JP2648039B2 - 電圧マージンテスト回路 - Google Patents
電圧マージンテスト回路Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、安定化電源の電圧マー
ジンテスト回路に関し、特に出力電圧を設定値に対し複
数のＨＩＧＨ電圧及びＬＯＷ電圧に容易に変化させて電
圧マージンをテストする電圧マージンテスト回路に関す
る。
ジンテスト回路に関し、特に出力電圧を設定値に対し複
数のＨＩＧＨ電圧及びＬＯＷ電圧に容易に変化させて電
圧マージンをテストする電圧マージンテスト回路に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来の電圧マージンテスト回路について
図面を参照して説明する。
図面を参照して説明する。
【０００３】図３は従来例の電圧マージンテスト回路の
回路図、図３（ａ）は従来例のマージンテスト回路の電
圧検出部の回路図、図３（ｂ）は従来例のマージンテス
ト回路の信号入力部の回路図である。
回路図、図３（ａ）は従来例のマージンテスト回路の電
圧検出部の回路図、図３（ｂ）は従来例のマージンテス
ト回路の信号入力部の回路図である。
【０００４】図３に示すように、従来の電圧マージンテ
スト回路は、安定化電源の出力電圧をセンスする入力端
子１，２と、フォトカプラＰＳ１，ＰＳ３，ＰＳ５と、
抵抗Ｒ１〜Ｒ９とコンデンサＣと、可変シャントレギュ
レータＺと、電圧マージンテスト信号入力端子７，８
と、スイッチングレギュレータコントロールＩＣへの出
力端子３，４とで構成されている。
スト回路は、安定化電源の出力電圧をセンスする入力端
子１，２と、フォトカプラＰＳ１，ＰＳ３，ＰＳ５と、
抵抗Ｒ１〜Ｒ９とコンデンサＣと、可変シャントレギュ
レータＺと、電圧マージンテスト信号入力端子７，８
と、スイッチングレギュレータコントロールＩＣへの出
力端子３，４とで構成されている。
【０００５】ここで、 ＰＳ３ ＯＦＦ時のＲ１２の抵抗値はＲ１２OFF ＝Ｒ２ （１） ＰＳ３ ＯＮ時のＲ１２の抵抗値は Ｒ１２ON ＝Ｒ１Ｒ２／Ｒ１＋Ｒ２＜Ｒ ２ （２） ＰＳ５ ＯＦＦ時のＲ１３の抵抗値はＲ１３OFF ＝Ｒ５ （３） ＰＳ５ ＯＮ時のＲ１３の抵抗値は Ｒ１３ON ＝Ｒ５Ｒ６／Ｒ５＋Ｒ６＜Ｒ ５ （４） となる。
【０００６】また、 （１＋Ｒ１２OFF ／Ｒ１３ON）・ＶREF ＞ＶOUT （端子１，２間に入力される 電圧）…ここで、ＶREF は一定 （５） （１＋Ｒ１２ON／Ｒ１３OFF ）・ＶREF ＜ＶOUT （端子１，２間に入力される 電圧）…ここで、ＶREF は一定 （６） となるように、Ｒ１，Ｒ２，Ｒ５，Ｒ６を選択する。
【０００７】次に、ＨＩＧＨ電圧マージンテストを行う
場合と、ＬＯＷ電圧マージンテストを行う場合について
図２を参照して動作を説明する。 （Ａ）ＨＩＧＨ電圧マージンテスト 入力端子７にＴＴＬレベルの“Ｈ”を、入力端子８にＴ
ＴＬレベルの“Ｌ”を入力すると、フォトカプラＰＳ３
は、入力ダイオードに電流が流れないためＯＦＦになっ
ている。フォトカプラＰＳ５は、抵抗Ｒ９を通して入力
ダイオードに電流が流れるためＯＮになる。ＰＳ５だけ
がＯＮになると、Ｒ１３の抵抗値は（４）式の値とな
り、（５）式を満たすようになる。次に、ＩK ，ＩFが
減少し、ＩC が減少する。次に、Ｆｅｅｄ Ｂａｃｋ端
子電圧４が下り、ＯＮデューティが増加する。ここで、
ＨＩＧＨマージン電圧を一例として＋５％になるように
Ｒ１，Ｒ２，Ｒ５，Ｒ６を選択することが可能なので、
この場合＋５％のＨＩＧＨマージン電圧となる。 （Ｂ）ＬＯＷ電圧マージンテスト 入力端子７にＴＴＬレベルの“Ｌ”を、入力端子８にＴ
ＴＬレベルの“Ｈ”を入力すると、フォトカプラＰＳ３
は、抵抗Ｒ８を通して入力ダイオードに電流が流れるた
めＯＮになる。フォトカプラＰＳ５は、入力ダイオード
に電流が流れないためＯＦＦになっている。ＰＳ３だけ
がＯＮになると、Ｒ１２の抵抗値は（２）式の値とな
り、（６）式を満たすようになる。次に、ＩK ，ＩFが
増加し、ＩC が増加する。次に、Ｆｅｅｄ Ｂａｃｋ端
子電圧４が上り、ＯＮデューティが減少する。ここで、
ＬＯＷマージン電圧を一例として−５％になるようにＲ
１，Ｒ２，Ｒ５，Ｒ６を選択することが可能なので、こ
の場合−５％のＬＯＷマージン電圧となる。
場合と、ＬＯＷ電圧マージンテストを行う場合について
図２を参照して動作を説明する。 （Ａ）ＨＩＧＨ電圧マージンテスト 入力端子７にＴＴＬレベルの“Ｈ”を、入力端子８にＴ
ＴＬレベルの“Ｌ”を入力すると、フォトカプラＰＳ３
は、入力ダイオードに電流が流れないためＯＦＦになっ
ている。フォトカプラＰＳ５は、抵抗Ｒ９を通して入力
ダイオードに電流が流れるためＯＮになる。ＰＳ５だけ
がＯＮになると、Ｒ１３の抵抗値は（４）式の値とな
り、（５）式を満たすようになる。次に、ＩK ，ＩFが
減少し、ＩC が減少する。次に、Ｆｅｅｄ Ｂａｃｋ端
子電圧４が下り、ＯＮデューティが増加する。ここで、
ＨＩＧＨマージン電圧を一例として＋５％になるように
Ｒ１，Ｒ２，Ｒ５，Ｒ６を選択することが可能なので、
この場合＋５％のＨＩＧＨマージン電圧となる。 （Ｂ）ＬＯＷ電圧マージンテスト 入力端子７にＴＴＬレベルの“Ｌ”を、入力端子８にＴ
ＴＬレベルの“Ｈ”を入力すると、フォトカプラＰＳ３
は、抵抗Ｒ８を通して入力ダイオードに電流が流れるた
めＯＮになる。フォトカプラＰＳ５は、入力ダイオード
に電流が流れないためＯＦＦになっている。ＰＳ３だけ
がＯＮになると、Ｒ１２の抵抗値は（２）式の値とな
り、（６）式を満たすようになる。次に、ＩK ，ＩFが
増加し、ＩC が増加する。次に、Ｆｅｅｄ Ｂａｃｋ端
子電圧４が上り、ＯＮデューティが減少する。ここで、
ＬＯＷマージン電圧を一例として−５％になるようにＲ
１，Ｒ２，Ｒ５，Ｒ６を選択することが可能なので、こ
の場合−５％のＬＯＷマージン電圧となる。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上述したように従来の
電圧マージンテスト回路は、ＨＩＧＨマージン電圧が一
例として＋５％の一種類、ＬＯＷマージン電圧が一例と
して−５％の一種類のみしか変化させることができな
い。
電圧マージンテスト回路は、ＨＩＧＨマージン電圧が一
例として＋５％の一種類、ＬＯＷマージン電圧が一例と
して−５％の一種類のみしか変化させることができな
い。
【０００９】従って、論理ＰＫＧ等のＨＩＧＨ電圧及び
ＬＯＷ電圧に対する動作限界を調べるための評価（シュ
ムカーブ測定）を行うことができないという欠点があ
る。
ＬＯＷ電圧に対する動作限界を調べるための評価（シュ
ムカーブ測定）を行うことができないという欠点があ
る。
【００１０】本発明の目的は、安定化電源の電圧マージ
ンテスト回路の合成抵抗値を信号により容易に何種類に
も変化させ、出力電圧を設定値に対し、±１％，±２
％，±３％，・・・というように複数のＨＩＧＨ電圧及
びＬＯＷ電圧に容易に変化させることにより、上記の欠
点を解消し、複数のＨＩＧＨマージン電圧、ＬＯＷマー
ジン電圧を発生させることができ、論理ＰＧＫ等のＨＩ
ＧＨ電圧及びＬＯＷ電圧に対する動作限界を調べるため
の評価（シュムカーブ測定）を行うことができる電圧マ
ージンテスト回路を提供することにある。
ンテスト回路の合成抵抗値を信号により容易に何種類に
