JP2626374B2 - Toc計 - Google Patents
Toc計Info
- Publication number
- JP2626374B2 JP2626374B2 JP3315326A JP31532691A JP2626374B2 JP 2626374 B2 JP2626374 B2 JP 2626374B2 JP 3315326 A JP3315326 A JP 3315326A JP 31532691 A JP31532691 A JP 31532691A JP 2626374 B2 JP2626374 B2 JP 2626374B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- toc
- unit
- measurement
- output
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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- Investigating Or Analyzing Non-Biological Materials By The Use Of Chemical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は試料中のTOC(全有機
体炭素)を測定するTOC計に関するものである。
体炭素)を測定するTOC計に関するものである。
【0002】
【従来の技術】TOC計としてキャリアガス供給部、試
料注入部、燃焼酸化反応部及びCO2検出部を備えて試
料中のTOC値を測定し、そのTOC値に対応したアナ
ログ信号を出力するTOC計がある。TOC計ではそれ
ぞれの試料について1回ずつ測定を行なってそれぞれの
TOC値をアナログ信号として出力している。TOC濃
度の変化が緩やかな試料の場合、比較的長時間周期で測
定される。
料注入部、燃焼酸化反応部及びCO2検出部を備えて試
料中のTOC値を測定し、そのTOC値に対応したアナ
ログ信号を出力するTOC計がある。TOC計ではそれ
ぞれの試料について1回ずつ測定を行なってそれぞれの
TOC値をアナログ信号として出力している。TOC濃
度の変化が緩やかな試料の場合、比較的長時間周期で測
定される。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】各試料について1回の
測定だけでは測定値のばらつきがあるために信頼性が低
い。しかし各試料について複数回の測定を行なってその
平均値を出力することは行なわれていない。本発明は各
試料について複数回のTOC測定を行なってその平均値
を求めて測定の信頼性を高めるとともに、各TOC測定
値と平均値を1ペンレコーダで出力できるようにして装
置を簡略化することを目的とするものである。
測定だけでは測定値のばらつきがあるために信頼性が低
い。しかし各試料について複数回の測定を行なってその
平均値を出力することは行なわれていない。本発明は各
試料について複数回のTOC測定を行なってその平均値
を求めて測定の信頼性を高めるとともに、各TOC測定
値と平均値を1ペンレコーダで出力できるようにして装
置を簡略化することを目的とするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】図1に本発明における制
御系を示す。本発明のTOC計の制御系は、ある測定周
期毎に複数回測定するように測定動作を制御する測定制
御部4と、それぞれのTOC値を平均する平均化部3
と、測定制御部4に設定された測定回数に達するまでは
それぞれのTOC値を出力させ、設定された測定回数に
達した後にTOC平均値を出力させる出力選択部5と、
出力選択部5で選択された出力をアナログ信号として1
つの出力信号上に出力するアナログ出力部10とを備え
ている。
御系を示す。本発明のTOC計の制御系は、ある測定周
期毎に複数回測定するように測定動作を制御する測定制
御部4と、それぞれのTOC値を平均する平均化部3
と、測定制御部4に設定された測定回数に達するまでは
それぞれのTOC値を出力させ、設定された測定回数に
達した後にTOC平均値を出力させる出力選択部5と、
出力選択部5で選択された出力をアナログ信号として1
つの出力信号上に出力するアナログ出力部10とを備え
ている。
【0005】
【実施例】図2は図1の制御系を実現するための構成を
示すブロック図である。検出部2の出力がMPU(マイ
クロ・プロセッサ・ユニット)7に取り込まれ、設定さ
れた回数分のTOC値がアナログ信号としてアナログ出
力部10から出力された後、それらの測定値の平均値が
アナログ信号としてアナログ出力部10から出力され
る。測定値を一時的に記憶したりするためのRAMなど
のメモリ8がMPU7に接続されている。図1の平均化
部3、測定制御部4及び出力選択部5は図2のMPU7
とメモリ8によって実現される。MPU7はTOC計の
測定動作を制御する測定制御部4と、平均化演算を行な
う平均化部3及び出力を選択する出力選択部5を含む演
算部を兼ねている。
示すブロック図である。検出部2の出力がMPU(マイ
クロ・プロセッサ・ユニット)7に取り込まれ、設定さ
れた回数分のTOC値がアナログ信号としてアナログ出
力部10から出力された後、それらの測定値の平均値が
アナログ信号としてアナログ出力部10から出力され
る。測定値を一時的に記憶したりするためのRAMなど
のメモリ8がMPU7に接続されている。図1の平均化
部3、測定制御部4及び出力選択部5は図2のMPU7
とメモリ8によって実現される。MPU7はTOC計の
測定動作を制御する測定制御部4と、平均化演算を行な
う平均化部3及び出力を選択する出力選択部5を含む演
算部を兼ねている。
【0006】図3は一実施例のTOC計を表わしたもの
である。流通型サンプル容器12には下側の入口からサ
ンプルが流れ込み、上側の出口からサンプルが排出され
ていく。サンプル容器12のサンプルは試料注入部14
によって一定量が採取され、TC反応部16又はIC反
応部18へ切り替えて導かれる。TC反応部16には酸
化触媒が充填されたTC燃焼管が設けられ、そのTC燃
焼管を加熱するためにその外側に加熱炉が設けられてい
る。TC反応部16にはキャリアガス供給部20から純
酸素ガス、又はCO2や炭化水素を除いた高純度空気が
キャリアガスとしてガス流量が制御されて供給される。
TC反応部16では供給された試料中の炭素成分が全て
CO2ガスに変換されてCO2検出部の非分散型赤外線式
ガス分析計(NDIR)22の測定セルへ導かれて検出
される。IC反応部18では無機炭素がCO2ガスとし
て発生し、キャリアガスとともにNDIR22の測定セ
ルへ導かれて検出される。試料注入部14はTCやIC
の検量線作成用に標準液23も注入することができるよ
うになっている。
である。流通型サンプル容器12には下側の入口からサ
ンプルが流れ込み、上側の出口からサンプルが排出され
ていく。サンプル容器12のサンプルは試料注入部14
によって一定量が採取され、TC反応部16又はIC反
応部18へ切り替えて導かれる。TC反応部16には酸
化触媒が充填されたTC燃焼管が設けられ、そのTC燃
焼管を加熱するためにその外側に加熱炉が設けられてい
る。TC反応部16にはキャリアガス供給部20から純
酸素ガス、又はCO2や炭化水素を除いた高純度空気が
キャリアガスとしてガス流量が制御されて供給される。
TC反応部16では供給された試料中の炭素成分が全て
CO2ガスに変換されてCO2検出部の非分散型赤外線式
ガス分析計(NDIR)22の測定セルへ導かれて検出
される。IC反応部18では無機炭素がCO2ガスとし
て発生し、キャリアガスとともにNDIR22の測定セ
ルへ導かれて検出される。試料注入部14はTCやIC
の検量線作成用に標準液23も注入することができるよ
うになっている。
【0007】NDIR22の検出値を処理するために、
図2にも示されているように、MPU7が設けられてお
り、MPU7でTC値とIC値とからTOC値を算出
し、TOC値をレコーダに出力するためにアナログ出力
部10がMPU7に接続されている。26は測定値を表
示したり印字する測定値表示・印字部である。
図2にも示されているように、MPU7が設けられてお
り、MPU7でTC値とIC値とからTOC値を算出
し、TOC値をレコーダに出力するためにアナログ出力
部10がMPU7に接続されている。26は測定値を表
示したり印字する測定値表示・印字部である。
【0008】一実施例の動作を図4と図5を用いて説明
する。この例では各試料について3回ずつのTOC測定
を行ない、その後に平均値を出力する場合を例として説
明する。1回のTOC測定が終了すると、その測定値か
らアナログ出力値を算出する。測定回数が設定された回
数、この場合3回、に満たないときは、その算出された
アナログ信号a1を出力し、その試料の次回のTOC測
定に移る。2回目のTOC測定が終了すると、その測定
値からアナログ出力値a2を算出して出力し、3回目の
TOC測定に移る。3回目のTOC測定が終了すると、
その測定値からアナログ出力値を算出し、2分間そのア
ナログ信号a3を出力する。次に、その試料の3回のT
OC値の平均を求めてアナログ出力値を算出し、平均値
のアナログ信号を出力する。平均値の出力は次の周期の
試料の測定が開始されて1回目のTOC測定が終了する
まで継続して行なわれる(図5のB区間)。この例では
1時間毎に3回ずつ測定し、その平均値が出力される。
最も重要な値である平均値は次の測定周期まで出力し続
けるので、個別値か平均値かの識別が容易である。
する。この例では各試料について3回ずつのTOC測定
を行ない、その後に平均値を出力する場合を例として説
明する。1回のTOC測定が終了すると、その測定値か
らアナログ出力値を算出する。測定回数が設定された回
数、この場合3回、に満たないときは、その算出された
アナログ信号a1を出力し、その試料の次回のTOC測
定に移る。2回目のTOC測定が終了すると、その測定
値からアナログ出力値a2を算出して出力し、3回目の
TOC測定に移る。3回目のTOC測定が終了すると、
その測定値からアナログ出力値を算出し、2分間そのア
ナログ信号a3を出力する。次に、その試料の3回のT
OC値の平均を求めてアナログ出力値を算出し、平均値
のアナログ信号を出力する。平均値の出力は次の周期の
試料の測定が開始されて1回目のTOC測定が終了する
まで継続して行なわれる(図5のB区間)。この例では
1時間毎に3回ずつ測定し、その平均値が出力される。
最も重要な値である平均値は次の測定周期まで出力し続
けるので、個別値か平均値かの識別が容易である。
