JP2638589B2 - Method for manufacturing semiconductor device - Google Patents

Method for manufacturing semiconductor device

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JP2638589B2
JP2638589B2 JP8191801A JP19180196A JP2638589B2 JP 2638589 B2 JP2638589 B2 JP 2638589B2 JP 8191801 A JP8191801 A JP 8191801A JP 19180196 A JP19180196 A JP 19180196A JP 2638589 B2 JP2638589 B2 JP 2638589B2
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Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体装置製造方法に係
り、特に生産効率と製品品質の向上に好適なモールド金
型とリードフレームとを備えた半導体装置の製造方法に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor device, and more particularly to a method for manufacturing a semiconductor device having a mold and a lead frame suitable for improving production efficiency and product quality.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の装置は特開昭60‐4226号公
報に記載のように、各ポットに複数のランナが接続さ
れ、そしてこの各ランナには製品キャビテイが複数個直
列に配置される構造になっていた。
2. Description of the Related Art A conventional apparatus has a structure in which a plurality of runners are connected to each pot, and a plurality of product cavities are arranged in series, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 60-4226. Had become.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術では、
キャビテイからキャビテイへの樹脂の供給は、金型に形
成した流路だけを用いていたので、パッケージの中央部
分(厚さ方向)から樹脂を供給しておらず、キャビテイ
内の樹脂の流れが均一ではなかった。特に薄型化された
パッケージではキャビテイ内の樹脂の流れが均一でなけ
れば、ボイドが発生しやすく、製品の品質に確保するこ
とが難しかった。
In the above prior art,
Since the resin was supplied from one cavity to another using only the flow path formed in the mold, the resin was not supplied from the center (thickness direction) of the package, and the flow of the resin in the cavity was uniform. Was not. In particular, if the flow of the resin in the cavity is not uniform in the thinned package, voids are likely to be generated, and it is difficult to ensure the quality of the product.

【0004】[0004]

【0005】[0005]

【0006】本発明の目的は、上記技術課題を解決する
ことにあり、生産効率と製品品質の向上の両立を図るこ
とができる半導体装置の製造方法を提供することにあ
る。
An object of the present invention is to solve the above technical problems and to provide a method of manufacturing a semiconductor device which can achieve both improvement of production efficiency and product quality.

【0007】[0007]

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために、樹脂を供給するポットと、その樹脂の供
給を受ける複数個のキャビテイとを少なくとも配置した
金型に、前記キャビテイ間に配置されるスリットを形成
したリードフレームを設置し、前記スリットを介して前
記キャビテイから他のキャビテイへ樹脂を供給するもの
である。もしくは、樹脂を供給するポットと、その樹脂
の供給を受ける複数個のキャビテイと、前記キャビテイ
から他のキャビテイへの樹脂の流路となるゲートを配置
した金型に、前記キャビテイ間に配置されるスリットを
有するリードフレームを設置し、前記スリットと前記ゲ
ートとで形成される流路を介して、前記キャビテイから
他のキャビテイへ樹脂を供給するものである。また、前
記スリット内にブリッジを設けたことが好ましい。
SUMMARY OF THE INVENTION In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides a method of manufacturing a semiconductor device, comprising the steps of: placing a pot for supplying a resin and a plurality of cavities for receiving the resin; A lead frame having a slit formed therein is provided, and resin is supplied from the cavity to another cavity through the slit. Alternatively, a mold for disposing a resin supply pot, a plurality of cavities receiving the supply of the resin, and a gate serving as a resin flow path from the cavity to another cavity is disposed between the cavities. A lead frame having a slit is provided, and resin is supplied from the cavity to another cavity through a flow path formed by the slit and the gate. Preferably, a bridge is provided in the slit.

【0009】[0009]

【0010】[0010]

【0011】[0011]

【作用】本発明によれば、パッケージの中央から樹脂を
供給することができるので、従来の金型に形成した流路
のみを用いた樹脂の供給に比べて、キャビテイ内の樹脂
の流れがほぼ均一となり製品品質を向上させることがで
きる。また、スリット内にブリッジを設ければ、樹脂の
流動圧力による変形を低減できるので、製品品質をさら
に向上させることができる。一方、キャビテイへ樹脂を
供給するポットを複数設け、ポット間を連通しても、ポ
ット連通路を設けたことによる樹脂材料歩留りの低下
は、キャビティ数を直列に増加させることにより打ち消
され、逆に大幅な樹脂材料歩留りの向上が図れる。ま
た、各ポットに投入された樹脂の重量が大幅にばらつい
てもポット連通路を介しての樹脂の授受により各ポット
へ加わる成形圧力の均等化が図れる。さらに、リードフ
レームをモールドすべき半導体素子を縦横2方向に配列
すれば、1方向のみに配列した従来のリードフレームに
比べ1部品当たりの製造コストを大幅に低減できる。し
かも、半導体素子間のピッチを極力小さくできるので樹
脂の流路を短くでき、成形中の樹脂流動抵抗の低減によ
る安定成形や、金型単位面積当たりの半導体素子数を増
加し、生産効率をさらに向上できるという利点がある。
一方、成形機のシリンダロッドと各プランジャとを直接
に接続することができるので、成形機サイドからの厳密
なプランジャ動作制御を行うことができ、製品品質の大
幅な向上を達成できる。
According to the present invention, since the resin can be supplied from the center of the package, the flow of the resin in the cavity is substantially smaller than the conventional resin supply using only the flow path formed in the mold. It becomes uniform and product quality can be improved. Further, if a bridge is provided in the slit, the deformation due to the flow pressure of the resin can be reduced, so that the product quality can be further improved. On the other hand, even if a plurality of pots for supplying the resin to the cavities are provided and the pots are communicated with each other, the decrease in the resin material yield due to the provision of the pot communication path is counteracted by increasing the number of cavities in series. Significant improvement in resin material yield can be achieved. Further, even if the weight of the resin charged in each pot varies greatly, the molding pressure applied to each pot can be equalized by transferring the resin through the pot communication path. Furthermore, if the semiconductor elements on which the lead frame is to be molded are arranged in two directions in the vertical and horizontal directions, the manufacturing cost per component can be significantly reduced as compared with a conventional lead frame in which the semiconductor elements are arranged in only one direction. In addition, since the pitch between semiconductor elements can be minimized, the flow path of the resin can be shortened, stable molding by reducing the resin flow resistance during molding, and the number of semiconductor elements per unit area of the mold can be increased, thereby further increasing production efficiency. There is an advantage that it can be improved.
On the other hand, since the cylinder rod of the molding machine can be directly connected to each plunger, strict plunger operation control can be performed from the molding machine side, and a significant improvement in product quality can be achieved.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づけて説明
する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0013】まず、図1は、本発明の一実施例に係る装
置の構成を示す。図1(a)はモールド金型の下平面図で
あり、1はモールド金型の下型、2は、モールド樹脂に
係るレジンを押圧供給するための複数個のポット(図1
(a)の範囲では3個)、3は、これら各ポット2に設け
たランナである。ランナ3の先端には第1ゲート4が設
けられており、この第1ゲート4に接続して第1キャビ
ティ5が配置されている。第1キャビティ5の後、すな
わちレジン供給時の下流側には、第2ゲート6が設けら
れており、この第2ゲート6に接続して第2キャビティ
7が配置されている。さらに、第2キャビティ7の下流
側には、第3ゲート8を介して第3キャビティが配置さ
れている。また、各ポット2はポット連結流路10により
お互いに連結されている。
FIG. 1 shows the configuration of an apparatus according to an embodiment of the present invention. FIG. 1 (a) is a bottom plan view of a mold, wherein 1 is a lower mold of the mold, and 2 is a plurality of pots (FIG. 1) for pressing and supplying resin relating to the mold resin.
(Three in the range of (a)), 3 are runners provided in each of the pots 2. A first gate 4 is provided at the tip of the runner 3, and a first cavity 5 is arranged so as to be connected to the first gate 4. A second gate 6 is provided after the first cavity 5, that is, on the downstream side during resin supply, and a second cavity 7 is connected to the second gate 6. Further, a third cavity is disposed downstream of the second cavity 7 via a third gate 8. The pots 2 are connected to each other by a pot connection flow path 10.

