JP2626374B2 - Ｔｏｃ計 - Google Patents
Ｔｏｃ計Info
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- JP2626374B2 JP2626374B2 JP3315326A JP31532691A JP2626374B2 JP 2626374 B2 JP2626374 B2 JP 2626374B2 JP 3315326 A JP3315326 A JP 3315326A JP 31532691 A JP31532691 A JP 31532691A JP 2626374 B2 JP2626374 B2 JP 2626374B2
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Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は試料中のＴＯＣ（全有機
体炭素）を測定するＴＯＣ計に関するものである。
体炭素）を測定するＴＯＣ計に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】ＴＯＣ計としてキャリアガス供給部、試
料注入部、燃焼酸化反応部及びＣＯ2検出部を備えて試
料中のＴＯＣ値を測定し、そのＴＯＣ値に対応したアナ
ログ信号を出力するＴＯＣ計がある。ＴＯＣ計ではそれ
ぞれの試料について１回ずつ測定を行なってそれぞれの
ＴＯＣ値をアナログ信号として出力している。ＴＯＣ濃
度の変化が緩やかな試料の場合、比較的長時間周期で測
定される。
料注入部、燃焼酸化反応部及びＣＯ2検出部を備えて試
料中のＴＯＣ値を測定し、そのＴＯＣ値に対応したアナ
ログ信号を出力するＴＯＣ計がある。ＴＯＣ計ではそれ
ぞれの試料について１回ずつ測定を行なってそれぞれの
ＴＯＣ値をアナログ信号として出力している。ＴＯＣ濃
度の変化が緩やかな試料の場合、比較的長時間周期で測
定される。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】各試料について１回の
測定だけでは測定値のばらつきがあるために信頼性が低
い。しかし各試料について複数回の測定を行なってその
平均値を出力することは行なわれていない。本発明は各
試料について複数回のＴＯＣ測定を行なってその平均値
を求めて測定の信頼性を高めるとともに、各ＴＯＣ測定
値と平均値を１ペンレコーダで出力できるようにして装
置を簡略化することを目的とするものである。
測定だけでは測定値のばらつきがあるために信頼性が低
い。しかし各試料について複数回の測定を行なってその
平均値を出力することは行なわれていない。本発明は各
試料について複数回のＴＯＣ測定を行なってその平均値
を求めて測定の信頼性を高めるとともに、各ＴＯＣ測定
値と平均値を１ペンレコーダで出力できるようにして装
置を簡略化することを目的とするものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】図１に本発明における制
御系を示す。本発明のＴＯＣ計の制御系は、ある測定周
期毎に複数回測定するように測定動作を制御する測定制
御部４と、それぞれのＴＯＣ値を平均する平均化部３
と、測定制御部４に設定された測定回数に達するまでは
それぞれのＴＯＣ値を出力させ、設定された測定回数に
達した後にＴＯＣ平均値を出力させる出力選択部５と、
出力選択部５で選択された出力をアナログ信号として１
つの出力信号上に出力するアナログ出力部１０とを備え
ている。
御系を示す。本発明のＴＯＣ計の制御系は、ある測定周
期毎に複数回測定するように測定動作を制御する測定制
御部４と、それぞれのＴＯＣ値を平均する平均化部３
と、測定制御部４に設定された測定回数に達するまでは
それぞれのＴＯＣ値を出力させ、設定された測定回数に
達した後にＴＯＣ平均値を出力させる出力選択部５と、
出力選択部５で選択された出力をアナログ信号として１
つの出力信号上に出力するアナログ出力部１０とを備え
ている。
【０００５】
【実施例】図２は図１の制御系を実現するための構成を
示すブロック図である。検出部２の出力がＭＰＵ（マイ
クロ・プロセッサ・ユニット）７に取り込まれ、設定さ
れた回数分のＴＯＣ値がアナログ信号としてアナログ出
力部１０から出力された後、それらの測定値の平均値が
アナログ信号としてアナログ出力部１０から出力され
る。測定値を一時的に記憶したりするためのＲＡＭなど
のメモリ８がＭＰＵ７に接続されている。図１の平均化
部３、測定制御部４及び出力選択部５は図２のＭＰＵ７
とメモリ８によって実現される。ＭＰＵ７はＴＯＣ計の
測定動作を制御する測定制御部４と、平均化演算を行な
う平均化部３及び出力を選択する出力選択部５を含む演
算部を兼ねている。
示すブロック図である。検出部２の出力がＭＰＵ（マイ
クロ・プロセッサ・ユニット）７に取り込まれ、設定さ
れた回数分のＴＯＣ値がアナログ信号としてアナログ出
力部１０から出力された後、それらの測定値の平均値が
アナログ信号としてアナログ出力部１０から出力され
る。測定値を一時的に記憶したりするためのＲＡＭなど
のメモリ８がＭＰＵ７に接続されている。図１の平均化
部３、測定制御部４及び出力選択部５は図２のＭＰＵ７
