JP2633621B2 - Ｘ線ｃｔスキャナ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔスキャナ装置Info
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- JP2633621B2 JP2633621B2 JP63118457A JP11845788A JP2633621B2 JP 2633621 B2 JP2633621 B2 JP 2633621B2 JP 63118457 A JP63118457 A JP 63118457A JP 11845788 A JP11845788 A JP 11845788A JP 2633621 B2 JP2633621 B2 JP 2633621B2
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 13
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 4
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
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- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 2
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、多チャンネル型放射線検出器として電離箱
検出器を用いたＸ線CTスキャナ装置に関する。
検出器を用いたＸ線CTスキャナ装置に関する。
（従来の技術） Ｘ線CTスキャナ装置は、例えば、第３世代のものであ
れば、第３図に示すように、被検体Ｐを挟んでＸ線源１
と多チャンネル型放射線検出器２とが配置され、このＸ
線源１と多チャンネル型放射線検出器２との組は対向さ
せた状態で被検体Ｐの回りを回転しつつＸ線源１からＸ
線を照射し、被検体Ｐを透過したＸ線を多チャンネル型
放射線検出器２の各チャンネルにて受け、電気信号とし
て取出し、A/D変換器を含むDAS（Data Acquistion Syst
em）３を介して演算装置４に与え、ここで再構成処理を
施すことにより、被検体ＰにおけるＸ線源１と多チャン
ネル型放射線検出器２とのＸ線放射方向にスライスされ
た画像が生成され、モニタ５に表示されるようになる。
れば、第３図に示すように、被検体Ｐを挟んでＸ線源１
と多チャンネル型放射線検出器２とが配置され、このＸ
線源１と多チャンネル型放射線検出器２との組は対向さ
せた状態で被検体Ｐの回りを回転しつつＸ線源１からＸ
線を照射し、被検体Ｐを透過したＸ線を多チャンネル型
放射線検出器２の各チャンネルにて受け、電気信号とし
て取出し、A/D変換器を含むDAS（Data Acquistion Syst
em）３を介して演算装置４に与え、ここで再構成処理を
施すことにより、被検体ＰにおけるＸ線源１と多チャン
ネル型放射線検出器２とのＸ線放射方向にスライスされ
た画像が生成され、モニタ５に表示されるようになる。
このような多チャンネル型放射線検出器としては電離
箱検出器が多用されるが、この電離箱検出器を用いるデ
ータ収集系を第４図を参照して説明する。
箱検出器が多用されるが、この電離箱検出器を用いるデ
ータ収集系を第４図を参照して説明する。
第４図に示すように、電離箱検出器XDは、Ｘ線入射窓
が形成された箱10内に、Ｘ線の吸収の大きい気体として
高圧のXeガスを充填すると共にＸ線入射方向に沿って、
信号電極（板）11と高圧電極（板）12とを交互に配置し
て構成されている。
が形成された箱10内に、Ｘ線の吸収の大きい気体として
高圧のXeガスを充填すると共にＸ線入射方向に沿って、
信号電極（板）11と高圧電極（板）12とを交互に配置し
て構成されている。
そして、Ｘ線入射窓から入射したＸ線はXeガスで補足
され、イオンを発生して電源Ｅによる高圧電位HVの高圧
電極12によるバイアスの下で接地電位の信号電極11に導
かれ、電流信号（群）としての出力（群）が得られるよ
うになっている。この電極箱検出器XDの出力（群）は、
オペアンプ及び帰還抵抗ＲによるI/V変換器13群を通し
てそれぞれ電圧信号に変換し、該電圧信号それぞれをオ
ペアンプによる積分回路14群を通した後にマルチプレク
サ（MUX）15,A/D変換器16に入力して出力群、つまり、
検出器及びDASを含むデータ収集系の出力群を得るよう
になる。ここで、I/V変換器13群，積分回路14群，マル
チプレクサ（MUX）15,A/D変換器16はDASを構成してい
る。
され、イオンを発生して電源Ｅによる高圧電位HVの高圧
電極12によるバイアスの下で接地電位の信号電極11に導
かれ、電流信号（群）としての出力（群）が得られるよ
うになっている。この電極箱検出器XDの出力（群）は、
オペアンプ及び帰還抵抗ＲによるI/V変換器13群を通し
てそれぞれ電圧信号に変換し、該電圧信号それぞれをオ
ペアンプによる積分回路14群を通した後にマルチプレク
サ（MUX）15,A/D変換器16に入力して出力群、つまり、
検出器及びDASを含むデータ収集系の出力群を得るよう
になる。ここで、I/V変換器13群，積分回路14群，マル
チプレクサ（MUX）15,A/D変換器16はDASを構成してい
る。
さらに、データ収集系の出力について考慮する。すな
わち、電離箱検出器XDにＸ線が入射すると、各々の電極
（板）間にはそれぞれ電離電流i11,i12,i21,i22,i31が
流れる。そして、各信号電極11は、その両側の空間の電
離電流を合計した出力I1,I2,I3を得、これをI/V変換器1
3群に送り、電圧信号V1,V2,V3に変換した後に必要な処
理として積分処理された後、ディジタル信号化され、再
構成のためのデータ群が得られる。
わち、電離箱検出器XDにＸ線が入射すると、各々の電極
（板）間にはそれぞれ電離電流i11,i12,i21,i22,i31が
流れる。そして、各信号電極11は、その両側の空間の電
離電流を合計した出力I1,I2,I3を得、これをI/V変換器1
3群に送り、電圧信号V1,V2,V3に変換した後に必要な処
理として積分処理された後、ディジタル信号化され、再
構成のためのデータ群が得られる。
I1＝i11＋i12、 V1＝I1・Ｒ＝（i11＋i12）・Ｒ I2＝i21＋i22、 V2＝I2・Ｒ＝（i21＋i22）・Ｒ I3＝i31＋i32、 V3＝I3・Ｒ＝（i31＋i32）・Ｒ … … （発明が解決しようとする課題） ここで、Ｎチャンネルのデータを収集するためには、
2N＋１枚の電極板が必要になる。逆に、データのサンプ
ルピッチは、電極板のピッチの２倍となる。この場合、
電極板のピッチは、電極板の加工精度の制限、或いは幾
何学的効率（電極板のピッチと、電極板のピッチから電
極板の厚さを差引いた開口幅との比率）の制限から、あ
る限界があり、この限界以上に小さくすることはできな
い。すなわち、データ収集系ひいてはＸ線CTスキャナ装
置としての空間分離能は、電極板のピッチの２倍の量に
よって定まったものとなる。
2N＋１枚の電極板が必要になる。逆に、データのサンプ
ルピッチは、電極板のピッチの２倍となる。この場合、
電極板のピッチは、電極板の加工精度の制限、或いは幾
何学的効率（電極板のピッチと、電極板のピッチから電
極板の厚さを差引いた開口幅との比率）の制限から、あ
る限界があり、この限界以上に小さくすることはできな
い。すなわち、データ収集系ひいてはＸ線CTスキャナ装
置としての空間分離能は、電極板のピッチの２倍の量に
よって定まったものとなる。
そこで本発明の目的は、電極板のピッチを変えること
なく、空間分解能の向上を図ることを可能としたＸ線CT
スキャナ装置を提供することにある。
なく、空間分解能の向上を図ることを可能としたＸ線CT
スキャナ装置を提供することにある。
［発明の構成］ （課題を解決するための手段） 本発明は上記課題を解決し且つ目的を達成するために
次のような手段を講じた構成としている。すなわち、本
発明は、放射線入射窓が形成され且つ気密は箱内に、放
射線の吸収の大きい気体を充填すると共に放射線入射方
向に沿って接地電位の信号電極と高圧電位の高圧電極と
を交互に配置してなる電離箱検出器を用いたＸ線CTスキ
ャナ装置において、前記信号電極群からの出力のそれぞ
れをI/V変換器群を通してそれぞれ電圧信号に変換して
該電圧信号それぞれを積分器群を通した後にマルチプレ
クサを経てA/D変換器に入力して信号電極側出力群を
得、前記高圧電極群からの出力それぞれをI/V変換器群
を通してそれぞれ電圧信号に変換し該電圧信号それぞれ
を積分器群を通した後にマルチプレクサを経てA/D変換
器に入力して高圧極側出力群を得て、前記信号電極側出
力群と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ差引くことに
より各電極間の１つの空間毎に信号成分を算出する手段
を有するデータ収集系を具備したことを特徴とし、同じ
目的を達成することができる構成としては、信号電極群
からの出力それぞれをコンデンサ群に充電して該充電電
荷をそれぞれマルチプレクサを経てQ/V変換器を通して
電圧信号を得た後にA/D変換器の入力して信号電極側出
力群を得、前記高圧電極群からの出力それぞれをコンデ
ンサ群に充電し該充電電荷それぞれをマルチプレクサを
経てQ/V変換器を通して電圧信号を得た後にA/D変換器に
入力して高圧極側出力群を得て、前記信号電極側出力群
と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ差引くことにより
各電極間の１つの空間毎の信号成分を算出する手段を有
するデータ収集系を具備した構成でもよい。
次のような手段を講じた構成としている。すなわち、本
発明は、放射線入射窓が形成され且つ気密は箱内に、放
射線の吸収の大きい気体を充填すると共に放射線入射方
向に沿って接地電位の信号電極と高圧電位の高圧電極と
を交互に配置してなる電離箱検出器を用いたＸ線CTスキ
ャナ装置において、前記信号電極群からの出力のそれぞ
れをI/V変換器群を通してそれぞれ電圧信号に変換して
該電圧信号それぞれを積分器群を通した後にマルチプレ
クサを経てA/D変換器に入力して信号電極側出力群を
得、前記高圧電極群からの出力それぞれをI/V変換器群
を通してそれぞれ電圧信号に変換し該電圧信号それぞれ
を積分器群を通した後にマルチプレクサを経てA/D変換
器に入力して高圧極側出力群を得て、前記信号電極側出
力群と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ差引くことに
より各電極間の１つの空間毎に信号成分を算出する手段
を有するデータ収集系を具備したことを特徴とし、同じ
目的を達成することができる構成としては、信号電極群
からの出力それぞれをコンデンサ群に充電して該充電電
荷をそれぞれマルチプレクサを経てQ/V変換器を通して
電圧信号を得た後にA/D変換器の入力して信号電極側出
力群を得、前記高圧電極群からの出力それぞれをコンデ
ンサ群に充電し該充電電荷それぞれをマルチプレクサを
経てQ/V変換器を通して電圧信号を得た後にA/D変換器に
入力して高圧極側出力群を得て、前記信号電極側出力群
と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ差引くことにより
各電極間の１つの空間毎の信号成分を算出する手段を有
するデータ収集系を具備した構成でもよい。
（作用） このような構成によれば、信号電極からだけでなく高
圧電極に流れる電流も計測し、I/V変換器群，積分器
群，マルチプレクサ,A/D変換器，信号処理手段からなる
DAS,或いはコンデンサ群，マルチプレクサ,Q/V変換器,A
/D変換器，信号処理手段からなるDASにより、データの
サンプルピッチを従来の1/2にすることが可能となり、
電極板のピッチを変えることなく、空間分解能の向上を
図ることができる。
圧電極に流れる電流も計測し、I/V変換器群，積分器
群，マルチプレクサ,A/D変換器，信号処理手段からなる
DAS,或いはコンデンサ群，マルチプレクサ,Q/V変換器,A
/D変換器，信号処理手段からなるDASにより、データの
サンプルピッチを従来の1/2にすることが可能となり、
電極板のピッチを変えることなく、空間分解能の向上を
図ることができる。
（実施例） 以下本発明に係るＸ線CTスキャナ装置の一実施例を、
そのデータ収集系を示す第１図を参照して説明する。
そのデータ収集系を示す第１図を参照して説明する。
第１図に示すように、本実施例は、電離箱検出器XDの
信号電極11群からの出力それぞれをI/V変換器13A群を通
してそれぞれ電圧信号に変換し該電圧信号それぞれを積
分器14A群を通した後にマルチプレクサ（MUX）15Aを経
てA/D変換器15Aに入力して信号電極側出力群を得てい
る。
信号電極11群からの出力それぞれをI/V変換器13A群を通
してそれぞれ電圧信号に変換し該電圧信号それぞれを積
分器14A群を通した後にマルチプレクサ（MUX）15Aを経
てA/D変換器15Aに入力して信号電極側出力群を得てい
る。
また、高圧電極12群からの出力それぞれをI/V変換器1
3B群を通してそれぞれ電圧信号に変換し該電圧信号それ
ぞれを積分器14B群を通した後にマルチプレクサ（MUX）
15Bを経てA/D変換器16Bに入力して高圧極側出力群を得
ている。
3B群を通してそれぞれ電圧信号に変換し該電圧信号それ
ぞれを積分器14B群を通した後にマルチプレクサ（MUX）
15Bを経てA/D変換器16Bに入力して高圧極側出力群を得
ている。
そして、高圧電極側出力群は、高電位HVと接地電位と
の絶縁を図る絶縁回路（OPC）17を経て、信号電極側出
力群と共にマルチプレクサ（MUX）18を経て信号処理器
（CPU）19に入力される。ここで、信号処理器（CPU）19
では、信号電極側出力群と前記高圧電極側出力群とをそ
れぞれ差引くことにより各電極間の１つの空間毎の信号
成分を算出するものである。また、I/V変換器13A群及び
I/V変換器13B群と、積分回路14A群及び積分回路14B群
と、マルチプレクサ（MUX）15A及びマルチプレクサ（MU
X）15Bと、A/D変換器16A及びA/D変換器16Bと、絶縁回路
（OPC）17と、マルチプレクサ（MUX）18と、信号処理器
（CPU）19とはDASを構成している。
の絶縁を図る絶縁回路（OPC）17を経て、信号電極側出
力群と共にマルチプレクサ（MUX）18を経て信号処理器
（CPU）19に入力される。ここで、信号処理器（CPU）19
では、信号電極側出力群と前記高圧電極側出力群とをそ
れぞれ差引くことにより各電極間の１つの空間毎の信号
成分を算出するものである。また、I/V変換器13A群及び
I/V変換器13B群と、積分回路14A群及び積分回路14B群
と、マルチプレクサ（MUX）15A及びマルチプレクサ（MU
X）15Bと、A/D変換器16A及びA/D変換器16Bと、絶縁回路
（OPC）17と、マルチプレクサ（MUX）18と、信号処理器
（CPU）19とはDASを構成している。
また、本発明は第２図に示す構成でも実施できる。第
２図の構成は、第１図の構成におけるI/V変換器13A群及
びI/V変換器13B群と、積分回路14A群及び積分回路14B群
と、マルチプレクサ（MUX）15A及びマルチプレクサ（MU
X）15Bとを、コンデンサ20A群及びコンデンサ20B群と、
マルチプレクサ（MUX）21A及びマルチプレクサ（MUX）2
1Bと、Q/V変換器22A及びQ/V変換器22Bとからなるダイレ
クトチャージ方式の構成に代えたものである。すなわ
ち、信号電極11群からの出力それぞれをコンデンサ20A
群に充電し該充電電荷それぞれをマルチプレクサ21Aを
経てQ/V変換器22Aを通して電圧信号を得た後にA/D変換
器16Aに入力して信号電極側出力群を得ている。
２図の構成は、第１図の構成におけるI/V変換器13A群及
びI/V変換器13B群と、積分回路14A群及び積分回路14B群
と、マルチプレクサ（MUX）15A及びマルチプレクサ（MU
X）15Bとを、コンデンサ20A群及びコンデンサ20B群と、
マルチプレクサ（MUX）21A及びマルチプレクサ（MUX）2
1Bと、Q/V変換器22A及びQ/V変換器22Bとからなるダイレ
クトチャージ方式の構成に代えたものである。すなわ
ち、信号電極11群からの出力それぞれをコンデンサ20A
群に充電し該充電電荷それぞれをマルチプレクサ21Aを
経てQ/V変換器22Aを通して電圧信号を得た後にA/D変換
器16Aに入力して信号電極側出力群を得ている。
また、高圧電極12群からの出力それぞれをコンデンサ
20B群に充電し該充電電荷それぞれをマルチプレクサ21B
を経てQ/V変換器22Bを通して電圧信号を得た後にA/D変
換器16Bに入力して高圧極側出力群を得ている。そし
て、第１図の構成と同様に、高圧電極側出力群は、高電
位HVと接地電位との絶縁を図る絶縁回路（OPC）17を経
て、信号電極側出力群と共にマルチプレクサ（MUX）18
を経て信号処理器（CPU）19に入力される。ここで、コ
ンデンサ20A群及びコンデンサ20B群と、マルチプレクサ
（MUX）21A及びマルチプレクサ（MUX）21Bと、Q/V変換
器22A及びQ/V変換器22Bと、A/D変換器16A及びA/D変換器
16Bと、絶縁回路（OPC）17と、マルチプレクサ（MUX）1
8と、信号処理器（CPU）19とはDASを構成している。
20B群に充電し該充電電荷それぞれをマルチプレクサ21B
を経てQ/V変換器22Bを通して電圧信号を得た後にA/D変
換器16Bに入力して高圧極側出力群を得ている。そし
て、第１図の構成と同様に、高圧電極側出力群は、高電
位HVと接地電位との絶縁を図る絶縁回路（OPC）17を経
て、信号電極側出力群と共にマルチプレクサ（MUX）18
を経て信号処理器（CPU）19に入力される。ここで、コ
ンデンサ20A群及びコンデンサ20B群と、マルチプレクサ
（MUX）21A及びマルチプレクサ（MUX）21Bと、Q/V変換
器22A及びQ/V変換器22Bと、A/D変換器16A及びA/D変換器
16Bと、絶縁回路（OPC）17と、マルチプレクサ（MUX）1
8と、信号処理器（CPU）19とはDASを構成している。
ここで、信号処理器（CPU）19における、信号電極側
出力群と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ差引くこと
により各電極間の１つの空間毎の信号成分を算出する信
号処理内容について説明する。すなわち、電離箱検出器
XDにＸ線が入射すると、各々の電極（板）間にはそれぞ
れ電離電流i11,i12,i21,i22,i31が流れる。そして、各
信号電極11は、その両側の空間の電離電流を合計した出
力I1,I2,I3を得てDASに送られる。ここで、 I1＝−i11、 I2＝i11＋i12、 I3＝−i12−i21、 I4＝i21−i22、 この出力電流値I1,I2,I3,…に対するA/D変換後の値S
1,S2,S3,…とする。上記式で明らかなように、出力電流
値I1,I2,I3,…は、電極間の２つの空間の電離電流の和
であり、DASで処理される値も２つの和となっている。
この場合I1,S1のみは１つの空間における電離電流とな
っている。そこで、信号処理器19にあっては、順次差引
くことにより各空間１つずつの信号を算出することが可
能である。
出力群と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ差引くこと
により各電極間の１つの空間毎の信号成分を算出する信
号処理内容について説明する。すなわち、電離箱検出器
XDにＸ線が入射すると、各々の電極（板）間にはそれぞ
れ電離電流i11,i12,i21,i22,i31が流れる。そして、各
信号電極11は、その両側の空間の電離電流を合計した出
力I1,I2,I3を得てDASに送られる。ここで、 I1＝−i11、 I2＝i11＋i12、 I3＝−i12−i21、 I4＝i21−i22、 この出力電流値I1,I2,I3,…に対するA/D変換後の値S
1,S2,S3,…とする。上記式で明らかなように、出力電流
値I1,I2,I3,…は、電極間の２つの空間の電離電流の和
であり、DASで処理される値も２つの和となっている。
この場合I1,S1のみは１つの空間における電離電流とな
っている。そこで、信号処理器19にあっては、順次差引
くことにより各空間１つずつの信号を算出することが可
能である。
すなわち、 i11＝−I1、 →−S1 ＝S1′ i12＝I1＋I2 →S1＋S2 ＝S2′ i21＝−I1−I2−I3、→−S1−S2−S3＝S3′ … … このようにして得られた信号S1′,S2′,S3′，…は、
従来と同じ電極板数，ピッチの電離箱検出器XDにより検
出されたものであるにもかかわらず、信号の数が２倍，
且つ信号のサンプリングピッチが1/2となっている。
従来と同じ電極板数，ピッチの電離箱検出器XDにより検
出されたものであるにもかかわらず、信号の数が２倍，
且つ信号のサンプリングピッチが1/2となっている。
よって、この信号群を演算装置により断層像に再構成
した場合、従来に比較して空間分離脳は大きく向上した
ものとなる。
した場合、従来に比較して空間分離脳は大きく向上した
ものとなる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、本発
明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できるも
のである。
明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施できるも
のである。
［発明の効果］ 以上のように本発明では、電離箱検出器の信号電極群
からの出力それぞれをI/V変換器群を通してそれぞれ電
圧信号に変換し該電圧信号それぞれを積分器群を通した
後にマルチプレクサを経てA/D変換器に入力して信号電
極側出力群を得、前記高圧電極群からの出力それぞれを
I/V変換器群を通してそれぞれ電圧信号に変換し該電圧
信号それぞれを積分器群を通した後にマルチプレクサを
経てA/D変換器に入力して高圧極側出力群を得て、前記
信号電極側出力群と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ
差引くことにより各電極間の１つの空間毎の信号成分を
算出する手段を有するデータ収集系を具備したことを特
徴とし、同じ目的を達成することができる構成として
は、信号電極群からの出力それぞれをコンデンサ群に充
電し該充電電荷それぞれをマルチプレクサを経てQ/V変
換器を通して電圧信号を得た後にA/D変換器に入力して
信号電極側出力群を得、前記高圧電極群からの出力それ
ぞれをコンデンサ群に充電し該充電電荷それぞれをマル
チプレクサを経てQ/V変換器を通して電圧信号を得た後
にA/D変換器に入力して高圧極側出力群を得て、前記信
号電極側出力群と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ差
引くことにより各電極間の１つの空間毎の信号成分を算
出する手段を有するデータ収集系を具備したものであ
る。
からの出力それぞれをI/V変換器群を通してそれぞれ電
圧信号に変換し該電圧信号それぞれを積分器群を通した
後にマルチプレクサを経てA/D変換器に入力して信号電
極側出力群を得、前記高圧電極群からの出力それぞれを
I/V変換器群を通してそれぞれ電圧信号に変換し該電圧
信号それぞれを積分器群を通した後にマルチプレクサを
経てA/D変換器に入力して高圧極側出力群を得て、前記
信号電極側出力群と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ
差引くことにより各電極間の１つの空間毎の信号成分を
算出する手段を有するデータ収集系を具備したことを特
徴とし、同じ目的を達成することができる構成として
は、信号電極群からの出力それぞれをコンデンサ群に充
電し該充電電荷それぞれをマルチプレクサを経てQ/V変
換器を通して電圧信号を得た後にA/D変換器に入力して
信号電極側出力群を得、前記高圧電極群からの出力それ
ぞれをコンデンサ群に充電し該充電電荷それぞれをマル
チプレクサを経てQ/V変換器を通して電圧信号を得た後
にA/D変換器に入力して高圧極側出力群を得て、前記信
号電極側出力群と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ差
引くことにより各電極間の１つの空間毎の信号成分を算
出する手段を有するデータ収集系を具備したものであ
る。
このような構成によれば、信号電極からだけでなく高
圧電極に流れる電流も計測し、I/V変換器群，積分器
群，マルチプレクサ,A/D変換器，信号処理手段からなる
DAS、或いはコンデンサ群，マルチプレクサ,Q/V変換器,
A/D変換器，信号処理手段からなるDASにより、データの
サンプルピッチを従来の1/2にすることが可能となり、
電極板のピッチを変えることなく、空間分解能の向上を
図ることができる。
圧電極に流れる電流も計測し、I/V変換器群，積分器
群，マルチプレクサ,A/D変換器，信号処理手段からなる
DAS、或いはコンデンサ群，マルチプレクサ,Q/V変換器,
A/D変換器，信号処理手段からなるDASにより、データの
サンプルピッチを従来の1/2にすることが可能となり、
電極板のピッチを変えることなく、空間分解能の向上を
図ることができる。
よって、本発明によれば、電極板のピッチを変えるこ
となく、空間分解能の向上を図ることを可能としたＸ線
CTスキャナ装置を提供できる。
となく、空間分解能の向上を図ることを可能としたＸ線
CTスキャナ装置を提供できる。
第１図は本発明にかかるＸ線CTスキャナ装置の一実施例
のデータ収集系を示す図、第２図は本発明の他の実施例
のデータ収集系を示す図、第３図はＸ線CTスキャナ装置
の構成を示す図、第４図は従来例のデータ収集系を示す
図である。 XD……電離箱検出器、11……信号電極、12……高圧電
極、13（13A,13B）……I/V変換器群、14（14A,14B）…
…積分器群、15（15A,15B）,18,21A,21B……マルチプレ
クサ、16（16A,16B）……A/D変換器、17……絶縁回路、
19……信号処理器、20A,20B……コンデンサ群、22A,22B
……Q/V変換器群。
のデータ収集系を示す図、第２図は本発明の他の実施例
のデータ収集系を示す図、第３図はＸ線CTスキャナ装置
の構成を示す図、第４図は従来例のデータ収集系を示す
図である。 XD……電離箱検出器、11……信号電極、12……高圧電
極、13（13A,13B）……I/V変換器群、14（14A,14B）…
…積分器群、15（15A,15B）,18,21A,21B……マルチプレ
クサ、16（16A,16B）……A/D変換器、17……絶縁回路、
19……信号処理器、20A,20B……コンデンサ群、22A,22B
……Q/V変換器群。
Claims (2)
- 【請求項１】放射線入射窓が形成され且つ気密な箱内
に、放射線の吸収の大きい気体を充填すると共に放射線
入射方向に沿って接地電位の信号電極と高圧電位の高圧
電極とを交互に配置してなる電離箱検出器を用いたＸ線
CTスキャナ装置において、前記信号電極群からの出力の
それぞれをI/V変換器群を通してそれぞれ電圧信号に変
換して該電圧信号それぞれを積分器群を通した後にマル
チプレクサを経てA/D変換器に入力して信号電極側出力
群を得、前記高圧電極群からの出力それぞれをI/V変換
器群を通してそれぞれ電圧信号に変換し該電圧信号それ
ぞれを積分器群を通した後にマルチプレクサを経てA/D
変換器に入力して高圧極側出力群を得て、前記信号電極
側出力群と前記高圧電極側出力群とをそれぞれ差引くこ
とにより各電極間の１つの空間毎に信号成分を算出する
手段を有するデータ収集系を具備したことを特徴とする
Ｘ線CTスキャナ装置。 - 【請求項２】放射線入射窓が形成され且つ気密な箱内
に、放射線の吸収の大きい気体を充填すると共に放射線
入射方向に沿って接地電位の信号電極と高圧電位の高圧
電極とを交互に配置してなる電離箱検出器を用いたＸ線
CTスキャナ装置において、前記信号電極群からの出力そ
れぞれをコンデンサ群に充電し該充電電荷それぞれをマ
ルチプレクサを経てQ/V変換器を通して電圧信号を得た
後にA/D変換器に入力して信号電極側出力群を得、前記
高圧電極群からの出力それぞれをコンデンサ群に充電し
該充電電荷それぞれをマルチプレクサを経てQ/V変換器
を通して電圧信号を得た後にA/D変換器に入力して高圧
極側出力群を得て、前記信号電極側出力群と前記高圧電
極側出力群とをそれぞれ差引くことにより各電極間の１
つの空間毎の信号成分を算出する手段を有するデータ収
集系を具備したことを特徴とするＸ線CTスキャナ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63118457A JP2633621B2 (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63118457A JP2633621B2 (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01288240A JPH01288240A (ja) | 1989-11-20 |
| JP2633621B2 true JP2633621B2 (ja) | 1997-07-23 |
Family
ID=14737123
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63118457A Expired - Lifetime JP2633621B2 (ja) | 1988-05-16 | 1988-05-16 | Ｘ線ｃｔスキャナ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2633621B2 (ja) |
-
1988
- 1988-05-16 JP JP63118457A patent/JP2633621B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01288240A (ja) | 1989-11-20 |
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