【0014】図1(b)は、リードフレーム11を上型12と
下型1との間に挿設した状態における図1(a)のA−A
断面を示している。リードフレーム11には、第1キャビ
ティ5,第2キャビティ7,第3キャビティ9の各キャ
ビティ内に相当する位置で、チャプ13が搭載され、金線
14によりチップ13とリードフレーム11が接続され、モー
ルドすべき電気部品を構成している。
FIG. 1B shows a state in which the lead frame 11 is inserted between the upper mold 12 and the lower mold 1, taken along the line AA in FIG.
It shows a cross section. The lead frame 11 is provided with a chapter 13 at a position corresponding to each of the first cavity 5, the second cavity 7, and the third cavity 9, and is provided with a gold wire.
The chip 13 and the lead frame 11 are connected by 14 to constitute an electric component to be molded.

【0015】図1(c)は上型12と下型1とを閉じ、成形
機(図示せず)のロッド15に剛体接続板16を介してプラ
ンジャ17を取りつけた状態における図1(a)のB−B断
面を示している。
FIG. 1C shows a state in which the upper mold 12 and the lower mold 1 are closed, and a plunger 17 is attached to a rod 15 of a molding machine (not shown) via a rigid connecting plate 16. BB section of FIG.

【0016】図1(a)〜(c)の各ポット2にレジン(図示
せず)を投入し、成形機のロッド15を下降させることに
より、剛体接続板16を介して各プランジャ17もロッド15
に連動してポット2内を下降する。そして各プランジャ
17はレジンをポット連結流路10と各ランナ3を移送し、
さらにレジンは各ランナ3の先に設けられた各ゲート,
キャビティを充填する。
1 (a) to 1 (c), a resin (not shown) is put into each pot 2 and the rod 15 of the molding machine is lowered. Fifteen
, And descends in the pot 2. And each plunger
17 transfers the resin to the pot connection flow path 10 and each runner 3;
Further, the resin is provided at each gate provided at the end of each runner 3,
Fill the cavity.

【0017】図2は、図1のモールド金型に用いるリー
ドフレームの平面図、図3はそれらを用いてレジンを充
填した後の下型の平面図である。
FIG. 2 is a plan view of a lead frame used in the mold shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a plan view of a lower mold after the resin is filled using the lead frame.

【0018】図2において、チップ(図示せず)はタブ
18の上にダイボンディングされ、内部リード19の先端部
と金線(図示せず)でワイヤボンディングされ、半導体
部品を構成する。このように1枚のリードフレームには
半導体部品が縦,横2方向に並べられている。
In FIG. 2, a chip (not shown) is a tab.
Die-bonding is performed on the top of the semiconductor chip 18 and wire-bonded to the tip of the internal lead 19 with a gold wire (not shown) to form a semiconductor component. As described above, semiconductor components are arranged in two vertical and horizontal directions on one lead frame.

【0019】図3は図2に示したリードフレーム11を図
1(a)に示した下型1と上型12との間に挿設してレジン2
0の押圧供給を終った状態の下型1の平面図である。レ
ジン20は所定時間経過後、硬化し、成形品21が得られ
る。そして、所定の工程を経てレジンモールド半導体部
品が得られる。なお、本実施例では、レジンモールド半
導体部品の外部端子となる外部リード22のパターンに対
して、キャビティ内のレジンが連続して直交方向に流動
する。
FIG. 3 shows a state in which the lead frame 11 shown in FIG. 2 is inserted between the lower mold 1 and the upper mold 12 shown in FIG.
FIG. 4 is a plan view of the lower mold 1 in a state where the zero pressure supply is completed. After a lapse of a predetermined time, the resin 20 is cured, and a molded product 21 is obtained. Then, through a predetermined process, a resin mold semiconductor component is obtained. In the present embodiment, the resin in the cavity continuously flows in the orthogonal direction with respect to the pattern of the external leads 22 serving as the external terminals of the resin-molded semiconductor component.

【0020】図1〜3の実施例ではプランジャ17をポッ
ト2の上方に設けた場合の例を示したが、プランジャ17
をポット2の下方に設けた場合においても、同等の生産
性で同等の品質を有したレジンモールド半導体部品が得
られる。
In the embodiment shown in FIGS. 1 to 3, the case where the plunger 17 is provided above the pot 2 is shown.
Is provided below the pot 2, resin molded semiconductor parts having the same quality and the same productivity can be obtained.

【0021】図4は本発明の第2の実施例に係るモール
ド金型の下型の平面図、図5は図4のモールド金型に用
いるリードフレームの平面図、図6はそれらを用いてレ
ジンを充填したのちの下型の平面図である。
FIG. 4 is a plan view of a lower mold of a mold according to a second embodiment of the present invention, FIG. 5 is a plan view of a lead frame used in the mold of FIG. 4, and FIG. FIG. 4 is a plan view of a lower mold after filling with resin.

【0022】図4と図1(a)との違いは、第2ゲート,
第3ゲートの加工はされておらず、第2キャビティ7,
第3キャビティ9が独立して配置されていることであ
る。
The difference between FIG. 4 and FIG. 1A is that the second gate,
The third gate is not processed, and the second cavity 7,
That is, the third cavities 9 are independently arranged.

【0023】一方、図5に示すように図4のモールド金
型に用いるリードフレーム11には、第2,第3ゲートに
相当する位置に、下流側の第2キャビティ7,第3キャ
ビティ9にレジンを下流に移送するためのスリット23が
形設されている。
On the other hand, as shown in FIG. 5, the lead frame 11 used in the mold shown in FIG. 4 has the downstream second cavity 7 and the third cavity 9 at positions corresponding to the second and third gates. A slit 23 for transferring the resin downstream is formed.

【0024】図6は図5に示したリードフレーム11を図
4に示した下型1と図示しない上型との間に挿設して、
レジンの押圧供給を終った状態の下型1の平面図であ
る。レジン20はポット連結流路10で重量ばらつき補正し
た後、ポット2からランナ3,第1ゲート4を通って第
1キャビティ5を充填し、スリット23を通って第3キャ
ビティ9内に供給され、成形品21が得られる。その後、
所定の工程を経てレジンモール半導体部品が完成する。
FIG. 6 shows a state in which the lead frame 11 shown in FIG. 5 is inserted between the lower die 1 shown in FIG.
FIG. 3 is a plan view of the lower mold 1 in a state where the resin has been pressed and supplied. After correcting the weight variation in the pot connection flow path 10, the resin 20 fills the first cavity 5 from the pot 2 through the runner 3, the first gate 4, and is supplied into the third cavity 9 through the slit 23, A molded product 21 is obtained. afterwards,
The resin molding semiconductor component is completed through a predetermined process.

【0025】本実施例では第1の実施例に比べて金型の
ゲート加工費を低減できるという効果がある。
In this embodiment, there is an effect that the gate processing cost of the mold can be reduced as compared with the first embodiment.

【0026】図7は本発明の第3の実施例に係るモール
ド金型の下型の平面図、図8は図7はモールド金型に用
いるリードフレーム平面図、図9はそれらを用いてレジ
ンを充填したのちの下型の平面図である。
FIG. 7 is a plan view of a lower mold of a mold according to a third embodiment of the present invention, FIG. 8 is a plan view of a lead frame used for the mold, and FIG. FIG. 4 is a plan view of a lower mold after filling with.

【0027】図7と図1(a)との違いは、ランナ3のポ
ット2からではなくポット連結流路10から分岐し、第1
ゲート4と直線状に接続されることである。これにより
金型加工が容易になり、加工費を低減できるという効果
がある。
The difference between FIG. 7 and FIG. 1 (a) is that the branching not from the pot 2 of the runner 3 but from the
That is, it is connected to the gate 4 linearly. This has the effect of facilitating die processing and reducing processing costs.

【0028】一方、図8と図5のリードフレームとの違
いは、スリット23の中にブリッジ24が設けられているこ
とである。これにより、成形中のレジンの流動圧力によ
りスリット23が広げられリードフレーム11が変形するこ
とを防いでいる。なお、図7に示したように金型のキャ
ビティ間にはゲートが設けられており、ブリッジ24があ
ってもレジンは下流側へ流動することができる。
On the other hand, the difference between the lead frame shown in FIGS. 8 and 5 is that a bridge 24 is provided in the slit 23. This prevents the slit 23 from being widened by the flow pressure of the resin being molded, and preventing the lead frame 11 from being deformed. As shown in FIG. 7, a gate is provided between the cavities of the mold, and the resin can flow to the downstream side even with the bridge 24.

【0029】図9は図8に示したリードフレーム11を図
7に示した下型1と図示しない上型との間に挿設して、
レジンの押圧供給を終った状態の下型1の平面図であ
る。レジン20はポット連結流路10で重量ばらつきを補正
するとともに、ポット連結流路10からランナ3,第1ゲ
ート4を通って第1キャビティ5を充填し、スリット23
およびその下の第2ゲート6(図示せず)を通って第2
キャビティ7、さらにスリット23およびその下の第3ゲ
ート8(図示せず)を通って第3キャビティ9に供給さ
れ、成形品21が得られる。この方式ではスリット23と各
ゲートの両方を流路とすることができ、レジンの流動抵
抗を低減できる。しかもブリッジ24によりスリット23の
部分からのリードフレーム21の変形を防止できる。
FIG. 9 shows a state where the lead frame 11 shown in FIG. 8 is inserted between the lower mold 1 shown in FIG.
FIG. 3 is a plan view of the lower mold 1 in a state where the resin has been pressed and supplied. The resin 20 corrects the weight variation in the pot connection flow path 10, fills the first cavity 5 from the pot connection flow path 10 through the runner 3, the first gate 4,
And a second gate 6 (not shown) under the
The mixture is supplied to the third cavity 9 through the cavity 7, the slit 23 and the third gate 8 (not shown) below the slit 23, and the molded product 21 is obtained. In this method, both the slit 23 and each gate can be used as a flow path, and the flow resistance of the resin can be reduced. Moreover, the bridge 24 can prevent the lead frame 21 from being deformed from the slit 23 portion.

【0030】また、キャビティ間隔とポット間隔,ポッ
ト径の関係から、図10に示すようにランナとポットが直
接接する配置にもできる。
Further, from the relationship between the cavity spacing, the pot spacing, and the pot diameter, the runner and the pot can be arranged in direct contact as shown in FIG.

【0031】なお、図7,図10の金型には、図2や図
5,図8、および後で述べる図18のようなリードフレー
ムも用いることができるのはいうまでもない。
It is needless to say that lead frames as shown in FIGS. 2, 5 and 8 and FIG. 18 to be described later can also be used for the dies shown in FIGS.

【0032】図11は,本発明の第4の実施例に係るモー
ルド金型の下型の平面図、図12は、図2に示すリードフ
レームを用いてレジンを充填したのちの下型の平面図で
ある。
FIG. 11 is a plan view of a lower mold of a mold according to a fourth embodiment of the present invention, and FIG. 12 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the lead frame shown in FIG. FIG.

【0033】図11と図7及び図10との違いは、ポット連
通10,第2ゲート6,第3ゲート8に接し、金型外部へ
と通じるエアベント(図中斜線部分)25を設けたことで
ある。このエアベント25は、深さ10μm〜40μm程度の範
囲の深さのものである。一方、連絡路10やランナ3の深
さは数mm程度である。このエアベント25により、ポット
連通路10の中央部付近でレジンが衝突する際にレジン中
に混入する空気ならびにゲートを通過するときにレジン
中に含まれる空気は金型外部へ排出される効果がある。
The difference between FIG. 11 and FIGS. 7 and 10 is that an air vent (hatched portion in the drawing) 25 which contacts the pot communication 10, the second gate 6 and the third gate 8 and communicates with the outside of the mold is provided. It is. The air vent 25 has a depth in a range of about 10 μm to 40 μm. On the other hand, the depth of the connection path 10 and the runner 3 is about several mm. The air vent 25 has an effect that air mixed in the resin when the resin collides near the center of the pot communication path 10 and air contained in the resin when passing through the gate are discharged to the outside of the mold. .

【0034】ところで、図1(a)、若しくは図4の形
状の下金型において、連通路やゲートと接続したエアベ
ントを設けることが可能である。
By the way, in the lower mold of FIG. 1A or FIG. 4, an air vent connected to a communication passage or a gate can be provided.

【0035】図12は、図2に示したリードフレームを図
11に示した下型1と上型(図示せず)との間に挿入し
て、レジンの充填が終わった状態の下型1の平面図であ
る。この方式により、成形品21内に残存するボイドは大
幅に低減でき、品質の向上が図れる。
FIG. 12 shows the lead frame shown in FIG.
FIG. 12 is a plan view of the lower mold 1 inserted between the lower mold 1 and the upper mold (not shown) shown in FIG. 11 and in which resin filling is completed. According to this method, voids remaining in the molded product 21 can be significantly reduced, and quality can be improved.

【0036】なお、図11の金型構造の中で第2ゲート
6,第3ゲート8を図10のような位置に配置すれば、図
2,図5,図8,図11に示すリードフレームを用いるこ
とができるのはいうまでもない。
If the second gate 6 and the third gate 8 are arranged at positions as shown in FIG. 10 in the mold structure of FIG. 11, the lead frame shown in FIGS. 2, 5, 8, and 11 can be obtained. Needless to say, can be used.

【0037】図13の下型の平面図、図14は、図2に示す
リードフレームを用いてレジンを充填したのちの下型の
平面図である。
FIG. 14 is a plan view of the lower mold, and FIG. 14 is a plan view of the lower mold after filling the resin using the lead frame shown in FIG.

【0038】図13と図11の違いは、先に述べたエアベン
ト25とともに第3キャビティ9に接続して半導体部品と
ならないダミーキャビティ25を設け、エアベント25だけ
でなく、レジン流動中に流動先端部へ巻き込まれた空気
をダミーキャビティ26へ流し出し、成形品のボイドの一
層の低減ができ、品質の向上が図れる。
The difference between FIG. 13 and FIG. 11 is that a dummy cavity 25 that is connected to the third cavity 9 and does not become a semiconductor component is provided together with the air vent 25 described above. The air entrapped in the mold cavity flows out into the dummy cavity 26, thereby further reducing the voids in the molded product and improving the quality.

【0039】ところで、図1(a)や図4の形状の下金型
において、ダミーキャビティを設けることは可能であ
る。
Incidentally, it is possible to provide a dummy cavity in the lower mold having the shape shown in FIG. 1 (a) or FIG.

【0040】なお、図13の金型も図10のようなゲート位
置に配置すれば、第2,5,8,11図に示すリードフレ
ームを用いることができるのはいうまでもない。
It is needless to say that the lead frame shown in FIGS. 2, 5, 8 and 11 can be used if the mold shown in FIG. 13 is also arranged at the gate position as shown in FIG.

【0041】図15は、本発明の第6の実施例に係るモー
ルド金型の下型の平面図、図16は、図2に示すリードフ
レームを用いてレジンを充填したのちの下型の平面図で
ある。
FIG. 15 is a plan view of a lower mold of a mold according to a sixth embodiment of the present invention, and FIG. 16 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the lead frame shown in FIG. FIG.

【0042】図15と図11との違いは、ポット2から出た
レジンはポット連通路10より狭い断面積のポット流出ゲ
ート27を通ってからポット連通路10とランナ3へ導かれ
ることである。これにより、レジン内部のボイドを一度
圧縮し、キャビティ内へ流出するボイドの大きさを小さ
くすることができる。さらに先に述べたようにエアベン
ト25を通じて金型外部へとレジン中に含まれる空気は排
出される。これにより成形品中のボイドの低減が図れ
る。
The difference between FIG. 15 and FIG. 11 is that the resin discharged from the pot 2 passes through the pot outflow gate 27 having a smaller cross-sectional area than the pot communication path 10 and is guided to the pot communication path 10 and the runner 3. . Thereby, the void inside the resin can be compressed once, and the size of the void flowing into the cavity can be reduced. Further, as described above, the air contained in the resin is discharged to the outside of the mold through the air vent 25. This can reduce the voids in the molded product.

【0043】なお、図15の金型も図10のようにゲート位
置に配置すれば、第2,3,8,11図に示すリードフレ
ームを用いることができるのはいうまでもない。
It is needless to say that the lead frame shown in FIGS. 2, 3, 8, and 11 can be used if the mold shown in FIG. 15 is also arranged at the gate position as shown in FIG.

【0044】図17は本発明の第7の実施例に係るモール
ド金型の下型の平面、図18は、図17のモールド金型に用
いるリードフレームの平面図、図19はそれらを用いてレ
ジンを充填したのちの下型の平面図である。
FIG. 17 is a plan view of a lower mold of a mold according to a seventh embodiment of the present invention, FIG. 18 is a plan view of a lead frame used in the mold of FIG. 17, and FIG. FIG. 4 is a plan view of a lower mold after filling with resin.

【0045】図17と図15との違いは、ポット流出ゲート
25を有し、さらに第3キャビテイ9に接続してダミーキ
ャビテイ26を設けて、キャビティ内を流動したレジン
中に含まれる空気は最後にここでトラップされる。これ
により、成形品中のボイドが低減できる。
The difference between FIG. 17 and FIG.
25, and further provided with a dummy cavity 26 connected to the third cavity 9 so that air contained in the resin flowing in the cavity is finally trapped here. As a result, voids in the molded product can be reduced.

【0046】そして、図13,14と図17,19の違いは、図
17,19の実施例では、リードフレーム11からはみ出さな
い場所の下型1内にダミーキャビティ26を設け、しかも
ダミーキャビティ26と対応する位置にリードフレーム11
内にもレジン流出スリット28をつけており、モールド後
に不用となるレンジ充填物であるポット2,ランナ3,
第1ゲート4,第2ゲート6,第3ゲート8,ダミーキ
ャビティ26を同時にしかも簡単に打ち抜いて削除できる
という効果もあり、生産工程の自動化が図りやすく生産
性向上を大幅に向上させる機能も併せもっている。
The difference between FIGS. 13 and 14 and FIGS.
In the embodiments of FIGS. 17 and 19, the dummy cavity 26 is provided in the lower mold 1 at a position not protruding from the lead frame 11, and the lead frame 11 is located at a position corresponding to the dummy cavity 26.
A resin outflow slit 28 is also provided inside, and pots 2, runners 3,
There is also an effect that the first gate 4, the second gate 6, the third gate 8, and the dummy cavity 26 can be punched out at the same time and easily, and can be easily removed. I have

【0047】図20は本発明の第8の実施例に係るモール
ド金型の下型の平面図、図21は図20のモールド金型に用
いるリードフレームの平面図、図22はそれらを用いてレ
ジンを充填したのちの下型の平面図である。
FIG. 20 is a plan view of a lower mold of a mold according to an eighth embodiment of the present invention, FIG. 21 is a plan view of a lead frame used in the mold of FIG. 20, and FIG. FIG. 4 is a plan view of a lower mold after filling with resin.

【0048】図20は図7とポット連通路10およびランナ
3の分岐のさせ方は同じであるが、キャビティを斜め配
置し、平面図でのキャビティの頂点から隣接するキャビ
ティの頂点へレジンを流動させることが異なっている。
また、隣り合うランナの長さが異なる2種類の仕様にな
っている。
FIG. 20 is the same as FIG. 7 in the manner of branching the pot communication path 10 and the runner 3, but the cavities are arranged obliquely and the resin flows from the top of the cavity in the plan view to the top of the adjacent cavity. It is different to let.
Also, there are two types of specifications in which the lengths of adjacent runners are different.

【0049】図21のリードフレームは外部リード22が4
方向に出されたタイプのものであり、図2,5,8,18
に示した外部リード22が2方向に出されるタイプとは形
状が異なっている。さらに、図2,5,8,18の外部リ
ード22はリードフレームの外枠の一方と平行に配置され
ているのに対し、図21ではリードフレームの外枠と外部
リード22とは所定の角度を成している。
The lead frame shown in FIG.
2, 5, 8, 18
The shape is different from the type in which the external lead 22 shown in FIG. Further, the external lead 22 of FIGS. 2, 5, 8, and 18 is arranged in parallel with one of the outer frames of the lead frame, while in FIG. 21, the outer frame of the lead frame and the external lead 22 are at a predetermined angle. Has formed.

【0050】図22は図21に示したリードフレーム11を図
20に示した下型1と図示しない上型との間に挿設して、
レジンの供給を終わった状態の下型1の平面図である。
この方式により、外部リード22を4方向に有した半導体
部品を高い生産効率で成形できる。
FIG. 22 shows the lead frame 11 shown in FIG.
Inserted between the lower mold 1 shown in 20 and the upper mold not shown,
FIG. 3 is a plan view of the lower mold 1 in a state where resin supply has been completed.
According to this method, a semiconductor component having the external leads 22 in four directions can be formed with high production efficiency.

【0051】本実施例では、1つの金型構造と1つのリ
ードフレーム構造との組み合わせ例のみ示したが、第7
の実施例までのところで述べたのと同様の種々の組み合
わせができることは言うまでもない。
In this embodiment, only an example of a combination of one mold structure and one lead frame structure is shown.
It goes without saying that various combinations similar to those described above up to the embodiment can be made.

【0052】なお、前述の実施例では、1本のランナで
3個のキャビティを直列に配置し、3個の成形品を取り
出す例を説明したが、本発明はこれに限定されるもので
はなく、成形品の取り数については、成形品の大きさ
は、レジンの流れやすさなどから適切に設定すればよい
ことは言うまでもない。
In the above-described embodiment, an example in which three cavities are arranged in series with one runner and three molded products are taken out has been described. However, the present invention is not limited to this. Needless to say, regarding the number of molded products, the size of the molded product may be appropriately set in consideration of the ease of resin flow.

【0053】図23は本発明の第9の実施例に係る装置の
全体構成、図24はこの装置での成形プロファイル、図25
はその効果を示した図である。
FIG. 23 is an overall configuration of an apparatus according to a ninth embodiment of the present invention, FIG. 24 is a molding profile of this apparatus, and FIG.
Is a diagram showing the effect.

【0054】図23は上型12と下型1とを閉じ、金型を成
形機29に取りつけた状態における図1(c)と本発明に係
るレジンモールド半導体製造装置全体の構成を示したも
のである。各プランジャ17は剛体接続板16に固定され、
さらに剛体接続板16に成形機のロッド15がプラジャ17と
逆方向に接続されている。また、各ポット2に投入され
たレジン20はポット連結流路10を通して互いにつながっ
ている。次にロッド15の駆動用装置構成について概要を
説明する。この装置は、ロッド下降用スイッチ(図示せ
ず)をONにすると、剛体接続板16を介してロッド15に
接続されているプランジャ17が下降してポット2内のレ
ジン20を金型内へ注入することができるようにした駆動
回路を備えたものであってこの駆動回路を、電動機に係
るサーボモータ30とこのサーボモータ30の走行距離を検
出することができる走行距離計に係るパルスジェネレー
タ31と、予め、前記サーボモータに与えるべきモータ最
高電流としての1次電流imax1,2次電流imax
2(ただしimax1>imax2)、および所定の走
行距離を設定しておき、前記プランジャ下降スイッチが
ONになったとき、前記サーボモータ30を速度制御にす
るとともに、モータ最高電流を前記1次電流に設定し、
走行距離が前記設定走行距離になったとき、モータ最高
電流を前記2次電流に切替えて設定し、モータ電流がこ
の2次電流になったとき、前記サーボモータ30をトルク
制御にすることができる駆動制御部32とを有する電気回
路にし、前記サーボモータ30の回転を減速しこれを直線
運動に変換してロッド15に伝達し、このロッド15を下降
させることができる減速・直線運動変換機構に係るボー
ルスクリュジャッキ33を前記サーボモータ30に接続して
設けた成形装置である。
FIG. 23 shows the structure of the entire resin mold semiconductor manufacturing apparatus according to the present invention in FIG. 1 (c) in a state where the upper mold 12 and the lower mold 1 are closed and the mold is mounted on the molding machine 29. It is. Each plunger 17 is fixed to the rigid connection plate 16,
Further, a rod 15 of the molding machine is connected to the rigid connecting plate 16 in a direction opposite to that of the plunger 17. In addition, the resin 20 put into each pot 2 is connected to each other through the pot connection flow path 10. Next, an outline of a driving device configuration of the rod 15 will be described. In this apparatus, when a rod lowering switch (not shown) is turned on, the plunger 17 connected to the rod 15 via the rigid connecting plate 16 is lowered to inject the resin 20 in the pot 2 into the mold. And a pulse generator 31 according to a odometer capable of detecting the traveling distance of the servo motor 30 and the servo motor 30 related to the electric motor. , A primary current imax and a secondary current imax as motor maximum currents to be given to the servomotor in advance.
2 (where imax1> imax2) and a predetermined traveling distance are set, and when the plunger lowering switch is turned on, the servo motor 30 is set to speed control and the motor maximum current is set to the primary current. Set,
When the traveling distance has reached the set traveling distance, the motor maximum current is switched to the secondary current and set, and when the motor current reaches this secondary current, the servo motor 30 can be in torque control. An electric circuit having a drive control unit 32, the speed of the servo motor 30 is reduced, and this is converted into a linear motion and transmitted to the rod 15, and a deceleration / linear motion conversion mechanism capable of lowering the rod 15 is provided. This is a molding device provided with such a ball screw jack 33 connected to the servomotor 30.

【0055】以下、詳細に説明する。30は、タコジネレ
ータ34およびパルスジェネレータ31と連結したサーボモ
ータ、35は、前記タコジェネレータ34からの回転信号数
を取込み、速度制御を行う領域では前記サーボモータ30
の回転数がマイコンユニット36(詳細後述)に設定され
た回転数になるように、クローズドルーブ制御をするこ
とができるモータドライバ、31はサーボモータの走行距
離、すなわちプランジャ変位を検出することができるパ
ルスジェネレータ、36は、このパルスジェネレータ31か
らの変位信号を取込み、プランジャ17の動作を制御でき
るマイコンユニット、37は、このマイコンユニット36
へ、モータ最高電流,サーボモータ30の回転数,プラン
ジャ変位を設定することができるコンソールである。
The details will be described below. Reference numeral 30 denotes a servomotor connected to the tachogenerator 34 and the pulse generator 31. 35 takes the number of rotation signals from the tachogenerator 34 and controls the servomotor 30 in a region where speed control is performed.
A motor driver that can perform closed lube control so that the number of revolutions of the microcomputer becomes the number of revolutions set in the microcomputer unit 36 (details will be described later). The pulse generator 36 receives a displacement signal from the pulse generator 31 and controls the operation of the plunger 17.
The console is capable of setting the maximum motor current, the rotation speed of the servo motor 30, and the plunger displacement.

【0056】このように構成した成形装置の動作を、図
23,図24を用いて説明する。この実施例は、流動性の悪
いレジン(フィラを多量に混合した粘度の高いレジンな
ど)を使用した場合である。
The operation of the molding apparatus configured as described above will now be described with reference to FIG.
This will be described with reference to FIGS. In this example, a resin having poor fluidity (a high-viscosity resin mixed with a large amount of filler) is used.

【0057】コンソール37により、マイコンユニット36
に1次電流imax1,2次電流imax2,第1のプ
ランジャ変位d1(プランジャ17の下端がポット2内の
レジンタブレット(図示せず)上端よりもやや上方へ来
る所定位置),第2のプランジャ変位d2(プランジャ
17の下端が前記第1のプランジャ変位d1よりも下方へ
来る所定位置、すなわち、プランジャ17がレジン充填完
了前の位置),第1の回転数N1,第2の回転数N2
(ただし、N1>N2)を設定する。
The console unit 37 allows the microcomputer unit 36
The first current imax1, the second current imax2, the first plunger displacement d1 (a predetermined position where the lower end of the plunger 17 is slightly above the upper end of the resin tablet (not shown) in the pot 2), the second plunger displacement d2 (plunger
A predetermined position where the lower end of 17 is below the first plunger displacement d1, that is, a position where the plunger 17 is not yet filled with the resin), a first rotational speed N1, and a second rotational speed N2.
(However, N1> N2) is set.

【0058】ここで、レジンタブレット(図示せず)を
ポット2内に投入し、装置のプランジャ下降スイッチ
(図示せず)をONにすると、マイコンユニット36から
モータドライバ35へ、速度制御指令と第1の回転数N1
とが出力され、モータ最高電流が1次電流imax1に
設定され、サーボモータ30が第1の回転数N1で回転す
る。この回転は、ボールスクリュジャッキ33に伝えられ
る、ここで減速されるとともに、ロッド15および各プラ
ンジャ17の下降運動に変えられる。
Here, when a resin tablet (not shown) is put into the pot 2 and a plunger lowering switch (not shown) of the apparatus is turned on, the microcomputer unit 36 sends a speed control command and a motor driver 35 to the motor driver 35. 1 rotation speed N1
Is output, the motor maximum current is set to the primary current imax1, and the servo motor 30 rotates at the first rotation speed N1. This rotation is transmitted to the ball screw jack 33, where it is decelerated and converted into a downward movement of the rod 15 and each plunger 17.

【0059】サーボモータ30の回転数は、タコジェネレ
ータ34によってカウントされ、このタコジェネレーショ
ン34からの回転信号がモータドライバ35へ取込まれ、サ
ーボモータ30の回転が、常に前記第1の回転数N1にな
るようにクローズドロープ制御される。パルスジェネレ
ータ31からの信号がマイコンユニット36に入り、前記第
1のプランジャ変位d1と比較される。ブランジャ17
は、前記第1の回転数N1に対応して、ポット2内を高
速で下降し、パルスジェネレータ31によって検出したプ
ランジャ変位が第1のプランジャ変位d1になったと
き、(図24のa点)マイコンユニット36からの指令によ
ってサーボモータ30の回転数が、第1の回転数N1から
第2の回転数N2へ落ち、プランジャ17が低速で下降す
る。
The number of revolutions of the servo motor 30 is counted by a tach generator 34, and a rotation signal from the tach generation 34 is taken into a motor driver 35, and the rotation of the servo motor 30 is always kept at the first rotation speed N1. Closed rope control is performed so that A signal from the pulse generator 31 enters the microcomputer unit 36 and is compared with the first plunger displacement d1. Blanja 17
When the plunger displacement detected by the pulse generator 31 becomes the first plunger displacement d1 at a high speed corresponding to the first rotational speed N1 (point a in FIG. 24). In response to a command from the microcomputer unit 36, the rotation speed of the servo motor 30 drops from the first rotation speed N1 to the second rotation speed N2, and the plunger 17 descends at a low speed.

【0060】下型1,上型12のヒータ(図示せず)によ
って加熱され溶融したレジン20はプランジャ17の下降に
よりポット連結流路10を充填するとともに、図1(a)及
び図1(b)のランナ3,第1ゲート4を通り、下流側へ
順次運ばれる。そして、レジンが最下流の第3キャビテ
ィ9内へ充填完了する直前まで来たとき、すなわちプラ
ンジャ17の変位が第2のプランジャ変位d2になったと
き(図24のt1)マイコンユニット36が指令を出し、モ
ータ最高電流が、1次電流imax1からimax2へ
切り替わる。サーボモータ30は、そのまま第2の回転数
N2を維持する。そしてレジン20が全てのキャビティへ
充填完了し、プランジャ17が停止したとき(図24のt
2)、モータ電流iが2次側の設定値imax2の値を
保持し、トルク制御に移り、imax2に対応する樹脂
圧力Pがレジン20に所定時間負荷されて成形を終了し、
成形装置がOFFになる。
The resin 20 heated and melted by the heaters (not shown) of the lower mold 1 and the upper mold 12 fills the pot connecting flow path 10 by lowering the plunger 17, and also as shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b). ), And are sequentially transported downstream through the first gate 4. Then, when the resin has come to just before the filling of the third cavity 9 at the most downstream position is completed, that is, when the displacement of the plunger 17 becomes the second plunger displacement d2 (t1 in FIG. 24), the microcomputer unit 36 issues a command. And the motor maximum current is switched from the primary current imax1 to imax2. The servo motor 30 maintains the second rotation speed N2 as it is. When the resin 20 has been filled into all the cavities and the plunger 17 has stopped (t in FIG. 24).
2), the motor current i holds the value of the set value imax2 on the secondary side, and the process shifts to torque control; the resin pressure P corresponding to imax2 is applied to the resin 20 for a predetermined time;
The molding device is turned off.

【0061】このような制御を行わせるので、成形性の
悪いレジンでの充填完了直前までプランジャ17は設定速
度通りに下降する。また、充填完了直前に荷重を下げる
のでキャビティ内に高圧が加わることによるバリの発生
やインサート変形の問題がない。
Since such control is performed, the plunger 17 descends at the set speed until just before the filling with the resin having poor moldability is completed. In addition, since the load is reduced immediately before the completion of filling, there is no problem of generation of burrs and insert deformation due to application of high pressure in the cavity.

【0062】図25は、本発明に係る装置によって成形し
た樹脂封止品のボイド発生率,未充填不良発生率の一例
を、第1図における金型の従来の油圧オープンループ方
式の成形機で成形したものと比較して示す欠陥発生図で
ある。この図25において、Aは従来の油圧オープンルー
プ方式の回路を備えて成形した樹脂封止品の欠陥を、B
は本発明に係る装置によって成形した樹脂封止品の欠陥
を、それぞれ示すものであり、本発明の方が、欠陥が著
しく低減していることがわかる。
FIG. 25 shows an example of a void generation rate and an unfilling defect generation rate of a resin-encapsulated product molded by the apparatus according to the present invention using a conventional hydraulic open-loop molding machine for a mold shown in FIG. FIG. 4 is a defect generation diagram shown in comparison with a molded product. In FIG. 25, A indicates a defect of a resin-encapsulated product molded with a conventional hydraulic open loop type circuit,
Shows defects of the resin-encapsulated product molded by the apparatus according to the present invention, and it can be seen that the defects of the present invention are significantly reduced.

【0063】なお、本実施例では電動駆動のクローズド
ループ制御例を示したが油圧駆動のクローズドループ制
御を用いてもよい。
In this embodiment, an example of closed loop control of electric drive is shown, but closed loop control of hydraulic drive may be used.

【0064】[0064]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によればキ
ャビテイからキャビテイへ樹脂を供給することによる生
産性の向上と、パッケージ中央部分を介したキャビテイ
への樹脂の供給による製品品質の向上とを両立させた半
導体装置の製造方法を提供することができる。
As described above, according to the present invention, the productivity can be improved by supplying the resin from the cavity to the cavity, and the product quality can be improved by supplying the resin to the cavity through the central portion of the package. And a method of manufacturing a semiconductor device that achieves both.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施例であり、(a)は下型平面
図、(b)は上,下型を閉じた状態での(a)のA−A断面
図、(c)はB−B断面図。
FIGS. 1A and 1B show a first embodiment of the present invention, wherein FIG. 1A is a plan view of a lower mold, FIG. 1B is a sectional view taken along the line AA of FIG. ) Is a BB cross-sectional view.

【図2】図1のモールド金型に用いるリードフレームの
正面図。
FIG. 2 is a front view of a lead frame used in the mold of FIG. 1;

【図3】第1の実施例に係るレジンモールド半導体装置
を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。
FIG. 3 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the first embodiment.

【図4】第2の実施例の下型平面図。FIG. 4 is a plan view of a lower die of the second embodiment.

【図5】図4のモールド金型に用いるリードフレームの
正面図。
FIG. 5 is a front view of a lead frame used in the mold shown in FIG. 4;

【図6】図2の実施例に係るレジンモールド半導体装置
を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。
FIG. 6 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the embodiment of FIG. 2;

【図7】第3の実施例の下型平面図。FIG. 7 is a bottom plan view of the third embodiment.

【図8】図7のモールド金型に用いるリードフレームの
正面図。
FIG. 8 is a front view of a lead frame used in the mold shown in FIG. 7;

【図9】第3の実施例に係るレジンモールド半導体装置
を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。
FIG. 9 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the third embodiment.

【図10】第3の実施例の下型平面図。FIG. 10 is a plan view of a lower die of the third embodiment.

【図11】第4の実施例の下型平面図。FIG. 11 is a bottom plan view of a fourth embodiment.

【図12】第4の実施例に係るレジンモールド半導体装
置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。
FIG. 12 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the fourth embodiment.

【図13】第5の実施例の下型平面図。FIG. 13 is a bottom plan view of a fifth embodiment.

【図14】第5の実施例に係るレジンモールド半導体装
置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。
FIG. 14 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the fifth embodiment.

【図15】第6の実施例の下型平面図。FIG. 15 is a bottom plan view of a sixth embodiment.

【図16】第6の実施例に係るレジンモールド半導体装
置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。
FIG. 16 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the sixth embodiment.

【図17】第7の実施例の下型平面図。FIG. 17 is a plan view of a lower die of the seventh embodiment.

【図18】図17のモールド金型に用いるリードフレーム
の正面図。
FIG. 18 is a front view of a lead frame used in the mold of FIG. 17;

【図19】第7の実施例に係るレジンモールド半導体装
置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。
FIG. 19 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the seventh embodiment.

【図20】第8の実施例の下型平面図。FIG. 20 is a plan view of a lower die of the eighth embodiment.

【図21】図20のモールド金型に用いるリードフレーム
の正面図。
FIG. 21 is a front view of a lead frame used in the mold of FIG. 20;

【図22】第8の実施例に係るレジンモールド半導体装
置を用いてレジンを充填した後の下型の平面図。
FIG. 22 is a plan view of a lower mold after resin is filled using the resin mold semiconductor device according to the eighth embodiment.

【図23】第9の実施例の半導体樹脂封止装置全体構成
図。
FIG. 23 is an overall configuration diagram of a semiconductor resin sealing device according to a ninth embodiment.

【図24】第9の実施例に係る半導体樹脂封止装置によ
り成形した成形プロファイル図。
FIG. 24 is a molding profile diagram formed by a semiconductor resin sealing device according to a ninth embodiment.

【図25】従来の成形法のものと比較して示す欠陥発生
図。
FIG. 25 is a defect generation diagram shown in comparison with that of a conventional molding method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…下型 2…ポット 3…ランナ 4…第1ゲート 5…第1キャビティ 6…第2ゲート 7…第2キャビティ 8…第3ゲート 9…第3キャビティ 10…ポット連結流路 11…リードフレーム 12…上型 15…シリンダロッド 16…剛体接続板 17…プランジャ 23…スリット 24…ブリッジ 25…エアベント 26…ダミーキャビティ 27…ポット流出ゲート 28…レジン流出スリット 30…サーボモータ 31…パルスジェネレータ 32…駆動制御部 34…タコジェネレータ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Lower mold 2 ... Pot 3 ... Runner 4 ... 1st gate 5 ... 1st cavity 6 ... 2nd gate 7 ... 2nd cavity 8 ... 3rd gate 9 ... 3rd cavity 10 ... Pot connection flow path 11 ... Lead frame DESCRIPTION OF SYMBOLS 12 ... Upper die 15 ... Cylinder rod 16 ... Rigid connection plate 17 ... Plunger 23 ... Slit 24 ... Bridge 25 ... Air vent 26 ... Dummy cavity 27 ... Pot outflow gate 28 ... Resin outflow slit 30 ... Servo motor 31 ... Pulse generator 32 ... Drive Control unit 34: Tacho generator

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 吉田 勇 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 西 邦彦 東京都小平市上水本町1450番地株式会社 日立製作所武蔵工場内 (56)参考文献 特開 昭58−207660(JP,A) 特開 昭56−94635(JP,A) 実開 昭61−13952(JP,U) ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Isamu Yoshida 292, Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefecture Inside Hitachi, Ltd. Production Technology Research Laboratory (72) Inventor Kunihiko Nishi, 1450, Josuihoncho, Kodaira-shi, Tokyo (56) References JP-A-58-207660 (JP, A) JP-A-56-94635 (JP, A) JP-A-61-13952 (JP, U)

Claims (3)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】樹脂を供給するポットと、その樹脂の供給
を受ける複数個のキャビテイとを少なくとも配置した金
型に、前記キャビテイ間に配置されるスリットを形成し
たリードフレームを設置し、 前記スリット を介して前記キャビテイから他のキャビテ
イへ樹脂を供給することを特徴とする半導体装置の製造
方法。
1. A metal mold having at least a pot for supplying a resin and a plurality of cavities for receiving the resin.
Forming a slit in the mold between the cavities;
Mounting a lead frame and supplying a resin from the cavity to another cavity through the slit .
【請求項2】樹脂を供給するポットと、その樹脂の供給
を受ける複数個のキャビテイと、前記キャビテイから他
のキャビテイへの樹脂の流路となるゲートを配置した金
型に、前記キャビテイ間に配置されるスリットを有する
リードフレームを設置し、 前記スリットと前記ゲートとで形成される流路を介し
て、前記キャビテイから他のキャビテイへ樹脂を供給す
ることを特徴とする半導体装置の製造方法。
2. A pot for supplying a resin, and a supply of the resin.
Receiving multiple cavities and other
With a gate that serves as a resin flow path to the cavity
The mold has a slit disposed between the cavities
A lead frame is installed, and a lead frame is formed through a flow path formed by the slit and the gate.
To supply resin from the cavity to other cavities.
A method of manufacturing a semiconductor device.
【請求項3】前記スリット内にブリッジを設けたことを
特徴とする請求項1または2記載の半導体装置の製造方
法。
3. The method according to claim 1, wherein a bridge is provided in the slit.
3. A method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, wherein
Law.
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