とメモリ８によって実現される。ＭＰＵ７はＴＯＣ計の
測定動作を制御する測定制御部４と、平均化演算を行な
う平均化部３及び出力を選択する出力選択部５を含む演
算部を兼ねている。
【０００６】図３は一実施例のＴＯＣ計を表わしたもの
である。流通型サンプル容器１２には下側の入口からサ
ンプルが流れ込み、上側の出口からサンプルが排出され
ていく。サンプル容器１２のサンプルは試料注入部１４
によって一定量が採取され、ＴＣ反応部１６又はＩＣ反
応部１８へ切り替えて導かれる。ＴＣ反応部１６には酸
化触媒が充填されたＴＣ燃焼管が設けられ、そのＴＣ燃
焼管を加熱するためにその外側に加熱炉が設けられてい
る。ＴＣ反応部１６にはキャリアガス供給部２０から純
酸素ガス、又はＣＯ2や炭化水素を除いた高純度空気が
キャリアガスとしてガス流量が制御されて供給される。
ＴＣ反応部１６では供給された試料中の炭素成分が全て
ＣＯ2ガスに変換されてＣＯ2検出部の非分散型赤外線式
ガス分析計（ＮＤＩＲ）２２の測定セルへ導かれて検出
される。ＩＣ反応部１８では無機炭素がＣＯ2ガスとし
て発生し、キャリアガスとともにＮＤＩＲ２２の測定セ
ルへ導かれて検出される。試料注入部１４はＴＣやＩＣ
の検量線作成用に標準液２３も注入することができるよ
うになっている。
である。流通型サンプル容器１２には下側の入口からサ
ンプルが流れ込み、上側の出口からサンプルが排出され
ていく。サンプル容器１２のサンプルは試料注入部１４
によって一定量が採取され、ＴＣ反応部１６又はＩＣ反
応部１８へ切り替えて導かれる。ＴＣ反応部１６には酸
化触媒が充填されたＴＣ燃焼管が設けられ、そのＴＣ燃
焼管を加熱するためにその外側に加熱炉が設けられてい
る。ＴＣ反応部１６にはキャリアガス供給部２０から純
酸素ガス、又はＣＯ2や炭化水素を除いた高純度空気が
キャリアガスとしてガス流量が制御されて供給される。
ＴＣ反応部１６では供給された試料中の炭素成分が全て
ＣＯ2ガスに変換されてＣＯ2検出部の非分散型赤外線式
ガス分析計（ＮＤＩＲ）２２の測定セルへ導かれて検出
される。ＩＣ反応部１８では無機炭素がＣＯ2ガスとし
て発生し、キャリアガスとともにＮＤＩＲ２２の測定セ
ルへ導かれて検出される。試料注入部１４はＴＣやＩＣ
の検量線作成用に標準液２３も注入することができるよ
うになっている。
【０００７】ＮＤＩＲ２２の検出値を処理するために、
図２にも示されているように、ＭＰＵ７が設けられてお
り、ＭＰＵ７でＴＣ値とＩＣ値とからＴＯＣ値を算出
し、ＴＯＣ値をレコーダに出力するためにアナログ出力
部１０がＭＰＵ７に接続されている。２６は測定値を表
示したり印字する測定値表示・印字部である。
図２にも示されているように、ＭＰＵ７が設けられてお
り、ＭＰＵ７でＴＣ値とＩＣ値とからＴＯＣ値を算出
し、ＴＯＣ値をレコーダに出力するためにアナログ出力
部１０がＭＰＵ７に接続されている。２６は測定値を表
示したり印字する測定値表示・印字部である。
【０００８】一実施例の動作を図４と図５を用いて説明
する。この例では各試料について３回ずつのＴＯＣ測定
を行ない、その後に平均値を出力する場合を例として説
明する。１回のＴＯＣ測定が終了すると、その測定値か
らアナログ出力値を算出する。測定回数が設定された回
数、この場合３回、に満たないときは、その算出された
アナログ信号ａ1を出力し、その試料の次回のＴＯＣ測
定に移る。２回目のＴＯＣ測定が終了すると、その測定
値からアナログ出力値ａ2を算出して出力し、３回目の
ＴＯＣ測定に移る。３回目のＴＯＣ測定が終了すると、
その測定値からアナログ出力値を算出し、２分間そのア
ナログ信号ａ3を出力する。次に、その試料の３回のＴ
ＯＣ値の平均を求めてアナログ出力値を算出し、平均値
のアナログ信号を出力する。平均値の出力は次の周期の
試料の測定が開始されて１回目のＴＯＣ測定が終了する
まで継続して行なわれる（図５のＢ区間）。この例では
１時間毎に３回ずつ測定し、その平均値が出力される。
最も重要な値である平均値は次の測定周期まで出力し続
けるので、個別値か平均値かの識別が容易である。
する。この例では各試料について３回ずつのＴＯＣ測定
を行ない、その後に平均値を出力する場合を例として説
明する。１回のＴＯＣ測定が終了すると、その測定値か
らアナログ出力値を算出する。測定回数が設定された回
数、この場合３回、に満たないときは、その算出された
アナログ信号ａ1を出力し、その試料の次回のＴＯＣ測
定に移る。２回目のＴＯＣ測定が終了すると、その測定
値からアナログ出力値ａ2を算出して出力し、３回目の
ＴＯＣ測定に移る。３回目のＴＯＣ測定が終了すると、
その測定値からアナログ出力値を算出し、２分間そのア
ナログ信号ａ3を出力する。次に、その試料の３回のＴ
ＯＣ値の平均を求めてアナログ出力値を算出し、平均値
のアナログ信号を出力する。平均値の出力は次の周期の
試料の測定が開始されて１回目のＴＯＣ測定が終了する
まで継続して行なわれる（図５のＢ区間）。この例では
１時間毎に３回ずつ測定し、その平均値が出力される。
最も重要な値である平均値は次の測定周期まで出力し続
けるので、個別値か平均値かの識別が容易である。
【０００９】
【発明の効果】本発明ではある測定周期ごとにＴＯＣ値
を複数回測定し、各測定値とそれらの平均値とをアナロ
グ信号として１つの出力信号上に出力するようにしたの
で、測定値の信頼性が高くなるとともに、１ペンレコー
ダで個別測定値と平均値をともに記録することができて
装置が簡略化する。さらに、最も重要な値である平均値
は次の測定周期まで出力し続けるので、個別測定値の出
力時間よりも平均値の出力時間を長くするなど出力時間
を異ならせて個別測定値と平均値との識別を容易にする
ことができる。
を複数回測定し、各測定値とそれらの平均値とをアナロ
グ信号として１つの出力信号上に出力するようにしたの
で、測定値の信頼性が高くなるとともに、１ペンレコー
ダで個別測定値と平均値をともに記録することができて
装置が簡略化する。さらに、最も重要な値である平均値
は次の測定周期まで出力し続けるので、個別測定値の出
力時間よりも平均値の出力時間を長くするなど出力時間
を異ならせて個別測定値と平均値との識別を容易にする
ことができる。
【図１】本発明の制御系を示すブロック図である。
【図２】図１を実現するための構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図３】一実施例のＴＯＣ計を示す構成図である。
【図４】一実施例の動作を示すフローチャート図であ
る。
る。
【図５】図４の動作の結果、レコーダに記録された波形
を示す図である。
を示す図である。
２ 検出部 ３ 平均化部 ４ 測定制御部 ５ 出力選択部 ７ ＭＰＵ ８ メモリ １０ アナログ出力部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 松久 浩明 京都府京都市中京区西ノ京桑原町１番地 株式会社島津製作所三条工場内 (56)参考文献 実開 昭57−35651（ＪＰ，Ｕ) 実公 昭59−4286（ＪＰ，Ｙ２)
Claims (1)
- 【請求項１】 キャリアガス供給部、試料注入部、燃焼
酸化反応部及びＣＯ2検出部を備えて試料中のＴＯＣ値
を測定し、そのＴＯＣ値に対応したアナログ信号を出力
するバッチ式ＴＯＣ計において、ある測定周期毎に測定
周期の半分以下の時間内に複数回測定するように測定動
作を制御する測定制御部と、それぞれのＴＯＣ値を平均
する平均化部と、測定制御部に設定された測定回数に達
するまではそれぞれのＴＯＣ値を出力させ、設定された
測定回数に達した後、次の測定周期まで継続してＴＯＣ
平均値を出力させる出力選択部と、出力選択部で選択さ
れた出力をアナログ信号として１つの１ペンレコーダの
出力信号上に出力するアナログ出力部とを備えたことを
特徴とするＴＯＣ計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3315326A JP2626374B2 (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | Ｔｏｃ計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3315326A JP2626374B2 (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | Ｔｏｃ計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05126821A JPH05126821A (ja) | 1993-05-21 |
| JP2626374B2 true JP2626374B2 (ja) | 1997-07-02 |
Family
ID=18064061
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3315326A Expired - Fee Related JP2626374B2 (ja) | 1991-10-31 | 1991-10-31 | Ｔｏｃ計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2626374B2 (ja) |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6146452Y2 (ja) * | 1980-08-05 | 1986-12-27 | ||
| JPH0230447B2 (ja) * | 1982-06-29 | 1990-07-06 | Hamamatsu Photonics Kk | Nijigenbijakugazokeisokusochi |
| JPS594286U (ja) * | 1982-06-29 | 1984-01-12 | 石毛 宏 | ホツトドツク等用パン |
| JP2571844B2 (ja) * | 1989-02-23 | 1997-01-16 | 新コスモス電機株式会社 | ガス検知警報装置 |
-
1991
- 1991-10-31 JP JP3315326A patent/JP2626374B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05126821A (ja) | 1993-05-21 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |