31周部の排
気口37へ強制排出することで、被処理基板表面の乾燥を
促進するとともに、被処理基板Wから離散した水分を排
気とともに速やかに排出して被処理基板Wに再付着する
のを防止するように構成されている。
As shown in FIGS. 6 and 7, a rotor 33 that is rotated at a high speed about a longitudinal axis by a motor 32 is provided in a casing 31. As shown in FIGS.
Next, a plurality of carriers 34 in which a large number of substrates to be processed W having been subjected to the water washing process are housed in parallel at appropriate intervals are mounted and fixed around the center of rotation of the rotor with the surfaces of the substrates to be processed arranged vertically. The centrifugal separation of the moisture on the surface of the substrate to be processed by rotating the
The forced exhaust of the clean air or the inert gas introduced from the intake port 36 on the upper part of the casing 31 to the exhaust port 37 on the peripheral part of the casing 31 facilitates the drying of the surface of the substrate to be processed and the substrate W This is configured so that the water separated from the substrate is quickly discharged together with the exhaust gas to prevent the water from re-adhering to the substrate W to be processed.

<発明が解決しようとする課題> しかしながら、上記従来装置は被処理基板が収納され
たキャリアをロータ回転中心から離れた個所に設置して
遠心脱水を行うものであるから、被処理基板自体にも相
当大きい遠心力が働くことになり、例えば第7図におい
てキャリア内面の収納溝に治められている被処理基板W
に作用する遠心力が被処理基板Wを収納溝の内奥側に食
い込むように働くことになる。
<Problems to be Solved by the Invention> However, since the above-described conventional apparatus performs the centrifugal dehydration by setting the carrier in which the substrate to be processed is stored at a position away from the center of rotation of the rotor, the substrate to be processed itself is also used. A considerably large centrifugal force acts, for example, in FIG. 7, the substrate W to be processed which is governed by the storage groove on the inner surface of the carrier.
Centrifugal force acts on the substrate W to penetrate the inner side of the storage groove.

特に、脱水開始時にロータ加速を急激に行うと被処理
基板と収納溝との係合部位に異常な応力が発生して、被
処理基板の欠損や破損が生じやすく、この傾向は大径の
被処理基板の場合に一層顕著である。
In particular, if the rotor is rapidly accelerated at the start of dehydration, abnormal stress is generated at the engagement portion between the substrate to be processed and the storage groove, and the substrate to be processed is likely to be damaged or damaged. This is more pronounced in the case of a processing substrate.

被処理基板の欠損や破損を回避しようとすれば、ロー
タの加速を緩慢に行う必要があり、そうするとロータの
起動立ち上がり時間を含めて処理時間が長くかかるとい
う別異の問題点を生じる。
In order to avoid loss or breakage of the substrate to be processed, it is necessary to accelerate the rotor slowly, which causes another problem that it takes a long processing time including the startup time of the rotor.

また、この従来装置では、対向配置されるキャリアに
それぞれ収納される被処理基板の枚数が異なると、ロー
タの回転中心に対する重量バランスが崩れてロータ自体
の振動原因となるので、被処理基板の装填にも注意を要
するという問題点がある。
In addition, in this conventional apparatus, if the number of substrates to be processed stored in the opposing carriers is different, the weight balance with respect to the center of rotation of the rotor is lost, causing the rotor itself to vibrate. Also requires attention.

また、従来装置ではキャリアを介して被処理基板をロ
ータに装填するものであるため、たとえ脱水乾燥処理以
前の処理工程がキャリアを用いないもの(キャリアレ
ス)となっていても、この乾燥工程では被処理基板をキ
ャリアに移し替えることが必要となって、そのための装
置手段および工程が複雑化し処理工程のキャリアレス化
の弊害になっていた。
Further, in the conventional apparatus, the substrate to be processed is loaded into the rotor via the carrier. Therefore, even if the processing step before the dehydration and drying processing does not use a carrier (carrier-less), the drying step is not performed in this drying step. It is necessary to transfer the substrate to be processed to a carrier, and the equipment and steps for that purpose have been complicated, resulting in an adverse effect of making the processing step carrierless.

因みに、前記キャリアレス処理は、耐薬品性のキャリ
アの不要化、処理工程間での被処理基板のキャリアへの
移し替え作業の省略、キャリア内での処理液の流動悪化
に伴う処理ムラ発生の回避などの理由により、最近の半
導体製造分野などで特に要望の高いものである。
Incidentally, the carrier-less treatment eliminates the need for a chemical-resistant carrier, eliminates the need to transfer a substrate to be processed to a carrier between processing steps, and causes processing unevenness due to deterioration in the flow of a processing solution in the carrier. Due to reasons such as avoidance, it is particularly desired in recent semiconductor manufacturing fields and the like.

