JP2638402B2

JP2638402B2 - 光ピックアップ

Info

Publication number: JP2638402B2
Application number: JP4203345A
Authority: JP
Inventors: 昇吾堀之内
Original assignee: Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Current assignee: Panasonic Holdings Corp
Priority date: 1992-07-30
Filing date: 1992-07-30
Publication date: 1997-08-06
Anticipated expiration: 2012-08-06
Also published as: JPH06290503A

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は光ディスクへの情報の記
録または再生を行う光ピックアップに関するものであ
る。

【０００２】

【従来の技術】従来からレーザ光を利用して情報の記録
や再生を行う光デイスク装置の小型化が望まれており、
光ピックアップの小型・軽量化の試みが行われている。
光ピックアップの小型・軽量化は、装置全体の小型化だ
けでなく、アクセス時間の短縮などの性能向上に有利と
なる。近年、ホログラム光学素子利用による光ピックア
ップの小型・軽量化が図られており、一部実用化に供し
ている。例えば、その一例として、特開昭６２−１４６
４４４号公報等があり、透明で細長な光案内体による複
数の内部反射でレーザ光を集光用のホログラムレンズま
で導くとともに、光ディスク盤からの反射光を光案内体
による複数の内部反射で光検出器まで導くもの等があ
る。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
の構成では以下のような問題点を有していた。（１）レーザ光を光ディスクの情報保持面に集光するた
めのホログラムレンズ、往復路分離用の偏光ビームスプ
リッタ、非点収差を得るためのゾーンプレートが別々に
構成されているため必要な光路長が長くなり、光ピック
アップの小型化が困難である。（２）レーザの出力ビームが非球面リフレクタに到達す
るまでに、凹面リフレクタ等で数回の内面反射を繰り返
すので、レーザ光の偏光状態が直線偏光から楕円偏光へ
変化し、読み出した記録信号のＳ／Ｎ比が劣化する。（３）光ディスクで反射された記録信号を含む復路の光
路に数個の平面鏡があるので、反射によりレーザ光の偏
光状態が変化し、記録信号のＳ／Ｎ比が大きく劣化す
る。（４）不完全偏光ビームスプリッタを形成する場合、ま
ず光案内体の上面に不完全偏光ビームスプリッタ用の膜
をコーティングし、しかる後に外皮部分を形成しなけれ
ばならないため製造プロセスが複雑である。（５）凹面リフレクタ、平面鏡の面の傾きの方向が異な
る場合、各面間の位置関係、傾き角の管理が困難であ
る。（６）光学素子の構成が複雑で安価に生産できない。

【０００４】

【課題を解決するための手段】本発明は上記従来の問題
点を解決するため、発光素子からの光を光ディスク盤に
集光する第１のホログラムパターンとｎを整数とした場
合に発光素子からの直線偏光の偏光方向に対して（２ｎ
＋１）π／４の方向に光ディスク盤からの反射光を回折
するとともに焦点を結ぶ光へ変える第２のホログラムパ
ターンとを重畳した複合ホログラムを透明な平行平板か
らなる光ガイド部材の光ディスク盤側の平面へ、複合ホ
ログラムを通ってきた光ディスク盤からの反射光のＰ偏
光成分を第１受光センサへ透過し、Ｓ偏光成分を反射す
る偏光分離部を光ガイド部材の受光センサ側の平面へ、
偏光分離部からの反射光を第２受光センサへ反射する反
射部を光ガイド部材の光ディスク盤側の平面へ、反射部
からの反射光を第２受光センサに導く透過窓を光ガイド
部材の受光センサ側の平面へ設け、複合ホログラムを通
ってきた光ディスク盤からの反射光の焦点が偏光分離部
と透過窓との間に存在し、第１受光センサと第２受光セ
ンサとの差によりフォーカスエラーと光ディスク盤に記
録されている情報とを検出するよう構成した。

【０００５】

【作用】本発明は上記構成により、複合ホログラムの第
１のホログラムパターンと、第２のホログラムパターン
が、同一の領域に重畳されたパターンとして形成されて
おり、一領域で集光機能、往復路分離機能、フォーカス
エラー検出用の光へ変える機能の３つの機能を持たせる
ことができるとともに、複合ホログラムの第２のホログ
ラムパターンにより光ディスク盤からの反射光を発光素
子からの直線偏光の偏光方向に対してｎを整数とした場
合（２ｎ＋１）π／４の方向に回折するため、偏光分離
部に対してＰ偏光成分、Ｓ偏光成分を半々にすることが
できる。

【０００６】

【実施例】以下本発明の一実施例について、図面を参照
しながら説明する。図１（ａ）は本発明の一実施例にお
ける光ピックアップの平面図、図１（ｂ）は本発明の一
実施例における図１（ａ）に示す光ピックアップの線Ｘ
−Ｘ断面図である。

【０００７】まず、発光素子である半導体レーザから、
光ディスク盤に至る往路の光路について説明する。図１
（ｂ）においてセンサ基板１上に水平にマウントされた
半導体レーザチップ２から水平に放出されたレーザ光３
は、同じくセンサ基板１上に反射面を半導体レーザチッ
プ２に対向するようにマウントされた台形状の反射プリ
ズム４により、透明な光ガイド部材５の第２面５ｂの入
射窓６から光ガイド部材５内部に入射し拡散光７にな
る。光ガイド部材の第１面５ａには複合ホログラム８が
形成されている。

【０００８】複合ホログラム８には図２（ａ）のよう
な、２種類のホログラムパターンが重畳されて描かれて
いる。図２（ｂ）は同心円で、外周ほどピッチが小さく
なり、拡散光７を光ディスク盤９の情報記録層９ａにス
ポット１０として集光する収束光１１に変換する第１の
ホログラムパターン８ａである。図２（ｃ）は第２のホ
ログラムパターン８ｂでスポット１０の反射光を、復路
回折光１２に変換する。

【０００９】次に光ディスク盤９からの復路について説
明する。光ガイド部材５の第２面５ｂには、復路回折光
１２のＰ偏光成分を透過し、Ｓ偏光成分を反射する復路
偏光分離膜がコーティングされた復路偏光分離部１３が
形成してある。

【００１０】図１（ａ）に示すように第２のホログラム
パターン８ｂは、複合ホログラム８に入射する拡散光７
の偏光状態を矢印で表すような直線偏光１４とすると、
復路回折光１２の回折方向が直線偏光１４の偏光方向に
対して４５゜になるよう設定してあるので、復路回折光
１２は復路偏光分離部１３に対してＰ偏光成分、Ｓ偏光
成分が約半々となり、復路偏光分離部１３からの透過光
１５の光量は復路回折光１２の約半分になる。透過光１
５はセンサ基板１に形成された第１受光センサ１６を照
射する。復路偏光分離部１３で反射された復路回折光１
２の残りの約半分である反射光１７は、第１面５ａの復
路反射部１８で反射され再び第２面５ｂへ向かう反射光
１９となる。この反射光１９は、第２面５ｂの透過窓２
０を透過した後、透過光２１となり第２受光センサ２２
を照射する。復路回折光１２は復路偏光分離部１３と透
過窓２０間に焦点２３が存在するように複合ホログラム
８等が設計されている。

【００１１】図３を用いて更に詳細に光磁気信号検出原
理を説明する。図３において１４は前述のように複合ホ
ログラム８に入射する直線偏光の偏光方向である。複合
ホログラム８は偏光面には影響を与えないから、光ディ
スク盤９の情報記録層９ａに情報が記録されていなけれ
ば（情報記録層９ａが磁化されていなければ）、スポッ
ト１０の反射光である復路回折光１２も直線偏光１４と
同じ偏光方向を有する。このような状態の復路回折光１
２の偏光方向を、Ｐ偏光成分をほぼ１００％透過させ、
Ｓ偏光成分をほぼ１００％反射する復路偏光分離部１３
の偏光分離膜に対し、図３に示すように方位４５゜で入
射するように復路回析光１２の回析方向を直線偏光１４
の偏光方向に対して４５゜に設定する。直線偏光１４は
光ディスク盤９の磁化された情報ピットで反射すると、
磁化の極性と磁化の強さによって回転方向が±θｋの範
囲で変化する（カー効果）。いま直線偏光１４の状態か
らθｋ回転した状態を直線偏光２４、−θｋ回転した状
態を直線偏光２５とする。直線偏光２４から直線偏光２
５まで変調された光磁気信号を復路偏光分離部１３の偏
光分離膜に入射させると、第１受光センサ１６で検出す
るＰ偏光成分は信号２６のようになり、第２受光センサ
２２で検出するＳ偏光成分は信号２７のようになる。信
号２６と信号２７は位相が９０゜ずれているから、両信
号を差動増幅すれば、信号成分は２倍となり、同位相成
分のノイズはキャンセルされるので結果的にＳ／Ｎ比が
良くなる。

【００１２】これらの第１受光センサ１６、第２受光セ
ンサ２２等が形成されているセンサ基板１への各種信号
の入出力は、リードフレーム２８を介して行われる。２
９は樹脂、セラミックス等の非導電性材質で作られたパ
ッケージである。光ガイド部材５とパッケージ２９で囲
まれた空間３０は通常窒素ガス等の不活性ガスで充満さ
れるが、必要に応じて透明樹脂等で充填しても良い。

【００１３】なお、本実施例は復路回析光１２の回析方
向を直線偏光１４の偏光方向に対して４５゜に設定した
が、この角度は４５゜、２２５゜、３１５゜のいずれか
でも良い。

【００１４】次に、図４を用いて第１受光センサ１６お
よび第２受光センサ２２の形状と、信号検出原理につい
て説明する。第１受光センサ１６および第２受光センサ
２２は、それぞれ４つの部分１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、
１６ｄ、および２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、２２ｄに分割
されている。ここで、第１受光センサ１６、第２受光セ
ンサ２２の各部分１６ａ、１６ｂ、１６ｃ、１６ｄ、お
よび２２ａ、２２ｂ、２２ｃ、２２ｄからの電流を、そ
れぞれＩ（１６ａ）、Ｉ（１６ｂ）、Ｉ（１６ｃ）、Ｉ
（１６ｄ）、およびＩ（２２ａ）、Ｉ（２２ｂ）、Ｉ
（２２ｃ）、Ｉ（２２ｄ）とする。図４の回路図からわ
かるように、フォーカスエラー信号（Ｆ．Ｅ．）、トラ
ッキングエラー信号（Ｔ．Ｅ．）、ＲＦ（記録）信号
（Ｒ．Ｆ．）の各信号は以下の数式（数１）、（数
２）、（数３）により得られるような回路構成になって
いる。

【００１５】

【数１】

【００１６】

【数２】

【００１７】

【数３】

【００１８】このフォーカスエラー信号（Ｆ．Ｅ．）、
トラッキングエラー信号（Ｔ．Ｅ．）、ＲＦ（記録）信
号（Ｒ．Ｆ．）の内、フォーカスエラー信号（Ｆ．
Ｅ．）についてさらに説明する。

【００１９】いま光ディスク盤９の情報記録層９ａに、
複合ホログラム８のスポット１０が正確に合焦してお
り、この合焦状態における第１受光センサ１６および第
２受光センサ２２上のレーザ光の照射形状をそれぞれ３
１ａ、３２ａとすると、次の（数４）になるようにレー
ザ光の照射強度分布と、レーザ光と第１受光センサ１６
および第２受光センサ２２との位置関係が調整されてい
る。

【００２０】

【数４】Ｆ．Ｅ．＝０

【００２１】次に、光ディスク盤９と第１面５ａ間の距
離が合焦状態から近接した場合、第１受光センサ１６お
よび第２受光センサ２２上のレーザ光の照射形状はそれ
ぞれ３１ｃ、３２ｃとなり、フォーカスエラー信号
（Ｆ．Ｅ．）は（数５）のように変化する。

【００２２】

【数５】Ｆ．Ｅ．＞０

【００２３】逆に、光ディスク盤９と第１面５ａ間の距
離が合焦状態から離れた場合、第１受光センサ１６およ
び第２受光センサ２２上のレーザ光の照射形状は３１
ｂ、３２ｂとなり、フォーカスエラー信号（Ｆ．Ｅ．）
は（数６）のように変化する。

【００２４】

【数６】Ｆ．Ｅ．＜０

【００２５】以上のようなフォーカスエラー検出方式は
スポットサイズ法として、またトラッキングエラー検出
方式はプッシュプル方式として知られている。

【００２６】このように復路回折光１２の焦点２３が復
路偏光分離部１３と透過窓２０間に存在するように設計
することで、従来よく用いられている非点収差法でフォ
ーカスエラーを検出する場合に比べて、非点収差発生用
の複雑なホログラムパターンが不必要であり、複合ホロ
グラム８の第２のホログラムパターン８ｂが集光のみの
非常にシンプルなパターンとなる。

【００２７】図５、図６はスポットサイズ法より簡便な
フォーカスエラー検出方式を用いた場合の構成を示した
ものである。図５（ａ）において、光ガイド部材５の第
２面５ｂには偏光分離膜３３が、さらに積層されて拡散
膜３４、遮光膜３５がコーティングしてあり、偏光分離
窓３６が設けてある。図５（ｂ）のように拡散膜３４の
形状を輪帯とし、内径をｄ、外径をＤとするとき、復路
回折光１２の偏光分離膜３３上における直径Ｈが（数
７）の関係になるようにｄ、Ｄを決めている。

【００２８】

【数７】ｄ＜Ｈ＜Ｄ

【００２９】これは、ｄからＨまでの範囲の透過光を拡
散膜３４で拡散させ、反射光３７に影響を与えないため
である。このような主旨から拡散膜３４はレーザ光を吸
収する吸収膜でも良い。拡散膜３４の内径ｄより内径側
を透過した透過光３８は第１受光センサ３９に到達す
る。

【００３０】図６は第２受光センサ４０に入射する反射
光１９を示したものである。光ガイド部材５の第２面５
ｂには反射光１９の径より小さな透過窓４１を形成する
ために遮光膜４２がコーティングしてある。この遮光膜
４２はもちろん図５の遮光膜３５と連続的な領域として
コーティングしても良い。図６（ｂ）は反射光１９が第
２面５ｂに到達するときの径と透過窓４１の径の大小を
表したものである。透過窓４１からの透過光４３は第２
受光センサ４０を照射している。

【００３１】このような方式のフォーカスエラー検出方
式を用いるとき、第１受光センサ３９、第２受光センサ
４０は図４の第１受光センサ１６、第２受光センサ２２
のように分割されている必要はなく、透過光３８および
透過光４３を受光するのに十分広い受光面積を有する第
１受光センサ３９と第２受光センサ４０の出力の差をフ
ォーカスエラーとして用いることができる。図７は第１
受光センサ３９、第２受光センサ４０のそれぞれの出
力、および第１受光センサ３９と第２受光センサ４０の
差信号を表したものである。

【００３２】このフォーカスエラー検出方式では図４で
示したような多分割受光センサを用いないため、第１受
光センサ３９、第２受光センサ４０とレーザ光の照射形
状との微妙な位置調整が不要であり、生産性、長期安定
性に優れている。

【００３３】なお、図１に示す方式、および図５，図６
のいずれの方式においても、入射窓６、復路偏光分離部
１３、透過窓２０、透過窓４１以外の部分を、光ガイド
部材５の第２面５ｂ全体にわたり、遮光膜３５をコーテ
ィングして用いれば、光ガイド部材５内で発生する色々
な迷光が受光センサに与える影響を格段に小さくできる
ので、信号のＳ／Ｎ比が向上する。

【００３４】図８は図１の半導体レーザチップ２と反射
プリズム４近傍の構造を拡大して示した図である。反射
プリズム４は台形であり、その反射面４ａには半導体レ
ーザチップ２の放出光の一部を反射プリズム４内部に透
過する半透過膜がコーティングされている。反射プリズ
ム４内に取り込まれた半透過光４５はセンサ基盤１の反
射プリズム４の底面と接触する部分に形成されたモニタ
ーセンサ４４で検出される。このモニターセンサ４４は
常に半導体レーザチップ２の光量変化をモニターし制御
回路に情報をフィードバックする。従来は半導体レーザ
チップ２の後面２ａからの放出光量をモニターしていた
が、後面２ａからの放出光は他の受光センサ（第１受光
センサ１６、第２受光センサ２２など）に対する迷光の
原因となる。本発明の構成では反射プリズム４内に取り
込むため、他の受光センサへの影響を少なくできるとい
うメリットがある。半導体レーザチップ２から放出され
たレーザ光は反射プリズム４によって光ガイド部材５の
第２面５ｂに設けられた入射窓６から入射する。反射プ
リズム４を用いることにより、半導体レーザチップ２を
センサ基板１上に水平にマウントでき、配線や放熱の点
で有利であるとともに、光ガイド部材５への入射角の設
定が精度良くできるというメリットがある。

【００３５】

【発明の効果】以上のように本発明は、発光素子からの
光を光ディスク盤に集光する第１のホログラムパターン
とｎを整数とした場合に発光素子からの直線偏光の偏光
方向に対して（２ｎ＋１）π／４の方向に光ディスク盤
からの反射光を回折するとともに焦点を結ぶ光へ変える
第２のホログラムパターンとを重畳した複合ホログラム
を透明な平行平板からなる光ガイド部材の光ディスク盤
側の平面へ、複合ホログラムを通ってきた光ディスク盤
からの反射光のＰ偏光成分を第１受光センサへ透過し、
Ｓ偏光成分を反射する偏光分離部を光ガイド部材の受光
センサ側の平面へ、偏光分離部からの反射光を第２受光
センサへ反射する反射部を光ガイド部材の光ディスク盤
側の平面へ、反射部からの反射光を第２受光センサに導
く透過窓を光ガイド部材の受光センサ側の平面へ設け、
複合ホログラムを通ってきた光ディスク盤からの反射光
の焦点が偏光分離部と透過窓との間に存在し、第１受光
センサと第２受光センサとの差によりフォーカスエラー
と光ディスク盤に記録されている情報とを検出するよう
構成したことにより、複合ホログラムの第１のホログラ
ムパターンと、第２のホログラムパターンが、同一の領
域に重畳されたパターンとして形成されており、一領域
で集光機能、往復路分離機能、フォーカスエラー検出用
の光へ変える機能の３つの機能を持たせることができ、
光ピックアップの小型化が可能となるとともに、複合ホ
ログラムの第２のホログラムパターンにより光ディスク
盤からの反射光を発光素子からの直線偏光の偏光方向に
対してｎを整数とした場合（２ｎ＋１）π／４の方向に
回折するため、偏光分離部に対してＰ偏光成分、Ｓ偏光
成分を半々にすることができ、光ディスク盤からの反射
光を第１受光センサと、第２受光センサにそれぞれ５０
％の割合で分光することが可能となり、第１受光センサ
と、第２受光センサの差動増幅により、光ディスク盤に
記録されている情報を持つ信号以外の同位相ノイズ成分
が除去された良質なＲＦ（記録）信号を得ることができ
る。さらに光ディスク盤からの反射光の焦点が復路半透
過部と透過窓間に存在するため第１受光センサと、第２
受光センサの差によりスポットサイズ法などの手段によ
りフォーカスエラー信号を得ることができる。また、製
造法としても平行平板へのホログラムのパターンニング
や、膜形成などの簡単な構成であるため、高精度に高集
積化が可能で、しかも安価な光磁気記録用等の光ピック
アップを提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）は本発明の一実施例における光ピックア
ップの平面図（ｂ）は本発明の一実施例における図１（ａ）に示す光
ピックアップの線Ｘ−Ｘ断面図

【図２】（ａ）は本発明の一実施例における光ピックア
ップの第１のホログラムパターンと第２のホログラムパ
ターンの重畳パターンを示す図（ｂ）は本発明の一実施例における光ピックアップの第
１のホログラムパターンを示す図（ｃ）は本発明の一実施例における光ピックアップの第
２のホログラムパターンを示す図

【図３】本発明の一実施例における光ピックアップの光
磁気信号検出原理図

【図４】本発明の一実施例における光ピックアップを構
成する受光センサの形状および信号処理回路図

【図５】（ａ）は本発明の一実施例における光ピックア
ップの他のフォーカスエラー検出方式を用いた場合の第
１受光センサ付近の断面図（ｂ）は本発明の一実施例における光ピックアップの他
のフォーカスエラー検出方式を用いた場合の第１受光セ
ンサ付近の平面図

【図６】（ａ）は本発明の一実施例における光ピックア
ップの他のフォーカスエラー検出方式を用いた場合の第
２受光センサ付近の断面図（ｂ）は本発明の一実施例における光ピックアップの他
のフォーカスエラー検出方式を用いた場合の第２受光セ
ンサ付近の平面図

【図７】（ａ）は本発明の一実施例における光ピックア
ップの他のフォーカスエラー検出方式を用いた場合の第
１受光センサからの出力波形図（ｂ）は本発明の一実施例における光ピックアップの他
のフォーカスエラー検出方式を用いた場合の第２受光セ
ンサからの出力波形図（ｃ）は本発明の一実施例における光ピックアップの他
のフォーカスエラー検出方式を用いた場合の第１受光セ
ンサの出力から第２受光センサの出力を引いた出力波形
図

【図８】本発明の一実施例における光ピックアップの半
導体レーザチップと反射プリズム近傍の拡大図

【符号の説明】

１センサ基盤２半導体レーザチップ４反射プリズム５光ガイド部材８複合ホログラム９光ディスク盤１０スポット１２復路回折光１３復路偏光分離部１４直線偏光１６第１受光センサ１８復路反射部２０透過窓２２第２受光センサ２８リードフレーム２９パッケージ３４拡散膜

Claims

(57)【特許請求の範囲】

【請求項１】光ディスク盤へ直線偏光の光を照射する発
光素子と、光ディスク盤からの反射光を受光する第１受
光センサおよび第２受光センサと、前記両受光センサと
光ディスク盤との間に配設された、前記発光素子からの
光を光ディスク盤へ案内するとともに、光ディスク盤か
らの反射光を前記両受光センサへ案内する透明な平行平
板からなる光ガイド部材とを有し、前記発光素子からの
光を光ディスク盤に集光する第１のホログラムパターン
と、ｎを整数とした場合に前記発光素子からの直線偏光
の偏光方向に対して（２ｎ＋１）π／４の方向に光ディ
スク盤からの反射光を回折するとともに焦点を結ぶ光へ
変える第２のホログラムパターンとを重畳した複合ホロ
グラムを前記光ガイド部材の光ディスク盤側の平面へ、
前記複合ホログラムを通ってきた光ディスク盤からの反
射光のＰ偏光成分を前記第１受光センサへ透過し、Ｓ偏
光成分を反射する偏光分離部を前記光ガイド部材の前記
両受光センサ側の平面へ、前記偏光分離部からの反射光
を前記第２受光センサへ反射する反射部を前記光ガイド
部材の光ディスク盤側の平面へ、前記反射部からの反射
光を前記第２受光センサに導く透過窓を前記光ガイド部
材の前記両受光センサ側の平面へ設け、前記複合ホログ
ラムを通ってきた光ディスク盤からの反射光の焦点が前
記偏光分離部と前記透過窓との間に存在し、前記第１受
光センサと前記第２受光センサとの差によりフォーカス
エラーと光ディスク盤に記録されている情報とを検出す
ることを特徴とする光ピックアップ。
【請求項２】前記発光素子、前記両受光センサが、前記
光ガイド部材と非接触に配置されたことを特徴とする請
求項１記載の光ピックアップ。
【請求項３】前記発光素子からの光を反射することによ
り前記光ガイド部材へ入射させる入射光反射部材を備え
たことを特徴とする請求項２記載の光ピックアップ。
【請求項４】前記発光素子、および前記入射光反射部材
が、前記両受光センサが形成されているセンサ基板上に
配置されていることを特徴とする請求項３記載の光ピッ
クアップ
【請求項５】前記入射光反射部材が台形プリズムであ
り、前記台形プリズムの斜面に半透過膜をコーティング
するとともに、前記台形プリズム底面に接触して前記セ
ンサ基板に光量モニターセンサを形成し、前記発光素子
からの光の一部を前記台形プリズムの内部に透過させ、
前記光量モニターセンサにて前記発光素子の光量をモニ
ターすることを特徴とする請求項４記載の光ピックアッ
プ。
【請求項６】前記偏光分離部を構成する偏光分離膜に、
光を拡散する部材で構成され、光ディスク盤からの反射
光の光束径より小さな絞りを持つ絞り膜を積層するとと
もに、前記透過窓を光ディスク盤からの反射光の光束径
より小さくして、前記絞りおよび前記透過窓からの透過
光をそれぞれ前記第１受光センサ、および前記第２受光
センサで検出し、透過光の光量差によりフォーカスエラ
ーを検出することを特徴とする請求項２記載の光ピック
アップ。