も変化させ、出力電圧を設定値に対し、±１％，±２
％，±３％，・・・というように複数のＨＩＧＨ電圧及
びＬＯＷ電圧に容易に変化させることにより、上記の欠
点を解消し、複数のＨＩＧＨマージン電圧、ＬＯＷマー
ジン電圧を発生させることができ、論理ＰＧＫ等のＨＩ
ＧＨ電圧及びＬＯＷ電圧に対する動作限界を調べるため
の評価（シュムカーブ測定）を行うことができる電圧マ
ージンテスト回路を提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】本発明の電圧マージンテ
スト回路は、安定化電源の出力電圧の正側をセンスする
第一の入力端子と、第一の入力端子に一端を接続した第
一の抵抗と、第一の抵抗の他端に開閉制御可能な第一の
スイッチ回路を直列に接続した回路を並列に複数備えた
第一の合成抵抗変換回路と、第一の入力端子に一端を接
続した第二の抵抗と、第二の抵抗の一端に入力ダイオー
ドのアノードを接続したフォトカプラと、フォトカプラ
の入力ダイオードのアノードに一端を接続した第三の抵
抗と、第三の抵抗の他端とフォトカプラの入力ダイオー
ドのカソードに一端を接続した第四の抵抗と、第一の合
成抵抗変換回路の第一のスイッチ回路の他端に一端を接
続した開閉制御可能な第二のスイッチ回路と、第四の抵
抗の他端に一端を接続したコンデンサと、コンデンサの
一端にカソードを接続した可変シャントレギュレータ
と、コンデンサの他端と可変シャントレギュレータのリ
ファレンスと、第二の抵抗の他端と第二のスイッチ回路
の他端に一端を接続した第五の抵抗と、第二のスイッチ
回路の他端に一端を接続した第六の抵抗と、第六の抵抗
の他端に開閉制御可能な第三のスイッチ回路を直列に接
続した回路を並列に複数備えた第二の合成抵抗変換回路
と、第二の合成抵抗変換回路の第三のスイッチ回路の他
端に一端を接続した開閉制御可能な第四のスイッチ回路
と、第四のスイッチ回路の他端と第五の抵抗の他端と可
変シャントレギュレータのアノードを接続した安定化電
源の出力電圧の負側をセンスする第二の入力端子と、フ
ォトカプラの出力トランジスタのコレクタに接続したス
イッチングレギュレータコントロールＩＣのＶREF 端子
へ出力する第一の出力端子と、一端をＳＧに接続し他端
を第一のフォトカプラの出力トランジスタのエミッタに
接続した第七の抵抗と、第七の抵抗の他端に接続したス
イッチングレギュレータコントロールＩＣのＦｅｅｄＢ
ａｃｋ端子へ出力する第二の出力端子とから構成されて
いる。
スト回路は、安定化電源の出力電圧の正側をセンスする
第一の入力端子と、第一の入力端子に一端を接続した第
一の抵抗と、第一の抵抗の他端に開閉制御可能な第一の
スイッチ回路を直列に接続した回路を並列に複数備えた
第一の合成抵抗変換回路と、第一の入力端子に一端を接
続した第二の抵抗と、第二の抵抗の一端に入力ダイオー
ドのアノードを接続したフォトカプラと、フォトカプラ
の入力ダイオードのアノードに一端を接続した第三の抵
抗と、第三の抵抗の他端とフォトカプラの入力ダイオー
ドのカソードに一端を接続した第四の抵抗と、第一の合
成抵抗変換回路の第一のスイッチ回路の他端に一端を接
続した開閉制御可能な第二のスイッチ回路と、第四の抵
抗の他端に一端を接続したコンデンサと、コンデンサの
一端にカソードを接続した可変シャントレギュレータ
と、コンデンサの他端と可変シャントレギュレータのリ
ファレンスと、第二の抵抗の他端と第二のスイッチ回路
の他端に一端を接続した第五の抵抗と、第二のスイッチ
回路の他端に一端を接続した第六の抵抗と、第六の抵抗
の他端に開閉制御可能な第三のスイッチ回路を直列に接
続した回路を並列に複数備えた第二の合成抵抗変換回路
と、第二の合成抵抗変換回路の第三のスイッチ回路の他
端に一端を接続した開閉制御可能な第四のスイッチ回路
と、第四のスイッチ回路の他端と第五の抵抗の他端と可
変シャントレギュレータのアノードを接続した安定化電
源の出力電圧の負側をセンスする第二の入力端子と、フ
ォトカプラの出力トランジスタのコレクタに接続したス
イッチングレギュレータコントロールＩＣのＶREF 端子
へ出力する第一の出力端子と、一端をＳＧに接続し他端
を第一のフォトカプラの出力トランジスタのエミッタに
接続した第七の抵抗と、第七の抵抗の他端に接続したス
イッチングレギュレータコントロールＩＣのＦｅｅｄＢ
ａｃｋ端子へ出力する第二の出力端子とから構成されて
いる。
【００１２】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
て説明する。
【００１３】図１は本発明の一実施例のマージンテスト
回路の回路図、図１（ａ）は本実施例のマージンテスト
回路の電圧検出部の回路図、図１（ｂ）は本実施例のマ
ージンテスト回路の信号入力部の回路図、図２は本発明
の一実施例のマージンテスト回路のデコーダ部の回路図
である。
回路の回路図、図１（ａ）は本実施例のマージンテスト
回路の電圧検出部の回路図、図１（ｂ）は本実施例のマ
ージンテスト回路の信号入力部の回路図、図２は本発明
の一実施例のマージンテスト回路のデコーダ部の回路図
である。
【００１４】図１、図２において、本実施例のマージン
テスト回路は、安定化電源の出力電圧をセンスする入力
端子１，２と、スイッチングレギュレータコントロール
ＩＣへの出力端子３，４と、電圧マージンテスト信号入
力端子７，８と、電圧マージンテスト変動幅（±１％，
±２％，±３％，・・・，±ｎ％）を決める信号入力端
子９−１〜９−ｍと、フォトカプラＰＳ１，ＰＳ２−１
〜ＰＳ２−ｎ，ＰＳ３，ＰＳ４−１〜ＰＳ４−ｎ，ＰＳ
５と、抵抗Ｒ１−１〜Ｒ１−ｎ，Ｒ２〜Ｒ５，Ｒ６−１
〜Ｒ６−ｎ，Ｒ７〜Ｒ９，Ｒ１０−１〜Ｒ１０−ｎ，Ｒ
１１−１〜Ｒ１１−ｎと、コンデンサＣと、可変シャン
トレーギュレータＺと、デコーダ１０とから構成され
る。
テスト回路は、安定化電源の出力電圧をセンスする入力
端子１，２と、スイッチングレギュレータコントロール
ＩＣへの出力端子３，４と、電圧マージンテスト信号入
力端子７，８と、電圧マージンテスト変動幅（±１％，
±２％，±３％，・・・，±ｎ％）を決める信号入力端
子９−１〜９−ｍと、フォトカプラＰＳ１，ＰＳ２−１
〜ＰＳ２−ｎ，ＰＳ３，ＰＳ４−１〜ＰＳ４−ｎ，ＰＳ
５と、抵抗Ｒ１−１〜Ｒ１−ｎ，Ｒ２〜Ｒ５，Ｒ６−１
〜Ｒ６−ｎ，Ｒ７〜Ｒ９，Ｒ１０−１〜Ｒ１０−ｎ，Ｒ
１１−１〜Ｒ１１−ｎと、コンデンサＣと、可変シャン
トレーギュレータＺと、デコーダ１０とから構成され
る。
【００１５】ここで、 ＰＳ３ ＯＦＦ時のＲ１２の抵抗値はＲ１２OFF ＝Ｒ２ （１） ＰＳ３ ＯＮ時のＲ１２の抵抗値は Ｒ１２ON ＝（Ｒ１−Ｘ）Ｒ２／（Ｒ１ −Ｘ）＋Ｒ２＜Ｒ２ （２） Ｒ１−ＸとはＲ１−１〜Ｒ１−ｎのいずれかの一つを示す。
【００１６】 ＰＳ５ ＯＦＦ時のＲ１３の抵抗値はＲ１３OFF ＝Ｒ５ （３） ＰＳ５ ＯＮ時のＲ１３の抵抗値は Ｒ１３ON ＝（Ｒ６−Ｘ）Ｒ５／（Ｒ６ −Ｘ）＋Ｒ５＜Ｒ５ （４） Ｒ６−ＸとはＲ６−１〜Ｒ６−ｎのいずれかの一つを示す。
【００１７】となる。
【００１８】また、 （１＋Ｒ１２OFF ／Ｒ１３ON）・ＶREF ＞ＶOUT （端子１，２間に入力される 電圧）…ここで、ＶREF は一定 （５） （１＋Ｒ１２ON／Ｒ１３OFF ）・ＶREF ＜ＶOUT （端子１，２間に入力される 電圧）…ここで、ＶREF は一定 （６） となるように、Ｒ１−１〜Ｒ１−ｎ，Ｒ２，Ｒ５，Ｒ６
−１〜Ｒ６−ｎを選択する。
−１〜Ｒ６−ｎを選択する。
【００１９】また、ＰＳ３とＰＳ５は同時にＯＮしない
ものであり、ＰＳ３がＯＮになっている時は、ＰＳ２−
１〜ＰＳ２−ｎのいずれか一つが必ずＯＮになり、ＰＳ
５がＯＮになっている時は、ＰＳ４−１〜ＰＳ４−ｎの
いずれか一つが必ずＯＮになる。
ものであり、ＰＳ３がＯＮになっている時は、ＰＳ２−
１〜ＰＳ２−ｎのいずれか一つが必ずＯＮになり、ＰＳ
５がＯＮになっている時は、ＰＳ４−１〜ＰＳ４−ｎの
いずれか一つが必ずＯＮになる。
【００２０】次に、ＰＳ２−１〜ＰＳ２−ｎ，ＰＳ４−
１〜ＰＳ４−ｎがＯＮになる条件について説明する。
１〜ＰＳ４−ｎがＯＮになる条件について説明する。
【００２１】入力端子９−１〜９−ｍにＴＴＬレベルの
信号を入力すると、デコーダ１０の出力のいずれか一つ
が“Ｌ”になり、その信号に接続した抵抗（Ｒ１０−
Ｘ，Ｒ１１−Ｘ）を通してフォトカプラ（ＰＳ２−Ｘ，
ＰＳ４−Ｘ）の入力ダイオードに電流が流れるため、そ
の信号に対応したフォトカプラがＯＮになる。
信号を入力すると、デコーダ１０の出力のいずれか一つ
が“Ｌ”になり、その信号に接続した抵抗（Ｒ１０−
Ｘ，Ｒ１１−Ｘ）を通してフォトカプラ（ＰＳ２−Ｘ，
ＰＳ４−Ｘ）の入力ダイオードに電流が流れるため、そ
の信号に対応したフォトカプラがＯＮになる。
【００２２】次に、ＨＩＧＨ電圧マージンテストを行う
場合と、ＬＯＷ電圧マージンテストを行う場合について
図１を参照して動作を説明する。 （Ａ）ＨＩＧＨ電圧マージンテスト 入力端子７にＴＴＬレベルの“Ｈ”を、入力端子８にＴ
ＴＬレベルの“Ｌ”を入力すると、フォトカプラＰＳ３
は、入力ダイオードに電流が流れないためＯＦＦになっ
ている。フォトカプラＰＳ５は、抵抗Ｒ９を通して入力
ダイオードに電流が流れるためＯＮになる。
場合と、ＬＯＷ電圧マージンテストを行う場合について
図１を参照して動作を説明する。 （Ａ）ＨＩＧＨ電圧マージンテスト 入力端子７にＴＴＬレベルの“Ｈ”を、入力端子８にＴ
ＴＬレベルの“Ｌ”を入力すると、フォトカプラＰＳ３
は、入力ダイオードに電流が流れないためＯＦＦになっ
ている。フォトカプラＰＳ５は、抵抗Ｒ９を通して入力
ダイオードに電流が流れるためＯＮになる。
【００２３】また、デコーダ１０の出力の（１）式の値
が“Ｌ”になるように９−１〜９−ｍに信号を入力する
と、Ｒ１１−１を通してＰＳ４−１の入力ダイオードに
電流が流れるため、ＰＳ４−１がＯＮになる。ＰＳ５と
ＰＳ４−１がＯＮになると、（４）式からＲ１３の合成
抵抗値は、（Ｒ６−１）Ｒ５／〔（Ｒ６−１）＋Ｒ５〕
＜Ｒ５となり、（５）式を満たすようになる。そして、
ＩK ，ＩF が減少し、次に、Ｆｅｅｄ Ｂａｃｋ端子電
圧４が下り、ＯＮデューティが増加する。
が“Ｌ”になるように９−１〜９−ｍに信号を入力する
と、Ｒ１１−１を通してＰＳ４−１の入力ダイオードに
電流が流れるため、ＰＳ４−１がＯＮになる。ＰＳ５と
ＰＳ４−１がＯＮになると、（４）式からＲ１３の合成
抵抗値は、（Ｒ６−１）Ｒ５／〔（Ｒ６−１）＋Ｒ５〕
＜Ｒ５となり、（５）式を満たすようになる。そして、
ＩK ，ＩF が減少し、次に、Ｆｅｅｄ Ｂａｃｋ端子電
圧４が下り、ＯＮデューティが増加する。
【００２４】ここで、ＨＩＧＨマージン電圧幅を下記の
値にとなるようにＲ２，Ｒ６−１〜Ｒ６−ｎ，Ｒ５を選
択することが可能であるため、 ＰＳ４−１ＯＮ時 Ｒ２／（Ｒ６−１）Ｒ５／（Ｒ６−１）＋Ｒ５・・＋１％ ＰＳ４−２ＯＮ時 Ｒ２／（Ｒ６−２）Ｒ５／（Ｒ６−２）＋Ｒ５・・＋２％ ・ ・ ・ ＰＳ４−ｎＯＮ時 Ｒ２／（Ｒ６−ｎ）Ｒ５／（Ｒ６−ｎ）＋Ｒ５・・＋ｎ％ 上記のようにＰＳ５，ＰＳ４−１がＯＮした場合は＋１
％のＨＩＧＨマージン電圧となる。
値にとなるようにＲ２，Ｒ６−１〜Ｒ６−ｎ，Ｒ５を選
択することが可能であるため、 ＰＳ４−１ＯＮ時 Ｒ２／（Ｒ６−１）Ｒ５／（Ｒ６−１）＋Ｒ５・・＋１％ ＰＳ４−２ＯＮ時 Ｒ２／（Ｒ６−２）Ｒ５／（Ｒ６−２）＋Ｒ５・・＋２％ ・ ・ ・ ＰＳ４−ｎＯＮ時 Ｒ２／（Ｒ６−ｎ）Ｒ５／（Ｒ６−ｎ）＋Ｒ５・・＋ｎ％ 上記のようにＰＳ５，ＰＳ４−１がＯＮした場合は＋１
％のＨＩＧＨマージン電圧となる。
【００２５】同様に、ＰＳ４−２がＯＮになった場合は
＋２％，ＰＳ４−ｎがＯＮになった場合は＋ｎ％という
ように複数のＨＩＧＨマージン電圧を容易に出力する。 （Ｂ）ＬＯＷ電圧マージンテスト 入力端子７にＴＴＬレベルの“Ｌ”を、入力端子８にＴ
ＴＬレベルの“Ｈ”を入力すると、フォトカプラＰＳ３
は、抵抗Ｒ８を通して入力ダイオードに電流が流れるた
めＯＮになる。フォトカプラＰＳ５は、入力ダイオード
に電流が流れないためＯＦＦになっている。
＋２％，ＰＳ４−ｎがＯＮになった場合は＋ｎ％という
ように複数のＨＩＧＨマージン電圧を容易に出力する。 （Ｂ）ＬＯＷ電圧マージンテスト 入力端子７にＴＴＬレベルの“Ｌ”を、入力端子８にＴ
ＴＬレベルの“Ｈ”を入力すると、フォトカプラＰＳ３
は、抵抗Ｒ８を通して入力ダイオードに電流が流れるた
めＯＮになる。フォトカプラＰＳ５は、入力ダイオード
に電流が流れないためＯＦＦになっている。
【００２６】また、デコーダ１０の出力の（１）式の値
が“Ｌ”になるように９−１〜９−ｍに信号を入力する
と、Ｒ１０−１を通してＰＳ２−１の入力ダイオードに
電流が流れるため、ＰＳ２−１がＯＮする。ＰＳ３とＰ
Ｓ２−１がＯＮすると、（２）式からＲ１２の合成抵抗
値は、（Ｒ１−１）Ｒ２／（Ｒ１−１）＋Ｒ２＜Ｒ２と
なり、（６）式を満たすようになる。次に、ＩK ，ＩF
が増加する。次に、Ｆｅｅｄ Ｂａｃｋ端子電圧４が上
りＯＮデューティが減少する。
が“Ｌ”になるように９−１〜９−ｍに信号を入力する
と、Ｒ１０−１を通してＰＳ２−１の入力ダイオードに
電流が流れるため、ＰＳ２−１がＯＮする。ＰＳ３とＰ
Ｓ２−１がＯＮすると、（２）式からＲ１２の合成抵抗
値は、（Ｒ１−１）Ｒ２／（Ｒ１−１）＋Ｒ２＜Ｒ２と
なり、（６）式を満たすようになる。次に、ＩK ，ＩF
が増加する。次に、Ｆｅｅｄ Ｂａｃｋ端子電圧４が上
りＯＮデューティが減少する。
【００２７】ここで、ＬＯＷマージン電圧幅を下記の値
にとなるようにＲ１−１〜Ｒ１−ｎ，Ｒ２，Ｒ５を選択
することが可能であるため、 ＰＳ２−１ＯＮ時 （Ｒ１−１）Ｒ２／〔（Ｒ１−１）＋Ｒ２〕／Ｒ５・・− １％ ＰＳ４−２ＯＮ時 （Ｒ１−２）Ｒ２／〔（Ｒ１−２）＋Ｒ２〕／Ｒ５・・− ２％ ・ ・ ・ ＰＳ４−ｎＯＮ時 （Ｒ１−ｎ）Ｒ２／〔（Ｒ１−ｎ）＋Ｒ２〕／Ｒ５・・− ｎ％ 上記のようにＰＳ３，ＰＳ２−１がＯＮした場合は−１
％のＬＯＷマージン電圧となる。
にとなるようにＲ１−１〜Ｒ１−ｎ，Ｒ２，Ｒ５を選択
することが可能であるため、 ＰＳ２−１ＯＮ時 （Ｒ１−１）Ｒ２／〔（Ｒ１−１）＋Ｒ２〕／Ｒ５・・− １％ ＰＳ４−２ＯＮ時 （Ｒ１−２）Ｒ２／〔（Ｒ１−２）＋Ｒ２〕／Ｒ５・・− ２％ ・ ・ ・ ＰＳ４−ｎＯＮ時 （Ｒ１−ｎ）Ｒ２／〔（Ｒ１−ｎ）＋Ｒ２〕／Ｒ５・・− ｎ％ 上記のようにＰＳ３，ＰＳ２−１がＯＮした場合は−１
％のＬＯＷマージン電圧となる。
【００２８】同様に、ＰＳ２−２がＯＮになった場合は
−２％，ＰＳ２−ｎがＯＮになった場合は−ｎ％という
ように複数のＬＯＷマージン電圧を容易に出力する。
−２％，ＰＳ２−ｎがＯＮになった場合は−ｎ％という
ように複数のＬＯＷマージン電圧を容易に出力する。
【００２９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の電圧マー
ジンテスト回路は、安定化電源の電圧マージンテスト回
路の合成抵抗値を信号により容易に何種類にも変化さ
せ、出力電圧を設定値に対し、±１％，±２％，±３
％，・・・というように複数のＨＩＧＨ電圧及びＬＯＷ
電圧に容易に変化させることにより、複数のＨＩＧＨマ
ージン電圧、ＬＯＷマージン電圧を発生させることがで
きる。
ジンテスト回路は、安定化電源の電圧マージンテスト回
路の合成抵抗値を信号により容易に何種類にも変化さ
せ、出力電圧を設定値に対し、±１％，±２％，±３
％，・・・というように複数のＨＩＧＨ電圧及びＬＯＷ
電圧に容易に変化させることにより、複数のＨＩＧＨマ
ージン電圧、ＬＯＷマージン電圧を発生させることがで
きる。
【００３０】従って、論理ＰＧＫ等のＨＩＧＨ電圧及び
ＬＯＷ電圧に対する動作限界を調べるための評価（シュ
ムカーブ測定）を行うことができるという効果がある。
ＬＯＷ電圧に対する動作限界を調べるための評価（シュ
ムカーブ測定）を行うことができるという効果がある。
【図１】本発明の一実施例のマージンテスト回路の回路
図である。 図１（ａ）は本実施例のマージンテスト回路の電圧検出
部の回路図である。 図１（ｂ）は本実施例のマージンテスト回路の信号入力
部の回路図である。
図である。 図１（ａ）は本実施例のマージンテスト回路の電圧検出
部の回路図である。 図１（ｂ）は本実施例のマージンテスト回路の信号入力
部の回路図である。
【図２】本発明の一実施例のマージンテスト回路のデコ
ーダ部の回路図である。
ーダ部の回路図である。
【図３】従来例のマージンテスト回路の回路図である。 図３（ａ）は従来例のマージンテスト回路の電圧検出部
の回路図である。 図３（ｂ）は従来例のマージンテスト回路の信号入力部
の回路図である。
の回路図である。 図３（ｂ）は従来例のマージンテスト回路の信号入力部
の回路図である。
１，２ 入力端子 ３，４ 出力端子 ５−１，５−２，・・・，５−ｎ，６−１，６−２・・
・，６−ｎ 抵抗回路 ７，８ 入力端子 ９−１，９−２，・・・，９−ｎ 入力端子 Ｒ１−１，Ｒ１−２，・・・，Ｒ１−ｎ，Ｒ２，Ｒ３，
Ｒ４，Ｒ５，Ｒ６−１，Ｒ６−２，・・・，Ｒ６−ｎ，
Ｒ７，Ｒ８，Ｒ９，Ｒ１０−１，Ｒ１０−２，・・・，
Ｒ１０−ｎ，Ｒ１１−１，Ｒ１１−２，・・・，Ｒ１１
−ｎ 抵抗 ＰＳ１，ＰＳ２−１，ＰＳ２−２，・・・，ＰＳ２−
ｎ，ＰＳ３，ＰＳ４−１，ＰＳ４−２，・・・，ＰＳ４
−ｎ，ＰＳ５ フォトカプラ Ｃ コンデンサ Ｚ 可変シャントレギューレータ １０ デコータ Ｒ１２，Ｒ１３ 合成抵抗変換回路
・，６−ｎ 抵抗回路 ７，８ 入力端子 ９−１，９−２，・・・，９−ｎ 入力端子 Ｒ１−１，Ｒ１−２，・・・，Ｒ１−ｎ，Ｒ２，Ｒ３，
Ｒ４，Ｒ５，Ｒ６−１，Ｒ６−２，・・・，Ｒ６−ｎ，
Ｒ７，Ｒ８，Ｒ９，Ｒ１０−１，Ｒ１０−２，・・・，
Ｒ１０−ｎ，Ｒ１１−１，Ｒ１１−２，・・・，Ｒ１１
−ｎ 抵抗 ＰＳ１，ＰＳ２−１，ＰＳ２−２，・・・，ＰＳ２−
ｎ，ＰＳ３，ＰＳ４−１，ＰＳ４−２，・・・，ＰＳ４
−ｎ，ＰＳ５ フォトカプラ Ｃ コンデンサ Ｚ 可変シャントレギューレータ １０ デコータ Ｒ１２，Ｒ１３ 合成抵抗変換回路
Claims (1)
- 【請求項１】 安定化電源の出力電圧の正側をセンスす
る第一の入力端子と、前記第一の入力端子に一端を接続
した第一の抵抗と、前記第一の抵抗の他端に開閉制御可
能な第一のスイッチ回路を直列に接続した回路を並列に
複数備えた第一の合成抵抗変換回路と、前記第一の入力
端子に一端を接続した第二の抵抗と、前記第二の抵抗の
一端に入力ダイオードのアノードを接続したフォトカプ
ラと、前記フォトカプラの入力ダイオードのアノードに
一端を接続した第三の抵抗と、前記第三の抵抗の他端と
前記フォトカプラの入力ダイオードのカソードに一端を
接続した第四の抵抗と、前記第一の合成抵抗変換回路の
前記第一のスイッチ回路の他端に一端を接続した開閉制
御可能な第二のスイッチ回路と、前記第四の抵抗の他端
に一端を接続したコンデンサと、前記コンデンサの一端
にカソードを接続した可変シャントレギュレータと、前
記コンデンサの他端と前記可変シャントレギュレータの
リファレンスと、前記第二の抵抗の他端と前記第二のス
イッチ回路の他端に一端を接続した第五の抵抗と、前記
第二のスイッチ回路の他端に一端を接続した第六の抵抗
と、前記第六の抵抗の他端に開閉制御可能な第三のスイ
ッチ回路を直列に接続した回路を並列に複数備えた第二
の合成抵抗変換回路と、前記第二の合成抵抗変換回路の
第三のスイッチ回路の他端に一端を接続した開閉制御可
能な第四のスイッチ回路と、前記第四のスイッチ回路の
他端と前記第五の抵抗の他端と前記可変シャントレギュ
レータのアノードを接続した安定化電源の出力電圧の負
側をセンスする第二の入力端子と、前記フォトカプラの
出力トランジスタのコレクタに接続したスイッチングレ
ギュレータコントロールＩＣのＶREF端子へ出力する第
一の出力端子と、一端をＳＧに接続し他端を前記第一の
フォトカプラの出力トランジスタのエミッタに接続した
第七の抵抗と、前記第七の抵抗の他端に接続したスイッ
チングレギュレータコントロールＩＣのＦｅｅｄＢａｃ
ｋ端子へ出力する第二の出力端子とから構成されること
を特徴とする電圧マージンテスト回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3078066A JP2648039B2 (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 電圧マージンテスト回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3078066A JP2648039B2 (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 電圧マージンテスト回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04313073A JPH04313073A (ja) | 1992-11-05 |
| JP2648039B2 true JP2648039B2 (ja) | 1997-08-27 |
Family
ID=13651473
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3078066A Expired - Lifetime JP2648039B2 (ja) | 1991-04-11 | 1991-04-11 | 電圧マージンテスト回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2648039B2 (ja) |
-
1991
- 1991-04-11 JP JP3078066A patent/JP2648039B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH04313073A (ja) | 1992-11-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 19970408 |