本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであっ
て、被処理基板自体に作用する遠心力による欠損や破損
を防止するのに有効であるとともに、被処理基板装填時
の取り扱い性が良く、かつ、キャリアレス化に対応する
ことができる回転式の表面処理装置を提供することを主
たる目的としている。
The present invention has been made in view of such circumstances, and is effective in preventing loss or damage due to centrifugal force acting on a substrate to be processed itself, and has good handleability when loading the substrate to be processed. Another object of the present invention is to provide a rotary type surface treatment apparatus capable of coping with the need for a carrierless apparatus.

<課題を解決するための手段> 本発明は、上記目的を達成するために、次のような構
成をとる。
<Means for Solving the Problems> The present invention has the following configuration to achieve the above object.

すなわち、請求項1に記載の発明は、複数枚の被処理
基板をその下方外周縁で支持して対面並列状に立設保持
する基板保持杆(7)と、 基板上方外周縁を支持する支持位置と基板保持杆
(7)上への基板出入りを許す後退位置とに位置変更可
能な可動基板保持杆(10)と、 基板保持杆(7)および可動基板保持杆(10)を支持
して被処理基板群の重心近くを通る回転軸心周りで回転
可能な両軸支持構造の一対の回転軸(5)と、 上記基板保持杆(7)と可動基板保持杆(10)と回転
軸(5)とを備えるロータ(2)を収納し、上方に開閉
可能なカバー(17)を有するハウジング(1)と、 回転乾燥処理するハウジング(1)内の処理室からハ
ウジング(1)の側壁を貫通して処理室外へ導出された
一対の回転軸(5)を各々軸支する一対の軸受け(4)
と、 処理室外へ導出された一方の回転軸(5)に連動連結
するモータ(11)と、 処理室の上方に設けられたフィルタ付きの吸気口(1
8)と、 処理室に設けられ、減圧手段に接続する排気口(19)
と、 を備えたものである。
That is, according to the first aspect of the present invention, there is provided a substrate holding rod (7) for supporting a plurality of substrates to be processed at their lower outer peripheral edges and standing and holding them in a face-to-face parallel configuration, and a support for supporting the upper peripheral edges of the substrates. A movable board holding rod (10) whose position can be changed to a position and a retracted position allowing the board to enter and exit the board holding rod (7); and a board holding rod (7) and a movable board holding rod (10) which are supported. A pair of rotating shafts (5) of a biaxial support structure rotatable around a rotating axis passing near the center of gravity of the substrate group to be processed; the substrate holding rod (7); the movable substrate holding rod (10); And a housing (1) having a cover (17) openable and closable thereabove, and a side wall of the housing (1) from a processing chamber in the housing (1) for spin-drying. A pair of shafts each of which supports a pair of rotating shafts (5) penetrating out of the processing chamber. Only (4)
A motor (11) interlockingly connected to one of the rotating shafts (5) led out of the processing chamber; and a filter-equipped intake port (1) provided above the processing chamber.
8), and an exhaust port (19) provided in the processing chamber and connected to the decompression means
And

なお、基板の上方外周縁及び下方外周縁とは、回転停
止時における基板の上方及び下方の外周縁を指す。
The upper outer peripheral edge and the lower outer peripheral edge of the substrate refer to the upper and lower outer peripheral edges of the substrate when rotation is stopped.

また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の装
置において、前記可動基板保持杆(10)の基板押さえ面
を弾性材で構成したものである。
According to a second aspect of the present invention, in the device according to the first aspect, a substrate pressing surface of the movable substrate holding rod (10) is made of an elastic material.

また、請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の装
置において、前記可動基板保持杆(10)の基板押さえ面
を基板の外周縁に付勢する付勢手段(15)を備えたもの
である。
According to a third aspect of the present invention, in the apparatus according to the first aspect, there is provided an urging means (15) for urging the substrate pressing surface of the movable substrate holding rod (10) toward the outer peripheral edge of the substrate. Things.

また、請求項4に記載の発明は、請求項1に記載の装
置において、前記回転軸(5)の回転位相を検出する位
相検出手段(22),(23)を備えたものである。
According to a fourth aspect of the present invention, in the device according to the first aspect, phase detecting means (22) and (23) for detecting a rotational phase of the rotating shaft (5) are provided.

<作用> 請求項1に記載の発明によれば、基板保持杆(7)に
外周縁を支持されて回転される被処理基板群は、その重
心近くを通る軸心周りで両軸を支持されて回転するの
で、被処理基板自体に働く遠心力による反作用として、
被処理基板が基板保持杆(7)から受ける抗力は極めて
小さく、万一回転ムラが生じたり、急激に回転加速して
も、被処理基板の基板保持杆(7)との接触部位に異常
な応力が発生することはない。
<Operation> According to the first aspect of the present invention, a substrate group to be processed and rotated with the outer peripheral edge supported by the substrate holding rod (7) is supported on both axes around an axis passing near the center of gravity. As the reaction due to the centrifugal force acting on the substrate to be processed itself,
The reaction force received by the substrate holding rod (7) from the substrate holding rod (7) is extremely small, and even if rotation unevenness occurs or the rotation is rapidly accelerated, abnormalities occur in the contact portion of the substrate to be processed with the substrate holding rod (7). No stress is generated.

また、基板保持杆(7)に装填する被処理基板の枚
数、配列も回転振動を与える原因にならない。さらに、
上方に開閉可能なカバー(17)を有するハウジング
(1)内で、被処理基板が、その下方外周縁を基板保持
杆(7)で対面並列状に安定的に支持され、上方外周縁
を可動基板保持杆(10)で基板が出入りできるように位
置変位可能に支持されているので、同じく対面並列状の
基板群を左右一組のアームで一括挟持して吊り下げ移送
しながら各処理を施してゆくキャリアレスの処理ライン
に容易に導入することができる。
Also, the number and arrangement of the substrates to be processed loaded on the substrate holding rod (7) do not cause rotational vibration. further,
In the housing (1) having the cover (17) which can be opened and closed upward, the substrate to be processed is stably supported in a face-to-face parallel manner on the lower outer peripheral edge thereof by the substrate holding rod (7), and the upper outer peripheral edge is movable. Since the substrate is supported by the substrate holding rod (10) so that the substrate can be moved in and out so that the substrate can be moved in and out, the same group of substrates facing each other are held together by a pair of left and right arms, and each process is performed while suspended and transferred. It can be easily introduced into a carrier-less processing line.

また、基板の回転処理とともに、清浄空気または不活
性ガス等が、回転乾燥処理するハウジング(1)内の処
理室の上方に配置したフィルタ付きの吸気口(18)から
ハウジング(1)内(処理室内)に供給され、基板から
離散した水分ミストとともに処理室に配備された排気口
(19)から排出される。
Further, along with the rotation of the substrate, clean air or an inert gas or the like is supplied through a suction port (18) with a filter disposed above a processing chamber in the housing (1) to be rotated and dried. And discharged from the exhaust port (19) provided in the processing chamber together with the water mist separated from the substrate.

さらに、一対の回転軸(5)は処理室外へ導出されて
軸受け(4)でそれぞれ軸支されているので、両側の軸
受け部から発生するパーティクル等の処理室内への侵入
が阻止される。
Further, the pair of rotary shafts (5) are led out of the processing chamber and are supported by the bearings (4), respectively, so that particles or the like generated from bearing portions on both sides are prevented from entering the processing chamber.

請求項2に記載の発明によれば、下方外周縁を基板保
持杆(7)で支持された基板が、その上方外周縁を可動
基板保持杆(10)の弾性材で押さえられて支持されるの
で、対面並列状に支持された各基板のサイズに誤差があ
ったとしても、各基板は損傷を受けることなく確実に保
持される。
According to the second aspect of the present invention, the substrate whose lower outer peripheral edge is supported by the substrate holding rod (7) is supported while its upper outer peripheral edge is pressed by the elastic material of the movable substrate holding rod (10). Therefore, even if there is an error in the size of each substrate supported in the face-to-face parallel configuration, each substrate is securely held without being damaged.

請求項3に記載の発明によれば、下方外周縁を基板保
持杆(7)で支持された基板が、その上方外周縁を可動
基板保持杆(10)の付勢力で押さえられて支持されるの
で、各基板は確実に保持される。
According to the third aspect of the present invention, the substrate whose lower outer peripheral edge is supported by the substrate holding rod (7) is supported while its upper outer peripheral edge is pressed by the urging force of the movable substrate holding rod (10). Therefore, each substrate is securely held.

請求項4に記載の発明によれば、位相検出手段(2
2),(23)によって、ロータ(2)は基板の搬入、搬
出に適した所定の回転位相にセットされる。
According to the invention described in claim 4, the phase detection means (2
2) and (23), the rotor (2) is set to a predetermined rotation phase suitable for loading and unloading of the substrate.

<実施例> 以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。<Example> Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1実施例 第1図ないし第3図は本発明の第1実施例に係り、第
1図は装置全体の縦断側面図、第2図および第3図はそ
れぞれ第1図中のII−II線およびIII−III線での断面図
である。
First Embodiment FIGS. 1 to 3 relate to a first embodiment of the present invention, wherein FIG. 1 is a longitudinal sectional side view of the entire apparatus, and FIGS. 2 and 3 are II-II in FIG. FIG. 3 is a sectional view taken along line III-III.

この回転式表面処理装置は、基本的には、上部が開閉
自在な箱形に構成され、その内部に回転乾燥処理の処理
室が形成されたハウジング1、半導体基板のような被処
理基板Wを横向きに並列支持してハウジング1内で水平
な回転軸心P周りに回転するロータ2、ハウジング1の
一端側において前記ロータ2を駆動する駆動機構3とか
らなる。
This rotary surface treatment apparatus is basically configured in a box shape whose upper part is freely openable and closable, and includes a housing 1 in which a processing chamber for rotational drying processing is formed, and a substrate W to be processed such as a semiconductor substrate. The housing 2 includes a rotor 2 that is supported side by side in parallel and rotates around a horizontal rotation axis P in the housing 1, and a driving mechanism 3 that drives the rotor 2 at one end of the housing 1.

ロータ2は、ハウジング1両側に軸受4を介して同軸
心上に配備された一対の回転軸5と、各回転軸5の先端
にそれぞれ固定した大径のフライホイール6と、両フラ
イホイール6間にわたって架設固定された一対の基板保
持杆7と、各フライホイール6の外側面に支点8(第2
図参照)を中心に揺動自在に枢支連結したアーム9と、
両アーム9間にわたって架設固定された可動基板保持杆
10とから構成されている。また、前記駆動機構3はモー
タ11と、その出力を一方の回転軸5に伝えるベルト12と
からなっている。
The rotor 2 includes a pair of rotating shafts 5 disposed coaxially on both sides of the housing 1 via bearings 4, a large-diameter flywheel 6 fixed to the tip of each rotating shaft 5, and a space between the two flywheels 6. And a pair of board holding rods 7 erected and fixed on the outer surface of each flywheel 6 (second
Arm 9 which is pivotally connected around the center of the arm 9 so as to swing around
A movable board holding rod erected and fixed between both arms 9
Consists of 10 and 10. The drive mechanism 3 includes a motor 11 and a belt 12 that transmits the output of the motor 11 to one of the rotating shafts 5.

基板保持杆7の回転軸心P側の面には、被処理基板W
の外周縁を位置決め係入する係入溝13が一定ピッチで刻
設されるとともに、可動基板保持杆10にも同様な係入溝
14が形成されていて、これら基板保持杆7,10で被処理基
板Wの外周縁の3箇所を支持して、基板重心が回転軸心
P上に位置するところで保持するようになっている。
The surface of the substrate holding rod 7 on the rotation axis P side is
Engagement grooves 13 for positioning and engaging the outer peripheral edge of the movable substrate holding rod 10 are formed at a constant pitch.
The substrate holding rods 7 and 10 support three locations on the outer peripheral edge of the substrate W to be processed, and hold the substrate at a position where the center of gravity of the substrate is located on the rotation axis P.

この可動基板保持杆10は、基板保持杆7上に並列保持
された被処理基板Wを上方から支える支持位置と、第2
図中の仮想線で示すように基板保持杆7上に被処理基板
Wを出入れできる後退位置とに移動可能であり、かつ、
アーム9とフライホイール6にわたって取り付けられた
バネ15の張力で常時支持位置側に回動付勢されている。
また、ハウジング1に固定したエアーシリンダ16が前記
アーム9の基端側延長部に対向配置されていて、このエ
アーシリンダ16を伸長作動させてアーム9をバネ15に抗
して強制回動することによって、可動基板保持杆10を後
退位置にまで変位させるように構成されている。
The movable substrate holding rod 10 has a supporting position for supporting the processing target substrate W held in parallel on the substrate holding rod 7 from above,
As shown by the imaginary line in the figure, it is movable to a retreat position where the substrate W to be processed can be put in and out of the substrate holding rod 7, and
It is always urged to rotate toward the support position by the tension of a spring 15 attached over the arm 9 and the flywheel 6.
Further, an air cylinder 16 fixed to the housing 1 is disposed to face the base-side extension of the arm 9, and the air cylinder 16 is extended to forcibly rotate the arm 9 against the spring 15. Thus, the movable substrate holding rod 10 is configured to be displaced to the retracted position.

また、ハウジング1の上面には、エアーシリンダなど
の適宜駆動手段で開閉されるカバー17がロータ全長にわ
たって設けられている。なお、このカバー17はロータ作
動中に不用意に開かないようにインターロックされるよ
うになっている。
A cover 17 which is opened and closed by an appropriate driving means such as an air cylinder is provided on the upper surface of the housing 1 over the entire length of the rotor. The cover 17 is interlocked so as not to be opened carelessly during operation of the rotor.

また、ハウジング1の上部適当個所には、清浄空気ま
たは不活性ガスが流入するフィルタ付きの吸気口18が設
けられるとともに、ハウジング1の側部には減圧手段に
接続された排気口19が設けられ、また、ロータ2の下部
には排液口20が設けられている。
At an appropriate location on the top of the housing 1, an intake port 18 with a filter through which clean air or inert gas flows is provided, and at the side of the housing 1, an exhaust port 19 connected to a pressure reducing means is provided. A drain port 20 is provided below the rotor 2.

なお、フライホイール6は、重い方が慣性力が大きく
て安定して被処理基板を回転できて好ましいが、慣性力
を期待せずに単なるホイールであってもよい。また、フ
ィルタはカバー17の図示していない開口部に付設しても
よく、さらに、カバー17にのぞき窓を付設してもよい。
The flywheel 6 is preferably heavy as it has a large inertial force and can rotate the substrate to be processed stably, but may be a simple wheel without expecting an inertial force. Further, the filter may be provided at an opening (not shown) of the cover 17, and a viewing window may be provided at the cover 17.

次にこの装置の動作を説明する。 Next, the operation of this device will be described.

被処理基板Wは、この装置に供給される前に縦向きの
対面並列状態で基板搬送機構である左右一対の挟持アー
ム21(第3図参照)に挟持されて、例えば浸漬型表面処
理槽内に移され、所要の表面処理を行い、次に純水洗浄
処理を受けた後に、そのままこの装置の上部に吊り下げ
搬送されてくる。
The substrate W to be processed is sandwiched between a pair of left and right holding arms 21 (see FIG. 3) serving as a substrate transfer mechanism in a vertically facing face-to-face state before being supplied to the apparatus. After being subjected to a required surface treatment and then subjected to pure water cleaning treatment, it is suspended and conveyed above the apparatus as it is.

このとき、ハウジング1のカバー17は開放されている
とともに、ロータ2は基板保持杆7が回転軸心Pの下側
に位置する所の回転位相(以下、セット位相と称する)
にセットされ、かつ、可動基板保持杆10は後退位置に強
制移動されている。なお、ロータ2のセット位相検出
は、回転軸5の一端に付設したスリット付の円板22(第
1図参照)と、これに対応するフォトインタラプタ23と
を備えた位相検出手段によって行われる。また、セット
位相にあるロータ2は図示しないブレーキ装置またはロ
ック機構により固定され、基板出入れ中の不用意な回転
が防止されている。
At this time, the cover 17 of the housing 1 is opened, and the rotor 2 is rotated at a position where the substrate holding rod 7 is located below the rotation axis P (hereinafter, referred to as a set phase).
, And the movable substrate holding rod 10 is forcibly moved to the retracted position. The detection of the set phase of the rotor 2 is performed by a phase detecting means including a disk 22 with a slit provided at one end of the rotating shaft 5 (see FIG. 1) and a corresponding photo interrupter 23. In addition, the rotor 2 in the set phase is fixed by a brake device or a lock mechanism (not shown) to prevent accidental rotation while the substrate is being moved in and out.

このようなセット状態にあるロータ2の上方より挟持
アーム21で挟持された被処理基板Wが下降供給され、各
被処理基板Wが基板保持杆7の係入溝13にそれぞれ個別
に係入されると、挟持アーム21は挟持解除されたのち上
昇後退される。
The substrates W sandwiched by the clamping arms 21 are supplied downward from above the rotor 2 in such a set state, and each substrate W is individually engaged in the engagement groove 13 of the substrate holding rod 7. Then, the holding arm 21 is lifted and retreated after the holding is released.

次に、エアーシリンダ16が短縮作動されて可動基板保
持杆10がバネ付勢力で被処理基板W群を上方より押さえ
込むことにより、被処理基板W群は外周縁の3箇所から
の支持によって安定的に保持される。
Next, the air cylinder 16 is shortened, and the movable substrate holding rod 10 presses the substrate to be processed W group from above by the spring biasing force. Is held.

その後、ロータ2の固定が解除されるとともに、カバ
ー17が閉じてロックされた後、ハウジング1内を強制換
気した状態でロータ2が高速で回転駆動されることによ
り、被処理基板Wの表面に付着している水分が遠心除去
されるのである。
Thereafter, the rotor 2 is unlocked, the cover 17 is closed and locked, and then the rotor 2 is rotated at a high speed in a state where the inside of the housing 1 is forcibly ventilated. The adhering water is removed by centrifugation.

水切り乾燥が完了すると、再びロータ2をセット位相
で固定し、可動基板保持杆10を後退させたのち、挟持ア
ーム21によって処理済み基板Wを取り出し、続いて新し
い被処理基板Wの装填を行う。
When the draining and drying are completed, the rotor 2 is fixed in the set phase again, the movable substrate holding rod 10 is retracted, the processed substrate W is taken out by the holding arm 21, and subsequently, a new substrate to be processed W is loaded.

挟持アーム21によって、本装置から取り出された処理
済み基板Wは、図示していない搬送専用キャリアに移し
替えられ、この搬送専用キャリアによって次の所要の工
程へ搬送される。
The processed substrate W taken out of the apparatus is transferred by the holding arm 21 to a carrier dedicated to transport (not shown), and transported to the next required step by the carrier dedicated to transport.

第2実施例 第4図は本発明の第2実施例に係る縦断面図を示して
いる。
Second Embodiment FIG. 4 is a longitudinal sectional view according to a second embodiment of the present invention.

この実施例においては、ハウジング1の内部にロータ
2を囲むように多数の整流板24が適当角度をもってロー
タの軸心と平行に架設されている。この整流板24によっ
て被処理基板Wから遠心分離されて離散した水分ミスト
がハウジング1内ではね返って被処理基板Wに再付着す
るのを防止することができる。
In this embodiment, a number of rectifying plates 24 are installed inside the housing 1 so as to surround the rotor 2 in parallel with the axis of the rotor at an appropriate angle. This rectifying plate 24 can prevent the water mist separated by centrifugation from the substrate W to be processed from repelling inside the housing 1 and reattaching to the substrate W to be processed.

なお、前記整流板24群のうちロータ2の上方にあるも
のはカバー17の内面に取り付け付設した縦板状のステー
25に支持され、カバー17と一体に開放される。また、他
のものはハウジング1の内壁面に設けられた縦板状のス
テー26に支持される。
The group of straightening plates 24 above the rotor 2 is a vertical plate-shaped stay attached to the inner surface of the cover 17.
It is supported by 25 and is opened integrally with the cover 17. The other components are supported by a vertical plate-like stay 26 provided on the inner wall surface of the housing 1.

整流板24は第4図の形状に限定されず、例えばパンチ
プレートを配設してもよい。
The shape of the current plate 24 is not limited to the shape shown in FIG. 4, and for example, a punch plate may be provided.

第3実施例 第5図は、本発明を、例えば液晶表示装置用のガラス
基板またはフォトマスクなどの角形の被処理基板Wの処
理に適用するための実施例の要部が示されている。この
実施例では、被処理基板Wは2本の可動基板保持杆10に
よって上方から支持されている。他の構成については、
第1実施例と同様であるから、ここでの説明は省略す
る。
Third Embodiment FIG. 5 shows a main part of an embodiment for applying the present invention to the processing of a square substrate W to be processed such as a glass substrate for a liquid crystal display device or a photomask. In this embodiment, the substrate W to be processed is supported from above by two movable substrate holding rods 10. For other configurations,
Since it is the same as the first embodiment, the description here is omitted.

その他の実施例 本発明は、次のような構成のものも実施例として含
む。
Other Embodiments The present invention includes the following configuration as an embodiment.

(1) 可動基板保持杆10の基板押え面をシリコーンゴ
ムなどの弾性材で構成した場合には、係入溝14は必ずし
も必要でない。
(1) When the substrate holding surface of the movable substrate holding rod 10 is made of an elastic material such as silicone rubber, the engaging groove 14 is not always necessary.

(2) ハウジング1の内面にスポンジ状の水滴吸収部
材を貼着して、この部材の衝撃吸収作用によって、飛散
ミストのはね返りを防止することも有効である。
(2) It is also effective to attach a sponge-like water droplet absorbing member to the inner surface of the housing 1 and prevent the splash mist from rebounding by the shock absorbing action of this member.

(3) ロータ2に保持された被処理基板Wに純水を散
布供給するノズルをハウジング1内に設けて、回転中の
基板表面を洗浄する形態で実施することもできる。
(3) A nozzle for spraying pure water to the substrate W to be processed held by the rotor 2 may be provided in the housing 1 to clean the rotating substrate surface.

(4) 純水噴出ノズルを基板保持杆7の各係入溝13の
間に設けるとともに、このノズルに連通する導水孔を回
転軸5,フライホイール6,基板保持杆7の内部に形成し
て、被処理基板Wの主表面を洗浄することも可能であ
る。
(4) A pure water jet nozzle is provided between the engagement grooves 13 of the substrate holding rod 7, and a water guide hole communicating with the nozzle is formed inside the rotating shaft 5, the flywheel 6, and the substrate holding rod 7. It is also possible to clean the main surface of the substrate W to be processed.

(5) 第1実施例において、セット位相におけるロー
タ2の基板保持杆7間で昇降可能な中継用の支持杆をハ
ウジング1の底部に設けるとともに、この支持杆の上面
に基板保持杆7の係入溝13と同一ピッチの基板収納溝を
形成し、挟持アーム21と基板保持杆7との間での基板受
け渡しの位置決め中継をこの支持杆で行わせることも可
能である。
(5) In the first embodiment, a relay support rod that can be moved up and down between the substrate holding rods 7 of the rotor 2 in the set phase is provided at the bottom of the housing 1, and the board holding rod 7 is connected to the upper surface of the support rod. It is also possible to form a substrate accommodating groove having the same pitch as the entrance groove 13 and to use the support rod to perform positioning relay of substrate transfer between the holding arm 21 and the substrate holding rod 7.

<発明の効果> 請求項1に記載の発明によれば、次の効果が発揮され
る。
<Effects of the Invention> According to the invention described in claim 1, the following effects are exhibited.

(1) 被処理基板群をその重心近くを中心に両軸を支
持して回転させるので、基板自体に作用する遠心力がバ
ランスして、遠心力による反作用として被処理基板群が
基板保持杆(7)や可動基板保持杆(10)から受ける抗
力は極めて小さくなるので、保持杆(7),(10)の支
持部位での異常応力による被処理基板の欠損や破損が生
じない。また、回転加速を急激に行っても回転軸心がブ
レないので、破損のおそれがなく、したがって、起動時
に定格回転までの移行時間を短縮して処理時間全体を短
縮するのに有効となる。
(1) Since the substrate group to be processed is rotated while supporting both axes around the center of gravity of the substrate, the centrifugal force acting on the substrate itself is balanced, and the substrate group is processed by the centrifugal force and the substrate holding rod ( Since the reaction force received from the movable substrate holding rod (7) and the movable substrate holding rod (10) is extremely small, the substrate to be processed is not damaged or damaged due to abnormal stress at the supporting portions of the holding rods (7) and (10). Further, even if the rotational acceleration is rapidly performed, the rotational axis is not shaken, so that there is no possibility of breakage. Therefore, it is effective to reduce the transition time to the rated rotation at the time of starting and to shorten the entire processing time.

(2) ロータ(2)に装填する基板の配列、枚数が異
なっても、回転軸心周りの回転バランスに変化がなく、
回転軸心の周囲に配置装填する従来装置のように、装填
時のアンバランスによる異常振動の発生およびそれによ
る基板の破損などの問題が生じないので、処理品質が向
上する。
(2) Even if the arrangement and the number of substrates loaded on the rotor (2) are different, there is no change in the rotational balance around the rotation axis.
Unlike the conventional apparatus which is arranged and mounted around the rotation axis, there is no problem such as occurrence of abnormal vibration due to imbalance at the time of mounting and breakage of the substrate due thereto, thereby improving the processing quality.

(3) キャリアを用いる必要がないので、従来の回転
式表面処理装置のようにキャリアを90゜回転させる機構
が不要になり、装置の構造が簡易になり、また、キャリ
アレスの処理ラインに本装置を導入することで、ライン
性能を最大限に発揮させることが可能となる。
(3) Since there is no need to use a carrier, there is no need for a mechanism for rotating the carrier by 90 ° unlike a conventional rotary type surface treatment apparatus, which simplifies the structure of the apparatus and also allows the present invention to be applied to a carrier-less processing line. By introducing the equipment, it is possible to maximize the line performance.

(4) ハウジング(1)のカバー(17)を開放すると
ともに、可動基板保持杆(10)を後退位置に変位させる
ことにより、基板保持杆(7)上への被処理基板群の移
載や基板群の取り出しを、ロータ(2)を取り外すこと
なくハウジング(1)の上方から容易に行うことができ
る。
(4) The cover (17) of the housing (1) is opened, and the movable substrate holding rod (10) is displaced to the retracted position to transfer the group of substrates to be processed onto the substrate holding rod (7). The removal of the substrate group can be easily performed from above the housing (1) without removing the rotor (2).

(5) 処理室の上方に設けた吸気口(18)から取り入
れた清浄空気または不活性ガス等が、高速回転する基板
へ上方から供給されることにより、基板から離散した水
分ミストが基板へ再付着するのを防止することができ、
処理時間が短縮し処理品質が向上する。
(5) Clean air or an inert gas introduced from an intake port (18) provided above the processing chamber is supplied from above to a high-speed rotating substrate, so that water mist separated from the substrate is re-emitted to the substrate. Can be prevented from sticking,
Processing time is shortened and processing quality is improved.

(6) パーティクルの発生源になり易い回転軸(5)
の軸受け(4)部分は処理室外に設けられているので、
パーティクル等の処理室内への侵入が阻止され、基板の
汚染を極力少なくすることができる。
(6) Rotation axis that is likely to be a source of particles (5)
Since the bearing (4) of is provided outside the processing chamber,
Particles and the like are prevented from entering the processing chamber, and contamination of the substrate can be reduced as much as possible.

請求項2に記載の発明によれば、サイズに誤差がある
基板群でも、基板保持杆(7)と、可動基板保持杆(1
0)の弾性面とで各基板が確実に保持されるので、安定
した回転処理が行え、基板の破損などの問題が生じるこ
となく、処理品質が向上する。
According to the second aspect of the present invention, even in a group of substrates having an error in size, the substrate holding rod (7) and the movable substrate holding rod (1
Since each substrate is securely held by the elastic surface of (0), stable rotation processing can be performed, and processing quality is improved without problems such as breakage of the substrate.

請求項3に記載の発明によれば、基板保持杆(7)と
可動基板保持杆(10)の付勢力とで各基板が確実に保持
されるので、安定した回転処理が行え、基板の破損など
の問題が生じることなく、処理品質が向上する。
According to the third aspect of the present invention, since each substrate is securely held by the urging force of the substrate holding rod (7) and the movable substrate holding rod (10), stable rotation processing can be performed, and the substrate is damaged. Thus, the processing quality is improved without problems such as the above.