【0009】
【発明の効果】本発明ではある測定周期ごとにTOC値
を複数回測定し、各測定値とそれらの平均値とをアナロ
グ信号として1つの出力信号上に出力するようにしたの
で、測定値の信頼性が高くなるとともに、1ペンレコー
ダで個別測定値と平均値をともに記録することができて
装置が簡略化する。さらに、最も重要な値である平均値
は次の測定周期まで出力し続けるので、個別測定値の出
力時間よりも平均値の出力時間を長くするなど出力時間
を異ならせて個別測定値と平均値との識別を容易にする
ことができる。
を複数回測定し、各測定値とそれらの平均値とをアナロ
グ信号として1つの出力信号上に出力するようにしたの
で、測定値の信頼性が高くなるとともに、1ペンレコー
ダで個別測定値と平均値をともに記録することができて
装置が簡略化する。さらに、最も重要な値である平均値
は次の測定周期まで出力し続けるので、個別測定値の出
力時間よりも平均値の出力時間を長くするなど出力時間
を異ならせて個別測定値と平均値との識別を容易にする
ことができる。
【図1】本発明の制御系を示すブロック図である。
【図2】図1を実現するための構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図3】一実施例のTOC計を示す構成図である。
【図4】一実施例の動作を示すフローチャート図であ
る。
る。
【図5】図4の動作の結果、レコーダに記録された波形
を示す図である。
を示す図である。
2 検出部 3 平均化部 4 測定制御部 5 出力選択部 7 MPU 8 メモリ 10 アナログ出力部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松久 浩明 京都府京都市中京区西ノ京桑原町1番地 株式会社島津製作所三条工場内 (56)参考文献 実開 昭57−35651(JP,U) 実公 昭59−4286(JP,Y2)
Claims (1)
- 【請求項1】 キャリアガス供給部、試料注入部、燃焼
酸化反応部及びCO2検出部を備えて試料中のTOC値
を測定し、そのTOC値に対応したアナログ信号を出力
するバッチ式TOC計において、ある測定周期毎に測定
周期の半分以下の時間内に複数回測定するように測定動
作を制御する測定制御部と、それぞれのTOC値を平均
する平均化部と、測定制御部に設定された測定回数に達
するまではそれぞれのTOC値を出力させ、設定された
測定回数に達した後、次の測定周期まで継続してTOC
平均値を出力させる出力選択部と、出力選択部で選択さ
れた出力をアナログ信号として1つの1ペンレコーダの
出力信号上に出力するアナログ出力部とを備えたことを
特徴とするTOC計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3315326A JP2626374B2 (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | Toc計 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3315326A JP2626374B2 (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | Toc計 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05126821A JPH05126821A (ja) | 1993-05-21 |
JP2626374B2 true JP2626374B2 (ja) | 1997-07-02 |
Family
ID=18064061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3315326A Expired - Fee Related JP2626374B2 (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | Toc計 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2626374B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6146452Y2 (ja) * | 1980-08-05 | 1986-12-27 | ||
JPH0230447B2 (ja) * | 1982-06-29 | 1990-07-06 | Hamamatsu Photonics Kk | Nijigenbijakugazokeisokusochi |
JPS594286U (ja) * | 1982-06-29 | 1984-01-12 | 石毛 宏 | ホツトドツク等用パン |
JP2571844B2 (ja) * | 1989-02-23 | 1997-01-16 | 新コスモス電機株式会社 | ガス検知警報装置 |
-
1991
- 1991-10-31 JP JP3315326A patent/JP2626374B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH05126821A (ja) | 1993-05-21 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |