JP2640494B2 - 缶内面の塗膜欠陥検査装置 - Google Patents
缶内面の塗膜欠陥検査装置Info
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- JP2640494B2 JP2640494B2 JP12467888A JP12467888A JP2640494B2 JP 2640494 B2 JP2640494 B2 JP 2640494B2 JP 12467888 A JP12467888 A JP 12467888A JP 12467888 A JP12467888 A JP 12467888A JP 2640494 B2 JP2640494 B2 JP 2640494B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、缶内面の塗膜欠陥検査装置に関するもの
である。
である。
従来の技術 内容物によっては缶自体を腐食させるので、防食のた
めに缶内面に合成樹脂塗膜が設けられている。しかしな
がら、塗装状態によっては、塗膜にピンホールなどが存
在する欠陥品が存在する。そのため、缶内面の塗膜に欠
陥がないかどうかを電気的に検査する装置が従来より知
られている。
めに缶内面に合成樹脂塗膜が設けられている。しかしな
がら、塗装状態によっては、塗膜にピンホールなどが存
在する欠陥品が存在する。そのため、缶内面の塗膜に欠
陥がないかどうかを電気的に検査する装置が従来より知
られている。
従来の装置は、缶内に満たされた通電液中に挿入せら
れる上部電極棒と、缶底に接触せられる下部電極棒と、
両電極棒に電圧を印加する電源と、両電極棒間に流れる
電流値を検出する電流検出器とを備え、電圧を印加した
測定スタート後所定時間経過した時点で両電極間に流れ
る電流の値を基準値と比較するものである。塗膜に欠陥
があれば、電流は多く流れ、正常な場合はほとんど流れ
ない。
れる上部電極棒と、缶底に接触せられる下部電極棒と、
両電極棒に電圧を印加する電源と、両電極棒間に流れる
電流値を検出する電流検出器とを備え、電圧を印加した
測定スタート後所定時間経過した時点で両電極間に流れ
る電流の値を基準値と比較するものである。塗膜に欠陥
があれば、電流は多く流れ、正常な場合はほとんど流れ
ない。
発明が解決しようとする課題 ところで、上記所定時間とは、通常４秒である。４秒
に設定せられている理由は、これだけの時間経過後でな
いと缶内面の塗膜欠陥検査の確実性を保証し難いことに
よる。しかしながら、欠陥品はきわめてまれにしか存在
しておらず、このわずかな欠陥品を探し出すために、す
べての缶につき４秒間測定するのは大きな問題の無駄で
ある。
に設定せられている理由は、これだけの時間経過後でな
いと缶内面の塗膜欠陥検査の確実性を保証し難いことに
よる。しかしながら、欠陥品はきわめてまれにしか存在
しておらず、このわずかな欠陥品を探し出すために、す
べての缶につき４秒間測定するのは大きな問題の無駄で
ある。
この発明の目的は、上記無駄をなくし、きわめて効率
のよい検査を行ないうる缶内面の塗膜欠陥検査装置を提
供することにある。
のよい検査を行ないうる缶内面の塗膜欠陥検査装置を提
供することにある。
課題を解決するための手段 この発明は、上記の目的を達成するために、缶内に満
たされた通電液中に挿入せられる上部電極棒と、缶底に
接触せられる下部電極棒と、両電極棒に電圧を印加する
電源と、両電極棒間に流れる電流を検出する電流検出器
とを備えた缶内面の塗膜欠陥検査装置において、第１測
定時点および第１測定時点から所定時間経過後の第２測
定時点でそれぞれ電流検出器の電流値を読込み、両時点
における読込み値の差が基準値以上の場合は、測定スタ
ートから長時間経過後最終電流値の読込みを行なう長時
間測定処理に移行し、基準値未満の場合は、測定スター
トから短時間経過後最終電流値の読込みを行なう短時間
測定処理に移行する手段が設けられていることを特徴と
するものである。
たされた通電液中に挿入せられる上部電極棒と、缶底に
接触せられる下部電極棒と、両電極棒に電圧を印加する
電源と、両電極棒間に流れる電流を検出する電流検出器
とを備えた缶内面の塗膜欠陥検査装置において、第１測
定時点および第１測定時点から所定時間経過後の第２測
定時点でそれぞれ電流検出器の電流値を読込み、両時点
における読込み値の差が基準値以上の場合は、測定スタ
ートから長時間経過後最終電流値の読込みを行なう長時
間測定処理に移行し、基準値未満の場合は、測定スター
トから短時間経過後最終電流値の読込みを行なう短時間
測定処理に移行する手段が設けられていることを特徴と
するものである。
実施例 この発明の実施例を、以下図面を参照して説明する。
第１図に示されている缶内面の塗膜欠陥検査装置は、
缶（１）内に満たされた通電液（２）中に挿入せられる
上部電極棒（３）と、缶底に接触せられる下部電極棒
（４）と、両電極棒（３）（４）に電圧を印加する電源
（５）と、両電極棒（３）（４）間に流れる電流を検出
する電流検出器（６）と、A/D変換器（７）を介して電
流検出器（６）に接続された中央処理装置（CPU）
（８）とを備えている。
缶（１）内に満たされた通電液（２）中に挿入せられる
上部電極棒（３）と、缶底に接触せられる下部電極棒
（４）と、両電極棒（３）（４）に電圧を印加する電源
（５）と、両電極棒（３）（４）間に流れる電流を検出
する電流検出器（６）と、A/D変換器（７）を介して電
流検出器（６）に接続された中央処理装置（CPU）
（８）とを備えている。
両電極棒（３）（４）はともに昇降自在であって、上
部電極棒（３）は缶（１）の通電液（２）中に対し出し
入れ自在となっており、下部電極棒（４）は缶（１）の
底に対して接触・離脱自在になっている。通電液（２）
としては、食塩水が用いられている。
部電極棒（３）は缶（１）の通電液（２）中に対し出し
入れ自在となっており、下部電極棒（４）は缶（１）の
底に対して接触・離脱自在になっている。通電液（２）
としては、食塩水が用いられている。
いま、第２図に基づき、電流検出器（６）により検出
せられた電流値の測定処理順序を説明する。
せられた電流値の測定処理順序を説明する。
缶（１）内に通電液（２）を満たした後、下部電極棒
（４）を缶（１）の底に接触せしめるとともに、上部電
極棒（３）を缶（１）の通電液（２）中に挿入し、この
状態で両電極棒（３）（４）に電圧を印加する。これが
測定スタートとなる。スタート後0.5秒経過した第１測
定時点で電流検出器（６）の電流値（I1）を読込む。つ
ぎに第１測定時点から所定時間である0.5秒、すなわち
スタート後1.0秒経過した時点で再び電流検出器（６）
の電流値（I2）を読込む。そして両時点における２つの
読込み値（I1）（I2）の差（ΔＩ）を算出する。そして
その差の絶対値が、基準値（I0）である0.05mA以上か未
満かを判断する。その差が（ΔＩ）が基準値（I0）以上
の場合は、４秒の長時間測定処理に移行する。基準値
（I0）未満の場合は、２秒の短時間測定処理に移行す
る。第２測定時点以後、長時間測定処理の場合はスター
トから４秒後、短時間測定処理の場合はスタートから２
秒後最終電流値の読込みを行なう。処理後のデータは、
別のコンピュータのメモリに記憶せしめられ、ここで単
位本数あたりの欠陥品の数を調べ、抜取り検査の目的を
達成する。
（４）を缶（１）の底に接触せしめるとともに、上部電
極棒（３）を缶（１）の通電液（２）中に挿入し、この
状態で両電極棒（３）（４）に電圧を印加する。これが
測定スタートとなる。スタート後0.5秒経過した第１測
定時点で電流検出器（６）の電流値（I1）を読込む。つ
ぎに第１測定時点から所定時間である0.5秒、すなわち
スタート後1.0秒経過した時点で再び電流検出器（６）
の電流値（I2）を読込む。そして両時点における２つの
読込み値（I1）（I2）の差（ΔＩ）を算出する。そして
その差の絶対値が、基準値（I0）である0.05mA以上か未
満かを判断する。その差が（ΔＩ）が基準値（I0）以上
の場合は、４秒の長時間測定処理に移行する。基準値
（I0）未満の場合は、２秒の短時間測定処理に移行す
る。第２測定時点以後、長時間測定処理の場合はスター
トから４秒後、短時間測定処理の場合はスタートから２
秒後最終電流値の読込みを行なう。処理後のデータは、
別のコンピュータのメモリに記憶せしめられ、ここで単
位本数あたりの欠陥品の数を調べ、抜取り検査の目的を
達成する。
缶内面の塗膜欠陥検査の確実性を斯するためには４秒
間の測定が必要とされているが、時間を横軸に、電流値
を縦軸にとり、良品と欠陥品の電流値の変化をグラフに
示した第３図から明らかなように、欠陥品の場合は、ス
タート後第１測定時点の0.5秒と、第２測定時点の１秒
との間において、たちまち電流値に大きさ差が生じる
が、良品の場合はほとんど差が生ぜず、この段階で良否
の判別がほぼ可能である。したがって、良品と想定せら
れるものまで４秒間測定するのは無駄であり、２秒間の
測定で充分である。そして２秒間測定で充分なものが事
実大半なのである。
間の測定が必要とされているが、時間を横軸に、電流値
を縦軸にとり、良品と欠陥品の電流値の変化をグラフに
示した第３図から明らかなように、欠陥品の場合は、ス
タート後第１測定時点の0.5秒と、第２測定時点の１秒
との間において、たちまち電流値に大きさ差が生じる
が、良品の場合はほとんど差が生ぜず、この段階で良否
の判別がほぼ可能である。したがって、良品と想定せら
れるものまで４秒間測定するのは無駄であり、２秒間の
測定で充分である。そして２秒間測定で充分なものが事
実大半なのである。
発明の効果 この発明の缶内面の塗膜欠陥検査装置によれば、きわ
めて効率よく短時間で必要かつ充分な検査を行なうこと
ができる。
めて効率よく短時間で必要かつ充分な検査を行なうこと
ができる。
第１図はこの発明の実施例を示すブロック図、第２図は
電流値測定処理順序を示すフロー・チャート、第３図は
良品と欠陥品の電流値の変化を示すグラフである。 （１）…缶、（２）…通電液、（３）…上部電極棒、
（６）…電流検出器、（８）…CPU。
電流値測定処理順序を示すフロー・チャート、第３図は
良品と欠陥品の電流値の変化を示すグラフである。 （１）…缶、（２）…通電液、（３）…上部電極棒、
（６）…電流検出器、（８）…CPU。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭64−32159（ＪＰ，Ａ) 特開 昭63−92784（ＪＰ，Ａ) 特開 昭61−155750（ＪＰ，Ａ) 特開 昭56−69549（ＪＰ，Ａ) 特開 平１−295154（ＪＰ，Ａ) 実開 昭59−112152（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭55−36400（ＪＰ，Ｕ)
Claims (1)
- 【請求項１】缶内に満たされた通電液中に挿入せられる
上部電極棒と、缶底に接触せられる下部電極棒と、両電
極棒に電圧を印加する電源と、両電極棒間に流れる電流
を検出する電流検出器とを備えた缶内面の塗膜欠陥検査
装置において、第１測定時点および第１測定時点から所
定時間経過後の第２測定時点でそれぞれ電流検出器の電
流値を読込み、両時点における読込み値の差が基準値以
上の場合は、測定スタートから長時間経過後最終電流値
の読込みを行なう長時間測定処理に移行し、基準値未満
の場合は、測定スタートから短時間経過後最終電流値の
読込みを行なう短時間測定処理に移行する手段が設けら
れていることを特徴とする缶内面の塗膜欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12467888A JP2640494B2 (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | 缶内面の塗膜欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12467888A JP2640494B2 (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | 缶内面の塗膜欠陥検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01295155A JPH01295155A (ja) | 1989-11-28 |
| JP2640494B2 true JP2640494B2 (ja) | 1997-08-13 |
Family
ID=14891362
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12467888A Expired - Fee Related JP2640494B2 (ja) | 1988-05-20 | 1988-05-20 | 缶内面の塗膜欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2640494B2 (ja) |
-
1988
- 1988-05-20 JP JP12467888A patent/JP2640494B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01295155A (ja) | 1989-11-28 |
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