請求項4に記載の発明によれば、位相検出手段(2
2),(23)によって回転軸(5)の回転位相が検出さ
れ、ロータ(2)が所定の回転位相にセットされるの
で、基板の本装置への搬入搬出を自動化しやすく、キャ
リアレスの処理ラインを本装置に導入することができ
る。
According to the invention described in claim 4, the phase detection means (2
The rotation phase of the rotating shaft (5) is detected by 2) and (23) and the rotor (2) is set to a predetermined rotation phase. A processing line can be introduced into the apparatus.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図ないし第3図は本発明の第1実施例に係り、第1
図は全体の縦断側面図、第2図および第3図はそれぞれ
第1図におけるII−II線断面図およびIII−III線断面図
である。第4図は第2実施例の縦断正面図、また第5図
は第3実施例の要部正面図である。 第6図および第7図は従来例に係り、第6図は概略縦断
面図、第7図は概略平面図である。 3……駆動機構 5……回転軸 7……基板保持杆 10……可動基板保持杆 13……係入溝 P……回転軸心 W……被処理基板
1 to 3 relate to a first embodiment of the present invention.
The drawing is a longitudinal side view of the whole, and FIGS. 2 and 3 are sectional views taken along lines II-II and III-III in FIG. 1, respectively. FIG. 4 is a vertical sectional front view of the second embodiment, and FIG. 5 is a main part front view of the third embodiment. 6 and 7 relate to a conventional example, FIG. 6 is a schematic longitudinal sectional view, and FIG. 7 is a schematic plan view. 3 ... Driving mechanism 5 ... Rotating shaft 7 ... Substrate holding rod 10 ... Movable substrate holding rod 13 ... Engaging groove P ... Rotating axis W ... Substrate to be processed

フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭58−9325(JP,A) 特開 昭59−115967(JP,A) 実開 昭57−124145(JP,U) 実開 昭59−54925(JP,U)Continuation of the front page (56) References JP-A-58-9325 (JP, A) JP-A-59-115967 (JP, A) Japanese Utility Model Application No. 57-124145 (JP, U) Japanese Utility Model Application No. 59-54925 (JP) , U)

Claims (4)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】複数枚の被処理基板をその下方外周縁で支
持して対面並列状に立設保持する基板保持杆(7)と、 基板上方外周縁を支持する支持位置と基板保持杆(7)
上への基板出入りを許す後退位置とに位置変更可能な可
動基板保持杆(10)と、 基板保持杆(7)および可動基板保持杆(10)を支持し
て被処理基板群の重心近くを通る回転軸心周りで回転可
能な両軸支持構造の一対の回転軸(5)と、 上記基板保持杆(7)と可動基板保持杆(10)と回転軸
(5)とを備えるロータ(2)を収納し、上方に開閉可
能なカバー(17)を有するハウジング(1)と、 回転乾燥処理するハウジング(1)内の処理室からハウ
ジング(1)の側壁を貫通して処理室外へ導出された一
対の回転軸(5)を各々軸支する一対の軸受け(4)
と、 処理室外へ導出された一方の回転軸(5)に連動連結す
るモータ(11)と、 処理室の上方に設けられたフィルタ付きの吸気口(18)
と、 処理室に設けられ、減圧手段に接続する排気口(19)
と、 を備えたことを特徴とする基板の回転式表面処理装置。
1. A substrate holding rod (7) for supporting a plurality of substrates to be processed on their lower outer peripheral edges and standing and holding them in a side-by-side arrangement, a supporting position for supporting an upper outer peripheral edge of the substrates, and a substrate holding rod (7). 7)
A movable substrate holding rod (10) whose position can be changed to a retreat position allowing the substrate to move in and out; and supporting the substrate holding rod (7) and the movable substrate holding rod (10) to move the vicinity of the center of gravity of the substrate group to be processed. A rotor (2) including a pair of rotating shafts (5) of a double shaft supporting structure rotatable around a rotating shaft passing therethrough, the substrate holding rod (7), the movable substrate holding rod (10), and the rotating shaft (5); ), And a housing (1) having a cover (17) which can be opened and closed at the top, and a processing chamber in the housing (1) for spin-drying is led out of the processing chamber through a side wall of the housing (1). A pair of bearings (4) that respectively support the pair of rotating shafts (5).
A motor (11) interlockingly connected to one of the rotating shafts (5) led out of the processing chamber; and a filter-inlet (18) provided above the processing chamber.
And an exhaust port provided in the processing chamber and connected to the decompression means (19)
A rotary surface treatment apparatus for a substrate, comprising:
【請求項2】請求項1に記載の装置において、前記可動
基板保持杆(10)の基板押さえ面を弾性材で構成した基
板の回転式表面処理装置。
2. An apparatus according to claim 1, wherein said substrate holding surface of said movable substrate holding rod is made of an elastic material.
【請求項3】請求項1に記載の装置において、前記可動
基板保持杆(10)の基板押さえ面を基板の外周縁に付勢
する付勢手段(15)を備えた基板の回転式表面処理装
置。
3. An apparatus according to claim 1, further comprising: urging means (15) for urging a substrate pressing surface of said movable substrate holding rod (10) to an outer peripheral edge of said substrate. apparatus.
【請求項4】請求項1に記載の装置において、前記回転
軸(5)の回転位相を検出する位相検出手段(22),
(23)を備えた基板の回転式表面処理装置。
4. An apparatus according to claim 1, wherein said phase detecting means detects a rotational phase of said rotary shaft.
A rotary surface treatment apparatus for a substrate comprising (23).
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